JP2001219288A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JP2001219288A
JP2001219288A JP2000033513A JP2000033513A JP2001219288A JP 2001219288 A JP2001219288 A JP 2001219288A JP 2000033513 A JP2000033513 A JP 2000033513A JP 2000033513 A JP2000033513 A JP 2000033513A JP 2001219288 A JP2001219288 A JP 2001219288A
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Yukihiro Horiguchi
堀口幸弘
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、プラズマの発生が静電容量に
与える影響を抑えることで、より高速レーザ加工に対応
できるレーザ加工装置を提供することである。 【解決手段】ノズル中心部材の外周に、ガード電極と、
測定電極を設け、さらにガード電極と測定電極の先端面
を、ノズル中心部材の先端面より上方に設けたことを特
徴とするレーザ加工装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ加工装置に
関し、さらに詳しくは、センサにより加工ヘッドとワー
ク間の距離を測定し、これに基づいて加工ヘッドを制御
するレーザ加工装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、レーザ加工装置においては、
加工ヘッドとワーク間を測定するセンサに静電容量式の
センサを使用し、加工ヘッドとワーク間を一定に制御し
ている。これにより、レーザ光の適正な焦点位置と、ア
シストガスの適正な圧力分布を保持している。
【0003】しかし、レーザ加工時に発生するプラズマ
により、静電容量が影響を受けると、適正な距離を検出
することができなくなる。その結果、レーザ光の焦点位
置や、アシストガスの適正な圧力分布を保持できなくな
り、加工ヘッドがワークに接触したり、加工不良を発生
する等の問題が生じていた。
【0004】なお、プラズマは、加工速度の上昇ととも
に強く発生する。ゆえに、高速加工時においては、前述
の問題が顕著に発生するため、レーザ加工の高速化は難
しかった。
【0005】これらの問題を解決するためのレーザ加工
装置の加工ヘッドの構造について、特開平05−293
686が開示されている。従来レーザ加工装置の加工ヘ
ッドでは、第1のノズルの外周に絶縁ノズルを介して金
属ノズルを設けるとともに、その金属ノズルをプラズマ
に対して十分離して保持させている。また、第1のノズ
ルの先端部と金属ノズル間に生じる静電容量は、金属ノ
ズルとワーク間に生じる静電容量よりも十分小さくして
ある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来レーザ加
工装置では、第1のノズルの先端部と金属ノズル間に生
じる静電容量を抑制する手段は、明示されていない。ま
た、実施例で開示される加工ヘッドの構造では、第1の
ノズルを電極として使用することは難しい。
【0007】本発明の目的は、高速レーザ加工を行う場
合においても、プラズマの影響を抑制することで、精度
良く加工ヘッドの制御を行うことにより、高精度で高速
なレーザ加工を実現する。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、被加
工物との距離に基づいて加工ヘッドの駆動を制御する制
御装置を有するレーザ加工装置において、前記加工ヘッ
ドの中心部に設けられたノズル中心部材と、前記ノズル
中心部材の外周に設けられたガード電極と、前記ガード
電極の外周に設けられ、被加工物との間の静電容量を検
出する測定電極と、前記静電容量を測定し、測定された
前記静電容量から前記ノズル中心部材と被加工物間のギ
ャップ量を検出するギャップ量検出手段と、を有するこ
とを特徴とするレーザ加工装置である。
【0009】かかる発明によると、ノズル中心部材の外
側に、ガード電極及び測定電極を設けた。このように、
測定電極をプラズマが発生する位置から離すことで、プ
ラズマが静電容量に与える影響を抑制することができ
る。ゆえに、プラズマが強く発生する高速加工において
特に有効である。また、ガード電極によりノズル中心部
材と測定電極間に生じる静電容量を遮蔽することができ
る。これにより、ノズル中心部材と測定電極間に生じる
静電容量を遮蔽し、確実に測定電極とワーク間に生じる
静電容量を測定することができる。
【0010】また、かかる発明の構造によれば、ノズル
中心部材を電極として機能させることができる。例え
