JP2001356364A - 液晶パネルの欠陥修正方法 - Google Patents

液晶パネルの欠陥修正方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥画素が発生しても通常の使用では目立た
なくすることができる液晶パネルの修正方法を提供す
る。 【解決手段】 複数の画素が連結した場合に、それらの
画素のうち透過率が最も高いカラーフィルタが設けられ
た画素のＴＦＴ１５で他の画素を駆動するように、他の
画素の画素電極１７と信号供給線１２ａ，１４ａとの間
を切断する。また、予め隣接する画素間を連絡するよう
に修正用配線を形成しておき、欠陥画素が発生した場合
に、修正用配線を介して欠陥画素の画素電極とその欠陥
画素に隣接する画素の画素電極とを電気的に接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルの製造
工程で発生した欠陥を修正する液晶パネルの欠陥修正方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶パネルは、携帯型コンピュータのデ
ィスプレイだけでなく、ディスクトップ型コンピュータ
のディスプレイやテレビ、及び携帯端末のディスプレイ
など、種々の電子機器に使用されるようになった。一般
的なＴＮ（Twisted Nematic ）型液晶パネルでは、２枚
の透明基板の間に液晶を封入した構造を有している。そ
れらの透明基板の相互に対向する２つの面のうち、一方
の面側にはコモン電極（対向電極）、カラーフィルタ及
び配向膜等が形成され、他方の面側にはＴＦＴ（Thin F
ilm Transistor：薄膜トランジスタ）、画素電極及び配
向膜等が形成されている。また、各透明基板の対向面と
反対側の面には、それぞれ偏光板が貼り付けられてい
る。これらの２枚の偏光板は、例えば偏光軸が互いに直
交するように配置されており、画素電極とコモン電極と
の間に電圧をかけない状態では光が透過して明表示とな
り、電圧を印加した状態では遮光して暗表示となる。ま
た、２枚の偏光板の偏光軸を互いに平行に配置した場合
は、画素電極とコモン電極との間に電圧をかけない状態
では暗表示となり、電圧を印加した状態では明表示とな
る。以下、ＴＦＴ及び画素電極が形成された基板をＴＦ
Ｔ基板と呼び、カラーフィルタ及びコモン電極が形成さ
れた基板をＣＦ基板と呼ぶ。
【０００３】図１は一般的なＴＮ型液晶パネルの構造を
示す断面図、図２は同じくそのＴＦＴ基板の平面図であ
る。なお、図１は図２のＡ−Ａ線に対応する位置におけ
る断面を示している。ＴＮ型液晶パネルは、ＴＦＴ基板
１０と、ＣＦ基板２０と、これらのＴＦＴ基板１０とＣ
Ｆ基板２０との間に封入された液晶２９とにより構成さ
れている。
【０００４】ＴＦＴ基板１０は、以下に示すように形成
されている。すなわち、ガラス基板１１上には、第１の
配線層として、複数本のゲートバスライン１２ａと複数
本の補助容量バスライン１２ｂとが形成されている。各
ゲートバスライン１２ａは相互に平行に形成されてお
り、各ゲートバスライン１２ａの間にそれぞれ補助容量
バスライン１２ｂがゲートバスライン１２ａに対し平行
に配置されている。
【０００５】これらのゲートバスライン１２ａ及び補助
容量バスライン１２ｂの上には第１の絶縁膜（ゲート絶
縁膜：図示せず）が形成されている。ゲートバスライン
１２ａの上方の第１の絶縁膜の上には、ＴＦＴ１５の活
性層となるアモルファスシリコン膜１３が形成されてい
る。また、第１の絶縁膜の上には、第２の配線層とし
て、データバスライン１４ａ、ＴＦＴ１５のソース電極
１４ｂ及びドレイン電極１４ｃが形成されている。デー
タバスライン１４ａはゲートバスライン１１ａに対し直
角に交差するように形成されており、ソース電極１４ｂ
及びドレイン電極１４ｃはアモルファスシリコン膜１３
