KR20200081541A - 촬상 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

촬상 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20200081541A
KR20200081541A KR1020180170116A KR20180170116A KR20200081541A KR 20200081541 A KR20200081541 A KR 20200081541A KR 1020180170116 A KR1020180170116 A KR 1020180170116A KR 20180170116 A KR20180170116 A KR 20180170116A KR 20200081541 A KR20200081541 A KR 20200081541A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image data
image
image sensor
measurement
measurement area
Prior art date
Application number
KR1020180170116A
Other languages
English (en)
Inventor
방종욱
이주영
김진원
송선향
이명희
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020180170116A priority Critical patent/KR20200081541A/ko
Priority to CN201910788930.0A priority patent/CN111385447B/zh
Priority to US16/707,597 priority patent/US11321811B2/en
Publication of KR20200081541A publication Critical patent/KR20200081541A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T3/00Geometric image transformations in the plane of the image
    • G06T3/40Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
    • H04N5/225
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/54Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/10Segmentation; Edge detection
    • G06T7/11Region-based segmentation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/10Segmentation; Edge detection
    • G06T7/174Segmentation; Edge detection involving the use of two or more images
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/665Control of cameras or camera modules involving internal camera communication with the image sensor, e.g. synchronising or multiplexing SSIS control signals
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10004Still image; Photographic image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10024Color image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20Special algorithmic details
    • G06T2207/20112Image segmentation details
    • G06T2207/20132Image cropping
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2210/00Indexing scheme for image generation or computer graphics
    • G06T2210/22Cropping

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

촬상 장치는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 이미지 센서 및 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역을 결정하고, 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성하는 이미지 처리부를 포함한다.

