JP2002369084A - 撮像装置及び方法、放射線撮像装置及び方法、並びに記憶媒体及びプログラム - Google Patents
撮像装置及び方法、放射線撮像装置及び方法、並びに記憶媒体及びプログラムInfo
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 最終的な画像を得るに先立ち、放射線撮影後
直ちにある程度の補正が施された画像を得ることがで
き、確認を可能とし、ユーザのワークフローを改善する
と共に、再撮影に要する待ち時間を大幅に短縮する。 【解決手段】 被写体からの放射線を放射線検出器を用
いて検出し、前記被写体の放射線画像を取得するステッ
プと、前記放射線検出器の特性を表す第1の特性データ
を取得するステップと、前記第1の特性データを用いて
前記放射線画像に第１の補正を施すステップと、補正さ
れた前記放射線画像を表示するステップと、前記放射線
検出器の特性を表し、前記第1の特性データよりも回数
の多い測定に基づく第２の特性データを取得するステッ
プと、前記第２の特性データを用いて前記放射線画像を
第２の補正を施すステップとを含む。
直ちにある程度の補正が施された画像を得ることがで
き、確認を可能とし、ユーザのワークフローを改善する
と共に、再撮影に要する待ち時間を大幅に短縮する。 【解決手段】 被写体からの放射線を放射線検出器を用
いて検出し、前記被写体の放射線画像を取得するステッ
プと、前記放射線検出器の特性を表す第1の特性データ
を取得するステップと、前記第1の特性データを用いて
前記放射線画像に第１の補正を施すステップと、補正さ
れた前記放射線画像を表示するステップと、前記放射線
検出器の特性を表し、前記第1の特性データよりも回数
の多い測定に基づく第２の特性データを取得するステッ
プと、前記第２の特性データを用いて前記放射線画像を
第２の補正を施すステップとを含む。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像装置及び方
法、放射線撮像装置及び方法、並びに記憶媒体及びプロ
グラムに関し、特に固体放射線検出器として放射線平面
検出器(フラットパネルディテクタ)を用い、該放射線平
面検出器の暗電流補正を行う装置及び方法に関する。
法、放射線撮像装置及び方法、並びに記憶媒体及びプロ
グラムに関し、特に固体放射線検出器として放射線平面
検出器(フラットパネルディテクタ)を用い、該放射線平
面検出器の暗電流補正を行う装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】被写体を透過した放射線像を撮影する放
射線撮影装置として、従来は放射線を蛍光に変換する増
感紙と、蛍光で感光するフィルムを密着させた、スクリ
ーン・フィルム系(S/F系)と呼ばれる撮影装置が使用され
てきた。また蛍光体とイメージ・インテンシファイア(I.
I.)を組み合わせて放射線画像の増倍を行い、この増倍
された画像を光学系を介して撮像管で撮影する、I.I.-T
V撮影装置も使用されてきた。前者は一般撮影と呼ばれ
る静止画撮影に、また後者は透視撮影やアンギオ撮影と
呼ばれる動画撮影に主に使用されてきた。
射線撮影装置として、従来は放射線を蛍光に変換する増
感紙と、蛍光で感光するフィルムを密着させた、スクリ
ーン・フィルム系(S/F系)と呼ばれる撮影装置が使用され
てきた。また蛍光体とイメージ・インテンシファイア(I.
I.)を組み合わせて放射線画像の増倍を行い、この増倍
された画像を光学系を介して撮像管で撮影する、I.I.-T
V撮影装置も使用されてきた。前者は一般撮影と呼ばれ
る静止画撮影に、また後者は透視撮影やアンギオ撮影と
呼ばれる動画撮影に主に使用されてきた。
【０００３】最近では、画像デジタル化の要求から、デ
ジタル画像出力を有するデジタル撮影装置が使用され始
めている。一般撮影では、スクリーン・フィルム系に代
わって、放射線像を潜像として蓄積するイメージングプ
レートを使用し、このイメージングプレートをレーザ走
査することにより潜像を励起し、発生する蛍光を光電子
増倍管で読み取る、コンピューテッド・ラジオグラフィ
装置も使用されている。また動画撮影では、撮像管の代
わってCCD等の固体撮像素子を使用する、I.I.-DR撮影装
置も使用されている。コンピューテッド・ラジオグラフ
ィ装置とI.I.-DR撮影装置の両者は、デジタル画像出力
を有しており、医療画像のデジタル化に貢献し始めてい
る。
ジタル画像出力を有するデジタル撮影装置が使用され始
めている。一般撮影では、スクリーン・フィルム系に代
わって、放射線像を潜像として蓄積するイメージングプ
レートを使用し、このイメージングプレートをレーザ走
査することにより潜像を励起し、発生する蛍光を光電子
増倍管で読み取る、コンピューテッド・ラジオグラフィ
装置も使用されている。また動画撮影では、撮像管の代
わってCCD等の固体撮像素子を使用する、I.I.-DR撮影装
置も使用されている。コンピューテッド・ラジオグラフ
ィ装置とI.I.-DR撮影装置の両者は、デジタル画像出力
を有しており、医療画像のデジタル化に貢献し始めてい
る。
【０００４】更に最近では、蛍光体と大面積アモルファ
スシリコンセンサを密着させた放射線平面検出器、いわ
ゆるフラットパネルディテクタ(FPD)を使用し、光学系
等を介さずに放射線像を直接デジタル化するデジタル撮
影装置が実用化されている。またアモルファスセレン、
よう化鉛(PbI2)及びよう化水銀(HgI2)等を使用して放射
線を電子に変換し、該電子を大面積アモルファスシリコ
ンセンサで検出するFPDも同様に実用化されている。こ
れらFPDは、原理的に静止画のみならず動画も撮影可能
なことから、次世代のデジタル撮影装置として期待され
ている。
スシリコンセンサを密着させた放射線平面検出器、いわ
ゆるフラットパネルディテクタ(FPD)を使用し、光学系
等を介さずに放射線像を直接デジタル化するデジタル撮
影装置が実用化されている。またアモルファスセレン、
よう化鉛(PbI2)及びよう化水銀(HgI2)等を使用して放射
線を電子に変換し、該電子を大面積アモルファスシリコ
ンセンサで検出するFPDも同様に実用化されている。こ
れらFPDは、原理的に静止画のみならず動画も撮影可能
なことから、次世代のデジタル撮影装置として期待され
ている。
【０００５】ここで、FPDの原理について図６、図７及
び図８を用いて簡単に説明する。図６はセンサ読み取り
動作原理を説明する図面であり、簡単のために9画素か
らなるセンサを示している。図６において、71は蛍光を
電子に変換する光電変換部、72は光電変換部で発生した
電子を転送するための薄膜トランジスタ(TFT: Thin Fil
m Transistor)、73は光電変換部71にバイアス電圧を与
えるバイアス線、74a、74b、74cはTFT72にスイッチング
信号を伝達するゲート線、75a、75b、75cはTFT72を通過
した電子を転送する信号線、76は信号線75a、75b、75c
から一つの信号線を選択し信号電子を増幅する読み取り
IC、77は増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変換
するアナログ-デジタル変換器(A/D: Analog-to-digital
converter)、78はTFT72のスイッチング動作を制御する
ゲート駆動装置である。
び図８を用いて簡単に説明する。図６はセンサ読み取り
動作原理を説明する図面であり、簡単のために9画素か
らなるセンサを示している。図６において、71は蛍光を
電子に変換する光電変換部、72は光電変換部で発生した
電子を転送するための薄膜トランジスタ(TFT: Thin Fil
m Transistor)、73は光電変換部71にバイアス電圧を与
えるバイアス線、74a、74b、74cはTFT72にスイッチング
信号を伝達するゲート線、75a、75b、75cはTFT72を通過
した電子を転送する信号線、76は信号線75a、75b、75c
から一つの信号線を選択し信号電子を増幅する読み取り
IC、77は増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変換
するアナログ-デジタル変換器(A/D: Analog-to-digital
converter)、78はTFT72のスイッチング動作を制御する
ゲート駆動装置である。
【０００６】図７において、センサ画素全面を覆う図示
されていない蛍光体に放射線が照射されると、蛍光体は
その強度に比例した蛍光を発する。光電変換部71はこの
蛍光を捕捉し信号電子に変換する。ゲート駆動装置78が
ゲート線74aをHighにすると、このゲート線74aに接続さ
れた横一列のTFT全てがONになる。すると光電変換部71
に蓄積された信号電子は信号線75a、75b、75cに転送さ
れる。そして読み取りIC76が信号線75aを選択すると、
この信号線75aに転送されている電子が増幅されて読み
取られ、A/D77でデジタル信号に変換される。続いて読
み取りIC76は75b及び75cを順次選択し、それぞれの信号
線に転送されている電子が順次読み取られる。この動作
によって図６においてゲート線74aに接続された横一列
分の3画素の信号電子が読み取られ、デジタル信号に変
換される。次にゲート線74b及び74cが順次選択され、同
様にゲート線74b及び74cに接続された横一列分のそれぞ
れ3画素の信号電子が順次読み取られ、デジタル信号に
変換される。
されていない蛍光体に放射線が照射されると、蛍光体は
その強度に比例した蛍光を発する。光電変換部71はこの
蛍光を捕捉し信号電子に変換する。ゲート駆動装置78が
ゲート線74aをHighにすると、このゲート線74aに接続さ
れた横一列のTFT全てがONになる。すると光電変換部71
に蓄積された信号電子は信号線75a、75b、75cに転送さ
れる。そして読み取りIC76が信号線75aを選択すると、
この信号線75aに転送されている電子が増幅されて読み
取られ、A/D77でデジタル信号に変換される。続いて読
み取りIC76は75b及び75cを順次選択し、それぞれの信号
線に転送されている電子が順次読み取られる。この動作
によって図６においてゲート線74aに接続された横一列
分の3画素の信号電子が読み取られ、デジタル信号に変
換される。次にゲート線74b及び74cが順次選択され、同
様にゲート線74b及び74cに接続された横一列分のそれぞ
れ3画素の信号電子が順次読み取られ、デジタル信号に
変換される。
【０００７】次に、センサ1画素の動作原理について図
７及び図８を用いて説明する。図７はMIS(Metal Insula
tor Semiconductor)型センサの構成図であり、図８は光
電変換素子のエネルギーバンド図である。図７及び図８
において、71は光電変換部、72はTFT、73はバイアス
線、76は読み取りIC、82は光電変換部71にバイアス電圧
を伝達する上部電極(D電極)、83は上部電極82と同電位
でありa-Si真性半導体i層84へのホール注入を阻止するn
+ドープ層、84は光電変換を行うa-Si真性半導体i層、85
は電子・ホールの両者の移動を阻止する絶縁層、86は下
部電極(G電極)である。
７及び図８を用いて説明する。図７はMIS(Metal Insula
tor Semiconductor)型センサの構成図であり、図８は光
電変換素子のエネルギーバンド図である。図７及び図８
において、71は光電変換部、72はTFT、73はバイアス
線、76は読み取りIC、82は光電変換部71にバイアス電圧
を伝達する上部電極(D電極)、83は上部電極82と同電位
でありa-Si真性半導体i層84へのホール注入を阻止するn
+ドープ層、84は光電変換を行うa-Si真性半導体i層、85
は電子・ホールの両者の移動を阻止する絶縁層、86は下
部電極(G電極)である。
【０００８】図８(a)、(b)はそれぞれリフレッシュ(ま
たはリセット)及び光電変換モードの動作を示す光電変
換素子のエネルギーバンド図であり、各層の厚さ方向の
状態を表している。本光電変換素子にはD電極、Ｇ電極
の電圧印加方法によりリフレッシュモードと光電変換モ
ードとの2種類の動作がある。
たはリセット)及び光電変換モードの動作を示す光電変
換素子のエネルギーバンド図であり、各層の厚さ方向の
状態を表している。本光電変換素子にはD電極、Ｇ電極
の電圧印加方法によりリフレッシュモードと光電変換モ
ードとの2種類の動作がある。
【０００９】図８(a)において、Ｄ電極はＧ電極に対し
て負の電位が与えられており、ｉ層84中の黒丸で示され
たホールは電界によりＤ電極に導かれる。同時に白丸で
示された電子はｉ層84に注入される。このとき一部のホ
ールと電子はｎ+ドープ層83、ｉ層84において再結合し
て消滅する。十分に長い時間この状態が続けばｉ層84内
のホールはｉ層84から掃き出される。
て負の電位が与えられており、ｉ層84中の黒丸で示され
たホールは電界によりＤ電極に導かれる。同時に白丸で
示された電子はｉ層84に注入される。このとき一部のホ
ールと電子はｎ+ドープ層83、ｉ層84において再結合し
て消滅する。十分に長い時間この状態が続けばｉ層84内
のホールはｉ層84から掃き出される。
【００１０】この状態から、図８(b)の光電変換モード
にするには、Ｄ電極に、Ｇ電極に対して正の電位を与え
る。するとｉ層84中の電子は瞬時にＤ電極に導かれる。
