JP2001326046A - コンタクトピン集合体、コンタクトピン組立体及び電気部品用ソケット - Google Patents

コンタクトピン集合体、コンタクトピン組立体及び電気部品用ソケット

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JP2001326046A JP2000145148A JP2000145148A JP2001326046A JP 2001326046 A JP2001326046 A JP 2001326046A JP 2000145148 A JP2000145148 A JP 2000145148A JP 2000145148 A JP2000145148 A JP 2000145148A JP 2001326046 A JP2001326046 A JP 2001326046A
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Shuichi Sato
修一 佐藤
Masami Fukunaga
正美 福永
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Enplas Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電気部品用ソケットの組立工数を削減する。 【解決手段】 ICパッケージ10のマトリックス状に
形成された端子8の一列分に対応するコンタクトピン1
1を絶縁性樹脂フィルム12に一列に接着固定すること
によりコンタクトピン集合体13が構成される。そし
て、このコンタクトピン集合体13をコンタクトピン保
持部材14に組み付けることによりコンタクトピン組立
体4が構成され、このコンタクトピン組立体4をICパ
ッケージ10の端子8の列数分だけ組み合わすことによ
り電気部品用ソケット1が構成されるようになってい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ICパッケージ
や電子回路基板等の電気部品の電気的テストを行うため
に使用される電気部品用ソケット及びこの電気部品用ソ
ケットの構成部品に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、BGAやLGA等のICパッケ
ージ(電気部品)のバーンイン・テスト(電気的テス
ト)を行う場合は、導電性の優れた金属で形成されたコ
ンタクトピンを備えた電気部品用ソケット内にICパッ
ケージを収容し、そのICパッケージの下面にマトリッ
クス状に複数形成された端子をコンタクトピンに接触さ
せて、ICパッケージの端子と外部電気的テスト回路と
をコンタクトピンを介して電気的に接続するようになっ
ている。
【0003】(第1の従来技術)近年、BGAやLGA
等のICパッケージは、小型化を図るため、端子間距離
が短くなっている。そのため、コンタクトピンは、様々
な形状のものが考案されている。例えば、図15に示す
コンタクトピン70は、導電性の優れた金属で形成され
た筒体71の内部に導電性の優れた金属製の棒状接触子
72が上下動できるように収容され、この棒状接触子7
2の先端がバネ73でICパッケージ10の端子8に押
圧され、ICパッケージ10の端子8と外部電気的テス
ト回路(図示せず)が棒状接触子72及び筒体71を介
して電気的に接続されるようになっている。そして、こ
のようなコンタクトピン70は、ICパッケージ10の
端子8に対応するように、ICパッケージ10の端子数
と同数が電気部品用ソケット(図示せず)の内部に取り
付けられている。
【0004】(第2の従来技術)又、図16に示すコン
タクトピン75は、導電性材料でコイルスプリング状に
形成されたものであり、その一端部をICパッケージ1
0の端子8に接触させ、その他端部を外部電気的テスト
回路(図示せず)に接触させるようになっており、IC
パッケージ10の端子8に対応するようにソケット本体
(図示せず)に収容するようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、第1の従来技
術のコンタクトピン70は、構造が複雑であるため、製
造が容易でないという不具合を有している。又、このよ
うなコンタクトピン70は、上記したように製造が容易
でないため、その製品単価がきわめて高価なものになっ
ている。従って、このようなコンタクトピン70をIC
パッケージ10の端子数と同数備えた電気部品用ソケッ
トもきわめて高価なものになっている。
【0006】又、第2の従来技術のコンタクトピン75
は、構造が簡単であるため、製造が比較的容易であり、
製品単価が安いが、導電性材料が螺旋状に巻かれてお
り、導電性材料の長さが長くなって、電気抵抗が大きく
なるという不具合を有している。
【0007】更に、これら、第1及び第2の従来技術
は、ICパッケージ10の多数の端子8に対応するよう
に形成されたソケット本体のコンタクトピン収容部に、
コンタクトピン70,75を1個ずつ取り付けなければ
ならず、コンタクトピン70,75のソケット本体への
取付作業が大変であった。
【0008】そこで、本発明は、このような従来技術の
不具合を解消できる電気部品用ソケットや、電気部品用
ソケットの組立工数を削減することが可能になる電気部
品用ソケットの構成部品を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、電気
部品用ソケットの構成部品であるコンタクトピン集合体
に関するものであり、電気部品のマトリックス状に形成
された端子の一列分に対応する複数のコンタクトピン
が、これら複数のコンタクトピンの一端部を接続するコ
ンタクトピン接続部とともに導電性弾性板から一体に形
成されるようになっている。そして、前記複数のコンタ
クトピンの各導線部が絶縁性樹脂フィルムに一列に接着
固定された後、前記コンタクトピン接続部が前記各コン
タクトピンから切除されるようになっている。
【0010】請求項2の発明は、電気部品のマトリック
ス状に形成された端子の一列分に対応する複数のコンタ
クトピンが絶縁性樹脂で形成されたコンタクトピン保持
部材に組み付けられてなるコンタクトピン組立体に関す
るものである。このコンタクトピン組立体は、前記複数
のコンタクトピンがこれら複数のコンタクトピンの一端
部を接続するコンタクトピン接続部とともに導電性弾性
板から一体に形成され、これら複数のコンタクトピンの
各導線部が絶縁性樹脂フィルムに一列に接着固定された
後、前記コンタクトピン接続部が切除されてコンタクト
