JP2003059961A - ワイヤボンディング方法、および半導体装置 - Google Patents

ワイヤボンディング方法、および半導体装置

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JP2003059961A JP2001246969A JP2001246969A JP2003059961A JP 2003059961 A JP2003059961 A JP 2003059961A JP 2001246969 A JP2001246969 A JP 2001246969A JP 2001246969 A JP2001246969 A JP 2001246969A JP 2003059961 A JP2003059961 A JP 2003059961A
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JP
Japan
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bonding
chip
wire
chips
stitch
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Hitoshi Fujimoto
仁士 藤本
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 複数のICチップのボンディングパッド間を
ワイヤを用いて相互に結線する場合の接続手順の自由度
を確保してICチップの組み合わせが変更された場合に
も容易に対応できるようにするとともに、安定したステ
ッチボンドを行うことができるワイヤボンディング方
法。 【解決手段】 複数のICチップ11,12のボンディ
ングパッド11a,12a間をワイヤ14を用いて相互
に結線する場合において、ICチップ12の一つのボン
ディングパッド12a上にスタッドバンプ15を形成
し、引き続いて、ICチップ11の一つのボンディング
パッド11a上にボールボンドを施し、このボールボン
ドされたワイヤ14の他端を引き出して一方のICチッ
プ12のスタッドバンプ15上にステッチボンドを行う
ことで、ステッチボンドされた接続部とボールボンドさ
れた接続部とからなる一組の接続部分を一度に形成する
工程を単位ボンディング工程とし、これを繰り返す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のICチップ
のボンディングパッド間をワイヤを用いて相互に結線す
るワイヤボンディング方法、およびこの方法により製造
される半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置は、大容量化、高機能
化、高集積化等が益々要求されており、これらの要請に
応えるために、一つのパッケージ内にそれぞれ回路機能
の異なる複数のICチップを一度に封止した、いわゆる
マルチチップパッケージされた半導体装置が注目されて
いる。
【0003】このようなマルチチップパッケージされた
半導体装置を製作するには、各ICチップをリードフレ
ームに接続するだけでなく、各ICチップ同士を互いに
電気的に接続することが必要となる。そして、このよう
なICチップ間の相互の接続には、通常、ワイヤボンデ
ィング法が適用される。このワイヤボンディング法によ
って一対のICチップ間を直接に接続する場合、一方の
ICチップのボンディングパッド上にボールボンドした
後、他方のICチップのボンディングパッド上にはステ
ッチボンドをすることになる。
【0004】ここで、ICチップのボンディングパッド
上に直接にステッチボンドを施すと、キャピラリツール
の先端部が直接にICチップの表面に接触して衝撃を与
え、ICチップにダメージを与えるなどの不具合が生じ
る。
【0005】そのため、従来技術では、予めボンディン
グパッド上にスタッドバンプ(突起電極)を予め形成
し、このスタッドバンプ上にステッチボンドを施すこと
で、ICチップに対する衝撃荷重を軽減するようにして
いる。
【0006】図3は、このような技術を用いて2つのI
Cチップ間をワイヤボンディングする場合の説明図であ
る。すなわち、この例では、アラインド1上に2つのI
Cチップ2,3が搭載され、一方のICチップ2の各々
のボンディングパッド2a上に予めスタッドバンプ5が
形成されている。そして、他方のICチップ3のボンデ
ィングパッド3a上にボールボンドを施した後、このボ
ールボンドされたワイヤ6の他端を引き出して一方のI
Cチップ2のスタッドバンプ5上にステッチボンドする
ことで、ICチップ2,3間を電気的に接続する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3に示し
たように、2つのICチップ2,3間をワイヤボンディ
ングする場合には、一方のICチップ2の全てのボンデ
ィングパッド2a上にスタッドバンプ5を予め形成して
おき、そのスタッドバンプ5上にステッチボンドを施す
ことが可能であるが、ICチップが3つ以上になると、
予め一つのICチップにスタッドバンプのみを形成して
おくことが困難になる。
【0008】たとえば、図4に示すように、アラインド
10上に第1、第2、第3の3つのICチップ11,1
2,13を搭載する場合、第1のICチップ11のボン
ディングパッド11aにはワイヤ14でボールボンドの
みを行い、第2のICチップ12のボンディングパッド
12aには、スタッドバンプ15を介してステッチボン
ドのみを行うように設定した場合、残りの第3のICチ
ップ13のボンディングパッド13には、ボールボンド
すべき接続箇所と、スタッドバンプ15を介してステッ
チボンドすべき接続箇所とが必然的に混在するようにな
