JP2002280481A - 高周波回路素子収納用パッケージ - Google Patents

高周波回路素子収納用パッケージ

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JP2002280481A
JP2002280481A JP2001077067A JP2001077067A JP2002280481A JP 2002280481 A JP2002280481 A JP 2002280481A JP 2001077067 A JP2001077067 A JP 2001077067A JP 2001077067 A JP2001077067 A JP 2001077067A JP 2002280481 A JP2002280481 A JP 2002280481A
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metal
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JP2001077067A
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Yoshiaki Ueda
義明 植田
Masakazu Yasui
正和 安井
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 同一の高周波パッケージ内に複数の高周波回
路素子を収納した際に高周波回路素子間に電磁的な相互
干渉が発生し、また金属製蓋体を枠体に溶接する際に金
属製蓋体と枠体との接合部に熱応力が発生してクラック
が発生し、さらに高周波回路素子を高周波パッケージ内
に収容する際の高周波パッケージ内の減圧時に金属製蓋
体に反りが発生し、この反りによって金属製蓋体と枠体
との接合部に応力が発生してクラックを生じさせるとい
う問題があった。 【解決手段】 金属製蓋体2が、載置部1aを覆う天井
部2aと、天井部2aから載置部間の境界部に向かって
垂設されるとともに下端が基体1の上面に接しないよう
に形成された二重の側壁部および二重の側壁部における
各側壁の下端2c同士を結合した底板部2dから成るこ
とにより各載置部1aを区切るように形成された仕切部
2bとから構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は高周波回路素子収納
用パッケージに関し、電磁的にシールドされた載置部に
高周波回路素子を収納した高周波回路素子収納用パッケ
ージに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のミリ波を使用する自動車用レーダ
や300MHz以上の周波数帯域の電波を用いる高周波
無線装置および無線端末機等は、近時、大電力化の要求
が高まりつつあるとともに、装置の小型化、低コスト化
が進んでいる。そのために、フィルター機能等の機能を
有する複数の高周波回路素子を一つの高周波回路素子収
納用パッケージ(以下、高周波パッケージという)内に
実装することが行われている。
【0003】このような従来の高周波パッケージの一例
として、図4の平面図および図5の断面図に示すマイク
ロ波集積回路用の高周波パッケージCがある。同図にお
いて、Dは金属基体、101は誘電体基板、101aは
載置部、102は、天井部102aと天井部102aか
ら下方に延びた仕切部102bとから成る金属製蓋体で
ある。なお、102cは仕切部102bの下端である。
また、103は、誘電体基板101に配列して設けられ
るとともに接地用導体としての導体材料が充填された貫
通導体、104は高周波回路素子、105は誘電体基板
101上に形成されているメタライズ配線層、106は
ボンディングワイヤ、107は金属ピン109を金属基
体Dから電気的に絶縁する、低融点ガラス(ガラスフリ
ット)等の封止用ガラスである。
【0004】上記高周波パッケージCにおいて、誘電体
基板101は、金属基体Dの上面に接合されるととも
に、高周波回路素子104を載置する載置部101aを
金属基体Dの上面にて構成している。高周波回路素子1
04上の電極は、ボンディングワイヤ106を介して誘
電体基板101上に形成されたメタライズ配線層105
に接続され、メタライズ配線層105から金属ピン10
9を介して外部電気回路(図示せず)に電気的に接続さ
れている。
【0005】また金属製蓋体102は、それと一体であ
り、かつ天井部102cから下方に延びるように高周波
パッケージC内に垂設された仕切部102bを有して成
る。この仕切部102bは、その下端102cが誘電体