ピン集合体が構成され、このコンタクトピン集合体が前
記コンタクトピン保持部材に組み付けられてなることを
特徴としている。
【0011】請求項3の発明は、電気部品のマトリック
ス状に形成された複数の端子と外部電気的テスト回路と
を、前記複数の端子に対応するように配置された複数の
コンタクトピンで電気的に接続する電気部品用ソケット
に関するものである。この電気部品用ソケットは、前記
電気部品のマトリックス状に形成された端子の一列分に
対応する複数のコンタクトピンがこれら複数のコンタク
トピンの一端部を接続するコンタクトピン接続部ととも
に導電性弾性板から一体に形成され、これら複数のコン
タクトピンの各導線部が絶縁性樹脂フィルムに一列に接
着固定された後、前記コンタクトピン接続部が切除され
てコンタクトピン集合体が構成され、このコンタクトピ
ン集合体が絶縁性樹脂製のコンタクトピン保持部材に組
み付けられてコンタクトピン組立体が構成され、このコ
ンタクトピン組立体が電気部品の端子の列数分だけ組み
合わされてなることを特徴としている。
【0012】請求項4の発明は、電気部品のマトリック
ス状に形成された複数の端子と外部電気的テスト回路と
を、前記複数の端子に対応するように配置された複数の
コンタクトピンで電気的に接続する電気部品用ソケット
に関するものである。この電気部品用ソケットは、前記
電気部品のマトリックス状に形成された端子の一列分に
対応する複数のコンタクトピンがこれら複数のコンタク
トピンの一端部を接続するコンタクトピン接続部ととも
に導電性弾性板から一体に形成され、これら複数のコン
タクトピンの各導線部が接着テープに一列に接着固定さ
れた後、前記コンタクトピン接続部が切除されてコンタ
クトピン集合体が構成され、このコンタクトピン集合体
が絶縁性樹脂製のコンタクトピン保持部材に組み付けら
れた後、前記接着テープのみが前記複数の導線部から剥
がされてコンタクトピン組立体が構成され、このコンタ
クトピン組立体が電気部品の端子の列数分だけ組み合わ
されてなることを特徴としている
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき詳述する。
【0013】[第1の実施の形態]図1〜図3は本実施
の形態に係る電気部品用ソケット1を示すものである。
このうち、図1は、電気部品用ソケット1のカバー2を
閉じた状態を示す断面図である。又、図2は、電気部品
用ソケット1のカバー2を開いた状態を示す断面図であ
る。又、図3は、電気部品用ソケット1の一部を切り欠
いて示す平面図である。
【0014】(電気部品用ソケットの全体構成)これら
の図において、電気部品用ソケット1は、絶縁性樹脂材
料で形成されたソケット本体3と、このソケット本体3
の上部に開閉できるように取り付けられたカバー2と、
ソケット本体3に取り付けられた複数のコンタクトピン
組立体4と、ソケット本体3に対してバネ5で弾性的に
支持されたフローティングプレート6と、を備えてい
る。そして、この電気部品用ソケット1は、フローティ
ングプレート6のIC収容部7にマトリックス状の端子
8を備えたICパッケージ(電気部品)10を収容し、
このICパッケージ10の端子8と図外の外部電気的テ
スト回路とをコンタクトピン組立体4のコンタクトピン
11を介して電気的に接続するようになっている(図4
及び図5参照)。尚、ICパッケージ10は、図6に示
すように、端子8がマトリックス状に複数形成されたも
のである。
【0015】(コンタクトピン組立体)図7は、上記し
たように、ソケット本体3に組み付けられ、ICパッケ
ージ10の端子8と図外の外部電気的テスト回路とを電
気的に接続するために使用されるコンタクトピン組立体
4である。このコンタクトピン組立体4は、ICパッケ
ージ10の一列分の端子8に対応する複数のコンタクト
ピン11が絶縁性樹脂フィルム12に接着固定されてな
るコンタクトピン集合体13と、このコンタクトピン集
合体13を収容保持する絶縁性樹脂製のコンタクトピン
保持部材14とからなっている。
【0016】(コンタクトピン集合体)コンタクトピン
集合体13は、図8に示すように、ICパッケージ10
の一列分の端子8に対応する複数のコンタクトピン11
と、この複数のコンタクトピン11を一列に位置決め固
定するための絶縁性樹脂フィルム12とからなってお
り、次のように形成される。
【0017】即ち、ICパッケージ10の一列分の端子
8に対応する複数のコンタクトピン11は、図9に示す
ように、複数のコンタクトピン11の下端部がコンタク
トピン接続部15で一体に接続されるように、導電性弾
性板をエッチング加工又はプレス加工することにより形
成される。ここで、複数のコンタクトピン11は、中央
部(図9の中心線CL)に対して左右対称形状となるよ
うに形成されている。そして、各コンタクトピン11
は、図9,図7及び図4に示されるように、端子8に接
触する端子接触部16と、略S字形状又は略逆S字形状
のバネ作用部17と、コンタクトピン保持部材14の位
置決め取付溝18に係合される取付基部20と、絶縁性
樹脂フイルム12に接着固定される導線部21と、この
導線部21と外部電気的テスト回路とを接続する接続脚
部22と、を備えている。
【0018】このうち、取付基部20は、図4に詳細を
示すように、略矩形状の溝23が形成されており、この
溝23の上下の壁面24,25がコンタクトピン保持部
材14の位置決め取付部26の上下の壁面27,28に
係合するように、コンタクトピン保持部材14の位置決
め取付溝18に係合される。これにより、コンタクトピ
ン11の上下・左右方向への位置決めが行われる。又、
導線部21は、図9に示すように、下方に向かうに従っ
て隣り合う導線部21との間隔が広がるように形成され
ている。そして、接続脚部22は、コンタクトピン保持
部材14の下端部に形成された脚部収容溝29に係合さ
れるようになっている(図7,図11参照)。又、接続
脚部22の上部両側には係合突起30が突出形成されて
おり、この係合突起30がコンタクトピン保持部材14
の下端部に形成された位置決め溝31に係合され、図中
上方へずれ動かないように位置決め固定されるようにな
っている(図7,図11参照)。
【0019】図4はコンタクトピン11の一部拡大図で
あり、図5はコンタクトピン11の端子接触部16の詳
細を示すものである。これらの図に示すように、端子接
触部16は、フローティングプレート6のコンタクトピ
ン収容穴32にスライド可能(上下動可能)な状態で係
合されるようになっており、ICパッケージ10が図5
