JP2002117591A - 情報記録媒体、情報の記録方法、再生方法、記録記録装置及び情報再生装置 - Google Patents

情報記録媒体、情報の記録方法、再生方法、記録記録装置及び情報再生装置

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    • G11B7/259—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of reflective layers based on silver

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 どの情報面に光が照射されているかをすばや
く判断し、正確に情報を記録・再生できるような多層情
報記録媒体及び多層情報記録媒体の記録・再生方法、記
録・再生装置を提供する。 【解決手段】 光の照射によって情報が記録又は再生さ
れる複数のレイヤー２，４，６，８に連続又は不連続の
溝によって形成される凹凸の形状及び／又は凹凸の溝の
長手方向の変化の仕方、例えば凹凸の深さ及び／又は
幅、凹凸の蛇行の振幅又は周期をレイヤーによって異な
らせる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに用い
られる多層情報記録媒体、多層情報記録媒体の記録再生
方法及び記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】レーザ光を照射して薄膜（記録膜）に情
報を記録する原理は種々知られているが、そのうちで膜
材料の相変化（相転移とも呼ばれる）やフォトダークニ
ングなど、レーザ光の照射による原子配列変化を利用す
るものは、薄膜の変形をほとんど伴わないため、２枚の
ディスク部材を直接貼り合わせて両面ディスク構造情報
記録媒体、又は複数の情報面を有する多層情報記録媒体
が得られるという長所を持つ。
【０００３】多層情報記録媒体における情報の再生方法
は、文献１（特開平５−１０１３９８号公報）に再生し
たい情報面へヘッドを一定距離で移動する方法が記載さ
れている。この方法では、ヘッドの移動量がずれると正
確に情報面にフォーカス出来ないため、正確に情報を再
生することが困難である。
【０００４】また、多層ＲＯＭディスクでは、文献２
（DVD Specifications for Read-OnlyDisc）に記載され
ているように、各情報面に形成されたピットにアドレス
情報としてレイヤー番号が記載され、これを再生する方
法が用いられている。この方法では、各レイヤーにフォ
ーカスした後に、トラッキングし、アドレス情報を再生
し、これを信号処理を行なって後にレイヤー番号が判定
できるため、正確に情報を再生するまでに非常に時間が
かかる。本明細書において光ディスクとは、光の照射に
よって再生できる情報が記載された円板（ディスク）、
及び／又は光の照射によって情報の再生を行う装置をい
う。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の多層情報記録媒
体は、正確に情報面を判断して再生することが困難であ
る。また、多層ＲＯＭで行なわれている、各レイヤーに
フォーカスした後に、トラッキングし、アドレス情報を
再生し、これを信号処理した後にレイヤー番号が判定す
る方法は、正確に情報を再生するまでに非常に時間がか
かる。そこで、この発明の目的は、複数の情報面を持つ
多層情報記録媒体において、どの情報面に光が照射され
ているかをすばやく判断し、正確に情報を記録・再生で
きるような多層情報記録媒体及び多層情報記録媒体の記
録・再生方法、記録・再生装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明においては、以下
の手段によって前記目的を達成する。 （１）光の照射によって情報が記録又は再生される複数
のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数の
レイヤーはそれぞれ連続又は不連続の溝によって構成さ
れる凹凸を有し、前記凹凸の形状及び／又は前記凹凸の
前記溝の長手方向の変化の仕方が異なる少なくとも２種
類のレイヤーを有する情報記録媒体。
【０００７】（２）（１）に記載の情報記録媒体におい
て、前記レイヤーは多値記録用のレイヤーである情報記
録媒体。 （３）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体におい
て、前記凹凸の深さ及び／又は幅が異なる少なくとも２
種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
【０００８】（４）（３）に記載の情報記録媒体におい
て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
ーより前記凹凸の深さ及び／又は幅が大きい情報記録媒
体。 （５）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体におい
て、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振幅
で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の振幅
が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録
媒体。
【０００９】（６）（５）に記載の情報記録媒体におい
て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
ーより前記蛇行ないし変形の振幅が大きい情報記録媒
体。 （７）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体におい
て、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振幅
で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の周期
が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録
媒体。
【００１０】（８）（７）に記載の情報記録媒体におい
て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
ーより前記蛇行ないし変形の周期が短い情報記録媒体。 （９）光の照射によって情報が記録又は再生される複数
のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数の
レイヤーはそれぞれ予め定められた数のセクターに分割
され、前記セクターの数が異なる少なくとも２種類のレ
イヤーを有する情報記録媒体。
【００１１】（１０）光の照射によって情報が記録又は
再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体におい
て、前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数の
セクターに分割され、前記セクターの長さが異なる少な
くとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
【００１２】（１１）（１０）に記載の情報記録媒体に
おいて、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレ
イヤーより前記セクターの長さが短い情報記録媒体。 （１２）（１０）に記載の情報記録媒体において、光入
射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前
記セクターの数が多い情報記録媒体。
【００１３】（１３）光の照射によって情報が記録又は
再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体におい
て、前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数の
セクターに分割され、各セクタは少なくともピット部と
データ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記
データ部の再生信号振幅の比が異なる少なくとも２種類
のレイヤーを有する情報記録媒体。
【００１４】（１４）（１３）に記載の情報記録媒体に
おいて、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレ
イヤーより前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
の再生信号振幅の比が大きい情報記録媒体。ピット部の
再生信号振幅とデータ部の再生信号振幅の比とは、（デ
ータ部の再生信号振幅）／（ピット部の再生信号振幅）
である。
【００１５】（１５）駆動中に光の照射を受けて第１の
振幅のトラッキング誤差信号を発生させる第１のレイヤ
ーと、前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のトラッキ
ング誤差信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情
報記録媒体。 （１６）駆動中に光の照射を受けて第１の振幅のデータ
部の再生信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１
の振幅とは異なる第２の振幅のデータ部の再生信号を発
生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
【００１６】（１７）駆動中に光の照射を受けて第１の
振幅のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、前
記第１の振幅とは異なる第２の振幅のウォブル信号を発
生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。 （１８）駆動中に光の照射を受けて第１の周波数のピッ
ト部の再生信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第
１の周波数とは異なる第２の周波数のピット部の再生信
号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒
体。
【００１７】（１９）駆動中に光の照射を受けて第１の
周波数のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、
前記第１の周波数とは異なる第２の周波数のウォブル信
号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒
体。 （２０）駆動中に光の照射を受けて第１の総光量の信号
を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の総光量とは
異なる第２の総光量の信号を発生させる第２のレイヤー
とを備える情報記録媒体。
【００１８】（２１）駆動中に光の照射を受けて第１の
時間間隔でセクター検出信号を発生させる第１のレイヤ
ーと、前記第１の時間間隔と異なる第２の時間間隔でセ
クター検出信号を発生させる第２のレイヤーとを備える
情報記録媒体。 （２２）駆動中に光の照射を受けて所定時間内に第１の
数のセクター数検出信号を発生させる第１のレイヤー
と、前記第１の数と異なる第２の数のセクター数検出信
号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒
体。
【００１９】（２３）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、前記記録
トラックをトラッキングする際に発生されるトラッキン
グ誤差信号の振幅に基づいて情報を記録すべきレイヤー
を特定する情報の記録方法。各レイヤーは連続又は不連
続の溝によって構成される凹凸を有し、この凹凸に起因
して予め定められた振幅のトラッキング誤差信号が生成
される。
【００２０】（２４）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、前記レイ
ヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を記録すべ
きレイヤーを特定する情報の記録方法。 （２５）光の照射によって情報が記録される複数のレイ
ヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射し
て情報を記録する方法において、各レイヤーはレイヤー
毎に予め定められた数のセクターに分割されており、１
つのセクターが検出されたのち次のセクターが検出され
るまでの時間に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特
定する情報の記録方法。
【００２１】（２６）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、各レイヤ
ーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割さ
れており、所定時間内に検出されるセクターの数に基づ
いて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方
法。 （２７）光の照射によって情報が記録される複数のレイ
ヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射し
て情報を記録する方法において、前記レイヤーからの再
生信号の振幅に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特
定する情報の記録方法。
【００２２】（２８）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、前記レイ
ヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割
されており、各セクタは少なくともピット部とデータ部
とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
の再生信号振幅の比に基づいて情報を記録すべきレイヤ
ーを特定する情報の記録方法。
【００２３】（２９）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、前記レイ
ヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成
される凹凸を有し、前記凹凸は予め定められた振幅で前
記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記蛇行な
いし変形に起因して発生される信号の振幅に基づいて情
報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
【００２４】（３０）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する方法において、前記レイ
ヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成
される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定めら
れた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形してお
り、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の周
波数に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情
報の記録方法。
【００２５】（３１）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記記録
トラックをトラッキングする際に発生されるトラッキン
グ誤差信号の振幅に基づいて情報を再生すべきレイヤー
を特定する情報の再生方法。各レイヤーは連続又は不連
続の溝によって構成される凹凸を有し、この凹凸に起因
して予め定められた振幅のトラッキング誤差信号が生成
される。
【００２６】（３２）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記レイ
ヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を再生すべ
きレイヤーを特定する情報の再生方法。
【００２７】（３３）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、各レイヤ
ーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割さ
れており、１つのセクターが検出されたのち次のセクタ
ーが検出されるまでの時間に基づいて情報を再生すべき
レイヤーを特定する情報の再生方法。
【００２８】（３４）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、各レイヤ
ーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割さ
れており、所定時間内に検出されるセクターの数に基づ
いて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方
法。
【００２９】（３５）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記レイ
ヤーからの再生信号の振幅に基づいて情報を再生すべき
レイヤーを特定する情報の再生方法。
【００３０】（３６）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記レイ
ヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割
されており、各セクタは少なくともピット部とデータ部
とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
の再生信号振幅の比に基づいて情報を再生すべきレイヤ
ーを特定する情報の再生方法。
【００３１】（３７）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記レイ
ヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成
される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定めら
れた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形してお
り、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の振
幅に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報
の再生方法。
【００３２】（３８）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する方法において、前記レイ
ヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成
される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定めら
れた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形してお
り、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の周
波数に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情
報の再生方法。
【００３３】（３９）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラ
ックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の
振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、
前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出さ
れた振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定す
るレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
【００３４】（４０）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づ
いてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情
報記録装置。
【００３５】（４１）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出された
のち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時
間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時
間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
備える情報記録装置。
【００３６】（４２）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセク
ターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクタ
ー数検出手段によって検出されたセクター数に基づいて
レイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記
録装置。
【００３７】（４３）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振
幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手
段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定す
るレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
【００３８】（４４）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセク
ターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット
部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射す
るための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射され
た光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信
号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、
前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基
づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える
情報記録装置。
【００３９】（４５）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
ー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行な
いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
らウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前
記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振
幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
備える情報記録装置。
【００４０】（４６）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報記録装置において、
前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
ー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行な
いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
らウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段
と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウ
ォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判
定手段とを備える情報記録装置。
【００４１】（４７）光の照射によって情報が再生され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を再生する情報再生装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラ
ックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の
振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、
前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出さ
れた振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定す
るレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【００４２】（４８）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づ
いてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情
報再生装置。
【００４３】（４９）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出された
のち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時
間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時
間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
備える情報再生装置。
【００４４】（５０）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセク
ターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクタ
ー数検出手段によって検出されたセクター数に基づいて
レイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再
生装置。
【００４５】（５１）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振
幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手
段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定す
るレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【００４６】（５２）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセク
ターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット
部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射す
るための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射され
た光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信
号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、
前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基
づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える
情報再生装置。
【００４７】（５３）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
ー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行な
いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
らウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前
記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振
幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
備える情報再生装置。
【００４８】（５４）光の照射によって情報が記録され
る複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラック
に光を照射して情報を記録する情報再生装置において、
前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
ー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行な
いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
らウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段
と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウ
ォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判
定手段とを備える情報再生装置。
【００４９】
〔実施例１〕
（情報記録媒体の構成、製法）本発明は、図１に示した
ようにレイヤー０からレイヤーｎ−１までｎ層（ｎは２
以上の整数）からなる複数のレイヤーを持つ多層情報記
録媒体及びその記録方法及び再生方法に関する。記録及
び再生に用いる光はレイヤー番号の小さな方向、すなわ
ちレイヤー０側から入射される。
【００５０】図２は、ｎが２の場合における本発明の第
１実施例のディスク状情報記録媒体の断面構造を示す模
式図である。この媒体は次のようにして製作した。ま
ず、直径１２ｃｍ、厚さ０．６ｍｍで表面にトラッキン
グ用の溝を有するポリカーボネイト基板１１上に、膜厚
約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜
厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜を積層してなるＬ０
下部保護層１２、膜厚約６ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８か
らなるＬ０記録膜１３、膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ ３膜と
膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜を
積層してなるＬ０上部保護層１４を順次形成した。積層
膜の形成はマグネトロン・スパッタリング装置により行
った。こうして第１のディスク部材を得た。
【００５１】他方、同様のスパッタリング方法により、
第１のディスク部材と異なる構成を持つ第２のディスク
部材を得た。第２のディスク部材は、ポリカーボネイト
保護基板２０上に、膜厚約８０ｎｍのＡｇ９８Ｐｄ１Ｃ
ｕ１膜からなるＬ１反射層１９、膜厚約８０ｎｍの（Ｚ
ｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ ２
Ｏ３を積層してなるＬ１上部保護層１８、膜厚約１８ｎ
ｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ ８Ｌ１記録膜１７、膜厚約５ｎｍ
のＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）
８０（ＳｉＯ２）２０膜を積層してなるＬ１下部保護層
１６を順次形成したものである。
【００５２】その後、前記第１のディスク部材と第２の