基板101の上面に表れている貫通導体103の上面と
導電性接着剤によって接合されている。そして、貫通導
体103に充填された導体材料と金属基体Dとによっ
て、載置部101aに載置された高周波回路素子104
を、電磁的にシールドする構造になっている。また、高
周波回路素子104から発せられた高周波信号は、ボン
ディングワイヤ106によりメタライズ配線層105か
ら金属ピン109へと伝えられて外部に導出される。
【0006】上記高周波パッケージCは、誘電体基板1
01が高周波信号を通す性質を有しているため、誘電体
基板101は、これを仕切部102bに接続されて上下
に貫通して配列された複数の貫通導体103が高周波信
号のシールドとして設けられた構造を有している。
【0007】そして、金属基体Dの上面に誘電体基板1
01を接合するとともに、載置部101aに高周波回路
素子104を載置し、次いで高周波回路素子104の電
極をボンディングワイヤ106を介してメタライズ配線
層105に接続し、しかる後、仕切部102bを有する
金属製蓋体102を、仕切部102bの下端102cが
誘電体基板101の表面に露出している貫通導体103
の上端面と導電性接着剤によって接合されるとともに載
置部101aを覆うように取着し、さらに蓋体(図示せ
ず)によって高周波回路素子104が気密に封止される
ことにより、最終製品としてのマイクロ波集積回路装置
としての高周波回路装置となる(特開2000−299
398号公報参照)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の高周波パッケージにおいては、それぞれの貫通導体
103の間にある誘電体基板101から電磁波が漏れる
場合があり、この電磁波の漏れは周波数が大きくなるに
従い増大し、載置部101aに載置された複数の高周波
回路素子104間に電磁波による相互干渉を発生させる
という問題があった。例えば、高周波回路素子104が
送受信器を備えた通信機用として用いられた場合、受信
器の飽和、受信雑音の上昇等の障害を発生させる等の問
題点の原因となっていた。
【0009】そして、この電磁波の漏れは上記のような
貫通導体103が形成されている誘電体基板101を用
いる場合は少なからず発生し、それを防ぐためには、貫
通導体103の代わりに誘電体基板101の上面および
側部にメタライズ層を全面的に被着させる構成や、金属
製の遮蔽板をそれぞれの載置部101aの間にロウ材に
より取着する等の構成がある。
【0010】ところが、誘電体基板101の上面および
側部にメタライズ層を全面的に被着させる構成では、メ
タライズ層を誘電体基板101の側部に印刷する際に、
誘電体基板101の形状によって印刷機による印刷が不
可能な場合があり、この場合には手塗りで印刷しなけれ
ばならない。そのため、印刷厚さにばらつきを発生させ
てしまい、この厚さばらつきに起因してメタライズ層に
クラックを発生させることがあった。そして、このクラ
ックから電磁波の漏れが発生して、他の高周波回路素子
104にノイズを発生させることがあり問題であった。
【0011】また、金属製の遮蔽板をそれぞれの載置部
101aの間にロウ材により取着する構成では、金属製
の遮蔽板をロウ材で金属基体D上に接合するに際して、
ロウ材が高周波回路素子104の載置部101aへ流れ
出すことによって高周波回路素子104が傾斜して接合
されることがあり、この傾斜によりワイヤボンディング
時にボンディングワイヤの接合不良を発生させ、その結
果高周波信号が正常に伝送されなくなることが有り問題
であった。
【0012】上記従来例では、仕切部102bを有する
金属製蓋体102が、例えば鉄(Fe)−ニッケル(N
i)−コバルト(Co)合金等から成り、誘電体基板1
01が例えばエポキシ樹脂等の有機基板材料からなって
いる場合が多いが、このとき、金属製蓋体102の熱膨
張係数は誘電体基板101の熱膨張係数のおよそ1/2
であるが、仕切部102bの下端102cと誘電体基板
101とは導電性接着剤によって接合されているので、
それぞれの熱膨張係数の差に起因して発生する熱応力が
この導電性接着剤によって緩和され、仕切部102bと
誘電体基板101との接合部にはクラック等を生じさせ
ることがない。
【0013】しかしながら、誘電体基板101がエポキ
シ樹脂等の有機基板材料から成っているため、外部から
水分を吸収しやすく、そのため高周波回路素子104が
金属製蓋体102で気密に封止されていても、別体の蓋
体(図示せず)によってさらに覆われる構成とする必要
があった。
【0014】ところが、別体の蓋体によって覆わなけれ
ばならないため、その蓋体と金属基体Dとの接合部を金
