JP2002277845A - 液晶パネル欠陥箇所表示システム - Google Patents
液晶パネル欠陥箇所表示システムInfo
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- JP2002277845A JP2002277845A JP2001077317A JP2001077317A JP2002277845A JP 2002277845 A JP2002277845 A JP 2002277845A JP 2001077317 A JP2001077317 A JP 2001077317A JP 2001077317 A JP2001077317 A JP 2001077317A JP 2002277845 A JP2002277845 A JP 2002277845A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶パネルの欠陥をリアルタイムに確認する
ことができ、液晶パネルの欠陥原因を究明することが容
易に行える。 【解決手段】 液晶パネル検査装置１が検査した液晶パ
ネルの欠陥箇所の座標、欠陥の大きさ、欠陥の種類が、
パソコン２のハードディスク３に保存され、ハードディ
スク３に保存された検査結果をネットワーク４に接続さ
れたパソコン５〜８に画面表示するため、パソコン５〜
８によって、リアルタイムに液晶パネルの欠陥箇所を確
認することができる。
ことができ、液晶パネルの欠陥原因を究明することが容
易に行える。 【解決手段】 液晶パネル検査装置１が検査した液晶パ
ネルの欠陥箇所の座標、欠陥の大きさ、欠陥の種類が、
パソコン２のハードディスク３に保存され、ハードディ
スク３に保存された検査結果をネットワーク４に接続さ
れたパソコン５〜８に画面表示するため、パソコン５〜
８によって、リアルタイムに液晶パネルの欠陥箇所を確
認することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルに主と
して用いられるＴＦＴ（Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒｎｓ
ｉｓｔｅｒ）基板及びＣＦ（Ｃｏｌｏｒ Ｆｉｌｔｅ
ｒ）基板を作製する工程、及びこれらの基板を貼り合わ
せて液晶パネルを製造する工程において発生する各種の
欠陥を検査する液晶パネル検査装置によって検査された
検査欠陥データを、パソコン画面上に表示する液晶パネ
ル欠陥箇所表示システムに関する。
して用いられるＴＦＴ（Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒｎｓ
ｉｓｔｅｒ）基板及びＣＦ（Ｃｏｌｏｒ Ｆｉｌｔｅ
ｒ）基板を作製する工程、及びこれらの基板を貼り合わ
せて液晶パネルを製造する工程において発生する各種の
欠陥を検査する液晶パネル検査装置によって検査された
検査欠陥データを、パソコン画面上に表示する液晶パネ
ル欠陥箇所表示システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、特開平８−９４５３６号公報に記
載されているような液晶パネル欠陥箇所表示システムが
知られている。
載されているような液晶パネル欠陥箇所表示システムが
知られている。
【０００３】この液晶パネル欠陥箇所表示システムで
は、欠陥判定装置により実測された液晶パネルの表示欠
陥の面積、円形度、欠陥色等に関する欠陥データに基づ
いて、欠陥の種類毎にコード化された欠陥コードを求め
て、得られた欠陥コードを所定の順番に並べたコードナ
ンバーを登録して、パソコン画面上に欠陥データととも
に欠陥の種類が表示されるようになっている。
は、欠陥判定装置により実測された液晶パネルの表示欠
陥の面積、円形度、欠陥色等に関する欠陥データに基づ
いて、欠陥の種類毎にコード化された欠陥コードを求め
て、得られた欠陥コードを所定の順番に並べたコードナ
ンバーを登録して、パソコン画面上に欠陥データととも
に欠陥の種類が表示されるようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】特開平８−９４５３６
号公報の液晶パネル欠陥箇所表示システムでは、パソコ
ン上に検査データを再表示する場合、欠陥データをリス
トとして表示しており、このため、パソコン画面を閲覧
