JP2002368592A - サンプル・ホールド回路 - Google Patents

サンプル・ホールド回路

Info

Publication number
JP2002368592A
JP2002368592A JP2001175950A JP2001175950A JP2002368592A JP 2002368592 A JP2002368592 A JP 2002368592A JP 2001175950 A JP2001175950 A JP 2001175950A JP 2001175950 A JP2001175950 A JP 2001175950A JP 2002368592 A JP2002368592 A JP 2002368592A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
capacitor
node
output
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001175950A
Other languages
English (en)
Inventor
Sei Shirasaki
聖 白崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Oki Micro Design Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP2001175950A priority Critical patent/JP2002368592A/ja
Priority to US09/975,321 priority patent/US6628148B2/en
Publication of JP2002368592A publication Critical patent/JP2002368592A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/026Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 バッファアンプの入力側の寄生容量による誤
差がなく、かつ消費電流が大きくならないサンプル・ホ
ールド回路を提供する。 【解決手段】 切替信号SWが“H”の時、TG3a,
5bがオンとなり、入力電圧INはTG3aを介してキ
ャパシタ4aと差動入力部10aに与えられる。この
時、差動入力部10bはTG5bを介して出力部20と
接続されてボルテージ・フォロワ回路が構成され、キャ
パシタ4bに保持されている電圧が、出力電圧OUTと
して出力端子7から出力される。切替信号SWが“L”
になると、TG3b,5aがオンとなり、差動入力部1
0aと出力部20によるボルテージ・フォロワ回路が構
成され、キャパシタ4aと差動入力部10aの入力側に
保持されていた電圧が、出力電圧OUTとして出力端子
7から出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、タイミング信号に
従って入力電圧を保持して出力するサンプル・ホールド
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】サンプル・ホールド回路は、例えば、液
晶パネルの薄膜トランジスタ駆動回路等に使用されるも
ので、図2(a),(b)は、従来のサンプル・ホール
ド回路の構成例を示す回路図である。
【0003】図2(a)のサンプル・ホールド回路は、
パラレル2ラッチ/1バッファアンプ方式のもので、入
力電圧INが与えられる入力端子1と切替信号SWが与
えられる制御端子2を有している。入力端子1には、ト
ランスファ・ゲート(以下、「TG」という)3a,3
bを介して、入力電圧INを保持するためのキャパシタ
4a,4bが接続されている。キャパシタ4a,4b
は、それぞれTG5a,5bを介して、電圧増幅率1の
バッファアンプ(以下、「AMP」という)6の入力側
に接続されている。そして、AMP6の出力側が出力端
子7に接続されている。一方、制御端子2の切替信号S
Wは、TG3a,5bに制御信号として与えられると共
に、インバータ8で反転されてTG3b,5aに制御信
号として与えられるようになっている。なお、TG3
b,5a,5bは、すべてTG3aと同じ構成である。
【0004】このようなサンプル・ホールド回路では、
切替信号SWがレベル“H”の時、TG3a,5bがオ
ン状態となり、TG3b,5aがオフ状態となる。これ
により、入力端子1の入力電圧INは、TG3aを通っ
てキャパシタ4aに充電される。一方、キャパシタ4b
に充電されている電圧は、TG5bを通ってAMP6に
与えられ、このAMP6から出力端子7に出力電圧OU
Tとして出力される。
【0005】次に、切替信号SWがレベル“L”になる
と、TG3a,5bがオフ状態となり、TG3b,5a
がオン状態となる。これにより、入力端子1の入力電圧
INは、TG3bを通ってキャパシタ4bに充電され
る。一方、キャパシタ4aに充電されている電圧は、T
G5aを通ってAMP6に与えられ、このAMP6から