属基体Dの上面に確保しなければならず、その分だけ金
属基体Dの面積が大きくなり、小型化という市場要求に
応えることができなくなっていた。
【0015】また、他の従来例として、図6の断面図に
示すように、上面に電子部品204を収容するための凹
部が形成された誘電体基板201の上面の凹部外周部
に、金属材料からなるシールフレームEを接合し、シー
ルフレームEの上面に金属製蓋体202をシーム溶接で
接合して、内部に圧電共振子等の電子部品204を気密
封止したセラミック高周波パッケージFが知られている
(特開平8−274208号公報参照)。このセラミッ
ク高周波パッケージFでは、金属製蓋体202を周知の
シーム溶接法でシールフレームEの上面に取着させてい
る。
【0016】シーム溶接法は、一対のローラー状電極を
例えばシールフレームE上に載置した金属製蓋体202
の周囲において転がしながら電流を流すことにより、シ
ールフレームEや金属製蓋体202にあらかじめ被着さ
せたNiメッキ層などを、発生するジュール熱によって
局所的に融解させ、融解したNiによりシールフレーム
E上に金属製蓋体202を接合させる溶接法である。
【0017】そして、シーム溶接を行うために、金属製
蓋体202の面方向の抵抗を大きくすることによって面
方向に流れる電流を小さくして溶接部位に流れる電流の
大きさを確保することが行われている。その一つとし
て、金属製蓋体202の下面に断面積を減少させて面方
向の抵抗を大きくするための凹部202aが形成される
ことが行われている。そしてこの凹部202aが形成さ
れたことによる金属製蓋体202の断面積の減少は金属
製蓋体202の曲げ強度を低下させるが、この曲げ強度
の低下を補うために金属製蓋体202の表面に凸条20
2bが形成されている。
【0018】ところが、このような金属製蓋体202を
有するセラミック高周波パッケージFにおいては、ヘリ
ウム(He)を数気圧に加圧して、セラミック高周波パ
ッケージFの欠陥箇所から強制的にセラミック高周波パ
ッケージF内部にHeを圧入するHe加圧試験等により
気密性を検査する場合、Heによる加圧時に金属製蓋体
202の曲げ強度を超える応力が蓋体に作用し、その結
果蓋体が内側に凸となるように反ってしまう場合があ
る。
【0019】このとき、金属製蓋体202とシールフレ
ームEとの接合部にマイクロクラックが生じる場合が有
り、このマイクロクラックがセラミック高周波パッケー
ジFに収納された電子部品204が作動する際の温度変
化によって助長され、その結果セラミック高周波パッケ
ージF内部の気密性が損なわれて、内部に水分が侵入
し、電子部品204の配線同士が短絡するといった問題
点を生じていた。
【0020】従って、本発明は上記問題点に鑑みて完成
されたものであり、その目的は、電磁波の漏れによる複
数の高周波回路素子間の相互干渉を防ぎ、例えば高周波
回路素子が送受信器を備えた通信機用として用いられた
場合に、受信器の飽和、受信雑音の上昇等の障害が発生
するのを防止することである。また、金属製蓋体と別体
の蓋体を不要とし、小型化されたものとすることであ
る。さらに、金属製蓋体202の反りによる金属製蓋体
202とシールフレームEの接合部におけるマイクロク
ラックの発生を防ぐことにより高周波パッケージ内部の
気密性を保持できるものとすることである。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明の高周波パッケー
ジは、上面に複数の高周波回路素子をそれぞれ載置する
複数の載置部を有する基体と、該基体の上面に前記複数
の載置部を囲繞するようにして取着された枠体と、前記
枠体の上面に外周部が取着される金属製蓋体とを具備し
た高周波回路素子収納用パッケージにおいて、前記金属
製蓋体は、前記載置部を覆う天井部と、該天井部から前
記載置部間の境界部に向かって垂設されるとともに下端
が前記基体の上面に接しないように形成された二重の側
壁部および該二重の側壁部における各側壁の下端同士を
所定間隔をもって結合した底板部から成ることにより前
記各載置部を区切るように形成された仕切部とから構成
されていることを特徴とする。
【0022】本発明は、上記の構成により、高周波回路
素子の各載置部を区切る仕切部を有する金属製蓋体を枠
体に接合したことから、仕切部によって高周波回路素子
の各載置部が互いにシールドされるので、高周波回路素
子間において電磁波の漏れによる相互干渉を有効に防止
できる。さらに、この仕切部は、二重の側壁部の隣接す
る各側壁の下端同士を結合した底板部を有していること
から、隣接する側壁と底板部とで凹形の二重の側壁部が
形成されているため、仕切部が横方向に対して弾性的に