する作業者が、液晶パネルに発生した欠陥位置等を確認
することが視覚的に容易ではなく、液晶パネルの検査す
る能率が低いという問題がある。さらには、欠陥データ
をリストとして表示するのでは、各液晶パネル間の欠陥
箇所を比較することが視覚的にできないので、後々の液
晶パネルの欠陥原因について究明することが容易でない
という問題がある。
号公報の液晶パネル欠陥箇所表示システムでは、パソコ
ン上に検査データを再表示する場合、欠陥データをリス
トとして表示しており、このため、パソコン画面を閲覧
する作業者が、液晶パネルに発生した欠陥位置等を確認
することが視覚的に容易ではなく、液晶パネルの検査す
る能率が低いという問題がある。さらには、欠陥データ
をリストとして表示するのでは、各液晶パネル間の欠陥
箇所を比較することが視覚的にできないので、後々の液
晶パネルの欠陥原因について究明することが容易でない
という問題がある。
【０００５】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、液晶パネルの欠陥をリアルタイムに確
認することができ、液晶パネルの欠陥原因を究明するこ
とが容易に行える液晶パネル欠陥箇所表示システムを提
供することを目的とする。
れたものであり、液晶パネルの欠陥をリアルタイムに確
認することができ、液晶パネルの欠陥原因を究明するこ
とが容易に行える液晶パネル欠陥箇所表示システムを提
供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の液晶パネル欠陥箇所表示システムは、液晶
パネルの欠陥を検出して、欠陥箇所の座標及び欠陥の大
きさ、欠陥の種類等の欠陥情報をそれぞれ検出する液晶
パネル検査装置と、該液晶パネル検査装置によって検出
された欠陥情報を液晶パネルにおける欠陥位置に対応さ
せて表示し、さらには欠陥情報を保存するハードディス
クを有する第一のパソコンと、該第一のパソコンにネッ
トワークを介して接続されて該第一のパソコンのハード
ディスクに保存された欠陥情報を欠陥位置に対応させて
画面表示する複数の第二のパソコンとを備えたことを特
徴とするものである。
め、本発明の液晶パネル欠陥箇所表示システムは、液晶
パネルの欠陥を検出して、欠陥箇所の座標及び欠陥の大
きさ、欠陥の種類等の欠陥情報をそれぞれ検出する液晶
パネル検査装置と、該液晶パネル検査装置によって検出
された欠陥情報を液晶パネルにおける欠陥位置に対応さ
せて表示し、さらには欠陥情報を保存するハードディス
クを有する第一のパソコンと、該第一のパソコンにネッ
トワークを介して接続されて該第一のパソコンのハード
ディスクに保存された欠陥情報を欠陥位置に対応させて
画面表示する複数の第二のパソコンとを備えたことを特
徴とするものである。
【０００７】上記本発明において、前記第二のパソコン
は、液晶パネルの欠陥情報を、それぞれ、視覚的に区別
し得る状態にして画面表示することが好ましい。
は、液晶パネルの欠陥情報を、それぞれ、視覚的に区別
し得る状態にして画面表示することが好ましい。
【０００８】上記本発明において、前記第二のパソコン
は、前記液晶パネル検査装置が設置された工場の外部に
設置されていることが好ましい。
は、前記液晶パネル検査装置が設置された工場の外部に
設置されていることが好ましい。
【０００９】上記本発明において、前記第二のパソコン
の表示画面に、前記液晶パネル検査装置にて検出された
複数の液晶パネルの欠陥が同時に画面表示されることが
好ましい。
の表示画面に、前記液晶パネル検査装置にて検出された
複数の液晶パネルの欠陥が同時に画面表示されることが
好ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の液晶パネル欠陥箇
所表示システムについて、図面に基づいて説明する。
所表示システムについて、図面に基づいて説明する。
【００１１】図１は、本発明の液晶パネル欠陥箇所表示
システムの構成を示すブロック図である。
システムの構成を示すブロック図である。
【００１２】この液晶パネル欠陥箇所表示システムは、
図１に示すように、工場内に設置された液晶パネルの欠
陥を自動的に検査する液晶パネル検査装置１と、工場内
にて、液晶パネル検査装置１に接続されたパソコン２と
を有している。パソコン２は、液晶パネルの検査結果を
液晶パネル１枚毎に記憶して保存するハードディスクを