出力端子7に出力電圧OUTとして出力される。
【0006】このように、切替信号SWに従って入力電
圧INが2つのキャパシタ4a,4bに交互に充電さ
れ、充電された電圧がAMP6を介して出力電圧OUT
として出力される。
【0007】一方、図2(b)のサンプル・ホールド回
路は、パラレル2ラッチ/2バッファアンプ方式のもの
で、図2(a)におけるTG5a,5bの後段のAMP
6を削除すると共に、キャパシタ4a,4bとTG5
a,5bの間に、それぞれAMP6a,6bを設けてい
る。その他の構成は、図2(a)と同様である。
【0008】このようなサンプル・ホールド回路では、
切替信号SWが“H”の時、入力端子1の入力電圧IN
が、TG3aを通ってキャパシタ4aに充電される。一
方、キャパシタ4bに充電されている電圧は、AMP6
bを介してTG5bに与えられ、このTGbを通って出
力端子7に出力電圧OUTとして出力される。
【0009】次に、切替信号SWが“L”になると、入
力端子1の入力電圧INは、TG3bを通ってキャパシ
タ4bに充電される。一方、キャパシタ4aに充電され
ている電圧は、AMP6aを介してTG5aに与えら
れ、このTG5aを通って出力端子7に出力電圧OUT
として出力される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図2
(a),(b)の従来のサンプル・ホールド回路では、
それぞれ次のような課題があった。
【0011】図2(a)の回路では、例えば、切替信号
SWが“H”から“L”に切り替わったとき、TG5a
がオン状態となってキャパシタ4aがAMP6の入力側
に接続される。この時、AMP6の入力側の寄生容量
は、その直前の出力電圧OUTと同じ電圧に充電されて
いる。このため、AMP6の入力電圧は、寄生容量とこ
れに充電されている電荷に影響され、キャパシタ4aに
保持されていた当初の電圧から変化し、誤差が生じてし
まう。
【0012】一方、図2(b)の回路では、TG3a,
3bを介してキャパシタ4a,4bに与えられる電圧
は、それぞれAMP6a,6bにも同時に入力されるの
で、図2(a)の回路のような誤差を生ずることはな
い。しかし、2つのAMP6a,6bを必要とするの
で、消費電流が大きくなるという課題があった。
【0013】本発明は、前記従来技術が持っていた課題
を解決し、AMPの入力側の寄生容量による誤差がな
く、かつ消費電流が大きくならないサンプル・ホールド
回路を提供するものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の内の第1の発明は、サンプル・ホールド回
路において、切替信号で制御されて入力電圧を第1また
は第2のノードに伝達する第1のスイッチと、前記第1
及び第2のノードに伝達された前記入力電圧をそれぞれ
保持する第1及び第2のキャパシタと、前記第1のノー
ドと出力端子の電位差に対応する電圧を生成する第1の
差動入力部と、前記第2のノードと前記出力端子の電位
差に対応する電圧を生成する第2の差動入力部と、前記
切替信号で制御され、前記入力電圧が前記第1のノード
に伝達されているときに前記第2の差動入力部で生成さ
れた電圧を第3のノードに伝達し、該入力電圧が前記第
2のノードに伝達されているときには前記第1の差動入
力部で生成された電圧を該第3のノードに伝達する第2
のスイッチと、前記第3のノードの電圧に応じた電圧を
前記出力端子に出力する出力部とを備えている。
【0015】第1の発明によれば、以上のようにサンプ
ル・ホールド回路を構成したので、次のような作用が行
われる。
【0016】第1のスイッチを介して入力電圧が第1の
ノードに伝達されると、この入力電圧が第1のキャパシ
タと第1の差動入力部に保持される。一方、第2のキャ
パシタと第2の差動入力部に保持されていた電圧は、第
2のスイッチを介して第3のノードに伝達され、出力部
によって出力端子に出力される。
【0017】また、切替信号によって第1及び第2のス
イッチが切り替えられ、第1の第1のスイッチを介して
入力電圧が第2のノードに伝達されると、この入力電圧
が第2のキャパシタと第2の差動入力部に保持される。
一方、第1のキャパシタと第1の差動入力部に保持され
ていた電圧は、第2のスイッチを介して第3のノードに
伝達され、出力部によって出力端子に出力される。
【0018】第2の発明は、切替信号で制御されて入力
電圧を第1または第2のノードに伝達するスイッチと、
前記第1及び第2のノードに伝達された前記入力電圧を
それぞれ保持する第1及び第2のキャパシタと、前記切
替信号で制御され、前記入力電圧が前記第1のノードに
伝達されているときに前記第2のキャパシタに保持され
た電圧を出力端子に出力し、該入力電圧が前記第2のノ
ードに伝達されているときには前記第1のキャパシタに
保持されている電圧を該出力端子に出力するAMPとを
備えたサンプル・ホールド回路において、このAMPを
次のように構成している。
【0019】即ち、このAMPは、切替信号でオン/オ
フ制御されるトランジスタと第1のキャパシタの電圧で
