JP2001185985A - 圧電共振子 - Google Patents

圧電共振子

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JP2001185985A JP37164999A JP37164999A JP2001185985A JP 2001185985 A JP2001185985 A JP 2001185985A JP 37164999 A JP37164999 A JP 37164999A JP 37164999 A JP37164999 A JP 37164999A JP 2001185985 A JP2001185985 A JP 2001185985A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の圧電共振子に比べ、高周波数帯で使用で
き、電気機械結合係数の大きい圧電共振子を提供する。 【解決手段】振動空間Aを有する基体1と、該基体1表
面に形成され、振動空間Aを被覆する支持膜2と、圧電
磁器膜5の両面に電極4、6を形成してなり、支持膜2
の振動空間Aと反対側の面に形成された共振素子3とを
具備し、圧電磁器膜5がPbおよびTiを含む圧電材料
よりなり、支持膜2が窒化珪素よりなるとともに、圧電
磁器膜5の膜厚をtp、支持膜2の膜厚をts、厚み縦
振動モードの振動次数をnとするとき、支持膜2の膜厚
tsと圧電磁器膜5の膜厚tpとの比ts/tpが、
5.1n−6.2≦ts/tp≦7.2n−4.3(但
し、nが1のときは、0<ts/tp)の関係を満足す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は圧電共振子に関し、
特に、振動空間を有する基体と、該基体表面に形成さ
れ、振動空間を被覆する支持膜と、圧電磁器膜の両面に
電極を形成してなり、支持膜の振動空間と反対側の面に
形成された共振素子とを具備する薄膜圧電共振子に関す
るものである。
【0002】
【従来技術】無線通信や電気回路に用いられる周波数の
高周波数化に伴い、これらの電気信号に対して用いられ
るフィルタも高周波数に対応したものが開発されてい
る。
【0003】特に、無線通信においては2GHz近傍の
マイクロ波が主流になりつつあり、また既に数GHz以
上の規格策定の動きもあることから、それらの周波数に
対応した、安価で高性能なフィルタが求められている。
【0004】最近注目されているのは、固体の表面を伝
わる音響波である弾性表面波の共振を用いたSAWフィ
ルタである。このフィルタは、固体表面上に形成した櫛
形の電極間に印加される高周波電界と弾性表面波の共振
を用いており、周波数の選択性が高く、優れたバンドパ
スフィルタとして広く用いられている。
【0005】また、近年、圧電性を示す薄膜の厚み縦振
動モードを用いた共振子が提案されている。これは、入
力される高周波電気信号に対して、圧電薄膜が厚み縦振
動を起こし、その振動が、薄膜の厚さ方向において共振
を起こすことを用いた共振子であり、バルク弾性波共振
子(BAWR)と呼ばれている。
【0006】従来のBAWRとしては、図8に示すよう
に、基体11と、該基体11表面上に形成された支持膜
13と、該支持膜13上に形成されたバッファー層15
と、該バッファー層15上に形成された第1電極16
と、該第1電極16上に形成された圧電体薄膜17と、
該圧電体薄膜17上に形成された一対の第2電極18と
からなるものである。(USP 4,320,365参
照) バッファー層15、第1電極16、圧電体薄膜17、第
2電極18により振動体が形成されている。そして、基
体11に形成された振動空間Aを被覆するように、基体
11上面に支持膜13が形成されており、振動体の振動
により、支持膜13の振動空間Aの部分が振動する。
【0007】BAWRの共振周波数は膜厚に逆比例し、
圧電体として薄膜を用いることでGHz帯の共振子を形
成できる。また、Si,GaAs等の半導体基板上に直
接形成できるため、集積化素子として注目されている。
【0008】従来のBAWRでは、圧電体薄膜材料とし
てZnO、AlN、CdS等が用いられ、基体材料とし
て主にSiが用いられ、電極材料としてAl、Auが用
