JPH063417A - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
- Publication number
- JPH063417A JPH063417A JP4187406A JP18740692A JPH063417A JP H063417 A JPH063417 A JP H063417A JP 4187406 A JP4187406 A JP 4187406A JP 18740692 A JP18740692 A JP 18740692A JP H063417 A JPH063417 A JP H063417A
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- Pending
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路基板検査装置で所望の端子へプローブを
接触させる操作を容易にさせる。 【構成】 測定対象基板の画像イメージを表示装置に表
示し、表示装置のカーソル位置を移動して端子の画像イ
メージに一致させることとした。
接触させる操作を容易にさせる。 【構成】 測定対象基板の画像イメージを表示装置に表
示し、表示装置のカーソル位置を移動して端子の画像イ
メージに一致させることとした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は回路基板検査装置に関す
るものである。
るものである。
【０００２】
【従来の技術】本発明の先行技術としては、本願出願人
が昭和６２年３月５日「ファンクションテスタ」と題し
て出願した特願昭６２−０５０５７４号（特開昭６３−
２１５９７６号、以下、先出願という）がある。図４は
先出願の構成を示す斜視図で、図において３は測定対象
基板が装着されるＸ−Ｙテーブル、３０はキャリッジ、
３１はプローブ、３３はＹ軸バー、３５はＹ軸モータ、
３６はＸ軸バー、３７はＸ軸モータ、３８はソレノイド
である。Ｘ−Ｙテーブルの平面がＸ−Ｙ平面であるＸ−
Ｙ−Ｚ直交座標において、Ｘ軸バー３６は座標のＸ軸に
平行に設けられ、Ｙ軸バー３３は座標のＹ軸に平行に設
けられ、Ｘ軸モータ３７はＹ軸バー３３をＸ軸バー３６
上の任意の位置に駆動する。またＹ軸モータ３５はキャ
リッジ３０をＹ軸バー上の任意の位置に駆動する。従っ
て、キャリッジ３０に搭載されているプローブ３１は、
Ｘ−Ｙ平面内で任意の位置に移動可能となる。
が昭和６２年３月５日「ファンクションテスタ」と題し
て出願した特願昭６２−０５０５７４号（特開昭６３−
２１５９７６号、以下、先出願という）がある。図４は
先出願の構成を示す斜視図で、図において３は測定対象
基板が装着されるＸ−Ｙテーブル、３０はキャリッジ、
３１はプローブ、３３はＹ軸バー、３５はＹ軸モータ、
３６はＸ軸バー、３７はＸ軸モータ、３８はソレノイド
である。Ｘ−Ｙテーブルの平面がＸ−Ｙ平面であるＸ−
Ｙ−Ｚ直交座標において、Ｘ軸バー３６は座標のＸ軸に
平行に設けられ、Ｙ軸バー３３は座標のＹ軸に平行に設
けられ、Ｘ軸モータ３７はＹ軸バー３３をＸ軸バー３６
上の任意の位置に駆動する。またＹ軸モータ３５はキャ
リッジ３０をＹ軸バー上の任意の位置に駆動する。従っ
て、キャリッジ３０に搭載されているプローブ３１は、
Ｘ−Ｙ平面内で任意の位置に移動可能となる。
【０００３】また、Ｘ軸モータ３７，Ｙ軸モータ３５に
は、パルスモータが使用される場合が多く、パルスモー
タの場合は入力したパルス数の代数的（正転パルスを＋
とし、逆転パルスを−とする）積算値が移動量となるの
で、プローブ３１の移動量は簡単に検出することがで
き、したがってプローブ３１の位置座標は容易に検出す
ることができる。パルスモータ以外のモータを使用する
場合にも公知の方法によりプローブ３１の位置座標を検
出することができる。さらに、与えられた位置座標に合
致するように、プローブ３１の位置を自動制御すること
も公知の方法で可能である。
は、パルスモータが使用される場合が多く、パルスモー
タの場合は入力したパルス数の代数的（正転パルスを＋
とし、逆転パルスを−とする）積算値が移動量となるの
で、プローブ３１の移動量は簡単に検出することがで
き、したがってプローブ３１の位置座標は容易に検出す
ることができる。パルスモータ以外のモータを使用する
場合にも公知の方法によりプローブ３１の位置座標を検
出することができる。さらに、与えられた位置座標に合
致するように、プローブ３１の位置を自動制御すること
も公知の方法で可能である。
【０００４】先出願の装置ではＸ−Ｙテーブル３に基準
基板（図示せず）を載置して所定の端子に順次プローブ
を接触させてデータを取り、このデータを記憶手段（図
３には図示せず）に記憶させておき、次に検査対象基板
