JP2003017273A - 表示装置および表示装置の製造方法 - Google Patents
表示装置および表示装置の製造方法Info
- Publication number
- JP2003017273A JP2003017273A JP2001204407A JP2001204407A JP2003017273A JP 2003017273 A JP2003017273 A JP 2003017273A JP 2001204407 A JP2001204407 A JP 2001204407A JP 2001204407 A JP2001204407 A JP 2001204407A JP 2003017273 A JP2003017273 A JP 2003017273A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- display device
- layer
- light
- organic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 23
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 99
- 239000010408 film Substances 0.000 description 74
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 17
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 10
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019015 Mg-Ag Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 aluminum quinolinol Chemical compound 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 101000854908 Homo sapiens WD repeat-containing protein 11 Proteins 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017855 NH 4 F Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 102100020705 WD repeat-containing protein 11 Human genes 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 125000000040 m-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N magnesium silver Chemical compound [Mg].[Ag] SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 125000006617 triphenylamine group Chemical group 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/875—Arrangements for extracting light from the devices
- H10K59/878—Arrangements for extracting light from the devices comprising reflective means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/805—Electrodes
Landscapes
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
方法を提供する。 【解決手段】 光反射材料からなる第1電極201と、
光透過性材料からなる第2電極108と、これらの第1
電極201及び第2電極108間に挟持された有機EL
層107とを備えた表示装置において、有機EL層10
7の周囲には、有機EL層107で生じた発光光hを第
2電極201側に反射するための反射壁面202が設け
られている。この反射壁面202は、凹状に形成された
第1電極201の内周壁として構成されている。
Description
示装置の製造方法に関し、特には電極間に発光層を挟持
してなる表示装置および表示装置の製造方法に関する。
lectroluminescence:以下ELと記す)を利用した有機
EL素子は、低電圧直流駆動による高輝度発光が可能な
発光素子として注目されている。図5には、有機EL素
子のエネルギーバンド図を示す。この図に示すように、
有機EL素子はキャリア注入型の電界発光素子であり、
仕事関数の異なる陽極501と陰極503との間に、有
機EL層505を挟持してなる。有機EL層505は、
キャリア輸送性の異なる複数層からなり、例えば陽極5
01側から、正孔輸送層505a、発光層505b及び
電子輸送層505cを薄く堆積させてなる場合や、正孔
輸送層が発光層を兼ねる場合、さらには電子輸送層が発
光層を兼ねる場合もあり、少なくとも発光層を有した状
態で設計に応じて様々な形態で作製される。
極501から注入された正孔と、陰極503から注入さ
れた電子とが、発光層505bにおいて再結合し、この
再結合に伴って励起子が生成され、この励起子が失活す
る際に光が放出される。
装置の一例を示す要部断面図である。この図に示す表示
装置は、各画素に薄膜トランジスタ(thin film transi
stor:以下TFTと記す)が設けられたアクティブマト
リックス型の表示装置であり、支持基板101上にはT
FT(図示省略)が形成されたTFT層102が設けら
れている。そして、このTFT層102を覆う状態で形
成された平坦化絶縁膜103上に、有機EL素子の陽極
または陰極(ここでは例えば陽極)となる第1電極10
4が形成されている。この第1電極104は、光反射性
を有する導電膜を画素毎にパターニングしてなり、平坦
化絶縁膜103に形成されたコンタクトホール(図示省
略)を介してTFTの電源と接続されている。
状態で、平坦化絶縁膜103上に絶縁膜105がパター
ン形成されている。この絶縁膜105は、例えば酸化シ
リコンのような透明材料からなり、第1電極104表面
の発光に寄与する部分のみを露出させる開口部105a
が形成されている。そして、絶縁膜105の開口部10
5aから露出する第1電極104上には、有機EL層1
07が設けられている。この有機EL層107は、端縁
を絶縁膜105の開口縁部分上に重ねた状態にして設け
ることで、絶縁膜105の開口部105aから露出する
第1電極104を完全に覆う様に設けられる。尚、ここ
での図示は省略したが、図5を用いて説明したように、
有機EL層107は、少なくとも発光層を含む複数の層
で構成されることになる。また、この有機EL層107
は、基板101の上方に配置したマスク上からの蒸着に
よって形成される。
で、基板101の上方に陽極または陰極(ここでは例え
ば陰極)となる第2電極108が形成されている。この
第2電極108は、光透過性を有する導電性材料からな
り、画素に共通の電極としてベタ膜状に形成されると共
に、絶縁膜105および有機EL層107によって第1
電極104との間の絶縁性が確保されている。
は、第2電極108に電圧を印加し、さらにTFT層1
02に形成されたTFTの駆動によって各画素の第1電
極104に電圧を印加することによって、TFTで選択
された各画素の有機EL層107で発光光hが生じ、こ
の発光光hが光透過性材料からなる第2電極108側か
ら取り出されることになる。
成の表示装置6に設けられている有機EL素子において
は、有機EL層107中の発光層における電子と正孔と
の再結合によって一重項励起子と三重項励起子とが発生
するが、このうち発光に寄与する一重項励起子の生成効
率、すなわち注入された電荷に対する内部量子効率は2
5%程度である。また、発光層において生成された発光
光hは、全方向に等方的に放出される。このため、上述
したように絶縁膜105が透明材料からなる場合には、