しかし、ホールはｎ+ドープ層83が注入阻止層として働
くためｉ層84に導かれることはない。この状態でｉ層84
に光が入射すると、光は吸収され電子・ホール対が発生
する。この電子は電界によりＤ電極に導かれ、ホールは
ｉ層84内を移動しｉ層84と絶縁層85との界面に達する。
にするには、Ｄ電極に、Ｇ電極に対して正の電位を与え
る。するとｉ層84中の電子は瞬時にＤ電極に導かれる。
しかし、ホールはｎ+ドープ層83が注入阻止層として働
くためｉ層84に導かれることはない。この状態でｉ層84
に光が入射すると、光は吸収され電子・ホール対が発生
する。この電子は電界によりＤ電極に導かれ、ホールは
ｉ層84内を移動しｉ層84と絶縁層85との界面に達する。
【００１１】しかしながら、絶縁層85内には移動できな
いため、ｉ層84内の絶縁層85界面に移動するため、素子
内の電気的中性を保つため電流がＧ電極から流れる。こ
の電流は光により発生した電子・ホール対に対応するた
め、入射した光に比例する。ある期間、図８(b)の光電
変換モードを保った後、再びリフレッシュモードの図８
(a)の状態になると、ｉ層84に留まっていたホールは前
述のようにＤ電極に導かれ、同時にこのホールに対応し
た電流が流れる。このホールの量は光電変換モード期間
に入射した光の総量に対応する。この時、ｉ層84内に注
入される電子の量に対応した電流も流れるが、この量は
およそ一定なため差し引いて検出すればよい。つまり、
この光電変換素子はリアルタイムに入射する光の量を出
力すると同時に、ある期間に入射した光の総量も出力す
ることもできる。
いため、ｉ層84内の絶縁層85界面に移動するため、素子
内の電気的中性を保つため電流がＧ電極から流れる。こ
の電流は光により発生した電子・ホール対に対応するた
め、入射した光に比例する。ある期間、図８(b)の光電
変換モードを保った後、再びリフレッシュモードの図８
(a)の状態になると、ｉ層84に留まっていたホールは前
述のようにＤ電極に導かれ、同時にこのホールに対応し
た電流が流れる。このホールの量は光電変換モード期間
に入射した光の総量に対応する。この時、ｉ層84内に注
入される電子の量に対応した電流も流れるが、この量は
およそ一定なため差し引いて検出すればよい。つまり、
この光電変換素子はリアルタイムに入射する光の量を出
力すると同時に、ある期間に入射した光の総量も出力す
ることもできる。
【００１２】しかしながら、何等かの理由により光電変
換モードの期間が長くなる、あるいは入射する光の照度
が強い場合、光の入射があるにもかかわらず電流が流れ
ないことがある。これは図８(c)のように、ｉ層84内に
ホールが多数留まり、このホールのためｉ層84内のホー
ルと再結合してしまうからである。この状態で光の入射
の状態が変化すると、電流が不安定に流れることもある
が、再びリフレッシュモードにすればｉ層84のホールは
掃き出され次の光電変換モードでは再び光に比例した電
流が流れる。
換モードの期間が長くなる、あるいは入射する光の照度
が強い場合、光の入射があるにもかかわらず電流が流れ
ないことがある。これは図８(c)のように、ｉ層84内に
ホールが多数留まり、このホールのためｉ層84内のホー
ルと再結合してしまうからである。この状態で光の入射
の状態が変化すると、電流が不安定に流れることもある
が、再びリフレッシュモードにすればｉ層84のホールは
掃き出され次の光電変換モードでは再び光に比例した電
流が流れる。
【００１３】また、前述の説明において、リフレッシュ
モードでｉ層84内のホールを掃き出す場合、全てのホー
ルを掃き出すのが理想であるが、一部のホールを引き出
すだけでも効果はあり、前述と等しい電流が得られ、問
題はない。つまり、次の光電変換モードでの検出機会に
おいて図８(c)の状態になっていなければよく、リフレ
ッシュモードでのＤ電極のＧ電極に対する電位、リフレ
ッシュモードの期間及びｎ+ドープ層83の注入阻止層の
特性を決めればよい。また、更にリフレッシュモードに
おいてｉ層84への電子の注入は必要条件ではなく、Ｄ電
極のＧ電極に対する電位は負に限定されるものでもな
い。ホールが多数ｉ層84に留まっている場合には例えＤ
電極のＧ電極に対する電位が正であってもｉ層84内の電
界はホールをＤ電極に導く方向に加わるからである。ｎ
+ドープ層83の注入阻止層の特性も同様に電子をｉ層84
に注入できることが必要条件ではない。
モードでｉ層84内のホールを掃き出す場合、全てのホー
ルを掃き出すのが理想であるが、一部のホールを引き出
すだけでも効果はあり、前述と等しい電流が得られ、問
題はない。つまり、次の光電変換モードでの検出機会に
おいて図８(c)の状態になっていなければよく、リフレ
ッシュモードでのＤ電極のＧ電極に対する電位、リフレ
ッシュモードの期間及びｎ+ドープ層83の注入阻止層の
特性を決めればよい。また、更にリフレッシュモードに
おいてｉ層84への電子の注入は必要条件ではなく、Ｄ電
極のＧ電極に対する電位は負に限定されるものでもな
い。ホールが多数ｉ層84に留まっている場合には例えＤ
電極のＧ電極に対する電位が正であってもｉ層84内の電
界はホールをＤ電極に導く方向に加わるからである。ｎ
+ドープ層83の注入阻止層の特性も同様に電子をｉ層84
に注入できることが必要条件ではない。
【００１４】以上はMIS型センサにおける動作説明であ
るが、FPDで使用されている他の種類のセンサ、例えばP
IN型フォトダイオードを使用したセンサにおいても、部
分的に異なるもののほぼ同じ動作が行われる。特開平10
-170657号公報に開示されているFPDセンサがその一例で
ある。また蛍光体を使用する方式のみならず、蛍光体の
代わりに放射線を直接に電子に変換するアモルファスセ
レン、ガリウムヒ素(GaAs)、テルル化カドミウム(CdT
e)、よう化鉛(PbI2)、よう化水銀(HgI2)等を使用するセ
ンサにおいても、画素に蓄積された電子を読み取る動作
やリフレッシュ動作は極めて類似している。
るが、FPDで使用されている他の種類のセンサ、例えばP
IN型フォトダイオードを使用したセンサにおいても、部
分的に異なるもののほぼ同じ動作が行われる。特開平10
-170657号公報に開示されているFPDセンサがその一例で
ある。また蛍光体を使用する方式のみならず、蛍光体の
代わりに放射線を直接に電子に変換するアモルファスセ
レン、ガリウムヒ素(GaAs)、テルル化カドミウム(CdT
e)、よう化鉛(PbI2)、よう化水銀(HgI2)等を使用するセ
ンサにおいても、画素に蓄積された電子を読み取る動作
やリフレッシュ動作は極めて類似している。
【００１５】ところで、FPDに使用されるセンサは数百
万画素からなっているが、各画素の特性は微妙に異なっ
ている。特に画像センサとして重要な特性は、暗電流特
性と感度特性である。そこでFPDではこれらの特性を補
正するステップを実施し、実質上各画素の特性が均一な
センサとして使用している。この補正ステップはアモル
ファスセレン等を使用する方式も共通である。以下に暗
電流特性と感度特性の補正方法について説明する。
万画素からなっているが、各画素の特性は微妙に異なっ
ている。特に画像センサとして重要な特性は、暗電流特
性と感度特性である。そこでFPDではこれらの特性を補
正するステップを実施し、実質上各画素の特性が均一な
センサとして使用している。この補正ステップはアモル
ファスセレン等を使用する方式も共通である。以下に暗
電流特性と感度特性の補正方法について説明する。
【００１６】まず、以下に使用する用語について簡単に
説明する。まず放射線検出器に放射線を照射して撮影す
ることを放射線撮影、ここで得られる画像を放射線画像
と呼ぶ。次に暗電流特性の測定は、センサに入力を与え
ないことを除いて放射線撮影と同一であることから、暗
電流特性の測定を暗電流撮影、ここで得られる画像を暗
電流画像と呼ぶ。またN回の暗電流画像を利用して暗電
流補正した画像をN次暗電流補正画像と呼ぶことがあ
る。さらに(N次)暗電流補正画像に対し感度補正を施し
た画像を(N次)補正画像、(N次)補正画像に対して画像診
断に適した階調処理等の画像処理を施した画像を(N次)
診断画像と呼ぶことがある。
説明する。まず放射線検出器に放射線を照射して撮影す
ることを放射線撮影、ここで得られる画像を放射線画像
と呼ぶ。次に暗電流特性の測定は、センサに入力を与え
ないことを除いて放射線撮影と同一であることから、暗
電流特性の測定を暗電流撮影、ここで得られる画像を暗
電流画像と呼ぶ。またN回の暗電流画像を利用して暗電
流補正した画像をN次暗電流補正画像と呼ぶことがあ
る。さらに(N次)暗電流補正画像に対し感度補正を施し
た画像を(N次)補正画像、(N次)補正画像に対して画像診
断に適した階調処理等の画像処理を施した画像を(N次)
診断画像と呼ぶことがある。
【００１７】暗電流特性の補正方法について説明する。
ここで暗電流とはセンサへの入力がないときに測定され
る電流であり、ランダム成分と定常的なオフセット成分
からなるとする。暗電流がセンサ入力に依存しないと仮
定すると、センサに信号を入力したときの画像からセン
サに信号を入力しないときの画像を引くことで、画素毎
に異なるオフセット成分の補正が可能となる。センサに
信号を入力したときの放射線画像をＸn（ｘ，ｙ）、そ
の直後に測定される暗電流画像をＤ1（ｘ，ｙ）とする
と、暗電流補正後の1次暗電流補正画像Ｃ1X（ｘ，ｙ）
は次式で表される。ただしx,yは2次元配列した画素のア
ドレスである。また前記ランダム成分をR(x,y)、定常的
なオフセット成分をF(x,y)としている。
ここで暗電流とはセンサへの入力がないときに測定され
る電流であり、ランダム成分と定常的なオフセット成分
からなるとする。暗電流がセンサ入力に依存しないと仮
定すると、センサに信号を入力したときの画像からセン
サに信号を入力しないときの画像を引くことで、画素毎
に異なるオフセット成分の補正が可能となる。センサに
信号を入力したときの放射線画像をＸn（ｘ，ｙ）、そ
の直後に測定される暗電流画像をＤ1（ｘ，ｙ）とする
と、暗電流補正後の1次暗電流補正画像Ｃ1X（ｘ，ｙ）
は次式で表される。ただしx,yは2次元配列した画素のア
ドレスである。また前記ランダム成分をR(x,y)、定常的
なオフセット成分をF(x,y)としている。
【００１８】
【数１】
【００１９】次に、感度特性の補正について説明する。
感度補正はセンサを構成する画素の感度特性ばらつきを
補正するステップである。感度特性が定常的であると仮
定すると、センサに信号を入力したときの画像をセンサ
に一様な入力を与えたときの画像で割ることで、画素毎
に異なる感度特性の補正が可能となる。センサに一様な
入力を与えたとき出力をW(x,y)とすると、感度補正後の
補正画像Ｃ1（ｘ，ｙ）は次式で表される。
感度補正はセンサを構成する画素の感度特性ばらつきを
補正するステップである。感度特性が定常的であると仮
定すると、センサに信号を入力したときの画像をセンサ
に一様な入力を与えたときの画像で割ることで、画素毎
に異なる感度特性の補正が可能となる。センサに一様な
入力を与えたとき出力をW(x,y)とすると、感度補正後の
補正画像Ｃ1（ｘ，ｙ）は次式で表される。
【００２０】
【数２】
【００２１】ところで、暗電流画像においてオフセット
成分であるF(x,y)は、撮影条件が同一の場合はセンサへ
の入力に関わらず一定であるから、(3)式で示すオフセ
ット補正を施すことで完全に除去可能である。ところが
(1)式に現れるＲ0（ｘ，ｙ）と(3)式に現れるＲ1（ｘ，
ｙ）は異なるため、ランダム成分Ｒ（ｘ，ｙ）は(3)式
に示すオフセット補正では除去不可能である。この結
果、暗電流補正と感度補正の両者を施した画像であって
も、センサ由来の有限のランダムノイズが画像に残存す
ることになる。このランダムノイズはランダム成分Ｒ
（ｘ，ｙ）が放射線画像Ｘ（ｘ，ｙ）に比べて十分に小
さければ問題はないが、低線量撮影のように信号である
放射線画像Ｘ（ｘ，ｙ）が小さくなる撮影では信号雑音
比の低下による画質の劣化を指摘される可能性がある。
成分であるF(x,y)は、撮影条件が同一の場合はセンサへ
の入力に関わらず一定であるから、(3)式で示すオフセ
ット補正を施すことで完全に除去可能である。ところが
(1)式に現れるＲ0（ｘ，ｙ）と(3)式に現れるＲ1（ｘ，
ｙ）は異なるため、ランダム成分Ｒ（ｘ，ｙ）は(3)式
に示すオフセット補正では除去不可能である。この結
果、暗電流補正と感度補正の両者を施した画像であって
も、センサ由来の有限のランダムノイズが画像に残存す
ることになる。このランダムノイズはランダム成分Ｒ
（ｘ，ｙ）が放射線画像Ｘ（ｘ，ｙ）に比べて十分に小
さければ問題はないが、低線量撮影のように信号である
放射線画像Ｘ（ｘ，ｙ）が小さくなる撮影では信号雑音
比の低下による画質の劣化を指摘される可能性がある。
【００２２】そこで、(5)式に示す性質を利用して、暗
電流画像を多数回撮影してその平均値を取ることで、暗
電流画像に含まれるランダム成分R(x,y)を実質無視でき
る大きさにまで小さくすることが考えられる。ランダム
成分R(x,y)が正規分布の場合、ランダム成分R(x,y)の測
定1回あたりの標準偏差σ0と測定回数n回平均値の標準
偏差σnは以下の関係にある。
電流画像を多数回撮影してその平均値を取ることで、暗
電流画像に含まれるランダム成分R(x,y)を実質無視でき
る大きさにまで小さくすることが考えられる。ランダム