Description

촬상 장치 및 이의 구동 방법 {IMAGING APPARATUS AND DRIVING METHOD OF THE SAME}
본 발명은 촬상 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
표시 장치의 제조 공정에서 촬상 장치를 이용하여 표시 패널의 불량을 검출할 수 있다. 촬상 장치는 표시 패널의 표면을 촬영하여 영상을 분석 장치로 출력할 수 있다. 촬상 장치의 촬상 범위가 표시 패널의 면적보다 넓은 경우, 상기 분석 장치는 알고리즘을 이용하여 상기 촬상 장치에서 출력되는 영상 중 표시 패널 주변부의 영상을 제거하는 크로핑(cropping)을 수행할 수 있다. 이 경우, 촬상 장치에서 전송되는 데이터 양 및 데이터 처리 시간이 증가하는 문제점이 있다.
본 발명의 일 목적은 출력되는 크롭(crop) 영상 데이터를 출력하는 촬상 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 크롭 영상 데이터를 출력하는 촬상 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
그러나, 본 발명이 목적은 상술한 목적으로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 이미지 센서 및 상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하고, 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성하는 이미지 처리부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 처리부는 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 동작시키는 이미지 센서 제어 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널이 제1 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 센서는 상기 측정 영역을 포함하는 상기 기준 영상 데이터를 생성하고, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널이 제2 테스트 패턴을 표시 하는 경우, 상기 이미지 센서는 상기 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 상기 측정 영역의 상기 측정 영상 데이터를 생성하고, 상기 이미지 처리부는 상기 이미지 센서에서 제공되는 상기 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영역을 결정하는 측정 영역 결정부, 상기 크롭 영상 데이터를 생성하는 크롭 영상 데이터 생성부 및 상기 측정 영역에 기초하여 상기 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 제어 신호 생성부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널이 제1 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성하고, 상기 표시 패널이 제2 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제2 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영역을 결정하는 측정 영역 결정부 및 상기 제1 크롭 영상 데이터 및 상기 제2 크롭 영상 데이터 각각을 생성하는 크롭 영상 데이터 생성부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 처리부는 분석 장치와 연결되고, 상기 분석 장치는 상기 크롭 영상 데이터에 상응하는 크롭 영상을 표시할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널에 제1 테스트 패턴을 표시하는 단계, 이미지 센서를 이용하여 상기 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 단계, 상기 기준 영상 데이터를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하는 단계, 상기 기준 영상 데이터 및 상기 측정 영역에 기초하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터 및 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 단계, 상기 표시 패널에 제2 테스트 패턴을 표시하는 단계, 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 이용하여 상기 측정 영역의 상기 측정 영상 데이터를 생성하는 단계 상기 이미지 센서에서 제공되는 상기 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 이용하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 생성하는 단계는 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 동작시키는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 측정 영역을 결정하는 단계는 상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서일 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널에 테스트 패턴을 표시하는 단계, 이미지 센서를 이용하여 상기 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 단계, 상기 기준 영상 데이터를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하는 단계 및 상기 기준 영상 데이터 및 상기 측정 영역에 기초하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 측정 영역을 결정하는 단계는 상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 이미지 센서는 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서일 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치 및 이의 구동 방법은 표시 패널이 위치한 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하고, 기준 영상 데이터의 휘도에 기초하여 측정 영역을 검출하며, 기준 영상 데이터를 크롭(crop)하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 나타내는 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 또한, 측정 영역의 이미지 센서만을 동작시킴으로써, 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 촬상 장치에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 촬상 장치에 포함되는 이미지 센서의 촬영 범위를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 촬상 장치에 포함되는 이미지 처리부를 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 1의 촬상 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예들에 따른 촬상 장치를 나타내는 블록도이다.