図中鎖線矢印に示すように有機EL層107の面方向に
平行に放出された発光光h’は、そのまま有機EL層1
07の周囲に配置された絶縁膜105中に侵入して漏れ
光となる。したがって、発光層において生成された発光
光h,h’のうち、実際の外部に放出されて表示に寄与
する発光光hの取り出し効率(いわゆる外部量子効率)
は20%程度である。つまり、有機EL素子を用いた表
示装置においては、電荷の注入に対する量子効率は5%
程度にすぎない。
において、輝度の向上を図るためには、電極間に流す電
流を大きくすることで一重項励起子の生成量を増加させ
ることが有効になる。しかし、有機EL素子に流す電流
値を大きくするほど、有機EL層107の劣化が速めら
れ、表示装置の寿命が短くなると言った問題が発生す
る。
なく発光光の取り出し効率(外部量子効率)の向上を図
り、これによって表示装置の寿命を確保しつつ輝度の向
上を図ることが可能な表示装置およびその製造方法を提
供することを目的とする。
るための本発明の表示装置は、光反射材料からなる第1
電極と、光透過性材料からなる第2電極と、これらの第
1電極及び第2電極間に挟持された発光層とを備えた表
示装置において、発光層の周囲に、この発光層で生じた
光を第2電極側に反射するための反射壁面を設けたこと
を特徴としている。この反射壁面は、第1電極の一部と
して構成されていることとする。
生じて全方向に放出される発光光のうち、当該発光層の
面方向に放出された光は、発光層の周囲に配置された反
射壁面で第2電極側に反射されるようになる。このた
め、上述した方向に放出された発光光は、第2電極側に
放出された発光光や、光反射材料からなる第1電極側に
放出されて当該第1電極で反射された発光光と共に、光
透過性材料からなる第2電極側から取り出されることに
なる。したがって、発光層で生じた発光光の第2電極側
からの取り出し効率(外部量子効率)が向上する。
方法でもあり、光反射性材料からなる第1電極の表面に
順テーパ形状の内周面を有する凹部を形成し、この第1
電極の凹部内に発光層を形成し、この発光層上に第1電
極との間の絶縁性を保った状態で光透過性材料からなる
第2電極を形成することを特徴としている。第1電極に
凹部を形成する際には、レジストパターンをマスクにし
て当該第1電極を等方的にエッチングすることとする。
内に発光層を形成するため、発光層の周囲には、第1電
極の側周壁の内周面が配置されることになる。この内周
面は、順テーパ形状であるため、発光層上に形成された
第2電極側に向けられることになる。また、第1電極
は、光反射性材料からなるため、この内周面は、発光層
で生じた光を第2電極側に反射するための反射壁面とな
る。
法および表示装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に
説明する。尚、本実施形態においては、一例として、図
1に示すように、支持基板101上に発光素子として有
機EL素子が配列形成され、有機EL素子が形成された
各発光部1aからの発光光hを支持基板101とは反対
側から取り出す上面発光方式の表示装置のうち、特に各
発光部1aが配置された画素毎にTFTを設けたアクテ
ィブマトリックス型の駆動方式の表示装置に本発明を適
用した場合を説明する。しかし、本発明は、発光素子と
して有機EL素子を用いたものに限定されることはな
く、例えば無機電界発光素子のような自発光型の発光素
子を用いた表示装置に広く適用可能である。また、表示
方式も上面発光方式に限定されず、支持基板101側か
ら発光光を取り出す透過方式でも良く、さらに駆動方式
もアクティブマトリック方式に限定されることはなく、
パッシブ方式でも良い。
発明を理解できる程度に、その寸法、形状及び配置関係
を概略的に示しており、同様の構成成分については同一
の番号を付けて示し、その重複する説明を省略する。さ
らに、以下の説明中で挙げる使用材料及びその量、処理
時間、処理温度、膜厚などの数値的条件は、この発明の
範囲内の好適例に過ぎない。従って、この出願による発
明は、これら条件にのみ限定されるものではない。
部概略断面図であり、図3は図2の要部拡大断面図であ
る。尚、これらの図に示す表示装置1において、図6を
用いて説明した従来の表示装置と同様の構成要素には同
一の符号を付し、重複する説明は省略する。
いて説明した従来の表示装置との異なるところは、第1
電極201の形状にあり、その他の構成要素は従来の表
示装置と同様であることとする。
にパターニングしてなり、特にその周縁部分が全周に亘
って支持基板101と反対側に突出する側壁形状に成形
されている。つまり、第1電極201は、側周壁部分を
有する凹状に成形されている。また、第1電極201の
側周壁部分の内周面は、第1電極201の凹状の開口幅
がその底部に向かって徐々に狭められるような順テーパ
形状に成形され、反射壁面202として構成されてい
る。尚、第1電極201の周縁部分は、全周に亘って支
持基板101と反対側に突出する側壁形状に成形されて
いることが好ましいが、これに限定されることなく、一
部の周縁が支持基板101と反対側に突出する側壁形状
に成形されていても良い。
射性材料としては、クロム(Cr)、等を好適に用いる
ことができる。そして、この第1電極201が陽極とし
て用いられる場合には、このような光反射性材料のうち
仕事関数が高い材料が選択され、第1電極201が陰極
として用いられる場合には、仕事関数の低い材料が選択
されることになる。
囲を覆う絶縁膜105は、例えば第1電極201の側周
壁部分を含む当該第1電極201の周縁を覆うと共に、
凹状の第1電極201の底部を露出させる開口部105
aを備えている。尚、好ましくは、開口部105aの底
部側の開口縁が、第1電極201の凹状底部に達してい
ることとする。これにより、次に説明する有機EL層1
07の端縁が絶縁膜105の端縁上に途切れることなく
重ねられ易くなる。
第1電極201上に、少なくとも発光層を含む有機EL
層107が設けられている。つまり、この有機EL層1
07を囲む状態で、第1電極201の側周壁部分の内周
面で構成される反射壁面202が配置されることにな
る。尚、上述したように、この有機EL層107は、そ
の端縁が絶縁膜105の端縁上に重ねられた状態で設け
られていることとする。
られた支持基板101上に、絶縁膜105および有機膜
107によって、第1電極202との絶縁性が確保され
た状態で、光透過性材料からなる第2電極108が設け
られている。この第2電極108を構成する光透過性材
料としては、例えばこの第2電極108が陰極として用
いられる場合には、Mg−Ag(マグネシウム−銀)の
ような仕事関数の低い材料が選択され、第2電極108
が陽極として用いられる場合には、ITO(Indium Tin
Oxide)のような仕事関数の高い材料が選択される。
のテーパ形状は、有機EL層107で発生してこの反射
面202に入射された発光光を、第2電極108側に反
射するような角度に成形されていることとする。また、
有機EL層107で発生して有機EL層107の面方向
に放出された発光光hが、有効に第2電極108側に反
射されるように、反射壁面202の高さt1は、有機E
L層107の膜厚t2と同程度かそれよりも大きいこと
とする。例えば有機EL層107の膜厚t2が100n
m程度である場合、反射壁面202の高さt1は100
nm以上に設定され、ここでは一例として200nmに
設定されていることとする。
電極材料を上方から等方的にエッチングすることで得ら
れた形状である場合、反射壁面202のテーパ角度は一
定ではなく深さ方向で変化する。このため、反射壁面2
02の高さt1を適切に選択することで、有機EL層1
07で発生して有機EL層107の面方向に放出された
発光光hが、有効に第2電極108側に反射されるよう
に設定することとする。
第1電極201と第2電極108とで有機EL層107
を直接挟持している部分が発光部1aとなる。そして、
この表示装置1では、有機EL層107の発光層(図示
省略)で生じて全方向に放出される発光光h、h’のう
ち、図3中鎖線で示すように有機EL層107の面方向
と平行に放出された光h’は、有機EL層107の周囲
に配置された反射壁面202で第2電極108側に反射
されるようになる。このため、上述した方向に放出され
た発光光h’は、第2電極108側に放出された発光光
hや、光反射材料からなる第1電極201側に放出され
