JP2001056270A - 直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置 - Google Patents
直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】直線偏光板の表面に付着した異物や傷等の欠陥
を正確に検査することができるようにする。 【解決手段】直線偏光板１の表面を照明し、その表面を
該直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光
子１６を通して観察する。
を正確に検査することができるようにする。 【解決手段】直線偏光板１の表面を照明し、その表面を
該直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光
子１６を通して観察する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は直線偏光板の検査方
法及び直線偏光板の検査装置に関する。
法及び直線偏光板の検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】直線偏光板は、その吸収軸方向に平行な
振動面を有する偏光光を吸収し、該吸収軸に直交する方
向（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光を透過する
機能を有する光学素子であって、例えば液晶表示装置を
構成する光学素子の一つとして広く用いられている。
振動面を有する偏光光を吸収し、該吸収軸に直交する方
向（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光を透過する
機能を有する光学素子であって、例えば液晶表示装置を
構成する光学素子の一つとして広く用いられている。
【０００３】かかる直線偏光板は、液晶表示装置への貼
合を容易にするために予めその一方の面に粘着剤層を設
けた状態で製造される場合も多い。そして、このような
直線偏光板は、粘着剤層にホコリなどの異物が付着する
ことを防止するために該粘着剤層の上に剥離フィルムが
貼着される場合も多い。また、直線偏光板の該一方の面
に位相差板などを貼合して複合偏光板として使用する場
合も多い。
合を容易にするために予めその一方の面に粘着剤層を設
けた状態で製造される場合も多い。そして、このような
直線偏光板は、粘着剤層にホコリなどの異物が付着する
ことを防止するために該粘着剤層の上に剥離フィルムが
貼着される場合も多い。また、直線偏光板の該一方の面
に位相差板などを貼合して複合偏光板として使用する場
合も多い。
【０００４】一方、直線偏光板の他方の面に付着した異
物や傷などの欠陥は、液晶表示装置の画質を低下させる
ものであるため、液晶表示装置の製造に際しては直線偏
光板の表面（つまり前記他方の面）の欠陥の検査を行う
ことは重要である。
物や傷などの欠陥は、液晶表示装置の画質を低下させる
ものであるため、液晶表示装置の製造に際しては直線偏
光板の表面（つまり前記他方の面）の欠陥の検査を行う
ことは重要である。
【０００５】従来、上記の直線偏光板の表面に付着した
異物や傷等の欠陥を検査する手段としては、直線偏光板
を照明して、その表面を作業者が直接観察するという手
段があった。
異物や傷等の欠陥を検査する手段としては、直線偏光板
を照明して、その表面を作業者が直接観察するという手
段があった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、直線偏
光板は半透明であり、裏面側からの光が表面側に透過し
てくることから、裏面に剥離フィルムが貼着された直線
偏光板や、裏面に位相差板が積層された複合偏光板の表
面を上記従来の手段で観察すると、裏面に貼着された剥
離フィルムや位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の
外方側から見えて、その欠陥と表面の欠陥との見分けが
困難であった。
光板は半透明であり、裏面側からの光が表面側に透過し
てくることから、裏面に剥離フィルムが貼着された直線
偏光板や、裏面に位相差板が積層された複合偏光板の表
面を上記従来の手段で観察すると、裏面に貼着された剥
離フィルムや位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の
外方側から見えて、その欠陥と表面の欠陥との見分けが
困難であった。
【０００７】また、直線偏光板の表面には無反射コーテ
ィング処理が施されることがあり、例えばその表面の異
物や表面無反射コート層が欠けている箇所のような欠陥
などを検出するには、直線偏光板の表面からの反射光を
検出すればよいと考えられる。しかし、このような無反
射コート層は表面の反射率を例えば１％以下、好ましく
は０．５％以下とするものであるので、その反射光は一
般的に弱くなる。そのため裏面側からの光が表面側に透
過してくると、異物や表面無反射コート層が欠けている
箇所等の欠陥を検出するのは容易ではなく、特にその大
きさが２〜３μｍ以下であると検出することが殆どでき