成分R(x,y)が正規分布の場合、ランダム成分R(x,y)の測
定1回あたりの標準偏差σ0と測定回数n回平均値の標準
偏差σnは以下の関係にある。
【００２３】
【数３】
【００２４】この性質を利用した暗電流補正方法は参考
文献J.P.Moy, B.Bosset, "How doesreal offset and ga
in correction affect the DQE in images from X-ray
Flat detector", SPIE proceedings Vol.3659, 90-97(1
999)に説明されている。この方法を利用すれば、4回の
暗電流撮影の平均値を使用することにより暗電流画像Ｄ
X（ｘ，ｙ）に含まれるランダム成分R(x,y)は1/2にな
り、良好な暗電流補正を施すことが可能になる。1次暗
電流補正画像と4次暗電流補正画像のそれぞれに残存す
るランダム成分R(x,y)の標準偏差の比を(8)式に示す。
ただし放射線画像そのものに重畳するランダム成分と4
回平均暗電流画像のランダム成分の両者を考慮してい
る。
文献J.P.Moy, B.Bosset, "How doesreal offset and ga
in correction affect the DQE in images from X-ray
Flat detector", SPIE proceedings Vol.3659, 90-97(1
999)に説明されている。この方法を利用すれば、4回の
暗電流撮影の平均値を使用することにより暗電流画像Ｄ
X（ｘ，ｙ）に含まれるランダム成分R(x,y)は1/2にな
り、良好な暗電流補正を施すことが可能になる。1次暗
電流補正画像と4次暗電流補正画像のそれぞれに残存す
るランダム成分R(x,y)の標準偏差の比を(8)式に示す。
ただし放射線画像そのものに重畳するランダム成分と4
回平均暗電流画像のランダム成分の両者を考慮してい
る。
【００２５】
【数４】
【００２６】(8)式より、ランダムノイズが支配的なほ
どの低線量撮影では、4回の暗電流撮影を行うことによ
って1回の暗電流撮影に比べて約20％の信号雑音比の改
善が期待されることが判る。
どの低線量撮影では、4回の暗電流撮影を行うことによ
って1回の暗電流撮影に比べて約20％の信号雑音比の改
善が期待されることが判る。
【００２７】以上説明した放射線撮影及び暗電流撮影を
行うためのFPDセンサの駆動方法について、センサ駆動
フローチャートである図９を用いて説明する。図９にお
いて、21はアイドリング駆動、22は放射線撮影のための
初期化駆動、23は放射線撮影のための撮影駆動、24は暗
電流撮影のための初期化駆動、25は暗電流撮影のための
撮影駆動、26は放射線曝射である。
行うためのFPDセンサの駆動方法について、センサ駆動
フローチャートである図９を用いて説明する。図９にお
いて、21はアイドリング駆動、22は放射線撮影のための
初期化駆動、23は放射線撮影のための撮影駆動、24は暗
電流撮影のための初期化駆動、25は暗電流撮影のための
撮影駆動、26は放射線曝射である。
【００２８】図９に示すように、FPDセンサの駆動状態
は大きく分けてアイドリング駆動21、初期化駆動22及び
24、撮影駆動23及び25の3種類が存在する。FPDセンサ
は、バイアス電圧を掛け始めると光電変換層のトラップ
等によって生じる暗電流が蓄積され続ける。アイドリン
グ駆動21は擬似的な読取動作によりこの暗電流を掃き出
す動作であり、センサにバイアス電圧を印可してから撮
影寸前まで断続的に行うセンサ準備ステップである。こ
のときの擬似的な読取サイクルは比較的長い。その理由
は読取動作による消費電力増加やセンサ温度上昇等を最
小限に抑制するためである。
は大きく分けてアイドリング駆動21、初期化駆動22及び
24、撮影駆動23及び25の3種類が存在する。FPDセンサ
は、バイアス電圧を掛け始めると光電変換層のトラップ
等によって生じる暗電流が蓄積され続ける。アイドリン
グ駆動21は擬似的な読取動作によりこの暗電流を掃き出
す動作であり、センサにバイアス電圧を印可してから撮
影寸前まで断続的に行うセンサ準備ステップである。こ
のときの擬似的な読取サイクルは比較的長い。その理由
は読取動作による消費電力増加やセンサ温度上昇等を最
小限に抑制するためである。
【００２９】次に、初期化駆動22及び24はやはり擬似的
な読取動作を行い、暗電流を掃き出すと同時に放射線曝
射に備えるステップである。初期化駆動22及び24で行わ
れる読取サイクルはアイドリング駆動21より早い。その
理由は、読取期間中は放射線曝射命令を受け付けられな
いためであり、読取サイクルを早くすることで放射線曝
射命令から実際の放射線が曝射されるまでの遅延時間を
短くしている。そして放射線曝射後に読取駆動23を行
い、放射線画像の撮影を行う。
な読取動作を行い、暗電流を掃き出すと同時に放射線曝
射に備えるステップである。初期化駆動22及び24で行わ
れる読取サイクルはアイドリング駆動21より早い。その
理由は、読取期間中は放射線曝射命令を受け付けられな
いためであり、読取サイクルを早くすることで放射線曝
射命令から実際の放射線が曝射されるまでの遅延時間を
短くしている。そして放射線曝射後に読取駆動23を行
い、放射線画像の撮影を行う。
【００３０】暗電流撮影は放射線撮影に引き続いて行わ
れる。図８に示すように放射線撮影を行うと、センサは
直ちに初期化駆動24を開始し、そして放射線撮影と同じ
タイミングで暗電流撮影25を行う。このタイミングにつ
いて、図９を用いて詳しく説明する。
れる。図８に示すように放射線撮影を行うと、センサは
直ちに初期化駆動24を開始し、そして放射線撮影と同じ
タイミングで暗電流撮影25を行う。このタイミングにつ
いて、図９を用いて詳しく説明する。
【００３１】図１０は、放射線曝射とセンサ駆動のタイ
ミングを説明するタイミングチャートである。図１０に
おいて、31は放射線曝射スイッチによる放射線曝射要求
信号、32は放射線曝射許可信号、33は放射線曝射、34は
駆動方法1の駆動信号、35は駆動方法2の駆動信号であ
る。またRはリフレッシュ、Xは放射線撮影、Dは暗電流
撮影、Te1及びTe2は蓄積時間、Tiは読取サイクル1回の
所要時間である。
ミングを説明するタイミングチャートである。図１０に
おいて、31は放射線曝射スイッチによる放射線曝射要求
信号、32は放射線曝射許可信号、33は放射線曝射、34は
駆動方法1の駆動信号、35は駆動方法2の駆動信号であ
る。またRはリフレッシュ、Xは放射線撮影、Dは暗電流
撮影、Te1及びTe2は蓄積時間、Tiは読取サイクル1回の
所要時間である。
【００３２】まず、駆動方法1について説明する。放射
線曝射要求信号31がONになると、センサはアイドリング
駆動から初期化駆動に切り替わる。するとセンサはリフ
レッシュ動作を行い、センサに蓄積されたホールを掃き
出す。そして初期化駆動における読取サイクルの4回目
が終了すると放射線曝射許可信号32がONになり、センサ
は読取サイクルを停止し放射線曝射33がONになり、セン
サは放射線による信号を蓄積する。放射線曝射33がOFF
になるとセンサは蓄積を直ちに終了し、放射線画像を読
み取る(X)。このときのセンサの蓄積時間はTe1である。
センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続いて読
取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが終了す
ると、蓄積時間Te1で暗電流撮影(D)を行う。
線曝射要求信号31がONになると、センサはアイドリング
駆動から初期化駆動に切り替わる。するとセンサはリフ
レッシュ動作を行い、センサに蓄積されたホールを掃き
出す。そして初期化駆動における読取サイクルの4回目
が終了すると放射線曝射許可信号32がONになり、センサ
は読取サイクルを停止し放射線曝射33がONになり、セン
サは放射線による信号を蓄積する。放射線曝射33がOFF
になるとセンサは蓄積を直ちに終了し、放射線画像を読
み取る(X)。このときのセンサの蓄積時間はTe1である。
センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続いて読
取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが終了す
ると、蓄積時間Te1で暗電流撮影(D)を行う。
【００３３】次に、駆動方法2について説明する。同じ
く放射線曝射要求信号31がONになると、センサはアイド
リング駆動から初期化駆動に切り替わる。するとセンサ
はリフレッシュ動作を行い、センサに蓄積されたホール
を掃き出す。そして初期化駆動における読取サイクルの
4回目に放射線曝射許可信号32をONにすると、センサは
読取サイクルを停止し放射線曝射33がONになり、センサ
は放射線による信号を蓄積する。所定時間Te2が経過す
るとセンサは蓄積を終了し、放射線画像を読み取る
(X)。センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続
いて読取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが
終了すると、蓄積時間Te2で暗電流撮影(D)を行う。蓄積
時間Te2は長時間撮影にも対応できるように、1秒〜2秒
の時間が設定される。この駆動方法については、文献Jo
hn M.Boudry, "Operation of Amorphous Silicon Detec
tors for Chest Radiography Within System Latency R
equirement", SPIE proceedings Vol.3659, 336-344(19
99)に説明されている。
く放射線曝射要求信号31がONになると、センサはアイド
リング駆動から初期化駆動に切り替わる。するとセンサ
はリフレッシュ動作を行い、センサに蓄積されたホール
を掃き出す。そして初期化駆動における読取サイクルの
4回目に放射線曝射許可信号32をONにすると、センサは
読取サイクルを停止し放射線曝射33がONになり、センサ
は放射線による信号を蓄積する。所定時間Te2が経過す
るとセンサは蓄積を終了し、放射線画像を読み取る
(X)。センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続
いて読取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが
終了すると、蓄積時間Te2で暗電流撮影(D)を行う。蓄積
時間Te2は長時間撮影にも対応できるように、1秒〜2秒
の時間が設定される。この駆動方法については、文献Jo
hn M.Boudry, "Operation of Amorphous Silicon Detec
tors for Chest Radiography Within System Latency R
equirement", SPIE proceedings Vol.3659, 336-344(19
99)に説明されている。
【００３４】以上から明らかなように、駆動方法1と駆
動方法2の相違は、駆動方法1は放射線曝射時間に応じて
蓄積時間Te1を自由に変化させることができるのに対
し、駆動方法2は蓄積時間Te2は固定である。駆動方法1
は蓄積時間を最短にできるため、最長想定曝射時間に対
応した蓄積時間を採用する駆動方法2に比べて、暗電流
の蓄積を少なくできる利点がある。また実際の放射線曝
射時間は胸部一般撮影であれば20msec程度なので、セン
サ駆動が短時間で終了し早期に画像を表示できる利点が
ある。一方駆動方法2は蓄積時間が常に一定であるた
め、放射線曝射前に暗電流撮影を行うことができる可能
性がある。
動方法2の相違は、駆動方法1は放射線曝射時間に応じて
蓄積時間Te1を自由に変化させることができるのに対
し、駆動方法2は蓄積時間Te2は固定である。駆動方法1
は蓄積時間を最短にできるため、最長想定曝射時間に対
応した蓄積時間を採用する駆動方法2に比べて、暗電流
の蓄積を少なくできる利点がある。また実際の放射線曝
射時間は胸部一般撮影であれば20msec程度なので、セン
サ駆動が短時間で終了し早期に画像を表示できる利点が
ある。一方駆動方法2は蓄積時間が常に一定であるた
め、放射線曝射前に暗電流撮影を行うことができる可能
性がある。
【００３５】ここで注目すべきは、いずれの方法も放射
線撮影の直後に暗電流撮影を行い、かつ放射線撮影と暗
電流撮影の前に行う初期化駆動のリフレッシュ動作と読
取サイクル回数が同一であり、さらに放射線撮影と暗電
流撮影の蓄積時間も同一であることである。これは(1)
式及び(2)式に示したオフセット成分F(x,y)が蓄積時間
と駆動タイミングの関数であり、暗電流量が蓄積時間と
高い相関を有し、かつセンサの過渡的特性のために駆動
タイミングと暗電流の相関が高いためである。もしこの
ような駆動を行わないと、放射線画像に重畳する暗電流
画像Ｄ0（ｘ，ｙ）と暗電流撮影による暗電流画像Ｄ
1（ｘ，ｙ）の相関が失われるため、(3)式に示す減算演
算を行ってもオフセット成分Ｆ（ｘ，ｙ）の一部が残
り、予期しないセンサ固有のパターン(アーティファク
ト)が現れることがある。
線撮影の直後に暗電流撮影を行い、かつ放射線撮影と暗
電流撮影の前に行う初期化駆動のリフレッシュ動作と読
