JP2002544513A - プローブを加熱するための閉ループシステム - Google Patents

プローブを加熱するための閉ループシステム

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Abstract

(57)【要約】 体温計のプローブを、患者の体温に比較的近い温度まで急速に昇温するためのシステム及び方法である。本システムは、プローブヒータと、プローブ温度センサと、電源と、電源からヒータへのエネルギー伝達を制御する処理装置とで構成される。処理装置は、ヒータの応答性を高めるために、外気温度と電源電圧に依存し、駆動レベルに対応するオフセットをヒータへ付加する。処理装置は、全期間にわたって閉ループシステムがもたらされるよう、温度センサに基づいてヒータに付加される駆動レベル全域にわたる制御を継続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野) 本発明は、一般的には、体温計の改良に関し、更に詳細には、素早く正確な体
温測定値を得る電子体温計に関する。
【0002】 (背景技術) 一般的に、医療分野では患者の体温は体温感知手段によって測定され、体温を
測定するだけでなくその体温を表示することも行われている。そのような体温測
定は、病院や診察室では日常的に行われている。その装置の1つとして、較正温
度スケール近傍で膨張収縮する熱反応水銀柱を組み込んだガラス球体温計がある
。通常、ガラス体温計は、患者に挿入され、十分な時間間隔の間挿入したままに
して患者の体温で体温計の温度を安定させ、その後、医療職員がそれを取り出し
て温度を読み取る。この時間間隔は普通3分から8分である。
【0003】 電子体温計の場合には、予測モードでは1分以上、モニタ又は直接測定モード
では5分以上の時間を要する。電子式予測体温計は、予測モードにおいて体温測
定に要する時間が水銀体温計よりも遥かに短いことから普及してきた。多忙な看
護婦にとっては、時間が最も重要である。体温測定に要する時間は、5分かかる
よりも1分で済む方がはるかに望ましい。高速の体温測定手段を用いるとより多
くの患者の要求にかない看護婦の仕事の効率がはるかに良くなる。
【0004】 更に、体温を測定するためにプローブを患者の口の中に長時間挿入すればする
程、プローブを正規の位置に保持しておくのが難しくなる。このことは我慢強く
ない傾向の若い人たちに特にあてはまる。(例えば年齢や病気のために)体温計
を必要な時間、適切に体内に挿入しておくことができない患者のために、医療職
員は測定時間中、長時間在席する必要が出てくる。若い患者の体温を1分で測定
することは5分で測定するよりもはるかに望ましい。つまり、予測式体温計は、
温度測定の技術を大いに進歩させた。
【0005】 前述の点に加え、別の患者に素早く再利用することも1つの目標である。しか
し、再利用による患者同士の相互の汚染の可能性を避けるよう注意する必要があ
る。従って、体温計のプローブに使用する保護カバーが設計されている。保護カ
バーは、患者に接触する体温計部位を完全に包み込むように設計される。体温計
を使用した後は保護カバーを取り外すことができ、保護カバーによって体温計が
患者と接触するのを防ぐので、体温計は別の保護カバーを装着するだけで即座に
再利用できる。
【0006】 プローブ保護カバーは、長い間予測電子式体温計用に使用されており、このカ
バーを適切に使用すると体温計は即座に再利用可能となる。しかし、保護カバー
は、体温計のプローブ中の温度センサと熱源即ち患者との間に物質を付加する。
患者とセンサとの間に物質を付加すると、患者の熱はセンサに到達する前に最初
にプローブカバーを通過する必要があり、患者の体温を測定するプロセスを鈍化
させるはずである。使い捨てプローブカバーの使用により即座に体温計を再利用
できる利点は、その同じプローブカバーが原因で読み取りに要する時間が長くな
るので相殺されてしまう。
【0007】 電子式体温計の本来の特徴は、それらが使用される場所の温度を瞬時に測定す
ることではない。温度感知装置がその場所の温度に安定するまでにかなりの時間
がかかり、体温計が表示する温度は、測定する体温又は場所の実際の温度の代表
値である。このタイムラグは、体又は場所の表面から温度センサへの熱の流れを
妨げる、測定システムの種々の要素によってもたらされる。その要素の一部とし
てセンサチップ、体の組織、及び測定対象間の汚染を防止するために使用される
衛生用プローブカバーがある。
【0008】 電子式体温計で患者の体温を正確に読み取るのに必要な時間を短縮する1つの
方法は、体温計のプローブチップ温度を患者の予測体温に近い温度まで予熱する
ことである。そのようなプローブチップヒータは以前から公知である。しかし、
プローブカバーをプローブチップと共に素早く昇温するには十分な出力が必要で
ある。更に、プローブカバーは、構成物の材料に依存して、それを昇温するヒー
タ部分に大きな出力を必要とする、高い熱容量を持つように配慮する必要がある
。十分な出力のヒータを配置しないと、プローブカバーの昇温が遅くなってしま
う。
【0009】 プローブカバーに十分な熱を供給してプローブカバーを昇温し患者の体温近く
の温度レベルにすると、プローブチップの温度と患者の体温との間の温度差が小
さくなるので測定に要する時間が短くなる。患者の体温を測定する時間を短縮す