いられており、圧電体薄膜を支える支持膜としてはSi
2 が用いられてきた。
【0009】例えば、特開昭60−68710号公報に
は、圧電体薄膜材料としてZnO、AlN、CdS、基
体材料としてSi、電極材料としてAl、Au、支持膜
材料としてSiO2 が用いられている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】高周波化は急激に進ん
でおり、さらに高周波で広帯域なフィルタが望まれる。
【0011】BAWRでは、振動空間Aの上部に形成さ
れた振動体の厚み縦振動モードの共振現象を利用してお
り、圧電体薄膜の振動特性はもとより、この圧電体薄膜
を支える支持膜の振動特性がBAWRの特性に大きく影
響する。
【0012】しかしながら、SiO2 からなる支持膜を
用いた上記従来の圧電共振子では、支持膜が非晶質であ
ることから振動の伝播の速度(音速)が小さく、共振周
波数が現行のSAWレゾネーターを越えるには至ってい
ない。
【0013】また、ZnO、AlN、CdS等の圧電体
薄膜材料を用いていたため、圧電体薄膜材料の電気機械
結合係数が小さく、周波数差△F(***振周波数Fa−
共振周波数Fr)が小さく、広帯域のフィルターを構成
することはできなかった。
【0014】一方、高周波化を実現するためには、高次
の共振を用いる方法もある。高次の共振を用いる場合、
膜厚をある厚さに固定したまま基本波の2倍、あるいは
3倍の高い周波数を利用できるため、大きな膜厚で高い
周波数の共振を利用できる。
【0015】このため、基本波を用いる従来の共振子に
比べ、さらに2倍、3倍、4倍の周波数で使用できる高
周波用の共振子を提供できる。
【0016】しかしながら、高次の共振は共振の次数と
ともに、フィルタのバンド幅を決定する電気機械結合係
数Ktが減衰する。このため、使用周波数を高周波化で
きても、GHz帯で要求されている広帯域なフィルタを
実現できないという問題があった。
【0017】本発明は、高周波数帯で広帯域なフィルタ
を実現するために必用な電気機械結合係数Ktが大きな
圧電共振子を提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明の圧電共振子は、
振動空間を有する基体と、該基体表面に形成され、前記
振動空間を被覆する支持膜と、圧電磁器膜の両面に電極
を形成してなり、前記支持膜の前記振動空間と反対側の
面に形成された共振素子とを具備する圧電共振子であっ
て、前記圧電磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料よ
りなり、前記支持膜が窒化珪素よりなるとともに、前記
圧電磁器膜の膜厚をtp、前記支持膜の膜厚をts、厚
み縦振動モードの振動次数をnとするとき、前記支持膜
の膜厚tsと前記圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/t
pが 5.1n−6.2≦ts/tp≦7.2n−4.3(但
し、nが1のときは、0<ts/tp) の関係を満足するものである。
【0019】本発明では、Pb、Tiを含む圧電材料よ
りなる圧電磁器膜、例えばPb(ZrTi)O3 や、P
bTiO3 等の圧電磁器膜、支持膜が窒化珪素よりなる
場合に、厚み縦振動モードの各次数において、支持膜の
膜厚tsと圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが最
適化され、厚み縦振動モードの各次数における電気機械
結合係数を最大限に大きくすることができ、圧電共振子
の周波数差△F(***振周波数Fa−共振周波数Fr)
を増大することができる。その結果、従来のZnO、A
lN等の圧電材料を用いた場合に比べて、周波数差△F
を大きくすることができる。
【0020】一方、厚み縦振動モードの各次数における
電気機械結合係数を最大限に大きくすることができる反
面、不要な次数の電気機械結合係数を小さく抑制でき、
インピーダンス特性上のスプリアスの影響を抑制でき
る。
【0021】さらに、本発明では、電気機械結合係数を
最大限に大きくできるとともに、例えばPb(ZrT
i)O3 や、PbTiO3 等の強誘電体からなる圧電磁