内蔵している。パソコン２は、工場内及び工場外に配設
されたネットワークケーブル４に接続されており、この
ネットワークケーブル４によって、工場内の他の箇所に
設置されたパソコン５及び工場外の居室に設置されたパ
ソコン６、７、８にそれぞれ接続されて、各パソコン５
〜８によってパソコン２のハードディスク３に保存され
た検査データをパソコン画面上に閲覧することができる
ようになっている。
図１に示すように、工場内に設置された液晶パネルの欠
陥を自動的に検査する液晶パネル検査装置１と、工場内
にて、液晶パネル検査装置１に接続されたパソコン２と
を有している。パソコン２は、液晶パネルの検査結果を
液晶パネル１枚毎に記憶して保存するハードディスクを
内蔵している。パソコン２は、工場内及び工場外に配設
されたネットワークケーブル４に接続されており、この
ネットワークケーブル４によって、工場内の他の箇所に
設置されたパソコン５及び工場外の居室に設置されたパ
ソコン６、７、８にそれぞれ接続されて、各パソコン５
〜８によってパソコン２のハードディスク３に保存され
た検査データをパソコン画面上に閲覧することができる
ようになっている。
【００１３】図２は、液晶パネル欠陥箇所表示システム
による欠陥検査手順を説明するフローチャートである。
による欠陥検査手順を説明するフローチャートである。
【００１４】以下、図２に示すフローチャートに基づい
て、液晶パネルの欠陥を測定し、その測定結果をパソコ
ン画面上に表示する手順について説明する。
て、液晶パネルの欠陥を測定し、その測定結果をパソコ
ン画面上に表示する手順について説明する。
【００１５】まず、パソコン２を操作して、液晶パネル
検査装置１によって液晶パネルに欠陥が発生しているか
を検査する（ステップ１）。
検査装置１によって液晶パネルに欠陥が発生しているか
を検査する（ステップ１）。
【００１６】次に、液晶パネル検査装置１によって検査
された検査結果をパソコン２に内蔵されたハードディス
ク３に保存する（ステップ２）。このハードディスク３
に保存される液晶パネルの検査データは、欠陥の有無、
液晶パネルに欠陥が発生している場合には、例えば、欠
陥の座標位置（Ｘ座標、Ｙ座標）、欠陥の大きさ、欠陥
の種類等である。
された検査結果をパソコン２に内蔵されたハードディス
ク３に保存する（ステップ２）。このハードディスク３
に保存される液晶パネルの検査データは、欠陥の有無、
液晶パネルに欠陥が発生している場合には、例えば、欠
陥の座標位置（Ｘ座標、Ｙ座標）、欠陥の大きさ、欠陥
の種類等である。
【００１７】次に、ネットワークケーブル４に接続され
ている工場内のパソコン５または居室に設置されたパソ
コン６〜８を起動し、液晶パネル検査装置１により自動
処理が完了した液晶パネル毎に、液晶パネルのロット番
号をパソコン２に入力する（ステップ３）。
ている工場内のパソコン５または居室に設置されたパソ
コン６〜８を起動し、液晶パネル検査装置１により自動
処理が完了した液晶パネル毎に、液晶パネルのロット番
号をパソコン２に入力する（ステップ３）。
【００１８】このようにして、液晶パネル検査装置１に
よって、液晶パネル毎に欠陥の検査が終了すると、いず
れかのパソコン５〜８により、欠陥が発生している液晶
パネルの欠陥が作業者によって目視検査される。目視検
査を実施する場合には、パソコン５〜８のいずれかに、
欠陥が発生している液晶パネルのロット番号を入力す
る。これにより、そのパソコンの画像には、欠陥部分が
表示されるとともに、欠陥の大きさ、種類が表示される
（ステップ４）。
よって、液晶パネル毎に欠陥の検査が終了すると、いず
れかのパソコン５〜８により、欠陥が発生している液晶
パネルの欠陥が作業者によって目視検査される。目視検
査を実施する場合には、パソコン５〜８のいずれかに、
欠陥が発生している液晶パネルのロット番号を入力す
る。これにより、そのパソコンの画像には、欠陥部分が
表示されるとともに、欠陥の大きさ、種類が表示される
（ステップ４）。
【００１９】次に、作業者は、パソコン画面上に表示さ
れた液晶パネルの欠陥部分を目視検査することにより、
液晶パネルが良品であるか不良品であるかを判断をする
（ステップ５）。
れた液晶パネルの欠陥部分を目視検査することにより、
液晶パネルが良品であるか不良品であるかを判断をする
（ステップ５）。
【００２０】液晶パネルが良品であると判断された場