ることにより、患者が全ての測定時間にわたってプローブを正規位置に保持しな
いリスクが軽減され、医療職員が付き添う時間が短縮される。更に、データ処理
と解析をより正確に行うことができるので、体温の測定精度が大幅に改善される
。この方法も同様に体温測定技術の進歩に大いに貢献してきた。
【0010】 プローブを予熱するのに必要な時間も更に配慮されている。患者の体温を測定
するために十分に予熱するまでの実質的な時間の前にプローブをプローブ収納部
から取り出すのは好ましくない。プローブを予熱している間に患者の口中に挿入
されない点はある面で有利であるが、やはりプローブが予熱されるまで保持して
おく時間が医療職員に必要である。
【0011】 電子式体温計によって体温測定技術が進歩し、体温計を予熱することはよく知
られているが、チップを予熱する速度を大きくすることが望ましい。これにより
患者の体温をより速く測定することが可能になる。本発明は、前述又は他のニー
ズを満たすものである。
【0012】 (発明の開示) 本発明は、一般的には、体温計のプローブを加熱するための閉ループシステム
及びその方法を提供することを目的としている。より詳細な態様において、本発
明は、 プローブに取り付けられ、プローブの温度を検出し、プローブの温度に応じて
時間変化温度信号を供給するように構成されたセンサと、 プローブに取り付けられ、ヒータ制御信号に応答してプローブを加熱するヒー
タと、 電源と、 プローブを加熱するための閉ループシステムをもたらすよう電源、センサ、及
びヒータに接続される処理装置と、 を備えるプローブを加熱するための閉ループ加熱システムであって、 処理装置は、電源からのエネルギー駆動レベルをヒータに付与してヒータがプ
ローブを加熱するようにして、ヒータへ駆動レベルに対応するオフセット値を印
加するようになっており、オフセット値は、外気温度及び前記電源電圧の関数で
ある非ゼロ値であり、プローブを安定制御状態で目標温度まで急速に加熱するよ
うになっている加熱システムを提供する。
【0013】 更に詳細な態様では、処理装置は、プローブの温度を検出して、プローブの温
度が第1のしきい値未満の場合は、ヒータに高いレベルの駆動エネルギーを印加
してプローブを急速に加熱し、第1のしきい値に到達すると、ヒータへのバッテ
リエネルギー駆動を比例方式で低減するようになっており、しきい値は、駆動レ
ベルオフセット値に依存している。
【0014】 本発明の態様による方法は、プローブの温度を検出して、プローブの温度に応
答して時間変化温度信号を供給する段階と、ヒータ制御信号に応答してプローブ
を加熱する段階と、プローブの温度を検出して、閉ループ方式でヒータ制御信号
を印加する段階とを含む閉ループ方式でプローブを加熱する方法であって、ヒー
タ制御信号は、駆動レベルで前記ヒータに印加され、ヒータへ駆動レベルに対応
するオフセット値を印加する段階を含み、オフセット値は、外気温度及び前記電
源電圧の関数である非ゼロ値であり、プローブを安定制御状態で目標温度まで急
速に加熱するようになっている、閉ループ方式でプローブを加熱する方法を提供
する。
【0015】 本発明の前述の及び他の特徴と利点は、本発明の原理を説明する例示的な以下
の詳細な説明と添付図面とにより理解できる。
【0016】 (発明を実施するための最良の形態) 以下の説明において、異なる図面の同じ符号は同一又は対応する構成要素を表
している。 図1を参照すると、本発明の実施形態による体温計プローブ10及びプローブ
カバー12組立体が示されており、プローブハウジング16に取り付けられた細
長い体温計プローブシャフト14と電気ケーブル16とを備えおり、電気ケーブ
ル16は、プローブ10内に配置された温度感知手段によって検出された温度を
測定して21に表示するために、シャフト(図示せず)の先端チップ内に配置さ
れた温度感知要素からシャフトを通って延び、体温計のデータ処理部19(便宜
上ブロック図で示す)に収容されている。シャフト14は、ハウジング16内に
取り付けられる近位端20と、プローブチップ24を備える先端部22とを有す
る。細長いプローブカバー12は、プローブシャフト14に適する形状及び寸法
であり、プローブシャフトをプローブカバー内に受け入れる開口端部26と、プ
ローブチップ24へぴったりとしっかり嵌め込まれる先端チップ28とを有する
【0017】 図2の端面図を参照すると、先端チップ24が示されている。仮想線で示すよ
うに、プローブチップヒータ30とプローブチップセンサ32は、プローブチッ
プに取り付けられている。プローブチップセンサ32はプローブチップヒータ3
0と物理的に接触しておらず、本実施形態において両者は正反対に離れているが
他の配置も可能である。
【0018】 図3を参照すると、図2の線3−3に沿う断面図であり、ヒータ30とセンサ
32は、対応する導線34及び36を備えている。これらの導線は、プローブ先
端22において本体の導線40と接続する接続部38を形成する。本実施形態に
おいて、センサ30は基本的にプローブ10の先端部24に取り付けられ、ヒー
タ30は基本的に先端部の壁42に取り付けられる。この構成により、先端部に
おいて両素子が互いに接触しない十分な空間を確保できる。別の構成も可能であ
る。
【0019】 図4を参照すると、図3と同様の図が示されているが、追加の構成要素である