器膜を用いているため、その組成を調整することによ
り、圧電共振子の温度特性を制御することができる。
【0022】さらにまた、本発明の圧電共振子は、圧電
磁器膜と支持膜の膜厚比を一定の範囲に制御して、高次
厚み縦振動モードのみを強く励振させて利用できるた
め、従来の基本モードを利用した薄膜BAW共振子に比
べて高周波化できる。また、同じ周波数で利用する場合
は、本発明の圧電共振子は、高次モードを利用できる
分、従来の基本モードを利用する薄膜BAW共振子に比
べて、膜厚を厚くでき、作製時の自由度を向上すること
ができる。
【0023】また、本発明の圧電共振子は、振動空間を
有する基体と、該基体表面に形成され、前記振動空間を
被覆する支持膜と、圧電磁器膜の両面に電極を形成して
なり、前記支持膜の前記振動空間と反対側の面に形成さ
れた共振素子とを具備する圧電共振子であって、前記圧
電磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料よりなり、前
記支持膜がダイヤモンドよりなるとともに、前記圧電磁
器膜の膜厚をtp、前記支持膜の膜厚をts、厚み縦振
動モードの振動次数をnとするとき、前記支持膜の膜厚
tsと前記圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが 12.1n−15.4≦ts/tp≦19.9n−1
1.8(但し、nが1のときは、0<ts/tp) の関係を満足するものである。
【0024】このような関係を満足することにより、圧
電磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料、支持膜がダ
イヤモンドよりなる場合に、厚み縦振動モードの各次数
において、支持膜の膜厚tsと圧電磁器膜の膜厚tpと
の比ts/tpが最適化され、厚み縦振動モードの各次
数における電気機械結合係数を最大限に大きくすること
ができ、圧電共振子の周波数差△Fを増大することがで
きる。また、上記したように、不要な次数の電気機械結
合係数を小さく抑制できるとともに、圧電磁器膜の組成
を調整することにより、圧電共振子の温度特性を制御で
きる。
【0025】さらに、上記したように、圧電磁器膜と支
持膜の膜厚比を一定の範囲に制御して、特定の高次厚み
縦振動モードのみを強く励振させるようにして高次モー
ドを利用でき、同じ周波数で利用する場合は、本発明の
圧電共振子は、高次モードを利用できる分、従来の基本
モードを利用する薄膜BAW共振子に比べて膜厚を厚く
できる。
【0026】本発明の圧電共振子は、振動空間を有する
基体と、該基体表面に形成され、前記振動空間を被覆す
る支持膜と、圧電磁器膜の両面に電極を形成してなり、
前記支持膜の前記振動空間と反対側の面に形成された共
振素子とを具備する圧電共振子であって、前記圧電磁器
膜がPbおよびTiを含む圧電材料よりなるとともに、
前記支持膜の音速(km/s)をv、前記圧電磁器膜の
膜厚をtp、前記支持膜の膜厚をtsとするとき、前記
支持膜の膜厚tsと前記圧電磁器膜の膜厚tpとの比t
s/tpが、1次の厚み縦振動モードを利用する場合
は、 0<ts/tp≦0.51v−2.25 2次の厚み縦振動モードを利用する場合は、 0.54v−2.14≦ts/tp≦1.89v−1
0.44 の関係を満足するものである。
【0027】本発明では、Pb、Tiを含む圧電材料よ
りなる圧電磁器膜、例えばPb(ZrTi)O3 や、P
bTiO3 等の圧電磁器膜を用いた場合に、支持膜の音
速により、支持膜の膜厚tsと圧電磁器膜の膜厚tpと
の比ts/tpが最適化され、厚み縦振動モードの各次
数における電気機械結合係数を最大限に大きくすること
ができ、圧電共振子の周波数差△F(***振周波数Fa
−共振周波数Fr)を増大することができる。その結
果、従来のZnO、AlN等の圧電材料を用いた場合に
比べて、周波数差△Fを大きくすることができる。
【0028】一方、厚み縦振動モードの各次数における
電気機械結合係数を最大限に大きくすることができる反
面、不要な次数の電気機械結合係数を小さく抑制でき、
インピーダンス特性上のスプリアスの影響を抑制でき
る。
【0029】さらに、本発明では、電気機械結合係数を