도 6은 도 5의 촬상 장치에 포함되는 이미지 처리부를 나타내는 블록도이다.
도 7은 도 5의 촬상 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치를 나타내는 블록도이다. 도 2는 도 1의 촬상 장치에 포함되는 이미지 센서의 촬영 범위를 나타내는 도면이다. 도 3은 도 1의 촬상 장치에 포함되는 이미지 처리부를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치(100)는 이미지 센서(120) 및 이미지 처리부(140)를 포함할 수 있다. 도 1의 촬상 장치(100)는 분석 장치(200)와 연결될 수 있다.
이미지 센서(120)는 표시 패널이 위치하는 측정 영역(MA)을 포함하는 기준 영역(RA)의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성할 수 있다. 도 2를 참조하면, 기준 영역(RA)은 측정 영역(MA)을 포함할 수 있다. 측정 영역(MA)에는 표시 패널이 위치할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널은 액정 표시(Liquid Crystal Display; LCD) 패널, 전계 방출 표시(Field Emission Display; FED) 패널, 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel; PDP), 유기 발광 표시(Organic Light Emitting Display; OLED) 패널 중 하나일 수 있다. 측정 영역(MA)의 크기는 표시 패널의 크기에 따라 달라질 수 있다. 이미지 센서(120)는 기준 영역(RA)의 영상 정보를 포함하는 광 신호를 전기적인 신호로 변환할 수 있다. 일 실시예에서, 이미지 센서(120)는 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서일 수 있다. 다른 실시예에서, 이미지 센서(120)는CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서일 수 있다. 이미지 센서(120)는 기준 영역(RA)의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성할 수 있다.
이미지 처리부(140)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도를 분석하여 측정 영역(MA)을 결정하고, 측정 영역(MA)의 측정 영상 데이터(MIMG)를 포함하는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다.
도 3을 참조하면, 이미지 처리부(140)는 측정 영역 결정부(142), 크롭 영상 데이터 생성부(144) 및 제어 신호 생성부(146)를 포함할 수 있다.
측정 영역 결정부(142)는 이미지 센서(120)로부터 기준 영상 데이터(RIMG)를 수신할 수 있다. 측정 영역 결정부(142)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도를 분석하여 측정 영역(MA)을 검출할 수 있다. 측정 영역(MA)에 표시 패널이 위치하고, 표시 패널이 테스트 패턴을 표시하는 경우, 표시 패널이 위치하지 않은 영역과 표시 패널이 위치한 측정 영역(MA)의 휘도 차이가 발생할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널이 백색의 테스트 패턴을 표시하는 경우, 표시 패널이 위치하지 않은 영역은 흑색을 나타내고, 표시 패널이 위치한 측정 영역(MA)은 백색을 나타낼 수 있다. 측정 영역 결정부(142)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도 차를 이용하여 측정 영역(MA)을 검출할 수 있다.
크롭 영상 데이터 생성부(144)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 측정 영역(MA) 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다. 즉, 크롭 영상 데이터 생성부(144)는 기준 영상 데이터(RIMG) 중 측정 영역(MA)에 상응하는 영상 데이터를 남기고, 측정 영역(MA)을 둘러싸는 주변 영역의 영상 데이터를 크롭(crop)시킬 수 있다. 크롭 영상 데이터 생성부(144)는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 분석 장치(200)로 출력할 수 있다.
분석 장치(200)는 이미지 처리부(140)에서 제공되는 크롭 영상 데이터(CIMG)에 상응하는 크롭 영상을 표시하고, 상기 크롭 영상을 분석하여 불량 등을 검출할 수 있다.
제어 신호 생성부(146)는 측정 영역(MA)에 상응하는 이미지 센서(120)를 동작시키는 이미지 센서 제어 신호(ISCTL)를 생성할 수 있다. 제어 신호 생성부(146)는 이미지 센서 제어 신호(ISCTL)를 이미지 센서(120)에 공급할 수 있다. 제어 신호 생성부(146)에서 제공되는 이미지 센서 제어 신호(ISCTL)에 기초하여 이미지 센서(120) 중 상기 측정 영역(MA)에 상응하는 위치의 이미지 센서(120)가 동작할 수 있다. 이미지 센서(120)는 측정 영역(MA)의 측정 영상 데이터(MIMG)를 이미지 처리부(140)의 크롭 영상 데이터 생성부(144)에 제공할 수 있다. 크롭 영상 데이터 생성부(144)는 측정 영상 데이터(MIMG)를 크롭 영상 데이터(CIMG)로써 분석 장치(200)로 출력할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치(100)는 측정 영역(MA)을 포함하는 기준 영역(RA)의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성하고, 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도에 기초하여 측정 영역(MA)을 검출하며, 측정 영역(MA)의 이미지 센서(120)를 동작시킴으로써, 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다. 따라서, 촬상 장치(100)에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 4는 도 1의 촬상 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 4를 참조하면, 표시 패널이 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN)은 측정 영역과 측정 영역의 주변 영역의 휘도 차를 명확하게 하기 위한 백색 영상일 수 있다. 이미지 처리부는 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 제1 크롭 영상을 분석 장치로 제공할 수 있다. 분석 장치는 제1 크롭 영상 데이터에 상응하는 제1 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제1 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다. 또한, 이미지 처리부는 측정 영역에 상응하는 이미지 센서를 동작시키는 이미지 센서 제어 신호를 생성할 수 있다.