プローブカバー12が取り付けられている。図示のように、ヒータ30及びセン
サ32は、プローブカバー12と接触する先端チップ22の壁に配置されている
。前述のように、プローブカバー12は患者と温度センサとの間に配置されるの
でヒータ30によって予熱する必要がある。
【0020】 図5を参照すると、ブロック図は、概して電子体温計42の主要な電子部品を
示す。温度センサ32は、測定中に検出した温度に対応する温度信号を供給する
。温度センサにサーミスタを使用する場合、この信号はサーミスタの抵抗値を示
すアナログ電圧又は電流値であり、検出温度を示す。この値は、後の処理のため
にアナログ/デジタル変換器44によってデジタル形式に変換される。アナログ
/デジタル変換器44は処理装置46に接続されており、処理装置46はデジタ
ル温度信号を受信して処理し測定対象の温度を決定する。
【0021】 タイマ48は、温度信号の処理に使用される時間信号を処理装置46へ供給す
る。メモリ50は、その後に解析できるよう、温度及び時間信号データを記憶す
る。更に、メモリ50は、ヒータ30を制御して温度を計算するために処理装置
40が使用する、経験的に導き出された定数を記憶する。一旦信号が処理される
と、処理装置46は表示装置52に信号を送り温度が表示される。スイッチ54
をオンすることにより体温計42の温度測定機能が有効になる。このスイッチは
、プローブを取り出したときに測定機能が有効になるように、プローブ収納部1
7に取り付けるのが好ましい。バッテリ等の電源56は処理装置に接続されてい
る。処理装置は、ヒータ30への電源供給又はヒータの駆動レベルを制御するが
、それについては以下に説明する。
【0022】 図6を参照すると、ヒータの駆動レベル60のグラフが示されている。グラフ
は、駆動レベル軸とプローブ温度軸とを含んでいる。本実施形態において、94
°Fにおいて駆動レベルはゼロとなり、この温度に達するとヒータに供給される
電力が切断されることを意味する。本実施形態において、低い温度ではヒータの
駆動レベルが0.4に設定され、以下に説明するように特定の温度に達するよう
に駆動レベルが低減される。
【0023】 本発明の態様によれば、加熱要素に供給される電力量は、予め定められた「対
象物」の温度(94°F)とチップ温度との差の関数である。フィードバック制
御ループの基本的な設計は、「比例積分偏差(PID)」システムであるが、こ
の設計を改良する新規の方法が組み込まれている。
【0024】 PIDヒータ制御システムにおいて、「P」要素は温度誤差(目標値−実際値
)に比例する駆動レベルを計算する。チップ温度が目標値に近い(誤差が小さい
)場合、「P」要素は小さい。チップ温度が目標からかけ離れている(誤差が大
きい)場合、駆動レベルの「P」要素は大きい。チップ温度が目標温度である場
合、誤差はゼロであり駆動レベルの「P」要素はゼロになる。しかし、通常の条
件下では、非ゼロの駆動レベルを維持してチップ温度を目標温度又はその近傍に
保つ必要がある。従って、実在の条件下でゼロ誤差を維持するために、「P」要
素にオフセット値を付加する必要がある(例えば、冷たい部屋では大きなオフセ
ット値が必要である)。条件の変動(例えば室温、器具要素の変動性等)に応じ
てゼロ誤差を維持するために、オフセットを微調整できるようにしておく必要が
ある。オフセット値の調整が誤差に比例する場合、調整値の合計値であるオフセ
ット値は、基本的に誤差の「積分」に比例する。これがPIDの「I」部分であ
る。
【0025】 「D」要素はチップ温度の変化率に比例する。その目的はチップ温度が急激に
上昇又は下降する場合に、駆動レベルを調整することによって安定性を改善する
ことにある。特定のシステム構成では「D」要素がオーバーシュートを最小にす
る。
【0026】 「P」及び「I」要素の考察に戻ると、「P」要素は、チップ温度と目標温度
とが実質的に異なる場合に、チップ温度を目標温度まで急速に駆動する役割を果
たす。「I」要素は、条件がゆっくりと変化している間にチップ温度を目標温度
又はその近傍に微調整する役割を果たす。「I」要素は、室温、バッテリ電圧、
構成要素の公差等の変動を補償するアルゴリズムの「適応(adaptive)
」部とみなすことができる。
【0027】 患者用の体温計は、プローブチップをできるだけ迅速に加熱する必要がある。
多くの場合、組織接触は、チップが目標温度に到達する前に行われる。プローブ
を迅速に加熱できればできる程、予測温度をそれだけ早く計算できる。
【0028】 制御方法において、激しいオーバーシュートなしにチップを急速に加熱するた
めには、駆動オフセット値を直ちに正しい値又はその近傍に設定する必要がある
。ゆっくりした適応「I」要素にとって、その正しい値に駆動するための時間は
十分にない。本発明によれば、適切な駆動オフセット値を外気温度とバッテリ電
圧との関数として経験的に決定した。つまり、経験的に導き出した関数に基づい
てオフセット初期値を設定したので、通常のPID制御のようにゼロに初期化さ
れることは全くなかった。更に、プローブチップが加熱中であるが目標温度から
かけ離れている場合、アルゴリズムの「I」要素は駆動オフセット値の調整を行
わない。すでに駆動オフセット値は最適値に設定されており、チップ温度が目標
値に近づくまでは変更されるべきではない。従って、PIDアルゴリズムの「I
」要素によるオフセット値の調整は、誤差が予め定めた範囲内にある場合に限ら