取サイクル回数が同一であり、さらに放射線撮影と暗電
流撮影の蓄積時間も同一であることである。これは(1)
式及び(2)式に示したオフセット成分F(x,y)が蓄積時間
と駆動タイミングの関数であり、暗電流量が蓄積時間と
高い相関を有し、かつセンサの過渡的特性のために駆動
タイミングと暗電流の相関が高いためである。もしこの
ような駆動を行わないと、放射線画像に重畳する暗電流
画像Ｄ0（ｘ，ｙ）と暗電流撮影による暗電流画像Ｄ
1（ｘ，ｙ）の相関が失われるため、(3)式に示す減算演
算を行ってもオフセット成分Ｆ（ｘ，ｙ）の一部が残
り、予期しないセンサ固有のパターン(アーティファク
ト)が現れることがある。
【００３６】図９及び図１０では、説明の簡単のため暗
電流撮影1回の場合を示した。しかしすでに説明したよ
うに、暗電流撮影を複数回行うことで暗電流画像に含ま
れるランダム成分を軽減し信号雑音比を向上できる。そ
こで実際には放射線撮影に続いて、必要に応じて1回か
ら数回の暗電流撮影を行うことになる。
電流撮影1回の場合を示した。しかしすでに説明したよ
うに、暗電流撮影を複数回行うことで暗電流画像に含ま
れるランダム成分を軽減し信号雑音比を向上できる。そ
こで実際には放射線撮影に続いて、必要に応じて1回か
ら数回の暗電流撮影を行うことになる。
【００３７】
【発明が解決しようとする課題】ところが、暗電流撮影
を複数回行うと、放射線撮影後に画像が得られるまでに
長い時間を要する問題点がある。例えば駆動方法2にお
いて、初期化駆動のリフレッシュ動作を1回、読取サイ
クルを4回、1回分のリフレッシュ動作及び読取サイクル
所要時間Tiを0.2秒、蓄積時間Te2を2秒、暗電流撮影を4
回行う例について考える。この場合、放射線曝射終了か
ら4回目の暗電流撮影が終了しモニタに画像を映すまで
に必要な時間Ｔdisplayは、画像転送時間及び画像処理
時間の合計Ｔprocessを0.5秒として次式で表される。
を複数回行うと、放射線撮影後に画像が得られるまでに
長い時間を要する問題点がある。例えば駆動方法2にお
いて、初期化駆動のリフレッシュ動作を1回、読取サイ
クルを4回、1回分のリフレッシュ動作及び読取サイクル
所要時間Tiを0.2秒、蓄積時間Te2を2秒、暗電流撮影を4
回行う例について考える。この場合、放射線曝射終了か
ら4回目の暗電流撮影が終了しモニタに画像を映すまで
に必要な時間Ｔdisplayは、画像転送時間及び画像処理
時間の合計Ｔprocessを0.5秒として次式で表される。
【００３８】
【数５】
【００３９】FPDは撮影後に迅速に画像表示ができるこ
とから、撮影後直ちに診断画像を確認できると期待され
ている。特に放射線曝射後数秒以内で診断画像が表示さ
れた場合、放射線技師のワークフローを改善すると共
に、再撮影のための患者の待ち時間を短縮すると期待さ
れている。しかしもし画像表示に10秒以上も必要であれ
ば、技師は画像表示まで待つことができず、技師のワー
クフロー改善は期待できない。またこのために患者の待
ち時間を短縮することも難しくなる。
とから、撮影後直ちに診断画像を確認できると期待され
ている。特に放射線曝射後数秒以内で診断画像が表示さ
れた場合、放射線技師のワークフローを改善すると共
に、再撮影のための患者の待ち時間を短縮すると期待さ
れている。しかしもし画像表示に10秒以上も必要であれ
ば、技師は画像表示まで待つことができず、技師のワー
クフロー改善は期待できない。またこのために患者の待
ち時間を短縮することも難しくなる。
【００４０】この問題点を解決するために、駆動方法2
では蓄積時間Te2が固定であることを利用して、放射線
撮影に先立って暗電流撮影を(複数回)行い、この暗電流
画像を使用して暗電流補正を施すことが考えられる。と
ころが実際にはセンサの過渡的性質のため、暗電流撮影
と放射線撮影が時間的に離れている場合は、暗電流撮影
における暗電流画像と放射線画像に重畳している暗電流
画像の相関が失われ、アーティファクトが発生すること
がある。このため放射線曝射要求以前に暗電流撮影を行
うことは実質的に不可能である。また、放射線曝射要求
をトリガーとして放射線曝射要求から放射線曝射までの
期間に暗電流撮影を行う方法が考えられる。
では蓄積時間Te2が固定であることを利用して、放射線
撮影に先立って暗電流撮影を(複数回)行い、この暗電流
画像を使用して暗電流補正を施すことが考えられる。と
ころが実際にはセンサの過渡的性質のため、暗電流撮影
と放射線撮影が時間的に離れている場合は、暗電流撮影
における暗電流画像と放射線画像に重畳している暗電流
画像の相関が失われ、アーティファクトが発生すること
がある。このため放射線曝射要求以前に暗電流撮影を行
うことは実質的に不可能である。また、放射線曝射要求
をトリガーとして放射線曝射要求から放射線曝射までの
期間に暗電流撮影を行う方法が考えられる。
【００４１】しかしながら、この方法では、放射線曝射
要求から実際に放射線が曝射されるまでの時間が長くな
るため、この長期間に患者の動きや呼吸停止を強制する
ことになり実用的ではない。したがって蓄積時間Te2が
一定な駆動方法でも、駆動方法2に示すように放射線撮
影の直後に暗電流撮影を行うことが望ましい。なお駆動
方法1ではフォトタイマ撮影などにおいて実際の放射線
曝射時間が予想できないために、放射線撮影に先立って
暗電流撮影を行うことはできない。
要求から実際に放射線が曝射されるまでの時間が長くな
るため、この長期間に患者の動きや呼吸停止を強制する
ことになり実用的ではない。したがって蓄積時間Te2が
一定な駆動方法でも、駆動方法2に示すように放射線撮
影の直後に暗電流撮影を行うことが望ましい。なお駆動
方法1ではフォトタイマ撮影などにおいて実際の放射線
曝射時間が予想できないために、放射線撮影に先立って
暗電流撮影を行うことはできない。
【００４２】また、放射線曝射要求をトリガーとせず
に、継続的に画像読み出しを繰り返す駆動方法も考えら
れる。例えば特開2000-070250ではこの駆動方法を用
い、かつ放射線撮影の直前に撮影された１回の暗電流画
像を用いて暗電流補正を施す提案が開示されている。し
かしながら、この方法では、タイミング不明の1回の放
射線撮影に対して多数の読み取り動作が必要なため、消
費電力や発熱の問題が発生する恐れがある。また暗電流
撮影と放射線撮影の同期が原理的に不可能であるため、
両者のタイミングが重なる問題点が発生する。
に、継続的に画像読み出しを繰り返す駆動方法も考えら
れる。例えば特開2000-070250ではこの駆動方法を用
い、かつ放射線撮影の直前に撮影された１回の暗電流画
像を用いて暗電流補正を施す提案が開示されている。し
かしながら、この方法では、タイミング不明の1回の放
射線撮影に対して多数の読み取り動作が必要なため、消
費電力や発熱の問題が発生する恐れがある。また暗電流
撮影と放射線撮影の同期が原理的に不可能であるため、
両者のタイミングが重なる問題点が発生する。
【００４３】後者の問題点を解決するために同提案の第
1実施例の変形実施において、暗電流撮影と放射線撮影
の両者のタイミングが重なった場合に、全放射線曝射期
間をカバーする複数枚の放射線画像を記憶し、該複数枚
の放射線画像から放射線撮影直前の暗電流画像を複数倍
した画像を除算する提案が開示されている。しかし係数
倍画像の除算演算は定常的なオフセット成分をF(x,y)を
補正できる可能性があってもランダム成分R(x,y)は増加
させるだけであり、平均化によるランダム成分R(x,y)の
低減効果は期待できない。その理由は以下のように説明
される。
1実施例の変形実施において、暗電流撮影と放射線撮影
の両者のタイミングが重なった場合に、全放射線曝射期
間をカバーする複数枚の放射線画像を記憶し、該複数枚
の放射線画像から放射線撮影直前の暗電流画像を複数倍
した画像を除算する提案が開示されている。しかし係数
倍画像の除算演算は定常的なオフセット成分をF(x,y)を
補正できる可能性があってもランダム成分R(x,y)は増加
させるだけであり、平均化によるランダム成分R(x,y)の
低減効果は期待できない。その理由は以下のように説明
される。
【００４４】放射線撮影直前の暗電流画像をD-1(x,y)、
放射線曝射中の1枚目及び2枚目の放射線画像をそれぞれ
X0(x,y)及びX1(x,y)とすると、ここで行われる演算は次
のように表される。
放射線曝射中の1枚目及び2枚目の放射線画像をそれぞれ
X0(x,y)及びX1(x,y)とすると、ここで行われる演算は次
のように表される。
【００４５】
【数６】
【００４６】この演算で残存するランダム成分と、通常
の暗電流補正方法で残存するランダム成分の比は(14)式
で示される。(14)式に示されるように、この方法を用い
ると(7)式に示したランダム成分R(x,y)の平均化効果を
利用できないため、ノイズ成分は増大する。したがって
この方法では信号雑音比の悪化が懸念される。
の暗電流補正方法で残存するランダム成分の比は(14)式
で示される。(14)式に示されるように、この方法を用い
ると(7)式に示したランダム成分R(x,y)の平均化効果を
利用できないため、ノイズ成分は増大する。したがって
この方法では信号雑音比の悪化が懸念される。
【００４７】更に実際には、読み取り動作に時間を要す
るため、読み取り期間中に曝射された放射線情報を正確
に電子に変換できない可能性や、読み取り期間中の放射
線情報が無効になり患者被曝が増大する可能性がある。
一方、同提案の第2実施例において放射線撮影直前の1回
の暗電流撮影に加えて、放射線撮影直後に１回の放射線
撮影を行い、両者を関連付けた暗電流画像を作成し、こ
の暗電流画像を用いて暗電流補正を施す提案が開示され
ている。
るため、読み取り期間中に曝射された放射線情報を正確
に電子に変換できない可能性や、読み取り期間中の放射
線情報が無効になり患者被曝が増大する可能性がある。
一方、同提案の第2実施例において放射線撮影直前の1回
の暗電流撮影に加えて、放射線撮影直後に１回の放射線
撮影を行い、両者を関連付けた暗電流画像を作成し、こ
の暗電流画像を用いて暗電流補正を施す提案が開示され
ている。
【００４８】この方法においても開示されている関連付
けは係数倍演算のみであり、同じく定常的なオフセット
成分をF(x,y)を補正できてもランダム成分R(x,y)は増加
させるだけであり、平均化による低減効果は期待できな
い。また放射線撮影直後の暗電流画像にはリフレッシュ
動作で掃き出しきれなかった残像成分が含まれている。
この画像と残像成分が含まれない放射線撮影直前の暗電
流画像を組み合わせることは、両者の相関が不足するた
め実用的ではない。つまり特開2000-070250が意図して
いる暗電流補正はすべて定常的なオフセット成分F(x,y)
の補正のみであり、(7)式に示した複数枚暗電流画像の
平均によるランダム成分R(x,y)の低減、すなわち信号雑
音比の改善に関して何ら考慮されていない。
けは係数倍演算のみであり、同じく定常的なオフセット
成分をF(x,y)を補正できてもランダム成分R(x,y)は増加
させるだけであり、平均化による低減効果は期待できな
い。また放射線撮影直後の暗電流画像にはリフレッシュ
動作で掃き出しきれなかった残像成分が含まれている。
この画像と残像成分が含まれない放射線撮影直前の暗電
流画像を組み合わせることは、両者の相関が不足するた
め実用的ではない。つまり特開2000-070250が意図して
いる暗電流補正はすべて定常的なオフセット成分F(x,y)
の補正のみであり、(7)式に示した複数枚暗電流画像の
平均によるランダム成分R(x,y)の低減、すなわち信号雑
音比の改善に関して何ら考慮されていない。
【００４９】ところで、複数回の暗電流撮影を行う場合
は、放射線曝射終了から次の放射線曝射がいつ可能にな
るか、ユーザである放射線技師から判りにくい問題点が
ある。例えば撮影目的に応じて暗電流撮影の回数を変更
する場合を考える。成人患者は撮影サイクルタイムを優
先して1回の暗電流撮影で終了し、乳児及び妊婦は被曝
線量低減を優先して4回の暗電流撮影を行うと仮定する
と、成人患者撮影時には放射線曝射後数秒で次の撮影が
可能になるのに対し、乳児及び妊婦撮影時では次の撮影
が可能になるのに15秒以上必要となる。このような場合
に放射線技師が暗電流画像撮影中であることに気付かず
に次の放射線曝射を行うと、所期の暗電流画像が得られ
ないばかりか次の放射線撮影も無効になる。
は、放射線曝射終了から次の放射線曝射がいつ可能にな
るか、ユーザである放射線技師から判りにくい問題点が
ある。例えば撮影目的に応じて暗電流撮影の回数を変更
する場合を考える。成人患者は撮影サイクルタイムを優
先して1回の暗電流撮影で終了し、乳児及び妊婦は被曝
線量低減を優先して4回の暗電流撮影を行うと仮定する
と、成人患者撮影時には放射線曝射後数秒で次の撮影が
可能になるのに対し、乳児及び妊婦撮影時では次の撮影
が可能になるのに15秒以上必要となる。このような場合
に放射線技師が暗電流画像撮影中であることに気付かず
に次の放射線曝射を行うと、所期の暗電流画像が得られ
ないばかりか次の放射線撮影も無効になる。
【００５０】そこで本発明は、最終的な画像を得るに先
立ち、放射線撮影後直ちにある程度の補正が施された画
像を得ることができ、確認を可能とし、ユーザのワーク
フローを改善すると共に、再撮影に要する待ち時間を大
幅に短縮することができる撮像装置及び方法を提供する