る。つまり、第3のICチップ13は、他の第1、第2
のICチップ11,12のように、ステッチボンドの
み、あるいはボールボンドのみを行うことができなくな
る。
【0009】このように、ステッチボンドされた接続部
とボールボンドされた接続部とが混在することになる第
3のICチップ13に対しては、たとえばステッチボン
ドする予定箇所のボンディングパッド13a上に予めス
タッドバンプ15を形成しておくことが考えられる。
【0010】しかし、そのような構成を採用した場合に
は、各ICチップの組み合わせに応じてワイヤボンディ
ングを行う場合の一連の接続手順を予め厳密に設定して
おく必要がある。すなわち、図4に例示したものの場合
には、たとえば、最初に第1のICチップ11の右側上
下4つのボンディングパッド11aにボールボンドをし
た後、第2のICチップ12の左側上下4つのボンディ
ングパッド上12aのスタッドバンプ15にステッチボ
ンドを行う。次に、第1のICチップ11の下側左右3
つのボンディングパッド11aにボールボンドをした
後、第3のICチップ13の左側上下3つのボンディン
グパッド13a上のスタッドバンプ15にステッチボン
ドを行う。続いて、第3のICチップ13の上側左右3
つのボンディングパッド13a上にボールボンドをした
後、第2のICチップ12の下側左右3つのボンディン
グパッド13a上のスタッドバンプ15にステッチボン
ドを行う、とっいったように一連の接続手順を予め設定
し、これらの接続手順をプログラムしてコンピュータ等
に登録しておく必要がある。
【0011】ところが、せっかくこのような接続手順を
決めておいても、マルチチップパッケージされた半導体
装置全体として各種の回路機能を発揮させるためには、
各ICチップの組み合わせが変更されることがあり、そ
のような場合には、ICチップの組み合わせに応じて各
ICチップ11,12,13の一連の接続手順を決める
制御プログラムも全面的に変更する必要が生じる。
【0012】つまり、従来は、ワイヤボンディングを行
う際の一連の接続手順をICチップの組み合わせに応じ
て予め厳密に設定しておく必要があるため、接続手順に
自由度がなかった。このため、ICチップの組み合わせ
が変更された場合には、その都度、接続手順を規定する
制御プログラムも組み直す必要が生じて余分な労力と時
間がかかっていた。
【0013】しかも、従来のように、ICチップのステ
ッチボンドされる予定箇所のボンディングパッド上に最
初からスタッドバンプを形成しておくと、ステッチボン
ドするまでの間にスタッドバンプの酸化が進んで、ステ
ッチボンドする際の接合強度が低下するなどの不都合も
生じていた。
【0014】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたもので、複数のICチップのボンディングパッド
間をワイヤを用いて相互に結線する場合の接続手順の自
由度を確保してICチップの組み合わせが変更された場
合にも容易に対応できるようにするとともに、安定した
ステッチボンドを行うことができるワイヤボンディング
方法、およびこの方法により製造される半導体装置を提
供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、次のようにしている。すなわち、請求
項1記載の発明におけるワイヤボンディング方法は、複
数のICチップのボンディングパッド間をワイヤを用い
て相互に結線する場合において、互いに電気的接続が必
要とされる一対のICチップの内、いずれか一方のIC
チップの一つのボンディングパッド上にスタッドバンプ
を形成し、引き続いて、他方のICチップの一つのボン
ディングパッド上にボールボンドを施し、このボールボ
ンドされたワイヤの他端を引き出して一方のICチップ
の前記スタッドバンプ上にステッチボンドを行うこと
で、ステッチボンドされた接続部とボールボンドされた
接続部とからなる一組の接続部分を一度に形成する工程
を単位ボンディング工程として設定し、この単位ボンデ
ィング工程を各ICチップのボンディングパッド間で繰
り返して行うことを特徴としている。
【0016】また、請求項2記載の発明における半導体
装置は、請求項1記載の方法により複数のICチップの
ボンディングパッド間が結線されていることを特徴とし
ている。
【0017】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は本発明の実
施の形態1に係る半導体装置の要部を示す平面図であ
り、図4に示した従来技術と対応する構成部分には同一
の符号を付す。
【0018】この実施の形態1の半導体装置は、アライ
ンド10上に第1、第2、第3の3つのICチップ1
1,12,13が搭載されており、各ICチップ11,
12,13に設けられているアルミニュウム電極からな
るボンディングパッド11a,12a,13aは、図示
しないリードフレームに接続されるとともに、ボンディ
ングパッド11a,12a,13a間が金線などのワイ
ヤ14を用いて相互に結線され、さらに、これらの各I
Cチップ11,12,13の全体が図示しないエポキシ
樹脂などでモールドされてマルチチップパッケージが構
成されている。
【0019】そして、この実施の形態1の場合、各々の
ICチップ11,12,13のボンディングパッド11
a,12a,13a上には、スタッドバンプ15を介し
てステッチボンドされた接続部と、ボールボンドされた
接続部とが混在している。
【0020】次に、このような複数のICチップ11,
12,13間を直接にワイヤボンディングする場合の方
法について、図2を参照して説明する。ここでは、一例
として、最初に第1、第2のICチップ11,12の一
つのボンディングパッド11a,12a間を接続するも