最大限に大きくできるとともに、例えばPb(ZrT
i)O3 や、PbTiO3 等の強誘電体からなる圧電磁
器膜を用いているため、その組成を調整することによ
り、圧電共振子の温度特性を制御することができる。
【0030】さらにまた、本発明の圧電共振子は、圧電
磁器膜と支持膜の膜厚比を一定の範囲に制御して、2次
の厚み縦振動モードのみを強く励振させて利用できるた
め、従来の基本モードを利用した薄膜BAW共振子に比
べて高周波化できる。また、同じ周波数で利用する場合
は、本発明の圧電共振子は、2次モードを利用できる
分、従来の基本モードを利用する薄膜BAW共振子に比
べて、膜厚を厚くでき、作製時の自由度を向上すること
ができる。
【0031】また、本発明の圧電共振子では、支持膜の
音速が10km/s以上であることが望ましい。この場
合には、音速が10km/s以上と大きな音速の絶縁体
材料、例えば窒化珪素(Si3 4 )やダイヤモンドな
どを支持膜として用いることにより、支持膜の音速が大
きくなり、振動空間に面する支持膜と共振素子の全体に
おける音速を大きくすることができる。その結果、共振
を起こす音響波の周波数は支持膜にSiO2 等を用いて
いた従来の場合に比べて大きくすることができる。
【0032】
【発明の実施の形態】本発明の圧電共振子は、図1に示
すように、振動空間Aを有する基体1と、基体1上に配
置され、振動空間Aを被覆するように形成された支持膜
2と、支持膜2の振動空間Aと反対側の面に形成された
共振素子3とから構成されている。
【0033】即ち、支持膜2の上面には下側電極4が形
成され、この下側電極4の上面には圧電磁器膜5が形成
され、この圧電磁器膜5の上面には上側電極6が形成さ
れており、下側電極4、上側電極6は、圧電磁器膜5を
介して重畳しており、この重畳した部分が共振素子3と
されている。
【0034】圧電磁器膜5の膜厚tpは2μm以下とさ
れ、高周波化という観点では、圧電磁器膜5の膜厚tp
は薄い方が望ましいが、使用する周波数に応じて制御す
ればよい。この図1に示す圧電共振子の圧電磁器膜5
は、厚み方向に分極されている。圧電磁器膜5の膜厚t
pを2μm以下とすることにより、1GHz以上の共振
周波数を有する圧電共振子を得ることができる。
【0035】圧電磁器膜5は強誘電体により形成するこ
とが望ましい。これは、電極膜4、6間に直流電界を印
加することにより、強誘電体を厚み方向に分極すること
ができるからである。ここで、分極処理に使用する直流
電界は強誘電体の抗電界より大きな値に設定する必要が
ある。
【0036】圧電磁器膜5として強誘電体を用いるの
は、ZnOやAlNの様な電界により分極反転できない
強誘電体でない圧電体を用いた場合、圧電磁器膜の配向
が不充分であった場合に、分極の向きを厚み方向に揃え
られないためである。
【0037】また、強誘電体は、電気機械結合係数Kt
が大きいため、広帯域フィルタの実現に有利である。本
発明では、特に、厚み縦振動モードの電気機械結合係数
が大きいことが要求されるため、圧電磁器膜5には、P
b、Tiを有する強誘電体のPb(Zr1-x Tix )O
3 (以下、PZTと略す)系、PbTiO3 (以下、P
Tと略す)系の圧電磁器を用いることが望ましい。この
ようなPb、Tiを有する強誘電体は電気機械結合係数
Ktが大きく、その組成の制御により共振周波数の温度
特性を制御できるため、従来のZnOやAlNよりも望
ましい。尚、圧電磁器膜5は、ゾルゲル法、スパッタ法
等の薄膜作製、積層技術によって作製できる。
【0038】基体1は、例えばシリコン等で形成され、
基体1と共振素子3とを音響的に絶縁する振動空間A
は、KOH等を用いた化学エッチング法や、反応性イオ
ンエッチング法等により形成できる。支持膜2の共振素
子3形成面の反対側に振動空間Aを設けることにより、
振動体3の振動が基体1に伝達されにくいため、スプリ
アスの少ない良好な特性の圧電共振子を得ることができ
る。
【0039】また、振動空間Aは、基体1に貫通孔を形
成したり、基体1の支持膜を形成する部分の表面に凹部
を形成したりすることによっても形成することができ
る。
【0040】この圧電磁器膜5を挟持する電極4、6に