て第1電極201で反射された発光光hと共に、光透過
性材料からなる第2電極108から取り出されることに
なる。したがって、反射壁面202が設けられていない
表示装置と比較して、有機EL層107の発光層で生じ
た発光光h,h’の第2電極108側からの取り出し効
率(外部量子効率)を向上させることが可能になる。
極201の周縁部分が、全周に亘って支持基板101と
反対側に突出させた側壁形状に成形されている場合に
は、有機EL層107の面方向の全方向に放出された光
h’が第2電極108側に反射されることになるため、
有機EL層107の発光層で生じた発光光h、h’を最
も有効に第2電極108側から取り出すことが可能にな
る。
く、すなわち有機EL層の劣化を早めることなく、より
高輝度の表示を行うことが可能になる。また、より低い
電流値での駆動によってある程度の輝度を確保すること
が可能になるため、有機EL層の劣化を抑えることがで
き、表示装置の長寿命化を達成することが可能になる。
明した構成の表示装置の製造手順を、本発明の表示装置
の製造方法の一例として説明する。
英ガラスからなる支持基板101上に、ここでの図示を
省略したTFTを形成してなるTFT層102を設け、
このTFT層102の上部を平坦化絶縁膜103で覆
う。次いで、レジストを塗布し、露光・現像するリソグ
ラフィ法によって形成したレジストパターンをマスクに
用いて平坦化絶縁膜103をエッチングし、ここでの図
示を省略したコンタクトホールを、各画素に設けられた
TFTに達する状態で平坦化絶縁膜103に形成する。
極または陰極となる第1電極を形成するための導電膜2
01aを形成する。ここでは、第1電極を陽極として構
成することとし、例えばCr(クロム)膜等のように仕
事関数が高く、光反射性を有する材料からなる導電膜2
01aを成膜する。この導電膜201は、例えばスパッ
タリング法によって成膜される。また、導電膜201a
の膜厚t3は、第1電極として必要な膜厚と、この第1
電極の一部として構成される反射壁面として必要な高さ
とを合わせた値に設定され、ここでは、例えば300n
mの膜厚に設定されることとする。
ラフィ法によりレジストパターン(図示省略)を形成す
る。そして、このレジストパターンをマスクに用いたエ
ッチングによって、導電膜201aをパターニングす
る。この際、各導電膜201aは、各画素形状にパター
ニングされ、同様に各画素に設けられたTFTに対し
て、層間絶縁膜103に形成されたコンタクトホール
(図示省略)を介してそれぞれが接続される状態で形成
されることとする。
01aがパターン形成された支持基板101上に、リソ
グラフィ工程によりレジストパターン301を形成す
る。このレジストパターン301は、導電膜201aの
周縁を覆うと共に、導電膜201a上に導電膜201a
よりも一回り小さい形状の開口部301aを有している
こととする。
トパターン301をマスクにして、導電膜201aを等
方的にエッチングする。この際、導電膜201aの膜厚
t3よりもエッチング深さが浅くなるように、すなわち
エッチング底面に導電膜201aを残すハーフエッチン
グを行う。ここでは、エッチング深さを200nm程度
とし、エッチング底部に膜厚100nmの導電膜201
aを残すこととする。
て、導電膜201aの上面側に凹部を設けた凹状の第1
電極201を得る。この第1電極201は、周縁を全周
に亘って上方に突出させた側壁部分を備え、この側壁部
分の内周面が順テーパ形状の反射壁面202となる。
01aのエッチング表面、すなわち第1電極201の表
面に対してエッチングダメージが加わることを小さく抑
えるため、ウェットエッチングを行うことが好ましい。
このためここでは、例えばエッチング溶液に三洋化成工
業(株)製「ETCH−1」(商品名)を用い、Crか
らなる導電膜201aをウェットエッチングする。
電極201が形成された支持基板101上に、絶縁膜1
05をパターン形成する。この絶縁膜105は、例えば
酸化シリコン(SiO2)からなり、第1電極201の
反射壁面202を含む第1電極201の周縁を覆うと共
に、第1電極201の底面部分を露出させる開口部10
5aを備えていることとする。
場合には、先ず、CVD(chemicalvapor deposition)
法によって、支持基板101の上方に800nmの膜厚
の酸化シリコンからなる絶縁膜105を成膜する。尚、
絶縁膜105の膜厚は、絶縁膜105を構成する材料に
よって、第1電極201と以降に説明する第2電極との
絶縁性が十分に確保できる値が適宜選択されることとす
る。
によってここでの図示を省略したレジストパターンを形
成する。その後、このレジストパターンをマスクに用い
て絶縁膜105を等方的にエッチングする。このエッチ
ングは、第1電極201に対してエッチングのダメージ
が加わることを小さく抑えるため、ウェットエッチング
を行うことが好ましい。このためここでは、フッ酸(H
F)水溶液とフッ化アンモニウム(NH4F)水溶液と
の混酸をエッチング溶液に用いて、酸化シリコンからな
る絶縁膜105をウェットエッチングする。これによっ
て、絶縁膜105に第1電極201に達する開口部10
5aを形成する。
有機EL層形成用の真空蒸着装置内に設置する。そし
て、支持基板101上に、ここでの図示を省略した蒸着
マスクを載置する。この蒸着マスクは、例えばストライ
プ状の開口部を有し、この開口部が開口部105a上に
重ね合わされ、かつ蒸着マスクの開口部内に絶縁膜10
5に形成した開口部105aが確実に収められるよう
に、支持基板101の上方に配置される。
となるトリフェニルアミン誘導体(N,N−ジフェニル
−N,N−ビス(3−メチルフェニル)−1,1−ビフ
ェニル−4,4−ジアミン:TPD)を膜厚50nm程
度になるように蒸着形成する。
送性発光層となるアルミキノリノール錯体(トリス(8
−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム:Alq3)
を膜厚50nmになるように蒸着形成する。
が大きな正孔注入電極(陽極)から多量の正孔が注入可
能で、しかも注入された正孔が膜中を移動できる一方、
電子の注入は困難であるか、注入は可能であっても膜中
を移動し難いような性質を持った薄膜層であることとす
る。また、「電子輸送層」とは、仕事関数が小さな電子
注入電極(陰極)から多量の電子が注入可能で、しかも
注入された電子が膜中を移動できる一方、正孔の注入は
困難であるか、注入は可能であっても膜中を移動し難い
ような性質を持った薄膜層であることとする。尚、第1
電極104を陰極として形成した場合には、有機EL層
111を構成する正孔輸送層、電子輸送層、発光層など
は適宜選択された順序で積層されるることとする。
光層とを積層してなる、膜厚100nmの有機EL層1
07を形成する。この有機EL層107は、絶縁膜10
5の開口部105a底面において第1電極201と接す
る状態で、この第1電極201の凹状底面に積層形成さ
れる。そして、有機EL層107の周囲には、第1電極
201の側壁部分が配置されることになる。
取り除いた後、有機EL層107上に真空蒸着法(例え
ば抵抗加熱蒸着法)によって、ベタ膜状の第2電極10
8を形成する。この第2電極108は、陽極または陰極
となるもので、第1電極201が陽極の場合は陰極とし
て形成され、第1電極201が陰極の場合は陽極として
形成される。ここでは、第1電極201を陽極として構
成したことから、第2電極108は、仕事関数の低い材
料からなる陰極として構成され、例えばMg−Ag(マ
グネシウムと銀との合金)のように仕事関数が低く、光
透過性を有する材料を用いることとする。
第1電極201と陰極となる第2電極108との間に有
機EL層107を挟持してなる発光素子(有機EL素
子)109を形成する。また、ここでの図示は省略した
が、発光素子109形成後に、有機EL層107の劣化
を防止するための発光素子109の封止工程を行う。
明した構成の表示装置1が得られる。このような製造方
法によれば、マスク工程とエッチング工程とを追加する
だけで、有機EL層107で生じた発光光hを第2電極
108側に反射するための反射壁面202を、有機EL
層107の周囲に設けた表示装置1が得られる。このた
め、部品点数を増加させることなく、すなわち製造コス
トの上昇を最小限に抑えて、上述した構成の表示装置1