ディスク部材をそれぞれのＬ０上部保護層１４とＬ１下
部保護層１６をスペーサ層１５を介して貼り合わせ、図
２に示す２層情報記録媒体（ディスクＡ）を得た。基板
１１上には、溝深さ４２ｎｍ、溝幅０．３８μｍの凹凸
が形成されており、保護基板２０上には、溝深さ４２ｎ
ｍ、溝幅０．３６μｍ、の凹凸が形成されている。各情
報面は光入射側の構成膜（Ｌ０下部保護層１２からＬ０
上部保護層１４まで）をＬ０構成膜、光入射側から遠い
方の構成膜（Ｌ１下部保護層１６からＬ１反射層１９ま
で）をＬ１構成膜とした。
【００５３】溝深さ、溝幅は、図３に示したように定義
される。図３において、２１は基板、２２はレイヤー
０、２３はレイヤー０とレイヤー１間のスペーサ層、２
４はレイヤー１、２５は保護基板である。Ｌ０の溝深さ
は、Ｌ０の基板表面の凹凸の高さ（Ｄ０）、Ｌ１の溝深
さは、スペーサ層表面の凹凸の高さ（Ｄ１）である。Ｌ
０の溝幅は、溝深さＤ０の半分の高さで凹凸を横切った
場合の幅（Ｗ０）、Ｌ１の溝幅は、溝深さＤ１の半分の
高さで凹凸を横切った場合の幅（Ｗ１）である。ランド
部とグルーブ部の溝幅が異なるときは、両者の平均値と
する。
【００５４】上記基板の凹凸は次のようにして作製され
る。図４に示されるように、工程１でガラス板３３３上
にフォトレジスト３３２を塗布し、工程２でレーザ光３
３１を照射する。この際にレーザ光の強度や照射面積を
制御することにより、凹凸の形状を変えることができ
る。溝の幅を広くするためには、照射面積を広くする必
要がある。また、トラックピッチを広くするには照射の
ピッチを広くする必要がある。溝を蛇行させるには、レ
ーザ光を蛇行させながら照射する必要がある。溝深さは
フォトレジスト３３２の厚さで制御できる。溝深さを大
きくするには、フォトレジストを厚くする必要がある。
次に工程３で現像し、原盤３３５が出来あがる。
【００５５】次に、図５に示されるように、工程４では
原盤３３５にニッケルメッキによりニッケルスタンパ３
３６を作製する。続いて、このニッケルスタンパ３３６
を設置した金型内に高温融解させたプラスチック基板材
料（例えばポリカーボネートなど）を高圧で注入した後
に冷却し、ニッケルスタンパ３３６から剥離して基板３
３７取り出すと、表面に凹凸パターンが複製されたプラ
スチック基板が完成する。この際のインジェクションの
温度条件を変えると溝の肩の形状が変化する。この手法
は現在のＣＤ−Ａｕｄｉｏ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＯＭを
はじめＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、
ＤＶＤ−ＲＷ、ＭＯなどのプラスチック基板作製におけ
る一般的な手法（射出成形法）である。
【００５６】（初期結晶化）前記のようにして製作した
ディスクＡのＬ０記録膜１３及びＬ１記録膜１７を次の
ようにして初期結晶化を行った。なお、以下ではＬ０記
録膜１３、Ｌ１記録膜１７についてのみ説明するが、こ
の他の多層媒体の記録膜についても全く同様である。媒
体（ディスクＡ）を記録トラック上の点の線速度が５ｍ
／ｓであるように回転させ、波長約８１０ｎｍの半導体
レーザのレーザパワーを３００ｍＷにしてＬ１の記録膜
にフォーカスした後、レーザパワーを７００ｍＷにし
て、基板１及びＬ０構成膜、スペーサー層を通してＬ１
記録膜１７に媒体の半径方向に長い長円形のスポット形
状で照射した。スポットの移動は、媒体の１回転につき
媒体の半径方向のスポット長の１／２４ずつずらした。
こうして、Ｌ１記録膜全面の初期結晶化を行った。この
初期結晶化は１回でもよいが３回繰り返すと初期結晶化
によるノイズ上昇を少し低減できた。この初期結晶化は
高速で行える利点がある。
【００５７】次に、波長約８１０ｎｍの半導体レーザの
レーザパワーを３００ｍＷにしてレーザのフォーカス位
置を変えてＬ０の記録膜にフォーカスした後、レーザパ
ワーを７００ｍＷにして、基板１を通してＬ０記録膜１
３に媒体の半径方向に長い長円形のスポット形状で照射
した。スポットの移動は、媒体の１回転につき媒体の半
径方向のスポット長の１／２４ずつずらした。こうし
て、Ｌ０記録面全面の初期結晶化を行った。この初期結
晶化は１回でもよいが３回繰り返すと初期結晶化による
ノイズ上昇を少し低減できた。この初期結晶化は高速で
行える利点がある。初期化の順序はＬ１記録膜から行っ
てもＬ０記録膜から行っても、また３層以上の多層情報
記録媒体においてはランダムに行っても良い。
【００５８】（記録・消去・再生）前記のようにして製
作し、初期結晶化を行った媒体について、次ぎのように
記録・消去・再生特定の評価を行った。なお、以下では
Ｌ１記録膜１７についてのみ説明するが、Ｌ０記録膜１
３についても全く同様であり、また、３層以上の多層情
報記録媒体におけるそれぞれの情報面の記録膜について
も同様である。
【００５９】初期結晶化が完了した記録膜１７の記録領
域にトラッキングと自動焦点合わせを行いながら、記録
用レーザ光のパワーを中間パワーレベルＰｅ（３ｍＷ）
と高パワーレベルＰｈ（７ｍＷ）との間で変化させて情
報の記録を行った。記録トラックの線速度は９ｍ／ｓ、
半導体レーザ波長は４０５ｎｍ、レンズの開口数（Ｎ
Ａ）は０．６５である。記録用レーザ光により記録領域
に形成される非晶質又はそれに近い部分が記録点とな
る。この媒体の反射率は結晶状態の方が高く、記録され
非晶質状態になった領域の反射率の方が低くなってい
る。
【００６０】記録用レーザ光の高レベルと中間レベルの
パワー比は１：０．３〜１：０．７の範囲が好ましい。
また、この他に短時間ずつ他のパワーレベルにしてもよ
い。図６に示したように、１つの記録マークの形成中に
ウインドウ幅の半分（Ｔｗ／２）ずつ中間パワーレベル
Ｐｅより低いボトムパワーレベルＰｂまでパワーを繰り
返し下げ、かつクーリングパワーレベルＰｃを記録パル
スの最後に持つ波形を生成する手段を持った装置で記録
・再生を行うと、再生信号波形のジッター値及びエラー
レートが低減した。クーリングパワーレベルＰｃは中間
パワーレベルＰｅより低く、ボトムパワーレベルＰｂよ
り高いか同じレベルである。この波形は、第１パルス幅
Ｔｐが記録マークとそのマークの直前に設けられたスペ
ースの長さの組み合わせによって変化する特徴とクーリ
ングパルス幅Ｔｃ（記録パルスの最後にＰｃレベルまで
下げる時間幅）が記録マークとそのマークの後続スペー
ス長の組み合わせにより決まる特徴を持つ。マーク直前
のスペース長が短く、マークが長いほどＴｐは短くな
り、マーク直前のスペース長が長く、マークが短いほど
Ｔｐは長くなる。ただし、媒体の構造によっては６Ｔｗ
マークの記録用記録波形のＴｐを特に長くした場合、ジ
ッター低減効果が大きかった。また、後続のスペース長
が長く、マークが長いほど、Ｔｃは短くなり、後続のス
ペース長が短く、マークが短いほど、Ｔｃは長くなる。
【００６１】図６には３Ｔｗ，４Ｔｗ，６Ｔｗ，１１Ｔ
ｗの記録波形しか示していないが、５Ｔｗは６Ｔｗの記
録波形の一連の高いパワーレベルのパルス列のうち、Ｔ
ｗ／２の高いパワーレベルＰｈと直後のＴｗ／２のボト
ムパワーレベルＰｂをそれぞれ一つずつ削減したもので
ある。また、７Ｔｗ〜１０Ｔｗ用記録波形は６Ｔｗ用記
録波形の最後尾の高いパワーレベルのパルスの直前に、
Ｔｗ／２の高いパワーレベルＰｈとＴｗ／２のボトムパ
ワーレベルＰｂを、それぞれ１組ずつ追加したものであ
る。したがって、５組追加したものが１１Ｔｗである。
【００６２】ここでは、３Ｔｗに対応する最短記録マー
ク長を０．２６μｍとした。記録すべき部分を通り過ぎ
ると、レーザ光パワーを再生（読み出し）用レーザ光の
低パワーレベルＰｒ（１ｍＷ）に下げるようにした。こ
のような記録方法では、既に情報が記録されている部分
に対して消去することなく、重ね書きによって新たな情
報を記録すれば、新たな情報に書き換えられる。すなわ
ち、単一のほぼ円形の光スポットによるオーバーライト
が可能である。
【００６３】しかし、書き換え時の最初のディスク１回
転又は複数回転で、前記のパワー変調した記録用レーザ
光の中間パワーレベル（３ｍＷ）又はそれに近いパワー
の連続光を照射して、記録されている情報を一たん消去
し、その後、次の１回転でボトムパワーレベル（０．５
ｍＷ）と高パワーレベル（７ｍＷ）の間で、又は中間パ
ワーレベル（３ｍＷ）と高パワーレベル（７ｍＷ）との
間で、情報信号に従ってパワー変調したレーザ光を照射
して記録するようにしてもよい。このように、情報を消
去してから記録するようにすれば、前に書かれていた情
報の消え残りが少ない。従って、線速度を２倍に上げた
場合の書き換えも、容易になる。
【００６４】（下部保護層）本実施例では、Ｌ１下部保
護層１６及びＬ０下部保護層１２を（ＺｎＳ）８０（Ｓ
ｉＯ２）２０とＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３層の２層構造として
いる。２層構造をとる下部保護層１２、１６の（Ｚｎ
Ｓ）８０（ＳｉＯ２）２０に代わる材料としては、Ｚｎ
ＳとＳｉＯ２の混合比を変えたものが好ましい。また、
ＺｎＳ，Ｓｉ−Ｎ系材料、Ｓｉ−Ｏ−Ｎ系材料、ＳｉＯ
２，ＳｉＯ，ＴｉＯ２，Ａｌ２Ｏ３，Ｙ ２Ｏ３，ＣｅＯ
２，Ｌａ２Ｏ３，Ｉｎ２Ｏ３，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，Ｐｂ
Ｏ，ＳｎＯ，ＳｎＯ２，ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，Ｔｅ
Ｏ２，ＷＯ２，ＷＯ３，Ｓｃ２Ｏ３，Ｔａ２Ｏ５，Ｚｒ
Ｏ２，Ｃｕ２Ｏ，ＭｇＯなどの酸化物、ＴａＮ，Ａｌ
Ｎ，ＢＮ，Ｓｉ３Ｎ４，ＧｅＮ，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料
（例えばＡｌＳｉＮ２）などの窒化物、ＺｎＳ，Ｓｂ２
Ｓ３，ＣｄＳ，Ｉｎ２Ｓ３，Ｇａ２Ｓ３，ＧｅＳ，Ｓｎ
Ｓ ２，ＰｂＳ，Ｂｉ２Ｓ３などの硫化物、ＳｎＳｅ２，
Ｓｂ２Ｓｅ３，ＣｄＳｅ，ＺｎＳｅ，Ｉｎ２Ｓｅ３，Ｇ
ａ２Ｓｅ３，ＧｅＳｅ，ＧｅＳｅ２，ＳｎＳｅ，ＰｂＳ
ｅ，Ｂｉ２Ｓｅ３などのセレン化物、ＣｅＦ３，ＭｇＦ
２，ＣａＦ２などの弗化物、あるいはＳｉ，Ｇｅ，Ｔｉ
Ｂ２，Ｂ４Ｃ，Ｂ，Ｃ，又は、上記の材料に近い組成の
ものを用いてもよい。また、ＺｎＳ−ＳｉＯ２，ＺｎＳ
−Ａｌ２Ｏ３など、これらの混合材料の層やこれらの多
重層でもよい。この中で、ＺｎＳはスパッタレートが大
きく、ＺｎＳが６０ｍｏｌ％以上を占めると成膜時間を
短くできるため、これを６０ｍｏｌ％以上含む混合物の
場合、ＺｎＳのスパッタレートが大きい点と酸化物や窒
化物等の化学安定性の良い点が組み合わされる。この他
の硫化物、セレン化物でもＺｎＳに近い特性が得られ
た。
【００６５】これら化合物における元素比は、例えば酸
化物や硫化物における金属元素と酸素元素あるいは硫黄
元素の比は、Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３は２：
３、ＳｉＯ２，ＺｒＯ２，ＧｅＯ２は１：２、Ｔａ２Ｏ
５は２：５、ＺｎＳは１：１という比をとるかその比に
近いことが好ましいが、その比から外れていても同様の
効果は得られる。しかし、上記整数比から外れている場
合、例えばＡｌ−ＯはＡｌとＯの比率がＡｌ２Ｏ３から
Ａｌ量で±１０原子％以下、Ｓｉ−ＯはＳｉとＯの比率
がＳｉＯ２からＳｉ量で±１０原子％以下等、金属元素
量のずれが１０原子％以下が好ましい。１０原子％以上
ずれると、光学特性が変化するため、変調度が１０％以
上低下した。
【００６６】上記材料は、下部保護層全原子数の９０％
以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が１
０原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下
になる等、書き換え特性の劣化が見られた。本実施例で
用いた下部保護層の消衰係数ｋについては０又は０に近
いことが好ましい。さらに、下部保護層材料の８０％以
上の膜厚において消衰係数ｋがｋ≦０．０１であれば、
コントラストの低下が２％以下に抑制でき好ましい。
【００６７】下部保護層を２層以上にし、記録膜側の下
部保護層材料をＣｒ２Ｏ３又はＣｒ ４０Ｏ５７Ｎ３とす
ると、多数回書き換え時に記録膜へＺｎ，Ｓの拡散を抑
制でき、書き換え特性が良好であることがわかった。記
録膜側の下部保護層材料のＣｒ２Ｏ３に代わる材料とし
ては、Ｃｒ２Ｏ３にＳｉＯ２，Ｔａ２Ｏ５，Ａｌ
２Ｏ ３，ＺｒＯ２−Ｙ２Ｏ３を混合した混合物が好まし
い。次いで、ＣｏＯ又はＧｅＯ２，ＮｉＯ、これらとＣ
ｒ２Ｏ３の混合物が好ましい。これら酸化物は消衰係数
ｋが小さく、下部界面層における吸収が非常に小さい。
そのため、変調度が大きく保てるという利点がある。
【００６８】また、Ｃｒ２Ｏ３又はＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３
の一部をＡｌ２Ｏ３又はＡｌ４０Ｏ ５７Ｎ３に変える
と、記録膜以外での吸収が減り透過率が大きくできるた
め、Ｌ０層でＣ／Ｎが大きく出来て好ましい。Ａｌ２Ｏ
３又はＡｌ４０Ｏ５７Ｎ３の代りにＳｉＯ２又はＳｉ
３３Ｏ６３Ｎ４など、またこれらの窒素と酸素量の比が
異なるものを用いても同様な特性が得られた。
【００６９】また、ＡｌＮ，ＢＮ，ＣｒＮ，Ｃｒ２Ｎ，
ＧｅＮ，ＨｆＮ，Ｓｉ３Ｎ４，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料
（例えばＡｌＳｉＮ２）、Ｓｉ−Ｎ系材料、Ｓｉ−Ｏ−
Ｎ系材料、ＴａＮ，ＴｉＮ，ＺｒＮ，などの窒化物は保
存寿命が大きくなり、外界温度変化に強く、より好まし
い。窒素が含まれた記録膜組成又はそれに近い組成の材
料でも接着力が向上する。
【００７０】その他、ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，ＣｅＯ２，
Ｃｕ２Ｏ，ＣｕＯ，ＣｄＯ，Ｄｙ２Ｏ３，ＦｅＯ，Ｆｅ
２Ｏ３，Ｆｅ３Ｏ４，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，ＨｆＯ２，Ｉ
ｎ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３，ＭｇＯ，ＭｎＯ，ＭｏＯ２，Ｍ
ｏＯ３，ＮｂＯ，ＮｂＯ２，ＰｂＯ，ＰｄＯ，ＳｎＯ，
ＳｎＯ２，Ｓｃ２Ｏ３，ＳｒＯ，ＴｈＯ２，ＴｉＯ２，
Ｔｉ２Ｏ３，ＴｉＯ，ＴｅＯ２，ＶＯ，Ｖ２Ｏ３，ＶＯ
２，ＷＯ２，ＷＯ３などの酸化物、Ｃ，Ｃｒ３Ｃ２，Ｃ
ｒ２３Ｃ６，Ｃｒ７Ｃ３，Ｆｅ３Ｃ，Ｍｏ２Ｃ，ＷＣ，
Ｗ２Ｃ，ＨｆＣ，ＴａＣ，ＣａＣ２などの炭化物又は、
上記の材料に近い組成のものを用いてもよいし、これら
の混合材料でもよい。
【００７１】下部保護層の記録膜側に酸化物又は窒化物
の層を設けた場合は、Ｚｎ，Ｓ等の記録膜中への拡散が
防止でき、消え残りが増加するのを抑制できる。さら
に、記録感度を低下させないためには、２５ｎｍ以下と
することが好ましく、１０ｎｍ以下ではより好ましかっ
た。均一な膜形成ができるのは約２ｎｍ以上であり、５
ｎｍ以上がさらに良好であった。これより、記録膜側の
下部保護層膜厚を２〜２５ｎｍとすると記録・再生特性
がより良くなり、好ましい。下部保護層膜厚が３０ｎｍ
未満の場合、再結晶化のためにＣ／Ｎが低下した。ま
た、下部保護層膜厚が１０ｎｍ未満の場合、記録膜の保
護効果がなくなるため、書き換え可能回数が１桁以上低
下した。下部保護層と記載したものは、Ｌ０下部保護
層、Ｌ１下部保護層、さらに多層の情報記録媒体の下部
保護層を意味する。
【００７２】（記録膜）本実施例では、記録膜１３、記
録膜１７をＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８により形成している。本
記録膜の再生波長における屈折率は、結晶状態が２．
０、非晶質状態が２．６と、結晶状態の方が小さい。
【００７３】Ｇｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８に代わる記録膜１３，
１７の材料としては、Ａｇ３Ｇｅ３ ０Ｓｂ１４Ｔ
ｅ５３，Ｃｒ３Ｇｅ３２Ｓｂ１３Ｔｅ５２等、Ａｇ−Ｇ
ｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系、Ｃｒ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系材料で組
成比の異なるものが変調度が大きくなり好ましい。記録
膜１３及び／又は記録膜１７中のＡｇ量やＣｒ量が多い
と短波長での反射率変化が大きくなるが、結晶化速度は
遅くなる。従って、添加されるＡｇ量又はＣｒ量が２原
子％以上、１０原子％以下が好ましい。しかし、Ａｇの
添加されていないＧｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系材料でもオーバー
ライトは可能である。Ａｇの代わりに記録膜１３，１７
へ添加する元素としては、Ｃｒ，Ｗ，Ｍｏ，Ｐｔ，Ｃ
ｏ，Ｎｉ，Ｐｄ，Ｓｉ，Ａｕ，Ｃｕ，Ｖ，Ｍｎ，Ｆｅ，
Ｔｉ，Ｂｉのいずれかのうちの少なくとも一つで置き換
えても、オーバーライト特性が良好であることがわかっ
た。これらの記録膜１３，記録膜１７材料は全て、再生
波長における屈折率は結晶状態の方が非晶質状態より小
さい。
【００７４】本実施例で記録膜１７の膜厚を変化させ、
１０回書き換え後及び１０万回書き換え後のジッター
（σ／Ｔｗ）を測定したところ、下記表１のようになっ
た。記録膜１７の膜厚（ｎｍ）に対し、１０回書き換え
後については前エッジ又は後エッジのジッターの悪い方
の値（％）を、１万回書き換え後については前エッジの
ジッター値（％）を示した。
【００７５】
【表１】
【００７６】これより、記録膜１７の膜厚を薄くすると
記録膜流動や偏析による、１０回書き換え後のジッター
が増加し、また厚くすると、１万回書き換え後のジッタ
ーが増加することがわかった。これより、記録膜１７の
膜厚は４ｎｍ以上、２５ｎｍ以下がジッターを２０％以
下にでき好ましく、５ｎｍ以上、２０ｎｍ以下であれば
ジッターを１５％以下に出来、より好ましい。記録膜１
３の膜厚及び、１〜Ｎ−１レイヤーにおける記録膜膜厚
については、前記レイヤーの記録膜膜厚が次の関係にあ
ると、各レイヤーにおいて記録・再生可能となるため好
ましい。
【００７７】レイヤー１≦レイヤー２≦…≦レイヤーＮ
−１≦レイヤーＮ さらに、光入射側の基板より１からＮ−１番めの情報面
用記録膜の合計膜厚が１０ｎｍ以下であると、Ｎ番めの
情報面のＣ／Ｎが４８ｄＢ以上と大きくでき好ましい。
上記合計膜厚が８ｎｍ以下になるとＮ番めの情報面のＣ
／Ｎが４９ｄＢ以上と大きくできより好ましい。
【００７８】本実施例では、記録膜１３、記録膜１７を
各単層より形成している。本記録膜は複数の層からなっ
ていてもよい。複数の層からなる場合は、層間に保護層
があっても良い。また、記録膜組成も同じでもよいし、
異なる組成のものでもよい。さらに記録のレベルについ
ても、結晶と非晶質の２値記録だけでなく、各レイヤー
を複数記録膜として結晶と非晶質の組合せによって反射
率レベルを変えた多値記録、単層記録膜でマーク面積を
変えた多値記録等を行なってもよい。
【００７９】図７に、各レイヤーを複数記録膜として結
晶と非晶質の組合せによって反射率レベルを変えた多値
記録のうち記録膜を２層とし、３値記録にした例を示し
た。レーザ光３２６によって、非晶質領域３２４と結晶
領域３２５の組合せを３組形成する。ａでは記録膜Ａ
（３２１）と記録膜Ｂ（３２３）の両方が非晶質化、ｂ
では記録膜Ａ（３２１）のみ非晶質化し、記録膜Ｂ（３
２３）は結晶化、ｃでは記録膜Ａ（３２１）と記録膜Ｂ
（３２３）の両方が結晶化されている。これによって反
射率は３段階になり、３値の記録が行なえる。
【００８０】図８に、各レイヤーに大きさの異なるマー
クを記録して、反射率レベルを変えた多値記録のうち、
３値記録にした例を示した。レーザ光３２６によって、
非晶質領域３２４と結晶領域３２５を、大きさを変えて
形成する。ｄでは結晶化、ｅでは非晶質領域が小さく、
ｆでは非晶質領域がより大きく形成されている。これに
よって反射率は３段階になり、３値の記録が行なえる。
【００８１】（上部保護層）本実施例では、Ｌ１上部保
護層１８及びＬ０上部保護層１４をＺｎＳ−ＳｉＯ ２膜
とＣｒ４０Ｏ６０膜により形成した。ＺｎＳ−ＳｉＯ２
に代わる上部保護層の材料としては、Ｓｉ−Ｎ系材料、
Ｓｉ−Ｏ−Ｎ系材料、ＺｎＳ，ＳｉＯ２，ＳｉＯ，Ｔｉ
Ｏ２，Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，ＣｅＯ２，Ｌａ２Ｏ３，
Ｉｎ２Ｏ３，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，ＰｂＯ，ＳｎＯ，Ｓｎ
Ｏ２，ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，ＴｅＯ２，ＷＯ２，Ｗ
Ｏ３，Ｓｃ２Ｏ３，Ｔａ２Ｏ５，ＺｒＯ２，Ｃｕ２Ｏ，
ＭｇＯなどの酸化物、ＴａＮ，ＡｌＮ，ＢＮ，Ｓｉ ３Ｎ
４，ＧｅＮ，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料（例えばＡｌＳｉＮ
２）などの窒化物、ＺｎＳ，Ｓｂ２Ｓ３，ＣｄＳ，Ｉｎ
２Ｓ３，Ｇａ２Ｓ３，ＧｅＳ，ＳｎＳ２，ＰｂＳ，Ｂｉ
２Ｓ３などの硫化物、ＳｎＳｅ２，Ｓｂ２Ｓｅ３，Ｃｄ
Ｓｅ，ＺｎＳｅ，Ｉｎ２Ｓｅ３，Ｇａ２Ｓｅ３，ＧｅＳ
ｅ，ＧｅＳｅ２，ＳｎＳｅ，ＰｂＳｅ，Ｂｉ２Ｓｅ３な
どのセレン化物、ＣｅＦ３，ＭｇＦ２，ＣａＦ２などの
弗化物、あるいはＳｉ，Ｇｅ，ＴｉＢ２，Ｂ４Ｃ，Ｂ，
Ｃ又は、上記の材料に近い組成のものを用いてもよい。
また、ＺｎＳ−ＳｉＯ２，ＺｎＳ−Ａｌ２Ｏ３などこれ
らの混合材料の層やこれらの多重層でもよい。消衰係数
は０又は０に近いことが好ましい。
【００８２】これら化合物における元素比は、例えば酸
化物あるいは硫化物における金属元素と酸素元素あるい
は硫黄元素の比は、Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３
は２：３、ＳｉＯ２，ＺｒＯ２，ＧｅＯ２は１：２、Ｔ
ａ２Ｏ５は２：５、ＺｎＳは１：１という比をとるかそ
の比に近いことが好ましいが、その比から外れていても
同様の効果は得られる。上記整数比から外れている場
合、例えばＡｌ−ＯはＡｌとＯの比率がＡｌ２Ｏ３から
Ａｌ量で±１０原子％以下、Ｓｉ−ＯはＳｉとＯの比率
がＳｉＯ２からＳｉ量で±１０原子％以下等、金属元素
量のずれが１０原子％以下が好ましい。１０原子％以上
ずれると、光学特性が変化するため、変調度が１０％以
上低下した。
【００８３】上記材料は、上部保護層全原子数の９０％
以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が１
０原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下
になる等、書き換え特性の劣化が見られた。上部保護層
を２層以上にし、記録膜側の上部保護層材料をＣｒ２Ｏ
３にすると、多数回書き換え時に記録膜へＺｎ，Ｓの拡
散を抑制でき、書き換え特性が良好になることがわかっ
た。さらにその一部をＡｌ２Ｏ３，又はＳｉＯ２に変え
るとコントラストが大きく出来て好ましいことがわかっ
た。
【００８４】（反射層）本実施例ではＬ１反射層１９に
Ａｇ９８Ｐｄ１Ｃｕ１膜を用いた。他のＬ１反射層の材
料としては、Ａｇ−Ｐｔ，Ａｇ−Ａｕ等、Ａｇ合金を主
成分とするものが好ましい。Ａｇも使用可能である。Ａ
ｇ合金中のＡｇ以外の元素の含有量を０．５原子％以上
４原子％以下の範囲にすると、多数回書き換え時の特性
及びビットエラーレートが良好になり、１原子％以上２
原子％以下の範囲ではより良好になることがわかった。
【００８５】また、Ｚｎ９８Ｐｄ２膜、Ｚｎ９８Ｐｔ２
膜、Ｚｎ９８Ｃｕ２膜、Ｚｎ９８Ｎｉ２膜、上記以外の
組成比のＺｎ−Ｐｄ膜、Ｚｎ−Ｐｔ膜、Ｚｎ−Ｃｕ膜、
Ｚｎ−Ｎｉ膜は、Ａｇ系材料に比べコストが安いという
利点がある。Ｚｎも使用可能である。Ｚｎ合金中のＺｎ
以外の元素の含有量は０．５原子％以上４原子％以下の
範囲にすると、多数回書き換え時の特性及びビットエラ
ーレートが良好になり、１原子％以上２原子％以下の範
囲ではより良好になることがわかった。
【００８６】次いで、Ａｕ，Ａｌ，Ｃｕ，Ｎｉ，Ｆｅ，
Ｃｏ，Ｃｒ，Ｔｉ，Ｐｄ，Ｐｔ，Ｗ，Ｔａ，Ｍｏ，Ｓ
ｂ，Ｂｉ，Ｄｙ，Ｃｄ，Ｍｎ，Ｍｇ，Ｖの元素単体、又
はＡｕ合金、上記以外のＡｇ合金、Ｃｕ合金、Ｐｄ合
金、Ｐｔ合金などこれらを主成分とする合金、あるいは
これら同志の合金よりなる層を用いてもよい。このよう
に、反射層は、金属元素、半金属元素、これらの合金、
混合物からなる。
【００８７】この中で、Ａｇ，Ａｌ，Ａｌ合金、Ａｇ合
金、等のように、反射率が大きいものは、コントラスト
比が大きくなり書き換え特性が良好である。単体より合
金の方が接着力が大きくなる。この場合の主成分となる
Ａｌ，Ａｇ等以外の元素の含有量はＡｇ合金同様に、
０．５原子％以上５原子％以下の範囲にすると、コント
ラスト比が大きく、また接着力も大きくでき良好であっ
た。１原子％以上２原子％以下の範囲ではより良くなっ
た。波長４００ｎｍ付近における反射率を比較するとＡ
ｇ又はＡｇ合金は約９５％、Ａｌ，Ａｌ合金は約９２％
と、Ａｇ系の方が大きいが、材料コストも大きい。これ
らに次ぐ材料としては、Ｚｎ，Ｚｎ合金が約８９％、Ｐ
ｔ，Ｐｔ合金が約６５％と短波長における反射率が大き
く、コントラストを大きく出来た。
【００８８】上記材料は、Ｌ１反射層全原子数の９５％
以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が５
原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下に
なる等、書き換え特性の劣化が見られた。Ｌ１反射層膜
厚が２００ｎｍより厚い場合、それぞれのＬ１反射層を
作製する時間が長くなり、２工程以上に分ける、又はス
パッタリング用の真空室を２室以上設ける等、形成時間
が倍増した。また、Ｌ１反射層の膜厚が５ｎｍ以下だと
島状に成膜され、ノイズが大きくなった。これより、Ｌ
１反射層の膜厚はノイズ及びジッター、形成時間より、
５ｎｍ以上、２００ｎｍ以下が好ましい。
【００８９】本実施例ではＬ０構成膜に反射層は使われ
ていないが、上部保護層とスペーサ層の間に直接又は保
護層を介して、上部保護層、反射層、スペーサ層又は上
部保護層、反射層、保護層、スペーサ層の順に積層した
Ｌ０反射層を形成してもよい。この場合、ＣＮＲは増加
するためＬ０膜の特性は向上するが、透過率が減少する
ためＬ１膜の再生特性及び記録感度は劣化する。Ｌ０反
射層の材料は、Ｌ１反射層と同様の材料を用いることが
できる。膜厚は透過率が低下しないために２０ｎｍ以下
が好ましい。保護層材料としては、上部保護層又は下部
保護層材料と同様の材料が使用可能である。
【００９０】（基板）本実施例では、表面に直接、トラ
ッキング用の溝を有するポリカーボネート基板１１を用
いているが、それに代えてポリオレフィン、エポキシ、
アクリル樹脂、紫外線硬化樹脂層を表面に形成した化学
強化ガラスなどを用いてもよい。強化ガラスの代わりに
石英やＣａＦを用いてもよい。
【００９１】また、トラッキング用の溝を有する基板と
は、基板表面全て又は一部に、記録・再生波長をλとし
たとき、λ／１２ｎ′（ｎ′は基板材料の屈折率）以上
の深さの溝を持つ基板である。溝は一周で連続的に形成
されていても、途中分割されていてもよい。溝深さが約
λ／６ｎ′の時、クロストークが小さくなり好ましいこ
とが分かった。さらに溝深さが約λ／３ｎ′より深い
時、基板形成時の歩留まりは悪くなるが、クロスイレー
スが小さくなり好ましいことが分かった。
【００９２】また、その溝幅は場所により異なっていて
もよい。溝部の存在しない、サンプルサーボフォーマッ
トの基板、他のトラッキング方式、その他のフォーマッ
トによる基板等でも良い。溝部とランド部の両方に記録
・再生が行えるフォーマットを有する基板でも、どちら
か一方に記録を行うフォーマットの基板でも良い。トラ
ックピッチの大きさが小さいと隣のトラックからの信号
の漏れが検出されノイズとなるため、トラックピッチは
スポット径（光強度が１／ｅ２となる領域）の１／２以
上であることが好ましい。ディスクサイズも直径１２ｃ
ｍに限らず、１３ｃｍ、９ｃｍ、８ｃｍ、３．５イン
チ、２．５インチ，１インチ等、他のサイズでも良い。
ディスク厚さも０．６ｍｍに限らず、１．２ｍｍ、０．
８ｍｍ、０．４ｍｍ、０．１ｍｍ等、他の厚さでも良
い。
【００９３】本実施例では、スペーサ層を介して貼り合
わせているが、第２のディスク部材の代わりに別の構成
のディスク部材、又は保護用の基板などを用いてもよ
い。また、保護用基板から順番にＬ１膜を積層し、スペ
ーサー層を形成し、Ｌ０膜を積層した後に基板を形成し
てもよい。さらにこうして作製した２組のディスクを貼
り合わせて両面ディスクとすると、ディスクあたりの記
録容量が約倍になるため好ましい。紫外線波長領域にお
ける透過率が大きい場合、紫外線硬化樹脂によって貼り
合わせを行うこともできる。その他の方法で貼り合わせ
を行ってもよい。また、第１及び第２のディスク部材を
貼り合わせる前に第１及び第２のディスク部材の最表面
上に紫外線硬化樹脂を厚さ約１０μｍ塗布し、硬化後に
貼り合わせを行うと、エラーレートをより低減できる。
【００９４】（各層の膜厚、材料）各層の膜厚、材料に
ついてはそれぞれ単独の好ましい範囲をとるだけでも記
録・再生特性等が向上するが、それぞれの好ましい範囲
を組み合わせることにより、さらに効果が上がる。
【００９５】（記録再生方法）図９は、本発明の一実施
例である情報の記録再生装置のブロック図である。な
お、説明の都合上、情報の記録再生装置には情報記録媒
体１００が装着されている様子が示されている。情報記
録媒体１００の作製方法及び構造については上記の通り
である。情報を記録再生する為には情報記録媒体１００
は必須であるが、情報記録媒体１００は必要に応じて記
録再生装置から取り外され、或いは取りつけられる。
【００９６】図９において、筐体１０８に取りつけられ
たモーター１１０の回転軸１１１にはチャッキング機構
１１２が取りつけられ、チャッキング機構１１２は情報
記録媒体１００を保持している。チャッキング機構１１
２は、即ち記録媒体１００の保持機構となっている。ま
た、モーター１１０、回転軸１１１、及びチャッキング
機構１１２により、情報記録媒体１００とエネルギービ
ームを相対的に移動させる移動機構を構成している。
【００９７】筐体１０８にはレール１１５が取りつけら
れている。ケース１１７にはレール１１５にガイドされ
るレールガイド１１６が取りつけられている。また、ケ
ース１１７には直線ギア１１９が取り付けられており、
直線ギア１１９には回転ギア１２０が取りつけられてい
る。筐体１０８に取りつけられた回転モーター１１８の
回転を回転ギア１２０に伝えることにより、ケース１１
７はレール１１５に沿って直線運動する。この直線運動
の方向は、情報記録媒体１００の略半径方向となってい
る。
【００９８】ケース１１７には磁石１２１が取りつけら
れている。また、ケース１１７には、対物レンズ１３６
を情報記録媒体１００の記録面の略法線方向と、情報記
録媒体１００の略半径方向の２つの方向にのみ移動可能
とするサスペンション１２３を介して対物レンズ１３６
が取りつけられている。また、対物レンズ１３６には磁
石１２１と略対向するようにコイル１２２が取りつけら
れている。コイル１２２に電流を流すことにより、磁力
的な効果により、対物レンズ１３６は情報記録媒体１０
０の記録面の略法線方向と、情報記録媒体１００の略半
径方向の２つの方向に移動することが出来る。レール１
１５、レールガイド１１６、ケース１１７、磁石１２
１、サスペンション１２３、コイル１２２、対物レンズ
１３６により、エネルギービームを情報記録媒体１００
上の所定の位置に位置付ける位置決め機構を構成してい
る。
【００９９】ケース１１７には、エネルギービーム発生
器である半導体レーザ１３１が取りつけられる。半導体
レーザ１３１から射出したエネルギービームは、コリメ
ートレンズ１３２及びビームスプリッタ１３３を通過
し、対物レンズ１３６を通過する。対物レンズ１３６か
ら射出した光の一部は情報記録媒体１００で反射され、
対物レンズ１３６を通過し、ビームスプリッタ１３３で
反射され、検出レンズ１３４で集光され、光検出器１３
５で光強度を検出される。光検出器１３５は、受光エリ
アが複数に分割されている。
【０１００】図１０に４分割に分かれた光検出器の概略
図を示した。情報記録媒体から戻ってきた光ビーム３０
５はそれぞれ検出器３０１で検出される光量ａ、検出器
３０２で検出される光量ｂ、検出器３０３で検出される
光量ｃ、検出器３０４で検出される光量ｄに分割して検
出される。総光量はすべての和、すなわちａ＋ｂ＋ｃ＋
ｄとなる。トラッキングはタンジェンシャル方向に分か
れて配置された検出器の光量差が小さくなるように行な
われ、トラッキング誤差信号はタンジェンシャル方向に
分かれて配置された検出器の光量差（ａ＋ｂ）−（ｃ＋
ｄ）となる。ここでは４分割の光検出器の例を示した
が、分割数の異なる検出器でも同様である。それぞれの
受光エリアで検出された光強度はアンプ１５２で増幅さ
れると共に演算され、対物レンズ１３６で集光された光
スポットと情報記録媒体１００との相対的な位置関係の
情報（サーボ信号）と情報読み出し信号とが検出され
る。サーボ信号はサーボコントローラ１５１に送られ
る。また、読み出し信号はデコーダ１５３に送られる。
【０１０１】情報の記録再生装置に情報記録媒体１００
が取りつけられ、チャッキング機構１１２が情報記録媒
体１００を固定すると、検出器１４０が作動し、その信
号をシステムコントローラ１５０に送る。システムコン