をＸ−Ｙテーブル３上に載値し上記所定の端子に順次プ
ローブを接触させてデータをとり、このデータを記憶手
段に記憶した標準基板のデータと比較して良否を決定し
た。
基板（図示せず）を載置して所定の端子に順次プローブ
を接触させてデータを取り、このデータを記憶手段（図
３には図示せず）に記憶させておき、次に検査対象基板
をＸ−Ｙテーブル３上に載値し上記所定の端子に順次プ
ローブを接触させてデータをとり、このデータを記憶手
段に記憶した標準基板のデータと比較して良否を決定し
た。
【０００５】この場合、プローブ３１を正確に所望の端
子位置に（Ｘ−Ｙ平面内での）一致させることが面倒な
作業になる。例えば、特開昭６１−２６２６７１号公報
に開示されているような従来の装置では、別に回路基板
の原図をディジタイザ上に載置して、その原図について
ディジタイザにより所望の端子の位置座標を求め、求め
た位置座標に関しＸ−Ｙテーブル上でプローブの位置制
御を行うという面倒な操作を行っている。上述の先出願
に係る発明では、この面倒な操作を避けるため、キャリ
ッジ３０に集束光源（図示せず）を設け、この集束光源
により所望の端子を照射すると、プローブが当該端子上
に自動位置制御されるようにした。
子位置に（Ｘ−Ｙ平面内での）一致させることが面倒な
作業になる。例えば、特開昭６１−２６２６７１号公報
に開示されているような従来の装置では、別に回路基板
の原図をディジタイザ上に載置して、その原図について
ディジタイザにより所望の端子の位置座標を求め、求め
た位置座標に関しＸ−Ｙテーブル上でプローブの位置制
御を行うという面倒な操作を行っている。上述の先出願
に係る発明では、この面倒な操作を避けるため、キャリ
ッジ３０に集束光源（図示せず）を設け、この集束光源
により所望の端子を照射すると、プローブが当該端子上
に自動位置制御されるようにした。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記のような先出願の
発明では、集束光源で所望の端子を照射することは比較
的容易な作業とできるが、それでもキャリッジを精密に
移動させる面倒な操作が残るという問題点があった。
発明では、集束光源で所望の端子を照射することは比較
的容易な作業とできるが、それでもキャリッジを精密に
移動させる面倒な操作が残るという問題点があった。
【０００７】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたものであり、測定すべき端子へプローブを容易
に接触させることができる回路基板検査装置を提供する
ことを目的としている。
なされたものであり、測定すべき端子へプローブを容易
に接触させることができる回路基板検査装置を提供する
ことを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる回路基板
検査装置は、対象基板の画像イメージを表示装置上に表
示させ、この表示装置の表示面上にカーソル位置を表示
させ、マウスによりカーソル位置を移動させて所望の端
子の画像イメージと合致させたとき、プローブ位置が当
該端子位置に一致するように自動制御した。
検査装置は、対象基板の画像イメージを表示装置上に表
示させ、この表示装置の表示面上にカーソル位置を表示
させ、マウスによりカーソル位置を移動させて所望の端
子の画像イメージと合致させたとき、プローブ位置が当
該端子位置に一致するように自動制御した。
【０００９】
【作用】表示装置の表示面上では対象回路基板の一部分
を拡大表示することができるので、マウスによりカーソ
ル位置を動かして精密位置合わせをすることが容易であ
る。
を拡大表示することができるので、マウスによりカーソ
ル位置を動かして精密位置合わせをすることが容易であ
る。
【００１０】
【実施例】図１は、本発明の一実施例を示すブロック図
であって、図１において、図４と同一符号は同一または
相当部分を示し１はホストコンピュータ、２は記憶手
段、４は測定対象基板、５はキーボード、６は画像入出
力回路、７は画像メモリ、８は処理部、９は表示装置、
１０はマウス、３２はＴＶカメラである。図２は図１の
等価回路を示す回路図で図１と同一符号は同一部分を表
し、ＴＶカメラ３２をＣＣＤカメラとした実施例を示
す。図３はキャリッジ３０の周辺を示す斜視図で、図
１、図４と同一符号は同一部分を示す。
であって、図１において、図４と同一符号は同一または
相当部分を示し１はホストコンピュータ、２は記憶手
段、４は測定対象基板、５はキーボード、６は画像入出
力回路、７は画像メモリ、８は処理部、９は表示装置、
１０はマウス、３２はＴＶカメラである。図２は図１の
等価回路を示す回路図で図１と同一符号は同一部分を表
し、ＴＶカメラ３２をＣＣＤカメラとした実施例を示