導通状態が制御されるトランジスタが直列に接続された
第1の非反転入力部と、前記第1の非反転入力部と並列
に接続され、前記切替信号で該第1の非反転入力部とは
相補的にオン/オフ制御されるトランジスタと前記第2
のキャパシタの電圧で導通状態が制御されるトランジス
タが直列に接続された第2の非反転入力部と、前記第1
及び第2の非反転入力部と並列に接続され、出力端子の
電圧で導通状態が制御されるトランジスタを有する反転
入力部を有している。
【0020】更に、このAMPは、前記第1または第2
の非反転入力部に流れる電流と前記反転入力部に流れる
電流の差に応じた電圧を出力する差動電圧生成部と、前
記差動電圧生成部から出力される電圧によって導通状態
が制御され、前記切替信号でオン状態に制御された前記
第1または第2の非反転入力部に接続される前記第1ま
たは第2のキャパシタの電圧を、前記出力端子に出力す
るトランジスタを有する出力部を備えている。
【0021】第3の発明は、第2の発明におけるAMP
は、常時オン状態に設定されたトランジスタを反転入力
部のトランジスタに直列に接続している。
【0022】第2、第3の発明によれば、次のような作
用が行われる。スイッチを介して入力電圧が第1のノー
ドに伝達されると、この入力電圧が第1のキャパシタに
保持される。このとき、第2のキャパシタに保持されて
いる電圧が、AMPから出力端子に出力される。次に、
スイッチを介して入力電圧が第2のノードに伝達される
と、この入力電圧が第2のキャパシタに保持される。こ
のとき第1のキャパシタに保持されている電圧が、AM
Pから出力端子に出力される。
【0023】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1は、本発
明の第1の実施形態を示すサンプル・ホールド回路の回
路図であり、図2中の要素と共通の要素には共通の符号
が付されている。
【0024】このサンプル・ホールド回路は、入力電圧
INが与えられる入力端子1と切替信号SWが与えられ
る制御端子2を有している。入力端子1は、第1のスイ
ッチ(例えば、TG)3a,3bを介して、それぞれノ
ードN1,N2に接続されている。ノードN1,N2と
接地電位GNDの間には、入力電圧INを保持するため
のキャパシタ4a,4bが接続されている。ノードN
1,N2には、また、差動入力部10a,10bの非反
転入力端子(+)が接続されている。
【0025】差動入力部10a,10bは、いずれも同
一の構成で、非反転入力端子と反転入力端子(−)の電
位差に対応する電圧を出力するものである。差動入力部
10aは、PチャネルMOSトランジスタ(以下、「P
MOS」という)11,12を有しており、これらのP
MOS11,12のゲートが、それぞれ非反転入力端子
と反転入力端子に接続されている。
【0026】PMOS11,12のソースは、PMOS
13のドレインに接続され、このPMOS13のソース
が電源電位VDDに接続されている。PMOS13のゲ
ートには、このPMOS13に流れる電流が一定の値に
なるように、バイアス電圧VBが与えられている。
【0027】PMOS11,12のドレインは、それぞ
れNチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」
という)14,15を介して接地電位GNDに接続され
ている。NMOS14,15のゲートは、PMOS12
のドレインに共通接続されている。そして、PMOS1
1のドレインから、非反転入力端子と反転入力端子の電
位差に対応した電圧が出力されるようになっている。
【0028】差動入力部10a,10bの出力側は、そ
れぞれ第2のスイッチ(例えば、TG)5a,5bを介
してノードN3に共通接続され、このノードN3に出力
部20のNMOS21のゲートが接続されている。NM
OS21のソースとドレインは、接地電位GNDと出力
端子7にそれぞれ接続されている。出力端子7と電源電
位VDDの間には、PMOS22が接続され、このPM
OS22のドレインには、バイアス電圧VBが与えられ
ている。また、NMOS21のドレインとゲートの間に
は、位相特性補正用のキャパシタ23が接続されてい
る。
【0029】更に、制御端子2の切替信号SWは、TG
3a,5bの制御信号として与えられると共に、インバ
ータ8で反転されてTG3b,5aの制御信号として与
えられるようになっている。
【0030】次に、動作を説明する。切替信号SWが
“H”の時、TG3a,5bがオン状態となり、TG3
b,5aがオフ状態となる。これにより、入力端子1に
与えられた入力電圧INは、TG3aを通ってキャパシ
タ4aに充電されると共に、差動入力部10aの非反転
入力端子に与えられる。差動入力部10aの反転入力端
子には、出力端子7の出力電圧OUTが与えられるの
で、この差動入力部10aから入力電圧INと出力電圧
OUTの差の電圧が出力される。しかし、TG5aがオ
フ状態となっているので、ノードN3には出力されな
い。
【0031】一方、TG5bがオン状態となることによ
り、差動入力部10bと出力部20が接続され、電圧増
