JP2003148939A - 顕微鏡を備えたオートコリメータ、これを用いた形状測定装置 - Google Patents

顕微鏡を備えたオートコリメータ、これを用いた形状測定装置

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JP2003148939A
JP2003148939A JP2001351651A JP2001351651A JP2003148939A JP 2003148939 A JP2003148939 A JP 2003148939A JP 2001351651 A JP2001351651 A JP 2001351651A JP 2001351651 A JP2001351651 A JP 2001351651A JP 2003148939 A JP2003148939 A JP 2003148939A
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lens
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Mitsuru Higashiya
満 東谷
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Faiburabo Kk
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定光の種類(波長)を制限することがな
く、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物の傾
きや距離を測定すること。 【解決手段】 被測定物に対して平行光を照射し、その
反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定する
オートコリメータであって、前記被測定物への照射光を
平行光とするためのコリメートレンズと、前記コリメー
トレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在に設けら
れ、前記コリメートレンズによる平行光を集光する顕微
鏡レンズとを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の傾きを
測定するオートコリメータに関し、特に、被測定物の測
定部位を拡大する顕微鏡や被測定物までの距離を測定す
る測距系と組み合わされたオートコリメータ、形状測定
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】機器の構成部品については、機器の精度
を高いものとするためにその取り付け状態や形状を高い
精度にて測定することが要求される。機器の形状は小型
化を辿る一方であり、このことに伴ってその構成部品も
小型化され、極めて微細な領域での取り付け状態や微細
部品の形状を正確に測定しなければならない。例えば、
ハードディスクのプローブの検査などでは、1mm2
領域に0.5mmφの測定用の光を入射して、構成部品
の取り付け位置、傾きを測定することが要求される。
【0003】図2は従来行われている機器の構成部品の
取り付け状態を測定するために使用される光学系を示す
図である。図2(a)は被測定物の傾きを計測するため
のオートコリメータ、図2(b)は非測定物の測定部位
を確認するための顕微鏡、図2(c)は被測定物との距
離を測定するための変位計の基本的な構成をそれぞれ示
している。
【0004】図2(a)に示されるオートコリメータ
は、光源21から出射した測定光を、ビームスプリッタ
22、平行光とするためのコリメートレンズ23を介し
て被測定物24に照射している。被測定物24からの反
射光は、コリメートレンズ23、ビームスプリッタ22
を通って受光素子25に入射する。受光素子25は、C
CDなどの画像検出素子であり、被測定物24からの反
射光による像を確認することにより、被測定物24の傾
きが計測される。
【0005】顕微鏡は、被測定物の測定部位を確認する
ために使用される。図2(a)に示したオートコリメー
タが被測定物24の傾きを計測するために平行光を照射
するものであるのに対して、顕微鏡では集光光学系とす
る必要がある。図2(b)に示される構成では、被測定
物41の測定部位にて焦点を結ぶ対物レンズ42による
像は、接眼レンズ43により平行光束とされて目に入射
する。
【0006】図2(c)に示される変位計は、被測定物
との距離を計測するために使用される。受光素子33
は、PSD(Position Sensitive Device:位置検出素
子)やCCD(Charge Coupled Device)といった入射位
置に応じた信号を出力するもので、光源31の出射光の
被測定物32の測定面における反射光が入射する位置に
設けられている。被測定物の距離が変化するのに伴い、
受光素子33への入射位置が変化し、これにより被測定
物32との距離を測定する構成となっている。
【0007】これらのオートコリメータ、顕微鏡および
変位計のそれぞれは、独立した構成のものが用いられて
いた。オートコリメータや変位計などを用いた計測で
は、測定光として可視光を用いることとし、目的とする
測定部位に測定光が照射されているかを顕微鏡によって
確認し、この後、オートコリメータや変位計などを用い
て被測定物の傾きや被測定物までの距離を計測すること
が行われていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述したオートコリメ
ータ、顕微鏡および変位計のそれぞれは、独立した構成
のものが用いられ、可視の測定光が目的とする測定部位
に照射されているかを顕微鏡によって確認しながら被測
定物との距離や傾きを計測することが行われていた。
【0009】しかしながら、顕微鏡による測定部位の観
測は測定光とは異なる方向から行う必要があり、上述し
たように、観測部位は極めて微細な領域にあることか
ら、その構成上顕微鏡により確認することが困難なこと
が多くなっている。
【0010】また、測定光に可視光を用いる必要がある
が、被測定物によっては、可視光が有害となるものもあ
り、このような被測定物では可視光を照射することがで