の幅方向の両側に相互に離隔して形成されている。ま
た、ドレイン電極１４ｃはデータバスライン１４ａに接
続されている。ゲートバスライン１２ａ及びデータバス
ライン１４ａで区画された矩形の領域がそれぞれ画素領
域となっている。
【０００６】これらのデータバスライン１４ａ、ソース
電極１４ｂ及びドレイン電極１４ｃの上には第２の絶縁
膜１６が形成されており、第２の絶縁膜１６の上にはＩ
ＴＯ（indium-tin oxide：インジウム酸化スズ）からな
る透明画素電極１７が形成されている。この画素電極１
７は、第２の絶縁膜１６に形成されたコンタクトホール
１６ａを介してソース電極１４ｂに電気的に接続されて
いる。
【０００７】画素電極１７の上には、液晶分子の配向方
向を決定する配向膜１８が形成されている。この配向膜
１８は例えばポリイミドからなり、ラビング等による配
向処理が施されている。一方、ＣＦ基板２０は以下のよ
うに構成されている。すなわち、ガラス基板２１の一方
の面（図では下面）には、Ｃｒ（クロム）等の遮光性物
質からなり各画素間の領域及びＴＦＴ形成領域を遮光す
るブラックマトリクス２２が形成されている。また、Ｔ
ＦＴ基板１０の各画素電極１７に対向する位置に、赤色
（Ｒ）、緑色（Ｇ）及び青色（Ｂ）のいずれか１色のカ
ラーフィルタ２３が形成されている。この例では、横方
向に並ぶ画素には緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）及び赤色
（Ｒ）のカラーフィルタ２３が交互に配置され、縦方向
に並ぶ画素には同色のカラーフィルタが配置されている
ものとする。
【０００８】カラーフィルタ２３の下側にはＩＴＯから
なるコモン電極２４が形成されており、このコモン電極
２４の下には、例えばポリイミドからなる配向膜２５が
形成されている。この配向膜２５にもラビング等による
配向処理が施されている。ＴＦＴ基板１０とＣＦ基板２
０との間には、ＴＦＴ基板１０とＣＦ基板２０の間隔が
一定となるように、例えば直径が均一の球形又は円柱形
のスペーサ（図示せず）が配置されている。また、ＴＦ
Ｔ基板１０の下側及びＣＦ基板２０の上側には、それぞ
れ偏光板（図示せず）が配置されている。
【０００９】このように構成された液晶パネルにおい
て、駆動回路からゲートバスライン１２ａ及びデータバ
スライン１４ａに所定のタイミングで走査信号及び映像
信号を供給し、画素電極１７とコモン電極２４との間の
電圧を画素毎に制御することにより、所望の画像を表示
することができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】液晶パネルでは、その
製造工程において、ごみ等の付着などによりパターニン
グが正常に行われず、短絡や断線が発生して、画素が常
時点灯した状態又は常時非点灯の状態になることがあ
る。通常、液晶パネルでは一定数以下の点状の欠陥は許
容されるが、欠陥数が多くなると不良品となってしま
う。また、複数の画素電極が連結してしまったときは、
いわゆるキラー欠陥となり、それだけで不良品となって
しまう。
【００１１】従来から点状欠陥を修正する方法として、
欠陥画素の電極とゲートバスライン、補助容量バスライ
ン又はデータバスラインとをレーザ照射により溶融接続
する方法が知られている。欠陥画素の電極とゲートバス
ライン又は補助容量バスラインとを接続した場合は、欠
陥画素は常時非点灯となるため、例えば白表示や中間調
表示のときに、欠陥画素が暗点となって目立ってしま
う。欠陥画素の電極とデータバスラインとを接続した場
合、画面全体に同じ色を表示したときには欠陥を認識す
ることができない。しかし、例えば画面の上半分が白、
下半分が黒の表示を行ったときに、黒部分に欠陥画素が
あると、明るい輝点となって欠陥が目立ってしまう。
【００１２】点状欠陥を修正する方法として、欠陥画素
の全領域に多数のレーザを照射して液晶分子の配向を乱
