JPH0444493A - カラー液晶パネルの欠陥検出装置 - Google Patents
カラー液晶パネルの欠陥検出装置Info
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- JPH0444493A JPH0444493A JP15353490A JP15353490A JPH0444493A JP H0444493 A JPH0444493 A JP H0444493A JP 15353490 A JP15353490 A JP 15353490A JP 15353490 A JP15353490 A JP 15353490A JP H0444493 A JPH0444493 A JP H0444493A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 208000019914 Mental Fatigue Diseases 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、カラー液晶パネルの絵素の欠陥を検出する検
出装置に関する。
出装置に関する。
〈従来の技術〉
従来におけるカラー液晶パネルの絵素の欠陥の検出は、
欠陥を有する絵素は正常な絵素より輝度レベルが極端に
低いか高いことを利用している。
欠陥を有する絵素は正常な絵素より輝度レベルが極端に
低いか高いことを利用している。
すなわち、カラー液晶パネルを点灯させ、その表示面を
オペレータが目視して周囲と輝度レベルが異なる部分を
探すことで行われている。
オペレータが目視して周囲と輝度レベルが異なる部分を
探すことで行われている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、従来のオペレータの目視による絵素の欠
陥の検出には以下のような問題点がある。
陥の検出には以下のような問題点がある。
■微妙な欠陥を検出することができない。
■検査時間の短縮が困難である。
■オペレータによって検査基準が異なる。
■オペレータに過大の注意力、集中力を要求するので、
肉体的、精神的疲労が多大である。
肉体的、精神的疲労が多大である。
■そのため、欠陥を見落とすことがある。
本発明は上記事情に鑑みて創案されたもので、カラー液
晶パネルの絵素の欠陥を自動的に検出することができる
カラー液晶パネルの欠陥検出装置を提供することを目的
としている。
晶パネルの絵素の欠陥を自動的に検出することができる
カラー液晶パネルの欠陥検出装置を提供することを目的
としている。
く課題を解決するための手段〉
本発明に係るカラー液晶パネルの欠陥検出装置は、カラ
ー液晶パネルの表示面を複数の絵素群に区切り、前記絵
素群に含まれた絵素の欠陥の有無を検査することによっ
てカラー液晶パネルの全絵素の欠陥の有無を検査するカ
ラー液晶パネルの欠陥検出装置であって、前記カラー液
晶パネルを点灯させる点灯部と、前記絵素群と同一パタ
ーンで欠陥のない絵素が配列された標準絵素群のデータ
が予め格納されたメモリ部と、前記絵素群に含まれる各
絵素と前記標準絵素群の対応する各絵素との輝度レベル
の差を演算するとともに、前記輝度レベルの差の絶対値
を前記メモリ部に書き込む演算部と、前記絶対値が所定
値以上の絵素のみを表示するモニタ部とを備えている。
ー液晶パネルの表示面を複数の絵素群に区切り、前記絵
素群に含まれた絵素の欠陥の有無を検査することによっ
てカラー液晶パネルの全絵素の欠陥の有無を検査するカ
ラー液晶パネルの欠陥検出装置であって、前記カラー液
晶パネルを点灯させる点灯部と、前記絵素群と同一パタ
ーンで欠陥のない絵素が配列された標準絵素群のデータ
が予め格納されたメモリ部と、前記絵素群に含まれる各
絵素と前記標準絵素群の対応する各絵素との輝度レベル
の差を演算するとともに、前記輝度レベルの差の絶対値
を前記メモリ部に書き込む演算部と、前記絶対値が所定
値以上の絵素のみを表示するモニタ部とを備えている。
く作用〉
まず、１つ目の絵素群のデータがメモリ部に書き込まれ
る。このデータと、標準絵素群に関するデータとが演算
部に送出され、当該演算部において両データの輝度レベ
ルの差が演算される。
る。このデータと、標準絵素群に関するデータとが演算
部に送出され、当該演算部において両データの輝度レベ
ルの差が演算される。
次に、前記輝度レベルの差の絶対値のデータがメモリ部
に書き込まれる。ここで、欠陥のある絵素のみが、モニ
タ部に表示される。
に書き込まれる。ここで、欠陥のある絵素のみが、モニ
タ部に表示される。
メモリ部に対する１つ目の絵素群に関するデータの書き
換えが完了したならば、２つ目の絵素群の検査を行い、
同様にデータを書き換えを行う。
換えが完了したならば、２つ目の絵素群の検査を行い、