を得ることが可能になるのである。
の構成を単色の有機EL素子にしているが、有機EL層
の形成工程を複数回繰り返す事によりRGBの揃ったフ
ルカラーの有機EL素子を用いたディスプレイにも適用
できる。また、以上の実施形態では、支持基板101上
にTFT(thin film transistor)を設け、このTFT
に第1電極を接続させたアクティブマトリックス型の表
示装置に本発明を適用した場合を説明した。このため、
第2電極108はベタ膜として形成した。しかし本発明
は、これに限定されることはなく、例えばストライプ状
に配列形成された第1電極に対して複数本の第2電極を
直交させる状態でストライプ状に配列形成させたパッシ
ブマトリックス方の表示装置にも適用可能である。ま
た、第1電極及び第2電極の形状もストライプ状に限定
されることはなく、多種多様な形状の微細なパターンで
形成しても良い。
続した形状である場合、第1電極の各画素に対応する部
分毎に凹部を設けることが好ましい。第1電極をこのよ
うな形状に成形することで、各画素に対応する有機EL
層部分の全周を囲む反射壁面を設けることができ、最も
有効に有機EL層で生じた光を第2電極側から取り出す
ことが可能になる。
よれば、発光層で生じた発光光の取り出し効率(外部量
子効率)を向上させることが可能になる。このため、発
光層を有する有機EL素子を用いた表示装置において
は、駆動電流を増加させることなく、すなわち素子の劣
化を抑えつつも輝度の向上を図ることが可能になると共
に、より少ない電流で表示装置を駆動させることで表示
装置の長寿命化を図ることが可能になる。また、本発明
の表示装置の製造方法によれば、部品点数を増加させる
ことなく、マスク工程とエッチング工程とを追加するだ
けで製造コストの上昇を最小限に抑えて、発光層の周囲
に反射壁面が配置された高輝度、長寿命の表示装置を得
ることが可能になる。
である。
る。
る。
明するための断面工程図である。
大断面図である。
(発光層)、108…第2電極、201…第1電極、2
02…反射壁面、h,h’…発光光
Claims (5)
- 【請求項1】 光反射材料からなる第1電極と、光透過
性材料からなる第2電極と、これらの第1電極及び第2
電極間に挟持された発光層とを備えた表示装置におい
て、 前記発光層の周囲には、当該発光層で生じた光を前記第
2電極側に反射するための反射壁面が設けられているこ
とを特徴とする表示装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の表示装置において、 前記反射壁面は、前記第1電極の一部として構成されて
いることを特徴とする表示装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の表示装置において、 前記第1電極は支持基板上に設けられ、 前記第2電極は前記第1電極および前記発光層を介して
前記支持基板の上方に設けられていることを特徴とする
表示装置。 - 【請求項4】 光反射性材料からなる第1電極の表面に
順テーパ形状の内周面を有する凹部を形成する工程と、 前記第1電極の凹部内に、発光層を形成する工程と、 前記発光層上に、前記第1電極との間の絶縁性を保った
状態で光透過性材料からなる第2電極を形成する工程と
を行うことを特徴とする表示装置の製造方法。 - 【請求項5】 請求項4記載の表示装置の製造方法にお
いて、 前記第1電極に凹部を形成する際には、レジストパター
ンをマスクにして当該第1電極を等方的にエッチングす
ることを特徴とする表示装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001204407A JP2003017273A (ja) | 2001-07-05 | 2001-07-05 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001204407A JP2003017273A (ja) | 2001-07-05 | 2001-07-05 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003017273A true JP2003017273A (ja) | 2003-01-17 |
Family
ID=19040883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001204407A Pending JP2003017273A (ja) | 2001-07-05 | 2001-07-05 | 表示装置および表示装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003017273A (ja) |
Cited By (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004006332A (ja) * | 2002-04-24 | 2004-01-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
JP2004006327A (ja) * | 2002-04-23 | 2004-01-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
JP2004031201A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
JP2004240400A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Samsung Sdi Co Ltd | アノード電極層を電源供給層として用いたフラットパネルディスプレイ及びその製造方法 |
JP2005062400A (ja) * | 2003-08-11 | 2005-03-10 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 平面表示装置およびその製造方法 |
US6909124B2 (en) | 2002-06-28 | 2005-06-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US6960786B2 (en) | 2002-05-13 | 2005-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
EP1592064A2 (en) * | 2004-04-27 | 2005-11-02 | LG Electronics Inc. | Organic electroluminescent device and method for fabricating the same |
JP2005331665A (ja) * | 2004-05-19 | 2005-12-02 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
US6992332B2 (en) | 2002-05-15 | 2006-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US7038239B2 (en) | 2002-04-09 | 2006-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US7148510B2 (en) | 2002-04-15 | 2006-12-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. | Electronic apparatus having a protective circuit |
US7242021B2 (en) | 2002-04-23 | 2007-07-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and display element using semiconductor device |