ば、測定電極や,プラズマの影響により発生する電位を
測定する電極,温度測定電極等とすることができる。
【0011】請求項2の発明は、前記測定電極の先端面
は、前記ノズル中心部材の先端面よりも上方にあること
を特徴とする請求項1記載のレーザ加工装置である。
【0012】かかる発明によると、測定電極をノズル中
心部材の先端面よりも上方に設けたことで、レーザ加工
時に発生するプラズマからの影響を効果的に軽減するこ
とができる。つまり、測定電極を半径方向にさらに遠ざ
けた場合と比べて、測定電極の外径を小さくすることが
できる。よって、加工点と測定電極の水平方向の位置を
近くすることができ、より高精度な制御が可能となる。
ゆえに、かかる発明によると、請求項1の発明の効果に
加えて、さらなる高速レーザ加工において、精度良く加
工ヘッドを制御することができる。
【0013】請求項3の発明は、前記加工ヘッドは、更
にガード電極と測定電極を多層で有するとともに、前記
多層に設けられたガード電極,測定電極を、加工速度に
応じていずれかのガード電極,測定電極に切換えるセン
サ切換手段を有することを特徴とする請求項1又は2記
載のレーザ加工装置である。
【0014】かかる発明によると、ガード電極と測定電
極を1組として、加工ヘッドに多層に設けた。そして、
加工速度によりどの測定電極を使用して、加工ヘッドを
制御するかを、センサ切換手段により切換える。つま
り、加工速度が増すことでプラズマの発生が増大した場
合、加工点に近い測定電極は、プラズマにより静電容量
が影響される。このとき、プラズマの影響を受けていな
い外側の測定電極に切換えることで、正常に加工ヘッド
を制御することができる。
【0015】また、プラズマの発生が少ない加工速度の
場合は、加工点に近い測定電極を用いることで、材料の
端面などにおいても、精度良く加工ヘッドを制御するこ
とができる。つまり、加工速度により測定電極を切換え
ることで、請求項1又は2の発明の効果に加えて、当該
加工速度における最適なセンシングを行うことができ
る。
【0016】請求項4の発明は、前記加工ヘッドは、更
にガード電極と測定電極を多層で有するとともに、前記
多層に設けられたガード電極,測定電極を、夫々の前記
測定電極から検出された隣り合うギャップ量の差が設定
値以上になったときに、いずれかのガード電極,測定電
極に切換えるセンサ切換手段を有することを特徴とする
請求項1〜3のいずれか一項記載のレーザ加工装置であ
る。
【0017】かかる発明によると、夫々の測定電極が測
定した隣り合うギャップ量の差が、設定値以上になった
ときに、プラズマの影響を受けていない測定電極に切換
える。つまり、内側の静電容量がプラズマにより影響を
受けた場合は、順次外側の測定電極に切換えていくこと
ができる。よって、請求項1〜3の発明のいずれか一項
の効果に加えて、材料の端面などにおいても、精度良く
加工ヘッドを制御することができる。
【0018】請求項5の発明は、前記加工ヘッドは、プ
ラズマの影響によって加工ヘッドとワーク間で発生する
電位を測定するプラズマ電位測定電極を有するととも
に、前記プラズマ電位測定電極の測定値に応じて加工状
況を監視するモニタリング装置を有することを特徴とす
る請求項1〜4のいずれか一項記載のレーザ加工装置で
ある。
【0019】かかる発明によると、発生したプラズマ電
位をプラズマ電位測定電極により測定し、測定したプラ
ズマ電位から想定される加工状況をプラズマ電位評価手
段により評価することで、加工状況を監視することがで
きる。ゆえに、請求項1〜4の発明の効果に加えて、不
良品の発生を抑制し、生産性の向上を図ることができ
る。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の第一実施例を図1に示
す。図1は本発明によるレーザ加工装置における加工ヘ
ッドの先端部分の構成図である。加工ヘッドを駆動する
駆動機構,レーザ発振器,集光レンズ等は省略してあ
る。
【0021】加工ヘッドの先端部1の中心部には、金属
製のノズル中心部材2が設けられている。ノズル中心部
材2には、レーザ光3を出射する出射口2bが設けられ
ている。一方、ノズル中心部材2の外周には、絶縁部材
4を介して静電遮蔽を行うガード電極5が設けられてい
る。ガード電極5の下部外周には、絶縁部材6を介して
測定電極7が設けられている。
【0022】一方、ガード電極5と測定電極7の先端面
5a,7aは、ノズル中心部材の先端面2aからは、シ
フト量S分上方に設けられている。なお、本実施例にお
いては、先端面5aと先端面7aが同一面に設けられて
いるが、同一面でなくても機能に影響はない。
【0023】また、ガード電極5及び測定電極7には夫
々、信号線8,9が接続され、ギャップ量検出手段であ
る静電容量式ギャップセンサアンプユニット10と接続
されている。静電容量式ギャップセンサアンプユニット