同様にデータを書き換えを行う。
全ての絵素群の検査の完了は、カラー液晶パネルの表示
面の全面にわたる検査が完了したことになるので、次の
カラー液晶パネルの検査を行う。
面の全面にわたる検査が完了したことになるので、次の
カラー液晶パネルの検査を行う。
〈実施例〉
以下、図面を参照して本発明に係る一実施例を説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例に係るカラー液晶パネルの欠
陥検出装置の概略的構成図、第２図は標準絵素群を示す
説明図、第３図は欠陥のあるカラー液晶パネルの絵素群
を示す説明図、第４図は欠陥のある絵素がモニタ部に表
示された状態を示す説明図、第５図はこのカラー液晶パ
ネルの欠陥検出装置の動作を示すフローチャートである
。
陥検出装置の概略的構成図、第２図は標準絵素群を示す
説明図、第３図は欠陥のあるカラー液晶パネルの絵素群
を示す説明図、第４図は欠陥のある絵素がモニタ部に表
示された状態を示す説明図、第５図はこのカラー液晶パ
ネルの欠陥検出装置の動作を示すフローチャートである
。
本実施例に係るカラー液晶パネルの欠陥検出装置の検査
対象たるカラー液晶パネル１００には、ＲｌＧ、Ｂの各
絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、１１０Ｂがデルタ配置、すな
わちそれぞれが正三角形の各頂点に位置するように配置
されている。
対象たるカラー液晶パネル１００には、ＲｌＧ、Ｂの各
絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、１１０Ｂがデルタ配置、すな
わちそれぞれが正三角形の各頂点に位置するように配置
されている。
なお、絵素群１２０とは、カラー液晶パネル１００の表
示面、すなわち全ての絵素１１０を複数に区切ったもの
であって、第３図に示すように１つの絵素群１２０には
複数の絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂが含まれてい
る。しかも、絵素群１２０に含まれる絵素１１０Ｒ１１
１０Ｇ、１１０Ｂの位置は、全ての絵素群１２０で同一
になるように設定されているものとする。また、欠陥の
ある絵素は、１１１の図番をもって示す。
示面、すなわち全ての絵素１１０を複数に区切ったもの
であって、第３図に示すように１つの絵素群１２０には
複数の絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂが含まれてい
る。しかも、絵素群１２０に含まれる絵素１１０Ｒ１１
１０Ｇ、１１０Ｂの位置は、全ての絵素群１２０で同一
になるように設定されているものとする。また、欠陥の
ある絵素は、１１１の図番をもって示す。
また、標準絵素群１２ＯＡとは、第２図に示すように、
全ての絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、ｌｌ０Ｂに欠陥がない
理想の絵素群のことであって、前記絵素群１２０と同一
パターン°で絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、 ｌｌ０Ｂが配
列されている。かかる標準絵素群１２０Ａは、予めメモ
リ部１０にデータとして格納されている。
全ての絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、ｌｌ０Ｂに欠陥がない
理想の絵素群のことであって、前記絵素群１２０と同一
パターン°で絵素１１０Ｒ，ｌｌ０Ｇ、 ｌｌ０Ｂが配
列されている。かかる標準絵素群１２０Ａは、予めメモ
リ部１０にデータとして格納されている。
このカラー液晶パネルの欠陥検出装置は、欠陥のある絵
素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂは、欠陥のないものに
比べて輝度レベルが極端に違うことに着目し、輝度レベ
ルの差を演算することによって欠陥のある絵素１１１を
特定するようにしている。
素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂは、欠陥のないものに
比べて輝度レベルが極端に違うことに着目し、輝度レベ
ルの差を演算することによって欠陥のある絵素１１１を
特定するようにしている。
本実施例に係るカラー液晶パネルの欠陥検出装置は、カ
ラー液晶パネル１００の表示面を複数の絵素群１２０に
区切り、前記絵素群１２０に含まれた絵素１１０Ｒ１Ｉ
ＩＯＧ、１１０Ｂの欠陥の有無を検査することによって
カラー液晶パネル１００の全絵素１１０Ｒ，１１０Ｇ、
１１０Ｂの欠陥の有無を検査する装置である。
ラー液晶パネル１００の表示面を複数の絵素群１２０に