トローラ１５０はそれを受けて、モーター１１０を制御
して情報記録媒体１００を適切な回転数となるように回
転させる。また、システムコントローラ１５０は、回転
モーター１１８を制御して、ケース１１７を適切な位置
に位置決めする。また、システムコントローラー１５０
は半導体レーザ１３１を発光させると共に、サーボコン
トローラ１５１を動作させて回転モータ１１８を動作さ
せたりコイル１２２に電流を流して、対物レンズ１３６
の形成する焦点スポットを情報記録媒体１００の上の所
定の位置に位置決めする。ついで、サーボコントローラ
１５１は焦点スポットが情報記録媒体１００上に形成さ
れた由の信号をシステムコントローラ１５０に送る。シ
ステムコントローラ１５０はデコーダ１５３に指示を与
え、読み出される信号をデコードする。読み出されるト
ラックがコントロールデータゾーンの情報トラックでな
い場合、システムコントローラ１５０はサーボコントロ
ーラ１５１に指示を与え、焦点スポットがコントロール
データゾーンの情報トラックに位置決めされるようにす
る。上記の動作の結果、システムコントローラー１５０
はコントロールデーターゾーンの情報トラックを読み取
り、記録や再生に関する媒体の情報を読み出す。
【０１０２】入力コネクタ１５９を介して上位コントロ
ーラから情報書き込みの指示及び書き込むべき情報が送
られてきた場合、システムコントローラ１５０はサーボ
コントローラ１５１に指示を与えて焦点スポットを情報
記録媒体１００の上の適切な情報面（レイヤー）の適切
なトラックに位置決めする。光検出器１３５で得られた
信号はアンプ１５２により増幅され、ウォブル検出回路
１７１に信号を伝える。トラックは周期的に蛇行ないし
は変形が加えられており、ウォブル検出回路１７１でこ
の周期を検出する。なお、ウォブル検出回路で検出する
のは、記録トラックの蛇行（ウォブリング）であった
り、記録トラックの時系列読み出し方向に周期的に設け
られた溝の形状の変化であったり、記録トラックの時系
列読み出し方向に周期的に設けられたプリピットであっ
たり、それらの組み合わせであったりする。ウォブル検
出回路１７１で検出された周期信号は、周波数変換回路
１７２により周期（周波数）が変換されて記録再生クロ
ック基本波となる。周波数変換回路１７２の変換倍率
は、コントロールデータゾーンの情報トラックに予め記
録されている変換倍率指示値を採用する。ウォブル検出
回路１７１、周波数変換回路１７２の代りに記録再生ク
ロック基本波を別の手段で作ってもよい。
【０１０３】光検出器１３５で得られた再生信号はスラ
イサ１７０によって２値化され、ＰＬＬ回路１７３によ
って同期信号を発生して同期が取られ、デコーダ１５３
によってデコードされて出力コネクタ１５８より出力さ
れる。書き込むべき情報は信号処理回路１６１を通って
ＮＲＺＩ信号へと変換される。ＮＲＺＩ信号へと変換さ
れた信号は、パターン生成回路１５５に伝えられる。パ
ターン生成回路１５５は、システムコントローラ１５０
に指示されるセクター内の記録マーク配置の方法に沿っ
て、セクター内に記録すべきユーザーデータエリアのパ
ターン、ユーザーデータ−エリアに先行して付随すべき
記録マーク配置（バッファやその他のフィールド）、ユ
ーザーデータエリアに引き続いて付随すべき記録マーク
配置（バッファやその他のフィールド）をアレンジし、
セクター内での記録マーク配置のパターン列を完成す
る。パターン生成回路１５５には、周波数変換回路１７
２で生成された記録再生基本クロックが供給されてい
る。パターン生成回路は、自ら生成した記録パターンの
一つ一つを順次に記録再生クロックに同期してレーザド
ライバ回路１５４に送る。レーザドライバ回路１５４
は、パターン生成回路１５５から送られてきた書き込む
べき記録マークパターンに応じて、周波数変換回路１７
２で生成された記録再生基本クロックに同期して書き込
みパルスを生成し、これを半導体レーザ１３１に送って
これを駆動する。これにより、半導体レーザ１３１が発
光し、かつ、書き込むべき情報に即して半導体レーザ１
３１の射出エネルギー量が時間的に変調されている。こ
の射出光は、コリメートレンズ１３２、対物レンズ１３
６を通して情報記録媒体１００に照射され、これにより
記録媒体上に記録マークを形成する。
【０１０４】ＤＶＤ−ＲＡＭを初めとする光ディスクで
は、記録媒体に照射する光強度変化を用いて記録マーク
を形成する場合、記録するべき情報は最終的には半導体
レーザ１３１の駆動電流変化となって現れ、この駆動電
流変化は記録再生クロック基本波に同期して変化され
る。
【０１０５】本発明の特徴はサーボコントローラ１５１
にある。原理図を図１１に、サーボコントローラの一例
を示す詳細図を図１２に示した。サーボコントローラ１
５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１
があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回
路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチ
ュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ信
号検出回路２０１で検出されたＡＦ誤差信号はＡＦサー
ボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報
面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォー
カスした状態のトラッキング（ＴＲ）誤差信号振幅をＴ
Ｒ誤差信号振幅検出回路２０８にて測定しその値をレイ
ヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイ
ヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントロー
ラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合
は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤ
ーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信
号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生
し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライ
バ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これら
は、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返され
る。
【０１０６】図１１に示すように、スポットがある決め
られた位置及び／又は決められた時間まで移動した間に
検出されたトラッキングエラー信号より振幅測定を行
う。図中、一番下の信号は同期信号で、これを元に検出
時間及び／又は検出タイミングを決める。
【０１０７】このように、ＴＲ誤差信号振幅がレイヤー
ごとに異なる媒体を用いて、ＴＲ誤差信号振幅をＴＲ誤
差信号振幅検出回路２０８により測定し、レイヤー判定
することにより、図１１に示すようにレイヤー番号が判
定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録でき
ることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板
のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定す
る方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早い
という利点がある。
【０１０８】また、ＴＲ誤差信号振幅がレイヤーごとに
異なる媒体を用いて、ＴＲ誤差信号振幅をＴＲ誤差信号
振幅検出回路２０８により測定し、レイヤー判定するこ
とにより、図１１に示すようにレイヤー番号が判定で
き、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できるこ
とがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピ
ット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方
法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いとい
う利点がある。
【０１０９】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるＴＲ誤差信
号振幅は下式に示されるように、光入射側から遠いレイ
ヤーほどＴＲ誤差信号振幅が大きい方がより好ましかっ
た。
【０１１０】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、信号振幅差はＬ０の振幅に対して５％以上あると
判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動に
も耐えられるためより好ましかった。
【０１１１】さらに、アクセス時には一定再生光強度で
光照射してＴＲ誤差信号振幅を検出してレイヤー番号を
判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、再
生光強度を制御して再生信号の光強度を各レイヤーの最
適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音
波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより
好ましい。
【０１１２】（情報記録媒体の特徴）ＴＲ誤差信号振幅
がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラック
に形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の
形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒
体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上
記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μ
ｍと異ならせると、Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５ｍ
Ｖ，Ｌ１のＴＲ誤差信号振幅が３９０ｍＶと異なるた
め、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１１３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイ
ヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかっ
た。
【０１１４】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１１５】上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えて
も同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎ
が１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝
幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４
５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．
０／ｎ）と変えると、Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５
ｍＶ，Ｌ１のＴＲ誤差信号振幅が３９０ｍＶと異なるた
め、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１１６】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレ
イヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましか
った。
【０１１７】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０１１８】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１１９】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５ｍＶ，Ｌ１のＴＲ誤差
信号振幅が３９０ｍＶと異なるため、この違いによりレ
イヤーの判定が可能である。
【０１２０】また，上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、信号振幅差がＬ０の振幅に対して５％以上
あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境
変動にも耐えられるためより好ましかった。上記凹凸の
角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで
上記凹凸の角形状を変えると、ＴＲ誤差信号振幅が異な
るため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
角形状とは、図３に示されるようにＬ０の場合、基板表
面の角の形状（Ｓ０）、Ｌ１の場合、スペーサ層の表面
の角の形状（Ｓ１）をいう。
【０１２１】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角
形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上
記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組
合せて、ＴＲ誤差信号振幅を変えてもよい。
【０１２２】この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レ
イヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異
なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤ
ーで上記反射率を変えると、ＴＲ誤差信号振幅が異なる
ため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１２３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率
は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いこ
とが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対し
て５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上
あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
また、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、ＴＲ誤
差信号振幅を変えてもよい。
【０１２４】本発明は、上記凹凸が図１３に示されるよ
うにグルーブ部３１１とランド部３１３がピット３１２
によって不連続に形成されても、ランド部とグルーブ部
の切り替え部で不連続に形成されていても、また上記凹
凸が図１４に示されるようにグルーブ部３１１とランド
部３１３が連続に形成されても効果があった。
【０１２５】さらに、図１５に示されるようにグルーブ
部３１１又はランド部３１３のいずれか一方にのみマー
ク３１５が記録されていても、図１６に示されるように
グルーブ部３１１及びランド部３１３の両方にマーク３
１５が記録されている方法のどちらでも効果があった。
グルーブ部３１１にのみマーク３１５が記録されている
場合、上記溝幅とはグルーブ部のみの幅を意味し、ラン
ド部のみマーク３１５が記録されている場合、上記溝幅
とはランド部のみの幅を意味する。グルーブ部３１１及
びランド部３１３の両方にマーク３１５が記録されてい
る方法では、溝幅の定義は図３に示したとおりである。
【０１２６】〔実施例２〕図１７及び図１８に、情報記
録媒体における、情報面のセクター配置概略図を示す。
このように、情報面はある決まった情報量ごとに記録・
再生される。この分割された一塊はセクターと呼ばれ
る。セクターの概略を図１９に示した。セクター３１
は、アドレス情報や同期情報等を含む少なくとも１つの
ＩＤ部４１と少なくとも１つのデータ部３４からなる。
ＩＤ部４１はピットによってアドレス情報や同期情報等
が記録されたピット部３２とピットがないミラー部３３
からなる。
【０１２７】（記録再生方法）実施例１に記載の記録・
再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変
化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図２０
に、サーボコントローラの詳細図を図２１に示した。
【０１２８】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のデータ部再生信号の総光量を総光量検出回路
２０９にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７
へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判
定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここ
で正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不
要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイ
ヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信
号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介して
ＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤ
ージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカ
スするまで繰り返される。
【０１２９】このように、再生信号の総光量がレイヤー
ごとに異なる媒体を用いて、再生信号の総光量を再生信
号の総光量検出回路２０９により測定し、レイヤー判定
することにより、図２０に示すようにレイヤー番号が判
定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録でき
ることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板
のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定す
る方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早い
という利点がある。
【０１３０】また、再生信号の総光量がレイヤーごとに
異なる媒体を用いて、再生信号の総光量を再生信号の総
光量検出回路２０９により測定し、レイヤー判定するこ
とにより、図２０に示すようにレイヤー番号が判定で
き、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できるこ
とがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピ
ット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方
法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いとい
う利点がある。
【０１３１】データ部及びピット部、ミラー部における
総光量の検出はシステムコントローラ１５０によって反
射率レベル及び／又はタイミングによっていずれである
かを区別され、検出される。データ部及びピット部、ミ
ラー部における信号振幅の検出、信号周波数等の検出も
同様にシステムコントローラ１５０によって区別され、
検出される。
【０１３２】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部再生信
号の総光量は、下式に示されるように、光入射側から遠
いレイヤーほどデータ部再生信号の総光量が大きい方が
より好ましかった。
【０１３３】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、データ部再生信号の総光量差はＬ０の総光量に対
して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以
上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかっ
た。
【０１３４】さらに、アクセス時には一定再生光強度で
光照射してデータ部再生信号の総光量を検出してレイヤ
ー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後
には、データ部再生信号の強度を各レイヤーの最適値に
変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）
が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好まし
い。
【０１３５】（情報記録媒体の特徴）データ部再生信号
の総光量がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録
トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からな
る凹凸の形状を変えることによって作製できる。例え
ば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定
として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は
０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部再生信号の総
光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデータ部再生信号の総光量が１
０２ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定
が可能である。
【０１３６】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大き
いため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹
凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠い
レイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましか
った。
【０１３７】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。上記凹凸
の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られ
た。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基
板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定
で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のデータ部再生信号の総光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデ
ータ部再生信号の総光量が１０２ｍＶと異なるため、こ
の違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１３８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大き
いため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹
凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠
いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ま
しかった。
【０１３９】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０１４０】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１４１】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のデータ部再生信号の総光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデ
ータ部再生信号の総光量が１０２ｍＶと異なるため、こ
の違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１４２】また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、データ部再生信号の総光量差がＬ０の総光
量に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１
０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好まし
かった。上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得ら
れた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、デー
タ部再生信号の総光量が異なるため、この違いによりレ
イヤーの判定が可能である。
【０１４３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大き
いため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹
凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸
の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。ま
た、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深
さと組合せて、データ部再生信号の総光量を変えてもよ
い。
【０１４４】この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レ
イヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異
なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤ
ーで上記反射率を変えると、データ部再生信号の総光量
が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能で
ある。
【０１４５】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、
光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが
好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。ま
た、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、データ部
再生信号の総光量を変えてもよい。本実施例に記載され
ていない事項については、実施例１と同様である。
【０１４６】〔実施例３〕 （記録再生方法）実施例１に記載の記録・再生装置にお
いて、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録
・再生装置を作製した。原理図を図２２に、サーボコン
トローラの詳細図を図２３に示した。
【０１４７】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態の再生信号よりセクター数検出回路２１０にて
一定時間内に検出したセクター数を測定しその値をレイ
ヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイ
ヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントロー
ラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合
は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤ
ーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信
号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生
し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライ
バ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これら
は、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返され
る。
【０１４８】このように、一定時間内に検出するセクタ
ー数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内
に検出するセクター数をセクター数検出回路２１０によ
り測定し、レイヤー判定することにより、図２２に示す
ようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤー
にアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラ
ッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取るこ
とによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアク
セスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１４９】また、一定時間内に検出するセクター数が
レイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出
するセクター数をセクター数検出回路２１０により測定
し、レイヤー判定することにより、図２２に示すように
レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアク
セスして再生できることがわかる。さらに、トラッキン
グした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによ
りレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタ
イムが非常に早いという利点がある。
【０１５０】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必
要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほ
うが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）
におけるセクター数は、次式に示されるように、光入射
側から遠いレイヤーほどセクター数が多い方がより好ま
しかった。
【０１５１】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、セクター数差はＬ０のセクター数に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、
アクセス時には一定速度で回転して、セクター数を検出
してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャ
ンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０１５２】（情報記録媒体の特徴）セクター数がレイ
ヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成
されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を
変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場
