KR100555013B1 - 광학 장치의 제조 방법 및 이에 이용하는 결함 판정용검사 도구 - Google Patents
광학 장치의 제조 방법 및 이에 이용하는 결함 판정용검사 도구 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100555013B1 KR100555013B1 KR1020030064668A KR20030064668A KR100555013B1 KR 100555013 B1 KR100555013 B1 KR 100555013B1 KR 1020030064668 A KR1020030064668 A KR 1020030064668A KR 20030064668 A KR20030064668 A KR 20030064668A KR 100555013 B1 KR100555013 B1 KR 100555013B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- display
- pattern
- concentration
- optical device
- manufacturing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
Description
판정 정해율 | 오버킬 | 언더킬 | |
실시예 | 84 | 2 | 14 |
비교예 | 64 | 20 | 16 |
환경 조도(lx) | 11 | 40 | 130 | 195 |
진한 표시 불균일의 샘플 | 35 % | 35 % | 35 % | 35 % |
연한 표시 불균일의 샘플 | 5 % | 5 % | 5 % | 5 % |
Claims (16)
- 광학 장치의 표시면 상의 면 내의 표시 불균일을 검출하는 동시에, 검출된 상기 표시 불균일 정도를 판정하기 위한 판정 조작을 행하는 광학 장치의 제조 방법에 있어서,투명한 시트 또는 필름에 적어도 하나의 농도 패턴을 설치한 검사 도구를 상기 광학 장치의 상기 표시면 상에 적재하고,상기 농도 패턴과 상기 표시 불균일을 비교 대조하여 그들 농도 레벨이 동등한지, 혹은 대소 관계에 있는지를 판별함으로써 상기 표시 불균일 정도를 판정하고,상기 광학 장치는 동작 상태에 있고, 상기 표시면으로부터 빛을 출사하고 있는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 농도 패턴이 상기 표시 불균일에 인접하도록 상기 검사 도구를 상기 광학 장치의 상기 표시면 상에 적재하는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 농도 패턴이 상기 표시 불균일을 덮도록 상기 검사 도구를 상기 광학 장치의 상기 표시면 상에 적재하는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 검사 도구는 농도 레벨이 다른 복수의 농도 패턴을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제5항에 있어서, 상기 농도 패턴은 농도 레벨 크기의 순서에 따라서 배열되는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제6항에 있어서, 상기 판정시 상기 배열된 일련의 상기 농도 패턴을 판정 대상의 상기 표시 불균일에 차례로 적용하여 농도 레벨의 비교 대조, 또는 시인 가능한지 여부의 판별을 행하는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 농도 패턴은 상기 시트 또는 필름에 설치된 복수의 도트에 의해 구성되고, 상기 농도 패턴의 상기 농도 레벨은 단위 면적당 상기 도트의 점유율로 표현되는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 농도 패턴은 서로 비연속의 원형 또는 직사각 형상의 도트가 균등하게 분산 배치되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 농도 패턴을 구성하는 상기 도트의 크기는 통일되어 있는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 도트의 치수는 40 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 검사 도구는 상기 도트의 점유율이 다른 복수의 농도 패턴을 포함하여 구성되고, 상기 도트의 점유율이 2 % 내지 45 %인 범위의 상기 농도 패턴을 갖는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 검사 도구는 상기 농도 레벨이 낮은 농도 레벨에 있어서는 1 내지 3 %의 간격을 두고 형성되고, 높은 농도 레벨에 있어서는 5 %의 간격을 두고 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 광학 장치는 표시 패널인 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 광학 장치는 조명 장치인 것을 특징으로 하는 광학 장치의 제조 방법.