変形可能なバネのような作用を奏する。その結果、例え
ば金属製蓋体を枠体上面に周知のシーム溶接法で接合す
る場合、金属製蓋体に加わる熱によって金属製蓋体が横
方向に急激に熱膨張しても、その熱膨張は仕切部で吸収
されることになる。よって、金属製蓋体と枠体との接合
部に発生する熱応力を緩和することができ、その結果金
属製蓋体と枠体との接合部に発生するマイクロクラック
を有効に防止し、高周波回路素子を長期間に亘り正常か
つ安定に作動させることができる。
【0023】さらに、この仕切部により、高周波パッケ
ージをヘリウム加圧試験した場合に仕切部の下端が基体
の上面に当接することによって、減圧時において金属製
蓋体の内側に凸となる反りの大きさが100μmを超え
ることがなくなる。よって、金属製蓋体と枠体との接合
部に大きな応力が発生せず、この接合部におけるマイク
ロクラックの発生を有効に防止することができる。
【0024】本発明において、好ましくは、前記仕切部
の底板部と前記基体の上面との間隔dが10〜100μ
mであることを特徴とする。
【0025】本発明は、上記の構成により、仕切部の底
板部と基体の上面との間隔を所定の狭いものとすること
で、高周波回路素子間において電磁波の漏れによる相互
干渉を有効に防止できる。
【0026】また本発明において、好ましくは、前記基
体の上面における前記複数の載置部間に該載置部を囲む
ように溝が形成されており、前記仕切部の底板部が該溝
の内面に接しないように該溝に挿入されていることを特
徴とする。
【0027】本発明は、上記の構成により、高周波信号
の漏れをさらに有効に防止することができ、より確実な
電磁波のシールドを実現することができる。
【0028】さらに本発明において、好ましくは、前記
底板部の外側底面と前記基体の上面との距離Xが10〜
1500μmであり、前記仕切部の側壁部と前記溝の内
側面との間隔Yが10〜500μmであることを特徴と
する。
【0029】本発明は、上記の構成により、高周波信号
の漏れをさらに有効に防止することができ、より確実な
電磁波のシールドを実現することができる。
【0030】
【発明の実施の形態】本発明の高周波パッケージAを添
付図面に基づき以下に詳細に説明する。図1(a),図
1(b),図2,図3は本発明の高周波パッケージAの
実施の形態の例を示し、図1(a)は基体が金属材料か
ら成る場合の断面図、図1(b)は基体がセラミックス
から成る場合の断面図、図2は図1(a)における金属
製蓋体の仕切部周辺の部分拡大断面図である。また、図
3は、基体の上面の複数の載置部間に載置部を囲むよう
に溝が形成されており、仕切部の底板部が溝の内面に接
しないように溝に挿入されている構成における仕切部周
辺の部分拡大断面図である。
【0031】図1(a)において、1は、上面に複数の
高周波回路素子4をそれぞれ載置する複数の載置部1a
を有する金属材料から成る基体、Bは、基体1の上面に
複数の載置部1aを囲繞するようにして取着された枠体
である。また、2は、載置部1aを覆う天井部2aと、
天井部2aから載置部1a間の境界部に向かって垂設さ
れるとともに下端が基体1の上面に接しないように形成
された二重の側壁部2bおよび二重の側壁部2bにおけ
る各側壁の下端2c同士を所定間隔で結合した底板部2
dから成ることにより各載置部1aを区切るように形成
された仕切部2bとから構成されている金属製蓋体であ
る。さらに、4は高周波回路素子、6はボンディングワ
イヤ、7は低融点ガラス(ガラスフリット)等から成る
封止用ガラス、9は金属ピンである。かかる基体1と、
枠体Bと、金属製蓋体2とによって、高周波回路素子4
を収納するための容器が主に構成される。
【0032】そして、このような構成の本発明の高周波
パッケージAにおいては、載置部1aに高周波回路素子
4が載置されており、その高周波回路素子4に入出力す
る高周波信号は、高周波回路素子4上の電極とボンディ
ングワイヤ6、および基体1の上下面を貫通するととも
に封止用ガラス7で基体1から絶縁されて設けられた金
属ピン9を伝送することによって、内外を電気的に導通
接続する。
【0033】また、載置部1aに載置された高周波回路
素子4は、金属材料からなる基体1と、金属製蓋体2
と、金属製蓋体2に下方に垂設された仕切部2bによっ
て電磁的にシールドされ、正常に作動することができ
る。
【0034】金属材料から成る基体1は銅(Cu)−タ
ングステン(W)合金やCu等からなり、例えばCu−
W合金からなる場合、Wの焼結体に高温でCuを含浸さ
せることによってCu−W合金のブロックとなし、これ
を切削等の従来周知の金属加工法を施すことによって、