合、液晶パネル検査装置１に次に検査する液晶パネルを
搬入する（ステップ６）。
合、液晶パネル検査装置１に次に検査する液晶パネルを
搬入する（ステップ６）。
【００２１】液晶パネルが不良品であると判断された場
合、不良とされた液晶パネルを破棄した後、次に検査す
る液晶パネルを液晶パネル検査装置に搬入する（ステッ
プ７）。
合、不良とされた液晶パネルを破棄した後、次に検査す
る液晶パネルを液晶パネル検査装置に搬入する（ステッ
プ７）。
【００２２】ステップ６及び７が終了すると、ステップ
１に戻り、次に検査すべき液晶パネルについて、ステッ
プ１〜７の作業を繰り返し行う。
１に戻り、次に検査すべき液晶パネルについて、ステッ
プ１〜７の作業を繰り返し行う。
【００２３】次に、液晶パネルの検査結果についてのパ
ソコン画面上への表示について説明する。
ソコン画面上への表示について説明する。
【００２４】図３には、液晶パネル検査装置によって検
査された検査結果の一例を示している。
査された検査結果の一例を示している。
【００２５】液晶パネルに現れる欠陥位置のＸ座標及び
Ｙ座標は、特開平６−５９２２９号公報に記載された方
法により検出される。すなわち、コンタクトロープ等を
液晶パネルの走査線及び信号線の入力端子に接続し、そ
の状態で検査用ドライバ等を駆動させて、液晶パネルを
点灯させる。この時に、表示画面にカーソルがされ、欠
陥が生じた部分にカーソルの交点を位置させることによ
り、欠陥のＸ座標及びＹ座標を特定する。
Ｙ座標は、特開平６−５９２２９号公報に記載された方
法により検出される。すなわち、コンタクトロープ等を
液晶パネルの走査線及び信号線の入力端子に接続し、そ
の状態で検査用ドライバ等を駆動させて、液晶パネルを
点灯させる。この時に、表示画面にカーソルがされ、欠
陥が生じた部分にカーソルの交点を位置させることによ
り、欠陥のＸ座標及びＹ座標を特定する。
【００２６】欠陥の大きさは、特開平９−９４５３６号
公報に記載された方法により検出される。すなわち、欠
陥の面積、円形度、欠陥色、重心位置、被検体増を取り
込む光学系の種類の中から選択された評価項目に実測値
を入力して、欠陥の大きさを評価する。
公報に記載された方法により検出される。すなわち、欠
陥の面積、円形度、欠陥色、重心位置、被検体増を取り
込む光学系の種類の中から選択された評価項目に実測値
を入力して、欠陥の大きさを評価する。
【００２７】パソコン２のハードディスク３には、検出
された欠陥の大きさに応じて、Ｌ（大）、Ｍ（中）、Ｓ
（小）が保存される。
された欠陥の大きさに応じて、Ｌ（大）、Ｍ（中）、Ｓ
（小）が保存される。
【００２８】また、欠陥の種類は、特開平６−８２８３
６号公報に記載された方法により検出される。すなわ
ち、検査装置の対向基板を液晶パネルに対向配置すると
ともに、接続用端子を液晶パネルの走査線及び信号線、
検査装置の対向電極のそれぞれに接続した状態とし、こ
の状態で、液晶パネルの走査線に１フレームの期間を定
めるオン信号と、このオン信号に接続するオフ信号とを
交互に与えるとともに、相前後する２つのフレームそれ
ぞれのオン信号付与の前に信号線に与える電圧のレベル
を変更する第１のパターンと、相前後する２つのフレー
ムそれぞれのオン信号付与の前後に信号線に与える電圧
のレベルを変更する第２のパターンと、相前後する２つ
のフレームそれぞれのオン信号付与の後に信号線に与え
る電圧のレベルを変更する第３のＰターンとを全て行
い、又は選択的に行うことにより、欠陥部に相当する部
分に暗表示が生じて欠陥モードが検出される。
６号公報に記載された方法により検出される。すなわ
ち、検査装置の対向基板を液晶パネルに対向配置すると
ともに、接続用端子を液晶パネルの走査線及び信号線、
検査装置の対向電極のそれぞれに接続した状態とし、こ
の状態で、液晶パネルの走査線に１フレームの期間を定
めるオン信号と、このオン信号に接続するオフ信号とを
交互に与えるとともに、相前後する２つのフレームそれ
ぞれのオン信号付与の前に信号線に与える電圧のレベル
を変更する第１のパターンと、相前後する２つのフレー
ムそれぞれのオン信号付与の前後に信号線に与える電圧
のレベルを変更する第２のパターンと、相前後する２つ
のフレームそれぞれのオン信号付与の後に信号線に与え
る電圧のレベルを変更する第３のＰターンとを全て行
