JP2001351094A - 電子ディスプレイの検査方法及びその装置 - Google Patents
電子ディスプレイの検査方法及びその装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子ディスプレイにライン状欠陥があった場
合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状欠陥を容易
に検出し、電子ディスプレイ表示面の傾きも容易に補正
することのできる電子ディスプレイ検査装置の実現を目
的とする。 【解決手段】 電子ディスプレイの表示面を撮像し、得
られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に
生ずる欠陥を検査する場合、上記電子ディスプレイに所
定の高輝度レベルの画枠を表示させて撮像し、得られた
画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれ
ぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上
下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出
し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの
検査領域を決定し、検査するようにしたもので、さら
に、各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電
子ディスプレイ表示面の撮像角度を調整するようにした
ものである。
合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状欠陥を容易
に検出し、電子ディスプレイ表示面の傾きも容易に補正
することのできる電子ディスプレイ検査装置の実現を目
的とする。 【解決手段】 電子ディスプレイの表示面を撮像し、得
られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に
生ずる欠陥を検査する場合、上記電子ディスプレイに所
定の高輝度レベルの画枠を表示させて撮像し、得られた
画像信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれ
ぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像信号の上
下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位置を検出
し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディスプレイの
検査領域を決定し、検査するようにしたもので、さら
に、各最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電
子ディスプレイ表示面の撮像角度を調整するようにした
ものである。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はプラズマディスプレ
イ等の電子ディスプレイの表示欠陥を、自動的に検査す
る電子ディスプレイ画質検査装置の改良に関するもので
ある。
イ等の電子ディスプレイの表示欠陥を、自動的に検査す
る電子ディスプレイ画質検査装置の改良に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】まず、従来技術の一例として、ＣＣＤカ
メラを使用したプラズマディスプレイの画質検査装置に
ついて、図４のブロック構成図、図５，図６の検査領域
検出の動作を説明するためのモニタ画面の模式図を用い
て説明する。１はプラズマディスプレイ等の電子ディス
プレイ装置、２はＣＣＤカメラ等の撮像部、３’は電子
ディスプレイ１に所定の画像を表示させる為の信号発生
器、４’は検査領域検出及び画素欠陥を検出する画像処
理部、５’は各種機器の制御及び検出した欠陥データを
管理記憶するパーソナルコンピュータ、６’は検査結果
を表示又は印字するカラーモニタ、プリンタ等の表示
部、７’は本検査装置の操作部である。従来方式では、
まず、プラズマディスプレイ１の全表示面が白色で表示
されるような表示パターン画像信号を信号発生器３’に
より出力し、その時のプラズマディスプレイ１の表示面
を、ＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画像信号を
画像処理部４’に送出する。画像処理部４’では、図５
に示すように、得られた白色の表示面画像の中央部(図
の座標(x0,y0))から、上下左右の４方向に輝度レベルの
低くなる座標位置を検出していく(ここでは、座標(xi,y
0),(x0,yj),(-xi,y0),(x0,-yj))。これにより、プラズ
マディスプレイ１の表示面の境界ライン(黒の太枠で表
示)を検出し、その座標から検査領域を検出・決定し、
当該検査領域内でのプラズマディスプレイ１の欠陥を、
得られる画像信号レベルに基づいて検査していた。
メラを使用したプラズマディスプレイの画質検査装置に
ついて、図４のブロック構成図、図５，図６の検査領域
検出の動作を説明するためのモニタ画面の模式図を用い
て説明する。１はプラズマディスプレイ等の電子ディス
プレイ装置、２はＣＣＤカメラ等の撮像部、３’は電子
ディスプレイ１に所定の画像を表示させる為の信号発生
器、４’は検査領域検出及び画素欠陥を検出する画像処
理部、５’は各種機器の制御及び検出した欠陥データを
管理記憶するパーソナルコンピュータ、６’は検査結果
を表示又は印字するカラーモニタ、プリンタ等の表示
部、７’は本検査装置の操作部である。従来方式では、
まず、プラズマディスプレイ１の全表示面が白色で表示
されるような表示パターン画像信号を信号発生器３’に
より出力し、その時のプラズマディスプレイ１の表示面
を、ＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画像信号を