れる。これによって、誤差が大きく、アルゴリズムの「P」要素がチップ温度を
目標温度へ急速に駆動している間は、アルゴリズムがオフセット値を操作するこ
とを阻止できる。一旦チップ温度が目標値に近づき、組織接触がまだ行われてい
ない場合、アルゴリズムの「I」要素は、現在の状況に適合するようにオフセッ
トの微調整を行うことができる。
【0029】 ヒータ駆動レベルの変化と温度センサでの結果の検出との間には大きな遅延時
間が存在する。「P」又は「I」要素に関するループ利得は、ループの安定性を
保つために小さくしておく必要がある。プローブを素早く加熱するのが目的なの
で、標準的なPID手法では不十分である。前述したように、駆動オフセット値
は予め計算した値に初期化する必要があり、適応「I」要素は瞬時に無効になる
。更に、「P」要素は、ループ安定性を保ちながら素早く加熱するための新規な
カスタマイズを必要とする。安定性を保つために、「P」要素に関連するループ
利得は厳密に制限する必要がある。しかし、予め定められた範囲外の誤差によっ
てループ利得は非常に大きくなる。利得が大きくなると、大きな誤差に対応して
ヒータ駆動も大きくなり、チップを素早く加熱する。一旦チップが目標温度に近
づくと、誤差は「制御領域」62に入り、利得が小さくなってループの安定性が
保たれる。利得量は、バッテリ電圧の関数として予め定められている。更に、最
大許容駆動レベル60は、バッテリ電圧の関数として予め定められている。駆動
レベル60が非常に大きな値になり得る場合、蓄積エネルギー及び熱遅延によっ
てチップ温度は目標温度を大幅にオーバーシュートしてしまう。
【0030】 図6に示す実施形態において、駆動レベル60は、一旦制御領域62に達する
と変更される。駆動レベルが変更される温度はオフセット値によって制御される
。図6の場合、制御領域62の外側での駆動レベルは0.4に設定される。一旦
制御領域に入ると、駆動レベルは第1区域64で急速に小さくなる。第2区域6
6において、その傾きは第1区域に対して約1/4であり、温度に対する駆動レ
ベルの変化が小さくなる。第3区域及び最終区域68において、駆動レベルの傾
きは再び4倍大きい値に戻る。本駆動レベルの制御方法において、駆動レベルは
連続的に変化するのではなく段階的に変更される。しかし、別の方法も可能であ
る。
【0031】 最後に図7を参照すると、ヒータ制御のフローチャートが示されている。本フ
ローチャートにおいて、開始ステップ70に続いて、ルーティンはA/D変換器
から0.1秒毎に次回の温度を取得するステップ72へ進む。次に、これがセッ
ションの最初の温度か否かを決定するステップ74へ進む。最初の温度であれば
、ヒータオフセット初期値が周囲温度とバッテリ電圧の関数として設定されるス
テップ76へ進む。
【0032】 本発明の1つの形態が図示され説明されているが、本発明の範囲から逸脱する
ことなく、更なる変更又は改良を本明細書に開示された装置及び方法に行い得る
ことを理解されたい。従って、本発明は請求範囲によってのみ限定されるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態による、温度センサ及びプローブチップヒータを有するプロ
ーブチップが組み込まれた電子体温計プローブ及びプローブカバー組立体を示す
概略図である。
【図2】 プ図1に示す体温計プローブの先端チップの端面図であり、ローブカバーが取
り外されている。
【図3】 本発明の実施形態による、図2の線3−3に沿う、図1及び2に示す体温計プ
ローブの先端チップの横断面図であり、温度センサ、プローブチップヒータ及び
配線接続を有するプローブチップの内部構成要素を示す。
【図4】 図1のプローブ及びプローブカバーの断面図であり、プローブに取り付けられ
たプローブカバー、温度センサ及びプローブチップヒータを示す。
【図5】 本発明の実施形態による、プローブ温度制御システムの一部を構成する処理装
置を組み込んだ体温測定システムのブロック図である。
【図6】 プローブチップヒータに印加される駆動レベルを示すグラフである。
【図7】 図3に示すプローブチップヒータに対する駆動レベルについてのフローチャー
ト又はデータチャートである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ, BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,C R,CU,CZ,DE,DK,DM,EE,ES,FI ,GB,GD,GE,GH,GM,HR,HU,ID, IL,IN,IS,JP,KE,KG,KP,KR,K Z,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV,MA ,MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ, PL,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,S K,SL,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG ,UZ,VN,YU,ZA,ZW

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プローブに取り付けられ、前記プローブの温度を検出し、前