ことを目的とする。
立ち、放射線撮影後直ちにある程度の補正が施された画
像を得ることができ、確認を可能とし、ユーザのワーク
フローを改善すると共に、再撮影に要する待ち時間を大
幅に短縮することができる撮像装置及び方法を提供する
ことを目的とする。
【００５１】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、被
写体像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段から得られ
た画像補正データを用いて、前記被写体像の画像データ
を補正する補正手段と、前記補正手段による前記補正が
完了する前に、前記補正による所定の途中段階で前記画
像データに基づく画像を表示する表示手段とを含むこと
を特徴とする。
写体像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段から得られ
た画像補正データを用いて、前記被写体像の画像データ
を補正する補正手段と、前記補正手段による前記補正が
完了する前に、前記補正による所定の途中段階で前記画
像データに基づく画像を表示する表示手段とを含むこと
を特徴とする。
【００５２】本発明の撮像装置の一態様では、前記画像
補正データは、前記撮像手段の所定の特性である。
補正データは、前記撮像手段の所定の特性である。
【００５３】本発明の撮像装置の一態様では、前記所定
の特性は暗電流特性である。
の特性は暗電流特性である。
【００５４】本発明の撮像装置の一態様では、前記画像
補正データは、前記所定の途中段階に相当する第１の補
正を施すための第１の補正データと、前記第１の補正に
続き前記画像データを補正する第２の補正を施すための
第２の補正データとからなり、前記表示手段は、前記第
１の補正のなされた前記画像を表示した後に、前記第２
の補正のなされた前記画像を表示する。
補正データは、前記所定の途中段階に相当する第１の補
正を施すための第１の補正データと、前記第１の補正に
続き前記画像データを補正する第２の補正を施すための
第２の補正データとからなり、前記表示手段は、前記第
１の補正のなされた前記画像を表示した後に、前記第２
の補正のなされた前記画像を表示する。
【００５５】本発明の撮像装置の一態様では、前記第２
の補正データは、前記第１の補正データよりも回数の多
い測定に基づいて得られるものである。
の補正データは、前記第１の補正データよりも回数の多
い測定に基づいて得られるものである。
【００５６】本発明の撮像方法は、撮像手段により被写
体像を撮像するステップと、前記撮像手段から所定の画
像補正データを得るステップと、前記画像補正データを
用いて、前記被写体像の前記画像データを補正するステ
ップと、前記補正が完了する前に、前記補正による所定
の途中段階で前記画像データに基づく画像を表示するス
テップとを含むことを特徴とする。
体像を撮像するステップと、前記撮像手段から所定の画
像補正データを得るステップと、前記画像補正データを
用いて、前記被写体像の前記画像データを補正するステ
ップと、前記補正が完了する前に、前記補正による所定
の途中段階で前記画像データに基づく画像を表示するス
テップとを含むことを特徴とする。
【００５７】本発明の撮像方法の一態様では、前記画像
補正データは、前記撮像手段の所定の特性である。
補正データは、前記撮像手段の所定の特性である。
【００５８】本発明の撮像方法の一態様では、前記所定
の特性は暗電流特性である。
の特性は暗電流特性である。
【００５９】本発明の撮像方法の一態様では、前記画像
補正データは、前記所定の途中段階に相当する第１の補
正を施すための第１の補正データと、前記第１の補正に
続き前記画像データを補正する第２の補正を施すための
第２の補正データとからなり、前記第１の補正のなされ
た前記画像を表示する前記ステップの後に、前記第２の
補正データに基づき前記画像データに第２の補正を施す
ステップと、前記第２の補正のなされた画像を表示する
ステップとを更に含む。
補正データは、前記所定の途中段階に相当する第１の補
正を施すための第１の補正データと、前記第１の補正に
続き前記画像データを補正する第２の補正を施すための
第２の補正データとからなり、前記第１の補正のなされ
た前記画像を表示する前記ステップの後に、前記第２の
補正データに基づき前記画像データに第２の補正を施す
ステップと、前記第２の補正のなされた画像を表示する
ステップとを更に含む。
【００６０】本発明の撮像方法の一態様では、前記第２
の補正データは、前記第１の補正データよりも回数の多
い測定に基づいて得られるものである。
の補正データは、前記第１の補正データよりも回数の多
い測定に基づいて得られるものである。
【００６１】本発明の放射線撮像方法は、被写体からの
放射線を放射線検出器を用いて検出し、前記被写体の放
射線画像を取得するステップと、前記放射線検出器の特
性を表す第1の特性データを取得するステップと、前記
第1の特性データを用いて前記放射線画像に第１の補正
を施すステップと、補正された前記放射線画像を表示す
るステップと、前記放射線検出器の特性を表し、前記第
1の特性データよりも回数の多い測定に基づく第２の特
性データを取得するステップと、前記第２の特性データ
を用いて前記放射線画像を第２の補正を施すステップと
を含むことを特徴とする。
放射線を放射線検出器を用いて検出し、前記被写体の放
射線画像を取得するステップと、前記放射線検出器の特
性を表す第1の特性データを取得するステップと、前記
第1の特性データを用いて前記放射線画像に第１の補正
を施すステップと、補正された前記放射線画像を表示す
るステップと、前記放射線検出器の特性を表し、前記第
1の特性データよりも回数の多い測定に基づく第２の特
性データを取得するステップと、前記第２の特性データ
を用いて前記放射線画像を第２の補正を施すステップと
を含むことを特徴とする。
【００６２】本発明の放射線撮像方法の一態様では、前
記放射線検出器の特性は暗電流特性である。
記放射線検出器の特性は暗電流特性である。
【００６３】本発明の放射線撮像方法の一態様では、前
記第２の補正を施す前記ステップの後、補正された前記
放射線画像を表示するステップを更に含む。
記第２の補正を施す前記ステップの後、補正された前記
放射線画像を表示するステップを更に含む。
【００６４】本発明の放射線撮像方法の一態様では、前
記第２の補正の施された前記放射線画像を表示する方法
を、前記第２の補正を行う前に予め選択するステップを
更に含む。
記第２の補正の施された前記放射線画像を表示する方法
を、前記第２の補正を行う前に予め選択するステップを
更に含む。
【００６５】本発明の放射線撮像方法の一態様では、前
記第２の補正を行う間における前記放射線画像の画像処
理状況を確認するステップを更に含む。
記第２の補正を行う間における前記放射線画像の画像処
理状況を確認するステップを更に含む。
【００６６】本発明の放射線撮像方法は、放射線発生装
置から発生した放射線を被写体に照射するステップと、
前記被写体を透過した放射線を放射線検出器を用いて撮
影し、前記被写体の放射線画像を取得するステップと、
前記放射線検出器の暗電流特性を複数回取得するステッ
プと、取得した前記暗電流特性のデータを用いて前記放
射線画像を補正するステップと、前記放射線検出器の動
作状況を確認するステップと、前記補正された放射線画
像を表示するステップとを含むことを特徴とする。
置から発生した放射線を被写体に照射するステップと、
前記被写体を透過した放射線を放射線検出器を用いて撮
影し、前記被写体の放射線画像を取得するステップと、
前記放射線検出器の暗電流特性を複数回取得するステッ
プと、取得した前記暗電流特性のデータを用いて前記放
射線画像を補正するステップと、前記放射線検出器の動
作状況を確認するステップと、前記補正された放射線画
像を表示するステップとを含むことを特徴とする。
【００６７】本発明の放射線撮像方法の一態様では、前
記放射線検出器の動作状況に基づき前記暗電流特性デー
タを取得している期間中には、前記放射線発生装置の放
射線発生を禁止する。
記放射線検出器の動作状況に基づき前記暗電流特性デー
タを取得している期間中には、前記放射線発生装置の放
射線発生を禁止する。
【００６８】本発明の記憶媒体は、コンピュータを前記
撮像装置の前記各手段として機能させるためのプログラ
ムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可
能なものである。
撮像装置の前記各手段として機能させるためのプログラ
ムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可
能なものである。
【００６９】本発明の記憶媒体は、前記撮像方法の前記
各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラ
ムを記録したものである。
各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラ
ムを記録したものである。
【００７０】本発明のプログラムは、コンピュータを前
記撮像装置の前記各手段として機能させるためのもので
ある。
記撮像装置の前記各手段として機能させるためのもので
ある。
【００７１】本発明のプログラムは、前記撮像方法の前
記各ステップをコンピュータに実行させるためのもので
ある。
記各ステップをコンピュータに実行させるためのもので
ある。
【００７２】
【発明の実施の形態】（第１の実施形態）本発明の第１
の実施形態を図１及び図２を用いて説明する。図１は第
１の実施形態の放射線撮影方法を説明するフローチャー
ト、図２は本発明の放射線撮像装置を示す模式図であ
る。
の実施形態を図１及び図２を用いて説明する。図１は第
１の実施形態の放射線撮影方法を説明するフローチャー
ト、図２は本発明の放射線撮像装置を示す模式図であ
る。
【００７３】図１において、１は放射線曝射要求ステッ
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。
【００７４】図２において、40は放射線撮影システム、
41は放射線発生装置、42は患者、43は放射線検出器、44
は放射線撮影システム40を制御するコントロールPC、45
は放射線撮影システム40を構成する各要素を繋ぐバスラ
イン、46は放射線検出器43から送信される画像を一時保
存するキャプチャボード、47は放射線画像の画像処理を
行う画像処理装置、48は放射線画像を表示する表示装
置、49は放射線画像を保存する保存装置である。
41は放射線発生装置、42は患者、43は放射線検出器、44
は放射線撮影システム40を制御するコントロールPC、45
は放射線撮影システム40を構成する各要素を繋ぐバスラ
イン、46は放射線検出器43から送信される画像を一時保
存するキャプチャボード、47は放射線画像の画像処理を
行う画像処理装置、48は放射線画像を表示する表示装
置、49は放射線画像を保存する保存装置である。
【００７５】放射線技師が患者42を整位して放射線曝射
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始され読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始され読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
【００７６】ここまでのステップで得られた放射線画像
及び暗電流画像は、それぞれキャプチャボード46に送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
またこれらの画像処理に時間を要する場合は、1次暗電
流補正画像に対してローパスフィルタ処理と間引きサン
プリングを行った縮小画像に対して画像処理を行うこと
で、表示時間の短縮を行っても良い。このとき保存画像
は縮小しないフルサイズ画像を用いてバックグラウンド
で画像処理されるため、画質が劣化する問題はない。放
射線曝射から表示装置48に画像が表示されるまでの時間
Ｔdisplayは、(9)式と同じ条件において次式のように計
算される。
及び暗電流画像は、それぞれキャプチャボード46に送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
またこれらの画像処理に時間を要する場合は、1次暗電
流補正画像に対してローパスフィルタ処理と間引きサン
プリングを行った縮小画像に対して画像処理を行うこと
で、表示時間の短縮を行っても良い。このとき保存画像
は縮小しないフルサイズ画像を用いてバックグラウンド
で画像処理されるため、画質が劣化する問題はない。放
射線曝射から表示装置48に画像が表示されるまでの時間
Ｔdisplayは、(9)式と同じ条件において次式のように計
算される。
【００７７】
【数７】
【００７８】仮に、図１０における駆動方法1を採用し
放射線曝射時間が20msec、センサ蓄積時間が30msecであ
れば、Ｔdisplayは3秒程度も可能である。
放射線曝射時間が20msec、センサ蓄積時間が30msecであ
れば、Ｔdisplayは3秒程度も可能である。
【００７９】表示ステップ13と平行して、放射線検出器
43はステップ7〜ステップ12に示される暗電流撮影を行
い、それぞれの画像をキャプチャボード46に転送する。