のとし、その際、第1のICチップ11のボンディング
パッド11aにはボールボンドをし、第2のICチップ
12のボンディングパッド12aにはスタッドバンプ1
5を介してステッチボンドをするものとする。
【0021】そのためには、まず、ワイヤ14がキャピ
ラリツール18を通って供給され、そのワイヤ14の先
端部を加熱することでボール14aを形成する(図2
(a)参照)。次に、キャピラリツール18が降下して
ボール14aを第2のICチップ12上の一つのボンデ
ィングパッド12aに押し付け、同時にキャピラリツー
ル18に超音波振動を与えることでボール14aを変形
させてボンディングパッド12aと接合する(図2
(b)参照)。そして、キャピラリツール18とともに
ワイヤ14を上方に引き上げて、ボール14aを根元部
で切断することでボンディングパッド12a上にスタッ
ドバンプ15が形成される(図2(c)参照)。
【0022】続いて、キャピラリツール18を第2のI
Cチップ12と電気的接続が必要となる第1のICチッ
プ11の一つのボンディングパッド11a上に移動させ
た後、ワイヤ14の先端を電気トーチ19等で加熱する
ことでキャピラリツール18の先端にボール14bを形
成する(図2(d)参照)。次に、キャピラリツール1
8が降下して、ボール14bをボンディングパッド11
aに押し付ける(図2(e)参照)。その際、キャピラ
リツール18に超音波振動を与えることでボール14b
を変形させてボール14bとボンディングパッド11a
とを接合する(図2(f)参照)。
【0023】こうして、ワイヤ14の一端がボールボン
ドされると、ワイヤ14の他端側を引き出しつつ、キャ
ピラリツール18をその直前にスタッドバンプ15を形
成した第2のICチップ12上に移動させる(図2
(g)参照)。そして、キャピラリツール18を降下さ
せてワイヤ14の先端をスタッドバンプ15上に押し付
ける(図2(h)参照)。その際、キャピラリツール1
8に超音波振動を与えることでワイヤ14をスタッドバ
ンプ15に接合してステッチボンドを行う(図2(i)
参照)。
【0024】ここでは説明の便宜上、第1のICチップ
11のボンディングパッド11a上にボールボンドを、
第2のICチップ12のボンディングパッド12a上に
スタッドバンプ15を介してステッチボンドを行った
が、その逆に、第2のICチップ12のボンディングパ
ッド12a上にボールボンドをし、第1のICチップ1
1のボンディングパッド11a上にスタッドバンプ15
を介してステッチボンドをしてもよい。
【0025】つまり、この実施の形態1では、ステッチ
ボンドされた接続部とボールボンドされた接続部とから
なる一組の接続部分を一度に形成する工程を単位ボンデ
ィング工程として設定し、この単位ボンディング工程を
用いて第1、第2のICチップ11,12のボンディン
グパッド11a,12a間のみならず、第1と第3のI
Cチップ11,13のボンディングパッド11a,13
a間、および、第2と第3のICチップ12,13の各
ボンディングパッド12a,13a間を相互に接続す
る。
【0026】その場合、各ICチップ11,12,13
間は確実にワイヤ14を介して電気的に接続されればよ
いので、従来のように、第1のICチップ11のボンデ
ィングパッド11aにはボールボンドのみ、第2のIC
チップ12のボンディングパッド12aにはステッチボ
ンドのみを行うといったことは取り決めないで、ICチ
ップの任意のボンディングパッド上にスタッドバンプ1
5を形成した後、このICチップと電気的接続が必要と
される他方のICチップにボールボンドをしてから、こ
のスタッドバンプ15を形成した側のICチップにステ
ッチボンドを行う。このため、たとえば、第1のICチ
ップ11に着目したときには、このICチップ11のボ
ンディングパッド11a上には、他のICチップから引
き出されたワイヤ14がスタッドバンプ15を介してス
テッチボンドされた接続部と、ワイヤ14が直接ボール
ボンドされた接続部とが混在することになる。
【0027】このように、本発明のワイヤボンディング
方法は、各ICチップ11,12,13を電気的に接続
する場合、ステッチボンドされた接続部とボールボンド
された接続部とからなる一組の接続部分を形成するため
の単位ボンディング工程の手順のみを予め設定しておけ
ばよく、従来のように、各ICチップ11,12,13
をワイヤボンディングを行う場合の一連の接続手順を厳
密に決めておく必要がない。
【0028】したがって、マルチチップパッケージされ
た半導体装置全体として所要の回路機能を発揮させるた
めに各ICチップの種類や組み合わせが変更されたよう
な場合にも、各ICチップの接続手順を決める制御プロ
グラムも全面的に変更する必要がなく、接続手順を決め
る自由度が極めて大きくなり、余分な労力と時間を削減
することができる。
【0029】しかも、上記の単位ボンディング工程ごと
に一対のボンディングパッド間の結線が完了するので、
スタッドバンプ15を形成してからその上にステッチボ
ンドするまでの期間が短時間ですむ。このため、スタッ
ドバンプ15の酸化が進んでステッチボンドする際の接
合強度が低下するなどの不都合を回避することができ
る。
【0030】なお、上記の実施の形態1では、3つのI
Cチップ11,12,13をワイヤボンディングする場
合について説明したが、本発明は、これに限定されるも
のではなく、2つのICチップ間、あるいは4つ以上の
ICチップ間を接続してマルチチップパッケージした半
導体装置を製作する場合にも適用することができる。
【0031】
【発明の効果】請求項1記載に係る本発明のワイヤボン
ディング方法によれば、ステッチボンドされた接続部と
ボールボンドされた接続部とからなる一組の接続部分を