US7260135B2 (en) | 2003-09-26 | 2007-08-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US7449724B2 (en) | 2003-09-12 | 2008-11-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US7502392B2 (en) | 2003-09-12 | 2009-03-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser oscillator |
JP2009151955A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Sony Corp | 面発光光源およびその製造方法 |
US7671369B2 (en) | 2002-04-09 | 2010-03-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US7786496B2 (en) | 2002-04-24 | 2010-08-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
US8013523B2 (en) | 2008-02-25 | 2011-09-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Organic light emitting device and manufacturing method thereof |
US8120031B2 (en) | 2002-05-17 | 2012-02-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device including an opening formed in a gate insulating film, a passivation film, and a barrier film |
WO2012063766A1 (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-18 | 住友化学株式会社 | 表示装置およびその製造方法 |
US8368072B2 (en) | 2002-04-15 | 2013-02-05 | Semiconductor Energy Labratory Co., Ltd. | Display device and method of fabricating the same |
KR101534008B1 (ko) * | 2008-08-12 | 2015-07-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
US9118025B2 (en) | 2002-05-15 | 2015-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US9166202B2 (en) | 2002-06-07 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method thereof |
US9246133B2 (en) | 2013-04-12 | 2016-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting module, light-emitting panel, and light-emitting device |
US9287330B2 (en) | 2002-04-23 | 2016-03-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US9412804B2 (en) | 2002-04-26 | 2016-08-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method of the same |
TWI560867B (en) * | 2011-08-30 | 2016-12-01 | Samsung Display Co Ltd | Organic light emitting display device having reflection structure and method of manufacturing organic light emitting display device having reflection structure |
JP2017135243A (ja) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 株式会社Joled | 表示装置 |
CN109148727A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-01-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示基板及制备方法、显示装置 |
CN110867470A (zh) * | 2019-11-21 | 2020-03-06 | 武汉天马微电子有限公司 | 一种显示面板、制备方法及显示装置 |
WO2020105544A1 (ja) * | 2018-11-19 | 2020-05-28 | ソニー株式会社 | 発光素子、表示装置及び電子機器 |
WO2023201888A1 (zh) * | 2022-04-22 | 2023-10-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板和显示装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63228736A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH0527996U (ja) * | 1991-09-18 | 1993-04-09 | 沖電気工業株式会社 | Elデイスプレイ素子 |
JPH1117091A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Toppan Printing Co Ltd | リードフレームの製造方法 |
JP2001507503A (ja) * | 1996-12-23 | 2001-06-05 | ザ トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシテイ | 光反射構造体を備える発光体 |
-
2001
- 2001-07-05 JP JP2001204407A patent/JP2003017273A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63228736A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-22 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH0527996U (ja) * | 1991-09-18 | 1993-04-09 | 沖電気工業株式会社 | Elデイスプレイ素子 |
JP2001507503A (ja) * | 1996-12-23 | 2001-06-05 | ザ トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシテイ | 光反射構造体を備える発光体 |
JPH1117091A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Toppan Printing Co Ltd | リードフレームの製造方法 |
