JP2002084400A - スキャナ装置および曇り除去方法 - Google Patents
スキャナ装置および曇り除去方法Info
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- JP2002084400A JP2002084400A JP2000271133A JP2000271133A JP2002084400A JP 2002084400 A JP2002084400 A JP 2002084400A JP 2000271133 A JP2000271133 A JP 2000271133A JP 2000271133 A JP2000271133 A JP 2000271133A JP 2002084400 A JP2002084400 A JP 2002084400A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来のスキャナ装置では、装置が置かれてい
る環境に変化があるとき、例えば温度・湿度が０℃・８
０％から３５℃・３０％に変化があるときなどは、光学
系のミラーなどに曇りが発生するため、その曇りを除去
するために特別なヒータを設けている。しかしながら、
このような環境変化はごく稀であり、そのためにヒータ
を設けることは、スキャナ装置の価格を高くし、また電
源投入後、常時ヒータを加熱状態にしているため、スキ
ャナ装置全体の消費電力を大きくしているという問題点
があった。 【解決手段】 光源加熱用ヒータを有するスキャナ装置
および曇り除去方法において、電源投入時に白基準を読
み取り、読み取った白基準波形を正常な白基準波形と比
較し、光量の落込み範囲が所定値より大きいとき、光学
系に曇りが発生しているとし、光源加熱用ヒータを加熱
状態にし、かつキャリアを所定回数、往復動作させるこ
とにより光学系の曇りを除去する。
る環境に変化があるとき、例えば温度・湿度が０℃・８
０％から３５℃・３０％に変化があるときなどは、光学
系のミラーなどに曇りが発生するため、その曇りを除去
するために特別なヒータを設けている。しかしながら、
このような環境変化はごく稀であり、そのためにヒータ
を設けることは、スキャナ装置の価格を高くし、また電
源投入後、常時ヒータを加熱状態にしているため、スキ
ャナ装置全体の消費電力を大きくしているという問題点
があった。 【解決手段】 光源加熱用ヒータを有するスキャナ装置
および曇り除去方法において、電源投入時に白基準を読
み取り、読み取った白基準波形を正常な白基準波形と比
較し、光量の落込み範囲が所定値より大きいとき、光学
系に曇りが発生しているとし、光源加熱用ヒータを加熱
状態にし、かつキャリアを所定回数、往復動作させるこ
とにより光学系の曇りを除去する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光源加熱用ヒー
タを有するスキャナ装置および曇り除去方法に関するも
のであり、特に、電源投入時に白基準を読み取り、読み
取った白基準波形を正常な白基準波形と比較し、光量の
落込み範囲が所定値より大きいとき、光学系に曇りが発
生しているとして、光源加熱用ヒータを加熱状態にし、
かつキャリアを所定回数、往復動作させることにより光
学系の曇りを除去する。
タを有するスキャナ装置および曇り除去方法に関するも
のであり、特に、電源投入時に白基準を読み取り、読み
取った白基準波形を正常な白基準波形と比較し、光量の
落込み範囲が所定値より大きいとき、光学系に曇りが発
生しているとして、光源加熱用ヒータを加熱状態にし、
かつキャリアを所定回数、往復動作させることにより光
学系の曇りを除去する。
【０００２】
【従来の技術】従来のスキャナ装置においては、装置が
置かれている環境に変化があるとき、例えば、温度が低
温から高温に変化した場合など、光学系のミラーなどに
曇りが発生するため、その曇りを除去するために特別な
ヒータを設けている。
置かれている環境に変化があるとき、例えば、温度が低
温から高温に変化した場合など、光学系のミラーなどに
曇りが発生するため、その曇りを除去するために特別な
ヒータを設けている。
【０００３】図５に、従来のスキャナ装置の曇り除去機
構の説明図を示す。図中、５１はスキャナ装置、５２は
読取り部、５９は光学系の曇りを除去するためのヒータ
である。また読取り部５２は、原稿に光を照射する光源
５２１と、光源５２１を加熱する光源加熱用ヒータ５２