中下方へ押圧され、バネ作用部17が撓み変形した場合
でも、端子接触部16の図5中左上端部がフローティン
グプレート6のコンタクトピン収容穴32に当接した
り、また端子接触部16の図5中右下端部がコンタクト
ピン収容穴32に当接することがないように、一方の側
面側上端部を斜めに切り欠いた切り欠き部分33を有
し、他方の側面側下端部に肉盗み部分34を有してい
る。その結果、図5に示すように、コンタクトピン11
がICパッケージ10の端子8で押圧されて撓み変形
し、二点鎖線で示す位置まで変位しても、端子接触部1
6の上端部と下端部がコンタクトピン収容穴32に擦っ
て、端子接触部16の図中上下方向への円滑な変位が阻
害されることのないようになっている。また、端子接触
部16の上端部分35が円弧状に形成されているため、
コンタクトピン11が図5中の実線位置から二点鎖線位
置まで変位しても、コンタクトピン11の端子接触部1
6が端子8にほぼ同じ姿勢で安定接触しながら端子8の
表面を擦り、端子8の表面に付着した酸化被膜を剥ぎ取
り、端子8とコンタクトピン11の電気的接続が確実に
なる。尚、図9に示すように、コンタクトピン接続部1
5の両端部には、位置決め用アーム36がそれぞれ起立
するように形成されており、その位置決めアーム36の
先端部分37に位置決め穴38がそれぞれ形成されてい
る。
【0020】又、図10に示すように、絶縁性樹脂フィ
ルム12は、コンタクトピン11の導線部21の高さ寸
法とほぼ同様の高さ寸法Hに形成され、幅寸法Wがコン
タクトピン接続部15の位置決めアーム36,36間寸
法よりも僅かに長く形成されると共に、位置決めアーム
36の位置決め穴38に対応する位置に位置決め穴40
が形成されている。また、絶縁性樹脂フィルム12に
は、各コンタクトピン11の導線部21に対応する位置
に接着剤が塗布されている。そして、この絶縁性樹脂フ
ィルム12の位置決め穴40と位置決めアーム36の位
置決め穴38を位置決めピン(図示せず)で位置合わせ
した状態で、絶縁性樹脂フィルム12にコンタクトピン
11が接着固定される。その後、図10に示す二点鎖線
41の位置で絶縁性樹脂フィルム12を切断すると共
に、コンタクトピン接続部15を接続脚部22から切り
離することにより、各コンタクトピン11がそれぞれ電
気的に分離され、図8に示すコンタクトピン集合体13
が形成される。そして、このようにして形成されたコン
タクトピン集合体13は、図7に示すように、コンタク
トピン保持部材14に組み付けられ、コンタクトピン組
立体4が構成される。尚、絶縁性樹脂フィルム12は、
バーンインテスト時の熱に耐えられる材料が選定され
る。
【0021】(コンタクトピン保持部材)コンタクトピ
ン保持部材14は、図11に詳細を示すように、略矩形
状の絶縁性樹脂の板状部材であり、両側下部に位置決め
段部42が形成されている。そして、このコンタクトピ
ン保持部材14は、コンタクトピン11の取付基部20
の上部及びバネ作用部17を収容する上部凹所43と、
コンタクトピン11の取付基部20の下部及び導線部2
1を絶縁性樹脂フィルム12と共に収容する下部凹所4
4とを備えている(図7参照)。そして、コンタクトピ
ン保持部材14の上部凹所43と下部凹所44の間に位
置する位置決め取付部45には、コンタクトピン11の
取付基部20に係合する位置決め取付溝18が中心線C
Lを境に左右対称に複数形成されている。また、コンタ
クトピン保持部材14の下部凹所44の下端縁46に
は、コンタクトピン11の接続脚部22に係合する複数
の脚部収容溝29と、接続脚部22の係合突起30に係
合する位置決め溝31とが形成されている。尚、位置決
め溝31は、前記脚部収容溝29を図11(b)中横方
向に接続するように形成されており、接続脚部22の図
11(b)中上下方向へのずれ動きを阻止するようにな
っている。一方、上記脚部収容溝29は、コンタクトピ
ン11の接続脚部22の図中横方向へのずれ動きを阻止
するようになっている。
【0022】(電気部品用ソケット)このように形成さ
れたコンタクトピン組立体4は、図12〜図13に示す
ように、ICパッケージ10の端子8の列数(1〜n)
分だけ集められ、剛性の高い押さえ板47,47で挟ま
れるようにしてソケット本体3のコンタクトピン組立体
収容部48に収容され、一対のねじ50,50により位
置決め壁51側へ均等に締め付け固定されるようになっ
ている。この際、コンタクトピン組立体4は、図1に示
すように、位置決め段部42がソケット本体3の支持段
部52に係合され、上下方向の位置決めがされ、コンタ
クトピン11の上端位置が位置決めされることになる。
【0023】図1〜図3に示すように、ソケット本体3
の上部には、カバー2を開閉できるように取り付けるカ
バー取付部53が形成されている。そして、このカバー
取付部53には、カバー2の軸支持部54に係合された
支持軸55が回動できるように嵌合されており、支持軸
55の両端には、軸用止め輪56が取り付けられてい
る。また、支持軸55の周囲には、一端がソケット本体
3に係合され、他端がカバー2に係合されて、カバー2
を常時開方向(図中右回り方向)へ付勢するバネ57が
取り付けられている。
【0024】又、図1において、ソケット本体3の略中
央部の上方には、フローティングプレート6が収容され
ている。このフローティングプレート6は、バネ5で上
方へ付勢されており、ソケット本体3のストッパ部58
で上端位置が位置決めされるようになっている(図3参
照)。また、このフローティングプレート6は、ICパ
ッケージ10の端子8に対応するように、複数のコンタ
クトピン収容穴32が形成されており、これら複数のコ
ンタクトピン収容穴32に各コンタクトピン11の端子
接触部16がスライドできるように係合されている(図
4,図5参照)。さらに、フローティングプレート6
は、図1及び図3に示すように、平面形状が略矩形形状
のICパッケージ10をフローティングプレート6上の
所定位置に案内し、ICパッケージ10の端子8をコン
タクトピン11の端子接触部16に対して位置決めする
IC位置決め用突起60がICパッケージ10の4辺に
対応するように形成されている。
【0025】カバー2は、前記したように、バネ57で
常時開方向へ付勢されているため、軸支持部54の反対
側(図1中左側)にフック61を回動可能に取り付け
て、そのフック61をソケット本体3の係止用突起62
に係合し、カバー2を閉じるようになっている。尚、カ
バー2は、フック61と係止用突起62との係合を解除
することにより、図2に示すように、バネ57の弾性力