い、又は選択的に行うことにより、欠陥部に相当する部
分に暗表示が生じて欠陥モードが検出される。
【００２９】そして、パソコン２のハードディスク３に
は、欠陥が修正可能か否かによって、１（不良）、２
（修正可能な不良）、３（良品扱いの不良）が保存され
る。
は、欠陥が修正可能か否かによって、１（不良）、２
（修正可能な不良）、３（良品扱いの不良）が保存され
る。
【００３０】パソコン５〜８の画面上には、図３に示す
検査結果のデータに基づいて、欠陥の位置が正確に表示
され、欠陥の大きさが、大きさ毎に色分けされて表示さ
れ、欠陥の種類が、種類毎に区別された図形により表示
されて、欠陥を検査しやすいようになっている。
検査結果のデータに基づいて、欠陥の位置が正確に表示
され、欠陥の大きさが、大きさ毎に色分けされて表示さ
れ、欠陥の種類が、種類毎に区別された図形により表示
されて、欠陥を検査しやすいようになっている。
【００３１】図３に示す欠陥の位置、欠陥の大きさ、欠
陥の種類が保存された欠陥データを、パソコン画面上に
変換して表示する方法を説明する。
陥の種類が保存された欠陥データを、パソコン画面上に
変換して表示する方法を説明する。
【００３２】欠陥の位置は、図３に示す欠陥位置のＸ座
標、Ｙ座標に基づいて表示する。
標、Ｙ座標に基づいて表示する。
【００３３】欠陥の大きさは、例えば、欠陥データとし
て保存されたＬ（大）を赤色、Ｍ（中）を黄色、Ｓ
（小）を青色にそれぞれ変換して、パソコンの画面上に
表示する。
て保存されたＬ（大）を赤色、Ｍ（中）を黄色、Ｓ
（小）を青色にそれぞれ変換して、パソコンの画面上に
表示する。
【００３４】欠陥の種類は、例えば、欠陥データとして
保存された１（不良）を△、２（修正可能な不良）を
□、３（良品扱いの不良）を〇にそれぞれ変換して、パ
ソコンの画面上に表示する。
保存された１（不良）を△、２（修正可能な不良）を
□、３（良品扱いの不良）を〇にそれぞれ変換して、パ
ソコンの画面上に表示する。
【００３５】このようにパソコン画面上に、欠陥検査結
果を表示すれば、検査結果を閲覧する作業者が、欠陥の
位置、大きさ、種類等を視覚的に判別することが容易に
なり、作業効率を向上させることができる。
果を表示すれば、検査結果を閲覧する作業者が、欠陥の
位置、大きさ、種類等を視覚的に判別することが容易に
なり、作業効率を向上させることができる。
【００３６】また、パソコン画面上に表示する液晶パネ
ルの検査結果は、１画面に１つの液晶パネルの欠陥検査
結果を表示するほか、１画面上に複数の液晶パネルの欠
陥検査結果を表示するようにしてもよい。
ルの検査結果は、１画面に１つの液晶パネルの欠陥検査
結果を表示するほか、１画面上に複数の液晶パネルの欠
陥検査結果を表示するようにしてもよい。
【００３７】図４は、パソコン１画面上に複数の欠陥検
査結果を表示した概略図を示しており、（ａ）は、６枚
の液晶パネルを表示した場合（６面取り）、（ｂ）は、
４枚の液晶パネルを表示した場合（４面取り）をそれぞ
れ示している。
査結果を表示した概略図を示しており、（ａ）は、６枚
の液晶パネルを表示した場合（６面取り）、（ｂ）は、
４枚の液晶パネルを表示した場合（４面取り）をそれぞ
れ示している。
【００３８】このように、同一画面上に複数の液晶パネ
ルの欠陥結果を同時に表示することによって、各液晶パ
ネル間での欠陥の発生を比較することができ、欠陥の発
生原因を究明することが容易になる。
ルの欠陥結果を同時に表示することによって、各液晶パ
ネル間での欠陥の発生を比較することができ、欠陥の発
生原因を究明することが容易になる。
【００３９】上記の液晶パネル欠陥箇所表示システム
は、ネットワークケーブル４によって、工場外の居室に
設置されたパソコン６〜８が、工場内のパソコン２に接
続されているために、居室内のパソコン６〜８を利用し
ても、液晶パネルの良否を判断することができる。した
がって、工場内及び居室のいずれにおいても液晶パネル
の欠陥箇所をリアルタイムに判断することができる。こ
のことにより、工場または居室のいずれにおいても検査
することができるので、液晶パネルを検査する際の作業
員の負担が軽減され、作業効率を向上させることができ
る。
は、ネットワークケーブル４によって、工場外の居室に
設置されたパソコン６〜８が、工場内のパソコン２に接
続されているために、居室内のパソコン６〜８を利用し
ても、液晶パネルの良否を判断することができる。した