なかった。
ィング処理が施されることがあり、例えばその表面の異
物や表面無反射コート層が欠けている箇所のような欠陥
などを検出するには、直線偏光板の表面からの反射光を
検出すればよいと考えられる。しかし、このような無反
射コート層は表面の反射率を例えば１％以下、好ましく
は０．５％以下とするものであるので、その反射光は一
般的に弱くなる。そのため裏面側からの光が表面側に透
過してくると、異物や表面無反射コート層が欠けている
箇所等の欠陥を検出するのは容易ではなく、特にその大
きさが２〜３μｍ以下であると検出することが殆どでき
なかった。
【０００８】本発明の目的は、直線偏光板の表面に付着
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うにする点にある。
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うにする点にある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１による発明の構
成・作用・効果は次の通りである。
成・作用・効果は次の通りである。
【００１０】［構成］直線偏光板の表面を照明し、その
表面を該直線偏光板とクロスニコルになるように配置し
た検光子を通して観察する。
表面を該直線偏光板とクロスニコルになるように配置し
た検光子を通して観察する。
【００１１】［作用］ ［イ］直線偏光板の表面を観察する場合、直線偏光板の
裏面側からは、その直線偏光板の吸収軸に直交する方向
（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光が透過してく
るが、その偏光光は、直線偏光板とクロスニコルになる
ように配置した検光子に対しては、その検光子の吸収軸
方向に平行な振動面を有する偏光光となって検光子に吸
収される。
裏面側からは、その直線偏光板の吸収軸に直交する方向
（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光が透過してく
るが、その偏光光は、直線偏光板とクロスニコルになる
ように配置した検光子に対しては、その検光子の吸収軸
方向に平行な振動面を有する偏光光となって検光子に吸
収される。
【００１２】その結果、裏面に貼着された剥離フィルム
や位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の外方側（つ
まり検光子の外方側）から見えることがなく、欠陥につ
いては表面の欠陥だけを観察することができる。
や位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の外方側（つ
まり検光子の外方側）から見えることがなく、欠陥につ
いては表面の欠陥だけを観察することができる。
【００１３】［ロ］例えば、表面無反射コーティング処
理がなされた直線偏光板の表面の傷や表面無反射コート
層が欠けている箇所等の欠陥を検出するには、直線偏光
板の表面からの反射光を検出すればよいが、この場合も
裏面側からの偏光光が上記のように検光子に吸収される
から、表面からの反射光だけ（この反射光は、検光子の
透過軸に平行な振動面を有する偏光光である）を検出す
ることができて、異物や表面無反射コート層の傷等の欠
陥を検出しやすくなり、特にこれまでは検出することが
殆ど不可能であった２〜３μｍ以下の異物や傷等の欠陥
を容易に目視で検査することができる。
理がなされた直線偏光板の表面の傷や表面無反射コート
層が欠けている箇所等の欠陥を検出するには、直線偏光
板の表面からの反射光を検出すればよいが、この場合も
裏面側からの偏光光が上記のように検光子に吸収される
から、表面からの反射光だけ（この反射光は、検光子の
透過軸に平行な振動面を有する偏光光である）を検出す
ることができて、異物や表面無反射コート層の傷等の欠
陥を検出しやすくなり、特にこれまでは検出することが
殆ど不可能であった２〜３μｍ以下の異物や傷等の欠陥
を容易に目視で検査することができる。
【００１４】［効果］従って、直線偏光板の表面に付着
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うになった。
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うになった。
【００１５】請求項２による発明の構成・作用・効果は
次の通りである。
次の通りである。
【００１６】［構成］直線偏光板の表面を照明する照明
機を設け、前記照明機で照明した直線偏光板の表面を、
前記直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検
光子を通して撮像する撮像機を設けてある。
機を設け、前記照明機で照明した直線偏光板の表面を、
前記直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検
光子を通して撮像する撮像機を設けてある。
【００１７】［作用］ ［ハ］照明機が直線偏光板の表面を照明する。そして撮
像機が、照明機で照明した直線偏光板の表面を、直線偏