で開き、ICパッケージ10をフローティングプレート
6上にセットするか、又はICパッケージ10をフロー
ティングプレート6上から取り出すことが可能になる。
加えて、図1及び図2に示すように、カバー2には、I
Cパッケージ10をバネ5の弾性力に抗してコンタクト
ピン11側へ押し付けるIC押圧部63が形成されてい
る。
【0026】(電気部品用ソケットの作用)このように
構成された電気部品用ソケット1は、カバー2を開いた
状態で、ICパッケージ10をフローティングプレート
6のIC収容部7に装着する。その後、カバー2を閉じ
て、カバー2のフック61をソケット本体3の係止用突
起62に係合させる。これにより、カバー2のIC押圧
部63がICパッケージ10及びフローティングプレー
ト6をバネ5の弾性力に抗して押し下げることになり、
ICパッケージ10の端子8がコンタクトピン11の端
子接触部16に押圧される。
【0027】コンタクトピン11は、バネ作用部17が
弾性変形し、端子接触部16がICパッケージ10の端
子8に対してワイピングしながら接触する。その後、コ
ンタクトピン11を介してICパッケージ10と外部電
気的テスト回路とが適宜電気的に接続され、ICパッケ
ージ10の電気的テストが行われる。そして、ICパッ
ケージ10の電気的テストが終了後、カバー2のフック
61とソケット本体3の係止用突起62との係合を解除
する。これにより、カバー2は、バネ57の弾性力で図
1の状態から図2に示す状態まで回動し、ソケット本体
3の上面から離れる。この状態において、フローティン
グプレート6上からテスト済みのICパッケージ10が
取り出され、新たなICパッケージ10がフローティン
グプレート6上に載置されることになる。
【0028】(本実施の形態の効果)以上のように構成
された本実施の形態の電気部品用ソケット1は、ICパ
ッケージ10のマトリックス状に形成された端子8の一
列分に対応するコンタクトピン11が絶縁性樹脂フィル
ム12に一体的に位置決め固定されているため、作業者
が絶縁性樹脂フィルム12のコンタクトピン保持部材1
4に対する位置を調整することにより、端子8の一列分
に対応するコンタクトピン11を容易にコンタクトピン
保持部材14に組み付けることができ、コンタクトピン
11を1本ずつコンタクトピン保持部材14に係合させ
る場合に比較して格段に組立工数を削減することができ
る。
【0029】又、本実施の形態の電気部品用ソケット1
は、コンタクトピン集合体13をコンタクトピン保持部
材14に組み付けてコンタクトピン組立体4を構成し、
このコンタクトピン組立体4をICパッケージ10の端
子8の列数分(1〜n)だけソケット本体3に組み付け
るようになっているため、コンタクトピン11を1本ず
つソケット本体3に直接組み付ける電気部品用ソケット
に比較して、その組立工数を格段に少なくすることがで
きると共に、ソケット本体3の形状の容易化を図ること
ができる。
【0030】又、本実施の形態において、コンタクトピ
ン11は、バネ作用部17が略S字形状又は略逆S字形
状に形成されているため、バネ作用部17が単に円弧状
に形成されているものに比較して撓み変形し易く且つ端
子接触部16の倒れ(図5中の上下方向に対する傾き
θ)が小さい。従って、本実施の形態のコンタクトピン
11は、バネ作用部17が単に円弧状に形成されたもの
に比較して、バネ作用部17の撓み変形量を大きくする
ことができ、電気部品用ソケット1の各構成部品の成形
精度や組立精度の誤差を吸収しやすく、電気部品用ソケ
ット1の設計・製造が容易化する。しかも、本実施の形
態のコンタクトピン11は、端子接触部16の姿勢の変
化(倒れ)が小さいため、端子接触部16と端子8との
接触状態が安定する。
【0031】又、本実施の形態において、コンタクトピ
ン集合体13は、図8に示すように、中央に対して左右
対称に形成されているため、ICパッケージ10が押し
付けられた際に、各コンタクトピン11が中央線CLを
境にして左右対称の変形をする。その結果、ICパッケ
ージ10は、コンタクトピン11によって図中左右方向
へずれ動かされるようなことがなく、円滑に上下動す
る。そして、コンタクトピン11の端子接触部16がI
Cパッケージ10の端子8に対して的確にワイピングを
行い、コンタクトピン11とICパッケージ10の端子
8との電気的接触が確実になる。尚、全てのコンタクト
ピン11が同一形状であれば、ICパッケージ10がコ
ンタクトピン11の端子接触部16と共に変位すること
になり、ICパッケージ10の端子8とコンタクトピン
11の端子接触部16との間で十分なワイピングが生じ
ない。
【0032】又、本実施の形態において、ICパッケー
ジ10の端子8の一列分に対応するコンタクトピン11
が導電性弾性板からエッチング又はプレス加工により形
成されるため、第1の従来技術のコンタクトピンに比較
して簡単に形成でき、コンタクトピンの製造単価を低減
できる。
【0033】又、本実施の形態において、コンタクトピ
ン11の形状が第2の従来技術のような螺旋状でなく、
板状部材から形成されたものであり、通電経路が第2の
従来技術よりも短くすることができるため、第2の従来
技術よりも電気抵抗を小さくすることができ、第2の従
来技術よりも正確な電気的テストが可能になる。
【0034】又、本実施の形態において、ICパッケー
ジ10の端子8の一列分に対応するコンタクトピン11
が導電性弾性板からエッチング又はプレス加工により形
成されるため、隣り合うコンタクトピン11,11の間
隔を小さくすることができ、従来の電気部品用ソケット
(第1の従来技術や第2の従来技術等)では測定できな
かったような端子8,8間ピッチの狭いICパッケージ
10の電気的テストが可能になる。
【0035】ここで、上記第1の実施の形態に係る電気
部品用ソケット1において、絶縁性樹脂フィルム12の
コンタクトピン11に対する接着固定力が十分に大きい
場合であって、絶縁性樹脂フィルム12のみでコンタク
トピン11を位置決め・保持できる場合には、コンタク
トピン保持部材14に位置決め取付溝18,脚部収容溝
29及び位置決め溝31を形成しなくてもよく、コンタ
クトピン保持部材14の形状を簡単化することができ、
コンタクトピン保持部材14とコンタクトピン集合体1
3の係合がより一層容易化するため、電気部品用ソケッ
ト1の組立工数をより一層削減することが可能になる。
【0036】又、上記第1の実施の形態において、コン
タクトピン集合体13の導線部の表面を絶縁性樹脂でコ
ーティングし、各コンタクトピン同士の絶縁をより一層
確実化するようにしてもよい。
