JP2002267620A - 板状物体目視検査装置 - Google Patents
板状物体目視検査装置Info
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Abstract
き、人の記憶に頼ることなく欠陥位置の位置データを取
込むこと。また、この欠陥位置データを他装置に転送
し、他装置によって詳細に検査できるようにすること。 【解決手段】 被測定物をX、Y、Z軸の周りを傾斜、
及び回転させる被測定物位置決め部と、被測定物を照明
する照明部と、検出された被測定物の欠陥位置を指示す
るレーザビームを発生するレーザビーム照明部と、レー
ザビーム照明部からのレーザビームが被測定物の欠陥位
置を照明するよう制御するレーザビーム位置決め部と、
レーザビーム位置決め部の各回転角と被測定物位置決め
部の傾斜、回転角とに基づき、被測定物上の欠陥位置を
算出するコンピュータ部からなる板状物体目視検査装置
である。
Description
ラス基板や、プラズマディスプレイ装置のガラス基板
等、板状物体の目視検査に関するものである。また、目
視で検出した欠陥位置を特定し、その欠陥位置を詳細に
検査するための欠陥データを他装置に送信する機能を有
する、いわゆるマクロ検査装置に関するものである。
に、検査するガラス基板9を水平位置からほぼ垂直位置
にまで傾斜させるガラス基板傾斜部1’と、ガラス基板
9を照明する照明部3’と、ガラス基板9をほぼ垂直位
置に位置決めしたときに図示しない顕微鏡でガラス基板
9の表面上を観察するための顕微鏡位置決め部から構成
されていた。検査方法としては、照明されたガラス基板
9をいろいろな角度に傾斜させながら基板上の欠陥位置
を目視で検出し、欠陥位置を検査者が記憶する。 その
後、ガラス基板9をほぼ垂直に立てて、ほぼ垂直な面と
平行な面内の直交座標系上で任意に位置決めできる顕微
鏡を操作して、記憶していた欠陥部へ手動で位置決め
し、顕微鏡で詳しく観察していた。
ラス基板が傾斜した状態で見つけた欠陥位置を、一旦、
検査者が記憶する方法である。 したがって、詳しく顕
微鏡で検査する際、欠陥位置を見失いやすく、どこが欠
陥位置か分からなくなってしまうという致命的な欠点を
有していた。 また、顕微鏡位置決め機構が大掛かりに
なり、高価になってしまうという欠点もあった。 更
に、多くの欠陥箇所を記録できない、欠陥位置間の移動
に時間がかかるなどの欠点もあった。本発明は従来の装
置のように、欠陥位置を発見したとき、人の記憶に頼る
ことなく、欠陥位置の位置データを取込むことを目的と
する。また、本発明は、板状物体測定装置、すなわちマ
クロ検査装置によって記録した欠陥位置座標データを、
顕微鏡によって詳細に自動検査する、いわゆるミクロ検
査装置へ転送することにより、自動かつ高速で欠陥位置
を再現して詳細に検査し、多数の欠陥位置を高速で正確
に記録することを目的とする。
成するため、被測定物をX、Y、Z軸の周りを傾斜、及
び回転させる被測定物位置決め部と、被測定物の欠陥部
分を強調するため照明する照明部と、欠陥位置を指示す
るレーザビームを発生するレーザビーム照明部と、レー
ザビーム照明部をX、Y軸の周りに回転させてレーザビ
ームを被測定物の任意の点に照明するレーザビーム位置
決め部で構成する。また、レーザビーム位置決め部の回
転角と被測定物位置決め部の傾斜、回転角に基づき、被
測定物上の欠陥位置をコンピュータ部によって算出す
る。このとき、レーザビームを発生するレーザビーム照
明部は、照明部の照明光と干渉しない様に配置されてい
る。また、欠陥位置を含む欠陥情報を他装置へ転送する
インタフェース部、欠陥位置情報を含む欠陥情報を保持
するメモリ部、欠陥位置を表示する表示部を具備する。
検査方法としては、被測定物であるガラス基板を、様々
な照明光下において、X、Y、Z軸の周りに傾斜、回転
させ、目視によって欠陥部分を発見する。次に、レーザ
ビーム位置決め部で、レーザビームが欠陥位置を照明す
るように位置決めして、そのレーザビーム位置決め部の
回転位置データと、被測定物位置決め部の回転位置デー
タに基づき、コンピュータによって欠陥位置を直ちに算
出する。また、計算した欠陥位置はメモリ部に保存さ
れ、さらに、インタフェース部によって、欠陥位置を含
む欠陥情報を他装置へ転送することができる。 このよ
うにして、従来装置の欠陥位置を見失うという問題を解
消している。
実施例の外観図を図1に示し、以下、詳細に説明する。
本発明は、被測定物位置決め部1、レーザビーム位置
決め部2、照明部3、コンピュータ部4で構成されてい
る。被測定物位置決め部1は、ステージを移動させるX
軸位置決め部11、Y軸位置決め部12、θ軸位置決め
部13と各軸の回転量を検出するX軸ロータリエンコー
ダ14、Y軸ロータリエンコーダ15、θ軸ロータリエ
ンコーダ16から構成されている。レーザビーム位置決
め部2は、レーザビーム照明部21と、レーザビームを
移動させるX軸位置決め部22、Y軸位置決め部23
と、移動量を計算するX軸ロータリエンコーダ24、Y
軸ロータリエンコーダ25から構成されている。被測定
物位置決め部1、レーザビーム位置決め部2は、各軸の
移動量から位置座標を計算するコンピュータ部4と接続
されている。また、コンピュータ部4は、A/D変換器
41を介して被測定物位置決め部1を操作するポジショ
ン決め部42、レーザビーム位置決め部2を操作するポ
インタ決め部43に接続されている。次に、このマクロ
検査の動作について説明する。被測定物位置決め部1
に、測定する、例えば、ガラス基板9を載せて固定した
後、ポジション決め部42を用いてX軸位置決め部1
1、Y軸位置決め部12、θ軸位置決め部13を操作す