は、従来より多く用いられているAl、Pt、Au等比
較的反応性が低い金属材料が用いられる。圧電磁器膜5
との反応を考慮すると、電極材料としては反応性の低い
Ptが望ましい。スパッタ法、真空蒸着法等により作製
できる。
【0041】また、支持膜2も圧電磁器膜5と一体とな
って厚み縦振動をするため、高周波化する為には、音速
が10km/s以上と音速の大きな材料、特には窒化珪
素、炭化珪素、ダイヤモンド膜等を用いることが良い。
このような膜は、例えば、CVD法等により作製でき
る。
【0042】(形態1)そして、本発明の圧電共振子で
は、圧電磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料よりな
り、支持膜が窒化珪素よりなるとともに、圧電磁器膜の
膜厚をtp、支持膜の膜厚をts、厚み縦振動モードの
振動次数をnとするとき、支持膜の膜厚tsと圧電磁器
膜の膜厚tpとの比ts/tpが、5.1n−6.2≦
ts/tp≦7.2n−4.3(但し、nが1のとき
は、0<ts/tp)の関係を満足するものである。
【0043】本発明では、Pb、Tiを含む圧電材料よ
りなる圧電磁器膜、例えばPb(ZrTi)O3 や、P
bTiO3 等の圧電磁器膜、支持膜が窒化珪素よりなる
場合に、厚み縦振動モードの各次数において、支持膜の
膜厚tsと圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが最
適化され、厚み縦振動モードの各次数における電気機械
結合係数を最大限に大きくすることができ、圧電共振子
の周波数差△F(***振周波数Fa−共振周波数Fr)
を増大することができる。
【0044】一方、厚み縦振動モードの各次数における
電気機械結合係数を最大限に大きくすることができる反
面、不要な次数の電気機械結合係数を小さく抑制でき、
インピーダンス特性上のスプリアスの影響を抑制でき
る。
【0045】さらにまた、本発明の圧電共振子は、圧電
磁器膜と支持膜の膜厚比を一定の範囲に制御して、高次
厚み縦振動モードのみを強く励振されて利用できるた
め、従来の基本モードを利用した薄膜BAW共振子に比
べて高周波化できる。また、同じ周波数で利用する場合
は、本発明の圧電共振子は、高次モードを利用できる
分、従来の基本モードを利用する薄膜BAW共振子に比
べて、膜厚を厚くでき、作製時の自由度を向上すること
ができる。
【0046】逆に、ts/tpが上記関係の範囲外とな
る場合には、所望の振動次数nにおける電気機械結合係
数ktが80%よりも小さくなる。
【0047】本発明者等は、本発明の圧電共振子の有限
要素法を用いたコンピューターシミュレーションによる
インピーダンス解析を行った。解析条件としては、窒化
珪素からなる支持膜(ヤング率294GPa、密度32
00kg/m3 )を用い、圧電磁器膜としてPZT(ヤ
ング率80GPa、密度7600kg/m3 )を用い
た。図1に示した形状において、圧電磁器膜の膜厚tp
を0.6μm、電極膜の膜厚を0.2μm、支持膜の膜
厚tsをパラメータとして変化させた。圧電磁器膜の分
極方向は、図1に示したように厚み方向とした。
【0048】図2に、解析結果の例として、支持膜の膜
厚tsが4.0μmの場合のインピーダンス特性を示す
(ts/tp=6.7)。この例では、2次厚み縦振動
モードの振動が強く励振されていることが判る。
【0049】図3(a)に、第n次厚み縦振動モードの
電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比ts/tp依存
性を示す。ここで、第n次厚み縦振動モードの電気機械
結合係数Ktn(%)は、インピーダンス特性より第n
次厚み縦振動モードの共振周波数Frnと***振周波数
Fanを求め、以下の式により算出した。
【0050】Ktn(%)=((Fan−Frn)/F
rn)(1/2) ×100 この図3(a)より、膜厚比ts/tpを最適な値に制
御することにより、第n次厚み縦振動モードの電気機械
結合係数を大きくでき、第n−1次以下及び第n+1次
以上の振動モードの電気機械結合係数を小さく抑制でき
ることがわかる。
【0051】例えば、ts/tpが7程度では2次の振
動モードが強く励振され、1次や3次以上のモードの電
気機械結合係数を小さくできることが判る。電気機械結
合係数を大きくするという点から、1次(基本波)また
は2次の振動モードを用いることが望ましい。
【0052】図3(a)のグラフより、それぞれの振動
次数nにおいて、電気機械結合係数Ktnの最大値Kt
n(max)を求め、この最大値Ktn(max)を1
00とした時の電気機械結合係数Ktnを算出して、そ
れぞれの電気機械結合係数KtnをKtn(max)で
規格化し、これを図3(b)に示した。例えば、2次の
振動モードのKtn(max)は25%程度であるが、
このKtn(max)を100として表すと図3(b)
に示すグラフとなる。
【0053】この図3(b)において、それぞれの振動
次数nにおいて、規格化電気機械結合係数が80%、お
よび90%となる膜厚比ts/tpを求め、その膜厚比
を振動次数nの関数としてプロットすると図4が得られ
る。規格化電気機械結合係数が80%以上、あるいは9
0%以上となる膜厚比の下限値、上限値は振動次数nの
1次関数と見なすことができ、近似式を求めると、グラ
フに示したようになる。近似式を図4のグラフ中に示
す。尚、図4のグラフでは、振動次数をn、膜厚比ts
/tpをyとして1次関数で表示している(破線は80
%、実線は90%)。例えば、2次の振動モードでは、
規格化電気機械結合係数が80%以上となる膜厚比の下
限値は4であり、上限値は10程度となる。
【0054】この図4のグラフより、第n次厚み縦振動
モードを利用する場合は、膜厚比ts/tpは、規格化
電気機械結合係数が80%以上となるには、5.1n−
6.2≦ts/tp≦7.2n−4.3(但し、振動次
数nが1の時には、0<ts/tp)を満足する必要が
あることが判る。従って、ts/tpが上記関係を満足
する場合には、第n次厚み縦振動モードにおいて電気機
械結合係数を最も大きくできることが判る。即ち、1次
の振動モードの場合には0<ts/tp≦2.9、2次
の振動モードの場合には4≦ts/tp≦10.1とな
る。尚、1次の振動モードの場合には、支持膜の強度的
な面から1≦ts/tpであることが望ましい。
【0055】また、図4には、規格化電気機械結合係数
が90%以上となる膜厚比の下限値、上限値を振動次数
nの1次関数として表した(実線)。規格化電気機械結
合係数が90%以上となるには、5.4n−6.1≦t
s/tp≦6.6n−4.5(但し、振動次数nが1の
時には、0<ts/tp)を満足する必要があり、この
場合にはさらに所望の振動次数nにおける電気機械結合
係数を高くできることが判る。
【0056】(形態2)本発明の圧電共振子では、圧電
磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料よりなり、支持
膜がダイヤモンドよりなるとともに、圧電磁器膜の膜厚
をtp、支持膜の膜厚をts、厚み縦振動モードの振動
次数をnとするとき、支持膜の膜厚tsと圧電磁器膜の
膜厚tpとの比ts/tpが、12.1n−15.4≦
ts/tp≦19.9n−11.8(但し、nが1のと
きは、0<ts/tp)の関係を満足するものである。
【0057】この場合には、支持膜がダイヤモンドの場
合に、上記形態1と同様の効果を得ることができる。
【0058】本発明者等は、上記効果を確認するため
に、支持膜をダイヤモンド膜(ヤング率1210GP
a、密度3500kg/m3 )とする以外は、上記形態
1と同様にして解析した。図5(a)に、第n次厚み縦
振動モードの電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比t
s/tp依存性を示す。この図5(a)のグラフから、
規格化電気機械結合係数を求め、規格化電気機械結合係
数と膜厚比ts/tpとの関係を図5(b)に示した。
【0059】さらに、規格化電気機械結合係数が80%
以上、および90%以上となるような膜厚比ts/tp
を求め、その膜厚比を振動次数nの関数としてプロット
し、図6を得た。
【0060】この図6から、第n次厚み縦振動モードを
利用する場合は、膜厚比ts/tpは、規格化電気機械
結合係数が80%以上となるには、12.1n−15.