がって、工場内及び居室のいずれにおいても液晶パネル
の欠陥箇所をリアルタイムに判断することができる。こ
のことにより、工場または居室のいずれにおいても検査
することができるので、液晶パネルを検査する際の作業
員の負担が軽減され、作業効率を向上させることができ
る。
【００４０】また、各液晶パネルの検査結果をパソコン
２のハードディスクに保存することができるので、液晶
パネルの検査結果を長期間にわたって保存することがで
き、後日、不良品として返品された液晶パネルがあって
も、その液晶パネルの欠陥箇所、欠陥の大きさ、欠陥の
種類等をパソコン画面上で確認することができ、欠陥の
発生原因を究明することができる。
２のハードディスクに保存することができるので、液晶
パネルの検査結果を長期間にわたって保存することがで
き、後日、不良品として返品された液晶パネルがあって
も、その液晶パネルの欠陥箇所、欠陥の大きさ、欠陥の
種類等をパソコン画面上で確認することができ、欠陥の
発生原因を究明することができる。
【００４１】
【発明の効果】本発明の液晶パネル欠陥箇所表示システ
ムは、液晶パネル検査装置が検出した液晶パネルの欠陥
箇所の座標及び欠陥の大きさ、欠陥の種類等の欠陥情報
が、第一のパソコンのハードディスクに保存され、ハー
ドディスクに保存された検査結果をネットワークに接続
された複数の第二のパソコンに画面表示するため、第二
のパソコンに表示された画像によって、リアルタイムに
液晶パネルの欠陥箇所を確認することができる。
ムは、液晶パネル検査装置が検出した液晶パネルの欠陥
箇所の座標及び欠陥の大きさ、欠陥の種類等の欠陥情報
が、第一のパソコンのハードディスクに保存され、ハー
ドディスクに保存された検査結果をネットワークに接続
された複数の第二のパソコンに画面表示するため、第二
のパソコンに表示された画像によって、リアルタイムに
液晶パネルの欠陥箇所を確認することができる。
【００４２】第二のパソコンによって、液晶パネルの欠
陥情報を、それぞれ、視覚的に区別し得る状態にして画
面表示されるようにすれば、液晶パネルの欠陥をより視
覚的に確認することが容易になる。
陥情報を、それぞれ、視覚的に区別し得る状態にして画
面表示されるようにすれば、液晶パネルの欠陥をより視
覚的に確認することが容易になる。
【００４３】ネットワークを介して、第二のパソコンを
液晶パネル検査装置が設置された工場の外部に設置すれ
ば、工場の外部においても液晶パネルの欠陥を確認する
ことができ、液晶パネルの欠陥を確認する作業効率が向
上する。
液晶パネル検査装置が設置された工場の外部に設置すれ
ば、工場の外部においても液晶パネルの欠陥を確認する
ことができ、液晶パネルの欠陥を確認する作業効率が向
上する。
【００４４】欠陥判定用パソコンの表示画面に、同時に
複数の液晶パネルの欠陥を画面表示するようにすれば、
液晶パネル間の欠陥を比較することができ、液晶パネル
に欠陥が生じる原因を究明することができる。
複数の液晶パネルの欠陥を画面表示するようにすれば、
液晶パネル間の欠陥を比較することができ、液晶パネル
に欠陥が生じる原因を究明することができる。
【図１】本発明の液晶パネル欠陥箇所表示システムを説
明するブロック図である。
明するブロック図である。
【図２】液晶パネルの欠陥を検査する手順を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図３】液晶パネルを検査した検査結果の一例を示す表
である。
である。
【図４】（ａ）、（ｂ）は、それぞれ、パソコン画面上
に液晶パネルの欠陥の複数の検査結果を表示する場合を
説明する概略図である。
に液晶パネルの欠陥の複数の検査結果を表示する場合を
説明する概略図である。
１ 液晶パネル検査装置 ２ パソコン ３ ハードディスク ４ ネットワークケーブル ５、６、７、８ パソコン
Claims (4)
- 【請求項１】 液晶パネルの欠陥を検出して、欠陥箇所
の座標及び欠陥の大きさ、欠陥の種類等の欠陥情報をそ
れぞれ検出する液晶パネル検査装置と、該液晶パネル検
査装置によって検出された欠陥情報を液晶パネルにおけ
る欠陥位置に対応させて表示し、さらには欠陥情報を保
存するハードディスクを有する第一のパソコンと、該第
一のパソコンにネットワークを介して接続されて該第一
のパソコンのハードディスクに保存された欠陥情報を欠