合、上記凹凸の連続部の長さを変え、Ｌ１のセクター配
置を図１７、Ｌ０のセクター配置を図１８とするとセク
ター数はＬ０とＬ１で変えることができる。この場合、
最外周部における半径５８ｍｍにおいて、線速度９ｍ／
ｓ、セクター数計測時間が４０ｍｓでは、Ｌ１のセクタ
ー数が２２個、Ｌ０のセクター数が１１個と異なるた
め、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１５３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必
要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほ
うが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）
におけるセクター数は、次式に示されるように、光入射
側から遠いレイヤーほどセクター数が多い方がより好ま
しかった。
【０１５４】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記セクター数の差はＬ０のセクター数に対して
５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あ
ると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１５５】上記凹凸のセクター数のかわりにセクター
長、即ち１つのセクターの先頭から次のセクターの先頭
までの経過時間、又は複数セクターの経過時間の平均値
を計測しても同様な効果が得られた。この場合、図２４
に示されるサーボコントローラを使用する。サーボコン
トローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出
回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡ
Ｆサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介して
ＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一
方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ
信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態で
あることを伝える。フォーカスした状態の再生信号より
セクター時間検出回路２１１にて１つのセクターの先頭
から次のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セク
ターの経過時間の平均値を測定しその値をレイヤー番号
判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレ
イヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５
へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤ
ージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場
合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイ
ヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ
２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝
えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイ
ヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１５６】このように、１つのセクターの先頭から次
のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの
経過時間の平均値がレイヤーごとに異なる媒体を用い
て、一定時間内に検出するセクター数をセクター時間検
出回路２１１により測定し、レイヤー判定することによ
り、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーに
アクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッ
キングした後に、基板のピット部の情報を読み取ること
によりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセ
スタイムが非常に早いという利点がある。
【０１５７】また、１つのセクターの先頭から次のセク
ターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの経過時
間の平均値がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定
時間内に検出するセクター数をセクター時間検出回路２
１１により測定し、レイヤー判定することにより、レイ
ヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセス
して再生できることがわかる。さらに、トラッキングし
た後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレ
イヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイム
が非常に早いという利点がある。
【０１５８】この場合、最外周部における半径５８ｍｍ
において、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のセクター長は、
が３３．１ｍｍ、Ｌ０のセクター長が１６．５５ｍｍ、
Ｌ１のセクター通過時間は３．６ｍｓ、Ｌ０のセクター
通過時間が１．８ｍｓと異なるため、この違いによりレ
イヤーの判定が可能である。
【０１５９】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必
要となるため、光入射側の層ほどセクター長が長いほう
が好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）に
おけるセクター長は、次式に示されるように、光入射側
から遠いレイヤーほどセクター長が短い方がより好まし
かった。
【０１６０】レイヤー１＞レイヤー２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記セクター長の差はＬ０のセクター長に対して
５％以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０
％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましか
った。さらに、セクター数、セクター長の計測は単セク
ター計測を行なうより、複数セクターの計測を行ない合
計及び／又は平均値を求めると、より計測精度が高まり
好ましかった。本実施例に記載されていない事項につい
ては、実施例１〜２と同様である。
【０１６１】〔実施例４〕 （記録再生方法）実施例１に記載の記録・再生装置にお
いて、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録
・再生装置を作製した。原理図を図２５に、サーボコン
トローラの詳細図を図２６に示した。
【０１６２】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のデータ部の再生信号振幅をデータ部の再生信
号振幅２１３にて測定しその値をレイヤー番号判定回路
２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番
号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝え
る。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャ
ンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正
しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージ
ャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３
を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えら
れ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤー
へフォーカスするまで繰り返される。
【０１６３】このように、データ部の再生信号振幅がレ
イヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部の再生信号
振幅２１３により測定し、レイヤー判定することによ
り、図２５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実
に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわか
る。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の
情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べ
ても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点が
ある。
【０１６４】また、データ部の再生信号振幅がレイヤー
ごとに異なる媒体を用いて、データ部の再生信号振幅２
１３により測定し、レイヤー判定することにより、図２
５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しい
レイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さら
に、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読
み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生
時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響
があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレ
イヤー（情報面）におけるデータ部の再生信号振幅は、
次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど
データ部の再生信号振幅が大きい方がより好ましかっ
た。
【０１６５】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、データ部の再生信号振幅差はＬ０の振幅に対して
５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あ
ると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１６６】さらに、アクセス時には一定再生光強度で
光照射してデータ部の再生信号振幅を検出してレイヤー
番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後に
は、再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる
手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状
態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１６７】（情報記録媒体の特徴）データ部の再生信
号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録ト
ラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる
凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、
２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定とし
て、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．
３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が
４１ｍＶ、Ｌ１のデータ部の再生信号振幅が３９ｍＶと
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１６８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅
は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤー
ほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
【０１６９】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１７０】上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えて
も同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎ
が１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝
幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４
５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．
０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が
３９ｍＶ、Ｌ１のデータ部の再生信号振幅が４１ｍＶと
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１７１】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深
さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤ
ーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかっ
た。
【０１７２】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０１７３】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１７４】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が３９ｍＶ、Ｌ１のデー
タ部の再生信号振幅が４１ｍＶと異なるため、この違い
によりレイヤーの判定が可能である。
【０１７５】また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、データ部の再生信号振幅差がＬ０の振幅に
対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％
以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかっ
た。
【０１７６】上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が
得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、
データ部の再生信号振幅が異なるため、この違いにより
レイヤーの判定が可能である。光入射側から遠いレイヤ
ーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイ
ズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけ
る上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど
上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかっ
た。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又
は溝深さと組合せて、データ部の再生信号振幅を変えて
もよい。
【０１７７】この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レ
イヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異
なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤ
ーで上記反射率を変えると、データ部の再生信号振幅が
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１７８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、
光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが
好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。ま
た、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、データ部
の再生信号振幅を変えてもよい。
【０１７９】〔実施例５〕 （記録再生方法）実施例４のデータ部の再生信号振幅の
代わりにピット部の再生信号振幅を測定してレイヤー判
定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラ
の詳細図を図２７に示した。
【０１８０】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のピット部の再生信号振幅をピット部の再生信
号振幅２１４にて測定しその値をレイヤー番号判定回路
２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番
号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝え
る。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャ
ンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正
しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージ
ャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３
を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えら
れ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤー
へフォーカスするまで繰り返される。
【０１８１】このように、ピット部の再生信号振幅がレ
イヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部の再生信号
振幅２１４により測定し、レイヤー判定することによ
り、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーに
アクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッ
キングした後に、基板のピット部の情報を読み取ること
によりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセ
スタイムが非常に早いという利点がある。
【０１８２】また、ピット部の再生信号振幅がレイヤー
ごとに異なる媒体を用いて、ピット部の再生信号振幅２
１４により測定し、レイヤー判定することにより、レイ
ヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセス
して再生できることがわかる。さらに、トラッキングし
た後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレ
イヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイム
が非常に早いという利点がある。
【０１８３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット部の再生
信号振幅は、次式に示されるように、光入射側から遠い
レイヤーほどピット部の再生信号振幅が大きい方がより
好ましかった。
【０１８４】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ピット部の再生信号振幅差はＬ０の振幅に対して
５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あ
ると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１８５】さらに、アクセス時には一定再生光強度で
光照射してピット部の再生信号振幅を検出してレイヤー
番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後に
は、再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる
手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状
態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１８６】（情報記録媒体の特徴）ピット部の再生信
号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録ト
ラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる
凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、
２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定とし
て、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．
３８μｍと変えると、Ｌ０のピット部の再生信号振幅が
５１ｍＶ、Ｌ１のピット部の再生信号振幅が４９ｍＶと
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１８７】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅
は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤー
ほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
【０１８８】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１８９】上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えて
も同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎ
が１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝
幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４
５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．
０／ｎ）と変えると、Ｌ０のピット部の再生信号振幅が
４９ｍＶ、Ｌ１のピット部の再生信号振幅が５１ｍＶと
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１９０】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深
さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤ
ーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかっ
た。
【０１９１】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０１９２】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１９３】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のピット部の再生信号振幅が４９ｍＶ、Ｌ１のピッ
ト部の再生信号振幅が５１ｍＶと異なるため、この違い
によりレイヤーの判定が可能である。
【０１９４】また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、ピット部の再生信号振幅差がＬ０の振幅に
対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％
以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかっ
た。上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られ
た。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、ピット
部の再生信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤ
ーの判定が可能である。
【０１９５】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形
状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状
がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹
凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せ
て、ピット部の再生信号振幅を変えてもよい。
【０１９６】この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レ
イヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異
なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤ
ーで上記反射率を変えると、ピット部の再生信号振幅が
異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０１９７】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、
光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが
好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。ま
た、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、ピット部
の再生信号振幅を変えてもよい。本実施例に記載されて
いない事項については、実施例１〜５と同様である。
【０１９８】〔実施例６〕 （記録再生方法）実施例４のデータ部の再生信号振幅の
代わりにデータ部及びピット部の再生信号振幅比を測定
してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サー
ボコントローラの詳細図を図２８に示した。
【０１９９】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のデータ部及びピット部の再生信号振幅を再生
信号振幅検出回路２１５にて測定し、データ部及びピッ
ト部の再生信号振幅比（データ部再生信号振幅／ピット
部の再生信号振幅）をデータ部及びピット部の振幅比演
算回路２１６にて演算しその値をレイヤー番号判定回路
２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番
号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝え
る。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャ
ンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正
しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージ
ャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３
を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えら
れ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤー
へフォーカスするまで繰り返される。
【０２００】このように、データ部及びピット部の再生
信号振幅比（データ部再生信号振幅／ピット部の再生信
号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ
部及びピット部の再生信号振幅を再生信号振幅検出回路
２１５にて測定し、その比をデータ部及びピット部の振
幅比演算回路２１６により演算し、レイヤー判定するこ
とにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイ
ヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、
トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取
ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時の
アクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２０１】また、データ部及びピット部の再生信号振
幅比（データ部再生信号振幅／ピット部の再生信号振
幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及
びピット部の再生信号振幅を再生信号振幅検出回路２１
５にて測定し、その比をデータ部及びピット部の振幅比
演算回路２１６により演算し、レイヤー判定することに
より、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤー
にアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラ
ッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取るこ
とによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアク
セスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２０２】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部及びピ
ット部の再生信号振幅比は、次式に示されるように、光
入射側から遠いレイヤーほどデータ部及びピット部の再
生信号振幅比が大きい方がより好ましかった。
【０２０３】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、データ部及びピット部の再生信号振幅比の差はＬ
０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーがなく
なり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためよ
り好ましかった。
【０２０４】一方、振幅比は、各レイヤーの反射率が異
なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一
定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射
率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定し
て記録・再生が出来、好ましかった。
【０２０５】（情報記録媒体の特徴）データ部及びピッ
ト部の再生信号振幅比がレイヤーごとに異なる媒体は、
情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連
続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製で
きる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４
２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μ
ｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部及
びピット部の再生信号振幅比が０．８０、Ｌ１のデータ
部及びピット部の再生信号振幅比が０．８５と異なるた
め、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２０６】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅
は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤー
ほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
【０２０７】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２０８】上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えて
も同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎ
が１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝
幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４
５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．
０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びピット部の再
生信号振幅比が０．８０、Ｌ１のデータ部及びピット部
の再生信号振幅比が０．８５と異なるため、この違いに
よりレイヤーの判定が可能である。
【０２０９】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深
さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤ
ーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかっ
た。
【０２１０】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０２１１】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２１２】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８
０、Ｌ１のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が
０．８５と異なるため、この違いによりレイヤーの判定
が可能である。
【０２１３】また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、データ部及びピット部の再生信号振幅比の
差がＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラー
がなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられる
ためより好ましかった。上記凹凸の角形状を変えても同
様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を
変えると、データ部及びピット部の再生信号振幅比が異
なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０２１４】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形
状は、 光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形
状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記
凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合
せて、データ部及びピット部の再生信号振幅比を変えて
もよい。本実施例に記載されていない事項については、
実施例１〜５と同様である。
【０２１５】〔実施例７〕 （記録再生方法）実施例１に記載の記録・再生装置にお
いて、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録
・再生装置を作製した。サーボコントローラの詳細図を
図２９に示した。
【０２１６】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態の再生信号よりピット部再生信号周波数検出回
路２１７にてピット部における再生信号周波数を測定し
その値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカ
スされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤー
にいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しく
ないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプす
るための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６
より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエー
タドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。
これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返
される。
【０２１７】このように、ピット部における再生信号周
波数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部に
おける再生信号周波数をピット部再生信号周波数検出回
路２１７により測定し、レイヤー判定することにより、
図２９に示すようにレイヤー判定することにより、レイ
ヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセス
して記録できることがわかる。さらに、トラッキングし
た後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレ
イヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイム
が非常に早いという利点がある。
【０２１８】また、ピット部における再生信号周波数が
レイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部における
再生信号周波数をピット部再生信号周波数検出回路２１
７により測定し、レイヤー判定することにより、図２９
に示すようにレイヤー判定することにより、レイヤー番
号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再
生できることがわかる。さらに、トラッキングした後
に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤ
ー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非
常に早いという利点がある。
【０２１９】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号の低周波のノイズが大き
くなる。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけ
るピット部における再生信号周波数は、次式に示される
ように、光入射側から遠いレイヤーほどピット部におけ
る再生信号周波数が高い方がより好ましかった。
【０２２０】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ピット部における再生信号周波数差はＬ０の周波
数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１
０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好まし
かった。
【０２２１】（情報記録媒体の特徴）ピット部における
再生信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面
の記録トラックに形成されているピットの周期を変える
ことによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上
記ピットの周期を変え、Ｌ１のピット周期を０．６９μ
ｍ、Ｌ０のピット周期を０．８７μｍとした場合、線速
度９ｍ／ｓで再生すると、Ｌ１のピット部における再生
信号周波数が１３．０ＭＨｚ、Ｌ０のピット部における
再生信号周波数が１０．４ＭＨｚ、と異なるため、この
違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２２２】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必
要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほ
うが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）
におけるピット部における再生信号周波数は、次式に示
されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット部
における再生信号周波数が高い方がより好ましかった。
【０２２３】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記ピット部における再生信号周波数の差はＬ０
の周波数に対して５％以上あると判別のエラーがなくな
り、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより
好ましかった。本実施例に記載されていない事項につい
ては、実施例１〜６と同様である。
【０２２４】〔実施例８〕 （記録再生方法）実施例７のピットの周波数の代わりに
数を変えても同様な効果が得られた。サーボコントロー
ラの詳細図を図３０に示した。
【０２２５】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態の再生信号よりピット部再生信号ピット数検出
回路２１８にて一定時間内に検出したピット数を測定し
その値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカ
スされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤー
にいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しく
ないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプす
るための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６
より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエー
タドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。
これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返
される。
【０２２６】このように、一定時間内に検出するピット
数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に
検出するピット数をピット部再生信号ピット数検出回路
２１８により測定し、レイヤー判定することにより、レ
イヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、
確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることが
わかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット
部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に
比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利
点がある。
【０２２７】また、一定時間内に検出するピット数がレ
イヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出す
るピット数をピット部再生信号ピット数検出回路２１８
により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー
判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に
正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわか
る。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の
情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べ
ても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点が
ある。
【０２２８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が
広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほう
が好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）に
おけるピット数は、次式に示されるように、光入射側か
ら遠いレイヤーほどピット数が多い方がより好ましかっ
た。
【０２２９】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ピット数差はＬ０のピット数に対して５％以上あ
ると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変
動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、アク
セス時には一定速度で回転して、ピット数を検出してレ
イヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプし
た後には、回転数を変更してもよい。
【０２３０】（情報記録媒体の特徴）ピット数がレイヤ
ーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成さ
れているピット数を変えることによって作製できる。例
えば、２層媒体の場合、上記ピット数はＬ０とＬ１で変
えればよい。この場合、同一周波数で、Ｌ１のピット数
が５０個、Ｌ０のピット数が４０個と異なるため、この
違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２３１】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ピット数に比例したＩＤ部が必要
となるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが
好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）にお
けるピット数は、次式に示されるように、光入射側から
遠いレイヤーほどピット数が多い方がより好ましかっ
た。
【０２３２】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記ピット数の差はＬ０のピット数に対して５％
以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると
環境変動にも耐えられるためより好ましかった。一定周
波数にせずに、周波数変化とピット数変化を組合せる
と、より精度があがるため好ましかった。本実施例に記
載されていない事項については、実施例１〜７と同様で
ある。
【０２３３】〔実施例９〕実施例８の上記凹凸のピット
数のかわりにピット全長、即ち先頭のピットから最終の
ピットまでの長さ、又はその通過時間を計測しても同様
な効果が得られた。サーボコントローラの詳細図を図３
１に示した。
【０２３４】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態の再生信号よりピット部再生信号ピット長検出
回路２１９にてピット全長を測定しその値をレイヤー番
号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーの
レイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０
５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイ
ヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる
場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レ
イヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッ
チ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に
伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレ
イヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２３５】このように、ピット全長がレイヤーごとに
異なる媒体を用いて、ピット全長をピット部再生信号ピ
ット長検出回路２１９により測定し、レイヤー判定する
ことにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番
号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記
録できることがわかる。さらに、トラッキングした後
に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤ
ー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非
常に早いという利点がある。
【０２３６】また、ピット全長がレイヤーごとに異なる
媒体を用いて、ピット全長をピット部再生信号ピット長
検出回路２１９により測定し、レイヤー判定することに
より、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判
定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生でき
ることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板
のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定す
る方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早い
という利点がある。
【０２３７】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が
広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほう
が好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）に
おけるピット全長は、次式に示されるように、光入射側
から遠いレイヤーほどピット全長が長い方がより好まし
かった。
【０２３８】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ピット全長差はＬ０のピット全長に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、
アクセス時には一定速度で回転して、ピット全長を検出
してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャ
ンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０２３９】（情報記録媒体の特徴）ピット全長がレイ
ヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成
されているピット数及び／又はピット長を変えることに
よって作製できる。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０は
０．３３μｍのピットを０．６６μｍ周期で５０個、Ｌ
１は０．３３μｍのピットを０．６６μｍ周期で２５個
とピット数を変えれば、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のピ
ット全長が３３μｍ，Ｌ０のピット全長が１６．５μ
ｍ、Ｌ１のピット通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のピット
通過時間が１．８μｓと異なるため、この違いによりレ
イヤーの判定が可能である。また、Ｌ０は０．６６μｍ
のピットを１．３２μｍ周期で２５個、Ｌ１は０．３３
μｍのピットを０．６６μｍ周期で２５個とピット長を
変えれば、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のピット全長が３
３μｍ，Ｌ０のピット全長が１６．５μｍ、Ｌ１のピッ
ト通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のピット通過時間が１．
８μｓと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が
可能である。
【０２４０】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があるため、光入射側の層ほどピット全長
が長いほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー
（情報面）におけるピット全長は、次式に示されるよう
に、光入射側から遠いレイヤーほどピット全長が長い方
がより好ましかった。
【０２４１】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記ピット全長の差はＬ０のピット全長に対して
５％以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０
％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましか
った。さらに、ピット周波数、ピット数、ピット全長の
計測は単独で計測を行なうより、複数のピットの計測を
組合せると、より計測精度が高まり好ましかった。本実
施例に記載されていない事項については、実施例１〜８
と同様である。
【０２４２】〔実施例１０〕 （記録再生方法）実施例９の上記ピット部全長だけでな
くミラー部の長さを変えても同様な効果が得られた。サ
ーボコントローラの詳細図を図３２に示した。
【０２４３】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のミラー部再生信号よりミラー部再生信号ミラ
ー長検出回路２２０にてミラー長を測定しその値をレイ
ヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイ
ヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントロー
ラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合
は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤ
ーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信
号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生
し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライ
バ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これら
は、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返され
る。
【０２４４】このように、ミラー長がレイヤーごとに異
なる媒体を用いて、ミラー長をミラー部再生信号ミラー
長検出回路２２０により測定し、レイヤー判定すること
により、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が
判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録で
きることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基
板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定
する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早
いという利点がある。
【０２４５】また、ミラー長がレイヤーごとに異なる媒
体を用いて、ミラー長をミラー部再生信号ミラー長検出
回路２２０により測定し、レイヤー判定することによ
り、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定
でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できる
ことがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板の
ピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する
方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いと
いう利点がある。
【０２４６】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が
広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほう
が好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）に
おけるミラー長は、次式に示されるように、光入射側か
ら遠いレイヤーほどミラー長が長い方がより好ましかっ
た。
【０２４７】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ミラー長差はＬ０のミラー長に対して５％以上あ
ると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変
動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、アク
セス時には一定速度で回転して、ミラー長を検出してレ
イヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプし
た後には、回転数を変更してもよい。
【０２４８】（情報記録媒体の特徴）ミラー長がレイヤ
ーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成さ
れているミラー長を変えることによって作製できる。例
えば、２層媒体の場合、最外周部において、線速度９ｍ
／ｓでは、Ｌ１のミラー長が３３μｍ，Ｌ０のミラー長
が１６．５μｍ、とミラー長を変えることにより、Ｌ１
のミラー通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のミラー通過時間
が１．８μｓと異なるため、この違いによりレイヤーの
判定が可能である。
【０２４９】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があるため、光入射側の層ほどミラー長が
長いほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情
報面）におけるミラー長は、次式に示されるように、光
入射側から遠いレイヤーほどミラー長が長い方がより好
ましかった。
【０２５０】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記ミラー長の差はＬ０のミラー長に対して５％
以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０％以
上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかっ
た。さらに、ミラー部長さの計測は単独で計測を行なう
より、ピットの長さ等他の計測を組合せると、より計測
精度が高まり好ましかった。本実施例に記載されていな
い事項については、実施例１〜９と同様である。
【０２５１】〔実施例１１〕 （記録再生方法）実施例１０の上記ミラー部の長さ以外
にミラー部の光量を変えても同様な効果が得られた。サ
ーボコントローラの詳細図を図３３に示した。
【０２５２】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態の再生信号よりミラー部再生信号光量検出回路
２２１にてミラー部の光量を測定しその値をレイヤー番
号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーの
レイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０
５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイ
ヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる
場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レ
イヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッ
チ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に
伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレ
イヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２５３】このように、ミラー部の光量がレイヤーご
とに異なる媒体を用いて、ミラー部の光量をミラー部再
生信号光量検出回路２２１により測定し、レイヤー判定
することにより、レイヤー判定することにより、レイヤ
ー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスし
て記録できることがわかる。さらに、トラッキングした
後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイ
ヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが
非常に早いという利点がある。
【０２５４】また、ミラー部の光量がレイヤーごとに異
なる媒体を用いて、ミラー部の光量をミラー部再生信号
光量検出回路２２１により測定し、レイヤー判定するこ
とにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号
が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生
できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、
基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判
定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に
早いという利点がある。
【０２５５】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が