幅率1のボルテージ・フォロワ回路が構成される。これ
により、キャパシタ4bに充電されている電圧が、出力
電圧OUTとして出力端子7に出力される。
【0032】次に、切替信号SWが“L”になると、T
G3a,5bがオフ状態となり、TG3b,5aがオン
状態となる。これにより、入力端子1に与えられた入力
電圧INは、TG3bを通ってキャパシタ4bに充電さ
れると共に、差動入力部10bの非反転入力端子に与え
られる。このとき、TG5bはオフ状態となっているの
で、入力電圧INは出力端子7には出力されない。
【0033】一方、TG5aがオン状態となるので、差
動入力部10aと出力部20が接続されてボルテージ・
フォロワ回路が構成される。これにより、キャパシタ4
aに充電されている電圧が、出力電圧OUTとして出力
端子7に出力される。
【0034】以上のように、この第1の実施形態のサン
プル・ホールド回路は、入力電圧INを保持するキャパ
シタ4a,4bに、それぞれ差動入力部10a,10b
の入力側を接続している。従って、入力電圧INは、T
G3a,3bを介してキャパシタ4a,4bと差動入力
部10a,10bの入力容量に同時に充電される。これ
により、差動入力部10a,10bの入力容量の影響に
よる誤差の発生を回避することができる。
【0035】更に、このサンプル・ホールド回路は、差
動入力部10a,10bの出力側を、それぞれTG5
a,5bを介して共通の出力部20に接続するように構
成している。通常、AMPの出力部に流れる電流は、差
動入力部の電流に比べて1桁以上大きいので、この1個
の出力部20で共用することにより、消費電流を低減す
ることができる。
【0036】(第2の実施形態)図3は、本発明の第2
の実施形態を示すサンプル・ホールド回路の回路図であ
り、図1中の要素と共通の要素には共通の符号が付され
ている。
【0037】このサンプル・ホールド回路は、入力電圧
INが与えられる入力端子1と切替信号SWが与えられ
る制御端子2を有し、この入力端子1は、スイッチ(例
えば、TG)3a,3bを介して、ノードN1,N2に
接続されている。ノードN1,N2と接地電位GNDの
間には、キャパシタ4a,4bが接続され、これらのノ
ードN1,N2には、AMP30の第1及び第2の非反
転入力部が接続されている。
【0038】即ち、ノードN1,N2には、AMP30
のPMOS31a,31bのゲートがそれぞれ接続され
ている。PMOS31a,31bのソースは、それぞれ
スイッチ用のPMOS32a,32bを介してノードN
31に接続され、このノードN31が、定電流回路を構
成するPMOS33を介して電源電位VDDに接続され
ている。PMOS31a,31bのドレインは、ノード
N32に接続され、このノードN32が、NMOS34
を介して接地電位GNDに接続されている。
【0039】更に、ノードN31には、PMOS35を
介してPMOS36のソースが接続されている。PMO
S35のゲートは接地電位GNDに接続され、常時オン
状態となるように設定されている。PMOS36のゲー
トは出力端子7に接続され、ドレインはNMOS37の
ドレインとNMOS34,37のゲートに共通接続され
ている。これらのPMOS31a,31b,33,36
と、NMOS34,37は、AMP30における差動入
力部を構成している。
【0040】一方、ノードN32には、AMP30の出
力部を構成するNMOS38のゲートが接続されてい
る。NMOS38のソースは接地電位GNDに接続さ
れ、ドレインは出力端子7に接続されている。出力端子
7は、定電流回路を構成するPMOS39を介して電源
電位VDDに接続されている。
【0041】更に、制御端子2の切替信号SWは、TG
3aの制御信号として与えられると共に、PMOS32
aのゲートに与えられるようになっている。また、切替
信号SWはインバータ8で反転され、TG3bの制御信
号として与えられると共に、PMOS32bのゲートに
与えられるようになっている。
【0042】次に、動作を説明する。切替信号SWが
“H”の時、TG3aとPMOS32bがオン状態とな
り、TG3bとPMOS32aがオフ状態となる。これ
により、PMOS31a,31bの内の、PMOS31
bのゲートが、AMP30の非反転入力端子となり、キ
ャパシタ4bに保持された電圧が、出力電圧OUTとし
て出力端子7に出力される。一方、入力端子1に与えら
れた入力電圧INは、TG3aを通ってキャパシタ4a
とPMOS31aのゲートに与えられる。これにより、
キャパシタ4aとPMOS31aの入力容量(ゲート容
量)は、入力電圧INに充電される。
【0043】次に、切替信号SWが“L”になると、T
G3aとPMOS32bがオフ状態となり、TG3bと
PMOS32aがオン状態となる。これにより、PMO
S31a,31bの内、PMOS31aのゲートが、A
MP30の非反転入力端子となり、キャパシタ4aに保
持された電圧が、出力電圧OUTとして出力端子7に出
力される。一方、入力端子1に与えられた入力電圧IN
は、TG3bを通ってキャパシタ4bとPMOS31b
のゲートに与えられる。従って、キャパシタ4bとPM
OS31bの入力容量は、入力電圧INに充電される。
【0044】以上のように、この第2の実施形態のサン
プル・ホールド回路は、入力電圧INを保持するキャパ
シタ4a,4bに、それぞれAMP30のPMOS31
a,31bのゲートを接続している。これにより、入力
電圧INは、キャパシタ4a,4bとPMOS31a,
31bの入力容量に同時に保持されるので、AMP30
の入力容量の影響による誤差の発生を、回避することが
できる。
【0045】更に、このサンプル・ホールド回路は、1
組のAMP30で、キャパシタ4a,4bに保持された
電圧を電圧増幅率1で増幅して出力するようにしている
ので、回路構成の簡素化と消費電流の低減が可能にな
る。
【0046】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次のようなものがある。
【0047】(a) このサンプル・ホールド回路は、
液晶パネルの薄膜トランジスタ駆動回路に限定されず、
アナログ・ディジタル変換器等において、アナログ電圧
をタイミング信号によって一旦保持する回路として適用
可能である。
【0048】(b) 図1中の差動入力部10a,10
bと出力部20によるAMP、及び図3中のAMP30
は、電圧増幅率1のボルテージ/フォロワ回路である
が、その他の増幅率を有するAMPでも同様に適用可能
である。
【0049】(c) 図3中のAMP30において、各
トランジスタの特性によっては、レベル補正用のPMO
S35を削除することができる。
【0050】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、第1及び第2のキャパシタに接続されて、入
力電圧が与えられる第1及び第2の差動入力部を有して
いる。これにより、差動入力部の入力容量は、入力電圧
保持用のキャパシタと同じ電位に充電されるので、出力
電圧がこの入力容量によって影響されることがない。ま
た、第1及び第2の差動入力部には、第2のスイッチを
介して共通の出力部が接続されているので、2組のAM
Pを使用するものに比べて、消費電流を低減することが
できる。
【0051】第2の発明によれば、第1のキャパシタの
電圧で制御されるトランジスタを有する第1の非反転入
力部と、第2のキャパシタの電圧で制御されるトランジ
スタを有する第2の非反転入力部と、これらに並列に接
続された反転入力部が設けられたAMPを備えている。
これにより、第1及び第2の非反転入力部のトランジス
タの入力容量は、入力電圧保持用の第1及び第2のキャ
パシタと同じ電位に充電されるので、AMPの出力電圧
が入力容量によって影響されることがない。また、第1
及び第2の反転入力部は、制御電圧でオン/オフ制御さ
れるトランジスタが直列に接続されているので、常に1
組のAMPが構成され、第1の発明よりも更に消費電流
を低減することができる。
【0052】第3の発明によれば、AMPの反転入力部
のトランジスタに、常時オン状態に設定されたトランジ
スタが直列に接続されている。これにより、非反転入力
部におけるオン/オフ制御用のトランジスタによるレベ
ル差が補正され、安定した差動増幅動作が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示すサンプル・ホー
ルド回路の回路図である。
【図2】従来のサンプル・ホールド回路の構成例を示す
回路図である。
【図3】本発明の第2の実施形態を示すサンプル・ホー
ルド回路の回路図である。
【符号の説明】
1 入力端子 2 制御端子 3a,3b,5a,5b TG(トランスファ・ゲー
ト) 4a,4b キャパシタ 7 出力端子 10a,10b 差動入力部 20 出力部 30 AMP(バッファアンプ) 31a,31b,32a,32b,35,36 PM
OS 34,37,38 NMOS
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J055 AX12 AX37 BX17 CX30 DX22 DX43 EX02 EY10 EY21 EZ00 EZ03 EZ06 EZ08 EZ09 FX18 GX01 GX02

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 切替信号で制御されて入力電圧を第1ま
    たは第2のノードに伝達する第1のスイッチと、 前記第1及び第2のノードに伝達された前記入力電圧を
    それぞれ保持する第1及び第2のキャパシタと、 前記第1のノードと出力端子の電位差に対応する電圧を
    生成する第1の差動入力部と、 前記第2のノードと前記出力端子の電位差に対応する電
    圧を生成する第2の差動入力部と、 前記切替信号で制御され、前記入力電圧が前記第1のノ
    ードに伝達されているときに前記第2の差動入力部で生
    成された電圧を第3のノードに伝達し、該入力電圧が前
    記第2のノードに伝達されているときには前記第1の差
    動入力部で生成された電圧を該第3のノードに伝達する
    第2のスイッチと、 前記第3のノードの電圧に応じた電圧を前記出力端子に