す。図３はキャリッジ３０の周辺を示す斜視図で、図
１、図４と同一符号は同一部分を示す。
【００１１】以下、図１〜図３を参照して本発明の装置
の動作を説明する。ＴＶカメラ３２としては通常小形の
ＣＣＤカメラ３２が使用され、従って測定対象基板４の
全表面からの画像イメージを一時に撮影することはでき
ないので、キャリッジ３０をＸ方向及びＹ方向に移動さ
せながら測定対象基板４の画像イメージを測定し、出力
をディジタル信号に変換し、その画素（ｐｉｘｅｌ）の
位置をアドレスとして画像入出力回路６を経て画像メモ
リ７に格納する。図３に示すように、プローブ３１とＴ
Ｖカメラ３２との間には、位置のオフセットが存在する
ので、画像イメージが画像メモリ７に格納される場合の
アドレスはプローブ３１の中心点を基準位置とするアド
レスで行う。
の動作を説明する。ＴＶカメラ３２としては通常小形の
ＣＣＤカメラ３２が使用され、従って測定対象基板４の
全表面からの画像イメージを一時に撮影することはでき
ないので、キャリッジ３０をＸ方向及びＹ方向に移動さ
せながら測定対象基板４の画像イメージを測定し、出力
をディジタル信号に変換し、その画素（ｐｉｘｅｌ）の
位置をアドレスとして画像入出力回路６を経て画像メモ
リ７に格納する。図３に示すように、プローブ３１とＴ
Ｖカメラ３２との間には、位置のオフセットが存在する
ので、画像イメージが画像メモリ７に格納される場合の
アドレスはプローブ３１の中心点を基準位置とするアド
レスで行う。
【００１２】ホストコンピュータ１からの画像読み出し
信号が画像入出力回路６に伝えられると、画像メモリ７
からの画像信号が読み出されて画像入出力回路６，処理
部８，ホストコンピュータ１を経て、表示装置９に表示
される。すなわち、表示装置９に表示される画像は測定
対象基板４の表面と相似する画像となる。マウス１０か
らホストコンピュータ１を経て表示装置９上にカーソル
位置を表示する。このカーソル位置はマウス１０の操作
によって自由に移動することができる。カーソル位置を
移動して所望の端子の画像イメージに合致させた上でマ
ウス１０からホストコンピュータ１に信号を送ると、自
動位置合わせ機構（ホストコンピュータ１内に構成され
る）が動作してプローブ３１のＸ−Ｙ平面内位置を上記
所望の端子の位置に合致させる。この位置でソレノイド
３８を付勢してプローブ３１を下降させ当該端子につい
ての測定を行う。表示装置９の表示面で端子の画像イメ
ージを見ながら、マウス１０を操作してカーソル位置を
端子の画像イメージに合致させることは容易な作業であ
る。
信号が画像入出力回路６に伝えられると、画像メモリ７
からの画像信号が読み出されて画像入出力回路６，処理
部８，ホストコンピュータ１を経て、表示装置９に表示
される。すなわち、表示装置９に表示される画像は測定
対象基板４の表面と相似する画像となる。マウス１０か
らホストコンピュータ１を経て表示装置９上にカーソル
位置を表示する。このカーソル位置はマウス１０の操作
によって自由に移動することができる。カーソル位置を
移動して所望の端子の画像イメージに合致させた上でマ
ウス１０からホストコンピュータ１に信号を送ると、自
動位置合わせ機構（ホストコンピュータ１内に構成され
る）が動作してプローブ３１のＸ−Ｙ平面内位置を上記
所望の端子の位置に合致させる。この位置でソレノイド
３８を付勢してプローブ３１を下降させ当該端子につい
ての測定を行う。表示装置９の表示面で端子の画像イメ
ージを見ながら、マウス１０を操作してカーソル位置を
端子の画像イメージに合致させることは容易な作業であ
る。
【００１３】最初に基準回路基板をＸ−Ｙテーブル３に
載置して所定の端子についてプローブ３１を用いて測定
し、その測定結果を記憶手段２に格納し、合否判定の許
容範囲などのデータは、キーボード５からホストコンピ
ュータ１を経て記憶手段２に格納しておく。検査対象回
路基板をＸ−Ｙテーブル３に載置して基準回路基板につ
いて測定した端子と同一端子についてプローブ３１を用
いて測定し、その測定値と記憶手段２に記憶されている
数値とを対比して回路基板の良否を決定する。端子の電
圧が交流の時は適当なサンプリング周期でサンプルして
ディジタル信号として記憶する。どのようなサンプリン
グ周期を用いるかはキーボード５から予めホスコンピュ
ータ１に入力しておけばよい。
載置して所定の端子についてプローブ３１を用いて測定
し、その測定結果を記憶手段２に格納し、合否判定の許
容範囲などのデータは、キーボード５からホストコンピ
ュータ１を経て記憶手段２に格納しておく。検査対象回
路基板をＸ−Ｙテーブル３に載置して基準回路基板につ
いて測定した端子と同一端子についてプローブ３１を用
いて測定し、その測定値と記憶手段２に記憶されている
数値とを対比して回路基板の良否を決定する。端子の電