す方法も知られている。この場合は、レーザ照射で配向
が乱れた画素が黒で固定されるため、ゲートバスライン
又は補助容量バスラインへ接続したとき同様に、白表示
や中間調表示で欠陥画素が暗点となって目立つという欠
点がある。
【００１３】また、従来、複数の画素が電気的に接続さ
れた欠陥は、前述の如くキラー欠陥となるため全て不良
品としていた。しかし、連結数を少なくすることができ
れば、不良品を救済することができる。以上から本発明
の目的は、欠陥画素が発生しても通常の使用では目立た
なくすることができる液晶パネルの修正方法を提供する
ことである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶パネルの欠
陥修正方法は、複数の画素が連結された液晶パネルの欠
陥修正方法であって、前記連結された複数の画素のうち
の特定の画素を除き他の画素と信号供給ラインとの間を
電気的に切断し、前記特定の画素に供給される信号によ
り前記他の画素を駆動することを特徴とする。
【００１５】本発明においては、複数の画素が連結され
たときに、これらの画素のうちの特定の画素を除き他の
画素と信号供給ライン（データバスライン又はゲートバ
スライン）との間を電気的に切断する。これにより、連
結された複数の画素が一つの画素に供給される信号で駆
動されるようになる。その結果、見かけ上の連結数が一
つ減り、連結数が少ない場合は不良品としないでもよく
なる。
【００１６】一つの画素に与えられる信号で隣接する複
数の画素を駆動する場合、透過率の高いカラーフィルタ
が設けられた画素に与えられる信号で他の画素を駆動す
ることが好ましい。これは、複数の画素が同時に点灯し
ても、透過率が低い画素の点灯が目立たず、欠陥が認識
されにくくなるためである。また、本発明の他の液晶パ
ネルの欠陥修正方法は、欠陥が発生した画素の画素電極
を、隣接する画素の画素電極と電気的に接続する液晶パ
ネルの欠陥修正方法において、前記欠陥が発生した画素
の画素電極を、隣接する画素のうち光の透過率が最も高
いカラーフィルタが設けられた画素の画素電極、又は欠
陥が発生した画素と同色のカラーフィルタが設けられた
画素に接続することを特徴とする。
【００１７】本発明においては、欠陥が発生した画素の
電極と、隣接する画素の電極とを電気的に接続して、隣
接する画素と同時に欠陥画素を駆動する。この場合に、
欠陥が発生した画素よりも光透過率が低い画素と接続す
ると、２つの画素が同時に点灯するため、正常な画素よ
りも欠陥画素のほうが目立ってしまう。このため、欠陥
が発生した画素は、当該画素よりも光の透過率が高いカ
ラーフィルタが設けられた画素、又は同色のカラーフィ
ルタが設けられた画素と接続する必要がある。
【００１８】なお、液晶パネルには、予め隣接する画素
の画素電極同士を電気的に接続するための修正用配線を
設けておくことが好ましい。この修正用配線は、例えば
ゲートバスライン又はデータバスラインと同じ配線層
に、隣接する画素領域間をまたがるようにして形成して
おく。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付の図面を参照して説明する。 （第１の実施の形態）図３は本発明の第１の実施の形態
の液晶パネルの修正方法を示す平面図である。本実施の
形態は、ＴＦＴ基板の製造工程において、複数の画素電
極が連結してしまった場合の修正方法を示している。図
３において、図２と同一物には同一符号を付している。
【００２０】図３に示すように、複数の画素電極１７が
連結してしまった場合、本実施の形態においては、光の
透過率が最も高い画素のＴＦＴで他の画素を駆動する。
この例では、緑色画素（Ｇ）、青色画素（Ｂ）及び赤色
画素（Ｒ）の３つの画素の画素電極１７が連結されてい
る。光の透過率は、カラーフィルタの材料や厚さなどに
よって異なるが、一般的に、緑色が最も透過率が高く、