    出力する出力部とを、 備えたことを特徴とするサンプル・ホールド回路。
  2. 【請求項2】 切替信号で制御されて入力電圧を第1ま
    たは第2のノードに伝達するスイッチと、前記第1及び
    第2のノードに伝達された前記入力電圧をそれぞれ保持
    する第1及び第2のキャパシタと、前記切替信号で制御
    され、前記入力電圧が前記第1のノードに伝達されてい
    るときに前記第2のキャパシタに保持された電圧を出力
    端子に出力し、該入力電圧が前記第2のノードに伝達さ
    れているときには前記第1のキャパシタに保持されてい
    る電圧を該出力端子に出力するバッファアンプとを備え
    たサンプル・ホールド回路において、 前記バッファアンプは、 前記切替信号でオン/オフ制御されるトランジスタと前
    記第1のキャパシタの電圧で導通状態が制御されるトラ
    ンジスタが直列に接続された第1の非反転入力部と、 前記第1の非反転入力部と並列に接続され、前記切替信
    号で該第1の非反転入力部とは相補的にオン/オフ制御
    されるトランジスタと前記第2のキャパシタの電圧で導
    通状態が制御されるトランジスタが直列に接続された第
    2の非反転入力部と、 前記第1及び第2の非反転入力部と並列に接続され、出
    力端子の電圧で導通状態が制御されるトランジスタを有
    する反転入力部と、 前記第1または第2の非反転入力部に流れる電流と前記
    反転入力部に流れる電流の差に応じた電圧を出力する差
    動電圧生成部と、 前記差動電圧生成部から出力される電圧によって導通状
    態が制御され、前記切替信号でオン状態に制御された前
    記第1または第2の非反転入力部に接続される前記第1
    または第2のキャパシタの電圧を、前記出力端子に出力
    するトランジスタを有する出力部とを、 備えたことを特徴とするサンプル・ホールド回路。
  3. 【請求項3】 前記バッファアンプは、常時オン状態に
    設定されたトランジスタを前記反転入力部のトランジス
    タに直列に接続したことを特徴とする請求項2記載のサ
    ンプル・ホールド回路。
JP2001175950A 2001-06-11 2001-06-11 サンプル・ホールド回路 Pending JP2002368592A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001175950A JP2002368592A (ja) 2001-06-11 2001-06-11 サンプル・ホールド回路
US09/975,321 US6628148B2 (en) 2001-06-11 2001-10-12 Sample and hold circuit having a single control signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001175950A JP2002368592A (ja) 2001-06-11 2001-06-11 サンプル・ホールド回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002368592A true JP2002368592A (ja) 2002-12-20

Family

ID=19017005

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001175950A Pending JP2002368592A (ja) 2001-06-11 2001-06-11 サンプル・ホールド回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6628148B2 (ja)
JP (1) JP2002368592A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7411420B2 (en) 2003-02-28 2008-08-12 Fujitsu Limited High-speed input signal receiver circuit
US7453386B2 (en) 2006-08-02 2008-11-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Digital to analog converter and source driver
WO2010032727A1 (ja) * 2008-09-17 2010-03-25 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法
WO2010032726A1 (ja) * 2008-09-17 2010-03-25 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100515300B1 (ko) * 2003-10-07 2005-09-15 삼성에스디아이 주식회사 전류 샘플/홀드 회로와 전류 샘플/홀드 방법 및 이를이용한 역다중화 장치와 디스플레이 장치