【0037】[第2の実施の形態]図14は、本発明の
第2の実施の形態を示すものであり、前記第1の実施の
形態を示す図7に対応する図である。尚、本実施の形態
において、前記第1の実施の形態と共通する構成には同
一符号を付し、前記第1の実施の形態と重複する説明を
省略する。
【0038】即ち、本実施の形態は、図14に示すよう
に、絶縁性樹脂フィルム12が表側に位置するように、
コンタクトピン集合体13がコンタクトピン保持部材1
4に係合されるようになっている。そして、コンタクト
ピン集合体13の各コンタクトピン11の取付基部20
がコンタクトピン保持部材14の位置決め取付溝18に
係合され、各コンタクトピン11の接続脚部22と接続
脚部22の係合突起30がそれぞれ脚部収容溝29と位
置決め溝31に係合され、各コンタクトピン11がコン
タクトピン保持部材14に確実に位置決め固定された
後、絶縁性樹脂フィルム12を各コンタクトピン11か
ら剥がし、コンタクトピン組立体4が構成されるように
なっている。そして、この絶縁性樹脂フィルム12を剥
がしたコンタクトピン組立体4は、図13に示すよう
に、ソケット本体3に組み付けられるようになってい
る。
【0039】尚、本実施の形態において、ICパッケー
ジ10の端子8の一列分のコンタクトピン11を接着固
定する手段(接着テープ)は、上記したように、ソケッ
ト本体3に組み付ける前に各コンタクトピン11から剥
がされるため、前記第1の実施の形態の絶縁性樹脂フィ
ルム12に限られず、紙テープやその他の耐熱性及び絶
縁性を有さないテープ又はフィルムを使用してもよい。
【0040】本実施の形態においても前記第1の実施の
形態と同様に、電気部品用ソケット1の組立工数を削減
することができると共に、ソケット本体3の形状を容易
化することができる。
【0041】
【発明の効果】以上のように、本発明は、電気部品のマ
トリックス状に形成された端子の一列分に対応するコン
タクトピンを絶縁性樹脂フィルムに一列に接着固定する
ことによりコンタクトピン集合体が構成され、このコン
タクトピン集合体をコンタクトピン保持部材に組み付け
ることによりコンタクトピン組立体が構成され、このコ
ンタクトピン組立体を電気部品の端子の列数分だけ組み
合わすことにより電気部品用ソケットが構成されるよう
になっているため、電気部品の端子に対応する数のコン
タクトピンを別々にソケット本体に組み付けるようにな
っている従来例に比較して、電気部品用ソケットの組立
工数を格段に削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る電気部品用ソ
ケットの断面図(図3のA−A線に沿って切断して示す
断面図)である。
【図2】図1の電気部品用ソケットのカバーを開いた状
態を示す図である。
【図3】図1の電気部品用ソケットの一部を切り欠いて
示す平面図である。
【図4】コンタクトピンとフローティングプレートとの
係合状態を示す図である。
【図5】図4に示すコンタクトピンの端子接触部と端子
の接触状態を拡大して示す図である。
【図6】電気部品としてのICパッケージを示す図であ
る。図6(a)はICパッケージの正面図であり、図6
(b)はICパッケージの下面図(図6(a)のB方向
から見た図)である。
【図7】コンタクトピン組立体の正面図である。
【図8】コンタクトピン集合体の正面図である。
【図9】ICパッケージのマトリックス状の端子の一列
分に対応するコンタクトピンをコンタクトピンで接続し
た状態を示す図である。
【図10】ICパッケージのマトリックス状の端子の一
列分に対応するコンタクトピンを絶縁性樹脂フィルムに
接着固定した状態を示す図である。
【図11】コンタクトピン保持部材を示す図である。図
11(a)はコンタクトピン保持部材の平面図(図11
(b)のC方向から見た図)であり、図11(b)はコ
ンタクトピン保持部材の正面図である。
【図12】コンタクトピン組立体と押さえ板の組み合わ
せ状態を示す外観斜視図である。
【図13】ICパッケージの端子の列数分だけのコンタ
クトピン組立体をソケット本体に組み付けた状態を示す
平面図である。
【図14】本発明の第2の実施の形態を示すコンタクト
ピン組立図の正面図である。
【図15】第1の従来技術に係るコンタクトピンの構造
を示す図である。
【図16】第2の従来技術に係るコンタクトピンの構造
図である。
【符号の説明】
1……電気部品用ソケット、4……コンタクトピン組立
体、8……端子、10……ICパッケージ(電気部
品)、11……コンタクトピン、12……絶縁性樹脂フ
ィルム(接着テープ)、13……コンタクトピン集合
体、14……コンタクトピン保持部材、15……コンタ
クトピン接続部、21……導線部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G003 AA07 AC01 AG01 AG03 AG04 AG12 AH05 2G011 AA02 AA16 AB01 AE22 5E024 CA18 CB01

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気部品のマトリックス状に形成された
    端子の一列分に対応する複数のコンタクトピンが、これ
    ら複数のコンタクトピンの一端部を接続するコンタクト
    ピン接続部とともに導電性弾性板から一体に形成され、 前記複数のコンタクトピンの各導線部が絶縁性樹脂フィ
    ルムに一列に接着固定された後、前記コンタクトピン接
    続部が前記各コンタクトピンから切除されてなることを
    特徴とするコンタクトピン集合体。
  2. 【請求項2】 電気部品のマトリックス状に形成された
    端子の一列分に対応する複数のコンタクトピンが絶縁性
    樹脂で形成されたコンタクトピン保持部材に組み付けら
    れてなるコンタクトピン組立体であって、 前記複数のコンタクトピンがこれら複数のコンタクトピ
    ンの一端部を接続するコンタクトピン接続部とともに導
    電性弾性板から一体に形成され、これら複数のコンタク
    トピンの各導線部が絶縁性樹脂フィルムに一列に接着固
    定された後、前記コンタクトピン接続部が切除されてコ
    ンタクトピン集合体が構成され、 このコンタクトピン集合体が前記コンタクトピン保持部
    材に組み付けられてなることを特徴とするコンタクトピ
    ン組立体。
  3. 【請求項3】 電気部品のマトリックス状に形成された
    複数の端子と外部電気的テスト回路とを、前記複数の端
    子に対応するように配置された複数のコンタクトピンで