Cited By (87)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7038239B2 (en) | 2002-04-09 | 2006-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US10700106B2 (en) | 2002-04-09 | 2020-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US7671369B2 (en) | 2002-04-09 | 2010-03-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US8120033B2 (en) | 2002-04-09 | 2012-02-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US9105727B2 (en) | 2002-04-09 | 2015-08-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8502215B2 (en) | 2002-04-09 | 2013-08-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US10083995B2 (en) | 2002-04-09 | 2018-09-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US10050065B2 (en) | 2002-04-09 | 2018-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8946718B2 (en) | 2002-04-09 | 2015-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8835271B2 (en) | 2002-04-09 | 2014-09-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US11101299B2 (en) | 2002-04-09 | 2021-08-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US8415669B2 (en) | 2002-04-09 | 2013-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US10854642B2 (en) | 2002-04-09 | 2020-12-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8946717B2 (en) | 2002-04-09 | 2015-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US9666614B2 (en) | 2002-04-09 | 2017-05-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US8008666B2 (en) | 2002-04-09 | 2011-08-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor display device |
US9406806B2 (en) | 2002-04-09 | 2016-08-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US7955975B2 (en) | 2002-04-09 | 2011-06-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor element and display device using the same |
US8368072B2 (en) | 2002-04-15 | 2013-02-05 | Semiconductor Energy Labratory Co., Ltd. | Display device and method of fabricating the same |
US8709847B2 (en) | 2002-04-15 | 2014-04-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabricating display device |
US7148510B2 (en) | 2002-04-15 | 2006-12-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. | Electronic apparatus having a protective circuit |
US9287330B2 (en) | 2002-04-23 | 2016-03-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US7242021B2 (en) | 2002-04-23 | 2007-07-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and display element using semiconductor device |
JP2004006327A (ja) * | 2002-04-23 | 2004-01-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
US9978811B2 (en) | 2002-04-23 | 2018-05-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US9831459B2 (en) | 2002-04-24 | 2017-11-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display module with white light |
JP4683825B2 (ja) * | 2002-04-24 | 2011-05-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置およびその作製方法 |
US9362534B2 (en) | 2002-04-24 | 2016-06-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
JP2011096668A (ja) * | 2002-04-24 | 2011-05-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及び光源装置 |
JP2004006332A (ja) * | 2002-04-24 | 2004-01-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
US9000429B2 (en) | 2002-04-24 | 2015-04-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
US9165987B2 (en) | 2002-04-24 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
US10454059B2 (en) | 2002-04-24 | 2019-10-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
US7786496B2 (en) | 2002-04-24 | 2010-08-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
US9412804B2 (en) | 2002-04-26 | 2016-08-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method of the same |
US9853098B2 (en) | 2002-04-26 | 2017-12-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method of the same |
US8927994B2 (en) | 2002-05-13 | 2015-01-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9508756B2 (en) | 2002-05-13 | 2016-11-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US7554116B2 (en) | 2002-05-13 | 2009-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9165991B2 (en) | 2002-05-13 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9966390B2 (en) | 2002-05-13 | 2018-05-08 | Semicondutcor Energy Laboratory Co., LTD. | Display device |