２と、原稿からの反射光の光路を変更するミラー５２
３、５２４、５２５と、ミラー５２５からの光を収束さ
せる集光レンズ５２６と、集光レンズ５２６を通して入
射された光に基づき原稿の画像を読み取るＣＣＤ５２７
とで構成されている。また、光源５２１、光源加熱用ヒ
ータ５２２、ミラー５２３はキャリア５２８で支持さ
れ、ミラー５２４、５２５はキャリア５２９で支持され
ている。
構の説明図を示す。図中、５１はスキャナ装置、５２は
読取り部、５９は光学系の曇りを除去するためのヒータ
である。また読取り部５２は、原稿に光を照射する光源
５２１と、光源５２１を加熱する光源加熱用ヒータ５２
２と、原稿からの反射光の光路を変更するミラー５２
３、５２４、５２５と、ミラー５２５からの光を収束さ
せる集光レンズ５２６と、集光レンズ５２６を通して入
射された光に基づき原稿の画像を読み取るＣＣＤ５２７
とで構成されている。また、光源５２１、光源加熱用ヒ
ータ５２２、ミラー５２３はキャリア５２８で支持さ
れ、ミラー５２４、５２５はキャリア５２９で支持され
ている。
【０００４】ヒータ５９はスキャナ装置に電源が投入さ
れた直後から、加熱状態となり、光学系およびスキャナ
装置全体を暖める。これにより、環境変化で発生する光
学系の曇りを防止および除去している。また、タイマな
どを設け、毎日所定時間にヒータを加熱状態にして、ス
キャナ装置の電源投入後、すぐに原稿の読み取りを可能
にする装置もある。
れた直後から、加熱状態となり、光学系およびスキャナ
装置全体を暖める。これにより、環境変化で発生する光
学系の曇りを防止および除去している。また、タイマな
どを設け、毎日所定時間にヒータを加熱状態にして、ス
キャナ装置の電源投入後、すぐに原稿の読み取りを可能
にする装置もある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
スキャナ装置を使用するにおいて、このような環境変化
はごく稀であり、そのためにヒータを設けることは、ス
キャナ装置の価格を高くし、また電源投入後、常時ヒー
タを加熱状態にしているため、スキャナ装置全体の消費
電力を大きくしているという問題点があった。
スキャナ装置を使用するにおいて、このような環境変化
はごく稀であり、そのためにヒータを設けることは、ス
キャナ装置の価格を高くし、また電源投入後、常時ヒー
タを加熱状態にしているため、スキャナ装置全体の消費
電力を大きくしているという問題点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は上記のような
問題点を考慮してなされたもので、光源加熱用ヒータを
有するスキャナ装置および曇り除去方法において、電源
投入時に白基準を読み取り、読み取った白基準波形を正
常な白基準波形と比較し、光量の落込み範囲が所定値よ
り大きいとき、光学系に曇りが発生しているとして、光
源加熱用ヒータを加熱状態にし、かつキャリアを所定回
数、往復動作させることにより光学系の曇りを除去す
る。
問題点を考慮してなされたもので、光源加熱用ヒータを
有するスキャナ装置および曇り除去方法において、電源
投入時に白基準を読み取り、読み取った白基準波形を正
常な白基準波形と比較し、光量の落込み範囲が所定値よ
り大きいとき、光学系に曇りが発生しているとして、光
源加熱用ヒータを加熱状態にし、かつキャリアを所定回
数、往復動作させることにより光学系の曇りを除去す
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】（１）光源加熱用ヒータを有する
スキャナ装置において、白基準と、原稿および白基準の
読み取りを行う読取り部と、白基準の正常な読取り波形
を記憶する白基準波形記憶部と、原稿の読み取り前に、
読取り部により白基準を読み取り、読み取った波形と白
基準波形記憶部に格納されている波形を比較し、読み取
った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の場合、
光学系に曇りがあると判定する判定部と、判定部で曇り
が検出されたとき、光源加熱用ヒータをオンにし、かつ
キャリアを所定回数、往復動作させる曇り除去部とを設
けることにより、環境変化により光学系のミラーなどに
ついた曇りを光源加熱用ヒータの熱およびキャリアの往
復動作で発生する風で除去することができる。
スキャナ装置において、白基準と、原稿および白基準の
読み取りを行う読取り部と、白基準の正常な読取り波形