画像処理部４’に送出する。画像処理部４’では、図５
に示すように、得られた白色の表示面画像の中央部(図
の座標(x0,y0))から、上下左右の４方向に輝度レベルの
低くなる座標位置を検出していく(ここでは、座標(xi,y
0),(x0,yj),(-xi,y0),(x0,-yj))。これにより、プラズ
マディスプレイ１の表示面の境界ライン(黒の太枠で表
示)を検出し、その座標から検査領域を検出・決定し、
当該検査領域内でのプラズマディスプレイ１の欠陥を、
得られる画像信号レベルに基づいて検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この為に、図５に示す
ように、プラズマディスプレイ１に断線等のライン欠陥
ｌDが生じ、表示面上に非点灯ラインが存在した場合
は、このラインが低輝度となるため、このライン欠陥ｌ
D部分を、上記検査領域の境界ラインと誤認識し、検査
領域を狭めてしまう。 そのため、このライン欠陥ｌD
部分より下側の表示面部分(図の斜線部分)の欠陥検出を
行わないという問題が有った。さらに、図６に示すよう
に、プラズマディスプレイ１に対しＣＣＤカメラ２が傾
いていた場合に、上記の様にして検出・決定した検査領
域から、実際の表示面部分がはみ出してしまい、欠陥検
出を行わない非検査領域が出来てしまう問題が有り、こ
れを補正する為には、複雑な補正処理が必要であった。
本発明はこれらの欠点を除去し、プラズマディスプレイ
の表示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥
があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状
の表示欠陥を容易に検出し、プラズマディスプレイとＣ
ＣＤカメラ間の傾きを容易に補正することのできる電子
ディスプレイ画質検査装置の実現を目的とする。
ように、プラズマディスプレイ１に断線等のライン欠陥
ｌDが生じ、表示面上に非点灯ラインが存在した場合
は、このラインが低輝度となるため、このライン欠陥ｌ
D部分を、上記検査領域の境界ラインと誤認識し、検査
領域を狭めてしまう。 そのため、このライン欠陥ｌD
部分より下側の表示面部分(図の斜線部分)の欠陥検出を
行わないという問題が有った。さらに、図６に示すよう
に、プラズマディスプレイ１に対しＣＣＤカメラ２が傾
いていた場合に、上記の様にして検出・決定した検査領
域から、実際の表示面部分がはみ出してしまい、欠陥検
出を行わない非検査領域が出来てしまう問題が有り、こ
れを補正する為には、複雑な補正処理が必要であった。
本発明はこれらの欠点を除去し、プラズマディスプレイ
の表示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥
があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状
の表示欠陥を容易に検出し、プラズマディスプレイとＣ
ＣＤカメラ間の傾きを容易に補正することのできる電子
ディスプレイ画質検査装置の実現を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、電子ディスプレイの表示面を撮像し、得
られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に
生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法にお
いて、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画
枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大
輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に
基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検
査するようにしたものである。また、上記検出した各最
大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各
最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディ
スプレイ表示面の撮像角度を調整するようにしたもので
ある。さらに、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターンを表示させて撮像
し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づき
ライン状の欠陥を検出するようにしたものである。
成するために、電子ディスプレイの表示面を撮像し、得
られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に
生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法にお
いて、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画
枠を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向及び
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大
輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に
基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検
査するようにしたものである。また、上記検出した各最
大輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各
最大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディ
スプレイ表示面の撮像角度を調整するようにしたもので
ある。さらに、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターンを表示させて撮像
し、得られた画像信号の縦方向及び横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号に基づき
ライン状の欠陥を検出するようにしたものである。
【０００５】また、電子ディスプレイ表示面を撮像し、
得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素
に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置に
おいて、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レ
ベルの画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディ
スプレイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段によ
り得られた画像信号の縦方向および横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該
画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座
標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子デ
ィスプレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ
表示面を検査する画像処理手段を有するものである。ま
た、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベ
ル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなる
ように、上記電子ディスプレイ表示面に対する上記撮像
手段の撮像角度を調整する手段を有するものである。更
に、上記信号発生手段は、上記電子ディスプレイの検査
領域の決定後、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターン画像信号を出力する
ものであり、上記画像処理手段は、この時得られた画像
信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ
積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を
検出するものである。その結果、電子ディスプレイ表示
面の検査領域を正確に検出することができ、電子ディス
プレイに対する撮像手段の傾き補正も容易に行うことが
できる。さらに、表示ラインの断線、短絡等によるライ
ン状欠陥も容易に検出が可能となる。
得られた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素
に生ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置に
おいて、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レ
ベルの画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディ
スプレイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段によ
り得られた画像信号の縦方向および横方向における画素
レベルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該
画像信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座
標位置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子デ
ィスプレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ
表示面を検査する画像処理手段を有するものである。ま
た、上記検出した各最大輝度レベル値が所定の輝度レベ
ル以下の場合、当該各最大輝度レベル値が最も高くなる
ように、上記電子ディスプレイ表示面に対する上記撮像
手段の撮像角度を調整する手段を有するものである。更
に、上記信号発生手段は、上記電子ディスプレイの検査
領域の決定後、上記電子ディスプレイに全表示面が所定
の高輝度レベルとなる表示パターン画像信号を出力する
ものであり、上記画像処理手段は、この時得られた画像
信号の縦方向及び横方向における画素レベルをそれぞれ
積算し、得られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を
検出するものである。その結果、電子ディスプレイ表示
面の検査領域を正確に検出することができ、電子ディス
プレイに対する撮像手段の傾き補正も容易に行うことが
できる。さらに、表示ラインの断線、短絡等によるライ
ン状欠陥も容易に検出が可能となる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の電子ディスプレイ
検査装置の一実施例を、プラズマディスプレイの検査装
置を例にして、図１により説明する。１はプラズマディ
スプレイ等の電子ディスプレイ装置、２はＣＣＤカメラ
等の撮像部、３はプラズマディスプレイに所定画像を表
示させるための信号発生器、４は検査領域検出及び画素
欠陥を検出する画像処理部、５は各種機器の制御及び検
出した欠陥データを管理記憶するパーソナルコンピュー
タ、６は検査結果を表示又は印字するカラーモニタ、プ
リンタ等の表示部、７は本検査装置の操作部、８はプラ
ズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾きを補
正する回転機構である。以下、この動作について、図１
〜図３を用いて詳細に説明する。本方式では、まず、図
２のモニタ画面の模式図に示す様に、例えば、プラズマ
ディスプレイ表示面の一番外側の１画素ラインで囲まれ
た画枠部分のみが高輝度レベルとなる、例えば白色で表
示されるような表示パターンの画像信号を、信号発生器
３で発生し、プラズマディスプレイ１に出力する。な
お、図２では、図面表示を簡略化するため、白と黒を反
転し、白色で表示される表示面の一番外側の１画素ライ
ンで囲まれた画枠部分を黒の太枠で表示し、他の低輝度
レベル部分を白色で表示しているが、実際は図の右側及
び下側に表示の波形のように、画枠部分が高輝度レベル
で、他の部分が低輝度レベルとなる。
検査装置の一実施例を、プラズマディスプレイの検査装
置を例にして、図１により説明する。１はプラズマディ
スプレイ等の電子ディスプレイ装置、２はＣＣＤカメラ
等の撮像部、３はプラズマディスプレイに所定画像を表
示させるための信号発生器、４は検査領域検出及び画素
欠陥を検出する画像処理部、５は各種機器の制御及び検
出した欠陥データを管理記憶するパーソナルコンピュー
タ、６は検査結果を表示又は印字するカラーモニタ、プ
リンタ等の表示部、７は本検査装置の操作部、８はプラ
ズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾きを補
正する回転機構である。以下、この動作について、図１
〜図３を用いて詳細に説明する。本方式では、まず、図
２のモニタ画面の模式図に示す様に、例えば、プラズマ
ディスプレイ表示面の一番外側の１画素ラインで囲まれ
た画枠部分のみが高輝度レベルとなる、例えば白色で表
示されるような表示パターンの画像信号を、信号発生器
３で発生し、プラズマディスプレイ１に出力する。な
お、図２では、図面表示を簡略化するため、白と黒を反
転し、白色で表示される表示面の一番外側の１画素ライ
ンで囲まれた画枠部分を黒の太枠で表示し、他の低輝度
レベル部分を白色で表示しているが、実際は図の右側及
び下側に表示の波形のように、画枠部分が高輝度レベル
で、他の部分が低輝度レベルとなる。
【０００７】次に、その時のプラズマディスプレイ１の
表示面を、ＣＣＤカメラ２によって撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。画像処理部４では、
図２のモニタ画面の右側及び下側に表示の波形の模式図
に示すように、この画像信号を縦方向および横方向に積
算し、該積算したそれぞれの信号波形から、上下左右の
各最大レベル位置(Ｕmax,Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)を算出
し、対応する４つの座標位置((xL,yU),(xL,yD),(xR,
yU),(xR,yD))で囲まれた部分を検査領域として決定す
る。次に、例えば、プラズマディスプレイ１の全表示面
が白色で表示されるような表示パターン画像信号を信号
発生器３により出力し、その時のプラズマディスプレイ
１の表示面をＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。そして、画像処理部
４では、検出した検査領域内における画像信号のレベル
を検出して、表示面の欠陥検査(点灯画素、消灯画素等
の検出)を行う。 例えば、画像信号の縦方向と横方向
の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積
算後、闘値と判定することにより、表示ラインの断線、
短絡等によるライン状欠陥の検出を行う。 そして、該
検査結果をパーソナルコンピュータ５へ送出する。パー
ソナルコンピュータ５では、これらの欠陥データを記憶
・管理し、表示部６へ送出する。 表示部６では、上記
の検査結果を表示し、必要に応じてプリンタ等に印字を
行う。 なお、操作部７は、上記した測定開始、停止等
の制御及び検査手順の設定を行うものである。以上の様
にして、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検
出後、表示面の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づ
いて検査することができる。
表示面を、ＣＣＤカメラ２によって撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。画像処理部４では、
図２のモニタ画面の右側及び下側に表示の波形の模式図
に示すように、この画像信号を縦方向および横方向に積
算し、該積算したそれぞれの信号波形から、上下左右の
各最大レベル位置(Ｕmax,Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)を算出
し、対応する４つの座標位置((xL,yU),(xL,yD),(xR,
yU),(xR,yD))で囲まれた部分を検査領域として決定す
る。次に、例えば、プラズマディスプレイ１の全表示面
が白色で表示されるような表示パターン画像信号を信号
発生器３により出力し、その時のプラズマディスプレイ
１の表示面をＣＣＤカメラ２により撮像し、得られた画
像信号を画像処理部４に送出する。そして、画像処理部
４では、検出した検査領域内における画像信号のレベル
を検出して、表示面の欠陥検査(点灯画素、消灯画素等
の検出)を行う。 例えば、画像信号の縦方向と横方向
の縦方向および横方向における画素レベルをそれぞれ積
算後、闘値と判定することにより、表示ラインの断線、
短絡等によるライン状欠陥の検出を行う。 そして、該
検査結果をパーソナルコンピュータ５へ送出する。パー
ソナルコンピュータ５では、これらの欠陥データを記憶
・管理し、表示部６へ送出する。 表示部６では、上記
の検査結果を表示し、必要に応じてプリンタ等に印字を
行う。 なお、操作部７は、上記した測定開始、停止等
の制御及び検査手順の設定を行うものである。以上の様
にして、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検