4回の暗電流撮影が終了すると、画像処理装置47は4回分
の暗電流画像を平均し(ステップ14)、放射線画像との減
算処理及び感度補正を行い、得られた4次補正画像は保
存装置49に保存される(ステップ15)。さらに画像処理装
置47は4次補正画像に対してトリミング処理、階調処
理、鮮鋭化処理等を行い、4次診断画像を作成する。
43はステップ7〜ステップ12に示される暗電流撮影を行
い、それぞれの画像をキャプチャボード46に転送する。
4回の暗電流撮影が終了すると、画像処理装置47は4回分
の暗電流画像を平均し(ステップ14)、放射線画像との減
算処理及び感度補正を行い、得られた4次補正画像は保
存装置49に保存される(ステップ15)。さらに画像処理装
置47は4次補正画像に対してトリミング処理、階調処
理、鮮鋭化処理等を行い、4次診断画像を作成する。
【００８０】これらのステップは表示ステップ13のバッ
クグランド処理として実施されるため、放射線技師は放
射線曝射後、直ちに表示装置48に表示された1次診断画
像を利用して、患者の整位が十分であったか、画質に問
題ないかを確認することができる。また診断に提供する
画像は、4回の暗電流画像を利用しているため画質に優
れる。
クグランド処理として実施されるため、放射線技師は放
射線曝射後、直ちに表示装置48に表示された1次診断画
像を利用して、患者の整位が十分であったか、画質に問
題ないかを確認することができる。また診断に提供する
画像は、4回の暗電流画像を利用しているため画質に優
れる。
【００８１】なお、本実施形態では、表示装置48に表示
するための暗電流撮影回数を1回、暗電流撮影総回数を4
回としたが、この回数設定は本発明の範囲を制限するも
のではない。表示装置48に表示するための暗電流撮影回
数及び暗電流撮影総回数は任意に設定可能であり、表示
装置48に表示するための暗電流撮影回数は暗電流撮影総
回数より少なければ、本発明の効果を得ることができ
る。したがって表示装置48に表示するための暗電流撮影
回数は0回以上であり、暗電流撮影総回数は1回以上であ
る。
するための暗電流撮影回数を1回、暗電流撮影総回数を4
回としたが、この回数設定は本発明の範囲を制限するも
のではない。表示装置48に表示するための暗電流撮影回
数及び暗電流撮影総回数は任意に設定可能であり、表示
装置48に表示するための暗電流撮影回数は暗電流撮影総
回数より少なければ、本発明の効果を得ることができ
る。したがって表示装置48に表示するための暗電流撮影
回数は0回以上であり、暗電流撮影総回数は1回以上であ
る。
【００８２】（第２の実施形態）本発明の第２の実施形
態を図２及び図３を用いて説明する。図３は第２の実施
形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートであ
る。図３において、図１と共通のステップは図１と共通
の符号を用いる。
態を図２及び図３を用いて説明する。図３は第２の実施
形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートであ
る。図３において、図１と共通のステップは図１と共通
の符号を用いる。
【００８３】図３において、１は放射線曝射要求ステッ
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。16は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を
用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示する
ステップ、51は画像更新方法を選択するステップ、52は
放射線検出器43の動作状況を確認するステップ、53は画
像処理状況を確認するステップである。
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。16は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を
用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示する
ステップ、51は画像更新方法を選択するステップ、52は
放射線検出器43の動作状況を確認するステップ、53は画
像処理状況を確認するステップである。
【００８４】放射線技師が患者42を整位して放射線曝射
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始し読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始し読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
【００８５】ここまでのステップで得られた放射線画像
及び暗電流画像は、それぞれキャプチャボード46に送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
また任意のタイミングで動作する画像処理状況確認ステ
ップ53は、表示装置48に表示された画像が第1回目の暗
電流撮影に基づいて発生したことを確認し、表示装置48
にその情報を表示する。
及び暗電流画像は、それぞれキャプチャボード46に送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
また任意のタイミングで動作する画像処理状況確認ステ
ップ53は、表示装置48に表示された画像が第1回目の暗
電流撮影に基づいて発生したことを確認し、表示装置48
にその情報を表示する。
【００８６】表示ステップ13と平行して、放射線検出器
43はステップ7〜ステップ12に示される暗電流撮影を行
い、それぞれの画像をキャプチャボード46に転送する。
4回の暗電流撮影が終了すると、画像処理装置47は4回分
の暗電流画像を平均し(ステップ14)、放射線画像との減
算処理を行う。4回分の暗電流画像で補正され感度補正
も行われた4次補正画像は、保存装置49に保存される(ス
テップ15)。さらに画像処理装置47は4次補正画像に対し
てトリミング処理、階調処理、鮮鋭化処理等を行い、4
次診断画像を作成し、この4次診断画像は表示装置48に
よって表示される(ステップ16)。
43はステップ7〜ステップ12に示される暗電流撮影を行
い、それぞれの画像をキャプチャボード46に転送する。
4回の暗電流撮影が終了すると、画像処理装置47は4回分
の暗電流画像を平均し(ステップ14)、放射線画像との減
算処理を行う。4回分の暗電流画像で補正され感度補正
も行われた4次補正画像は、保存装置49に保存される(ス
テップ15)。さらに画像処理装置47は4次補正画像に対し
てトリミング処理、階調処理、鮮鋭化処理等を行い、4
次診断画像を作成し、この4次診断画像は表示装置48に
よって表示される(ステップ16)。
【００８７】4次診断画像の表示方法は、表示更新方法
選択ステップ51によってユーザが選択可能である。第1
の表示方法は4次診断画像が作成され次第、直ちに表示
装置48に4次診断画像を表示する方法である。第2の表示
方法は、表示装置48上にステップ13で表示された1次診
断画像が表示されている場合にのみ、ステップ13の1次
診断画像をステップ16の4次診断画像によって更新する
方法である。これは表示装置48が、タッチパネルのよう
に画像表示機能と放射線撮影システム40の操作機能を兼
ねている場合に、放射線技師が次の撮影準備のために行
っているシステム操作を妨げないためである。なお第2
の表示方法では、表示装置48がシステム操作画面を表示
しているときは、4次診断画像を表示する代わりに画像
処理確認ステップ53を用いて、次の診断画像が完成した
ことを伝えるアイコン等の表示を行っても良い。また撮
影画像リストに画像補正及び画像処理の進行状況をアイ
コン等で表示しても良い。
選択ステップ51によってユーザが選択可能である。第1
の表示方法は4次診断画像が作成され次第、直ちに表示
装置48に4次診断画像を表示する方法である。第2の表示
方法は、表示装置48上にステップ13で表示された1次診
断画像が表示されている場合にのみ、ステップ13の1次
診断画像をステップ16の4次診断画像によって更新する
方法である。これは表示装置48が、タッチパネルのよう
に画像表示機能と放射線撮影システム40の操作機能を兼
ねている場合に、放射線技師が次の撮影準備のために行
っているシステム操作を妨げないためである。なお第2
の表示方法では、表示装置48がシステム操作画面を表示
しているときは、4次診断画像を表示する代わりに画像
処理確認ステップ53を用いて、次の診断画像が完成した
ことを伝えるアイコン等の表示を行っても良い。また撮
影画像リストに画像補正及び画像処理の進行状況をアイ
コン等で表示しても良い。
【００８８】更に、任意のタイミングで動作する放射線
検出器状況確認ステップ52によって、放射線検出器が暗
電流撮影中であるか休止中であるか確認することができ
る。確認された放射線検出器状況を基に、表示装置48に
放射線検出器43の状況を表示する。またもし放射線検出
器43が暗電流撮影を実行中の場合は、コントロールPC44
は放射線発生装置に対して曝射禁止命令を出す。この結
果、バックグランドで暗電流撮影を行っている最中に放
射線を曝射することがなくなるため、放射線撮影システ
ム40は安全に暗電流撮影を実行することができる。また
患者に対して誤って無効な放射線被曝を与えることもな
い。なお複数枚の暗電流画像撮影中に放射線曝射を禁止
することに関しては、暗電流撮影が放射線曝射前でも放
射線曝射後であっても有効な方法である。
検出器状況確認ステップ52によって、放射線検出器が暗
電流撮影中であるか休止中であるか確認することができ
る。確認された放射線検出器状況を基に、表示装置48に
放射線検出器43の状況を表示する。またもし放射線検出
器43が暗電流撮影を実行中の場合は、コントロールPC44
は放射線発生装置に対して曝射禁止命令を出す。この結
果、バックグランドで暗電流撮影を行っている最中に放
射線を曝射することがなくなるため、放射線撮影システ
ム40は安全に暗電流撮影を実行することができる。また
患者に対して誤って無効な放射線被曝を与えることもな
い。なお複数枚の暗電流画像撮影中に放射線曝射を禁止
することに関しては、暗電流撮影が放射線曝射前でも放
射線曝射後であっても有効な方法である。
【００８９】（第３の実施形態）本発明の第３の実施形
態を図２及び図４を用いて説明する。図４は第３の実施
形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートであ
る。図４において、図１と共通のステップは図１と共通
の符号を用いる。
態を図２及び図４を用いて説明する。図４は第３の実施
形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートであ
る。図４において、図１と共通のステップは図１と共通
の符号を用いる。
【００９０】図４において、１は放射線曝射要求ステッ
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。16は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を
用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示する
ステップ、17は第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流
画像の平均値を計算するステップ、18は第1回目の暗電
流画像と第2回目の暗電流画像の平均値を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップ、19
は第1回目から第3回目までの暗電流画像の平均値を計算
するステップ、20は第1回目から第3回目の暗電流画像の
平均値を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を
表示するステップである。
プ、2は放射線撮影に備えて放射線検出器を初期化する
ステップ、3は放射線が曝射されるステップ、4は放射線
画像を読み取るステップ、5は第1回目の暗電流撮影に備
えて放射線検出器を初期化するステップ、6は第1回目の
暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮
影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2
回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗
電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステッ
プ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11
は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初
期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取
るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流