    電気的に接続する電気部品用ソケットにおいて、 前記電気部品のマトリックス状に形成された端子の一列
    分に対応する複数のコンタクトピンがこれら複数のコン
    タクトピンの一端部を接続するコンタクトピン接続部と
    ともに導電性弾性板から一体に形成され、これら複数の
    コンタクトピンの各導線部が絶縁性樹脂フィルムに一列
    に接着固定された後、前記コンタクトピン接続部が切除
    されてコンタクトピン集合体が構成され、 このコンタクトピン集合体が絶縁性樹脂製のコンタクト
    ピン保持部材に組み付けられてコンタクトピン組立体が
    構成され、 このコンタクトピン組立体が電気部品の端子の列数分だ
    け組み合わされてなることを特徴とする電気部品用ソケ
    ット。
  4. 【請求項4】 電気部品のマトリックス状に形成された
    複数の端子と外部電気的テスト回路とを、前記複数の端
    子に対応するように配置された複数のコンタクトピンで
    電気的に接続する電気部品用ソケットにおいて、 前記電気部品のマトリックス状に形成された端子の一列
    分に対応する複数のコンタクトピンがこれら複数のコン
    タクトピンの一端部を接続するコンタクトピン接続部と
    ともに導電性弾性板から一体に形成され、これら複数の
    コンタクトピンの各導線部が接着テープに一列に接着固
    定された後、前記コンタクトピン接続部が切除されてコ
    ンタクトピン集合体が構成され、 このコンタクトピン集合体が絶縁性樹脂製のコンタクト
    ピン保持部材に組み付けられた後、前記接着テープのみ
    が前記複数の導線部から剥がされてコンタクトピン組立
    体が構成され、 このコンタクトピン組立体が電気部品の端子の列数分だ
    け組み合わされてなることを特徴とする電気部品用ソケ
    ット。
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US09/855,504 US6575767B2 (en) 2000-05-17 2001-05-16 Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts
US10/235,580 US6782614B2 (en) 2000-05-17 2002-09-06 Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003317888A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP2003317890A (ja) * 2002-04-23 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP2003317889A (ja) * 2002-04-23 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
KR101030804B1 (ko) 2010-04-09 2011-04-27 이승룡 인터페이스와 그 제조방법, 그 인터페이스를 포함한 테스트 소켓, 및 그 테스트 소켓을 포함한 테스트 장치
JPWO2019013163A1 (ja) * 2017-07-10 2020-02-06 株式会社協成 銅銀合金を用いた導電性部材、コンタクトピン及び装置
KR102122975B1 (ko) * 2019-08-08 2020-06-16 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓
CN112310689A (zh) * 2019-07-15 2021-02-02 李承龙 弯曲结构的接口、包括接口的接口组件和测试插座以及制造接口的方法

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4721582B2 (ja) * 2001-09-14 2011-07-13 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン ソケット
JP4439151B2 (ja) * 2001-10-31 2010-03-24 株式会社リコー Icソケット
US7077665B2 (en) * 2002-03-19 2006-07-18 Enplas Corporation Contact pin and socket for electrical parts
US6716049B1 (en) * 2003-04-28 2004-04-06 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. IC socket with bearing springs
US9097740B2 (en) * 2004-05-21 2015-08-04 Formfactor, Inc. Layered probes with core
US7733101B2 (en) * 2004-05-21 2010-06-08 Microprobe, Inc. Knee probe having increased scrub motion
US7659739B2 (en) * 2006-09-14 2010-02-09 Micro Porbe, Inc. Knee probe having reduced thickness section for control of scrub motion
US7759949B2 (en) * 2004-05-21 2010-07-20 Microprobe, Inc. Probes with self-cleaning blunt skates for contacting conductive pads
US9476911B2 (en) 2004-05-21 2016-10-25 Microprobe, Inc. Probes with high current carrying capability and laser machining methods
US8988091B2 (en) 2004-05-21 2015-03-24 Microprobe, Inc. Multiple contact probes
USRE43503E1 (en) 2006-06-29 2012-07-10 Microprobe, Inc. Probe skates for electrical testing of convex pad topologies