표시 패널이 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 분석 장치에 제공할 수 있다. 분석 장치는 제2 크롭 영상 데이터에 상응하는 제2 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제2 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
표시 패널이 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 측정 영역의 측정 영역 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 측정 영상 데이터를 제3 크롭 영상 데이터로써 분석 장치에 제공할 수 있다. 분석 장치는 제3 크롭 영상 데이터에 상응하는 제3 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제3 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
표시 패널이 제 4 테스트 패턴을 표시하는 경우, 이미지 센서는 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 측정 영역의 측정 영역 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 측정 영상 데이터를 제4 크롭 영상 데이터로써 분석 장치에 제공할 수 있다. 분석 장치는 제4 크롭 영상 데이터에 상응하는 제4 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제4 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
예를 들어, 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN)은 백색 영상이고, 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN)은 적색 영상이며, 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN)은 녹색 영상이고, 제4 테스트 패턴(4TH TEST PATTERN)은 청색 영상일 수 있다. 또는, 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN), 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN), 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN) 및 제4 테스트 패턴(4TH TEST PATTERN)은 스트라이프(stripe) 또는 격자 모양을 포함하는 패턴일 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치는 첫 번째 구동 시, 기준 영상 데이터를 생성하고, 기준 영상 데이터의 휘도에 기초하여 측정 영역을 검출하며, 이 후 측정 영역의 이미지 센서를 동작시킴으로써, 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 촬상 장치에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예들에 따른 촬상 장치를 나타내는 블록도이다. 도 6은 도 5의 촬상 장치에 포함되는 이미지 처리부를 나타내는 블록도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치(300)는 이미지 센서(320) 및 이미지 처리부(340)를 포함할 수 있다. 도 5의 촬상 장치(300)는 분석 장치(400)와 연결될 수 있다.
이미지 센서(320)는 표시 패널이 위치하는 측정 영역(MA)을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성할 수 있다. 이미지 센서(320)는 기준 영역의 영상 정보를 포함하는 광 신호를 전기적인 신호로 변환할 수 있다. 일 실시예에서, 이미지 센서(320)는 CCD 이미지 센서일 수 있다. 다른 실시예에서, 이미지 센서(320)는 CMOS 이미지 센서일 수 있다. 이미지 센서(320)는 기준 영역의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성할 수 있다.
이미지 처리부(340)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도를 분석하여 측정 영역(MA)을 결정하고, 측정 영역(MA)의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다.
도 6을 참조하면, 이미지 처리부(340)는 측정 영역 결정부(342) 및 크롭 영상 데이터 생성부(344)를 포함할 수 있다.
측정 영역 결정부(342)는 이미지 센서(320)로부터 기준 영상 데이터(RIMG)를 수신할 수 있다. 측정 영역 결정부(342)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도를 분석하여 측정 영역(MA)을 분석할 수 있다. 측정 영역(MA)에 표시 패널이 위치하고, 표시 패널이 테스트 패턴을 표시하는 경우, 표시 패널이 위치하지 않은 영역과 표시 패널이 위치한 측정 영역(MA)의 휘도 차이가 발생할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널이 백색의 테스트 패턴을 표시하는 경우, 표시 패널이 위치하지 않은 영역은 흑색을 나타내고, 표시 패널이 위치한 측정 영역(MA)은 백색을 나타낼 수 있다. 측정 영역 결정부(342)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도 차를 이용하여 측정 영역(MA)을 검출할 수 있다.
크롭 영상 데이터 생성부(344)는 기준 영상 데이터(RIMG)의 측정 영역(MA) 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다. 즉, 크롭 영상 데이터 생성부(344)는 기준 영상 데이터(RIMG) 중 측정 영역(MA)에 상응하는 영상 데이터를 남기고, 측정 영역(MA)을 둘러싸는 주변 영역의 영상 데이터를 크롭시킬 수 있다. 크롭 영상 데이터 생성부(344)는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 분석 장치(400)로 출력할 수 있다.