区切り、前記絵素群１２０に含まれた絵素１１０Ｒ１Ｉ
ＩＯＧ、１１０Ｂの欠陥の有無を検査することによって
カラー液晶パネル１００の全絵素１１０Ｒ，１１０Ｇ、
１１０Ｂの欠陥の有無を検査する装置である。
かかるカラー液晶パネルの欠陥検出装置は、カラー液晶
パネル１００を点灯させる点灯部３０と、前記絵素群１
２０と同一パターンで欠陥のない絵素１１０Ｒ１１１０
Ｇ、１１０Ｂが配列された標準絵素群１２ＯＡのデータ
が予め格納されたメモリ部１０と、前記絵素群１２０に
含まれる各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂと前記標
準絵素群１２０Ａの対応する各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ
、１１０Ｂとの輝度レベルの差を演算するとともに、前
記輝度レベルの差の絶対値を前記メモリ部１０に書き込
む演算部２０と、前記絶対値が所定値以上の絵素１１０
のみを表示するモニタ部４０とを備えている。
パネル１００を点灯させる点灯部３０と、前記絵素群１
２０と同一パターンで欠陥のない絵素１１０Ｒ１１１０
Ｇ、１１０Ｂが配列された標準絵素群１２ＯＡのデータ
が予め格納されたメモリ部１０と、前記絵素群１２０に
含まれる各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂと前記標
準絵素群１２０Ａの対応する各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ
、１１０Ｂとの輝度レベルの差を演算するとともに、前
記輝度レベルの差の絶対値を前記メモリ部１０に書き込
む演算部２０と、前記絶対値が所定値以上の絵素１１０
のみを表示するモニタ部４０とを備えている。
検査対象たるカラー液晶パネル１００は、Ｘ−Ｙテーブ
ル５０に載置され、Ｘ−Ｙテーブル５０の下方にある点
灯部３０によって点灯された状態で検査される。すなわ
ち、カラー液晶パネル１００はＸ−Ｙテーブル５０によ
ってＸ−Ｙ方向に移動されることによって、全表示面が
絵素群１２０として検査されるのである。
ル５０に載置され、Ｘ−Ｙテーブル５０の下方にある点
灯部３０によって点灯された状態で検査される。すなわ
ち、カラー液晶パネル１００はＸ−Ｙテーブル５０によ
ってＸ−Ｙ方向に移動されることによって、全表示面が
絵素群１２０として検査されるのである。
かかるＸ−Ｙテーブル５０の上方には、表示面を絵素群
１２０ 、ａして区切ってメモリ部１０に送出するＣＣ
Ｄカメラ６０が設けられている。
１２０ 、ａして区切ってメモリ部１０に送出するＣＣ
Ｄカメラ６０が設けられている。
次に、このカラー液晶パネルの欠陥検出装置の動作につ
いて第５図を参照しつつ説明する。
いて第５図を参照しつつ説明する。
まず、ＣＣＤカメラ１０から画像入出力部７０を介して
１つ目の絵素群１２０のデータがメモリ部１０に書き込
まれる（Ｓ□）、このデータと、標準絵素群１２０Ａに
関するデータとが演算部２０に送出され、当該演算部２
０において両データの輝度レベルの差が演算される（Ｓ
２）。すなわち、メモリ部ＩＯ番こ書き込まれた絵素群
１２０の各絵素１１０Ｒ１ＩＩＯＧ、１１０Ｂと、標準
絵素群１２０Ａの各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂ
との輝度レベルの差が演算されるのである。
１つ目の絵素群１２０のデータがメモリ部１０に書き込
まれる（Ｓ□）、このデータと、標準絵素群１２０Ａに
関するデータとが演算部２０に送出され、当該演算部２
０において両データの輝度レベルの差が演算される（Ｓ
２）。すなわち、メモリ部ＩＯ番こ書き込まれた絵素群
１２０の各絵素１１０Ｒ１ＩＩＯＧ、１１０Ｂと、標準
絵素群１２０Ａの各絵素１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂ
との輝度レベルの差が演算されるのである。
次に、前記輝度レベルの差の絶対値のデータがメモリ部
１０に書き込まれる （Ｓ、）。この場合、絵素群１２
０のデータと絶対値のデータとを置き換えるようにする
。従って、メモリ部１０に格納されているデータのうち
、絵素群１２０に関するデータは、各絵素１１０Ｒ１１
１０Ｇ、１１０Ｂにおける標準絵素群１２０＾の各絵素
との輝度レベルの差の絶対値のみになる。
１０に書き込まれる （Ｓ、）。この場合、絵素群１２
０のデータと絶対値のデータとを置き換えるようにする
。従って、メモリ部１０に格納されているデータのうち
、絵素群１２０に関するデータは、各絵素１１０Ｒ１１
１０Ｇ、１１０Ｂにおける標準絵素群１２０＾の各絵素
との輝度レベルの差の絶対値のみになる。
ここで、欠陥のある絵素１１１は、モニタ部４０に表示