US20060284653A1 (en) * 2005-06-20 2006-12-21 Powen Chen Method for sample and hold a signal and flat pannel driving method using the same
TWI271029B (en) * 2005-07-12 2007-01-11 Novatek Microelectronics Corp Sample-and-hold device
TWI300936B (en) * 2006-07-03 2008-09-11 Novatek Microelectronics Corp A high-accuracy sample and hold circuit
JP2008092343A (ja) * 2006-10-03 2008-04-17 Omron Corp アナログ信号伝達回路
TWI455488B (zh) * 2011-09-22 2014-10-01 Univ Nat Taipei Technology High Speed ​​BiCMOS Double Sampling Hold Circuit
US8378717B1 (en) * 2011-11-14 2013-02-19 National Taipei University Of Technology High-speed BiCMOS double sampling track-and-hold amplifier circuit
US8816887B2 (en) * 2012-09-21 2014-08-26 Analog Devices, Inc. Sampling circuit, a method of reducing distortion in a sampling circuit, and an analog to digital converter including such a sampling circuit
US8952729B2 (en) * 2013-04-03 2015-02-10 BAE Systems Imaging Solutions Inc. Sample and hold circuit with reduced noise
JP2017111844A (ja) * 2015-12-16 2017-06-22 ソニー株式会社 サンプルホールド回路、および表示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6287392U (ja) * 1985-11-21 1987-06-04
JPH06259038A (ja) * 1993-03-03 1994-09-16 Toshiba Corp リニアアンプ回路
JPH10177368A (ja) * 1996-12-18 1998-06-30 Toppan Printing Co Ltd サンプリングホールド回路
JP2000200069A (ja) * 1998-12-30 2000-07-18 Casio Comput Co Ltd 液晶駆動装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2698222B2 (ja) * 1991-03-25 1998-01-19 シャープ株式会社 サンプルホールド回路
JP2698225B2 (ja) * 1991-04-15 1998-01-19 シャープ株式会社 サンプルホールド回路
JPH0654418A (ja) 1992-07-24 1994-02-25 Toshiba Corp スイッチギヤ
US5959470A (en) * 1997-08-25 1999-09-28 Texas Instruments Incorporated Operational amplifier with two sample and hold circuits
JPH11249633A (ja) 1998-03-04 1999-09-17 Casio Comput Co Ltd 表示駆動装置及び表示装置の駆動方法
JP4039737B2 (ja) 1998-06-01 2008-01-30 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 増幅器及びサンプルアンドホールド回路

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6287392U (ja) * 1985-11-21 1987-06-04
JPH06259038A (ja) * 1993-03-03 1994-09-16 Toshiba Corp リニアアンプ回路
JPH10177368A (ja) * 1996-12-18 1998-06-30 Toppan Printing Co Ltd サンプリングホールド回路