きないために顕微鏡を使用することができなかった。
【0011】観測部位が極めて微細な領域にあるために
顕微鏡を使用することができない場合には目視により測
定部位に測定光が照射されているかが確認されて測定が
行われることとなる。また、測定光として不可視光を用
いている場合には、被測定物および測定系それぞれの設
計値によって被測定物を位置決めし、測定が行われる。
これらの顕微鏡を使用することができない場合の位置決
めは、いずれにおいても近年の微小な領域を測定するの
に適したものとはいえなかった。
【0012】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、測定光の種
類(波長)を制限することがなく、顕微鏡を用いた位置
決めを行った上で被測定物の傾きや距離を測定すること
のできるオートコリメータを実現することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の顕微鏡を備えた
オートコリメータは、被測定物に対して平行光を照射
し、その反射光を確認することにより被測定物の傾きを
測定するオートコリメータであって、前記被測定物への
照射光を平行光とするためのコリメートレンズと、前記
コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ自在
に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を集光
する顕微鏡レンズとを有することを特徴とする。
【0014】上記のように構成される本発明の顕微鏡を
備えたオートコリメータにおいては、平行光束により傾
きの測定を行う無限光学系のオートコリメータに、集光
作用を生じる顕微鏡レンズを挿入して有限光学系とする
ことがなされている。これらの光軸は同じであり、顕微
鏡レンズの出し入れによって、その用途が切り替えられ
ることとなる。このため、オートコリメータとして使用
される際の画像、顕微鏡として使用される際の画像のい
ずれもその中心点は同じ部位となるので、顕微鏡として
使用した際に確認された画像の中心に対してオートコリ
メータとしての測定がなされることとなる。
【0015】本発明の形状測定装置は、被測定物に対し
て第1および第2の測定光を照射し、第1の測定光の反
射光を確認することにより被測定物の傾きを測定し、第
2の測定光の反射光を確認することにより被測定物まで
の距離を測定する形状測定装置であって、前記被測定物
への第1の測定光を平行光とするためのコリメートレン
ズと、前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出
し入れ自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平
行光を集光する顕微鏡レンズと、前記第2の測定光を発
生する光源と、前記第2の測定光の被測定物による反射
光を確認する検出素子と、を有し、前記検出素子は、前
記顕微鏡レンズを通る光軸と垂直な面であり、顕微鏡レ
ンズの焦点位置における前記第2の測定光の反射光が概
ね中心に入射するように設けられていることを特徴とす
る。
【0016】上記のように構成される本発明の形状測定
装置においては、顕微鏡として使用した際に確認された
画像の中心に対してオートコリメータとしての測定が行
われるとともに、距離の測定も行われるものとなる。
【0017】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
【0018】図1は本発明の一実施例の構成を示す図で
ある。
【0019】本実施例は、顕微鏡レンズの出し入れによ
りオートコリメータもしくは顕微鏡として用いられるも
ので、図1(a)にはオートコリメータとして使用され
る状態が示され、図1(b)には顕微鏡として使用され
る状態が示されている。
【0020】まず、図1(a)に示されるオートコリメ
ータとして使用される状態について説明する。半導体レ
ーザ(LD)11の出射光は集光レンズ10により一度
焦点を結んだ後に、拡散光としてミラー9およびビーム
スプリッタ13にて折り返され、コリメートレンズ12
により平行光とされる。コリメートレンズ12と被測定
物1との間には、LD4とPSD6とを備える変位計3
が設けられている。変位計3には孔17が形成されてお
り、コリメートレンズ12による平行光は孔15を通っ
て被測定物1に入射し、その反射光は、孔17、コリメ
ートレンズ12およびビームスプリッタ13を通ってイ
メージセンサであるCCD14に入射する。CCD14
は、コリメートレンズ12により集光された像がその入
射面上で結像する位置に配置されており、測定者は、被
測定物1からの反射光による像を確認することにより、
被測定物1の傾きの計測を行う。ここで行われる傾きの
計測は一般的な十字線を用いたものである。また、被測
定物1は、紙面に垂直なXY平面について移動可能なス
テージ(不図示)上に搭載されている。
【0021】変位計3による距離の測定は上記のオート
コリメート動作とは独立に行われる。LD4から出射さ
れた測定光2は、被測定物1による反射光5としてPS
D6に入射し、このPSD6の受光状態(入射位置)に
より、被測定物1との距離の確認を行う。
【0022】次に、図1(b)に示される顕微鏡として
使用される状態について説明する。本実施例のオートコ
リメータには、マウント7上に載置された顕微鏡レンズ
8が併設されている。マウント7はコリメートレンズ1
2と変位計3との間に出し入れ自在に構成されており、
このマウント7の移動に伴って顕微鏡レンズ8がその測
定光路上に出し入れされ、図1(b)に示すような顕微
鏡レンズ8が挿入されているときには顕微鏡として使用
されることとなる。
【0023】被測定物1の測定部位には、光源15から
の照明光16が照射されている。顕微鏡レンズ8として
は被測定物1の測定部位にて焦点を結ぶものが使用され
ており、被測定物1の測定部位における像は、孔17、
顕微鏡レンズ8、コリメートレンズ12およびビームス
プリッタ13を通ってCCD14に入射する。測定者
は、CCD14により検出される被測定物1の測定部位
における拡大画像を確認することにより、測定光の被測
定物1に入射している位置を確認する。