所定の形状に作製される。
【0035】枠体Bは、金属材料またはセラミックスか
ら成り、金属材料から成る場合Fe−Ni−Co合金,
Fe−Ni合金等の金属材料の粉末を混合して加熱溶解
させたものをロール圧延法にて所定の厚さに圧延し、得
られたシート状部材を従来周知の絞り加工法にてパイプ
状部材とし、このパイプ状部材を、従来周知の引き抜き
加工法により段階的に加工して所望の矩形状の断面形状
を有するパイプを得る。このパイプを適宜の長さに切断
することによって、所望の大きさ、及び形状の金属製の
枠体Bが作製される。この金属製の枠体Bは、基体1の
上面において高周波回路素子4の載置部1aを囲繞する
ようにして銀ロウ等のロウ材を介して接合される。
【0036】また、金属製の枠体Bに代えて、Al
23,AlN等のセラミックス製のものを用いても良
く、例えばAl23からなる場合以下のようにして作製
される。Al23の粉末と、焼結助材としてのSi
2,CaO,MgO等の粉末と、適当なバインダー及
び溶剤とを混合してこれをスラリー状となす。次いで従
来周知のドクターブレード法等のテープ成形法によって
所定厚みのセラミックグリーンシートに成形し、このセ
ラミックグリーンシートを複数枚準備する。ついで、セ
ラミックグリーンシートに打ち抜き加工を施すととも
に、載置部1aを囲む側壁となる部位、基体1との接合
部位、および金属製蓋体2との接合部位に予めメタライ
ズ層を被着させるとともに、積層工程、1600℃程度
の温度での焼成工程を経てセラミックスの枠体Bが得ら
れる。
【0037】このメタライズ層を載置部1aを囲む側壁
となる部位に形成するのは、この側壁が誘電体からなる
ため、電磁波を通過させて高周波回路素子4間に相互干
渉を発生させてしまうからである。よって、誘電体の表
面を電磁波を通過させないメタライズ層で覆い電磁波を
通過させないようにしている。
【0038】金属製蓋体2は、Fe−Ni−Co合金,
Fe−Ni合金等からなり、例えばFe−Ni−Co合
金からなる場合、Fe−Ni−Co合金のインゴット
(塊)に圧延加工法、プレス成型法、打抜き加工等の従
来周知の金属加工法を採用することによって所定の厚さ
に形成された板材を加工して作製される。
【0039】この金属製蓋体2は、高周波パッケージA
内に垂設された仕切部2bを一体に有してなる。この仕
切部2bは、例えばエッチング法や、プレス成型法、切
削加工法等を金属製蓋体2に施すことにより形成され
る。エッチング法による場合、加工前の金属製蓋体2の
肉厚が例えば2000μmの場合には、図2に示すよう
に金属製蓋体2はエッチング法により下面側から約18
00μm程度の深さに食刻されて仕切部2bの外形が形
成されるとともに、上面側から仕切部1aの内部が例え
ば約1800μm程度の深さに食刻されて凹部2eが形
成されることによって、内側に凹部2eを有する仕切部
2bが得られる。このとき得られた仕切部2bの厚さ
は、例えば150〜300μmとなり、また仕切部2b
の下方への突出長さは約1800μmとなる。
【0040】次にプレス法では、金属製蓋体2は、例え
ば上記の合金からなる厚さ150〜300μmの板材
を、プレス金型を用いて凹部2eを備えた仕切部2bを
有する金属製蓋体2に成形することによって得られる。
また切削法では、例えば厚さ2000μmの上記の合金
からなる板材を、上下方向から切削することによって金
属製蓋体2が得られる。このとき、仕切部2bの外面の
傾斜角度や凹部2eの内側面の傾斜角度を任意に設ける
ことができる。上記プレス法および切削法では、エッチ
ング法に比べて金属製蓋体2に歪みが発生することがあ
り、歪み修正工程が必要となる場合がある。
【0041】次に図1(b)において、1は、載置部1
aをその上面に有するとともにメタライズ層が形成され
たセラミックスからなる基体、Bは枠体、2は天井部2
a,仕切部2bおよび底板部2dからなる金属製蓋体、
4は高周波回路素子、5はメタライズ配線層、6はボン
ディングワイヤ、8は貫通導体、10は貫通導体8の下
端面に接合された金属ピンである。かかる基体1と、枠
体Bと、金属製蓋体2とによって高周波回路素子4を収
納するための容器が主に構成される。
【0042】載置部1aに載置された高周波回路素子4
は、セラミックスからなる基体1の表面に形成されたメ
タライズ層と、金属製蓋体2と、この金属製蓋体2に下
方に垂設された仕切部2bによって電磁的にシールドさ
れ、正常に作動することとなる。このとき、貫通導体8
の上端面を含んで覆うように形成されているメタライズ
配線層5の周囲には、高周波回路素子4を接合するため
のメタライズ層と短絡しないようにメタライズ層の非形