補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4
回目までの暗電流画像を平均するステップ、15は第1回
目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップであ
る。16は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を
用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示する
ステップ、17は第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流
画像の平均値を計算するステップ、18は第1回目の暗電
流画像と第2回目の暗電流画像の平均値を用いて放射線
画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップ、19
は第1回目から第3回目までの暗電流画像の平均値を計算
するステップ、20は第1回目から第3回目の暗電流画像の
平均値を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を
表示するステップである。
【００９１】放射線技師が患者42を整位して放射線曝射
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始し読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
スイッチをONにすると(ステップ1)、放射線検出器の初
期化駆動が開始し読取サイクルを繰り返す(ステップ
2)。放射線発生装置41と放射線検出器43の準備が完了す
ると放射線曝射命令が発令される。この命令を受けて放
射線検出器43は蓄積を開始し、これに同期して放射線発
生装置41は放射線曝射を開始する(ステップ3)。放射線
曝射が終了すると放射線検出器43は蓄積を直ちに終了
し、蓄積された放射線画像を読み取る(ステップ4)。続
いて放射線検出器43は初期化駆動を開始し(ステップ
5)、放射線撮影と同じ回数だけ読取サイクルを繰り返し
た後に蓄積を開始する。放射線撮影と同じ蓄積時間が終
了すると、放射線検出器は蓄積された暗電流画像を読み
取る(ステップ6)。
【００９２】ここまでのステップで得られた放射線画像
及び暗電流画像は、キャプチャボード46にそれぞれ送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
またこれらの画像処理に時間を要する場合は、1次暗電
流補正画像に対してローパスフィルタ処理と間引きサン
プリングを行った縮小画像を利用しても良い。
及び暗電流画像は、キャプチャボード46にそれぞれ送信
され、画像処理装置47において(3)式に示した1次暗電流
補正が行われる。さらに画像処理装置47は1次暗電流補
正画像に対して(6)式に示した感度補正、トリミング処
理、階調処理及び鮮鋭化処理等を行い、得られた1次診
断画像は直ちに表示装置48に表示される(ステップ13)。
またこれらの画像処理に時間を要する場合は、1次暗電
流補正画像に対してローパスフィルタ処理と間引きサン
プリングを行った縮小画像を利用しても良い。
【００９３】表示ステップ13と平行して、放射線検出器
43はステップ7に示される初期化駆動とステップ8に示さ
れる第2回目の暗電流撮影ステップを実施する。そして
第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流画像の平均計算
を行い(ステップ17)、かつ放射線画像との減算処理、感
度補正及び診断用画像処理を行い、得られた2次診断画
像を表示装置48に表示する(ステップ18)。さらに放射線
検出器43はステップ9に示される初期化駆動とステップ1
0に示される第3回目の暗電流撮影ステップを実施する。
そして第1回目から第3回目の暗電流画像の平均計算を行
い(ステップ19)、かつ放射線画像との減算処理、感度補
正及び診断用画像処理を行い、得られた3次診断画像を
表示装置48に表示する(ステップ20)。さらに放射線検出
器43はステップ11に示される初期化駆動とステップ12に
示される第4回目の暗電流撮影ステップを実施する。そ
して第1回目から第4回目の暗電流画像の平均計算を行い
(ステップ14)、かつ放射線画像との減算処理及び感度補
正を施す。4回分の暗電流画像で補正された4次補正画像
は、保存装置49に保存される(ステップ15)。さらに画像
処理装置47は4次補正画像に対してトリミング処理、階
調処理、鮮鋭化処理等を行い、4次診断画像を作成す
る。そして4次診断画像は表示装置48によって最終画像
として表示される(ステップ16)。
43はステップ7に示される初期化駆動とステップ8に示さ
れる第2回目の暗電流撮影ステップを実施する。そして
第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流画像の平均計算
を行い(ステップ17)、かつ放射線画像との減算処理、感
度補正及び診断用画像処理を行い、得られた2次診断画
像を表示装置48に表示する(ステップ18)。さらに放射線
検出器43はステップ9に示される初期化駆動とステップ1
0に示される第3回目の暗電流撮影ステップを実施する。
そして第1回目から第3回目の暗電流画像の平均計算を行
い(ステップ19)、かつ放射線画像との減算処理、感度補
正及び診断用画像処理を行い、得られた3次診断画像を
表示装置48に表示する(ステップ20)。さらに放射線検出
器43はステップ11に示される初期化駆動とステップ12に
示される第4回目の暗電流撮影ステップを実施する。そ
して第1回目から第4回目の暗電流画像の平均計算を行い
(ステップ14)、かつ放射線画像との減算処理及び感度補
正を施す。4回分の暗電流画像で補正された4次補正画像
は、保存装置49に保存される(ステップ15)。さらに画像
処理装置47は4次補正画像に対してトリミング処理、階
調処理、鮮鋭化処理等を行い、4次診断画像を作成す
る。そして4次診断画像は表示装置48によって最終画像
として表示される(ステップ16)。
【００９４】表示ステップ18、表示ステップ20及び表示
ステップ16におけるN次診断画像の表示方法は、表示更
新方法選択ステップ51を用いてユーザが選択可能であ
る。第1の表示方法は最新の診断画像が作成され次第、
直ちに表示装置48に最新の診断画像を表示する方法であ
る。第2の表示方法は、表示装置48上に表示された(N-1)
次診断画像が表示されている場合にのみ、N次画像によ
って更新する方法である。これは表示装置48が、タッチ
パネルのように画像表示機能と放射線撮影システム40の
操作機能を兼ねている場合に、放射線技師が次の撮影準
備のために行うシステム操作を妨げないためである。第
3の表示方法は更新しない方法である。なお第2の表示方
法で表示装置48がシステム操作画面を表示しているとき
及び第3の表示方法では、最新の診断画像を表示する代
わりに逐次診断画像が完成したことを伝えるアイコン等
の表示を行っても良い。また撮影画像リストに画像補正
及び画像処理の進行状況をアイコン等で表示しても良
い。
ステップ16におけるN次診断画像の表示方法は、表示更
新方法選択ステップ51を用いてユーザが選択可能であ
る。第1の表示方法は最新の診断画像が作成され次第、
直ちに表示装置48に最新の診断画像を表示する方法であ
る。第2の表示方法は、表示装置48上に表示された(N-1)
次診断画像が表示されている場合にのみ、N次画像によ
って更新する方法である。これは表示装置48が、タッチ
パネルのように画像表示機能と放射線撮影システム40の
操作機能を兼ねている場合に、放射線技師が次の撮影準
備のために行うシステム操作を妨げないためである。第
3の表示方法は更新しない方法である。なお第2の表示方
法で表示装置48がシステム操作画面を表示しているとき
及び第3の表示方法では、最新の診断画像を表示する代
わりに逐次診断画像が完成したことを伝えるアイコン等
の表示を行っても良い。また撮影画像リストに画像補正
及び画像処理の進行状況をアイコン等で表示しても良
い。
【００９５】また、N次診断画像を得るための画像処理
とM(≠N)次診断画像（N,Mは自然数）を得るための画像
処理は、内容を変更することが可能である。例えばN＝
1、M＝4の場合を考える。1次診断画像は1回の暗電流撮
影に基づく画像であるため、4回の暗電流撮影に基づく4
次診断画像に比べるとノイズが多い。そこで1次診断画
像に施す画像処理は4次診断画像に施す画像処理と比べ
て、ノイズ平滑化処理を強くする、鮮鋭化処理を弱くす
る等の画像処理内容を変更することにより、1次診断画
像と4次診断画像の差を小さくするとともに診断に適す
る画像を提供する方法が考えられる。
とM(≠N)次診断画像（N,Mは自然数）を得るための画像
処理は、内容を変更することが可能である。例えばN＝
1、M＝4の場合を考える。1次診断画像は1回の暗電流撮
影に基づく画像であるため、4回の暗電流撮影に基づく4
次診断画像に比べるとノイズが多い。そこで1次診断画
像に施す画像処理は4次診断画像に施す画像処理と比べ
て、ノイズ平滑化処理を強くする、鮮鋭化処理を弱くす
る等の画像処理内容を変更することにより、1次診断画
像と4次診断画像の差を小さくするとともに診断に適す
る画像を提供する方法が考えられる。
【００９６】なお、上述した第１〜第３の本実施形態に
よる放射線撮像装置を構成する各機能、及び放射線撮像
方法を構成する各ステップは、コンピュータのＲＡＭや
ＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによ
って実現できる。このプログラム及び当該プログラムを
記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明
の実施形態に含まれる。
よる放射線撮像装置を構成する各機能、及び放射線撮像
方法を構成する各ステップは、コンピュータのＲＡＭや
ＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによ
って実現できる。このプログラム及び当該プログラムを
記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明
の実施形態に含まれる。
【００９７】具体的に、前記プログラムは、例えばＣＤ
−ＲＯＭのような記録媒体に記録し、或いは各種伝送媒
体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラム
を記録する記録媒体としては、ＣＤ−ＲＯＭ以外に、フ
レキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光
磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることが
できる。他方、上記プログラムの伝送媒体としては、プ
ログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するための
コンピュータネットワーク（ＬＡＮ、インターネットの
等のＷＡＮ、無線通信ネットワーク等）システムにおけ
る通信媒体（光ファイバ等の有線回線や無線回線等）を
用いることができる。
−ＲＯＭのような記録媒体に記録し、或いは各種伝送媒
体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラム
を記録する記録媒体としては、ＣＤ−ＲＯＭ以外に、フ
レキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光
磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることが
できる。他方、上記プログラムの伝送媒体としては、プ
ログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するための
コンピュータネットワーク（ＬＡＮ、インターネットの
等のＷＡＮ、無線通信ネットワーク等）システムにおけ
る通信媒体（光ファイバ等の有線回線や無線回線等）を
用いることができる。
【００９８】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムを実行することにより上述の実施形態の機能が実現さ
れるだけでなく、そのプログラムがコンピュータにおい
て稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）ある
いは他のアプリケーションソフト等と共同して上述の実
施形態の機能が実現される場合や、供給されたプログラ
ムの処理の全てあるいは一部がコンピュータの機能拡張
ボードや機能拡張ユニットにより行われて上述の実施形
態の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発
明の実施形態に含まれる。
ムを実行することにより上述の実施形態の機能が実現さ
れるだけでなく、そのプログラムがコンピュータにおい
て稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）ある
いは他のアプリケーションソフト等と共同して上述の実
施形態の機能が実現される場合や、供給されたプログラ