10は制御装置11と接続され、加工ヘッドの駆動は制
御装置11により制御される。
【0024】ここで、レーザ加工において、良好な加工
を行うため、ノズル中心部材2とワーク12間のギャッ
プ量Tを一定に維持する必要がある。これは、レーザ光
3の適正な焦点位置と、アシストガスの適正な圧力分布
を保持するためである。
【0025】このため、静電容量式ギャップセンサアン
プユニット10は、測定電極7とワーク12間で発生す
る静電容量C1の変化量を検出してギャップ量Dを測定
し、測定したギャップ量Dからシフト量Sを減ずること
でギャップ量Tを算出する。算出したギャップ量Tは制
御装置11にフィードバックされる。
【0026】すると、制御装置11はギャップ量Tの変
化量に応じて、加工ヘッドの位置を調整する。よって、
レーザ光3の適正な焦点位置と、アシストガスの適正な
圧力分布を保持することができる。
【0027】また、ガード電極5は、測定電極7と同電
位が与えられることで、静電遮蔽を行う。ゆえに、ガー
ド電極5は、測定電極7とノズル中心部材2間に発生す
る静電容量C2が、静電容量C1に与える影響を防止す
る。
【0028】しかし、レーザ加工中、レーザ加工点13
では、プラズマ14が発生する場合がある。このプラズ
マ14は、測定電極7とワーク12間に発生する静電容
量C1に影響を与える。すると、ギャップ量Tの測定に
支障を来たし、加工ヘッドの制御性を悪化させ、加工不
良の原因となる。また、レーザ加工速度が増大すると、
プラズマ14も増大することが、実験により確認されて
いる。
【0029】ところが、本発明による加工ヘッドの先端
部1においては、測定電極7がプラズマ14から十分離
れた位置にあるため、静電容量C1がプラズマ14の影
響を受けることはほとんどない。よって、高速加工中に
おいても、正常に測定電極7が機能するので、ギャップ
量Tは保持される。
【0030】また、シフト量Sが0の場合においても、
プラズマ14が静電容量C1に及ぼす影響を回避する効
果はあるが、より高速なレーザ加工を行い、さらに多く
のプラズマ14が発生する場合は、シフト量Sをプラズ
マ14の発生に合わせて増加させればよい。
【0031】また、本発明の第一実施例では、ノズル中
心部材2を、プラズマ電位測定電極として機能させてい
る。そして、ノズル中心部材2には信号線27が接続さ
れ、モニタリング装置であるプラズマ電位測定回路26
aと接続される。プラズマ電位測定回路26aはプラズ
マ電位評価手段26bと接続される。プラズマ電位評価
手段26bで出力される評価値は、制御装置11に入力
される。
【0032】レーザ加工点13にプラズマ14が発生し
た場合、加工ヘッド(プラズマ電位測定電極として機能
するノズル中心部材2)とワーク12間にプラズマ14
の影響による電位(プラズマ電位)が生じる。一方、プ
ラズマ電位の値は、加工条件(材質,加工速度,板厚,
アシストガスの種類,ガス圧,焦点位置等)により異な
る。そこで、種々の加工条件に対応するプラズマ電位の
値を予め測定し、プラズマ電位評価手段26bに設定し
ておく。
【0033】そして、レーザ加工中のプラズマ電位の値
をプラズマ電位測定電極であるノズル中心部材2及びプ
ラズマ電位測定回路26aで測定する。測定したプラズ
マ電位の値と、予めプラズマ電位評価手段26bに設定
したプラズマ電位の値と対応する加工条件から、現在加
工状況を評価することができる。これにより、不良品の
発生を抑制することができ、材料の歩留り向上ができ
る。また、レーザ加工装置の自動化においても、貢献す
ることができる。
【0034】本発明の第二実施例を図2に示す。図2は
本発明によるレーザ加工装置の構成図である。図1と同
様に、加工ヘッドを駆動する駆動機構,レーザ発振器,
集光レンズ等は省略してある。
【0035】加工ヘッドの先端部1Aの中心部には、測
定電極として機能する金属製のノズル中心部材30が設
けられている。ノズル中心部材30には、レーザ光3を
出射する出射口30bが設けられている。一方、ノズル
中心部材30の外周には、絶縁部材4を介して、ガード
電極5が設けられている。ガード電極5の外周には、絶
縁部材6を介して、プラズマ電位測定電極15が設けら
れている。プラズマ電位測定電極15のさらに外周に
は、外方向順に、絶縁部材16,ガード電極17,絶縁
部材18,測定電極19が、夫々ノズル中心部材30の
先端面30aからシフト量S分上方に設けられている。
【0036】ガード電極5,ノズル中心部材30及びガ
ード電極17,測定電極19には夫々信号線20,2
1,22,23が接続され、ギャップ量検出手段である
静電容量式ギャップセンサアンプユニット10と接続さ
れている。静電容量式ギャップセンサアンプユニット1
0は夫々、センサ切換手段24a,24bを介して制御
装置11と接続されている。加工ヘッドの駆動は制御装
置11により制御される。
【0037】ここで、本発明の第一実施例と同じ構成要
素については、同一機能であるので、説明を省略する。
【0038】本発明の第二実施例では、測定電極とガー
ド電極の組み合わせが2組設けられている。一方、セン
サ切換手段24a,24bには、加工速度Vsが設定さ
れている。センサの切換は、現在加工速度と設定した加
工速度Vsにより判断される。つまり、現在加工速度が
Vsより小さい場合は、中心側の測定電極(ノズル中心
部材30)を使用して静電容量を測定する。現在加工速
度がVs以上である場合は、外側の測定電極19を使用
する。
【0039】設定する加工速度Vsの設定値は、各測定
電極使用時における最高加工速度と設定しておくこと
で、さらに効率よくレーザ加工を行うことができる。つ
まり、低速で加工を行う場合は、プラズマ14が静電容
量に与える影響は少ないので、より精度の高い内側の測
定電極(ノズル中心部材30)による加工を行う。例え
ば、材料端付近や穴付近などは、内側の測定電極(ノズ
ル中心部材30)を使用することで、より精度良く加工
することができる。しかし、高速で加工する場合は、プ
ラズマ14が低速時にくらべて多く発生するため、内側
の測定電極(ノズル中心部材30)では、対応できな
い。よって、外側の測定電極19に切換えることで、高
速加工を可能とする。また、本実施例においては、2組
のセンサを用いたが、本発明はこれに制限されるもので
はない。
【0040】また、本発明の第二実施例では、前述の通
り、プラズマ電位測定電極15が設けられている。プラ
ズマ電位測定電極15には、信号線25が接続され、モ
ニタリング装置であるプラズマ電位測定回路26a,プ
ラズマ電位評価手段26bと接続されている。プラズマ
電位評価手段26bで出力される評価値は、制御装置1
1に入力される。これらの機能についての説明は、本発
明の第一実施例において説明しているので、省略する。
【0041】また、その他の加工ヘッド1Aの構成とし
て、ノズル中心部材30をプラズマ電位測定電極とする
こともできる。この場合、ノズル中心部材30の外周
に、絶縁部材を介して測定電極とガード電極の組合せを
多層で設けることができる。機能は、本実施例と同様と
なるが、プラズマの発生状況や加工条件などにより、こ
の様に適宜組み替えることができる。
【0042】次に、図3に本発明の第三実施例を示す。
本実施例は、加工ヘッド1Bに、測定電極(中心部は測
定電極として機能する金属製のノズル中心部材30)と
ガード電極の組み合わせを2組設けてある。ここで、本
発明の第一実施例及び第二実施例と同じ構成要素に関す
る説明は、省略する。また、図1、図2と同様に、図3
は本発明の要部のみ示している。
【0043】本実施例において、レーザ加工中は、測定
電極として機能するノズル中心部材30及び測定電極1
9の2組の静電容量を同時に測定し、その測定値からギ
ャップ量検出手段(静電容量式ギャップセンサアンプユ
ニット10)により現在ギャップ量T,Dを検出する。
一方、センサ切換手段31には、予め、ノズル中心部材
30,測定電極19とワーク12間のギャップ量の正常
値Ts,Dsを設定しておく。
【0044】センサ切換手段31では、c=(T−T
s)−(D−Ds)の演算を行う。ここで、理論上の正
常値は、c=0である。算出したcの値を、センサ切換
手段31a,31bにおいて、予め設定した一定値Cs
と比較する。
【0045】|c|≦Csの場合は、内側の測定電極
(ノズル中心部材30)を使用する。|c|>Csであ
る場合、内側の測定電極(ノズル中心部材30)の静電
容量が、プラズマの影響を受けていると判断し、外側の
測定電極19に切換える。
【0046】その他の実施例としては、図2に示す第二
実施例のセンサ切換手段24a,24bを第三実施例の
センサ切換手段31a,31bとした実施例や、その逆
の場合等がある。これらの場合の構成,作用及び効果
は、前述の実施例によるものの組み合わせとなるので、
説明は省略する。
【0047】なお、各実施例において、最外周の測定電
極の外周に、当該測定電極の内側のガード電極と接続さ
れるガード電極を、さらに設けることができる。これに
より、測定電極の指向性の向上を図ることができる。
【0048】
【発明の効果】請求項1の発明によると、プラズマが静
電容量に与える影響を抑制することができるので、プラ
ズマが強く発生する高速加工において特に有効である。
また、ガード電極によりノズル中心部材と測定電極間に
生じる静電容量を遮蔽することができる。また、ノズル
中心部材を電極として機能させることができる。
【0049】請求項2の発明によると、レーザ加工時に
発生するプラズマからの影響を効果的に軽減することが
できるとともに、測定電極の外径を小さくすることがで
きる。よって、請求項1の発明の効果に加えて、さらな
る高速レーザ加工において、精度良く加工ヘッドを制御
することができる。
【0050】請求項3の発明によると、高精度な加工を
必要とする場合は、加工速度を下げ、精度良く加工ヘッ
ドを制御することができ、高速加工が必要なときは、プ
ラズマの影響を抑制した加工を行うことができる。請求
項4の発明においても同様に、プラズマの発生状況によ
り、センサを切換えることで、精度良く加工ヘッドを制
御することができる。
【0051】請求項5の発明によると、加工状況を監視
することができるので、加工不良の発生を抑制でき、材
料の歩留り向上とともに、生産性の向上を図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例の構成図
【図2】本発明の第二実施例の構成図
【図3】本発明の第三実施例の構成図
【符号の説明】
1,1A,1Bは加工ヘッドの先端部、2はノズル中心
部材、2aは先端面、2bは出射口、3はレーザ光、4
は絶縁部材、5はガード電極、5aは先端面、6は絶縁
部材、7は測定電極、7aは先端面、8,9は信号線、
10は静電容量式ギャップセンサアンプユニット、11
は制御装置、12はワーク、13はレーザ加工点、14
はプラズマ、15はプラズマ電位測定電極、16は絶縁
部材、17はガード電極、18は絶縁部材、19は測定
電極、20,21,22,23は信号線、24a,24
bはセンサ切換手段、25は信号線、26aはプラズマ
電位測定回路、26bはプラズマ電位評価手段、27は
信号線、30は測定電極として機能するノズル中心部
材、30aは先端面、30bは出射口、31,31a,
31bはセンサ切換手段である。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被加工物との距離に基づいて加工ヘッドの
    駆動を制御する制御装置を有するレーザ加工装置におい
    て、前記加工ヘッドの中心部に設けられたノズル中心部
    材と、前記ノズル中心部材の外周に設けられたガード電
    極と、前記ガード電極の外周に設けられ、被加工物との
    間の静電容量を検出する測定電極と、前記静電容量を測
    定し、測定された前記静電容量から前記ノズル中心部材
    と被加工物間のギャップ量を検出するギャップ量検出手
    段と、を有することを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】前記測定電極の先端面は、前記ノズル中心
    部材の先端面よりも上方にあることを特徴とする請求項
    1記載のレーザ加工装置。
  3. 【請求項3】前記加工ヘッドは、更にガード電極と測定
    電極を多層で有するとともに、前記多層に設けられたガ
    ード電極,測定電極を、加工速度に応じていずれかのガ
    ード電極,測定電極に切換えるセンサ切換手段を有する
    ことを特徴とする請求項1又は2記載のレーザ加工装
    置。
  4. 【請求項4】前記加工ヘッドは、更にガード電極と測定
    電極を多層で有するとともに、前記多層に設けられたガ
    ード電極,測定電極を、夫々の前記測定電極から検出さ
    れた隣り合うギャップ量の差が設定値以上になったとき
    に、いずれかのガード電極,測定電極に切換えるセンサ
    切換手段を有することを特徴とする請求項1〜3のいず
    れか一項記載のレーザ加工装置。
  5. 【請求項5】前記加工ヘッドは、プラズマの影響によっ
    て加工ヘッドとワーク間で発生する電位を測定するプラ
    ズマ電位測定電極を有するとともに、前記プラズマ電位
    測定電極の測定値に応じて加工状況を監視するモニタリ
    ング装置を有することを特徴とする請求項1〜4のいず
    れか一項記載のレーザ加工装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007155734A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 General Electric Co <Ge> マルチレンジ間隙測定システム及びそれを動作させる方法
JP4729245B2 (ja) * 2001-05-23 2011-07-20 三菱電機株式会社 レーザ加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4729245B2 (ja) * 2001-05-23 2011-07-20 三菱電機株式会社 レーザ加工装置
JP2007155734A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 General Electric Co <Ge> マルチレンジ間隙測定システム及びそれを動作させる方法

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