분석 장치(400)는 이미지 처리부(340)에서 제공되는 크롭 영상 데이터(CIMG)에 상응하는 크롭 영상을 표시하고, 상기 크롭 영상을 분석하여 불량 등을 검출할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치(300)는 측정 영역(MA)을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터(RIMG)를 생성하고, 기준 영상 데이터(RIMG)의 휘도에 기초하여 측정 영역(MA)을 검출하며, 기준 영상 데이터(RIMG)를 크롭하여 측정 영역(MA)의 측정 영상 데이터를 나타내는 크롭 영상 데이터(CIMG)를 생성할 수 있다. 따라서, 촬상 장치(300)에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 7은 도 5의 촬상 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 7을 참조하면, 표시 패널이 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 제1 크롭 영상을 분석 장치로 제공할 수 있다. 분석 장치는 제1 크롭 영상 데이터에 상응하는 제1 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제1 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
표시 패널이 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제2 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 제2 크롭 영상을 분석 장치로 제공할 수 있다. 분석 장치는 제2 크롭 영상 데이터에 상응하는 제2 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제2 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
표시 패널이 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제3 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 제3 크롭 영상을 분석 장치로 제공할 수 있다. 분석 장치는 제3 크롭 영상 데이터에 상응하는 제3 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제3 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
표시 패널이 제4 테스트 패턴(4TH TEST PATTERN)을 표시하는 경우, 이미지 센서는 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제4 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 이미지 처리부는 제4 크롭 영상을 분석 장치로 제공할 수 있다. 분석 장치는 제4 크롭 영상 데이터에 상응하는 제4 크롭 영상을 표시부에 표시하고, 상기 제4 크롭 영상의 불량 등을 검출할 수 있다.
예를 들어, 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN)은 백색 영상이고, 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN)은 적색 영상이며, 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN)은 녹색 영상이고, 제4 테스트 패턴(4TH TEST PATTERN)은 청색 영상일 수 있다. 또는, 제1 테스트 패턴(1ST TEST PATTERN), 제2 테스트 패턴(2ND TEST PATTERN), 제3 테스트 패턴(3RD TEST PATTERN) 및 제4 테스트 패턴(4TH TEST PATTERN)은 스트라이프(stripe) 또는 격자 모양을 포함하는 패턴일 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치는 기준 영상 데이터를 생성하고, 기준 영상 데이터의 휘도에 기초하여 측정 영역을 검출하며, 기준 영상 데이터를 크롭하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 나타내는 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 촬상 장치에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 8을 참조하면, 촬상 장치의 구동 방법은 제1 테스트 패턴을 표시하는 단계(S100), 기준 영상 데이터를 생성하는 단계(S110), 측정 영역을 결정하는 단계(S120), 제1 크롭 영상 데이터 및 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 단계(S130), 제2 테스트 패턴을 표시하는 단계(S140), 측정 영상 데이터를 생성하는 단계(S150) 및 제2 크롭 영상 데이터를 출력하는 단계(S160)를 포함할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널에 제1 테스트 패턴을 표시(S100)할 수 있다. 표시 패널은 이미지 센서가 촬상하는 기준 영역 중 측정 영역에 위치할 수 있다. 표시 패널은 제1 테스트 패턴을 표시할 수 있다. 예를 들어, 제1 테스트 패턴은 백색 영상일 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 이미지 센서를 이용하여 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성(S110)할 수 있다. 이미지 센서는 기준 영역의 영상 정보를 포함하는 광 신호를 전기적인 신호로 변환할 수 있다. 예를 들어, 이미지 센서는 CCD 이미지 센서 또는 CMOS 이미지 센서일 수 있다. 이미지 센서는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터를 분석하여 측정 영역을 결정(S120)할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 이미지 센서로부터 기준 영상 데이터를 수신할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역을 결정할 수 있다. 예를 들어, 촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널이 제1 테스트 패턴을 표시하는 측정 영역과 상기 측정 영역을 둘러싸는 주변 영역의 휘도 차에 기초하여 측정 영역을 결정할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터 및 측정 영역에 기초하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터 및 이미지 센서 제어 신호를 생성(S130)할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터 중 측정 영역에 상응하는 영상 데이터를 남기고, 측정 영역을 둘러싸는 주변 영역의 영상 데이터를 크롭시켜 제1 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 제1 크롭 영상 데이터를 분석 장치로 출력할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 상기 분석 장치의 표시부에 제1 크롭 영상 데이터에 상응하는 제1 크롭 영상을 표시하고, 표시 패널의 불량을 검출할 수 있다. 