成部が設けられているが、この非形成部から漏れる高周
波信号が高周波パッケージの特性に影響することはほと
んどない。
【0043】そして、このような構成の高周波パッケー
ジAにおいては、載置部1aに高周波回路素子4が載置
されており、高周波回路素子4に入出力する高周波信号
は、高周波回路素子4上の電極、ボンディングワイヤ
6、メタライズ配線層5を伝送し、さらに貫通導体8と
その下端面に接合された金属ピン10を介して、内外を
伝送される。
【0044】セラミックスからなる基体1は、例えば酸
化アルミニウム(Al23)や窒化アルミニウム(Al
N)等からなる。例えば、Al23からなる場合、まず
Al 23の粉末と、焼結助材としてのシリカ(Si
2),カルシア(CaO),マグネシア(MgO)等
の粉末と、適当なバインダー及び溶剤とを混合してこれ
をスラリー状となす。次いで、従来周知のドクターブレ
ード法等のテープ成形法によって所定厚みのセラミック
グリーンシートに成形し、このセラミックグリーンシー
トを複数枚準備する。ついで、セラミックグリーンシー
トに打ち抜き加工を施すとともに、メタライズ配線層5
や高周波回路素子4の接合層となるメタライズ層、金属
製蓋体2接合用のメタライズ層、および貫通導体8を形
成する。この後、セラミックスグリーンシートを積層
し、1600℃程度の温度で焼成してセラミックスの基
体1が得られる。
【0045】なお、枠体Bおよび金属製蓋体2について
は、基体1が金属材料である場合と同様であり、説明を
省略する。
【0046】そして、図1(a),図1(b)および図
2に示すように、複数の高周波回路素子4が載置部1a
に載置された後、枠体Bの上面に、仕切部2bが垂設さ
れた金属製蓋体2が例えばシーム溶接法で接合され、高
周波回路素子4が気密に封止されるとともに電磁的に互
いにシールドされた状態になる。このとき、仕切部2b
の底板部2dの外側底面と基体1の上面との間隔dは1
0〜100μmであるのがよい。これは、即ち枠体Bが
接合される基体1の両端間において反りが数10μm程
度となる場合があり、このとき底板部2dと基体1の上
面との間隔dを10μm未満とするのは極めて困難とな
る。また間隔dが100μmを超える場合、底板部2d
と基体1の上面との間から漏れる電磁波が高周波回路素
子4間に相互干渉を発生させて高周波回路素子4にノイ
ズが発生する。
【0047】また、金属製蓋体2の上面側から仕切部2
bの内部にかけて凹部2eが形成されていることによ
り、さらに以下のような作用効果が生じる。即ち、金属
製蓋体2の横方向(水平方向)の伸縮性がこの凹部2e
によって向上することにより、例えば金属製蓋体2をシ
ーム溶接法で枠体Bに溶接するに際して、金属製蓋体2
の温度が急激に上昇して金属製蓋体2が横方向に熱膨張
しても、金属製蓋体2は仕切部2bが横方向への伸縮性
を有していることからそのサイズが大きく変化すること
がない。よって、枠体Bと金属製蓋体2との接合部に大
きな熱応力が発生することはないためにマイクロクラッ
クが発生することが無く、高周波パッケージの内部に収
容される高周波回路素子を長期間に亘り正常に作動させ
ることができる。
【0048】また本発明では、図3に示すように、金属
製蓋体2の天井部2aから下方に垂設された仕切部2b
は、その下端2cが基体1(図3は基体1が金属材料か
らなる場合を示す)の上面に形成された溝1bに挿入さ
れるように形成されているのがよい。このように、溝1
bを基体1の上面に形成することにより、仕切部2bは
電磁波の漏れをさらに有効に防止することができ、より
確実な電磁波のシールドを実現することができる。
【0049】この溝1bは、基体1が金属材料から成る
場合、例えば切削法等により形成され、また基体1がセ
ラミックスから成る場合、溝1bは基体1となるセラミ
ックグリーンシートに予め打抜き加工を施しておくこと
により形成できる。また溝1bの底面および内側面に
は、電磁波をシールドするためのメタライズ層を予め形
成しておくのがよい。
【0050】そして、本発明では、仕切部2bの底板部
2dの外側底面と基体1の上面との距離Xが10〜15
00μmであり、仕切部2bの側壁部と溝1bの内側面
との間隔Yが10〜500μmであることが好ましい。
距離Xが10μm未満になると、基体1の反りにより仕
切部2bの下端2cが溝1bに入らない場合が有り、こ
の場合電磁波の漏れを防ぐことが困難となる。また距離
Xが1500μmを超えると、電磁波の漏れを防止する
効果はほとんど変化しなくなるとともに基体1の厚さを
それ以上に大きくしなければならないことから実用性が
なくなる。距離Yが10μm未満の場合、仕切部2bを