出後、表示面の欠陥を、得られる画像信号レベルに基づ
いて検査することができる。
【０００８】更に本発明では、回転機構８を有してお
り、プラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の
傾きを、以下のようにして補正することができる。即
ち、前述の検査領域の検出、決定処理において、図３に
示す様に、プラズマディスプレイ１に対してＣＣＤカメ
ラ２が傾いていた場合は、このとき得られた画像信号を
縦方向及び横方向に積算すると、当該積算したそれぞれ
の信号波形における上下左右の各最大レベル値(Ｕmax,
Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)が、図２の場合に比べて低く、旦つ
信号波形の山の幅が広がる。そこで、このことを利用
し、上記それぞれの最大レベルが最も大きくなるよう
に、回転機構８を制御することにより、プラズマディス
プレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾き補正を行うこと
ができる。そして、この傾き補正後、前述のようにし
て、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検出
し、プラズマディスプレイ１の表示面の欠陥を、得られ
る画像信号レベルに基づいて検査することができる。こ
れにより、プラズマディスプレイの表示面の検査領域を
正確に検出することができ、プラズマディスプレイに対
するＣＣＤカメラの傾き補正も、容易に行うことができ
る。 更に、表示ラインの断線、短絡等によるライン状
欠陥も容易に検出が可能となる。
り、プラズマディスプレイ１に対するＣＣＤカメラ２の
傾きを、以下のようにして補正することができる。即
ち、前述の検査領域の検出、決定処理において、図３に
示す様に、プラズマディスプレイ１に対してＣＣＤカメ
ラ２が傾いていた場合は、このとき得られた画像信号を
縦方向及び横方向に積算すると、当該積算したそれぞれ
の信号波形における上下左右の各最大レベル値(Ｕmax,
Ｄmax,Ｌmax,Ｒmax)が、図２の場合に比べて低く、旦つ
信号波形の山の幅が広がる。そこで、このことを利用
し、上記それぞれの最大レベルが最も大きくなるよう
に、回転機構８を制御することにより、プラズマディス
プレイ１に対するＣＣＤカメラ２の傾き補正を行うこと
ができる。そして、この傾き補正後、前述のようにし
て、プラズマディスプレイ１の検査領域を的確に検出
し、プラズマディスプレイ１の表示面の欠陥を、得られ
る画像信号レベルに基づいて検査することができる。こ
れにより、プラズマディスプレイの表示面の検査領域を
正確に検出することができ、プラズマディスプレイに対
するＣＣＤカメラの傾き補正も、容易に行うことができ
る。 更に、表示ラインの断線、短絡等によるライン状
欠陥も容易に検出が可能となる。
【０００９】
【発明の効果】本発明によれば、電子ディスプレイの表
示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥があ
った場合でも、正確に検査領域を検出することが可能と
なり、また、ライン状の表示欠陥も容易に検出できる。
また、電子ディスプレイに対するＣＣＤカメラ等の撮
像部の傾きも容易に補正することが可能となる。
示ラインの断線、短絡等によりライン状の表示欠陥があ
った場合でも、正確に検査領域を検出することが可能と
なり、また、ライン状の表示欠陥も容易に検出できる。
また、電子ディスプレイに対するＣＣＤカメラ等の撮
像部の傾きも容易に補正することが可能となる。
【図１】本発明による電子ディスプレイ検査装置の構成
の一実施例を示すブロック図
の一実施例を示すブロック図
【図２】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説
明する模式図
明する模式図
【図３】本発明による検査領域検出方式の処理動作を説
明する模式図
明する模式図
【図４】従来の電子ディスプレイ検査装置の構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図５】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する
模式図
模式図
【図６】従来の検査領域検出方式の処理動作を説明する
模式図
模式図
１：プラズマディスプレイ、２：撮像部（ＣＣＤカメ
ラ）、３：信号発生器、４：画像処理部、５：パーソナ
ルコンピュータ、６：表示部、７：操作部、８：回転機
構。
ラ）、３：信号発生器、４：画像処理部、５：パーソナ
ルコンピュータ、６：表示部、７：操作部、８：回転機
構。
Claims (6)
- 【請求項１】 電子ディスプレイ表示面を撮像し、得ら
れた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生
ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査方法におい
て、上記電子ディスプレイに所定の高輝度レベルの画枠
を表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方向および
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号から当該画像信号の上下左右それぞれで最大
輝度レベルとなる座標位置を検出し、当該各座標位置に
基づき、上記電子ディスプレイの検査領域を決定し、検
査することを特徴とする電子ディスプレイの検査方法。 - 【請求項２】 請求項１において、上記検出した各最大
輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最
大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディス
プレイ表示面の撮像角度を調整することを特徴とする電