を記憶する白基準波形記憶部と、原稿の読み取り前に、
読取り部により白基準を読み取り、読み取った波形と白
基準波形記憶部に格納されている波形を比較し、読み取
った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の場合、
光学系に曇りがあると判定する判定部と、判定部で曇り
が検出されたとき、光源加熱用ヒータをオンにし、かつ
キャリアを所定回数、往復動作させる曇り除去部とを設
けることにより、環境変化により光学系のミラーなどに
ついた曇りを光源加熱用ヒータの熱およびキャリアの往
復動作で発生する風で除去することができる。
【０００８】（２）光源加熱用ヒータを有するスキャナ
装置における曇り除去方法において、白基準の正常な読
み取り波形を記憶する白基準波形記憶部を設け、原稿の
読み取り前に、白基準を読み取り、読み取った波形と白
基準波形記憶部に格納されている波形を比較し、読み取
った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の場合、
光学系に曇りがあると判定し、光源加熱用ヒータをオン
にし、かつキャリアを所定回数、往復動作させることに
より、環境変化により光学系のミラーなどについた曇り
を熱およびキャリアの往復動作で発生する風で除去する
ことができる。
装置における曇り除去方法において、白基準の正常な読
み取り波形を記憶する白基準波形記憶部を設け、原稿の
読み取り前に、白基準を読み取り、読み取った波形と白
基準波形記憶部に格納されている波形を比較し、読み取
った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の場合、
光学系に曇りがあると判定し、光源加熱用ヒータをオン
にし、かつキャリアを所定回数、往復動作させることに
より、環境変化により光学系のミラーなどについた曇り
を熱およびキャリアの往復動作で発生する風で除去する
ことができる。
【０００９】
【実施例】図１に、本発明のスキャナ装置の構成ブロッ
ク例図を示す。図中、１はスキャナ装置、２は原稿およ
び白基準の読み取りを行う読取り部、３はシェーディン
グ補正用の白基準、４は白基準の正常な読取り波形を記
憶する白基準波形記憶部と、５は原稿の読み取り前に、
読取り部２により白基準３を読み取り、読み取った波形
と白基準波形記憶部４に格納されている波形を比較し、
読み取った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の
場合、光学系に曇りがあると判定する判定部と、６は判
定部５で曇りが検出されたとき、光源加熱用ヒータをオ
ンにし、かつキャリアを所定回数、往復動作させる曇り
除去部である。
ク例図を示す。図中、１はスキャナ装置、２は原稿およ
び白基準の読み取りを行う読取り部、３はシェーディン
グ補正用の白基準、４は白基準の正常な読取り波形を記
憶する白基準波形記憶部と、５は原稿の読み取り前に、
読取り部２により白基準３を読み取り、読み取った波形
と白基準波形記憶部４に格納されている波形を比較し、
読み取った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の
場合、光学系に曇りがあると判定する判定部と、６は判
定部５で曇りが検出されたとき、光源加熱用ヒータをオ
ンにし、かつキャリアを所定回数、往復動作させる曇り
除去部である。
【００１０】読取り部２は、原稿に光を照射する光源２
１と、光源２１を加熱する光源加熱用ヒータ２２と、原
稿からの反射光の光路を変更するミラー２３、２４、２
５と、ミラー２５からの光を収束させる集光レンズ２６
と、集光レンズ２６を通して入射された光に基づき原稿
の画像を読み取るＣＣＤ２７とで構成されている。ま
た、光源２１、光源加熱用ヒータ２２、ミラー２３はキ
ャリア２８で支持され、ミラー２４、２５はキャリア２
９で支持されている。
１と、光源２１を加熱する光源加熱用ヒータ２２と、原
稿からの反射光の光路を変更するミラー２３、２４、２
５と、ミラー２５からの光を収束させる集光レンズ２６
と、集光レンズ２６を通して入射された光に基づき原稿
の画像を読み取るＣＣＤ２７とで構成されている。ま
た、光源２１、光源加熱用ヒータ２２、ミラー２３はキ
ャリア２８で支持され、ミラー２４、２５はキャリア２
９で支持されている。
【００１１】図２に、白基準波形図の説明図を示す。図