る。 そして、被測定物位置決め部1を種々の角度に傾
斜、回転させ、照明部3からの照明光をガラス基板9に
照射して欠陥位置の目視検査を行う。 このとき被測定
物の中心位置は常にレーザビーム照明部21の真下にあ
る。目視検査中に、欠陥位置を発見したら、ポインタ決
め部43を用いてX軸位置決め部22、Y軸位置決め部
23を操作し、レーザビームを任意の角度に傾斜させ
て、欠陥位置をレーザビームで指示する。このとき、被
測定物位置決め部1の回転量を、X軸ロータリエンコー
ダ14、Y軸ロータリエンコーダ15、θ軸ロータリエ
ンコーダ16により、各軸の移動量を検出し、この信号
をコンピュータ部4に送る。 コンピュータ部4は各軸
の変化角度を算出する。 また、レーザビーム位置決め
部2も同様、X軸ロータリエンコーダ24、Y軸ロータ
リエンコーダ25により各軸の移動量を計算する。この
とき、コンピュータ部4によって各軸の変化角度を算出
する。以上の検査、及び計算結果を用いて、三角関数に
より、レーザビームで指示された位置を、平面座標(X
Y座標)として算出する。算出した座標データは、コン
ピュータ部4のメモリ部44によって保存され、表示部
45によって表示される。また、他装置に、検出した座
標データを転送する場合は、インターフェース部46を
介して、データを転送できる。
検査装置は、人の記憶に頼ることなく正確に多くの欠陥
位置を記録できる。 また、記録した欠陥位置座標デー
タを、他の装置、例えばミクロ検査装置に転送できるの
で、この欠陥位置座標データに基づき欠陥位置を高速に
再現し、顕微鏡によって詳細に自動検査できる等、多数
の欠陥の高速で正確な検査、及び位置の記録が実現でき
る。
2:Y軸位置決め部、13:θ軸位置決め部、14:X
軸ロータリエンコーダ、15:Y軸ロータリエンコー
ダ、16:θ軸ロータリエンコーダ、2:レーザビーム
位置決め部、21:レーザビーム照明部、22:X軸位
置決め部、23:Y軸位置決め部、24:X軸ロータリ
エンコーダ、25:Y軸ロータリエンコーダ、3:照明
部、4:コンピュータ部、41:A/D変換器、42:
ボジション決め部、43:ポインタ決め部、44:メモ
リ部、45:表示部、46インターフェィス部。
Claims (4)
- 【請求項1】 被測定物をX、Y、Z軸の周りを傾斜、
及び回転させる被測定物位置決め部と、上記被測定物を
照明する照明部と、上記被測定物の欠陥位置を指示する
レーザビームを発生するレーザビーム照明部と、該レー
ザビーム照明部からのレーザビームが上記被測定物の欠
陥位置を照明するよう制御するレーザビーム位置決め部
と、該レーザビーム位置決め部の各回転角と上記被測定
物位置決め部の傾斜、回転角とに基づき、上記被測定物
上の欠陥位置を算出するコンピュータ部を具備している
ことを特徴とする板状物体目視検査装置。 - 【請求項2】 請求項1の板状物体目視検査装置におい
て、上記レーザビーム位置決め部が被測定物の中央直上
にあり、上記照明部と干渉しない様に配置されているこ
とを特徴とする板状物体目視検査装置。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の板状物体目視
検査装置において、欠陥位置を含む欠陥情報を他の装置
へ転送するインタフェース部を具備することを特徴とす
る板状物体目視検査装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3に記載の板状物体目視検
査装置において、欠陥位置情報を含む欠陥情報を保持す
るメモリ部と、表示する表示部を具備することを特徴と
する板状物体目視検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001067677A JP2002267620A (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 板状物体目視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001067677A JP2002267620A (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 板状物体目視検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002267620A true JP2002267620A (ja) | 2002-09-18 |
JP2002267620A5 JP2002267620A5 (ja) | 2005-02-24 |
Family
ID=18925992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001067677A Pending JP2002267620A (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 板状物体目視検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2002267620A (ja) |
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---|---|---|---|---|
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-
2001
- 2001-03-09 JP JP2001067677A patent/JP2002267620A/ja active Pending
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