される。すなわち、第３図で示す絵素群１２０にあって
は、１１０Ｇが欠陥のある絵素１１１となっているので
あるから、その絵素１１１（ＩＩＯＧ）のみがモニタ部
４０に表示され、オペレータの注意を促す。
される。すなわち、第３図で示す絵素群１２０にあって
は、１１０Ｇが欠陥のある絵素１１１となっているので
あるから、その絵素１１１（ＩＩＯＧ）のみがモニタ部
４０に表示され、オペレータの注意を促す。
メモリ部１０に対する１つ目の絵素群１２０に関するデ
ータの書き換えが完了したならば（Ｓ４）、２つ目の絵
素群１２０、すなわち隣接する絵素群１２０の検査を行
い、同様にデータを書き換えを行う。
ータの書き換えが完了したならば（Ｓ４）、２つ目の絵
素群１２０、すなわち隣接する絵素群１２０の検査を行
い、同様にデータを書き換えを行う。
この際、２つ目の絵素群１２０がＣＣＤカメラ６０の真
下に位置するように、Ｘ−Ｙテーブル５０が機構制御部
８０によって駆動される。
下に位置するように、Ｘ−Ｙテーブル５０が機構制御部
８０によって駆動される。
全ての絵素群１２０の検査の完了は、カラー液晶パネル
１００の表示面の全面にわたる検査が完了したことにな
るので、次のカラー液晶パネル１００の検査を行う（Ｓ
、）。
１００の表示面の全面にわたる検査が完了したことにな
るので、次のカラー液晶パネル１００の検査を行う（Ｓ
、）。
〈発明の効果〉
本発明に係るカラー液晶パネルの欠陥検出装置は、カラ
ー液晶パネルの表示面を複数の絵素群に区切り、前記絵
素群に含まれた絵素の欠陥の有無を検査することによっ
てカラー液晶パネルの全絵素の欠陥の有無を検査するカ
ラー液晶パネルの欠陥検出装置であって、前記カラー液
晶パネルを点灯させる点灯部と、前記絵素群と同一パタ
ーンで欠陥のない絵素が配列された標準絵素群のデータ
が予め格納されたメモリ部と、前記絵素群に含まれる各
絵素と前記標準絵素群の対応する各絵素との輝度レベル
の差を演算するとともに、前記輝度レベルの差の絶対値
を前記メモリ部に書き込む演算部と、前記絶対値が所定
値以上の絵素のみを表示するモニタ部とを備えているの
で、微妙な欠陥を検出することができ、検査に要する時
間が短くてすむ。また、従来のように、オペレータによ
る検査基準の違いがないので、欠陥のある絵素を見落と
すことがない。
ー液晶パネルの表示面を複数の絵素群に区切り、前記絵
素群に含まれた絵素の欠陥の有無を検査することによっ
てカラー液晶パネルの全絵素の欠陥の有無を検査するカ
ラー液晶パネルの欠陥検出装置であって、前記カラー液
晶パネルを点灯させる点灯部と、前記絵素群と同一パタ
ーンで欠陥のない絵素が配列された標準絵素群のデータ
が予め格納されたメモリ部と、前記絵素群に含まれる各
絵素と前記標準絵素群の対応する各絵素との輝度レベル
の差を演算するとともに、前記輝度レベルの差の絶対値
を前記メモリ部に書き込む演算部と、前記絶対値が所定
値以上の絵素のみを表示するモニタ部とを備えているの
で、微妙な欠陥を検出することができ、検査に要する時
間が短くてすむ。また、従来のように、オペレータによ
る検査基準の違いがないので、欠陥のある絵素を見落と
すことがない。
第１図は本発明の一実施例に係るカラー液晶パネルの欠
陥検出装置の概略的構成図、第２図は標準絵素群を示す
説明図、第３図は欠陥のあるカラー液晶パネルの絵素群
を示す説明図、第４図は欠陥のある絵素がモニタ部に表
示された状態を示す説明図、第５図はこのカラー液晶パ
ネルの欠陥検出装置の動作を示すフローチャートである
。 １０・・・メモリ部、２０・・・演算部、３ｏ・・・点
灯部、４０・・・モニタ部、１００ ・・・カラー液
晶パネル、１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂ・・・絵素、
１１１・・欠陥のある絵素、１２０ ・・・絵素群、
１２０＾・・・標準絵素群。 特許出願人 シャープ株式会社第１図 第５図
陥検出装置の概略的構成図、第２図は標準絵素群を示す
説明図、第３図は欠陥のあるカラー液晶パネルの絵素群
を示す説明図、第４図は欠陥のある絵素がモニタ部に表
示された状態を示す説明図、第５図はこのカラー液晶パ
ネルの欠陥検出装置の動作を示すフローチャートである
。 １０・・・メモリ部、２０・・・演算部、３ｏ・・・点
灯部、４０・・・モニタ部、１００ ・・・カラー液
晶パネル、１１０Ｒ１１１０Ｇ、１１０Ｂ・・・絵素、
１１１・・欠陥のある絵素、１２０ ・・・絵素群、
１２０＾・・・標準絵素群。 特許出願人 シャープ株式会社第１図 第５図
Claims (1)
- （１）カラー液晶パネルの表示面を複数の絵素群に区切
り、前記絵素群に含まれた絵素の欠陥の有無を検査する
ことによってカラー液晶パネルの全絵素の欠陥の有無を
検査するカラー液晶パネルの欠陥検出装置において、前