또한, 촬상 장치의 구동 방법은 측정 영역에 상응하는 이미지 센서를 동작시키는 이미지 센서 제어 신호를 생성할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널에 제2 테스트 패턴을 표시(S140)할 수 있다. 예를 들어, 제2 테스트 패턴은 적색 영상, 녹색 영상, 청색 영상, 스트라이프 또는 격자 모양을 포함하는 영상일 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 측정 영역에 상응하는 이미지 센서를 이용하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 생성(S150)할 수 있다. 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 이미지 센서 중 측정 영역에 상응하는 위치의 이미지 센서를 동작시킬 수 있다. 즉, 촬상 장치의 구동 방법은 측정 영역에 상응하는 위치의 이미지 센서를 이용하여 측정 영역을 둘러싸는 주변 영역의 영상 데이터가 크롭된 측정 영상 데이터를 생성할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 이미지 센서에서 제공되는 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 출력(S160)할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 제2 크롭 영상 데이터를 분석 장치로 출력할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 상기 분석 장치의 표시부에 제2 크롭 영상 데이터에 상응하는 제2 크롭 영상을 표시하고, 표시 패널의 불량을 검출할 수 있다.
상술한 바와 같이, 촬상 장치의 구동 방법은 제1 테스트 패턴을 표시하는 표시 패널의 기준 영상 데이터를 생성하고, 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 측정 영역을 결정하며, 기준 영상 데이터 및 측정 영역에 기초하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 나타내는 제1 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 또한, 표시 패널에 제2 테스트 패턴을 표시하고, 측정 영역의 이미지 센서를 동작시키며, 측정 영역의 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로 출력할 수 있다. 따라서, 본 발명의 촬상 장치의 구동 방법은 촬상 장치에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예들에 따른 촬상 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 9를 참조하면, 촬상 장치의 구동 방법은 테스트 패턴을 표시하는 단계(S200), 기준 영상 데이터를 생성하는 단계(S210), 측정 영역을 결정하는 단계(S220) 및 크롭 영상 데이터를 생성하는 단계(S230)를 포함할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널에 테스트 패턴을 표시(S200)할 수 있다. 표시 패널은 이미지 센서가 촬상하는 기준 영역 중 측정 영역에 위치할 수 있다. 표시 패널은 테스트 패턴을 표시할 수 있다. 예를 들어, 테스트 패턴은 백색 영상일 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 이미지 센서를 이용하여 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성(S210)할 수 있다. 이미지 센서는 기준 영역의 영상 정보를 포함하는 광 신호를 전기적인 신호로 변환할 수 있다. 예를 들어, 이미지 센서는 CCD 이미지 센서 또는 CMOS 이미지 센서일 수 있다. 이미지 센서는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터를 분석하여 측정 영역을 결정(S220)할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 이미지 센서로부터 기준 영상 데이터를 수신할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 측정 영역을 결정할 수 있다. 예를 들어, 촬상 장치의 구동 방법은 표시 패널이 표시 패널이 테스트 패널을 표시하는 측정 영역과 상기 측정 영역을 둘러싸는 주변 영역의 휘도 차에 기초하여 측정 영역을 결정할 수 있다.
촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터 및 측정 영역에 기초하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성(S230)할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 기준 영상 데이터 중 측정 영역에 상응하는 영상 데이터를 남기고, 측정 영역을 둘러싸는 주변 영역의 영상 데이터를 크롭시켜 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 크롭 영상 데이터를 분석 장치로 출력할 수 있다. 촬상 장치의 구동 방법은 상기 분석 장치의 표시부에 크롭 영상 데이터에 상응하는 크롭 영상을 표시하고, 표시 패널의 불량을 검출할 수 있다.
상술한 바와 같이, 촬상 장치의 구동 방법은 테스트 패턴을 표시하는 표시 패널의 기준 영상 데이터를 생성하고, 기준 영상 데이터에 기초하여 측정 영역을 결정하며, 기준 영상 데이터 및 측정 영역에 기초하여 측정 영역의 측정 영상 데이터를 나타내는 크롭 영상 데이터를 생성할 수 있다. 따라서, 본 발명의 촬상 장치의 구동 방법은 촬상 장치에서 출력되는 데이터의 양 및 데이터 처리 속도를 감소시킬 수 있다.
본 발명은 표시 패널을 촬영하는 모든 장비에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 액정 표시(Liquid Crystal Display; LCD) 패널, 전계 방출 표시(Field Emission Display; FED) 패널, 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel; PDP), 유기 발광 표시(Organic Light Emitting Display; OLED) 패널 등의 검사 장치에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100, 300: 촬상 장치 120, 320: 이미지 센서
140, 340: 이미지 처리부 142, 342: 측정 영역 결정부
144, 344: 크롭 이미지 데이터 생성부
146: 제어 신호 생성부 200, 400: 분석 장치