陥位置に対応させて画面表示する複数の第二のパソコン
とを備えたことを特徴とする液晶パネル欠陥箇所表示シ
ステム。 - 【請求項２】 前記第二のパソコンは、液晶パネルの欠
陥情報を、それぞれ、視覚的に区別し得る状態にして画
面表示する、請求項１に記載の液晶パネル欠陥箇所表示
システム。 - 【請求項３】 前記第二のパソコンは、前記液晶パネル
検査装置が設置された工場の外部に設置されている、請
求項１または２に記載の液晶パネル欠陥箇所表示システ
ム。 - 【請求項４】 前記第二のパソコンの表示画面に、前記
液晶パネル検査装置にて検出された複数の液晶パネルの
欠陥が同時に画面表示される、請求項１〜３のいずれか
に記載の液晶パネル欠陥箇所表示システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001077317A JP2002277845A (ja) | 2001-03-16 | 2001-03-16 | 液晶パネル欠陥箇所表示システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001077317A JP2002277845A (ja) | 2001-03-16 | 2001-03-16 | 液晶パネル欠陥箇所表示システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002277845A true JP2002277845A (ja) | 2002-09-25 |
Family
ID=18934093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001077317A Withdrawn JP2002277845A (ja) | 2001-03-16 | 2001-03-16 | 液晶パネル欠陥箇所表示システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002277845A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008102075A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Hitachi Giken Co Ltd | 目視検査支援装置、目視検査支援システム並びに目視検査支援方法 |
| KR101045921B1 (ko) * | 2003-03-12 | 2011-07-01 | 고쿠사이 고우덴 유겐 고우시 | 디스플레이 패널 결함 검사 시스템 및 방법 |
| CN104570411A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-04-29 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 多工位点灯aoi*** |
-
2001
- 2001-03-16 JP JP2001077317A patent/JP2002277845A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101045921B1 (ko) * | 2003-03-12 | 2011-07-01 | 고쿠사이 고우덴 유겐 고우시 | 디스플레이 패널 결함 검사 시스템 및 방법 |
| JP2008102075A (ja) * | 2006-10-20 | 2008-05-01 | Hitachi Giken Co Ltd | 目視検査支援装置、目視検査支援システム並びに目視検査支援方法 |
| CN104570411A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-04-29 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 多工位点灯aoi*** |
| CN104570411B (zh) * | 2013-10-17 | 2018-02-16 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 多工位点灯aoi*** |
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