２（ａ）は正常な白基準波形であり、Ｘ軸は主走査方向
の読取り位置、つまりＣＣＤの画素位置に相当し、Ｙ軸
は光量を示している。正常な白基準波形は光源の関係で
読取り位置の両端の光量が落ち、読取り位置の中央を中
心とした円弧状になる。
２（ａ）は正常な白基準波形であり、Ｘ軸は主走査方向
の読取り位置、つまりＣＣＤの画素位置に相当し、Ｙ軸
は光量を示している。正常な白基準波形は光源の関係で
読取り位置の両端の光量が落ち、読取り位置の中央を中
心とした円弧状になる。
【００１２】図２（ｂ）はミラーにゴミがあるときの白
基準波形であり、ゴミが付着している部分の光量が落ち
込んだ波形となる。また、ゴミは小さいのでゴミによる
光量の落込み範囲（Ｗ）の幅は小さくなる。
基準波形であり、ゴミが付着している部分の光量が落ち
込んだ波形となる。また、ゴミは小さいのでゴミによる
光量の落込み範囲（Ｗ）の幅は小さくなる。
【００１３】図２（ｃ）はミラーに曇りがあるときの白
基準波形であり、曇りが発生している部分の光量が落ち
込んだ波形となる。なお、曇りの発生領域はゴミと比べ
ると大きく、その光量の落込み範囲（Ｗ）の幅は非常に
大きくなる。
基準波形であり、曇りが発生している部分の光量が落ち
込んだ波形となる。なお、曇りの発生領域はゴミと比べ
ると大きく、その光量の落込み範囲（Ｗ）の幅は非常に
大きくなる。
【００１４】図３に、本発明のスキャナ装置の主制御部
の一実施例の処理フローチャートを示す。以下、このフ
ローにしたがって動作を説明する。
の一実施例の処理フローチャートを示す。以下、このフ
ローにしたがって動作を説明する。
【００１５】ステップＳ３０１：光学系のミラーなどの
曇りの検出とその除去を行う。なお、この処理の詳細は
後で説明する。
曇りの検出とその除去を行う。なお、この処理の詳細は
後で説明する。
【００１６】ステップＳ３０２：読取り指示があるかを
判定する。読取り指示があればステップＳ３０３に進
み、読取り指示がないならばステップＳ３０４に進む。
判定する。読取り指示があればステップＳ３０３に進
み、読取り指示がないならばステップＳ３０４に進む。
【００１７】ステップＳ３０３：セットされた原稿の読
取りを行う。そして、読取った画像データをホスト装置
に転送する。
取りを行う。そして、読取った画像データをホスト装置
に転送する。
【００１８】ステップＳ３０４：電源切断指示があるか
を判定する。電源切断指示があれば処理を終了し、電源
切断指示がないならばステップＳ３０２に戻る。
を判定する。電源切断指示があれば処理を終了し、電源
切断指示がないならばステップＳ３０２に戻る。
【００１９】図４に、曇り検出除去部の一実施例の処理
フローチャートを示す。なお、この処理は、図３のステ
ップＳ３０１の詳細な処理である。また、この例では白
基準波形記憶部４に格納されている白基準波形は、前日
の所定時間、例えば電源投入後、３時間毎に白基準を読
み取ったときの白基準波形の平均を取った白基準波形が
格納されているものとする。以下、このフローにしたが
って動作を説明する。
フローチャートを示す。なお、この処理は、図３のステ
ップＳ３０１の詳細な処理である。また、この例では白
基準波形記憶部４に格納されている白基準波形は、前日
の所定時間、例えば電源投入後、３時間毎に白基準を読
み取ったときの白基準波形の平均を取った白基準波形が
格納されているものとする。以下、このフローにしたが
って動作を説明する。
【００２０】ステップＳ４０１：白基準３を読み取り、
白基準波形を獲得する。
白基準波形を獲得する。
【００２１】ステップＳ４０２：獲得した白基準波形と
白基準波形記憶部４に格納されている白基準波形とを比
較する。
白基準波形記憶部４に格納されている白基準波形とを比
較する。
【００２２】ステップＳ４０３：ステップＳ４０２の処
理結果、光量の落込みがあるかを判定する。光量の落込
みがあればステップＳ４０４に進み、光量の落込みがな
いならば処理を終了する。
理結果、光量の落込みがあるかを判定する。光量の落込
みがあればステップＳ４０４に進み、光量の落込みがな
いならば処理を終了する。
【００２３】ステップＳ４０４：光量の落込み範囲が所
定値より大きいかを判定する。図２（ｃ）で示すように
光量の落込みが所定値より大きい、つまり光学系に曇り
が発生しているようならばステップＳ４０５に進み、図
２（ｂ）に示すように光量の落込み範囲が所定値より大
きくない、つまり光学系にゴミが付着しているようなら
ば処理を終了する。