一度に形成する工程を単位ボンディング工程として設定
し、この単位ボンディング工程を用いて複数のICチッ
プのボンディングパッド間を相互に結線するので、その
場合の接続手順の自由度を確保することができる。この
ため、ICチップの組み合わせが変更された場合にも容
易に対応することができる。
【0032】また、上記の単位ボンディング工程ごとに
一対のボンディングパッド間の結線が完了するので、ス
タッドバンプを形成してからその上にステッチボンドす
るまでの期間が短かくなって酸化が防止されるため、安
定したステッチボンドを行うことが可能になる。
【0033】請求項2記載に係る本発明の半導体装置
は、上記の方法により各ICチップのボンディングパッ
ド間が接続されるので、配線の引き回しの自由度を高め
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1に係る半導体装置の要
部を示す平面図である。
【図2】 本発明の実施の形態1の半導体装置を得るた
めのワイヤボンディング方法の手順を示す説明図であ
る。
【図3】 従来の半導体装置のワイヤボンディング方法
の手順の説明に供する斜視図である。
【図4】 従来の他の半導体装置のワイヤボンディング
方法の手順の説明に供する平面図である。
【符号の説明】
10 アイランド、11,12,13 ICチップ、1
1a,12a,13aボンディングパッド、14 ワイ
ヤ、15 スタッドバンプ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のICチップのボンディングパッド
    間をワイヤを用いて相互に結線するワイヤボンディング
    方法であって、互いに電気的接続が必要とされる一対の
    ICチップの内、いずれか一方のICチップの一つのボ
    ンディングパッド上にスタッドバンプを形成し、引き続
    いて、他方のICチップの一つのボンディングパッド上
    にボールボンドを施し、このボールボンドされたワイヤ
    の他端を引き出して一方のICチップの前記スタッドバ
    ンプ上にステッチボンドを行うことで、ステッチボンド
    された接続部とボールボンドされた接続部とからなる一
    組の接続部分を一度に形成する工程を単位ボンディング
    工程として設定し、この単位ボンディング工程を各IC
    チップのボンディングパッド間で繰り返して行うことを
    特徴とするワイヤボンディング方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の方法により複数のICチ
    ップのボンディングパッド間が結線されていることを特
    徴とする半導体装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005086200A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Samsung Electronics Co Ltd ワイヤボンディング方法、半導体チップ及び半導体パッケージ
JP2006278407A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2008263210A (ja) * 2008-05-16 2008-10-30 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JP2009071046A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Nec Electronics Corp 半導体装置、その製造方法及びワイヤボンディング方法
JP2009295988A (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 Micronas Gmbh 特別に形作られたボンドワイヤを有する半導体装置およびそのような装置を製造するための方法
KR20120081113A (ko) 2009-09-30 2012-07-18 가부시키가이샤 닛폰 쇼쿠바이 입자상 흡수제 및 그 제조방법

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005086200A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Samsung Electronics Co Ltd ワイヤボンディング方法、半導体チップ及び半導体パッケージ
JP2006278407A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2009071046A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Nec Electronics Corp 半導体装置、その製造方法及びワイヤボンディング方法
JP2008263210A (ja) * 2008-05-16 2008-10-30 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置
JP2009295988A (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 Micronas Gmbh 特別に形作られたボンドワイヤを有する半導体装置およびそのような装置を製造するための方法
KR20120081113A (ko) 2009-09-30 2012-07-18 가부시키가이샤 닛폰 쇼쿠바이 입자상 흡수제 및 그 제조방법

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