溝1bに挿入させることが困難となり、500μmを超
えると、仕切部2bで反射した電磁波が溝1bの側壁と
仕切板2bとの間で反射しながら溝1bの底面に至り、
仕切板2bの底板部2dと溝1bの底面との隙間から隣
りの載置部に漏れてしまう場合があり、高周波回路素子
4間に相互干渉を発生させる場合がある。
【0051】かくして、枠体Bを上面に有する基体1上
において、基体1上の載置部1aに高周波回路素子4を
収納し、しかる後、高周波回路素子4上の電極と金属ピ
ン9とを電気的に接続し、もしくは高周波回路素子4と
立設された金属ピン10とをボンディングワイヤ6とメ
タライズ配線層5と貫通導体8とを介して電気的に接続
し、最後に仕切部2bを有する金属製蓋体2によって高
周波回路素子4が気密にかつ電磁的にシールドされて高
周波パッケージAとなる。
【0052】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲におい
て種々の変更を行うことは何ら差し支えない。
【0053】例えば、図1では高周波信号は金属ピン9
によって外部に導出されているが、枠体Bが金属材料か
らなる場合において、図7の部分拡大断面図に示すよう
に、金属ピン9に代えて、枠体Bの側部に設けた入出力
端子11を用いて高周波信号を外部に導出させる構成と
してもよい。この場合、入出力端子11に接合させたリ
ード端子12によって高周波信号が外部に導出される。
尚、図7では基体1の一部、枠体Bの一部、蓋体2の一
部、入出力端子11およびリード端子12のみが示され
ている。
【0054】また、本実施の形態の例では図2,図3に
示すように仕切部2bが垂直方向に形成されるとともに
底板部2cが平板状のものについて説明しているが、仕
切部2bが下方に向かって幅が小さくなる楔形状であっ
てもよく、また底板部2cが、下に凸の曲面状であって
も良い。
【0055】
【発明の効果】本発明は、金属製蓋体が、載置部を覆う
天井部と、天井部から載置部間の境界部に向かって垂設
されるとともに下端が基体の上面に接しないように形成
された二重の側壁部および二重の側壁部における各側壁
の下端同士を結合した底板部から成ることにより各載置
部を区切るように形成された仕切部とから構成されてい
ることから、高周波回路素子の各載置部を区切る仕切部
を有する金属製蓋体を枠体に接合したことから、仕切部
によって高周波回路素子の各載置部が互いにシールドさ
れて、高周波回路素子間において電磁波の漏れによる相
互干渉を有効に防止できる。
【0056】さらに、仕切部は、隣接する側壁の下端同
士を結合した底板部を有していることから、隣接する側
壁と底板部とで凹形の二重の側壁部が形成されているた
め、仕切部が横方向に対して弾性的に変形可能なバネの
ような作用を奏する。その結果、例えば金属製蓋体を枠
体上面にシーム溶接法で接合する場合、金属製蓋体に加
わる熱によって金属製蓋体が横方向に急激に熱膨張して
も、その熱膨張は仕切部で吸収される。よって、金属製
蓋体と枠体との接合部に発生する熱応力を緩和すること
ができ、その結果金属製蓋体と枠体との接合部に発生す
るマイクロクラックを有効に防止し、高周波回路素子を
長期に亘り正常かつ安定に作動させ得る。
【0057】さらに、この仕切部により、高周波パッケ
ージをヘリウム加圧試験した場合に仕切部の下端が基体
の上面に当接することによって、減圧時において金属製
蓋体の内側に凸となる反りが100μmを超えることが
なくなる。よって、金属製蓋体と枠体との接合部に大き
な応力が発生せず、この接合部におけるマイクロクラッ
クの発生を有効に防止することができる。
【0058】本発明は、好ましくは仕切部の底板部と基
体の上面との間隔dが10〜100μmであることによ
り、仕切部の底板部と基体の上面との間隔を所定の狭い
ものとすることで、高周波回路素子間において電磁波の
漏れによる相互干渉を有効に防止できる。
【0059】また本発明は、好ましくは基体の上面の複
数の載置部間に載置部を囲むように溝が形成されてお
り、仕切部の底板部が溝の内面に接しないように溝に挿
入されていることにより、高周波信号の漏れをさらに有
効に防止することができ、より確実な電磁波のシールド
を実現することができる。
【0060】さらに本発明は、好ましくは底板部の外側
底面と基体の上面との距離Xが10〜1500μmであ
り、仕切部の側壁部と溝の内側面との間隔Yが10〜5
00μmであることにより、高周波信号の漏れをさらに
有効に防止することができ、より確実な電磁波のシール
ドを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の高周波パッケージについて実