US6960786B2 (en) | 2002-05-13 | 2005-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US6992332B2 (en) | 2002-05-15 | 2006-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US9118025B2 (en) | 2002-05-15 | 2015-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US10133139B2 (en) | 2002-05-17 | 2018-11-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US8120031B2 (en) | 2002-05-17 | 2012-02-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device including an opening formed in a gate insulating film, a passivation film, and a barrier film |
US10527903B2 (en) | 2002-05-17 | 2020-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9366930B2 (en) | 2002-05-17 | 2016-06-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device with capacitor elements |
US11422423B2 (en) | 2002-05-17 | 2022-08-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
US9166202B2 (en) | 2002-06-07 | 2015-10-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method thereof |
JP2004031201A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
US6909124B2 (en) | 2002-06-28 | 2005-06-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
US7663142B2 (en) | 2002-06-28 | 2010-02-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP2004240400A (ja) * | 2003-02-05 | 2004-08-26 | Samsung Sdi Co Ltd | アノード電極層を電源供給層として用いたフラットパネルディスプレイ及びその製造方法 |
US7696518B2 (en) | 2003-02-05 | 2010-04-13 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Flat panel display with anode electrode layer as power supply layer and fabrication method thereof |
JP2005062400A (ja) * | 2003-08-11 | 2005-03-10 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 平面表示装置およびその製造方法 |
US7449724B2 (en) | 2003-09-12 | 2008-11-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
US7502392B2 (en) | 2003-09-12 | 2009-03-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser oscillator |
US8059692B2 (en) | 2003-09-12 | 2011-11-15 | Semiconductor Energy Labortory Co., Ltd. | Laser oscillator |
US8867585B2 (en) | 2003-09-12 | 2014-10-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser oscillator |
US7260135B2 (en) | 2003-09-26 | 2007-08-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US7559820B2 (en) | 2004-04-27 | 2009-07-14 | Lg Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent device and method for fabricating the same |
EP1592064A2 (en) * | 2004-04-27 | 2005-11-02 | LG Electronics Inc. | Organic electroluminescent device and method for fabricating the same |
EP1592064A3 (en) * | 2004-04-27 | 2007-01-03 | LG Electronics Inc. | Organic electroluminescent device and method for fabricating the same |
US8174186B2 (en) * | 2004-04-27 | 2012-05-08 | Lg Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent device and method for fabricating the same |
JP2005331665A (ja) * | 2004-05-19 | 2005-12-02 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
JP4645064B2 (ja) * | 2004-05-19 | 2011-03-09 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
JP2009151955A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Sony Corp | 面発光光源およびその製造方法 |
US8013523B2 (en) | 2008-02-25 | 2011-09-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Organic light emitting device and manufacturing method thereof |
KR101534008B1 (ko) * | 2008-08-12 | 2015-07-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
KR101867637B1 (ko) * | 2010-11-12 | 2018-06-15 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
KR20130129934A (ko) * | 2010-11-12 | 2013-11-29 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