JP2000200069A (ja) * 1998-12-30 2000-07-18 Casio Comput Co Ltd 液晶駆動装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7411420B2 (en) 2003-02-28 2008-08-12 Fujitsu Limited High-speed input signal receiver circuit
US7453386B2 (en) 2006-08-02 2008-11-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Digital to analog converter and source driver
WO2010032727A1 (ja) * 2008-09-17 2010-03-25 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法
WO2010032726A1 (ja) * 2008-09-17 2010-03-25 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法
US8493099B2 (en) 2008-09-17 2013-07-23 Nec Corporation Sample and hold circuit and method for controlling same
JP5365635B2 (ja) * 2008-09-17 2013-12-11 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法
JP5365636B2 (ja) * 2008-09-17 2013-12-11 日本電気株式会社 サンプルホールド回路およびその制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020186054A1 (en) 2002-12-12
US6628148B2 (en) 2003-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6407623B1 (en) Bias circuit for maintaining a constant value of transconductance divided by load capacitance
US7345530B1 (en) Regulated switch driving scheme in switched-capacitor amplifiers with opamp-sharing
JP2002368592A (ja) サンプル・ホールド回路
JP2005333465A (ja) サンプリングスイッチ
JP2777302B2 (ja) オフセット検出回路、出力回路および半導体集積回路
JPH04115622A (ja) カレントミラー型増幅回路及びその駆動方法
JP2004129276A (ja) トラックアンドホールド回路
JP2668172B2 (ja) 電流発生装置およびd/a変換装置
JP3476446B2 (ja) チョッパ型コンパレータ
JP2001111419A (ja) チャージポンプ回路
JP3383136B2 (ja) 定振幅クロック発生回路
JP4530503B2 (ja) インピーダンス変換回路
US20060284653A1 (en) Method for sample and hold a signal and flat pannel driving method using the same
JP3047828B2 (ja) コンパレータ回路
JP2642255B2 (ja) サンプルホールド回路
JP2004180268A (ja) 増幅回路及びこれを用いた液晶ディスプレイ装置
JP3201810B2 (ja) デュアルサンプルホールド回路
US7893729B2 (en) Voltage/current conversion circuit
JPH04180407A (ja) ダイナミック型フリップフロップ回路
JPS59207723A (ja) パルス整形回路
JPH0340300A (ja) サンプルホールド回路
KR0149307B1 (ko) 정착시간이 빠른 연산증폭기
JPH01166612A (ja) コンパレータ
JPH09232931A (ja) 差動スイッチング回路
JPS59149417A (ja) クロツクジエネレ−タ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080303

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20081119

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081125

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100615

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019