圧が交流の時は適当なサンプリング周期でサンプルして
ディジタル信号として記憶する。どのようなサンプリン
グ周期を用いるかはキーボード５から予めホスコンピュ
ータ１に入力しておけばよい。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、回
路基板検査装置において測定すべき端子へプローブを接
触する操作を容易にできるという効果がある。
路基板検査装置において測定すべき端子へプローブを接
触する操作を容易にできるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の等価回路を示す接続図である。
【図３】図１のキャリッジの部分を示す斜視図である。
【図４】従来の装置を示す斜視図ある。
１ ホストコンピュータ ２ 記憶手段 ３ Ｘ−Ｙテーブル ４ 測定対象基板 ６ 画像入出力回路 ７ 画像メモリ ９ 表示装置 １０ マウス ３０ キャリッジ ３１ プローブ ３２ ＴＶカメラ
Claims (1)
- 【請求項１】 測定の対象となる回路基板が載置される
Ｘ−Ｙテーブル、 このＸ−Ｙテーブルの基板載置平面をＸ−Ｙ平面とする
Ｘ−Ｙ−Ｚ直交座標に関し、Ｘ−Ｙ平面上の位置を任意
に制御することができ、且つその位置座標を検出するこ
とができるように構成されたキャリッジ、 このプローブをＺ軸方向に駆動するプローブ上下機構、 上記Ｘ−Ｙテーブル上に載置された回路基板の画像イメ
ージを撮像し、この撮像した画像イメージを当該画像の
Ｘ−Ｙ平面上の座標位置をアドレスとして画像メモリに
記憶する撮像手段、 上記画像メモリに記憶した回路基板の画像イメージを読
み出して表示装置上に表示する手段、 当該回路基板が表示された表示装置上に指標マークを表
示し、この指標マークを当該回路基板の所定の測定点に
一致させることができるよう操作によって該指標マーク
の表示位置を変化させる指標マーク制御手段、上記表示
装置上の指標マーク位置に相当する当該回路基板の座標
位置を記憶する記憶手段、 該記憶手段から当該回路基板の座標位置を読み出し、上
記プローブを当該回路基板の座標位置に合致させるよう
上記キャリッジを移動させる位置合わせ機構を備え、 該位置合わせ機構により上記プローブを当該回路基板の
測定点に位置合わせした後、上記プローブ上下機構によ
り上記プローブを当該測定点に接触させる回路基板検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4187406A JPH063417A (ja) | 1992-06-23 | 1992-06-23 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4187406A JPH063417A (ja) | 1992-06-23 | 1992-06-23 | 回路基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063417A true JPH063417A (ja) | 1994-01-11 |
Family
ID=16205476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4187406A Pending JPH063417A (ja) | 1992-06-23 | 1992-06-23 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063417A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004251915A (ja) * | 2004-05-26 | 2004-09-09 | Hitachi Ltd | プローブ装置 |
| CN104131138A (zh) * | 2014-07-21 | 2014-11-05 | 东北大学 | 一种喷吹钙蒸汽对钢水进行钙处理方法及装置 |
-
1992
- 1992-06-23 JP JP4187406A patent/JPH063417A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004251915A (ja) * | 2004-05-26 | 2004-09-09 | Hitachi Ltd | プローブ装置 |
| JP4604554B2 (ja) * | 2004-05-26 | 2011-01-05 | 株式会社日立製作所 | プローブ装置 |
| CN104131138A (zh) * | 2014-07-21 | 2014-11-05 | 东北大学 | 一种喷吹钙蒸汽对钢水进行钙处理方法及装置 |
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