子ディスプレイの検査方法。 - 【請求項３】 請求項１または２において、上記電子デ
ィスプレイに全表示面が所定の高輝度レベルとなる表示
パターンを表示させて撮像し、得られた画像信号の縦方
向及び横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得
られた各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するこ
とを特徴とする電子ディスプレイ検査方法。 - 【請求項４】 電子ディスプレイ表示面を撮像し、得ら
れた画像信号に基づき電子ディスプレイの表示画素に生
ずる欠陥を検査する電子ディスプレイの検査装置におい
て、上記電子ディスプレイ表示面に所定の高輝度レベル
の画枠を表示させる信号発生手段と、当該電子ディスプ
レイ表示面を撮像する撮像手段と、該撮像手段により得
られた画像信号の縦方向および横方向における画素レベ
ルをそれぞれ積算し、得られた各積算信号から当該画像
信号の上下左右それぞれで最大輝度レベルとなる座標位
置を検出し、当該各座標位置に基づき、上記電子ディス
プレイの検査領域を決定し、上記電子ディスプレイ表示
面を検査する画像処理手段を有することを特徴とする電
子ディスプレイの検査装置。 - 【請求項５】 請求項４において、上記検出した各最大
輝度レベル値が所定の輝度レベル以下の場合、当該各最
大輝度レベル値が最も高くなるように、上記電子ディス
プレイ表示面に対する上記撮像手段の撮像角度を調整す
る手段を有することを特徴とする電子ディスプレイの検
査装置。 - 【請求項６】 請求項４または５において、上記信号発
生手段を、上記電子ディスプレイの検査領域の決定後、
上記電子ディスプレイに全表示面が所定の高輝度レベル
となる表示パターン画像信号を出力するものとし、上記
画像処理手段を、この時得られた画像信号の縦方向及び
横方向における画素レベルをそれぞれ積算し、得られた
各積算信号に基づきライン状の欠陥を検出するものとし
たことを特徴とする電子ディスプレイ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000173085A JP3846840B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 電子ディスプレイの検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000173085A JP3846840B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 電子ディスプレイの検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP2001351094A true JP2001351094A (ja) | 2001-12-21 |
| JP3846840B2 JP3846840B2 (ja) | 2006-11-15 |
Family
ID=18675377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000173085A Expired - Fee Related JP3846840B2 (ja) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | 電子ディスプレイの検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3846840B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101996543A (zh) * | 2009-08-25 | 2011-03-30 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 缺陷像素地址检测方法以及检测装置 |
| CN109712547A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-05-03 | 深圳市巨烽显示科技有限公司 | 一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质 |
-
2000
- 2000-06-09 JP JP2000173085A patent/JP3846840B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101996543A (zh) * | 2009-08-25 | 2011-03-30 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 缺陷像素地址检测方法以及检测装置 |
| CN101996543B (zh) * | 2009-08-25 | 2013-06-19 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 缺陷像素地址检测方法以及检测装置 |
| CN109712547A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-05-03 | 深圳市巨烽显示科技有限公司 | 一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3846840B2 (ja) | 2006-11-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060808 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100901 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901 Year of fee payment: 6 |
|
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