    記プローブの温度に応じて時間変化温度信号を供給するように構成されたセンサ
    と、 前記プローブに取り付けられ、ヒータ制御信号に応答して前記プローブを加熱
    するヒータと、 電源と、 前記プローブを加熱するための閉ループシステムをもたらすよう前記電源、前
    記センサ、及び前記ヒータに接続される処理装置と、 を備えるプローブを加熱するための閉ループ加熱システムであって、 前記処理装置は、前記電源からのエネルギー駆動レベルを前記ヒータに付与し
    て前記ヒータが前記プローブを加熱するようにして、前記ヒータへ前記駆動レベ
    ルに対応するオフセット値を印加するようになっており、前記オフセット値は、
    外気温度及び前記電源電圧の関数である非ゼロ値であり、前記プローブを安定制
    御状態で目標温度まで急速に加熱するようになっている加熱システム。
  2. 【請求項2】 前記処理装置は、前記プローブの温度を検出して、前記プロ
    ーブの温度が第1のしきい値未満の場合は、前記ヒータに高いレベルの駆動エネ
    ルギーを印加してプローブを急速に加熱し、前記第1のしきい値に到達すると、
    前記ヒータへのバッテリエネルギー駆動を比例方式で低減するようになっており
    、前記しきい値は、前記駆動レベルオフセット値に依存していることを特徴とす
    る請求項1に記載の加熱システム。
  3. 【請求項3】 プローブの温度を検出して、前記プローブの温度に応答して
    時間変化温度信号を供給する段階と、 ヒータ制御信号に応答してプローブを加熱する段階と、 前記プローブの温度を検出して、閉ループ方式で前記ヒータ制御信号を印加す
    る段階と、 を含む閉ループ方式でプローブを加熱する方法であって、 前記ヒータ制御信号は、駆動レベルで前記ヒータに印加され、 前記ヒータへ駆動レベルに対応するオフセット値を印加する段階を含み、前記
    オフセット値は、外気温度及び前記電源電圧の関数である非ゼロ値であり、前記
    プローブを安定制御状態で目標温度まで急速に加熱するようになっていることを
    特徴とする閉ループ方式でプローブを加熱する方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6355916B1 (en) * 1999-05-18 2002-03-12 Alaris Medical Systems, Inc. Closed loop system and method for heating a probe
JP2001357534A (ja) * 2000-04-10 2001-12-26 Victor Co Of Japan Ltd 情報記録媒体
EP1249691A1 (en) * 2001-04-11 2002-10-16 Omron Corporation Electronic clinical thermometer
US6632016B2 (en) * 2001-07-06 2003-10-14 Min-Ying Chen Method of stabilizing an infrared clinical thermometer and the apparatus thereof
US6985870B2 (en) 2002-01-11 2006-01-10 Baxter International Inc. Medication delivery system
US7189947B2 (en) * 2002-02-13 2007-03-13 Emerson Electric Co. Oven temperature control
US6850789B2 (en) * 2002-07-29 2005-02-01 Welch Allyn, Inc. Combination SPO2/temperature measuring apparatus
EP1625448A4 (en) * 2002-08-21 2008-02-20 Watlow Electric Mfg VARIABLE POWER CONTROL SYSTEM
US6971790B2 (en) * 2002-10-11 2005-12-06 Welch Allyn, Inc. Thermometry probe calibration method
US7484887B2 (en) * 2003-02-20 2009-02-03 Ysis Incorporated Digitally modified resistive output for a temperature sensor
US7349115B2 (en) * 2003-06-27 2008-03-25 Pitney Bowes Inc. Method and system for tracing corporate mail
US8423193B2 (en) * 2003-08-20 2013-04-16 Watlow Electric Manufacturing Company Variable wattage control system
US7021824B2 (en) * 2003-10-20 2006-04-04 Welch Allyn, Inc. Switch assembly for thermometry apparatus
