JP2001221954A - ビームスプリッタの配置方法および光学計測装置 - Google Patents

ビームスプリッタの配置方法および光学計測装置

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JP2001221954A
JP2001221954A JP2000038030A JP2000038030A JP2001221954A JP 2001221954 A JP2001221954 A JP 2001221954A JP 2000038030 A JP2000038030 A JP 2000038030A JP 2000038030 A JP2000038030 A JP 2000038030A JP 2001221954 A JP2001221954 A JP 2001221954A
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light
beam splitter
optical axis
measurement
light source
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JP2000038030A
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English (en)
Inventor
Tokuo Sato
徳夫 佐藤
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MITO FUJI KOKI KK
Fujinon Corp
Original Assignee
MITO FUJI KOKI KK
Fuji Photo Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 像のコントラストを改善することができ、ま
た偽像の発生を防止することができるビームスプリッタ
の配置方法および光学計測装置を提供する。 【解決手段】 オートコリメータ1において、光源3か
ら発せられる光源光I1が進行する光軸A上に、ビーム
スプリッタ6を、面61および62が光軸Aに対して直
交する軸Cに対して所定角度α1だけ傾斜するように配
置する。所定角度α1は、例えば1度〜7度の範囲内に
設定される。ビームスプリッタ6の内面反射により発生
した不要光は、接眼レンズ8の方向とは異なる方向に進
み、接眼レンズ8には計測対象物から戻ってきた計測光
M1だけが到達する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばオートコリ
メータ、反射式偏心顕微鏡あるいは焦点位置検出器等の
ようなビームスプリッタを備えた光学計測装置、および
そのような光学計測装置におけるビームスプリッタの配
置方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光学計測装置として、測定対象物の微小
な角度変化を計測することができるオートコリメータが
知られている。オートコリメータは、例えば特開平6−
59172号公報に開示されるように、光磁気ディスク
装置、オーディオ機器、ビジュアル機器等の光ピックア
ップに使用される対物レンズの光軸の傾きを調節するた
めの反射式偏心顕微鏡や、例えば特開平9−90199
号公報に開示されるように、自動焦点カメラの焦点位置
検出器として幅広く応用されている。
【0003】図8は従来の一般的なオートコリメータの
構成を表すものである。なお、光源光I1、透過光T
1、計測光M1および内面反射光R1は、実際にはいず
れも光軸A上に重なっている光であるが、説明の便宜
上、この図では互いに離して図示している。同様に、光
軸Bに沿って進む計測光M1および内面反射光R1もま
た、互いに離して図示しているが、実際には、光軸B上
で重なっている。
【0004】図8に示したように、オートコリメータ1
00は、光源103と、光源103から発せられた光の
一部を通過させて点光源として機能するスリット105
と、スリット105を通過した光源光I1が入射するビ
ームスプリッタ106と、測定対象物110とビームス
プリッタ106との間に配置された対物レンズ104と
を備えている。光源103、スリット105、ビームス
プリッタ106、対物レンズ104および計測対象物1
00は、この順で光軸A上に配置されている。ビームス
プリッタ106は、正四面体(立方体)状の形状をな
し、光源からの光源光I1が入射する面161と、測定
対象物110から反射され対物レンズ104を透過して
きた計測光M1が入射する面162と、これらの面16
1,162に対してそれぞれ45度の傾斜角度をなすハ
ーフミラー166と、面161,162に直交する1対
の面164,165とを有している。面161,162
は互いに平行であり、面164,165は互いに平行で
ある。このビームスプリッタ106は、面161,16
2が光軸Aと直交するように(面164,165が光軸
Aと平行になるように)配置されている。
【0005】このオートコリメータ100はまた、光軸
Aと直交する光軸B上に、ビームスプリッタ106から
離れる方向に順に配置されたレンズ181、レチクル1
07およびレンズ182を備えている。レンズ181,
182は、接眼レンズ108を構成している。レチクル
107は、測定対象物110で反射されて戻ってきた計
測光M1がスリット105の像(以下、単にスリット像
という。)を結像する位置に配置されており、このスリ
ット像の位置変化を検出し易くするための目盛りを備え
ている。
【0006】このような構成のオートコリメータ100
では、光源103から発せられた光源光I1は、計測光
の光軸Aに沿ってスリット105を通過し、ビームスプ
リッタ106および対物レンズ104を順に透過し、透
過光T1として測定対象物110に到達する。この透過
光T1は、測定対象物110で反射されたのち、計測光
M1として光軸Aに沿って逆方向に進み、さらに、対物
レンズ104を透過してビームスプリッタ106に到達
し、面162に入射する。
【0007】上記のように、ビームスプリッタ106
は、各面161,162が光軸Aと直交するように配置
され、したがって、ハーフミラー166は光軸Aに対し
て45度の角度をなしている。このため、ビームスプリ
ッタ106の面162に入射した計測光M1は、ハーフ
ミラー166によって光軸Aと直交する光軸Bの方向に
反射されて分岐し、光軸B上を進行する。分岐された計
測光M1によるスリット像は、レンズ181によってレ
チクル107上に結像する。計測作業者は、このスリッ
ト像の位置変化をレンズ182を通して目視観測するこ
とにより、測定対象物の測定面の微少な変位(角度変
化)等を計測することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このように、スリット
105を通過してビームスプリッタ106に入射した光
の大半は、測定対象物110の微小な角度変化の計測に
用いられる有用光(透過光T1)となる。すなわち、こ
の有用光は、ビームスプリッタ106および対物レンズ
104を透過して測定対象物110で反射され、計測光
M1として対物レンズ104を経てビームスプリッタ1
06のハーフミラー166で分岐反射され、レチクル1
07上に結像する。しかしながら、従来のオートコリメ
ータにおいては、以下のような問題があった。
【0009】スリット105を通過してビームスプリッ
タ106に入射した光源光I1の一部はハーフミラー1
66を直進してビームスプリッタ106の面162に達
し、他の部分はハーフミラー166で反射されて不要成
分(反射光R2)となり、面165に達する。面162
に達した光は、その大半が面162を透過して透過光T
1となるが、他の部分は面162において、この面と垂
直に内面反射し、不要成分(反射光R1)となる。この
不要成分(R1)は、有用光(計測光M1)と同じ光路
を辿って(光軸Aおよび光軸Bに沿って)レチクル10
7上の同じ位置に達する。
【0010】一方、ハーフミラー166で反射されて面
165に達した不要成分(反射光R2)の一部は、この
面165で垂直に内面反射して光軸B上を逆進し、有用
光(計測光M1)と同じ光路を辿ってレチクル107上
の同じ位置に達する。さらに、不要成分(反射光R1,
R2)の各一部は、ビームスプリッタ106の他の面1
61,164においても垂直に内面反射する。
【0011】結局、ビームスプリッタ106の内部で
は、反射光R1,R2の一部が面161,162,16
4,165およびハーフミラー66で反射を繰り返すこ
とによる多重反射が行われ、これにより、生じた光(不
要成分)のうちのかなりの部分が光軸Bに沿って接眼レ
ンズ108に入射することとなる。これらの不要成分
は、計測光M1によってレチクル107上に形成される
スリット像のコントラストを低下させるように作用す
る。例えば、反射式偏心顕微鏡においては、これらの不
要成分が偽像(ゴースト)を生じる要因になってしま
う。このため、光学計測作業の妨げになるばかりか、人
為的な計測ミスを招く可能性もあった。
【0012】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、偽像の発生を防止して観測像のコン
トラストを改善することができるビームスプリッタの配
置方法および光学計測装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明のビームスプリッ
タの配置方法は、所定の光源から第1の光軸に沿って進
行してきた光源光が入射する第1の面と、第1の面から
入射した光源光を出射させると共に、出射後、計測対象
物を経て戻ってきた計測光が入射する第2の面と、第1
の面と第2の面との間に設けられ、第2の面から入射し
た計測光の一部を反射して第1の光軸と交差する第2の
光軸の方向に分岐させる光分離面とを備えたビームスプ
リッタを配置するための方法であって、少なくとも第2
の面が、第1の光軸と直交する面に対して所定の角度で
傾斜することとなるように、光源と計測対象物とを結ぶ
第1の光軸上にビームスプリッタを配置するようにした
ものである。
【0014】本発明の光学計測装置は、所定の光源と計
測対象物とを結ぶ第1の光軸上に配置されたビームスプ
リッタを有する光学計測装置であって、ビームスプリッ
タが、光源から第1の光軸に沿って進行してきた光源光
が入射する第1の面と、第1の面から入射した光源光を
出射させると共に、出射後、計測対象物を経て戻ってき
た計測光が入射する第2の面と、第1の面と第2の面と
の間に設けられ、第2の面から入射した計測光の一部を
反射して第1の光軸と交差する第2の光軸の方向に分岐
させる光分離面とを備え、少なくともビームスプリッタ
の第2の面が、第1の光軸と直交する面に対して所定の
角度で傾斜するように構成したものである。
【0015】本発明のビームスプリッタの配置方法また
は光学計測装置では、所定の光源から第1の光軸に沿っ
て進行してきた光源光はビームスプリッタの第1の面か
ら入射したのち、第2の面に到達し、ここから外部に出
射する。第2の面から出射した光は、計測対象物を経て
戻ってくることで計測光となり、再び第2の面に入射す
る。第2の面に入射した計測光は、ビームスプリッタの
第1の面と第2の面との間に設けられた光分離面によっ
て一部が反射され、第1の光軸と交差する第2の光軸の
方向に向かう。このビームスプリッタは、少なくとも第
2の面が、第1の光軸と直交する面に対して所定の角度
で傾斜することとなるように、光源と計測対象物とを結
ぶ第1の光軸上に配置されている。このため、ビームス
プリッタの第1の面を経て第2の面に到達してここで内
面反射した光は、計測対象物を経て戻ってきて第2の面
に入射した計測光と異なる光路を進み、第2の光軸の方
向には向かわない。すなわち、これらの2つの光の光路
分離がなされる。
【0016】本発明のビームスプリッタの配置方法また
は光学計測装置では、ビームスプリッタとして、第1の
面と第2の面とが互いに平行をなすものを用いることが
好ましい。また、ビームスプリッタとして、光分離面が
第1の面および第2の面に対してそれぞれ45度の角度
をなすものを用いることが好ましい。
【0017】また、本発明の光学計測装置では、第2の
光軸を、ビームスプリッタの第2の面の傾斜角度に応じ
て、第1の光軸と直交する方向よりも光源に近づく方向
に設定するのが好ましい。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
【0019】図1〜図3を参照して、本発明の一実施の
形態に係る光学計測装置としてのオートコリメータにつ
いて詳細に説明する。なお、本発明に係るビームスプリ
ッタの配置方法は、本実施の形態に係るオートコリメー
タにより具現化されるので、以下、併せて説明する。
【0020】図1は、本実施の形態に係るオートコリメ
ータ1の断面構成を表し、図2は、オートコリメータ1
の簡略化した構成および基本原理を表すものである。な
お、これらの図において、ビームスプリッタ6の各透過
面における屈折量は微小であるので、これを無視した形
で各光路を描いている。
【0021】図1および図2に示したように、オートコ
リメータ1は、光源3と、光源3から発せられた光の一
部を通過させて点光源またはそれに近い光源を形成する
スリット5と、光源3とスリット5との間に設けられ、
光源3からの光をスリットに集中させるためのコンデン
サレンズ(図示せず)と、このコンデンサレンズを通過
した光源光I1が入射するビームスプリッタ6と、対物
レンズ4とを備えている。光源3、スリット5、ビーム
スプリッタ6、対物レンズ4は、この順で光軸A上に配
置されている。この光軸Aの延長上には、後述する計測
対象物10が配置されるようになっている。ここで、光
軸Aが本発明における「第1の光軸」の一具体例に対応
する。
【0022】ビームスプリッタ6は、立方体(正六面
体)形状をなしており、光源からの光源光I1が入射す
る面61と、面61から入射した光源光I1を光軸Aに
沿って出射させると共に計測対象物10から戻ってきた
計測光M1が入射する入射面62と、これらの面61,
62に対してそれぞれ45度の傾斜角度をなすハーフミ
ラー66とを有している。面61,62は互いに平行で
ある。ビームスプリッタ6は、その中心を光軸Aが通
り、かつ、面61,62が光軸Aと直交する面に対して
角度α1をなすように配置されている。ビームスプリッ
タ6については、後にさらに詳述する。
【0023】このオートコリメータ1はまた、光軸Aと
直交する直交軸Cに対して角度α2をなすと共にビーム
スプリッタ6の中心を通る光軸B上に、ビームスプリッ
タ6から離れる方向に順に配置されたレンズ81、レチ
クル7およびレンズ82を備えている。これらのレンズ
81、レチクル7およびレンズ82は、鏡筒80に収容
されている。レンズ81,82は、接眼レンズ8を構成
している。レチクル7は、計測対象物10で反射されて
戻ってきた計測光M1がスリット5の像(以下、単にス
リット像という。)を結像させる位置に配置されてい
る。レチクル7は、スリット像の2次元的な(光軸Bと
直交する面内での)変位を観測しやすくするための目盛
りを備えている。光軸Bは、ビームスプリッタ6の傾斜
角度α1に応じて、光軸Aと直交する方向よりも光源3
に近づく方向に角度α2をなすように設定されている。
ここで、α2=α1×2である。ここで、光軸Bが本発
明における「第2の光軸」の一具体例に対応する。
【0024】図1に示したように、オートコリメータ1
の光源3は光源収納ユニット30の内部に取り付けられ
ている。図示していないが、光源3は、光源点燈回路を
介在させて光源点燈用電源に接続されるようになってい
る。光源3としては、例えば白色光源が使用される。但
し、その他の光源(例えばレーザ光源等)も使用可能で
ある。
【0025】光源収納ユニット30には、スリット5を
収納するスリット収納ユニット50が取り付けられてい
る。スリット収納ユニット50は、スリット5を支持す
るスリット支持部51と、スリット支持部51上に配置
されたスリット5を押さえるスリット押さえ部52と、
スリット押さえ部52をスリット支持部51に対して固
定するための固定環53とを備えて構成されている。ス
リット5には、微小な開口(図示せず)が形成されてい
る。開口としては、例えば、円形開口(ピンホール)の
ほか、レチクル7上でのスリット像の2次元的な微少変
位を計測しやすくするために、十字型開口等が採用され
る。
【0026】スリット収納ユニット50には、ビームス
プリッタ収納ユニット600が取り付けられている。ビ
ームスプリッタ収納ユニット600の内部には、ビーム
スプリッタ支持部601が取り付けられており、このビ
ームスプリッタ支持部601にビームスプリッタ6が取
り付けられている。符号は付けないが、ビームスプリッ
タ支持部601は、複数の締結手段(具体的には例えば
6本のねじ)によりビームスプリッタ収納ユニット60
0の内部に取り付けられている。ビームスプリッタ6
は、ビームスプリッタ支持部601の4本の押さえ部材
602により、光軸Aに対する傾斜角α1を調節できる
ように取り付けられている。
【0027】対物レンズ4は筒状の対物レンズ鏡筒40
の内部に取り付けられている。この対物レンズ鏡筒40
は、筒状の第1の中間連結鏡筒および第2の中間連結鏡
筒42を介してビームスプリッタ収納ユニット600に
取り付けられている。
【0028】光軸A上において、オートコリメータ1の
対物レンズ4側の外部には、微小な角度変化の計測対象
となる計測対象物10が配置されるようになっている。
一方、光軸B上において、オートコリメータ1の接眼レ
ンズ8側の外部には計測作業者の眼9が位置するように
なっている。計測作業者は、レチクル7上に結像したス
リット像を、接眼レンズ8を通して目視観測を行うこと
で、計測対象物10の微小変位(例えば基準面に対する
被検面の傾き等)を計測することができるようになって
いる。
【0029】接眼レンズ8は、上記のように、鉛直方向
に配置される光軸Aと直交する水平方向の軸(直交軸
C)を基準としてこれよりも光源3に近づく方向に角度
α2だけ傾斜した光軸B上に配設されているので、計測
作業者は、目視観測時において上部から斜め下方向を見
下ろすような状態で接眼レンズ8を覗き込むことができ
る。すなわち、目視観測の際の計測作業者の姿勢を楽に
することができるので、計測作業を効率よく行うことが
できる。
【0030】図3は、本実施の形態に係るオートコリメ
ータ1のビームスプリッタ6の部分を拡大して表すもの
である。なお、この図においても、各光路については、
各透過面における屈折を無視した形で描いている。
【0031】図3に示したように、ビームスプリッタ6
は、光軸Aと光軸Bとが交差する位置に配設されてい
る。このビームスプリッタ6は、2つのプリズム6A,
6Bを接合して構成されており、4つの面61,62,
64,65を有している。面61,62は互いに平行で
あり、面64,65は互いに平行である。また、面6
1,62と面64,65とは互いに直交している。
【0032】面61は、スリット5を通過した光源光I
1が入射する面であり、本発明における「第1の面」の
一具体例に対応する。面62は、面61から入射した光
源光I1を光軸Aに沿って出射させると共に、対物レン
ズ4から戻ってきた計測光M1が入射する面であり、本
発明における「第2の面」の一具体例に対応する。面6
4は、面62から入射した計測光M1を光軸Bに沿って
接眼レンズ8の方向に出射させる面である。面65は、
面64に対向する面であり、計測に関与する光は通過し
ない。
【0033】2つのプリズム6A,6Bの接合面には、
ハーフミラー66が形成されている。このハーフミラー
66は、例えば誘電体多層膜により構成されている。ハ
ーフミラー66は、面61,62に対してそれぞれ45
度の角度をなしている。言い換えると、ハーフミラー6
6は光軸Aに対して角度βだけ傾斜して配置されてい
る。但し、β=(45−α1)度である。ここで、ハー
フミラー66が本発明における「光分離面」の一具体例
に対応する。
【0034】次に、以上のような構成のオートコリメー
タ1の動作および作用について、図1〜図3を使用して
説明する。なお、図3では、光軸Aおよび光軸B上を進
む光のみを図示している。
【0035】まず、計測対象物10の計測に関与する光
(以下、有用光という。)の挙動について説明する。
【0036】光源3から発せられた光源光I1は、光軸
A上を進み、スリット5を通過して拡がりながらビーム
スプリッタ6に到達する。ビームスプリッタ6に達した
光源光I1の大半は、面61を透過してハーフミラー6
6に達する。ハーフミラー66は、光源光I1のうちの
約半分の光量をそのまま光軸Aの方向に透過させ、他の
約半分の光量を反射光R2として面65の方向(接眼レ
ンズ8とは逆の方向)に反射する。
【0037】光源光I1のうち、ハーフミラー66を透
過した光は光軸Aに沿って拡がりながら直進し、面62
に到達する。面62に達した光源光I1のうちの大半
は、この面62をそのまま透過して透過光T1として対
物レンズ4に到達し、他の部分は、面62で内面反射し
て反射光R1となる。
【0038】対物レンズ4に到達した透過光T1は、こ
こで例えば光軸Aとほぼ平行な光に変換され、オートコ
リメータ1の外部に配置された計測対象物10に到達す
る。計測対象物10の表面では、透過光T1が反射され
て計測光M1となり、光軸Aに沿って逆進して、オート
コリメータ1の対物レンズ4に到達する。
【0039】対物レンズ4を逆進方向に透過した計測光
M1は、ビームスプリッタ6に到達し、面62からその
内部に入射する。面62から入射した計測光M1は、そ
の約半分の光量が、ハーフミラー66により光軸Bの方
向(光軸Aと直交する直交軸Cに対して光源3に近づく
方向にα2の角度をなす方向)に反射され、面64から
出射する。ビームスプリッタ6の面64から出射した計
測光M1は、光軸B上に配置された接眼レンズ8に入射
し、レンズ81によってレチクル7上にスリット像を形
成する。計測作業者は、レチクル7の目盛に対するスリ
ット像の変位を接眼レンズ82を通して目視観測するこ
とにより、計測対象物10の微小な角度変位を計測する
ことができる。一方、ビームスプリッタ6に入射した計
測光M1のうちの他の約半分の光量は、ハーフミラー6
6を直進して光源の方向に向かい、計測には関与しな
い。
【0040】次に、計測対象物10の計測に関与しない
光(以下、不要光という。)の挙動について説明する。
【0041】面61からビームスプリッタ6内部に入射
した光源光I1のうち、約半分の光量は、上記のよう
に、ハーフミラー66によって接眼レンズ8とは逆の方
向に反射され、反射光R2として面65に達する。ハー
フミラー66は、光軸Aに対してβ(=45−α1)の
角度をなしているため、このハーフミラー66で反射さ
れた反射光R2は、光軸Aと直交する直交軸Cの方向に
は向かわず、直交軸Cから角度α2(=2×α1)だけ
光源3とは逆方向にずれた方向に向かう。一方、面65
は、光軸に対してα1の角度をなしている。この結果、
面65に対する反射光R2の入射角は(90−α1)度
となり、面65での反射は垂直反射ではなくなる。この
ため、この面65で反射した光は、計測対象物10から
の計測光M1が向かう接眼レンズ8の方向(光軸Bの方
向)とは全く異なる方向に進む。なお、この面65で反
射した光は、その後、ビームスプリッタ6の内部で多数
回の反射を繰り返しながら、それぞれの一部がビームス
プリッタ6の外部に出射するが、接眼レンズ8の方向に
向かう光は(殆ど)生じない。
【0042】また、ハーフミラー66を透過して面62
に達した光源光I1のうちの一部分は、この面62で内
面反射して反射光R1となる。この面62は、光軸Aと
直交する直交軸Cに対してα1の角度をなしている。こ
のため、面62での内面反射は垂直反射にはならず、反
射光R1は、光軸Aに対して角度α2(α1×2)の方
向に向かう。この反射光R1は、さらに、ハーフミラー
66によってその約半分の光量が反射されて面64の方
向に向かい、他の約半分はそのまま直進して面61に向
かう。ハーフミラー66で反射した光は、計測対象物1
0からの計測光M1が向かう接眼レンズ8の方向とは全
く異なる方向に進む。なお、このハーフミラー66で反
射した光および透過した光は、その後、ビームスプリッ
タ6の内部で多数回の反射を繰り返しながら、それぞれ
の一部がビームスプリッタ6の外部に出射するが、接眼
レンズ8の方向に向かう光は殆ど生じない。
【0043】次に、光軸Aに対するビームスプリッタ6
の傾斜角度(すなわち、面61,62が直交軸Cに対し
てなす角度)α1の方向および大きさについて考察す
る。
【0044】上記のように、ビームスプリッタ6を角度
α1だけ傾斜させると、ビームスプリッタ6で分岐され
た計測光M1の進行方向(光軸Bの方向)は、光軸Aと
直交する直交軸Cの方向に対して、角度α1の2倍の大
きさの角度α2をなす方向となる。例えば、角度α1を
5度に設定した場合には、直交軸Cに対する光軸Bの傾
斜角度α2は10度になる。すなわち、光軸Bの方向
は、ビームスプリッタ6の面61,62の傾斜角度に応
じて定まる。特に、ビームスプリッタ6を、図3におけ
る反時計方向に傾斜させた場合には、上記のように、光
軸Bの方向は、光軸Aと直交する直交軸Cよりも光源3
に近づく方向に設定されることとなる。このため、計測
作業者は、観測し易い姿勢で作業を行うことができる。
但し、そのような事情を考慮しないのであれば、ビーム
スプリッタ6を図3における時計方向に傾斜させるよう
にしてもよいのはもちろんである。
【0045】光軸Aに対するビームスプリッタ6の傾斜
角度α1は、ハーフミラー66で反射されて戻ってきた
計測光M1の進行方向が、面61で反射された反射光R
1や面65で反射された反射光R2等の進行方向から、
できるだけ離れた角度方向となるようにするのが好まし
い。このためには、角度α1をできるだけ大きくする必
要がある。ところが、角度α1をあまりに大きくし過ぎ
ると、光源光I1と透過光T1との間に距離が生ずる結
果、ビームスプリッタ6の前後で光軸ずれが生じるので
好ましくない。これは、例えば、ビームスプリッタ6の
各透過面(面61,62,64)において色分離(光の
波長ごとに異なる光路をとること)が生ずる結果、最終
的にレチクル7に結像するスリット像が色にじみによっ
て鮮明さを欠くことになるからである。
【0046】本出願人らは、上記の観点を考慮して、角
度α1の最適な範囲を実験により求めたところ、1度〜
7度の範囲、より好ましくは、約5度±1度程度に設定
するのが好ましいという結果を得ている。
【0047】因みに、例えば図8に示したようなオート
コリメータにおけるビームスプリッタ6の取り付け精度
は、一般に、0.1度〜0.2度の範囲である。したが
って、本実施の形態における上記の角度範囲(1度〜7
度)は、通常のオートコリメータにおけるビームスプリ
ッタの取り付け精度範囲を大きく上回っている。すなわ
ち、本実施の形態のオートコリメータ1は、ビームスプ
リッタ6を一般な取り付け精度よりも大きな角度で意図
的に傾斜させている点に大きな特徴を有するものであ
る。
【0048】このように、本実施の形態のオートコリメ
ータ1によれば、ビームスプリッタ6の全体を光軸Aに
直交する直交軸Cに対して角度α1だけ傾斜させること
により、面62が光軸Aと直交しないようにしたので、
面62で反射する反射光R1の進行方向と、この面62
に入射してくる計測光M1の進行方向とを異ならせるこ
とができる。さらに、ビームスプリッタ6の全体を光軸
Aに直交する直交軸Cに対して角度α1だけ傾斜させる
ことにより、ハーフミラー66が光軸Aと45度以外の
角度で交差するようにしたので、ハーフミラー66で反
射した反射光R2が面65で反射することで生ずる反射
光やそれから派生する内面反射光の進行方向と、面62
に入射してくる計測光M1の進行方向とを異ならせるこ
ともできる。すなわち、計測対象物10の計測に関与す
る計測光M1を接眼レンズ8に導くようにする一方で、
ビームスプリッタ6の内面での不要な反射光R1,R2
等が接眼レンズ8に入射するのを容易かつ確実に防止す
ることができる。したがって、接眼レンズ8によって観
測されるスリット像の偽像の発生を減少させることがで
き、スリット像のコントラストを改善することができ
る。この結果、光学計測作業が容易になると共に、計測
ミスも減少する。
【0049】また、本実施の形態によれば、ビームスプ
リッタ6の傾斜角度α1に応じて、光軸Bを光源3に近
づく方向に傾斜させるようにしたので、接眼レンズ8が
やや上向きとなり、計測作業者9はより楽な姿勢でスリ
ット像を観測することができる。
【0050】また、本実施の形態によれば、ビームスプ
リッタ6の取り付け角度を僅かに変更するという極めて
簡易な方法によって、計測に有害な不要光を排除するこ
とができるので、例えば、ビームスプリッタ6の各面に
高性能の反射防止膜を施す必要がなくなる等、ビームス
プリッタ6の製造コストを低減することができ、ひいて
はオートコリメータ全体としての製造コストや製品コス
トを低減することができる。
【0051】次に、本実施の形態に関するいくつかの変
形例について説明する。なお、以下の変形例で示す図4
〜図7では、図3に示したビームスプリッタ6の各部に
対応する部分に同一の符号を付し、詳細な説明を省略す
るものとする。
【0052】〈第1の変形例〉図4は、本実施の形態の
第1の変形例に係るオートコリメータにおけるビームス
プリッタ6Aの形状を表すものである。本変形例のビー
ムスプリッタ6Aは、面61と面64との間の角部およ
び面62と面65との間の角部がそれぞれ面取りされた
六角柱形状のプリズムで構成されている。但し、これら
の面取りは、光源光I1がけられない程度の大きさとす
る。このビームスプリッタ6Aは、上記実施の形態のビ
ームスプリッタ6と同様に、面61、62およびハーフ
ミラー66を含む全体を光軸Aに垂直な直交軸Cに対し
て角度α1だけ傾斜させた状態で取り付られている。そ
の他の構成および作用は上記実施の形態の場合と同様で
ある。
【0053】本変形例によれば、ビームスプリッタ6A
の重量を上記実施の形態(図3)の場合よりも軽量化す
ることができると共に、設置スペースを小さくすること
ができる。
【0054】〈第2の変形例〉図5は、第2の変形例に
係るオートコリメータにおけるビームスプリッタ6Bの
形状を表すものである。本変形例では、ビームスプリッ
タ6Bは、直方体形状のプリズムで構成されており、面
61および面62の辺の長さよりも面64および面65
の辺の長さが長くなっている。このビームスプリッタ6
Bは、上記実施の形態の場合と同様に、面61、62お
よびハーフミラー66を含む全体を光軸Aに垂直な直交
軸Cに対して角度α1だけ傾斜させた状態で取り付られ
ている。その他の構成および作用は上記実施の形態の場
合と同様である。
【0055】本変形例によれば、ビームスプリッタ6B
の傾き角度が上記実施の形態の場合と同じα1であった
としても、ハーフミラー66が光軸Aとなす角度γが上
記実施の形態(図3)における角度βよりも大きくな
る。この結果、光軸Bと直交軸Cとのなす角度α3が上
記実施の形態(図3)における角度α2よりも大きくな
り、接眼レンズ8の向きがさらに上向きとなって、計測
作業性(接眼レンズ8の覗きやすさ)が一層向上する。
【0056】〈第3の変形例〉図6は、第3の変形例に
係るオートコリメータのビームスプリッタ6Cの形状を
表すものである。本変形例のビームスプリッタ6Cは、
立方体形状ではなく、斜方体形状を有するように形成さ
れたものであり、このビームスプリッタ6Cを、ハーフ
ミラー66が光軸Aと45度をなすように配置する。こ
のとき、面61,62は、光軸Aと直交する直交軸Cに
対して上記実施の形態の場合と同じ角度α1をなすよう
になっている。なお、本変形例では、計測光M1は光軸
Aと直交する直交軸Cの方向に進むので、接眼レンズ8
の光軸Bを直交軸Cと一致させる必要がある。その他の
構成は上記実施の形態の場合と同様である。
【0057】このような形状のビームスプリッタ6Cに
おいても、面62における内面反射光R1を計測光M1
から分離して、この反射光R1が接眼レンズ8に入射し
ないようにすることができる。一方、面65における反
射光R2については、この面65で垂直反射をするの
で、計測光M1と同じ光路を進行して接眼レンズ8に入
射する。但し、その光量は、反射光R1と比べると十分
に小さいので、計測光M1への影響はあまり大きくはな
い。なお、この図では、面61での反射光R1のみを図
示し、面65での反射光R2の図示を省略している。
【0058】本変形例は、何らかの理由で接眼レンズ8
を光軸Aと直交する方向(水平方向)に配設する必要が
ある場合に有用である。
【0059】〈第4の変形例〉図7は、第4の変形例に
係るオートコリメータのビームスプリッタ部分を表すも
のである。本変形例のビームスプリッタ6Dの形状は、
立方体形状でも斜方体形状でもなく、図3に示したビー
ムスプリッタ6のうちの計測対象物10側の面62のみ
が、光軸Aと直交する直交軸Cに対して角度α1をなす
ように形成されたものである。このビームスプリッタ6
Dを、ハーフミラー66が光軸Aと45度をなすように
配置する。このとき、面61は光軸Aと直交し、面62
は、光軸Aと直交する直交軸Cに対して上記実施の形態
の場合と同じ角度α1をなしている。なお、本変形例で
も、上記第3の変形例の場合と同様に、計測光M1は光
軸Aと直交する直交軸Cの方向に進むので、接眼レンズ
8を直交軸Cに沿って配置する必要がある。その他の構
成は上記実施の形態の場合と同様である。
【0060】このような形状のビームスプリッタ6Cに
おいても、面62における内面反射光R1を計測光M1
から分離して、この反射光R1が接眼レンズ8に入射し
ないようにすることができる。一方、面65における反
射光R2については、第3の変形例の場合と同様に、こ
の面65で垂直反射をして接眼レンズ8に入射するが、
その光量は、反射光R1と比べると十分に小さいので、
計測光M1への影響はあまり大きくはない。なお、この
図でも、面61での反射光R1のみを図示し、面65で
の反射光R2の図示を省略している。
【0061】本変形例もまた、上記第3の変形例の場合
と同様に、何らかの理由で接眼レンズ8を光軸Aと直交
する方向に配設する必要がある場合に有用である。
【0062】なお、図5〜図7に示した第2〜第4の変
形例では、厳密には、プリズム6B(または6Cまたは
6D)の面62に入射するときの計測光M1の入射角
は、プリズム6B(または6Cまたは6D)の面64か
ら出射するときの出射角と等しくならないことから、接
眼レンズ8に到達した光に色分解が生じていることも予
想されるが、その入射角と出射角との角度差が僅かであ
り、かつ、特に高い計測精度が要求される計測用途でな
ければ、実用上大きな問題とはならない。
【0063】以上、実施の形態およびその変形例を挙げ
て本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態や
変形例に限定されず、さらに種々の変形が可能である。
例えば、上記実施の形態およびその変形例では、微少な
角度変位の光学的計測に使用されるオートコリメータに
本発明を適用した場合を説明したが、本発明は、その他
の用途にも適用可能である。例えば、オートコリメータ
を基本的構成とする反射式偏心顕微鏡や自動焦点カメラ
の焦点位置検出器等の光学計測装置にも適用することが
できる。
【0064】また、上記実施の形態等では、計測対象物
の表面反射による角度変位を計測する場合について説明
したが、計測対象物が光を透過可能なもの(透明体)で
あれば、そのような計測対象物の変位計測にも本発明を
適用することが可能である。この場合には、計測対象物
10の背後(光源とは反対側)に反射ミラーを配置し、
計測対象物を透過した光をこの反射ミラーによって反射
させ、再び計測対象物を透過させてビームスプリッタに
導くようにすればよい。これにより、計測対象物を透過
する際に生じた光の角度変位を計測することができる。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のビームス
プリッタの配置方法または光学計測装置によれば、ビー
ムスプリッタを、少なくとも第2の面が、第1の光軸と
直交する面に対して所定の角度で傾斜することとなるよ
うに、光源と計測対象物とを結ぶ第1の光軸上に配置す
るようにしたので、ビームスプリッタの第1の面を経て
第2の面に到達して内面反射した光の光路と、計測対象
物を経て戻ってきて第2の面に入射した計測光の光路と
を分離することができる。すなわち、ビームスプリッタ
の内面反射等により生じた不要な光が第2の光軸の方向
に向かうという不都合を、ビームスプリッタの第2の面
を所定角度だけ傾斜させることによって、効果的に回避
することができる。したがって、計測にとって有害な光
が計測光に与える影響を極めて簡易な方法で低減でき、
光源像の偽像の発生防止や光源像のコントラスト改善等
が可能となる。さらに、この結果、熟練者でなくとも光
学計測作業を容易に行うことが可能となると共に、計測
ミスを減少させることもできるという効果を奏する。
【0066】特に、請求項5に記載の光学計測装置によ
れば、第2の光軸が、ビームスプリッタの第2の面の傾
斜角度に応じて、第1の光軸と直交する方向よりも光源
に近づく方向に設定されるようにしたので、計測者が計
測作業をより楽な姿勢で行うことができるという効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る光学計測装置とし
てのオートコリメータの構成を表す断面図である。
【図2】図1に示したオートコリメータの概略構成およ
び動作原理を表す図である。
【図3】図1に示したオートコリメータのビームスプリ
ッタの拡大断面図である。
【図4】本発明の実施の形態の第1の変形例に係るオー
トコリメータのビームスプリッタの拡大断面図である。
【図5】本発明の実施の形態の第2の変形例に係るオー
トコリメータのビームスプリッタの拡大断面図である。
【図6】本発明の実施の形態の第3の変形例に係るオー
トコリメータのビームスプリッタの拡大断面図である。
【図7】本発明の実施の形態の第2の変形例に係るオー
トコリメータのビームスプリッタの拡大断面図である。
【図8】従来のオートコリメータの概略構造を表す図で
ある。
【符号の説明】
1…オートコリメータ、I1…光源光、M1…計測光、
T1…透過光、R1,R2…反射光、3…光源、4…対
物レンズ、5…スリット、6,6A,6B,6C,6D
…ビームスプリッタ、61,62…面、66…ハーフミ
ラー、7…レチクル、8…接眼レンズ、10…計測対象
物、A,B…光軸、C…直交軸。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA32 AA37 DD02 DD12 FF01 GG02 GG24 JJ12 LL00 LL04 LL28 LL46 LL47 PP24 2H052 AA14 AB10 AB24 AC04 AD14 AF22

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の光源から前記第1の光軸に沿って
    進行してきた光源光が入射する第1の面と、前記第1の
    面から入射した光源光を出射させると共に、出射後、前
    記計測対象物を経て戻ってきた計測光が入射する第2の
    面と、前記第1の面と第2の面との間に設けられ、前記
    第2の面から入射した計測光の一部を反射して前記第1
    の光軸と交差する第2の光軸の方向に分岐させる光分離
    面とを備えたビームスプリッタを配置するための方法で
    あって、 少なくとも前記第2の面が、前記第1の光軸と直交する
    面に対して所定の角度で傾斜することとなるように、光
    源と計測対象物とを結ぶ第1の光軸上に前記ビームスプ
    リッタを配置することを特徴とするビームスプリッタの
    配置方法。
  2. 【請求項2】 前記ビームスプリッタとして、前記第1
    の面と第2の面とが互いに平行をなすものを用いるよう
    にしたことを特徴とする請求項1に記載のビームスプリ
    ッタの配置方法。
  3. 【請求項3】 前記ビームスプリッタとして、前記光分
    離面が前記第1の面および第2の面に対してそれぞれ4
    5度の角度をなすものを用いるようにしたことを特徴と
    する請求項1または請求項2に記載のビームスプリッタ
    の配置方法。
  4. 【請求項4】 所定の光源と計測対象物とを結ぶ第1の
    光軸上に配置されたビームスプリッタを有する光学計測
    装置であって、 前記ビームスプリッタは、 前記光源から前記第1の光軸に沿って進行してきた光源
    光が入射する第1の面と、 前記第1の面から入射した光源光を出射させると共に、
    出射後、前記計測対象物を経て戻ってきた計測光が入射
    する第2の面と、 前記第1の面と第2の面との間に設けられ、前記第2の
    面から入射した計測光の一部を反射して前記第1の光軸
    と交差する第2の光軸の方向に分岐させる光分離面とを
    備え、 少なくとも前記ビームスプリッタの前記第2の面が、前
    記第1の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜し
    ていることを特徴とする光学計測装置。
  5. 【請求項5】 前記第2の光軸は、 前記ビームスプリッタの前記第2の面の傾斜角度に応じ
    て、前記第1の光軸と直交する方向よりも前記光源に近
    づく方向に設定されていることを特徴とする請求項4に
    記載の光学計測装置。
  6. 【請求項6】 前記ビームスプリッタにおける前記第1
    の面と第2の面とが互いに平行をなすと共に、前記光分
    離面が前記第1の面および第2の面に対してそれぞれ4
    5度の角度をなすことを特徴とする請求項4または請求
    項5に記載の光学計測装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019036634A (ja) * 2017-08-15 2019-03-07 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP2021117013A (ja) * 2020-01-22 2021-08-10 株式会社トプコン 測量装置
WO2023243220A1 (ja) * 2022-06-14 2023-12-21 株式会社日立ハイテク 形状計測装置、及び形状計測方法

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