定値より大きいかを判定する。図２（ｃ）で示すように
光量の落込みが所定値より大きい、つまり光学系に曇り
が発生しているようならばステップＳ４０５に進み、図
２（ｂ）に示すように光量の落込み範囲が所定値より大
きくない、つまり光学系にゴミが付着しているようなら
ば処理を終了する。
【００２４】ステップＳ４０５：光源加熱用ヒータ２２
をオンにする。
をオンにする。
【００２５】ステップＳ４０６：光源２１、ミラー２３
などを支持するキャリア２８と、ミラー２４、２５を支
持するキャリア２９とを所定回数、往復動作させる。
などを支持するキャリア２８と、ミラー２４、２５を支
持するキャリア２９とを所定回数、往復動作させる。
【００２６】ステップＳ４０７：光源加熱用ヒータ２２
をオフにする。そして、ステップＳ４０１に戻る。
をオフにする。そして、ステップＳ４０１に戻る。
【００２７】このように処理することにより、光学系に
曇りを検出したとき、光源加熱用ヒータを加熱状態に
し、かつ光学系を支持するキャリアを所定回数、往復動
作させることにより、光学系についた曇りを光源加熱用
ヒータの熱およびキャリアの往復動作による風で除去す
ることが可能となる。
曇りを検出したとき、光源加熱用ヒータを加熱状態に
し、かつ光学系を支持するキャリアを所定回数、往復動
作させることにより、光学系についた曇りを光源加熱用
ヒータの熱およびキャリアの往復動作による風で除去す
ることが可能となる。
【００２８】なお、この例では、曇りによる光量の落込
みがなくなるまで、ステップＳ４０１からステップＳ４
０７の処理を行っているが、所定時間または所定回数の
処理を繰返しても、光量の落込みがなくならないとき
は、保守作業者を呼出すように表示するようにしてもよ
い。
みがなくなるまで、ステップＳ４０１からステップＳ４
０７の処理を行っているが、所定時間または所定回数の
処理を繰返しても、光量の落込みがなくならないとき
は、保守作業者を呼出すように表示するようにしてもよ
い。
【００２９】また、白基準波形記憶部に格納されている
白基準波形は工場出荷時に設定されているようにしても
よい。
白基準波形は工場出荷時に設定されているようにしても
よい。
【００３０】
【発明の効果】この発明は、上記に説明したような形態
で実施され、以下の効果がある。
で実施され、以下の効果がある。
【００３１】スキャナ装置から光学系および装置全体を
暖めるヒータを取り除くことができ、装置の価格を下げ
ること、また装置全体の消費電力を少なくすることが可
能となる。
暖めるヒータを取り除くことができ、装置の価格を下げ
ること、また装置全体の消費電力を少なくすることが可
能となる。
【図１】 本発明のスキャナ装置の構成ブロック例図で
ある。
ある。
【図２】 白基準波形図の説明図である。
【図３】 本発明のスキャナ装置の主制御部の一実施例
の処理フローチャートである。
の処理フローチャートである。
【図４】 曇り検出除去部の一実施例の処理フローチャ
ートである。
ートである。
【図５】 従来のスキャナ装置の曇り除去機構の説明で
ある。
ある。
１ スキャナ装置 ２ 読取り部 ３ 白基準 ４ 白基準波形記憶部 ５ 判定部 ６ 曇り除去部 ２１ 光源 ２２ 光源加熱用ヒータ ２３、２４、２５ ミラー ２６ 集光レンズ ２７ ＣＣＤ ２８、２９ キャリア
Claims (2)
- 【請求項１】 光源加熱用ヒータを有するスキャナ装置
において、 白基準（３）と、原稿および白基準の読み取りを行う読
取り部（２）と、 白基準の正常な読取り波形を記憶する白基準波形記憶部
（４）と、 原稿の読み取り前に、読取り部（２）により白基準
（３）を読み取り、読み取った波形と白基準波形記憶部
（４）に格納されている波形を比較し、読み取った波形
の光量の落込み範囲が所定の画素以上の場合、光学系に
曇りがあると判定する判定部（５）と、 判定部（５）で曇りが検出されたとき、光源加熱用ヒー
タをオンにし、かつキャリアを所定回数、往復動作させ
る曇り除去部（６）とを設けることを特徴とするスキャ
ナ装置。 - 【請求項２】 光源加熱用ヒータを有するスキャナ装置
における曇り除去方法において、 白基準の正常な読み取り波形を記憶する白基準波形記憶
部（４）を設け、 原稿の読み取り前に、白基準を読み取り、読み取った波
形と白基準波形記憶部に格納されている波形を比較し、
読み取った波形の光量の落込み範囲が所定の画素以上の
場合、光学系に曇りがあると判定し、光源加熱用ヒータ