赤色、青色の順で透過率が低くなる。例えば、本願発明
者らが透過率を測定した例では、緑色のカラーフィルタ
の視感透過率は６１％、赤色のカラーフィルタの視感透
過率は２５％、青色のカラーフィルタの視感透過率は２
１％であった。
【００２１】従って、本実施の形態では、緑色画素のＴ
ＦＴで他の画素を駆動する。すなわち、青色画素及び赤
色画素の画素電極１７とＴＦＴ１５との接続部分（図中
Ｘで示す一点鎖線の部分）をレーザ照射で電気的に切断
する。本実施の形態においては、緑色画素、青色画素及
び赤色画素が連結された場合に、青色画素及び赤色画素
の画素電極１７とデータバスライン１４ａとの間を電気
的に切断する。この例では、青色画素及び赤色画素のＴ
ＦＴ１５のソース電極１４ｂとの間を切断している。こ
れにより、緑色画素のＴＦＴ１５で青色画素及び赤色画
素が駆動されるようになる。従って、白、グレー又は黒
等のモノクロームの画像を表示するときは、欠陥画素を
認識することができない。
【００２２】画面全体に青を表示するときは、欠陥画素
部分では青の単独暗点となり、画面全体に赤を表示する
ときは、欠陥画素部分では赤の単独暗点となる。画面全
体に緑を表示するときは、欠陥部分では青と赤の２連結
輝点となる。しかし、この場合、緑の視感透過率が青及
び赤に比べて高いため、程度の軽い連結輝点となり、欠
陥部分は目立ちにくい。
【００２３】このように、本実施の形態においては、画
素電極が連結してしまった場合に、それらの画素のうち
の一つの画素のＴＦＴで他の画素を駆動するので、連結
欠陥の連結数が実質的に一つ減少する。これにより、連
結数が少ないときは欠陥が発生した液晶パネルを救済す
ることが可能になる。また、連結画素を緑色画素のＴＦ
Ｔで駆動するので、画面全体を赤又は青く表示するとき
などの場合を除いて、通常の表示では欠陥が目立ちにく
い。
【００２４】なお、上記の例では緑色画素、青色画素及
び赤色画素が連結された場合の修正方法について説明し
たが、緑色画素と青色画素又は赤色画素が連結された場
合は緑色画素のＴＦＴで他の画素を駆動するようにし、
青色画素と赤色画素が連結された場合は赤色画素のＴＦ
Ｔで青色画素を駆動することが好ましい。 （第２の実施の形態）図４は本発明の第２の実施の形態
に係る液晶パネルのＴＦＴ基板を示す平面図である。な
お、本実施の形態において、ＣＦ基板の構造は基本的に
従来と同様であるので、ＣＦ基板の図示及び説明は省略
する。
【００２５】ガラス基板（透明板材）３１上には、第１
の配線層として、複数のゲートバスライン３１ａ、複数
本の補助容量バスライン３２ｂ及び修正用配線３２ｃが
形成されている。各ゲートバスライン３２ａは相互に平
行に形成されており、各ゲートバスライン３２ａの間に
それぞれ補助容量バスライン３２ｂがゲートバスライン
３２ａと平行に配置されている。また、修正用配線３２
ｃは、横方向に隣接する２つの画素領域間をまたぐよう
に形成されている。
【００２６】これらのゲートバスライン３２ａ、補助容
量バスライン３２ｂ及び修正用配線３２ｃの上には第１
の絶縁膜（図示せず）が形成されている。ゲートバスラ
イン３２ａの上方の第１の絶縁膜の上には、ＴＦＴ３５
の活性層となるアモルファスシリコン膜３３が形成され
ている。また、第１の絶縁膜の上には、第２の配線層と
して、データバスライン３４ａ、ＴＦＴ３５のソース電
極３４ｂ及びドレイン電極３４ｃが形成されている。デ
ータバスライン３４ａはゲートバスライン３１ａに対し
直角に交差するように形成されており、ソース電極３４
ｂ及びドレイン電極３４ｃはアモルファスシリコン膜３
３の幅方向の両側に相互に離隔して形成されている。ま
た、ドレイン電極３４ｃはデータバスライン３４ａに接
続されている。
【００２７】これらのデータバスライン３４ａ、ソース
電極３４ｂ及びドレイン電極３４ｃの上には第２の絶縁
膜（図示せず）が形成されており、第２の絶縁膜の上に