US7218128B2 (en) * 2005-02-14 2007-05-15 International Business Machines Corporation Method and apparatus for locating and testing a chip
JP4173145B2 (ja) * 2005-02-28 2008-10-29 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン コンタクトアッセンブリおよびこれを用いた半導体パッケージ用ソケット
US7649367B2 (en) 2005-12-07 2010-01-19 Microprobe, Inc. Low profile probe having improved mechanical scrub and reduced contact inductance
US7312617B2 (en) 2006-03-20 2007-12-25 Microprobe, Inc. Space transformers employing wire bonds for interconnections with fine pitch contacts
US7786740B2 (en) * 2006-10-11 2010-08-31 Astria Semiconductor Holdings, Inc. Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a potting region
US8907689B2 (en) 2006-10-11 2014-12-09 Microprobe, Inc. Probe retention arrangement
US7514948B2 (en) 2007-04-10 2009-04-07 Microprobe, Inc. Vertical probe array arranged to provide space transformation
US8723546B2 (en) * 2007-10-19 2014-05-13 Microprobe, Inc. Vertical guided layered probe
US7671610B2 (en) * 2007-10-19 2010-03-02 Microprobe, Inc. Vertical guided probe array providing sideways scrub motion
TWM342638U (en) * 2008-03-10 2008-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
US8230593B2 (en) * 2008-05-29 2012-07-31 Microprobe, Inc. Probe bonding method having improved control of bonding material
US8073019B2 (en) * 2009-03-02 2011-12-06 Jian Liu 810 nm ultra-short pulsed fiber laser
TWM365563U (en) * 2009-03-09 2009-09-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
US20110039459A1 (en) * 2009-08-11 2011-02-17 Yancey Jerry W Solderless carbon nanotube and nanowire electrical contacts and methods of use thereof
US7914313B1 (en) * 2010-02-04 2011-03-29 Plastronics Socket Partners, Ltd. Clamping mechanism for an IC socket
WO2015017523A1 (en) * 2013-07-30 2015-02-05 Waters Technologies Corporation Check valve having polymeric seat and poppet
JP6251624B2 (ja) * 2014-03-31 2017-12-20 株式会社エンプラス コンタクトピンユニット及びこれを用いた電気部品用ソケット
RU2657460C1 (ru) * 2017-05-10 2018-06-14 Открытое акционерное общество "ОКБ-Планета" ОАО "ОКБ-Планета" Контактное устройство
JP7018310B2 (ja) * 2017-12-27 2022-02-10 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
CN109459593B (zh) * 2018-11-27 2021-04-02 许继集团有限公司 转接料盘及继电保护单板测试装置
CN111293448B (zh) * 2018-12-07 2021-10-26 朴商亮 压接结构的一体型弹簧针
KR102233283B1 (ko) * 2019-07-09 2021-03-29 리노공업주식회사 검사장치
CN115308454B (zh) * 2022-10-10 2023-01-24 杭州三海电子有限公司 一种用于老炼试验的电阻夹具及电阻老炼试验***

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3990767A (en) * 1975-07-11 1976-11-09 Thomas & Betts Corporation Electrical contact and connector means employing same
US4190952A (en) * 1978-06-27 1980-03-04 Circuit Assembly Corp. Insulation displacement connector adapter
US4428637A (en) * 1978-10-16 1984-01-31 Continental-Wirt Electronics Corp. Connector structure for flat cable
US4418977A (en) * 1978-10-16 1983-12-06 Continental-Wirt Electronics Corporation Connector structure for flat cable