Claims (19)

  1. 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 이미지 센서; 및
    상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하고, 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성하는 이미지 처리부를 포함하는 촬상 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 이미지 처리부는 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 동작시키는 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  3. 제2 항에 있어서, 상기 표시 패널이 제1 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 센서는 상기 측정 영역을 포함하는 상기 기준 영상 데이터를 생성하고, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 표시 패널이 제2 테스트 패턴을 표시 하는 경우, 상기 이미지 센서는 상기 이미지 센서 제어 신호에 기초하여 상기 측정 영역의 상기 측정 영상 데이터를 생성하고, 상기 이미지 처리부는 상기 이미지 센서에서 제공되는 상기 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 출력하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  5. 제2 항에 있어서, 상기 이미지 처리부는
    상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영역을 결정하는 측정 영역 결정부;
    상기 크롭 영상 데이터를 생성하는 크롭 영상 데이터 생성부; 및
    상기 측정 영역에 기초하여 상기 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 제어 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 표시 패널이 제1 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터를 생성하고,
    상기 표시 패널이 제2 테스트 패턴을 표시하는 경우, 상기 이미지 처리부는 상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영상 데이터를 포함하는 제2 크롭 영상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 이미지 처리부는
    상기 기준 영상 데이터에 기초하여 상기 측정 영역을 결정하는 측정 영역 결정부; 및
    상기 제1 크롭 영상 데이터 및 상기 제2 크롭 영상 데이터 각각을 생성하는 크롭 영상 데이터 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 이미지 센서는CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 이미지 센서는 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  10. 제1 항에 있어서, 상기 이미지 처리부는 분석 장치와 연결되고, 상기 분석 장치는 상기 크롭 영상 데이터에 상응하는 크롭 영상을 표시하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
  11. 표시 패널에 제1 테스트 패턴을 표시하는 단계;
    이미지센서를 이용하여 상기 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 기준 영상 데이터를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하는 단계;
    상기 기준 영상 데이터 및 상기 측정 영역에 기초하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 제1 크롭 영상 데이터 및 이미지 센서 제어 신호를 생성하는 단계;
    상기 표시 패널에 제2 테스트 패턴을 표시하는 단계;
    상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 이용하여 상기 측정 영역의 상기 측정 영상 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 이미지 센서에서 제공되는 상기 측정 영상 데이터를 제2 크롭 영상 데이터로써 출력하는 단계를 포함하는 촬상 장치의 구동 방법.
  12. 제11 항에 있어서, 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 이용하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 생성하는 단계는 상기 측정 영역에 상응하는 상기 이미지 센서를 동작시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  13. 제11 항에 있어서, 상기 측정 영역을 결정하는 단계는 상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  14. 제11 항에 있어서, 상기 이미지 센서는CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  15. 제11 항에 있어서, 상기 이미지 센서는CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  16. 표시 패널에 테스트 패턴을 표시하는 단계;
    이미지센서를 이용하여 상기 표시 패널이 위치하는 측정 영역을 포함하는 기준 영역의 기준 영상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 기준 영상 데이터를 분석하여 상기 측정 영역을 결정하는 단계; 및
    상기 기준 영상 데이터 및 상기 측정 영역에 기초하여 상기 측정 영역의 측정 영상 데이터를 포함하는 크롭 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 촬상 장치의 구동 방법.
  17. 제16 항에 있어서, 상기 측정 영역을 결정하는 단계는 상기 기준 영상 데이터의 휘도를 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  18. 제16 항에 있어서, 상기 이미지 센서는CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
  19. 제16 항에 있어서, 상기 이미지 센서는CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서인 것을 특징으로 하는 촬상 장치의 구동 방법.
KR1020180170116A 2018-12-27 2018-12-27 촬상 장치 및 이의 구동 방법 KR20200081541A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180170116A KR20200081541A (ko) 2018-12-27 2018-12-27 촬상 장치 및 이의 구동 방법
CN201910788930.0A CN111385447B (zh) 2018-12-27 2019-08-26 摄像装置及其驱动方法
US16/707,597 US11321811B2 (en) 2018-12-27 2019-12-09 Imaging apparatus and driving method of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180170116A KR20200081541A (ko) 2018-12-27 2018-12-27 촬상 장치 및 이의 구동 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200081541A true KR20200081541A (ko) 2020-07-08