- 광학 장치의 주표면에 나타나는 표시 불균일 정도의 정도를 판정하기 위한 검사 도구이며,무색 투명한 시트 또는 필름으로 이루어지는 베이스 기판과,상기 베이스 기판에 설치되어 치수가 40 ㎛ 이하인 도트의 집합체로 이루어지는 농도 패턴을 갖는 것을 특징으로 하는 검사 도구.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002274152 | 2002-09-19 | ||
JPJP-P-2002-00274152 | 2002-09-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040025622A KR20040025622A (ko) | 2004-03-24 |
KR100555013B1 true KR100555013B1 (ko) | 2006-03-03 |
Family
ID=32652529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030064668A KR100555013B1 (ko) | 2002-09-19 | 2003-09-18 | 광학 장치의 제조 방법 및 이에 이용하는 결함 판정용검사 도구 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6983544B2 (ko) |
KR (1) | KR100555013B1 (ko) |
CN (1) | CN100346151C (ko) |
TW (1) | TWI238922B (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7353609B2 (en) * | 2006-05-19 | 2008-04-08 | Boeing Company | Hole location method and apparatus |
CN101251497B (zh) * | 2008-03-19 | 2011-04-06 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 光学玻璃均匀性测试装置及其测试方法 |
US8156657B2 (en) * | 2010-03-25 | 2012-04-17 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Measuring tool |
US11920924B2 (en) * | 2015-02-24 | 2024-03-05 | Bsc Forensics | Method and apparatus for relating measurements with comparable objects for the purpose of recording evidence |
US20160245634A1 (en) * | 2015-02-24 | 2016-08-25 | Bsc Forensics | Method and Apparatus for Relating Measurements with Comparable Objects for the Purpose of Recording Evidence |
CN106855385A (zh) * | 2015-12-08 | 2017-06-16 | 中国航空工业第六八研究所 | 一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法 |
US11378374B2 (en) | 2018-12-07 | 2022-07-05 | Gregory E. Lowitz | Building inspection and measurement device |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1621991A (en) * | 1923-05-30 | 1927-03-22 | Mayer Emil | Device for determining photographic exposures |
US3109239A (en) * | 1960-09-12 | 1963-11-05 | Wicker | Screen angle indicator |
US3266162A (en) * | 1965-02-09 | 1966-08-16 | Potter Instrument Co Inc | Production aid |
DE69022387T2 (de) * | 1990-01-19 | 1996-04-18 | Agfa Gevaert Nv | Messstreifen. |
US6457250B1 (en) * | 1999-10-01 | 2002-10-01 | The Pillsbury Company | Apparatus for measuring conformance of manufactured food product |
JP2001116523A (ja) * | 1999-10-15 | 2001-04-27 | Sokkia Co Ltd | 外観検査装置 |
JP2001229387A (ja) * | 2000-02-18 | 2001-08-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 周期性パターンの検査方法及び装置 |
JP2001255234A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-21 | Canon Inc | カラーフィルタの検査方法とこれに用いる検査用マスク |
JP4516674B2 (ja) * | 2000-08-04 | 2010-08-04 | 大日本印刷株式会社 | 周期性パターンのムラ検査方法及び装置 |
-
2003
- 2003-09-18 TW TW092125745A patent/TWI238922B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-09-18 KR KR1020030064668A patent/KR100555013B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-09-19 CN CNB031249558A patent/CN100346151C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-09-22 US US10/665,476 patent/US6983544B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040125367A1 (en) | 2004-07-01 |
TWI238922B (en) | 2005-09-01 |
US6983544B2 (en) | 2006-01-10 |
CN100346151C (zh) | 2007-10-31 |
CN1493861A (zh) | 2004-05-05 |
TW200407659A (en) | 2004-05-16 |
KR20040025622A (ko) | 2004-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR0150689B1 (ko) | 평면형 표시패널 검사장치 | |
US8428334B2 (en) | Inspection System | |
TWI418778B (zh) | 用以測試平面顯示裝置之系統及其方法 | |
US20040134231A1 (en) | Liquid crystal display unit-use glass substrate and method of producing mother glass and mother glass inspection device | |
CN101384948B (zh) | 用于测试平板显示器设备的***及其方法 | |
KR20070099398A (ko) | 기판검사장치와 이를 이용한 기판검사방법 | |
KR20080054596A (ko) | 평판 표시 장치의 검사 장치 및 방법 | |
CN111340781B (zh) | 不良产品的复核方法及装置 | |
KR100555013B1 (ko) | 광학 장치의 제조 방법 및 이에 이용하는 결함 판정용검사 도구 | |
KR101391448B1 (ko) | 평판 표시 장치의 검사시스템 및 검사방법 | |
JP4350475B2 (ja) | 光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 | |
CN115167021A (zh) | 显示面板的检测方法及检测装置 | |
CN115511791A (zh) | 一种液晶光栅功能检测方法及*** | |
JPH06250139A (ja) | 液晶表示パネルの検査方法 | |
JP3375763B2 (ja) | 平面型表示装置の検査方法およびその装置 | |
KR101144797B1 (ko) | 박막형 검사대상체 검사장치 및 동작방법 | |
JP3062711B2 (ja) | 液晶表示パネルの点灯輝度測定方法 | |
JP5407442B2 (ja) | カラーフィルタ汚れ欠陥の選別方法 | |
JP4874893B2 (ja) | 点灯検査装置、および点灯検査方法 | |
JP2008241254A (ja) | 点灯検査方法及び平面表示装置の製造方法 | |
KR101073330B1 (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사 장치 및 검사 방법 | |
JPH06118024A (ja) | 表示素子の輝度ムラ検査方法 | |
JP3700486B2 (ja) | 密着型イメージセンサic実装位置検査方法及び密着型イメージセンサic実装位置検査装置 | |
JPH08220014A (ja) | Lcdパネル検査装置及びこの装置を用いたlcdパネル検査方法 | |
JP2003149081A (ja) | 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130118 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140207 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150206 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160211 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170210 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180209 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |