JP2001274333A - ハードマクロセル及びシステムlsi - Google Patents

ハードマクロセル及びシステムlsi

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JP2001274333A
JP2001274333A JP2000087409A JP2000087409A JP2001274333A JP 2001274333 A JP2001274333 A JP 2001274333A JP 2000087409 A JP2000087409 A JP 2000087409A JP 2000087409 A JP2000087409 A JP 2000087409A JP 2001274333 A JP2001274333 A JP 2001274333A
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clock
clock signal
delay
flip
signal
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Hideya Kishigami
秀哉 岸上
Hiroki Muroga
啓希 室賀
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 システムLSIを製造した後に内部のクロッ
クディレイを微調整することができるハードマクロセル
提供する。 【解決手段】 外部よりクロック信号を入力するクロッ
ク入力端子と、前記クロック入力端子から入力されたク
ロック信号に基づいて動作するフリップフロップと、前
記クロック入力端子から前記フリップフロップのクロッ
ク入力端子までのクロックディレイ量を生成するクロッ
ク信号遅延回路と、前記クロック信号遅延回路で生成さ
れるクロックディレイ量を外部から制御する制御手段と
を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CPUコア等のハ
ードマクロセル、及びハードマクロセルを搭載したシス
テムLSIに関する。
【0002】
【従来の技術】CPUコアとユーザロジックを内蔵する
システムLSIを開発するに当たり、通常、設計段階で
ユーザロジック部のクロックスキューをできる限り小さ
く抑えるために、CTS(clock tree sy
nthesis)を行う。これにより、ユーザロジック
内の各フリップフロップに供給されるクロックのスキュ
ーが最小になるようにしている。
【0003】このCTSは、レイアウトの実配線情報
(遅延情報)及び各セルの遅延情報に基づき行うが、製
造プロセスの微細化により、これら遅延情報に基づいた
クロックスキューの設計と実デバイスでのクロックスキ
ューが必ずしも正確に一致しなくなってきている。
【0004】CPUコアも、ユーザロジックと同様にC
TSを用い、CPUコア内部の各フリップフロップでの
クロックスキューを最小になるようにレイアウト設計が
なされている。CPUコアは、汎用性が高く、使い回し
が利くため、通常、確定したレイアウトを持ったハード
マクロセルとして供給されている。CPUコア内部のク
ロック入力端子からCPUコア内部のフリップフロップ
までのディレイは、高い精度で一定(フリップフロップ
間でのクロックスキューが小さい)となるようにレイア
ウト設計されている。
【0005】図9は、従来のCPUコアを搭載したシス
テムLSIの要部構成図である。
【0006】CPUコア120にクロックを供給する場
合、このCPUコア120を含んだ全体のシステムが理
想的に動作するように、このシステムの基幹クロックを
生成するクロックジェネレータ110からCPUコア1
20のクロック入力端子120a(或いはCPUコア内
部のフリップフロップ121のクロック端子121a)
までのクロック信号CK1の遅延時間と、クロックジェ
ネレータ110からユーザロジック130内部における
フリップフロップ131のクロック端子131aまでの
クロック信号CK3の遅延時間とを調整する必要がある
(図10のd参照)。ここでも先に説明した通り、シミ
ュレーションが、実デバイスでの動作を正確に反映でき
ないため、必ずしも正確に一致していない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のシステムLSIにおいて、CPUコア120までの
クロック遅延と、ユーザロジック130のフリップフロ
ップ131までのクロック遅延を精度高く正確に調整す
ることは、非常に困難なことであった。
【0008】実際にシステムLSIを製造して初めて、
クロック遅延値の調整が必要なことが判明することもあ
り、LSIを製造した後にLSI内のクロックスキュー
を微調整することはできなかった。このため、クロック
スキューに関するトラブルが発生すると、再度LSIを
修正(リファイン)する必要があり、修正時間とコスト
が非常にかかっていた。
【0009】また、CPUコアを内蔵するシステムLS
Iにおいて、LSI全体のクリティカル・タイミング
は、しばしばCPUコア120と他のユーザロジック部
130との信号の受け渡し部で生じる場合がある。例え
ばCPUコア120のアドレスバスやデータバスには多
数の負荷がつくため、これら信号でのディレイが大きく
なり、セットアップ・タイミングが厳しくなる。これに
関しても、設計時点でのシミュレーション確認によっ
て、製造プロセス/環境(温度、電圧)がワーストの場
合でもベストの場合でも問題が生じないように設計/調
整する。
【0010】しかし、タイミング調整が厳しい場合、こ
の部分の調整に非常に時間を要したり、或いは設計期間
の時間切れからターゲット・スペックを緩和したりして
対処する場合もしばしば生じているのが現状であり、何
らかの手段により、この部分のタイミング調整をより簡
単にする方法が望まれていた。
【0011】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、システムLS
Iを製造した後に内部のクロックディレイを微調整する
ことができるハードマクロセル、及びこれを搭載したシ
ステムLSIを提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明に係るハードマクロセルでは、
信号のディレイ量を生成する信号遅延回路と、前記信号
遅延回路で生成される信号ディレイ量を制御する制御手
段とを備えたことを特徴とする。
【0013】請求項2記載の発明に係るハードマクロセ
ルでは、外部よりクロック信号を入力するクロック入力
端子と、前記クロック入力端子から入力されたクロック
信号に基づいて動作するフリップフロップと、前記クロ
ック入力端子から前記フリップフロップのクロック入力
端子までのクロックディレイ量を生成するクロック信号
遅延回路と、前記クロック信号遅延回路で生成されるク
ロックディレイ量を外部から制御する制御手段とを備え
たこと特徴とする。
【0014】請求項3記載の発明に係るハードマクロセ
ルでは、外部よりクロック信号を入力するクロック入力
端子と、前記クロック入力端子から入力されたクロック
信号を遅延させる第1及び第2のクロック信号遅延回路
と、前記第一及び第2のクロック信号遅延回路からそれ
ぞれ出力された第1及び第2の遅延クロック信号に基づ
いて動作する第1及び第2のフリップフロップとを備え
たハードマクロセルであって、前記第1のクロック信号
遅延回路から出力される第1の遅延クロック信号を前記
第1のフリップフロップのクロック入力信号とし、前記
第2のクロック信号遅延回路から出力される第2の遅延
クロック信号を前記第2のフリップフロップのクロック
入力信号とすると共に、第1のフリップフロップの出力
データを外部に出力し、外部からの入力データを前記第
2のフリップフロップのデータ入力とし、前記第1及び
前記第2のクロック信号遅延回路によって生成されるク
ロックディレイ量を外部から制御可能に構成したことを
特徴とする。
【0015】請求項4記載の発明に係るハードマクロセ
ルでは、請求項3記載のハードマクロセルにおいて、L
SI内部ロジックのディレイ量を自動的に検出するディ
レイ量検出回路の検出信号により、前記第1及び前記第
2のクロック信号遅延回路のクロックディレイ量を制御
する構成にしたことを特徴とする。
【0016】請求項5記載の発明に係るシステムLSI
では、請求項1乃至請求項4記載のハードマクロセルを
備えたことを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
【0018】[第1実施形態]図1は、本発明の第1実
施形態に係るシステムLSIの要部構成図であり、図2
は、図1中の要部端子部分の波形を示すタイミング図で
ある。
【0019】このシステムLSIは、システムの基幹ク
ロックを生成するクロックジェネレータ10を有し、こ
のクロックジェネレータ10から出力されたクロック信
号CK1,CK3は、本発明の特徴を成すクロックディ
レイ調整機能を内蔵したCPUコア20と、ユーザロジ
ック30にそれぞれ供給されるようになっている。
【0020】図中の20aは、クロック信号CK1が入
力されるCPUコア20のクロック入力端子であり、2
0bは、コントロール信号CTが入力されるCPUコア
20のコントロール入力端子である。このCPUコア2
0には、クロック入力端子20aからCPUコア内部に
おけるフリップフロップ23のクロック入力端子23a
までのクロック遅延を可変することが可能なクロック信
号遅延回路21と、そのクロック信号遅延回路21で生
成されるディレイ量を、CPUコア外部からのコントロ
ール信号CTにより選択するセレクタ22とを、クロッ
クディレイ調整機能として備えている。
【0021】クロック信号遅延回路21は、CPUコア
20に入力されるクロック信号CK1に対してCPUコ
ア20内部でのディレイ量を生成する手段として、遅延
素子群21a,21b,21cで構成される三つの遅延
経路と、遅延素子を介さないダイレクト経路とで構成さ
れ、セレクタ22は、これらの経路をコントロール信号
CTにより選択するようになっている。
【0022】具体的には、フリップフロップ23に供給
されるクロック信号CK2の位相をコントロール信号C
Tにより微調整するに際し、セレクタ22がダイレクト
経路を選択したときは、図2に示すように、最小のディ
レイ量D1に設定され、遅延素子群21aの経路を選択
した時は、ディレイ量D2(D2>D1)に設定され、
遅延素子群21bの経路を選択した時は、ディレイ量D
3(D3>D2)に設定され、そして、遅延素子群21
cの経路を選択した時は、最大のディレイ量D4に設定
される。
【0023】前述したように、CPUコアを内蔵するシ
ステムLSIを開発するに当たり、CPUコア20を動
作させるクロックとユーザシステム部30を動作させる
クロックのスキューの調整は、必須の項目である。しか
しながら、その調整は、シミュレーションと実デバイス
で異なることが多々あるため、非常に難しい作業であっ
た。このようなシステムLSIを多数開発する際、その
製品毎にスキュー調整を行わなければならない。
【0024】このような点に鑑み、本実施形態では、C
PUコア等のように汎用性が高く使い回しの利くハード
マクロセルの内部に、クロック信号のディレイ値を調整
する機能を持たせるようにしたので、ユーザシステム部
30のクロックディレイだけをCTSで確定させ、CP
Uコア20とのスキュー調整を、CPUコア20の持つ
クロックディレイ調整機能で合わせ込むことにより、製
品開発の期間を短縮することが可能になる。すなわち、
システムLSIを製造した後に、CPUコア内部のクロ
ックディレイ量を微調整することにより、クロックスキ
ューに起因したトラブルが生じた場合でも、システムL
SIを再度設計、製造し直すことなしに、当該トラブル
を解決することができる。
【0025】なお、クロック信号CK1のディレイ量を
指定するための手段として、CPUコア外部からのコン
トロール信号CTを用いたが、CPUコア内部に、ディ
レイ量の指定データを格納したレジスタを設けるように
してもよい。
【0026】[第2実施形態]図3は、本発明の第2実
施形態にかかるシステムLSIの要部構成図であり、図
4及び図5は、図3中の要部端子部分の波形を示すタイ
ミング図である。
【0027】本実施形態では、CPUコア40からの出
力データを生成するフリップフロップ23−1へのクロ
ック信号CK2aと、CPUコア40への入力データの
受信するフリップフロップ23−2へのクロック信号C
K2bとに対して、CPUコア40のクロック入力端子
40aから、それぞれフリップフロップ23−1,23
−2の各クロック入力端子23−1a,23−2aまで
のディレイ量を別々に調整するための手段を設けたもの
である。
【0028】具体的には、本実施形態のCPUコア40
は、クロック入力端子40aから入力されるクロック信
号CK1のディレイ量を生成する第1及び第2のクロッ
ク信号遅延回路21−1,21−2と、そのクロック信
号遅延回路21−1,21−2で生成されるディレイ量
を、それぞれCPUコア外部からのコントロール信号C
T1,CT2により選択するセレクタ22−1,22−
2とを、クロックディレイ調整機能として備えている。
【0029】そして、セレクタ22−1から出力される
第1の遅延クロック信号CK2aを、CPUコア40内
のフリップフロップ23−1のクロック入力信号とし、
第2のクロック信号遅延回路22−2から出力される第
2の遅延クロック信号CK2bを、CPUコア40内の
フリップフロップ23−2のクロック入力信号とする構
成である。
【0030】さらに、フリップフロップ23−1の出力
がCPUコア40の出力端子からユーザロジック50の
フリップフロップ51に出力され、フリップフロップ2
3−2のデータ入力は、ユーザロジック50のフリップ
フロップ52から出力されたデータとなっている。
【0031】本実施形態のクロックディレイの調整は、
次のように行う。
【0032】製造プロセスにおいて、トランジスタの動
作電圧閾値Vthを高く或いはゲート幅を大きく設定し
た場合、温度が高い場合、または電源電圧を低くした場
合は信号のスピードが遅くなる。このような場合におい
ては、図4に示すように、第1の遅延クロック信号CK
2aのディレイ量を小さくし、第2の遅延クロック信号
CK2bのディレイ量を大きくする。これによって、C
PUコア40とユーザロジック50との間のクロックサ
イクルが大きくなり.セットアップマージンを十分確保
することができる。
【0033】一方、製造プロセスにおいて、トランジス
タの動作電圧閾値Vthを低く或いはゲート幅を小さく
設定した場合、温度が低い場合、または電源電圧を高く
した場合は信号のスピードが早くなる。このような場合
においては、図5に示すように、第1の遅延クロック信
号CK2aのディレイ量を大きくし、第2の遅延クロッ
ク信号CK2bのディレイ量を小さくする。これによっ
て、CPUコア40とユーザロジック50との間のクロ
ックサイクルが小さくなり.ホールドマージンを十分確
保することができる。
【0034】このような本実施形態では、システムLS
Iの製造プロセスマージンや動作マージンを、従来より
も拡大することが可能である。すなわち、CPUコア4
0からの出力データのフリップフロップ23−1をコン
トロールするクロックCK2aと、CPUコア40への
入力データのフリップフロップ23−2をコントロール
するクロックCK2bに対して、製造プロセス(動作電
圧閾値Vth,ゲート幅)/温度/電圧によるLSI内
部のロジックスピードの早い/遅いに応じて、CPUコ
ア40のクロック入力端子40aからフリップフロップ
23−1,23−2の各クロック端子23−1a,23
−2aまでのディレイ量を微調整することにより、CP
Uコア40と他のユーザロジック部50とのセットアッ
プ(スピード遅い時)/ホールド(スピード早い時)マ
ージンを従来よりも大きくとることができる。
【0035】[第3実施形態]図6は、本発明の第3実
施形態にかかるシステムLSIの要部構成図であり、図
7は、図6中のスピード検出回路の構成図である。ま
た、図8は、図7の回路のタイミング図である。
【0036】本実施形態では、上記第2実施形態の構成
において、製造プロセス(動作電圧閾値Vth,ゲート
幅)/温度/電圧による内部ロジックスピードのディレ
イ量を自動的に検出するスピード検出回路60を設け、
CPUコア40のクロック入力端子40aからフリップ
フロップ23−1,23−2の各クロック入力端子まで
のディレイ量調整を、前記スピード検出回路60からの
出力(コントロール信号CT)により行うようにしたも
のである。
【0037】スピード検出回路60は、フリップフロッ
プ61,62間にディレイパス63が設けられた構成に
おいて、そのフリップフロップ61,62の各出力デー
タの一致/不一致を比較し、上記コントロール信号CT
を出力する比較回路(XOR回路)64を備えている。
【0038】ディレイパス63による遅延がクロックC
Kの1周期より小さい場合(スピードが早い場合)は、
図8に示すように、比較器64の出力であるコントロー
ル信号CTがHIGHレベルになる。一方、ディレイパ
ス63による遅延がクロックCKの1周期より大きい場
合(スピードが遅い場合)は、コントロール信号CTが
LOWレベルになり、CPUコア40のクロック信号C
K2a,CK2bの位相を最適になるように調整する。
【0039】このような本実施形態では、CPUコア4
0に入力されるクロック入力信号CK1のディレイ量の
調節をLSI内部のスピード自動検出回路60により調
整することにより、自動的にCPUコア40と他のユー
ザロジック部50とのセットアップ(スピード遅い時)
/ホールド(スピード早い時)マージンを大きくするこ
とができる。
【0040】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、CPUコアなどのハードマクロセルを搭載したシ
ステムLSIにおいて、システムLSIを製造した後
に、本発明のクロックディレイ調整機能によりハードマ
クロセル内部のクロックディレイを微調整することが可
能である。これにより、クロックスキューに起因したト
ラブルが生じた場合でも、システムLSIを再度設計、
製造し直すことなしに、当該トラブルを解決することが
可能になる。
【0041】また、システムLSIの製造プロセスマー
ジンや動作マージンを拡げることも可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態にかかるシステムLSI
の要部構成図である。
【図2】図1中の要部端子部分の波形を示すタイミング
図である。
【図3】本発明の第2実施形態にかかるシステムLSI
の要部構成図である。
【図4】図3中の要部端子部分の波形を示すタイミング
図である。
【図5】図3中の要部端子部分の波形を示すタイミング
図である。
【図6】本発明の第3実施形態にかかるシステムLSI
の要部構成図である。
【図7】図6中のスピード検出回路の構成図である。
【図8】図7の回路のタイミング図である。
【図9】従来のCPUコアを搭載したシステムLSIの
要部構成図である。
【図10】図9中の要部端子部分の波形を示すタイミン
グ図である。
【符号の説明】
10 クロックジェネレータ 20 CPUコア 21 クロック信号遅延回路 21a,21b,21c 遅延素子群 22 セレクタ 20a,23a,31a クロック入力端子 20b コントロール入力端子 23,31 フリップフロップ 30 ユーザロジック CK1,CK2,CK3 クロック信号 CT コントロール信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F038 CD06 CD09 DF07 DF11 EZ20 5F064 AA04 BB09 BB18 BB19 DD25 EE47 EE54

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号のディレイ量を生成する信号遅延回
    路と、 前記信号遅延回路で生成される信号ディレイ量を制御す
    る制御手段とを備えたことを特徴とするハードマクロセ
    ル。
  2. 【請求項2】 外部よりクロック信号を入力するクロッ
    ク入力端子と、 前記クロック入力端子から入力されたクロックのディレ
    イ量を生成するクロック信号遅延回路と、 前記クロック信号遅延回路で生成されるクロックディレ
    イ量を外部から制御する制御手段と、前記制御手段によ
    り選択されたクロックディレイ量分遅延したクロック信
    号に基づいて動作するフリップフロップとを備えたこと
    を特徴とするハードマクロセル。
  3. 【請求項3】 外部よりクロック信号を入力するクロッ
    ク入力端子と、 前記クロック入力端子から入力されたクロック信号を遅
    延させる第1及び第2のクロック信号遅延回路と、前記
    第一及び第2のクロック信号遅延回路からそれぞれ出力
    された第1及び第2の遅延クロック信号に基づいて動作
    する第1及び第2のフリップフロップとを備えたハード
    マクロセルであって、 前記第1のクロック信号遅延回路から出力される第1の
    遅延クロック信号を前記第1のフリップフロップのクロ
    ック入力信号とし、前記第2のクロック信号遅延回路か
    ら出力される第2の遅延クロック信号を前記第2のフリ
    ップフロップのクロック入力信号とすると共に、第1の
    フリップフロップの出力データを外部に出力し、外部か
    らの入力データを前記第2のフリップフロップのデータ
    入力とし、前記第1及び前記第2のクロック信号遅延回
    路によって生成されるクロックディレイ量を外部から制
    御可能に構成したことを特徴とするハードマクロセル。
  4. 【請求項4】 LSI内部ロジックのディレイ量を自動
    的に検出するディレイ量検出回路の検出信号により、前
    記第1及び前記第2のクロック信号遅延回路のクロック
    ディレイ量を制御する構成にしたことを特徴とする請求
    項3記載のハードマクロセル。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至請求項4記載のハードマク
    ロセルを備えたことを特徴とするシステムLSI。
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