広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほう
が好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）に
おけるミラー部の光量は、次式に示されるように、光入
射側から遠いレイヤーほどミラー部の光量が大きい方が
より好ましかった。
【０２５６】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ミラー部の光量差はＬ０のミラー光量に対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さら
に、アクセス時には一定再生光強度で光照射してミラー
部信号光量を検出してレイヤー番号を判定するが、正し
いレイヤーにジャンプした後には、再生信号の強度を各
レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ
（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生
できるためより好ましい。
【０２５７】（情報記録媒体の特徴）ミラー部の光量が
レイヤーごとに異なる媒体は、各レイヤーの膜の構造を
検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層して
作製することが出来る。一例としては、記録膜膜厚を１
割薄くすることによって反射率を約５％低くすることが
できる。記録膜以外の層の膜厚を変えることによっても
反射率変化を生じることができる。
【０２５８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、
光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが
好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。本実
施例に記載されていない事項については、実施例１〜１
０と同様である。
【０２５９】〔実施例１２〕 （記録再生方法）実施例１１のミラー部の再生信号光量
の代わりに溝部とミラー部の再生信号光量比を測定して
レイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコ
ントローラの詳細図を図３４に示した。
【０２６０】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のデータ部及びミラー部の再生信号光量を再生
信号光量検出回路２２２にて測定し、データ部及びミラ
ー部の再生信号光量比（データ部再生信号光量／ミラー
部の再生信号光量）をデータ部及びミラー部の光量比演
算回路２２３にて演算しその値をレイヤー番号判定回路
２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番
号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝え
る。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャ
ンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正
しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージ
ャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３
を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えら
れ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤー
へフォーカスするまで繰り返される。
【０２６１】このように、データ部及びミラー部の再生
信号光量比（データ部再生信号光量／ミラー部の再生信
号光量）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ
部及びミラー部の再生信号光量を再生信号光量検出回路
２２２にて測定し、その比をデータ部及びミラー部の光
量比演算回路２２３により測定し、レイヤー判定するこ
とにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号
が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録
できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、
基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判
定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に
早いという利点がある。
【０２６２】また、データ部及びミラー部の再生信号光
量比（データ部再生信号光量／ミラー部の再生信号光
量）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及
びミラー部の再生信号光量を再生信号光量検出回路２２
２にて測定し、その比をデータ部及びミラー部の光量比
演算回路２２３により測定し、レイヤー判定することに
より、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判
定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生でき
ることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板
のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定す
る方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早い
という利点がある。
【０２６３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部及びミ
ラー部の再生信号光量比は、次式に示されるように、光
入射側から遠いレイヤーほどデータ部及びミラー部の再
生信号光量比が大きい方がより好ましかった。
【０２６４】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、データ部及びミラー部の再生信号光量比の差はＬ
０の光量比に対して５％以上あると判別のエラーがなく
なり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためよ
り好ましかった。
【０２６５】一方、光量比は、各レイヤーの反射率が異
なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一
定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射
率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定し
て記録・再生が出来、好ましかった。
【０２６６】（情報記録媒体の特徴）データ部及びミラ
ー部の再生信号光量比がレイヤーごとに異なる媒体は、
情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連
続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製で
きる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４
２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μ
ｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部及
びミラー部の再生信号光量比が０．６５、Ｌ１のデータ
部及びミラー部の再生信号光量比が０．７０と異なるた
め、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２６７】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅
は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤー
ほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
【０２６８】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以
上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環
境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２６９】上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えて
も同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎ
が１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝
幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４
５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．
０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びミラー部の再
生信号光量比が０．６５、Ｌ１のデータ部及びミラー部
の再生信号光量比が０．７０と異なるため、この違いに
よりレイヤーの判定が可能である。
【０２７０】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深
さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤ
ーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかっ
た。
【０２７１】レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） 一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層の
レイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式
に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記
凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ま
しかった。
【０２７２】レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５
％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上ある
と環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２７３】さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を
変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場
合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹
凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、
上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／
ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、
Ｌ０のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．６
５、Ｌ１のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が
０．７０と異なるため、この違いによりレイヤーの判定
が可能である。
【０２７４】また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えるこ
とによって、データ部及びミラー部の再生信号光量比の
差がＬ０の光量比に対して５％以上あると判別のエラー
がなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられる
ためより好ましかった。上記凹凸の角形状を変えても同
様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を
変えると、データ部及びミラー部の再生信号光量比が異
なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能であ
る。
【０２７５】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、
１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形
状は、 光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形
状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記
凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合
せて、データ部及びミラー部の再生信号光量比を変えて
もよい。
【０２７６】〔実施例１３〕実施例１に記載の記録・再
生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化
させた記録・再生装置を作製した。原理図を図３５に、
サーボコントローラの詳細図を図３６に示した。
【０２７７】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えフォーカスした状態
であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信
号振幅をウォブル振幅検出回路２５１にて測定しその値
をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、レイヤー番号、
つまりどの情報面にフォーカスされているかを判定し、
ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正し
いレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要であ
る。正しくない情報面にいる場合は正しいレイヤーへジ
ャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回
路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアク
チュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャン
プする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするま
で繰り返される。
【０２７８】このように、ウォブル信号振幅がレイヤー
ごとに異なる媒体では、ウォブル信号振幅をウォブル振
幅検出回路２５１により測定し、レイヤー判定すること
により、図３５に示すようにレイヤー番号が判定でき、
確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることが
わかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット
部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に
比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利
点がある。
【０２７９】また、ウォブル信号振幅がレイヤーごとに
異なる媒体では、ウォブル信号振幅をウォブル振幅検出
回路２５１により測定し、レイヤー判定することによ
り、図３５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実
に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわか
る。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の
情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べ
ても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点が
ある。
【０２８０】ウォブル信号振幅がレイヤーごとに異なる
媒体は、情報面の記録トラックが連続又は一部連続の溝
からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。
前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形してお
り、前記蛇行ないし変形のウォブルうねり幅が情報面１
から情報面Ｎにおいて異なる特徴を持つ。
【０２８１】ウォブルとは、図３７に概略図を示したよ
うに前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形し
ていることをいう。図３８には平面図を示したが、ウォ
ブル周期２０２は前記ウォブルの変動の１周期を意味
し、ウォブルうねり幅２０３は前記ウォブルの変動幅の
長さを指す。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０の揺れ幅が
トラックピッチの２０分の１、Ｌ１の揺れ幅がトラック
ピッチの１９分の１に変えると、Ｌ１とＬ０のウォブル
信号振幅が異なるため、振幅の違いによりレイヤーの判
定ができる。
【０２８２】Ｌ１つまり光入射側から遠いレイヤーほど
光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大
きいため、光入射側から遠いレイヤーほどウォブル信号
振幅が大きい方がより好ましかった。また信号振幅差は
Ｌ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなく
なり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためよ
り好ましかった本実施例に記載されていない事項につい
ては、実施例１〜１２と同様である。
【０２８３】〔実施例１４〕 （記録再生方法）実施例１３のウォブル信号振幅の代わ
りにウォブル信号振幅とピット部の再生信号振幅の比を
測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、
サーボコントローラの詳細図を図３９に示した。
【０２８４】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のウォブル信号振幅をウォブル信号振幅検出回
路２５２にて測定し、ピット部の再生信号振幅をピット
信号振幅検出回路２５３にて測定し、ウォブル信号及び
ピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピッ
ト部の再生信号振幅）をウォブル信号及びピット信号の
振幅比演算回路２５４にて演算しその値をレイヤー番号
判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレ
イヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５
へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤ
ージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場
合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイ
ヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ
２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝
えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイ
ヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２８５】このように、ウォブル信号及びピット部の
再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生
信号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォ
ブル信号振幅をウォブル信号振幅検出回路２５２にて測
定し、ピット部の再生信号振幅をピット信号振幅検出回
路２５３にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生
信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号
振幅）をウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路
２５４により演算し、レイヤー判定することにより、レ
イヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセ
スして記録できることがわかる。さらに、トラッキング
した後に、基板のピット部の情報を読み取ることにより
レイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイ
ムが非常に早いという利点がある。
【０２８６】また、ウォブル信号及びピット部の再生信
号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振
幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信
号振幅をウォブル信号振幅検出回路２５２にて測定し、
ピット部の再生信号振幅をピット信号振幅検出回路２５
３にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の
振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）
をウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路２５４
により演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー
番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして
再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後
に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤ
ー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非
常に早いという利点がある。
【０２８７】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信
号及びピット部の再生信号の振幅比は、次式に示される
ように、光入射側から遠いレイヤーほど振幅比が大きい
方がより好ましかった。
【０２８８】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比の
差はＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラー
がなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられる
ためより好ましかった。
【０２８９】（情報記録媒体の特徴）ウォブル信号及び
ピット部の再生信号の振幅比がレイヤーごとに異なる媒
体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は
一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって
作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピット形状
を一定として、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅をＬ０
は０．０２０μｍ、Ｌ１は０．０２４μｍと変えると、
Ｌ０のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が
０．０５、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号
の振幅比が０．０６と異なるため、この違いによりレイ
ヤーの判定が可能である。
【０２９０】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
溝のウォブルうねり幅は、次式に示されるように、光入
射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝のウォブルうね
り幅が大きい方がより好ましかった。
【０２９１】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅の差はＬ０のの
ウォブルうねり幅に対して５％以上あると判別のエラー
がなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられる
ためより好ましかった。
【０２９２】上記凹凸の溝のウォブルうねり幅のかわり
にピット形状を変えても同様な効果が得られた。例え
ば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一
定で、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅を０．０２４μ
ｍ一定とし、ピットの形状を変えた。ピット幅をＬ０は
０．２８μｍ、Ｌ１は０．２６μｍ、とすると、Ｌ０の
ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が０．０
５、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅
比が０．０６と異なるため、この違いによりレイヤーの
判定が可能である。
【０２９３】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ピット
幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤ
ーほど上記ピット幅が小さい方がより好ましかった。
【０２９４】レイヤー１＞レイヤー２＞…＞レイヤーＮ
−１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記ピット幅の差はＬ０のピット幅に対して５％
以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると
環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２９５】また、上記凹凸の溝ウォブルうねり幅とピ
ット幅を変えることによって、ウォブル信号及びピット
部の再生信号の振幅比を変えてもよい。上記振幅比の差
がＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーが
なくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるた
めより好ましかった。
【０２９６】一方、振幅比は、各レイヤーの反射率が異
なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一
定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射
率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定し
て記録・再生が出来、好ましかった。本実施例に記載さ
れていない事項については、実施例１〜１３と同様であ
る。
【０２９７】〔実施例１５〕実施例１に記載の記録・再
生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化
させた記録・再生装置を作製した。原理図を図４０に、
サーボコントローラの詳細図を図４１に示した。
【０２９８】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えフォーカスした状態
であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信
号周波数をウォブル周波数検出回路２５５にて測定しそ
の値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、レイヤー番
号、つまりどの情報面にフォーカスされているかを判定
し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで
正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要
である。正しくない情報面にいる場合は正しいレイヤー
へジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発
生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦ
アクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージ
ャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスす
るまで繰り返される。
【０２９９】このように、ウォブル信号周波数がレイヤ
ーごとに異なる媒体では、ウォブル信号周波数をウオブ
ル周波数検出回路２５５により測定し、レイヤー判定す
ることにより、図４０に示すようにレイヤー番号が判定
でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できる
ことがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板の
ピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する
方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いと
いう利点がある。
【０３００】また、ウォブル信号周波数がレイヤーごと
に異なる媒体では、ウォブル信号周波数をウオブル周波
数検出回路２５５により測定し、レイヤー判定すること
により、図４０に示すようにレイヤー番号が判定でき、
確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることが
わかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット
部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に
比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利
点がある。
【０３０１】ウォブル信号周波数がレイヤーごとに異な
る媒体は、情報面の記録トラックが連続又は一部連続の
溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製でき
る。前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形し
ており、前記蛇行ないし変形のウォブル周期が情報面１
から情報面Ｎにおいて異なる特徴を持つ。例えば、２層
媒体の場合、Ｌ０のウォブル周期が３２．７６μｍ、Ｌ
１のウォブル周期が３２．２４μｍに変えると、Ｌ１の
ウォブル信号周波数の違いによりレイヤーの判定ができ
る。
【０３０２】Ｌ１つまり光入射側から遠いレイヤーほど
光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大
きいため、光入射側から遠いレイヤーほどウォブル信号
周波数が大きい方がより好ましかった。また信号周波数
差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラ
ーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられ
るためより好ましかった。
【０３０３】検出器のゲインは図４２に示されるように
周波数に依存する。検出器の利得（ゲイン）が０となる
周波数をカットオフ周波数（Ｆｃ）と呼ぶ。最短マーク
長の周波数をＦ２、最長マーク長の周波数をＦ１とした
場合、上記ウォブル周波数はＦ１より１割以上低いこと
が好ましい。そうするとウォブル信号の検出感度が大き
くなり、好ましい。一方上記ウォブル周波数はＦ１より
１割以上高く、カットオフ周波数Ｆｃより低い範囲でも
可能だが、この場合はウォブル信号の検出感度は低くな
る。本実施例に記載されていない事項については、実施
例１〜１４と同様である。
【０３０４】〔実施例１６〕 （記録再生方法）実施例１５のウォブル信号周波数の代
わりにウォブル信号周波数とピット部の再生信号周波数
の差を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場
合の、サーボコントローラの詳細図を図４３に示した。
【０３０５】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号
周波数検出回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号
周波数をピット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて
測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数
差Ｆ（Ｆ＝Ｆｗｘｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォ
ブル信号及びピット信号の周波数差演算回路２５８にて
演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フ
ォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦ
サーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレ
イヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。
正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャ
ンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路
２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチ
ュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプ
する。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで
繰り返される。
【０３０６】このように、ウォブル信号及びピット部の
再生信号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異なる媒体を用
いて、ウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号周波
数検出回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号周波
数をピット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて測定
し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ
（Ｆ＝Ｆｗ×ｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォブル
信号及びピット信号の周波数差演算回路２５８にて演算
し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定
でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できる
ことがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板の
ピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する
方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いと
いう利点がある。
【０３０７】また、ウォブル信号及びピット部の再生信
号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異なる媒体を用いて、
ウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号周波数検出
回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号周波数をピ
ット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて測定し、ウ
ォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ（Ｆ＝
Ｆｗ×ｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォブル信号及
びピット信号の周波数差演算回路２５８にて演算し、レ
イヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、
確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることが
わかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット
部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に
比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利
点がある。
【０３０８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信
号及びピット部の再生信号のの周波数差Ｆは、式に示さ
れるように、光入射側から遠いレイヤーほど周波数差Ｆ
が大きい方がより好ましかった。
【０３０９】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ウォブル信号及びピット部の再生信号のの周波数
差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別
のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐
えられるためより好ましかった。上記ｚは５０以上２０
０以下であると、演算された周波数差Ｆの判定が容易に
なるため好ましかった。
【０３１０】（情報記録媒体の特徴）ウォブル信号及び
ピット部の再生信号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異な
る媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続
又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによ
って作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピット
周期を一定として、上記凹凸のウォブル周期をＬ０は１
０μｍ、Ｌ１は１１μｍと変えると、Ｚが１００でピッ
ト周波数が１５ＭＨｚの場合、Ｌ０のウォブル信号及び
ピット部の再生信号の周波数差Ｆ０は５ＭＨｚ、Ｌ１の
ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆは
４．１ＭＨｚと異なるため、この違いによりレイヤーの
判定が可能である。
【０３１１】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
溝ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ
は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤー
ほど上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信号
の周波数差Ｆが大きい方がより好ましかった。
【０３１２】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信
号の周波数差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上
あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境
変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３１３】上記凹凸の溝のウォブル周期のかわりにピ
ット形状を変えても同様な効果が得られた。例えば、２
層媒体の場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、
上記凹凸の溝のウォブル周期を１０μｍ一定とし、ピッ
トの形状を変えた。ピット周期をＬ０は０．６０μｍ、
Ｌ１は０．５２μｍ、とすると、Ｚが１００ではＬ０の
ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆが
５．０ＭＨｚ、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生
信号の周波数差Ｆが７．３ＭＨｚ、と異なるため、この
違いによりレイヤーの判定が可能である。ピット周期と
は１つめのピットの先端から次のピットの先端までの長
さをいう。
【０３１４】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ピット
周期は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイ
ヤーほど上記ピット周期が小さい方がより好ましかっ
た。
【０３１５】レイヤー１＞レイヤー２＞…＞レイヤーＮ
−１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信
号の周波数差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上
あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境
変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３１６】また、上記凹凸溝のウォブル信号周波数と
ピット部信号周波数の両方をを変えることによって、ウ
ォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆを変え
てもよい。上記周波数差Ｆの差がＬ０の周波数差に対し
て５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上
あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３１７】この他、ウォブル信号及びピット部の再生
信号の周波数差Ｆ以外に、ウォブル信号及びピット部の
再生信号の周波数差演算回路２５８をウォブル信号及び
ピット部の再生信号の周波数和演算回路に変えてレイヤ
ー判断を行なってもよい。ウォブル信号周波数とピット
部の再生信号の周波数のうち少なくとも一方と複数周波
数としてこれらの和や差の組合せを用いてもよい。
【０３１８】一方、ウォブル信号及びピット部の再生信
号の周波数差Ｆ及び和は、各レイヤーの反射率が異なる
場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定で
ある。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変
化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記
録・再生が出来、好ましかった。本実施例に記載されて
いない事項については、実施例１〜１５と同様である。
【０３１９】〔実施例１７〕 （記録再生方法）実施例１５のウォブル信号周波数の代
わりに複数のウォブル信号周波数の差を測定してレイヤ
ー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントロ
ーラの詳細図を図４４に示した。
【０３２０】サーボコントローラ１５１にはオートフォ
ーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出
されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、
スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２
０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ
系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）
にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカス
した状態のウォブル信号周波数（Ｆｗ１）及びウォブル
信号周波数（Ｆｗ２）をウォブル信号周波数検出回路２
５９にて測定し、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ
−Ｇｓ）をウォブル信号周波数差演算回路２６０にて演
算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォ
ーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサ
ーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイ
ヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正
しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャン
プするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２
０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュ
エータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプす
る。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰
り返される。
【０３２１】このように、各レイヤーにおいて複数の周
波数のウォブル信号を持ち、ウォブル信号の周波数差Ｇ
（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）がレイヤーごとに異なる媒体を用い
て、ウォブル信号周波数（Ｇｐ）及びウォブル信号周波
数（Ｇｓ）をウォブル信号周波数検出回路２５９にて測
定し、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）を
ウォブル信号周波数差演算回路２６０にて演算し、レイ
ヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確
実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわ
かる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部
の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比
べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点
がある。
【０３２２】また、各レイヤーにおいて複数の周波数の
ウォブル信号を持ち、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝
Ｇｐ−Ｇｓ）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウ
ォブル信号周波数（Ｇｐ）及びウォブル信号周波数（Ｇ
ｓ）をウォブル信号周波数検出回路２５９にて測定し、
ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）をウォブ
ル信号周波数差演算回路２６０にて演算し、レイヤー判
定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正
しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。
さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報
を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても
再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点があ
る。
【０３２３】複数の周波数のウォブル信号を持つ媒体に
おけるウォブルの一例を図４５に示した。グルーブ部３
１１は周期の短いウォブル３１４とより周期の長いウォ
ブル３１６からなる。
【０３２４】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信
号の周波数差Ｇは、次式に示されるように、光入射側か
ら遠いレイヤーほど周波数差Ｇが大きい方がより好まし
かった。
【０３２５】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、ウォブル信号の周波数差Ｇの差はＬ０の周波数差
に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０
％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましか
った。
【０３２６】この他、ウォブル信号の周波数差Ｇ以外
に、ウォブル信号の周波数和Ｇ′（Ｇ′＝Ｇｐ＋Ｇ
ｓ）、また、３種類以上のウォブル信号周波数の和や差
の組合せを用いてもよい。この時、Ｇｐ又はＧｓのいず
れか１つを各レイヤーで一定にすると、ウォブル信号を
同期信号として利用することもできるためより好ましか
った。
【０３２７】（情報記録媒体の特徴）ウォブル信号の周
波数差Ｇがレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録
トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からな
る凹凸の形状を変えることによって作製できる。例え
ば、２層媒体の場合、Ｌ０のウォブル周期が３２．７６
μｍと３２．２４μｍ、Ｌ１のウォブル周期が３２．７
６μｍと３１．２０μｍとすると、ウォブル信号の周波
数差ＧがＬ１とＬ０で異なるため、この違いによりレイ
ヤーの判定が可能である。
【０３２８】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ウォブ
ル信号の周波数差Ｇは、次式に示されるように、光入射
側から遠いレイヤーほど上記ウォブル信号の周波数差Ｇ
が大きい方がより好ましかった。
【０３２９】レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−
１＜レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸におけるウォブル信号の周波数差Ｇの差
はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラー
がなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられる
ためより好ましかった。
【０３３０】この他、ウォブル信号の周波数差Ｇ以外
に、ウォブル信号周波数差演算回路２６０をウォブル信
号周波数和演算回路に変え、ウォブル信号の周波数和
Ｇ′（Ｇ′＝Ｇｐ＋Ｇｓ）を測定してレイヤー判断を行
なってもよい。３種類以上のウォブル信号周波数の和や
差の組合せを用いてもよい。
【０３３１】光入射側から遠いレイヤーほどより光入射
側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいた
め、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の
ウォブル信号の周波数和Ｇ′は、次式に示されるよう
に、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸のウォブル
信号の周波数和Ｇ′が小さい方がより好ましかった。
【０３３２】レイヤー１＞レイヤー２＞…レイヤーＮ−
１＞レイヤーＮ （Ｎは２以上の整数） また、上記凹凸のウォブル信号の周波数和Ｇ′の差はＬ
０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがな
くなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるため
より好ましかった。
【０３３３】一方、ウォブル信号の周波数差Ｇ及び和
Ｇ′は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤ
ー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反
射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合に
おいても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、
好ましかった。本実施例に記載されていない事項につい
ては、実施例１〜１６と同様である。
【０３３４】〔実施例１８〕 （本発明の情報記録媒体の構成、製法２）図４６は、本
発明の多層ディスク状情報記録媒体の他の例の断面構造
を示す模式図である。２層以上の媒体はこのようにして
製作した。一例として３層媒体を示す。
【０３３５】まず、直径１２ｃｍ、厚さ０．６ｍｍで表
面にトラッキング用の溝を有するポリカーボネイト保護
基板６４上に、膜厚約８０ｎｍのＡｇ９８Ｐｄ１Ｃｕ１
膜からなるＬ２反射層６３上に膜厚約８０ｎｍの（Ｚｎ
Ｓ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ
３からなるＬ２上部保護層６２、膜厚約１８ｎｍのＧｅ
５Ｓｂ２Ｔｅ８からなるＬ２記録膜６１、膜厚約５ｎｍ
のＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）
８０（ＳｉＯ２）２０膜からなるＬ２下部保護層６０を
順次形成したものである。
【０３３６】その後、紫外線硬化樹脂を用いてトラッキ
ング用の溝をスタンパから転写するフォトポリメリゼー
ション法（２Ｐ法）によって表面にトラッキング用の溝
を有するＬ１−Ｌ２スペーサ層５９を形成した。この上
に、Ｌ１を形成した。Ｌ１−Ｌ２間スペーサ層５９上
に、膜厚約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２
０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３膜からなるＬ１上部保
護層５８、膜厚約５ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８からなる
Ｌ１記録膜５７、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜
と膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜
からなるＬ１下部保護層５６を順次形成した。
【０３３７】次に、先ほどと同様の２Ｐ法によりＬ０−
Ｌ１スペーサ層５９を形成した。Ｌ０−Ｌ１スペーサ層
５５上に膜厚約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（Ｓｉ
Ｏ２）２ ０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３膜からなるＬ
０上部保護層５４、膜厚約４ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８
からなるＬ０記録膜５３、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ
５７Ｎ３膜と膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ
２）２０膜からなるＬ０下部保護層５２を順次形成し
た。最後に、基板５１を貼り併せた。積層膜の形成はマ
グネトロン・スパッタリング装置により行った。こうし
て多層ディスク部材を得た。
【０３３８】初期化及び、記録・再生方法は２層媒体と
同様である。このように、片側３層以上にして記録・再
生することが可能である。記録再生特性及び構成材料等
については、光入射側から１番遠い層、即ち３層媒体で
はＬ２、ｎ層媒体ではＬｎ−１が２層媒体におけるＬ１
と同様であった。それ以外の層、即ち３層媒体ではＬ０
からＬ１、ｎ層媒体ではＬ０からＬｎ−２が２層媒体に
おけるＬ０と同様であった。本実施例に記載されていな
い事項については、実施例１〜１６と同様である。
【０３３９】実施例１〜１６に記載の情報の記録・再生
方法は単独で用いても効果があるが、組み合わせて用い
ると信頼性が向上するため好ましい。また、上記実施例
に記載した以外の材料や膜厚、積層順である、相変化記
録膜を有する多層情報記録媒体、色素を記録膜に持つ多
層情報記録媒体、ＲＯＭ情報を有する多層情報記録媒
体、これらの組み合わせなど、多層の情報面を持つ光デ
ィスクにおいて情報面検出の信頼性及び／又は検出速度
があがり、記録・再生が早く確実に出来るため好ましか
った。
【０３４０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
多層の情報面を持つ光ディスクにおいて情報面検出の信
頼性及び／又は検出速度があがり、記録・再生を高速か
つ確実に行うことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による情報記録媒体の一例の断面模式
図。
【図２】本発明による情報記録媒体の一例の断面模式
図。
【図３】本発明による情報記録媒体のレイヤー形状概略
説明図。
【図４】基板の凹凸の作製工程を示す図。
【図５】基板の凹凸の作製工程を示す図。
【図６】本発明による情報記録媒体の記録波形の例を示
す概略図。
【図７】本発明による情報記録媒体の多値記録の例を示
す説明図。
【図８】本発明による情報記録媒体の多値記録の例を示
す説明図。
【図９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置の
構成図。
【図１０】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
の光検出器を示す詳細図。
【図１１】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の一例を示す原理図。
【図１２】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
の一例を示すサーボコントローラの詳細図。
【図１３】本発明による情報記録媒体の不連続な凹凸の
概略説明図。
【図１４】本発明による情報記録媒体の連続な凹凸の概
略説明図。
【図１５】本発明による情報記録媒体のグルーブ部へ記
録する方式の概略説明図。
【図１６】本発明による情報記録媒体のグルーブ部及び
ランド部へ記録する方式の概略説明図。
【図１７】本発明による情報記録媒体のセクタ配置の一
例を示す概略図。
【図１８】本発明による情報記録媒体のセクタ配置の一
例を示す概略図。
【図１９】本発明による情報記録媒体のセクタの詳細
図。
【図２０】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の他の例を示す原理図。
【図２１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
の他の例を示すサーボコントローラの詳細図。
【図２２】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の他の例を示す原理図。
【図２３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２５】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の他の例を示す原理図。
【図２６】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２７】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２８】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３０】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３２】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３５】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の他の例を示す原理図。
【図３６】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３７】本発明による情報記録媒体のウォブルの概略
説明図。
【図３８】本発明による情報記録媒体のウォブルの概略
説明図。
【図３９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４０】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法
の他の例を示す原理図。
【図４１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４２】検出器のゲインの周波数依存性を説明する
図。
【図４３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置
のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４５】本発明による情報記録媒体の周波数の異なる
ウォブルを有する凹凸の概略説明図。
【図４６】本発明の多層ディスク状情報記録媒体の断面
構造を示す模式図。
【符号の説明】
１：基板、２：レイヤー０、３：レイヤー０とレイヤー
１間のスペーサ層、４：レイヤー１、５：レイヤー１と
レイヤー２間のスペーサ層、６：レイヤー２、７：レイ
ヤー２とレイヤー３間のスペーサ層、８：レイヤーｎ−
１、９：保護基板、１１：基板、１２：Ｌ０下部保護
層、１３：Ｌ０記録膜、１４：Ｌ０上部保護層、１５：
スペーサ−層、１６：Ｌ１下部保護層、１７：Ｌ１記録
膜、１８：Ｌ１上部保護層、１９…Ｌ１反射層、２０…
保護基板、２１：基板、２２：レイヤー０、２３：レイ
ヤー０とレイヤー１間のスペーサ層、２４：レイヤー
１、２５：保護基板、３１：セクタ、３２：ピット部、
３３：ミラー部、３４：データ部、４１：ＩＤ部、１０
０：情報記録媒体、１０８：筐体、１１０：モーター、
１１１：回転軸、１１２：チャッキング機構、１１５：
レール、１１６：レールガイド、１１７：ケース、１１
８：回転モータ、１１９：直線ギア、１２０：回転ギ
ア、１２１：磁石、１２２：コイル、１２３：サスペン
ション、１３１：半導体レーザ、１３２：コリメートレ
ンズ、１３３：ビームスプリッタ、１３４：検出レン
ズ、１３５：光検出器、１３６：対物レンズ、１４０：
検出器、１５０：システムコントローラ、１５１：サー
ボコントローラ、１５２：アンプ、１５３：デコーダ、
１５４：レーザドライバ回路、１５５：パターン生成回
路、１５８：出力コネクタ、１５９：入力コネクタ、１
６１：信号処理回路、１７０：スライサ、１７１：ウォ
ブル検出回路、１７２：周波数変換回路、１７３：ＰＬ
Ｌ回路、２０１：ＡＦ信号検出回路、２０２：ＡＦサー
ボ回路、２０３：スイッチ、２０４：ＡＦアクチュエー
タドライバ、２０５：ＡＦサーボ系コントローラ、２０
６：レイヤージャンプ信号発生回路、２０７：レイヤー
番号判定回路、２０８：ＴＲ誤差信号振幅検出回路、２
０９：総光量検出回路、２１０：セクター数検出回路、
２１１：セクター時間検出回路、２１３：データ部再生
信号振幅検出回路、２１４：ピット部再生信号振幅検出
回路、２１５：再生信号振幅検出回路、２１６：ピット
部再生信号周波数検出回路、２１７：ピット部再生信号
ピット数検出回路、２１８：ピット部再生信号ピット長
検出回路、２２０：ミラー部再生信号ミラー長検出回
路、２２１：ミラー部再生信号光量検出回路、２２２：
再生信号光量検出回路、２２３：データ部及びミラー部
の光量比演算回路、２２４：試書部再生信号振幅検出回
路、２２５：再生信号振幅検出回路、２２６：試書部及
びピット部の振幅比演算回路、２２７：再生信号振幅検
出回路、２２８：試書部及びミラー部の振幅比演算回
路、２５１：ウォブル信号振幅検出回路、２５２：ウォ
ブル信号振幅検出回路、２５３：ピット信号振幅検出回