TWI269031B (en) * 2005-03-14 2006-12-21 Actherm Inc Pacifier thermometer structure
US8038346B2 (en) * 2005-09-26 2011-10-18 Actherm Inc. Detachable electronic pacifier thermometer
US7314310B2 (en) * 2006-04-13 2008-01-01 The General Electric Company Predictive temperature probe with proximity sensor
US8197123B2 (en) * 2007-10-29 2012-06-12 Smiths Medical Asd, Inc. Thermistor circuit calibration
BRPI1006355A2 (pt) 2009-03-13 2020-08-18 Koninklijke Philips Electrnics N. V. dispositivo de detecção de temperatura de fluxo de calor zero para detectar uma temperatura corporal central de um objeto e equipamento de detecção da temperatura corporal para medir a temperatura corporal central de um animal ou de um ser humano
US9310257B2 (en) * 2009-04-15 2016-04-12 3M Innovative Properties Company Deep tissue temperature probe constructions
EP2419004B1 (en) * 2009-04-15 2017-07-19 3M Innovative Properties Company Deep tissue temperature probe constructions
US8562209B2 (en) * 2009-06-30 2013-10-22 Edan Instruments, Inc. Method to control the work of electronic thermometer by using the position of probe and the apparatus composed of
US8226294B2 (en) * 2009-08-31 2012-07-24 Arizant Healthcare Inc. Flexible deep tissue temperature measurement devices
US8794829B2 (en) * 2009-12-31 2014-08-05 Welch Allyn, Inc. Temperature-measurement probe
US8292495B2 (en) 2010-04-07 2012-10-23 Arizant Healthcare Inc. Zero-heat-flux, deep tissue temperature measurement devices with thermal sensor calibration
US8292502B2 (en) 2010-04-07 2012-10-23 Arizant Healthcare Inc. Constructions for zero-heat-flux, deep tissue temperature measurement devices
US9354122B2 (en) 2011-05-10 2016-05-31 3M Innovative Properties Company Zero-heat-flux, deep tissue temperature measurement system
US9825641B1 (en) * 2014-09-12 2017-11-21 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Reconfigurable sensor monitoring system
KR20180090095A (ko) * 2017-02-02 2018-08-10 삼성전자주식회사 온도 감지 장치 및 이를 구비한 전자 장치
CN113359907B (zh) * 2021-05-27 2022-04-05 西安交通大学 一种快速响应的主动控温方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4158965A (en) * 1978-01-05 1979-06-26 Electromedics, Inc. Electronic thermometer with heat conditioned probe
JPS59773B2 (ja) * 1980-04-28 1984-01-09 株式会社 芝浦電子製作所 電子式体温計
JPS6131932A (ja) * 1984-07-25 1986-02-14 Matsushita Electric Works Ltd 電子体温計