をオンにし、かつキャリアを所定回数、往復動作させる
ことで、光学系についた曇りを熱およびキャリアの往復
動作による風で除去することを特徴とする曇り除去方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000271133A JP2002084400A (ja) | 2000-09-07 | 2000-09-07 | スキャナ装置および曇り除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000271133A JP2002084400A (ja) | 2000-09-07 | 2000-09-07 | スキャナ装置および曇り除去方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002084400A true JP2002084400A (ja) | 2002-03-22 |
Family
ID=18757462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000271133A Pending JP2002084400A (ja) | 2000-09-07 | 2000-09-07 | スキャナ装置および曇り除去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002084400A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20080231917A1 (en) * | 2007-03-19 | 2008-09-25 | Hajime Tsukahara | Image reading apparatus and image forming apparatus |
| JP2013012989A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-17 | Kyocera Document Solutions Inc | 画像読取装置及び画像形成装置 |
| JP2015167370A (ja) * | 2015-04-16 | 2015-09-24 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像読取装置および画像形成装置 |
-
2000
- 2000-09-07 JP JP2000271133A patent/JP2002084400A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20080231917A1 (en) * | 2007-03-19 | 2008-09-25 | Hajime Tsukahara | Image reading apparatus and image forming apparatus |
| US20120026550A1 (en) * | 2007-03-19 | 2012-02-02 | Hajime Tsukahara | Image reading apparatus and image forming apparatus |
| US8279502B2 (en) | 2007-03-19 | 2012-10-02 | Ricoh Company, Ltd. | Image reading apparatus and image forming apparatus |
| US8335023B2 (en) * | 2007-03-19 | 2012-12-18 | Ricoh Company, Ltd. | Image reading apparatus and image forming apparatus |
| JP2013012989A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-17 | Kyocera Document Solutions Inc | 画像読取装置及び画像形成装置 |
| JP2015167370A (ja) * | 2015-04-16 | 2015-09-24 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像読取装置および画像形成装置 |
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