【0024】変位計3に設けられるLD4とPSD6の
位置について言うと、顕微鏡レンズ8を通る光軸と垂直
な面であり、顕微鏡レンズ8の焦点位置における測定光
2の反射光5がPSD6の概ね中心に入射するように設
けられている。
【0025】上記のように構成される本実施例の具体的
な使用方法について説明すると、まず、顕微鏡レンズ8
をコリメートレンズ12と変位計3との間に挿入して測
定部位の拡大画像をCCD14により確認し、顕微鏡レ
ンズ8をコリメートレンズ12と変位計3との間から外
して測定部位における傾きをCCD14により確認す
る。また、変位計3により高い精度にて被測定物1まで
の距離を測定する。その後、被測定物1のXY平面にお
ける位置を移動させて、その傾きを確認し、変位計3に
より距離を確認することを繰り返す。この結果、被測定
物1の形状の確認がなされる。
【0026】上記のように構成される本実施例において
は、オートコリメータとして使用されるとき、顕微鏡と
して使用されるときのいずれの状態光においても、被測
定物の測定部位と検出器(CCD14)とを結ぶ軸線が
同じものとなる。このため、顕微鏡によって確認された
拡大画像の部位に確実にオートコリメータとして使用す
るときの測定光が照射されることにより、目的とする測
定部位に測定光が照射されているかの確認を確実に行う
ことができるものとなっている。
【0027】また、顕微鏡により確認された部位に確実
に測定光が照射される構成であることから、従来行われ
ていたような、測定光の照射状態を顕微鏡にて確認する
作業が不要となるとともに、測定光(および照明光)と
して任意の波長のものを使用することができるものとな
っている。
【0028】可視光が有害となる被測定物については、
LD11および光源15として出射光が赤外などの可視
光ではないものを用い、CCD14としてはLD11お
よび光源15の出射光に対して検出感度を有するものを
使用すればよい。
【0029】また、コリメートレンズ12はビームスプ
リッタ13と出し入れ自在な顕微鏡レンズ8との間に設
けるものとして説明したが、特にこの位置に限定される
ものではない。例えば同じパワのレンズを2個使用する
こととし、一方をミラー9とビームスプリッタ13との
間に設け、他方をビームスプリッタ13とCCD14と
の間に設けることとしても上述した説明と同様の動作を
行うものとなり、このような構成としてもよい。
【0030】また、顕微鏡用の光源15の位置について
いうと、図1には測定部位を斜めから照明する反射式の
光源を示したが、LD11の位置に、LD11と切り替
え式の光源を配置して落射式の光源としてもよい。ま
た、LD11の出射光をそのまま顕微鏡の光源としても
よい。
【0031】また、オートコリメータとして使用する際
の画像、顕微鏡として使用する際の画像はCCD14に
より検出するものとして説明したが、一般的な光学機器
と同様に眼に入射させる構成としてもよい。
【0032】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、測定光の種類(波長)が制限されることがな
くなり、顕微鏡を用いた位置決めを行った上で被測定物
の傾きや距離を測定することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す図であり、
(a)にはオートコリメータとして使用される状態が示
され、(b)には顕微鏡として使用される状態が示され
ている。
【図2】従来行われている機器の構成部品の取り付け状
態を測定するために使用される光学系を示す図であり、
(a)は被測定物の傾きを計測するためのオートコリメ
ータ、(b)は非測定物の測定部位を確認するための顕
微鏡、(c)は被測定物との距離を測定するための変位
計の基本的な構成をそれぞれ示している。
【符号の説明】
1 被測定物 2 測定光 3 変位計 4 LD 5 反射光 6 PSD 7 マウント 8 顕微鏡レンズ 9 ミラー 10 集光レンズ 11 LD 12 コリメートレンズ 13 ビームスプリッタ 14 CCD 15 光源 16 照明光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 AA35 AA53 BB05 FF04 GG02 GG04 HH03 HH04 HH12 HH13 JJ02 JJ03 JJ05 JJ16 JJ26 LL04 LL12 PP12 UU07 2H052 AC04 AC09 AF02

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物に対して平行光を照射し、その
    反射光を確認することにより被測定物の傾きを測定する
    オートコリメータであって、 前記被測定物への照射光を平行光とするためのコリメー
    トレンズと、 前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ
    自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を
    集光する顕微鏡レンズとを有することを特徴とする顕微
    鏡を備えたオートコリメータ。
  2. 【請求項2】 被測定物に対して第1および第2の測定
    光を照射し、第1の測定光の反射光を確認することによ
    り被測定物の傾きを測定し、第2の測定光の反射光を確
    認することにより被測定物までの距離を測定する形状測
    定装置であって、 前記被測定物への第1の測定光を平行光とするためのコ
    リメートレンズと、 前記コリメートレンズと前記被測定物との間に出し入れ
    自在に設けられ、前記コリメートレンズによる平行光を
    集光する顕微鏡レンズと、 前記第2の測定光を発生する光源と、 前記第2の測定光の被測定物による反射光を確認する検
    出素子と、を有し、 前記検出素子は、前記顕微鏡レンズを通る光軸と垂直な
    面であり、顕微鏡レンズの焦点位置における前記第2の
    測定光の反射光が概ね中心に入射するように設けられて
    いることを特徴とする形状測定装置。
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