路、２５４：ウォブル信号及びピット信号の振幅比演算
回路、２５５：ウォブル周波数検出回路、２５６：ウォ
ブル信号周波数検出回路、２５７：ピット信号周波数検
出回路、２５８：ウォブル信号及びピット信号の周波数
差演算回路、Ｗ０：Ｌ０の溝幅、Ｗ１：Ｌ１の溝幅、Ｄ
０：Ｌ０の溝深さ、Ｄ１：Ｌ１の溝深さ、Ｓ０：Ｌ０の
溝の角、Ｓ１：Ｌ１の溝の角
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/007 Ｇ１１Ｂ 7/007 7/26 ５３１ 7/26 ５３１ 20/00 20/00 Ａ 20/10 ３０１ 20/10 ３０１Ｚ 20/12 20/12 (72)発明者 前田 武志 東京都国分寺市東恋ヶ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 Ｆターム(参考） 5D029 HA05 HA06 JA01 JB04 JB05 JB13 KB06 NA15 NA25 RA12 WA02 WB14 WB17 5D044 BC06 CC04 DE03 DE12 DE92 5D080 AA07 CA05 DA08 EA18 FA02 5D090 AA01 BB05 BB12 CC12 CC14 DD01 EE16 FF02 FF05 FF12 GG02 5D121 AA01 AA02 AA03 AA07 EE03 EE22 EE26 EE27 EE28 FF03 FF13 GG02

Claims (54)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光の照射によって情報が記録又は再生さ
    れる複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、 前記複数のレイヤーはそれぞれ連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有し、前記凹凸の形状及び／又は
    前記凹凸の前記溝の長手方向の変化の仕方が異なる少な
    くとも２種類のレイヤーを有することを特徴とする情報
    記録媒体。
  2. 【請求項２】 請求項１記載の情報記録媒体において、
    前記レイヤーは多値記録用のレイヤーであることを特徴
    とする情報記録媒体。
  3. 【請求項３】 請求項１又は２記載の情報記録媒体にお
    いて、前記凹凸の深さ及び／又は幅が異なる少なくとも
    ２種類のレイヤーを有することを特徴とする情報記録媒
    体。
  4. 【請求項４】 請求項３記載の情報記録媒体において、
    光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーよ
    り前記凹凸の深さ及び／又は幅が大きいことを特徴とす
    る情報記録媒体。
  5. 【請求項５】 請求項１又は２記載の情報記録媒体にお
    いて、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振
    幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の振
    幅が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有することを
    特徴とする情報記録媒体。
  6. 【請求項６】 請求項５記載の情報記録媒体において、
    光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーよ
    り前記蛇行ないし変形の振幅が大きいことを特徴とする
    情報記録媒体。
  7. 【請求項７】 請求項１又は２記載の情報記録媒体にお
    いて、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振
    幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の周
    期が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有することを
    特徴とする情報記録媒体。
  8. 【請求項８】 請求項７記載の情報記録媒体において、
    光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーよ
    り前記蛇行ないし変形の周期が短いことを特徴とする情
    報記録媒体。
  9. 【請求項９】 光の照射によって情報が記録又は再生さ
    れる複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、 前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセク
    ターに分割され、前記セクターの数が異なる少なくとも
    ２種類のレイヤーを有することを特徴とする情報記録媒
    体。
  10. 【請求項１０】 光の照射によって情報が記録又は再生
    される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、 前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセク
    ターに分割され、前記セクターの長さが異なる少なくと
    も２種類のレイヤーを有することを特徴とする情報記録
    媒体。
  11. 【請求項１１】 請求項１０記載の情報記録媒体におい
    て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
    ーより前記セクターの長さが短いことを特徴とする情報
    記録媒体。
  12. 【請求項１２】 請求項１０記載の情報記録媒体におい
    て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
    ーより前記セクターの数が多いことを特徴とする情報記
    録媒体。
  13. 【請求項１３】 光の照射によって情報が記録又は再生
    される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、 前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセク
    ターに分割され、各セクタは少なくともピット部とデー
    タ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記デー
    タ部の再生信号振幅の比が異なる少なくとも２種類のレ
    イヤーを有することを特徴とする情報記録媒体。
  14. 【請求項１４】 請求項１３記載の情報記録媒体におい
    て、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤ
    ーより前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再
    生信号振幅の比が大きいことを特徴とする情報記録媒
    体。
  15. 【請求項１５】 駆動中に光の照射を受けて第１の振幅
    のトラッキング誤差信号を発生させる第１のレイヤー
    と、前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のトラッキン
    グ誤差信号を発生させる第２のレイヤーとを備えること
    を特徴とする情報記録媒体。
  16. 【請求項１６】 駆動中に光の照射を受けて第１の振幅
    のデータ部の再生信号を発生させる第１のレイヤーと、
    前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のデータ部の再生
    信号を発生させる第２のレイヤーとを備えることを特徴
    とする情報記録媒体。
  17. 【請求項１７】 駆動中に光の照射を受けて第１の振幅
    のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第
    １の振幅とは異なる第２の振幅のウォブル信号を発生さ
    せる第２のレイヤーとを備えることを特徴とする情報記
    録媒体。
  18. 【請求項１８】 駆動中に光の照射を受けて第１の周波
    数のピット部の再生信号を発生させる第１のレイヤー
    と、前記第１の周波数とは異なる第２の周波数のピット
    部の再生信号を発生させる第２のレイヤーとを備えるこ
    とを特徴とする情報記録媒体。
  19. 【請求項１９】 駆動中に光の照射を受けて第１の周波
    数のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、前記
    第１の周波数とは異なる第２の周波数のウォブル信号を
    発生させる第２のレイヤーとを備えることを特徴とする
    情報記録媒体。
  20. 【請求項２０】 駆動中に光の照射を受けて第１の総光
    量の信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の総
    光量とは異なる第２の総光量の信号を発生させる第２の
    レイヤーとを備えることを特徴とする情報記録媒体。
  21. 【請求項２１】 駆動中に光の照射を受けて第１の時間
    間隔でセクター検出信号を発生させる第１のレイヤー
    と、前記第１の時間間隔と異なる第２の時間間隔でセク
    ター検出信号を発生させる第２のレイヤーとを備えるこ
    とを特徴とする情報記録媒体。
  22. 【請求項２２】 駆動中に光の照射を受けて所定時間内
    に第１の数のセクター数検出信号を発生させる第１のレ
    イヤーと、前記第１の数と異なる第２の数のセクター数
    検出信号を発生させる第２のレイヤーとを備えることを
    特徴とする情報記録媒体。
  23. 【請求項２３】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記記録トラックをトラッキングする際に発生されるト
    ラッキング誤差信号の振幅に基づいて情報を記録すべき
    レイヤーを特定することを特徴とする情報の記録方法。
  24. 【請求項２４】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記レイヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を
    記録すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の
    記録方法。
  25. 【請求項２５】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクター
    に分割されており、１つのセクターが検出されたのち次
    のセクターが検出されるまでの時間に基づいて情報を記
    録すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の記
    録方法。
  26. 【請求項２６】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクター
    に分割されており、所定時間内に検出されるセクターの
    数に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定すること
    を特徴とする情報の記録方法。
  27. 【請求項２７】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記レイヤーからの再生信号の振幅に基づいて情報を記
    録すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の記
    録方法。
  28. 【請求項２８】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクタ
    ーに分割されており、各セクタは少なくともピット部と
    データ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記
    データ部の再生信号振幅の比に基づいて情報を記録すべ
    きレイヤーを特定することを特徴とする情報の記録方
    法。
  29. 【請求項２９】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有し、前記凹凸は予め定められた
    振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前
    記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の振幅に基
    づいて情報を記録すべきレイヤーを特定することを特徴
    とする情報の記録方法。
  30. 【請求項３０】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する方法において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予
    め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形
    しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信
    号の周波数に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定
    することを特徴とする情報の記録方法。
  31. 【請求項３１】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記記録トラックをトラッキングする際に発生されるト
    ラッキング誤差信号の振幅に基づいて情報を再生すべき
    レイヤーを特定することを特徴とする情報の再生方法。
  32. 【請求項３２】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記レイヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を
    再生すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の
    再生方法。
  33. 【請求項３３】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクター
    に分割されており、１つのセクターが検出されたのち次
    のセクターが検出されるまでの時間に基づいて情報を再
    生すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の再
    生方法。
  34. 【請求項３４】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクター
    に分割されており、所定時間内に検出されるセクターの
    数に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定すること
    を特徴とする情報の再生方法。
  35. 【請求項３５】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記レイヤーからの再生信号の振幅に基づいて情報を再
    生すべきレイヤーを特定することを特徴とする情報の再
    生方法。
  36. 【請求項３６】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクタ
    ーに分割されており、各セクタは少なくともピット部と
    データ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記
    データ部の再生信号振幅の比に基づいて情報を再生すべ
    きレイヤーを特定することを特徴とする情報の再生方
    法。
  37. 【請求項３７】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予
    め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形
    しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信
    号の振幅に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定す
    ることを特徴とする情報の再生方法。
  38. 【請求項３８】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する方法において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予
    め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形
    しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信
    号の周波数に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定
    することを特徴とする情報の再生方法。
  39. 【請求項３９】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラ
    ックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の
    振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、
    前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出さ
    れた振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定す
    るレイヤー判定手段とを備えることを特徴とする情報記
    録装置。
  40. 【請求項４０】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づ
    いてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備えるこ
    とを特徴とする情報記録装置。
  41. 【請求項４１】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
    られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
    体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
    体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
    出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出された
    のち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時
    間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時
    間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
    備えることを特徴とする情報記録装置。
  42. 【請求項４２】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
    られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
    体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
    体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
    出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセク
    ターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクタ
    ー数検出手段によって検出されたセクター数に基づいて
    レイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備えることを
    特徴とする情報記録装置。
  43. 【請求項４３】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振
    幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手
    段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定す
    るレイヤー判定手段とを備えることを特徴とする情報記
    録装置。
  44. 【請求項４４】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセク
    ターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット
    部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射す
    るための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射され
    た光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信
    号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
    の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、
    前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基
    づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える
    ことを特徴とする情報記録装置。
  45. 【請求項４５】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
    ー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行な
    いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
    めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
    を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
    らウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前
    記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振
    幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
    備えることを特徴とする情報記録装置。
  46. 【請求項４６】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報記録装置において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
    ー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行な
    いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
    めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
    を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
    らウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段
    と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウ
    ォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判
    定手段とを備えることを特徴とする情報記録装置。
  47. 【請求項４７】 光の照射によって情報が再生される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を再生する情報再生装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラ
    ックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の
    振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、
    前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出さ
    れた振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定す
    るレイヤー判定手段とを備えることを特徴とする情報再
    生装置。
  48. 【請求項４８】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づ
    いてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備えるこ
    とを特徴とする情報再生装置。
  49. 【請求項４９】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
    られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
    体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
    体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
    出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出された
    のち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時
    間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時
    間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
    備えることを特徴とする情報再生装置。
  50. 【請求項５０】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定め
    られた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒
    体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒
    体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検
    出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセク
    ターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクタ
    ー数検出手段によって検出されたセクター数に基づいて
    レイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備えることを
    特徴とする情報再生装置。
  51. 【請求項５１】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、
    前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手
    段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振
    幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手
    段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定す
    るレイヤー判定手段とを備えることを特徴とする情報再
    生装置。
  52. 【請求項５２】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセク
    ターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット
    部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射す
    るための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射され
    た光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信
    号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部
    の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、
    前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基
    づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える
    ことを特徴とする情報再生装置。
  53. 【請求項５３】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
    ー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行な
    いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
    めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
    を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
    らウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前
    記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振
    幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを
    備えることを特徴とする情報再生装置。
  54. 【請求項５４】 光の照射によって情報が記録される複
    数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光
    を照射して情報を記録する情報再生装置において、 前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によ
    って構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤ
    ー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行な
    いし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するた
    めの光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光
    を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号か
    らウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段
    と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウ
    ォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判
    定手段とを備えることを特徴とする情報再生装置。
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