Family

ID=71123607

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180170116A KR20200081541A (ko) 2018-12-27 2018-12-27 촬상 장치 및 이의 구동 방법

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11321811B2 (ko)
KR (1) KR20200081541A (ko)
CN (1) CN111385447B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102545459B1 (ko) * 2022-11-25 2023-06-20 한국건설기술연구원 이동용 카메라 촬영 모사 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 기록 매체

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200081541A (ko) * 2018-12-27 2020-07-08 삼성디스플레이 주식회사 촬상 장치 및 이의 구동 방법
KR20220045611A (ko) * 2020-10-05 2022-04-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 패널의 구동 방법

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7308157B2 (en) * 2003-02-03 2007-12-11 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for optical inspection of a display
JP2005191387A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Fujitsu Ltd 撮像素子試験方法及び装置
TWI366393B (en) * 2007-10-12 2012-06-11 Taiwan Tft Lcd Ass Method and apparatus of measuring image-sticking of a display device
JP5002497B2 (ja) * 2008-03-11 2012-08-15 株式会社Pfu 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
KR101830679B1 (ko) * 2010-07-29 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
JP2012222387A (ja) * 2011-04-04 2012-11-12 Panasonic Corp 撮像装置
JP5488548B2 (ja) * 2011-08-04 2014-05-14 カシオ計算機株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
US9137444B2 (en) * 2011-09-26 2015-09-15 Sony Corporation Image photography apparatus for clipping an image region
JP5907738B2 (ja) * 2012-01-23 2016-04-26 オリンパス株式会社 撮像装置、表示方法、プログラム
US9607235B2 (en) 2013-03-14 2017-03-28 Facebook, Inc. Image cropping according to points of interest
KR102013380B1 (ko) * 2013-03-20 2019-08-23 엘지디스플레이 주식회사 무안경 방식의 입체영상 표시장치
KR102078677B1 (ko) * 2013-05-10 2020-02-20 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치의 영상 보정 데이터 생성 방법, 이를 이용하는 영상 보정 장치 및 디스플레이 장치의 구동 방법
KR102169720B1 (ko) * 2014-04-02 2020-10-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널, 이의 얼룩 보정 시스템 및 이의 얼룩 보정 방법
KR20160021966A (ko) * 2014-08-18 2016-02-29 삼성디스플레이 주식회사 표시장치, 그것의 동작 방법, 및 영상 표시 시스템
KR102269319B1 (ko) * 2014-10-16 2021-06-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102525979B1 (ko) * 2018-05-17 2023-04-27 삼성디스플레이 주식회사 감마 전압 생성기 및 표시 장치
KR20200081541A (ko) * 2018-12-27 2020-07-08 삼성디스플레이 주식회사 촬상 장치 및 이의 구동 방법
KR102670076B1 (ko) * 2019-07-22 2024-05-28 삼성디스플레이 주식회사 테스트 영상 측정 장치, 표시 장치 및 휘도 보정 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102545459B1 (ko) * 2022-11-25 2023-06-20 한국건설기술연구원 이동용 카메라 촬영 모사 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 기록 매체
WO2024112174A1 (ko) * 2022-11-25 2024-05-30 한국건설기술연구원 이동용 카메라 촬영 모사 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 기록 매체

Also Published As

Publication number Publication date
CN111385447A (zh) 2020-07-07
US11321811B2 (en) 2022-05-03
CN111385447B (zh) 2023-09-19
US20200211156A1 (en) 2020-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4882529B2 (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置
CN110620887B (zh) 图像生成装置和图像生成方法
KR20200081541A (ko) 촬상 장치 및 이의 구동 방법
WO2013175703A1 (ja) 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置
JP4534825B2 (ja) 欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP2009079983A (ja) 点欠陥検出装置、および点欠陥検出方法
KR20120052649A (ko) 투명 표시 장치 및 그 제어 방법
JP2004239733A (ja) 画面の欠陥検出方法及び装置
JP2008232837A (ja) 欠陥強調・欠陥検出の方法および装置、プログラム
JP2003167530A (ja) ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置
JPH11257937A (ja) 欠陥検査方法
WO2013118304A1 (ja) 検査装置、検査方法、および記録媒体
JP2005147911A (ja) 表示パネルの画素評価方法及びその装置
JP2010139323A (ja) 色ムラ測定方法、および色ムラ測定装置
JP2009141613A (ja) 面内均一性評価装置、および面内均一性評価方法
KR100643248B1 (ko) 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치
JPH08327497A (ja) カラー液晶表示パネルの検査方法
JP2020003219A (ja) 表示装置の欠陥検査装置
JP2010145097A (ja) 色ムラ検査方法、および検査用画像データ生成装置
JP2012052931A (ja) 検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体
JP2007285753A (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置
JP2010206661A (ja) 輝度ムラ評価装置及び輝度ムラ評価方法
JP2007198831A (ja) 画像データの処理方法および処理プログラム
JP3245066B2 (ja) 表示パネルの欠陥検査装置
TW201518695A (zh) 光源穩定性測試系統及方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)