は各画素毎にＩＴＯからなる透明画素電極３７が形成さ
れている。この画素電極３７は、第２の絶縁膜に形成さ
れたコンタクトホール３６ａを介してソース電極３４ｂ
に電気的に接続されている。
【００２８】画素電極３７の上には、液晶分子の配向方
向を決めるための配向膜（図示せず）が形成されてい
る。この配向膜は例えばポリイミドからなり、ラビング
等の配向処理が施されている。本実施の形態の液晶パネ
ルのＴＦＴ基板は上記のように構成されており、修正用
配線３２ｃが横方向に隣接する２つ画素領域にまたがる
ように形成されている。そして、この修正用配線３２ｃ
はゲートバスライン３２ａ及び補助容量バスライン３２
ｂと同じ配線層に形成されており、修正前の状態では、
修正用配線３２ｃは画素電極３７、ゲートバスライン３
２ａ、補助容量バスライン３２ｂ及びデータバスライン
３４ａ等と電気的に分離されている。
【００２９】以下、本実施の形態の液晶パネルの欠陥修
正方法について説明する。本実施の形態では、ＴＦＴ基
板の検査工程で欠陥の有無を検査し、欠陥が発見された
場合に、下記の方法により欠陥を修正する。ここでは、
図５に示すように一つの青色画素（Ｂ）のソースとゲー
ト間が、絶縁膜を貫く異物３８により短絡したものとす
る。この場合、修正処理をしなければ、この画素は常時
暗点の点状欠陥となる。
【００３０】本実施の形態では、欠陥が発生した青色画
素（Ｂ）と、その青色画素に隣接する緑色画素（Ｇ）と
の間を連絡する修正用配線３２ｃを使用して修正を行
う。すなわち、図５に示すように、欠陥が発生した青色
画素（Ｂ）の画素電極３７と修正用配線３２ｃとをレー
ザ照射により電気的に接続し、更に緑色画素と修正用配
線３２ｃとをレーザ照射して電気的に接続して、欠陥が
発生した青色画素の画素電極と隣接する緑色画素の画素
電極とを電気的に接続する。レーザ照射により修正用配
線３２ｃと青色画素及び緑色画素とを接続した部分（接
続部）を符号３９で示す。そして、欠陥が発生した青色
画素の画素電極３７とＴＦＴ３５との接続部分（図中矢
印Ｘで示す一点鎖線の部分）をレーザにより電気的に切
断する。これにより、欠陥修正が完了する。
【００３１】本実施の形態では、欠陥が発生した青色画
素を隣接する緑色画素のＴＦＴで駆動するので、全白か
ら全黒までのモノクロームの表示では欠陥を認識するこ
とができない。全面に青を表示した画面では青色画素の
単独暗点欠陥となり、全面赤表示の画面では欠陥を認識
することはできない。また、全面に緑を表示した画面で
は、青い輝点欠陥となる。但し、この場合、緑色の視感
感度が青色よりも高いため、殆ど欠陥を認識することは
できない。
【００３２】このように、本実施の形態においては、欠
陥が発生しても、欠陥の程度が軽減され、欠陥を殆ど認
識せずに使用することができる。 （第３の実施の形態）図６は本発明の第３の実施の形態
に係る液晶パネルのＴＦＴ基板を示す平面図である。な
お、本実施の形態においても、ＣＦ基板の構造は基本的
に従来と同様であるので、ＣＦ基板の図示及び説明は省
略する。また、図６において、図４と同一物には同一符
号を付している。
【００３３】ガラス基板３１の上には、第１の配線層と
して、ゲートバスライン３２ａ及び補助容量バスライン
３２ｂが形成されている。これらのゲートバスライン３
２ａ及び補助容量バスライン３２ｂの上には第１の絶縁
膜（図示せず）が形成されている。この第１の絶縁膜の
上には、ＴＦＴ３５の活性層となるアモルファスシリコ
ン膜３３が選択的に形成されている。また、第１の絶縁
膜の上には、第２の配線層として、データバスライン３
４ａ、ＴＦＴ３５のソース電極３４ｂ、ドレイン電極３
４ｃ及び修正用配線３４ｄが形成されている。修正用配
線３４ｄは、縦方向に隣接する２つの画素領域間をまた
ぐように形成されている。
【００３４】これらのデータバスライン３４ａ、ソース