US4442594A (en) * 1980-12-30 1984-04-17 Thomas & Betts Corporation Method for making an electrical connector
NL8501064A (nl) * 1985-04-11 1986-11-03 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een steker.
US4952529A (en) * 1988-09-19 1990-08-28 Ford Motor Company Method of coupling a terminal to a thick film circuit board
DE3903060A1 (de) * 1989-02-02 1990-08-09 Minnesota Mining & Mfg Vorrichtung zum pruefen von integrierten schaltungsanordnungen
US5343616B1 (en) * 1992-02-14 1998-12-29 Rock Ltd Method of making high density self-aligning conductive networks and contact clusters
US5247250A (en) * 1992-03-27 1993-09-21 Minnesota Mining And Manufacturing Company Integrated circuit test socket
US5521521A (en) * 1994-03-14 1996-05-28 Sgs-Thomson Microelectronics, S.R.L. Testing contactor for small-size semiconductor devices
US5475921A (en) * 1993-08-04 1995-12-19 The Wiremold Company Method for making contact assembly
JPH07256694A (ja) * 1994-03-17 1995-10-09 Teijin Seiki Co Ltd インサート成形システム
US6229320B1 (en) * 1994-11-18 2001-05-08 Fujitsu Limited IC socket, a test method using the same and an IC socket mounting mechanism
US5611696A (en) * 1994-12-14 1997-03-18 International Business Machines Corporation High density and high current capacity pad-to-pad connector comprising of spring connector elements (SCE)
US5788513A (en) * 1995-01-11 1998-08-04 Enplas Corporation IC socket
TW400666B (en) * 1997-01-29 2000-08-01 Furukawa Electric Co Ltd IC socket

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003317890A (ja) * 2002-04-23 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP2003317889A (ja) * 2002-04-23 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP2003317888A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Enplas Corp 電気部品用ソケット
KR101030804B1 (ko) 2010-04-09 2011-04-27 이승룡 인터페이스와 그 제조방법, 그 인터페이스를 포함한 테스트 소켓, 및 그 테스트 소켓을 포함한 테스트 장치
KR20200018576A (ko) * 2017-07-10 2020-02-19 교세이 가부시키가이샤 동은 합금을 이용한 도전성 부재, 접촉핀 및 장치
CN110809805A (zh) * 2017-07-10 2020-02-18 株式会社协成 使用铜银合金的导电性部件、触头引脚以及装置
JPWO2019013163A1 (ja) * 2017-07-10 2020-02-06 株式会社協成 銅銀合金を用いた導電性部材、コンタクトピン及び装置
JP2021099346A (ja) * 2017-07-10 2021-07-01 株式会社協成 銅銀合金を用いた導電性部材、コンタクトピン及び装置
CN110809805B (zh) * 2017-07-10 2021-10-26 株式会社协成 使用铜银合金的导电性部件、触头引脚以及装置
CN113690656A (zh) * 2017-07-10 2021-11-23 株式会社协成 触头引脚、触头、检查装置、工业用弹簧、悬丝
KR102350158B1 (ko) * 2017-07-10 2022-01-12 유나이티드 프리시젼 테크놀로지스 컴퍼니 리미티드 동은 합금을 이용한 도전성 부재, 접촉핀 및 장치
JP2022050442A (ja) * 2017-07-10 2022-03-30 ユナイテッド・プレシジョン・テクノロジーズ株式会社 銅銀合金を用いた導電性部材、コンタクトピン及び装置
CN112310689A (zh) * 2019-07-15 2021-02-02 李承龙 弯曲结构的接口、包括接口的接口组件和测试插座以及制造接口的方法
CN112310689B (zh) * 2019-07-15 2022-06-10 李承龙 弯曲结构的接口、包括接口的接口组件和测试插座以及制造接口的方法
KR102122975B1 (ko) * 2019-08-08 2020-06-16 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 칩 테스트 소켓

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