4≦ts/tp≦19.9n−11.8(但し、振動次
数nが1の時には、0<ts/tp)を満足する必要が
あり、90%以上となるには、13.8n−16.2≦
ts/tp≦18.9n−14.0(但し、振動次数n
が1の時には、0<ts/tp)を満足する必要がある
ことが判る。即ち、規格化電気機械結合係数が80%以
上となる1次の振動モードは0<ts/tp≦8.1、
2次の振動モードは8.8≦ts/tp≦28となる。
【0061】(形態3 )本発明の圧電共振子では、圧電
磁器膜がPbおよびTiを含む圧電材料よりなるととも
に、支持膜の音速(km/s)をv、圧電磁器膜の膜厚
をtp、支持膜の膜厚をtsとするとき、支持膜の膜厚
tsと圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが、1次
の厚み縦振動モードを利用する場合は、0<ts/tp
≦0.51v−2.25、2次の厚み縦振動モードを利
用する場合は、0.54v−2.14≦ts/tp≦
1.89v−10.44の関係を満足するものである。
【0062】このような関係を満足することにより、上
記態様と同様の効果を得ることができるとともに、例え
ばPb(ZrTi)O3 や、PbTiO3 等の圧電磁器
膜を用いた場合に、支持膜の音速vにより、支持膜の膜
厚tsと圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが最適
化され、厚み縦振動モードの各次数における電気機械結
合係数を最大限に大きくすることができる。一方、不要
な次数の電気機械結合係数を小さく抑制できる。
【0063】本発明者等は、解析条件として圧電磁器膜
としてPZTを用い、圧電磁器膜の膜厚を0.6μm、
電極膜の膜厚を0.2μmとし、支持膜の音速v(km
/s)、膜厚ts(μm)をパラメータとして変化さ
せ、1次および2次の振動モードにおける電気機械結合
係数を求め、それを上記態様と同様にして規格化電気機
械結合係数を算出し、図7(a)に、規格化電気機械結
合係数が80%以上となる膜厚比の下限値、上限値を支
持膜の音速vの1次関数として表し、図7(b)に90
%となる場合を1次関数として表した。上限値を実線
で、下限値を破線で示した。
【0064】支持膜としては、窒化珪素とダイヤモンド
膜を用い、この支持膜の音速vについては、v=((λ
+2μ)/ρ)1/2 (ここで、λ、μはラメ定数、ρは
密度を示す)により求めた。
【0065】この図7(a)から、1次および2次の振
動モードにおいて、規格化電気機械結合係数が80%以
上となるには、膜厚比ts/tpが、1次の振動モード
では、0<ts/tp≦0.51v−2.25、2次の
振動モードでは、0.54v−2.14≦ts/tp≦
1.89v−10.44の関係を満足する必要があるこ
とが判る。
【0066】また、図7(b)から、規格化電気機械結
合係数が90%以上となるには、膜厚比ts/tpが、
1次の振動モードでは、0<ts/tp≦0.27v−
0.66、2次の振動モードでは、0.73v−3.5
0≦ts/tp≦1.59v−8.48の関係を満足す
る必要があることが判る。
【0067】
【発明の効果】本発明の圧電共振子では、例えば、窒化
珪素、ダイヤモンドからなる支持膜の膜厚と、例えば、
PZT、PT等の強誘電体からなる圧電磁器膜との膜厚
比を、一定の範囲に制御することで、各次数の振動モー
ドにおける電気機械結合係数を最大限に大きくできると
ともに、不要な次数の振動モードの電気機械結合係数を
小さく抑制できる。そして、厚み縦振動の高次モードが
強く励振されるように圧電磁器膜と支持膜の膜厚比を制
御して、高次モード振動を積極的に利用することがで
き、従来の基本モードを利用した薄膜BAW共振子に比
べて高周波化できる。また、同じ周波数で利用する場合
は、本発明の圧電共振子は、高次モードを利用できる
分、従来の基本モードを利用する薄膜BAW共振子に比
べて、膜厚を厚くできるため製造の自由度も向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の圧電共振子の基本構造を示す断面図で
ある。
【図2】図1の圧電共振子において、圧電磁器膜をPZ
T、膜厚tp0.6μm、支持膜を窒化珪素、膜厚ts
4μmの場合のインピーダンス特性を示す図である。
【図3】圧電磁器膜がPZT、支持膜が窒化珪素の圧電
共振子において、(a)は、第n次厚み縦振動モードの
電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比ts/tp依存
性を示し、(b)は、第n次厚み縦振動モードの規格化
電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比ts/tp依存
性を示す図である。
【図4】圧電磁器膜がPZT、支持膜が窒化珪素の圧電
共振子において、規格化電気機械結合係数が80%以
上、および90%以上となる膜厚比ts/tpの下限
値、上限値を振動次数nの1次関数と見なした時のグラ
フである。
【図5】圧電磁器膜がPZT、支持膜がダイヤモンドの
圧電共振子において、(a)は、第n次厚み縦振動モー
ドの電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比ts/tp
依存性を示し、(b)は、第n次厚み縦振動モードの規
格化電気機械結合係数Ktn(%)の膜厚比ts/tp
依存性を示す図である。
【図6】圧電磁器膜がPZT、支持膜がダイヤモンド膜
の圧電共振子において、規格化電気機械結合係数が80
%、および90%となる膜厚比ts/tpの下限値、上
限値を振動次数nの1次関数と見なした時のグラフであ
る。
【図7】(a)は規格化電気機械結合係数が80%以上
となる膜厚比の下限値、上限値を支持膜の音速vの1次
関数と見なした時のグラフであり、(b)は規格化電気
機械結合係数が90%以上となる膜厚比の下限値、上限
値を支持膜の音速vの1次関数と見なした時のグラフで
ある。
【図8】従来の圧電共振子の基本構造を示す断面図であ
る。
【符号の説明】
1・・・基体 2・・・支持膜 3・・・共振素子 4・・・下側電極 5・・・圧電磁器膜 6・・・上側電極 A・・・振動空間

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】振動空間を有する基体と、該基体表面に形
    成され、前記振動空間を被覆する支持膜と、圧電磁器膜
    の両面に電極を形成してなり、前記支持膜の前記振動空
    間と反対側の面に形成された共振素子とを具備する圧電
    共振子であって、前記圧電磁器膜がPbおよびTiを含
    む圧電材料よりなり、前記支持膜が窒化珪素よりなると
    ともに、前記圧電磁器膜の膜厚をtp、前記支持膜の膜
    厚をts、厚み縦振動モードの振動次数をnとすると
    き、前記支持膜の膜厚tsと前記圧電磁器膜の膜厚tp
    との比ts/tpが 5.1n−6.2≦ts/tp≦7.2n−4.3(但
    し、nが1のときは、0<ts/tp) の関係を満足することを特徴とする圧電共振子。
  2. 【請求項2】振動空間を有する基体と、該基体表面に形
    成され、前記振動空間を被覆する支持膜と、圧電磁器膜
    の両面に電極を形成してなり、前記支持膜の前記振動空
    間と反対側の面に形成された共振素子とを具備する圧電
    共振子であって、前記圧電磁器膜がPbおよびTiを含
    む圧電材料よりなり、前記支持膜がダイヤモンドよりな
    るとともに、前記圧電磁器膜の膜厚をtp、前記支持膜
    の膜厚をts、厚み縦振動モードの振動次数をnとする
    とき、前記支持膜の膜厚tsと前記圧電磁器膜の膜厚t
    pとの比ts/tpが 12.1n−15.4≦ts/tp≦19.9n−1
    1.8(但し、nが1のときは、0<ts/tp) の関係を満足することを特徴とする圧電共振子。
  3. 【請求項3】振動空間を有する基体と、該基体表面に形
    成され、前記振動空間を被覆する支持膜と、圧電磁器膜
    の両面に電極を形成してなり、前記支持膜の前記振動空
    間と反対側の面に形成された共振素子とを具備する圧電
    共振子であって、前記圧電磁器膜がPbおよびTiを含
    む圧電材料よりなるとともに、前記支持膜の音速(km
    /s)をv、前記圧電磁器膜の膜厚をtp、前記支持膜
    の膜厚をtsとするとき、前記支持膜の膜厚tsと前記
    圧電磁器膜の膜厚tpとの比ts/tpが、1次の厚み
    縦振動モードを利用する場合は、 0<ts/tp≦0.51v−2.25 2次の厚み縦振動モードを利用する場合は、 0.54v−2.14≦ts/tp≦1.89v−1
    0.44 の関係を満足することを特徴とする圧電共振子。
  4. 【請求項4】支持膜の音速が10km/s以上であるこ
    とを特徴とする請求項3記載の圧電共振子。
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