電極３４ｂ、ドレイン電極３４ｃ及び修正用配線３４ｄ
の上には第２の絶縁膜（図示せず）が形成されており、
第２の絶縁膜の上にはＩＴＯからなる透明画素電極３７
ａが形成されている。この画素電極３７は、第２の絶縁
膜に形成されたコンタクトホール３６ａを介してソース
電極３４ｂに電気的に接続されている。
【００３５】本実施の形態の液晶パネルのＴＦＴ基板は
上記のように構成されており、修正用配線３４ｄは縦方
向に隣接する２つの画素領域にまたがるように形成され
ている。そして、この修正用配線３４ｄはデータバスラ
イン３４ａ、ソース電極３４ｂ及びドレイン電極３４ｃ
と同じ配線層に形成されており、修正前の状態では、修
正用配線３４ｄは画素電極３７、ゲートバスライン３２
ａ、補助容量バスライン３２ｂ及びデータバスライン３
４ａ等と電気的に分離されている。
【００３６】以下、本実施の形態の液晶パネルの欠陥修
正方法について説明する。本実施の形態では、ＴＦＴ基
板の検査工程で欠陥の有無を検査し、欠陥が発見された
場合に、下記の方法により欠陥を修正する。ここでは、
図７に示すように一つの青色画素（Ｂ）のソースとゲー
ト間が、絶縁膜を貫く異物４１により短絡したものとす
る。この場合、修正処理をしなければ、この画素は常時
暗点の点状欠陥となる。
【００３７】本実施の形態では、欠陥の発生した青色画
素（Ｂ）と、その青色画素に隣接する青色画素との間を
連絡する修正用配線３４ｄを使用して修正を行う。すな
わち、図６に示すように、欠陥が発生した青色画素
（Ｂ）の画素電極と修正用配線３４ｄ、及び隣接画素の
画素電極と修正用配線３４ｄとをレーザ照射により電気
的に接続し、欠陥の発生した青色画素の画素電極と隣接
する青色画素の画素電極とを電気的に接続する。レーザ
照射により修正用配線３４ｄと青色画素とを接続した部
分を符号４１で示す。そして、欠陥が発生した青色画素
の画素電極３７とＴＦＴ３５との接続部分（図中矢印Ｘ
で示す一点鎖線の部分）をレーザにより電気的に切断す
る。これにより，欠陥修正が完了する。
【００３８】本実施の形態では、欠陥が発生した青色画
素を隣接する青色画素のＴＦＴで駆動するので、全白か
ら全黒までのモノクローム画像や、全面赤、全面青、全
面緑の画面では、欠陥を認識することができない。１ド
ット毎に明暗を反転するなどの特殊なパターンでは欠陥
が認識されるが、修正しない場合に比べて欠陥が軽減さ
れる。
【００３９】なお，上記の実施の形態ではいずれもＴＮ
型液晶パネルについて説明したが、これにより本発明が
ＴＮ型液晶パネル及びその修正方法に限定されるもので
はない。本発明は、ＴＮ型液晶パネルの他、ＭＶＡ（Mu
lti-domain Vertical Alignment ）型及びＩＰＳ（In-P
lane Switching）型液晶パネル等にも適用することがで
きる。
【００４０】また、上記の第２及び第３の実施の形態で
はゲートバスライン又はドレインバスラインと同じ配線
層で修正用配線を形成する場合について説明したが、本
発明はこれに限定されるものではなく、例えば修正用配
線をシリコンにより形成してもよい。この場合、ＴＦＴ
のシリコン膜と同時に修正用配線を形成することができ
る。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶パネ
ルの欠陥修正方法によれば、複数の画素が連結されたと
きに，これらの画素のうちの特定の画素を除き他の画素
と信号供給ラインとの間を電気的に切断するので、連結
された複数の画素が一つの画素に供給される信号で駆動
される。これにより、見かけ上の連結数が一つ減り、連
結数が少ない場合は不良品としなくてもよくなる。
【００４２】また、本発明の他の液晶パネルの欠陥修正
方法によれば、欠陥が発生した画素の電極と、当該画素
に隣接する画素のうち光透過率が最も高いカラーフィル
タが設けられた画素、又は当該画素と同色のカラーフィ