WO2012063766A1 (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-18 | 住友化学株式会社 | 表示装置およびその製造方法 |
JP2012104430A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 表示装置 |
TWI560867B (en) * | 2011-08-30 | 2016-12-01 | Samsung Display Co Ltd | Organic light emitting display device having reflection structure and method of manufacturing organic light emitting display device having reflection structure |
KR101821167B1 (ko) * | 2011-08-30 | 2018-01-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 반사 구조를 갖는 전극을 포함하는 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 |
US9246133B2 (en) | 2013-04-12 | 2016-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting module, light-emitting panel, and light-emitting device |
JP2017135243A (ja) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | 株式会社Joled | 表示装置 |
CN109148727A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-01-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示基板及制备方法、显示装置 |
US11233214B2 (en) | 2018-08-31 | 2022-01-25 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Display substrate, display device and method of fabricating display substrate |
WO2020105544A1 (ja) * | 2018-11-19 | 2020-05-28 | ソニー株式会社 | 発光素子、表示装置及び電子機器 |
JPWO2020105544A1 (ja) * | 2018-11-19 | 2021-10-14 | ソニーグループ株式会社 | 発光素子、表示装置及び電子機器 |
JP7020566B2 (ja) | 2018-11-19 | 2022-02-16 | ソニーグループ株式会社 | 発光素子 |
JP2022058634A (ja) * | 2018-11-19 | 2022-04-12 | ソニーグループ株式会社 | 発光素子、表示装置及び電子機器 |
JP7459886B2 (ja) | 2018-11-19 | 2024-04-02 | ソニーグループ株式会社 | 発光素子、表示装置及び電子機器 |
CN110867470A (zh) * | 2019-11-21 | 2020-03-06 | 武汉天马微电子有限公司 | 一种显示面板、制备方法及显示装置 |
WO2023201888A1 (zh) * | 2022-04-22 | 2023-10-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板和显示装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003017273A (ja) | 表示装置および表示装置の製造方法 | |
KR101825642B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
EP2939284B1 (en) | Organic light emitting element, organic light emitting display device, and method of manufacturing the organic light emitting display device | |
US7423374B2 (en) | Organic electroluminescent display element, display device having the same, and manufacturing method of the same | |
KR100564197B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
US7190111B2 (en) | Organic electroluminescent device employing multi-layered anode | |
WO2017043529A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、照明装置および表示装置 | |
US20030164496A1 (en) | Organic electroluminescent display device and method of manufacturing the same | |
KR20070056469A (ko) | 유기전계발광소자의 제조방법 | |
CN111653675B (zh) | 发光装置 | |
JP4637831B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法並びに表示装置 | |
JP2011124205A (ja) | 有機発光表示装置及びその製造方法 | |
JP2011018468A (ja) | 有機el表示装置 | |
JP2004119197A (ja) | 有機elパネルおよびその製造方法、それを用いた電気光学パネル並びに電子機器 | |
WO2011043304A1 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子、および有機エレクトロルミネッセンス表示装置 | |
JP2001217078A (ja) | 有機発光素子及びその製造方法 | |
JP4165145B2 (ja) | 有機発光表示装置 | |
JP2004192890A (ja) | 有機電界発光素子 | |
KR100724483B1 (ko) | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 | |
TW201419521A (zh) | 有機發光二極體顯示器及其製造方法 | |
JP4284971B2 (ja) | 有機elパネルの製造方法 | |
KR100669686B1 (ko) | 유기 전계 발광 표시 장치와 그 제조 방법 | |
TWI654784B (zh) | 有機發光二極體顯示器及其製造方法 | |
JP2006080082A (ja) | 有機電界発光素子 | |
KR101640692B1 (ko) | 유기 el 장치 및 그 제조 방법, 유기 광전 변환 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080606 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091021 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20091026 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100713 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100713 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101207 |