ムの処理の全てあるいは一部がコンピュータの機能拡張
ボードや機能拡張ユニットにより行われて上述の実施形
態の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発
明の実施形態に含まれる。
【００９９】例えば、図５は、一般的なパーソナルユー
ザ端末装置の内部構成を示す模式図である。この図５に
おいて、１２００はコンピュータＰＣである。ＰＣ１２
００は、ＣＰＵ１２０１を備え、ＲＯＭ１２０２または
ハードディスク（ＨＤ）１２１１に記憶された、あるい
はフレキシブルディスクドライブ（ＦＤ）１２１２より
供給されるデバイス制御ソフトウェアを実行し、システ
ムバス１２０４に接続される各デバイスを総括的に制御
する。
ザ端末装置の内部構成を示す模式図である。この図５に
おいて、１２００はコンピュータＰＣである。ＰＣ１２
００は、ＣＰＵ１２０１を備え、ＲＯＭ１２０２または
ハードディスク（ＨＤ）１２１１に記憶された、あるい
はフレキシブルディスクドライブ（ＦＤ）１２１２より
供給されるデバイス制御ソフトウェアを実行し、システ
ムバス１２０４に接続される各デバイスを総括的に制御
する。
【０１００】
【発明の効果】本発明によれば、最終的な画像を得るに
先立ち、放射線撮影後直ちにある程度の補正が施された
画像を得ることができ、確認を可能とし、ユーザのワー
クフローを改善すると共に、再撮影に要する待ち時間を
大幅に短縮することができる。
先立ち、放射線撮影後直ちにある程度の補正が施された
画像を得ることができ、確認を可能とし、ユーザのワー
クフローを改善すると共に、再撮影に要する待ち時間を
大幅に短縮することができる。
【０１０１】また、本発明によれば、被写体像の撮影後
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であるため、撮影画像の正確性
を確認することが可能である。
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であるため、撮影画像の正確性
を確認することが可能である。
【０１０２】更に、本発明によれば、被写体像の撮影後
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であり、且つ表示を更新する方
法を選択可能であるため、放射線撮影システムの操作を
妨げることがなく、無駄のない操作が可能となる。
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であり、且つ表示を更新する方
法を選択可能であるため、放射線撮影システムの操作を
妨げることがなく、無駄のない操作が可能となる。
【０１０３】更に、本発明によれば、被写体像の撮影後
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であり、且つユーザは画像処理
状況を知ることができるため、ユーザの誤操作が防止さ
れる。
に直ちに簡略補正画像を表示できると共に精度の高い補
正画像を後から表示可能であり、且つユーザは画像処理
状況を知ることができるため、ユーザの誤操作が防止さ
れる。
【図１】第１の実施形態の放射線撮影方法を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図２】本発明の放射線撮影装置の概略構成を示す模式
図である。
図である。
【図３】第２の実施形態の放射線撮影方法を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図４】第３の実施形態の放射線撮影方法を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図５】一般的なパーソナルユーザ端末装置の内部構成
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図６】センサ読み取り動作原理を説明する模式図であ
る。
る。
【図７】MIS型センサの構成図である。
【図８】光電変換素子のエネルギーバンド図である。
【図９】センサ駆動を示すフローチャートである。
【図１０】放射線曝射とセンサ駆動のタイミングを説明
するタイミングチャートである。
するタイミングチャートである。
４０ 放射線撮影システム ４１ 放射線発生装置 ４２ 患者 ４３ 放射線検出器 ４４ コントロールPC ４５ バスライン ４６ キャプチャボード ４７ 画像処理装置 ４８ 表示装置 ４９ 保存装置 ７１ 光電変換部 ７２ 薄膜トランジスタ(TFT) ７３ バイアス線 ７４ ゲート線 ７５ 信号線 ７６ 読み取りＩＣ ７７ アナログ-デジタル変換器(A/D) ７８ ゲート駆動装置 ８２ 上部電極(D電極) ８３ n+ドープ層 ８４ a-Si真性半導体i層 ８５ 絶縁層 ８６ 下部電極(G電極)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｔ 1/20 Ｈ０４Ｎ 5/225 Ｃ Ｈ０４Ｎ 5/225 5/32 5/32 7/18 Ｌ 7/18 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ａ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 GG19 JJ05 LL11 4C093 AA01 AA07 AA16 EB12 EB13 FA32 FA59 FC19 5C022 AA08 AB37 AC42 5C024 AX12 BX02 CX32 GX09 5C054 AA01 AA04 CA02 CC04 ED11 EJ05 HA12
Claims (21)
- 【請求項１】 被写体像を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段から得られた画像補正データを用いて、前
記被写体像の画像データを補正する補正手段と、 前記補正手段による前記補正が完了する前に、前記補正
による所定の途中段階で前記画像データに基づく画像を
表示する表示手段とを含むことを特徴とする撮像装置。 - 【請求項２】 前記画像補正データは、前記撮像手段の
所定の特性であることを特徴とする請求項１に記載の撮
像装置。 - 【請求項３】 前記所定の特性は暗電流特性であること
を特徴とする請求項２に記載の撮像装置。 - 【請求項４】 前記画像補正データは、前記所定の途中
段階に相当する第１の補正を施すための第１の補正デー
タと、前記第１の補正に続き前記画像データを補正する
第２の補正を施すための第２の補正データとからなり、 前記表示手段は、前記第１の補正のなされた前記画像を
表示した後に、前記第２の補正のなされた前記画像を表
示することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に
記載の撮像装置。 - 【請求項５】 前記第２の補正データは、前記第１の補
正データよりも回数の多い測定に基づいて得られるもの
であることを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。 - 【請求項６】 撮像手段により被写体像を撮像するステ
ップと、 前記撮像手段から所定の画像補正データを得るステップ
と、 前記画像補正データを用いて、前記被写体像の前記画像
データを補正するステップと、 前記補正が完了する前に、前記補正による所定の途中段
階で前記画像データに基づく画像を表示するステップと
を含むことを特徴とする撮像方法。 - 【請求項７】 前記画像補正データは、前記撮像手段の
所定の特性であることを特徴とする請求項６に記載の撮
像方法。 - 【請求項８】 前記所定の特性は暗電流特性であること
を特徴とする請求項７に記載の撮像方法。 - 【請求項９】 前記画像補正データは、前記所定の途中
段階に相当する第１の補正を施すための第１の補正デー
タと、前記第１の補正に続き前記画像データを補正する
第２の補正を施すための第２の補正データとからなり、 前記第１の補正のなされた前記画像を表示する前記ステ
ップの後に、 前記第２の補正データに基づき前記画像データに第２の
補正を施すステップと、 前記第２の補正のなされた画像を表示するステップとを
更に含むことを特徴とする請求項６〜８のいずれか１項
に記載の撮像方法。 - 【請求項１０】 前記第２の補正データは、前記第１の
補正データよりも回数の多い測定に基づいて得られるも
のであることを特徴とする請求項９に記載の撮像方法。 - 【請求項１１】 被写体からの放射線を放射線検出器を
用いて検出し、前記被写体の放射線画像を取得するステ
ップと、 前記放射線検出器の特性を表す第1の特性データを取得
するステップと、 前記第1の特性データを用いて前記放射線画像に第１の
補正を施すステップと、 補正された前記放射線画像を表示するステップと、 前記放射線検出器の特性を表し、前記第1の特性データ
よりも回数の多い測定に基づく第２の特性データを取得
するステップと、 前記第２の特性データを用いて前記放射線画像を第２の
補正を施すステップとを含むことを特徴とする放射線撮
像方法。 - 【請求項１２】 前記放射線検出器の特性は暗電流特性
であることを特徴とする請求項１１に記載の放射線撮像
方法。 - 【請求項１３】 前記第２の補正を施す前記ステップの
後、 補正された前記放射線画像を表示するステップを更に含
むことを特徴とする請求項１１または１２に記載の放射
線撮像方法。 - 【請求項１４】 前記第２の補正の施された前記放射線
画像を表示する方法を、前記第２の補正を行う前に予め
選択するステップを更に含むことを特徴とする請求項１
１〜１３のいずれか１項に記載の放射線撮像方法。 - 【請求項１５】 前記第２の補正を行う間における前記
放射線画像の画像処理状況を確認するステップを更に含
むことを特徴とする請求項１１〜１４のいずれか１項に
記載の放射線撮像方法。 - 【請求項１６】 放射線発生装置から発生した放射線を
被写体に照射するステップと、前記被写体を透過した放
射線を放射線検出器を用いて撮影し、前記被写体の放射
線画像を取得するステップと、前記放射線検出器の暗電
流特性を複数回取得するステップと、取得した前記暗電
流特性のデータを用いて前記放射線画像を補正するステ
ップと、前記放射線検出器の動作状況を確認するステッ
プと、前記補正された放射線画像を表示するステップと
を含むことを特徴とする放射線撮像方法。 - 【請求項１７】 前記放射線検出器の動作状況に基づき
前記暗電流特性データを取得している期間中には、前記
放射線発生装置の放射線発生を禁止することを特徴とす
る請求項１６に記載の放射線撮像方法。 - 【請求項１８】 コンピュータを、請求項１〜５のいず
れか１項に記載の撮像装置の前記各手段として機能させ
るためのプログラムを記録したことを特徴とするコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体。 - 【請求項１９】 請求項６〜８のいずれか１項に記載の
撮像方法の前記各ステップをコンピュータに実行させる
ためのプログラムを記録したことを特徴とするコンピュ
ータ読み取り可能な記録媒体。 - 【請求項２０】 コンピュータを、請求項１〜５のいず
れか１項に記載の撮像装置の前記各手段として機能させ
るためのプログラム。 - 【請求項２１】 請求項６〜８のいずれか１項に記載の
撮像方法の前記各ステップをコンピュータに実行させる
ためのプログラム。
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|---|---|---|---|
| JP2001169876A JP4829426B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | 放射線撮像装置及び方法、並びに記録媒体及びプログラム |
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| JP2001169876A JP4829426B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | 放射線撮像装置及び方法、並びに記録媒体及びプログラム |
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| JP2010122806A Division JP5127881B2 (ja) | 2010-05-28 | 2010-05-28 | 放射線撮像装置及びその方法、並びに記録媒体及びプログラム |
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|---|---|
| JP2002369084A true JP2002369084A (ja) | 2002-12-20 |
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| JP2001169876A Expired - Fee Related JP4829426B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | 放射線撮像装置及び方法、並びに記録媒体及びプログラム |
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