ルタが設けられた画素とを接続するので、欠陥画素を目
立たなくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は一般的なＴＮ型液晶パネルの構造を示す
断面図である。
【図２】図２は同じくそのＴＦＴ基板の平面図である。
【図３】図３は本発明の第１の実施の形態の液晶パネル
の修正方法を示す平面図である。
【図４】図４は本発明の第２の実施の形態に係る液晶パ
ネルのＴＦＴ基板を示す平面図である。
【図５】図５は本発明の第２の実施の形態に係る液晶パ
ネルの修正方法を示す平面図である。
【図６】図６は本発明の第３の実施の形態に係る液晶パ
ネルのＴＦＴ基板を示す平面図である。
【図７】図７は本発明の第３の実施の形態に係る液晶パ
ネルの修正方法を示す平面図である。
【符号の説明】
１０…ＴＦＴ基板、 １１，２１，３１…ガラス基板（透明板材）、 １２ａ，３２ａ…ゲートバスライン、 １２ｂ，３２ｂ…補助容量バスライン、 １３，３３…アモルファスシリコン膜、 １４ａ，３４ａ…データバスライン、 １４ｂ，３４ｂ…ソース電極、 １４ｃ，３４ｃ…ドレイン電極、 １５，３５…ＴＦＴ、 １７、３７…画素電極、 １８，２５…配向膜、 ２０…ＣＦ基板、 ２２…ブラックマトリクス、 ２３…カラーフィルタ、 ２４…コモン電極、 ２９…液晶、 ３２ｃ、３４ｄ…修正用配線、 ３８，４１…異物、 ３９，４２…接続部、 Ｘ…切断ライン。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｆ 9/30 ３４９ Ｇ０２Ｆ 1/136 ５００ Ｈ０１Ｌ 29/786 Ｈ０１Ｌ 29/78 ６１２Ａ 21/336 ６１２Ｄ ６２７Ｃ Ｆターム(参考） 2H088 FA14 HA02 HA08 HA12 MA01 MA20 2H092 HA04 JA24 KA05 MA49 NA01 NA15 NA29 NA30 PA08 5C094 AA02 AA42 BA03 BA43 CA19 CA24 DA13 DB04 EA04 EA07 EB02 ED03 ED15 FB12 FB15 GB10 5F110 AA27 BB01 CC07 DD02 GG02 GG15 NN02 NN72 NN73 5G435 AA00 AA17 BB12 GG12 KK05

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数の画素が連結された液晶パネルの欠
    陥修正方法であって、 前記連結された複数の画素のうちの特定の画素を除き他
    の画素と信号供給ラインとの間を電気的に切断し、前記
    特定の画素に供給される信号により前記他の画素を駆動
    することを特徴とする液晶パネルの欠陥修正方法。
  2. 【請求項２】 前記特定の画素は、前記連結された複数
    の画素のうち、光の透過率が最も高いカラーフィルタが
    設けられた画素であることを特徴とする請求項１に記載
    の液晶パネルの欠陥修正方法。
  3. 【請求項３】 欠陥が発生した画素の画素電極を、隣接
    する画素の画素電極と電気的に接続する液晶パネルの欠
    陥修正方法において、 前記欠陥が発生した画素の画素電極を、隣接する画素の
    うち光の透過率が最も高いカラーフィルタが設けられた
    画素の画素電極に接続することを特徴とする液晶パネル
    の欠陥修正方法。
  4. 【請求項４】 欠陥が発生した画素の画素電極を、隣接
    する画素の画素電極と電気的に接続する液晶パネルの欠
    陥修正方法において、 前記欠陥が発生した画素の画素電極を、当該画素と同色
    のカラーフィルタが設けられた画素の画素電極に接続す
    ることを特徴とする液晶パネルの欠陥修正方法。
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