施の形態の例を示し基体が金属である場合の断面図、
(b)は本発明の高周波パッケージについて実施の形態
の他の例を示し基体がセラミックスである場合の断面図
である。
【図2】図1(a)の高周波パッケージにおける金属製
蓋体の仕切部と基体上面の周辺の部分拡大断面図であ
る。
【図3】本発明の基体上面に溝を形成した高周波パッケ
ージにおける金属製蓋体の仕切部と基体上面の周辺の部
分拡大断面図である。
【図4】従来のマイクロ波集積回路装置用の高周波パッ
ケージの平面図である。
【図5】従来のマイクロ波集積回路装置用の高周波パッ
ケージの断面図である。
【図6】従来の高周波パッケージについて他の例を示す
断面図である。
【図7】本発明の高周波パッケージの変形例の部分拡大
断面図である。
【符号の説明】
1:基体 1a:載置部 1b:溝 2:金属製蓋体 2a:天井部 2b:仕切部 2c:下端 2d:底板部 2e:凹部 4:高周波回路素子 A:高周波パッケージ B:枠体

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面に複数の高周波回路素子をそれぞれ
    載置する複数の載置部を有する基体と、該基体の上面に
    前記複数の載置部を囲繞するようにして取着された枠体
    と、前記枠体の上面に外周部が取着される金属製蓋体と
    を具備した高周波回路素子収納用パッケージにおいて、
    前記金属製蓋体は、前記載置部を覆う天井部と、該天井
    部から前記載置部間の境界部に向かって垂設されるとと
    もに下端が前記基体の上面に接しないように形成された
    二重の側壁部および該二重の側壁部における各側壁の下
    端同士を結合した底板部から成ることにより前記各載置
    部を区切るように形成された仕切部とから構成されてい
    ることを特徴とする高周波回路素子収納用パッケージ。
  2. 【請求項2】 前記仕切部の底板部と前記基体の上面と
    の間隔dが10〜100μmであることを特徴とする請
    求項1記載の高周波回路素子収納用パッケージ。
  3. 【請求項3】 前記基体の上面における前記複数の載置
    部間に該載置部を囲むように溝が形成されており、前記
    仕切部の底板部が前記溝の内面に接しないように前記溝
    に挿入されていることを特徴とする請求項1記載の高周
    波回路素子収納用パッケージ。
  4. 【請求項4】 前記底板部の外側底面と前記基体の上面
    との距離Xが10〜1500μmであり、前記仕切部の
    側壁部と前記溝の内側面との間隔Yが10〜500μm
    であることを特徴とする請求項3記載の高周波回路素子
    収納用パッケージ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10319509A1 (de) * 2003-03-03 2004-09-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Schaltungsmodul, Verfahren zum Herstellen eines Schaltungsmoduls und Träger zum Aufnehmen von Halbleiterelementen
JP2010161121A (ja) * 2009-01-06 2010-07-22 Mitsubishi Electric Corp 高周波モジュール
JP2011029346A (ja) * 2009-07-23 2011-02-10 Nec Toshiba Space Systems Ltd マイクロ波用ハイブリッド集積回路
JP2011029447A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Nec Toshiba Space Systems Ltd 気密封止筐体および気密封止筐体製造方法

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DE10319509A1 (de) * 2003-03-03 2004-09-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Schaltungsmodul, Verfahren zum Herstellen eines Schaltungsmoduls und Träger zum Aufnehmen von Halbleiterelementen
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