JPS6282334A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Nec Corp 体温計用集積回路
DE4127645A1 (de) * 1991-08-21 1993-02-25 Volker Prof Dr Ing Hans Verfahren zur verbesserung des dynamischen verhaltens von elektrischen beruehrungsthermometern
JPH07121052A (ja) * 1993-10-26 1995-05-12 Mita Ind Co Ltd 用紙厚検出装置およびこれを含む定着装置の温度制御装置並びに画像形成装置
WO1996007877A1 (en) * 1994-09-09 1996-03-14 Diatek Instruments, Inc. Medical thermometer

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3586830A (en) * 1968-11-29 1971-06-22 Coltron Ind Logical control for discretely metering energy to thermal systems incorporating apparatus and methods for simulating time related temperatures
US3729998A (en) * 1970-08-10 1973-05-01 Royal Medical Corp Electronic, digital thermometer
DE2145199A1 (de) 1970-09-12 1972-04-20 Tokai Rika Co Ltd Verfahren und Meßeinrichtung zur Messung der Innentemperatur einer Substanz
US4183248A (en) * 1978-08-08 1980-01-15 Rwb Labs Fast response electronic thermometer probe
DE3230124A1 (de) 1982-08-13 1984-02-16 Joachim Prof. Dipl.-Ing. 2120 Lüneburg Goerth Verfahren zur schnellen, belastungsarmen temperaturmessung
AU702267B2 (en) 1994-09-02 1999-02-18 Biometric Imaging, Inc. Calibration method and apparatus for optical scanner
DE4432015C2 (de) * 1994-09-08 2003-08-28 Beissbarth Gmbh Verfahren zur Bedienung einer Auswuchtmaschine und Bedienelement zur Durchführung des Verfahrens
US6109784A (en) * 1998-10-05 2000-08-29 Micro Weiss Electronics Fast response digital thermometer
US6355916B1 (en) * 1999-05-18 2002-03-12 Alaris Medical Systems, Inc. Closed loop system and method for heating a probe

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4158965A (en) * 1978-01-05 1979-06-26 Electromedics, Inc. Electronic thermometer with heat conditioned probe
JPS59773B2 (ja) * 1980-04-28 1984-01-09 株式会社 芝浦電子製作所 電子式体温計
JPS6131932A (ja) * 1984-07-25 1986-02-14 Matsushita Electric Works Ltd 電子体温計
JPS6282334A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Nec Corp 体温計用集積回路
DE4127645A1 (de) * 1991-08-21 1993-02-25 Volker Prof Dr Ing Hans Verfahren zur verbesserung des dynamischen verhaltens von elektrischen beruehrungsthermometern
JPH07121052A (ja) * 1993-10-26 1995-05-12 Mita Ind Co Ltd 用紙厚検出装置およびこれを含む定着装置の温度制御装置並びに画像形成装置
WO1996007877A1 (en) * 1994-09-09 1996-03-14 Diatek Instruments, Inc. Medical thermometer

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