記カラー液晶パネルを点灯させる点灯部と、前記絵素群
と同一パターンで欠陥のない絵素が配列された標準絵素
群のデータが予め格納されたメモリ部と、前記絵素群に
含まれる各絵素と前記標準絵素群の対応する各絵素との
輝度レベルの差を演算するとともに、前記輝度レベルの
差の絶対値を前記メモリ部に書き込む演算部と、前記絶
対値が所定値以上の絵素のみを表示するモニタ部とを具
備したことを特徴とするカラー液晶パネルの欠陥検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353490A JPH0444493A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | カラー液晶パネルの欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353490A JPH0444493A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | カラー液晶パネルの欠陥検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0444493A true JPH0444493A (ja) | 1992-02-14 |
Family
ID=15564622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15353490A Pending JPH0444493A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | カラー液晶パネルの欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0444493A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5717780A (en) * | 1993-07-13 | 1998-02-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Checking apparatus for flat type display panels |
| KR100762814B1 (ko) * | 2005-06-10 | 2007-10-02 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 표시 패널 모듈, 표시 장치, 표시 패널용 검사 장치, 표시패널의 검사 방법 |
| KR100817131B1 (ko) * | 2002-03-15 | 2008-03-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법 |
| CN114323581A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-12 | 合肥维信诺科技有限公司 | 评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备 |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP15353490A patent/JPH0444493A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5717780A (en) * | 1993-07-13 | 1998-02-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Checking apparatus for flat type display panels |
| KR100817131B1 (ko) * | 2002-03-15 | 2008-03-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 패널의 검사 장치 및 그 방법 |
| KR100762814B1 (ko) * | 2005-06-10 | 2007-10-02 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 표시 패널 모듈, 표시 장치, 표시 패널용 검사 장치, 표시패널의 검사 방법 |
| CN114323581A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-12 | 合肥维信诺科技有限公司 | 评估待测屏体显示效果的方法、装置、存储介质及电子设备 |
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