光板とクロスニコルになるように配置した検光子を通し
て撮像する。
像機が、照明機で照明した直線偏光板の表面を、直線偏
光板とクロスニコルになるように配置した検光子を通し
て撮像する。
【００１８】直線偏光板の表面を観察する場合、直線偏
光板の裏面側からは、その直線偏光板の吸収軸に直交す
る方向（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光が透過
してくるが、その偏光光は、直線偏光板とクロスニコル
になるように配置した検光子に対しては、その検光子の
吸収軸方向に平行な振動面を有する偏光光となって検光
子に吸収される。
光板の裏面側からは、その直線偏光板の吸収軸に直交す
る方向（透過軸）に平行な振動面を有する偏光光が透過
してくるが、その偏光光は、直線偏光板とクロスニコル
になるように配置した検光子に対しては、その検光子の
吸収軸方向に平行な振動面を有する偏光光となって検光
子に吸収される。
【００１９】その結果、裏面に貼着された剥離フィルム
や位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の外方側（つ
まり検光子の外方側）から見えることがなく、欠陥につ
いては表面の欠陥だけを撮像することができ、その撮像
に基づいて、直線偏光板の表面に欠陥があるか否かを判
別することができる。
や位相差板の上の異物や傷等の欠陥が表面の外方側（つ
まり検光子の外方側）から見えることがなく、欠陥につ
いては表面の欠陥だけを撮像することができ、その撮像
に基づいて、直線偏光板の表面に欠陥があるか否かを判
別することができる。
【００２０】［ニ］また前記作用［ロ］と同様の作用を
奏することができる。
奏することができる。
【００２１】［効果］従って、直線偏光板の表面に付着
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うになった。
した異物や傷等の欠陥を正確に検査することができるよ
うになった。
【００２２】請求項３による発明の構成・作用・効果は
次の通りである。
次の通りである。
【００２３】［構成］請求項２による発明の構成におい
て、前記撮像機の撮像に基づいて、前記直線偏光板の表
面に欠陥があるか否かを判別する画像処理式の判別機構
を設けてある。
て、前記撮像機の撮像に基づいて、前記直線偏光板の表
面に欠陥があるか否かを判別する画像処理式の判別機構
を設けてある。
【００２４】［作用］請求項２の構成による作用と同様
の作用を奏することができるのに加え、前記撮像機の撮
像に基づいて、直線偏光板の表面に欠陥があるか否かを
判別する画像処理式の判別機構を設けてあるから、例え
ば作業者が前記撮像に基づいて、直線偏光板の表面に欠
陥があるか否かをいちいち判別する必要がなくなる。
の作用を奏することができるのに加え、前記撮像機の撮
像に基づいて、直線偏光板の表面に欠陥があるか否かを
判別する画像処理式の判別機構を設けてあるから、例え
ば作業者が前記撮像に基づいて、直線偏光板の表面に欠
陥があるか否かをいちいち判別する必要がなくなる。
【００２５】［効果］従って、請求項２の構成による効
果と同様の効果を奏することができるのに加え、作業者
の労力を軽減することができた。
果と同様の効果を奏することができるのに加え、作業者
の労力を軽減することができた。
【００２６】請求項４による発明の構成・作用・効果は
次の通りである。
次の通りである。
【００２７】［構成］請求項３による発明の構成におい
て、前記直線偏光板を搬送するコンベアを設け、搬送経
路上の所定の観察位置に位置した前記直線偏光板の表面
を前記照明機が照明するとともに、前記撮像機が前記検
光子を通して撮像するように、前記照明機と撮像機とを
配置してある。
て、前記直線偏光板を搬送するコンベアを設け、搬送経
路上の所定の観察位置に位置した前記直線偏光板の表面
を前記照明機が照明するとともに、前記撮像機が前記検
光子を通して撮像するように、前記照明機と撮像機とを
配置してある。
【００２８】［作用］請求項３の構成による作用と同様
の作用を奏することができるのに加え、次の作用を奏す
ることができる。
の作用を奏することができるのに加え、次の作用を奏す
ることができる。
【００２９】コンベアが直線偏光板を搬送し、搬送経路
上の所定の観察位置に位置した直線偏光板の表面を照明
機が照明するとともに、撮像機が前記検光子を通して撮
像する。
上の所定の観察位置に位置した直線偏光板の表面を照明
機が照明するとともに、撮像機が前記検光子を通して撮
像する。
【００３０】表面に欠陥があるか否かを判別した後の直
線偏光板はコンベアの搬送方向下手側から取り出すこと
ができる。
線偏光板はコンベアの搬送方向下手側から取り出すこと
ができる。
【００３１】つまり、コンベアで直線偏光板を搬送しな
がら、その表面の欠陥を判別することができて、多数の
直線偏光板をコンベアに順次供給することで、多数の直
線偏光板を連続的に検査することができる。
がら、その表面の欠陥を判別することができて、多数の
直線偏光板をコンベアに順次供給することで、多数の直
線偏光板を連続的に検査することができる。
【００３２】［効果］従って、請求項３の構成による効
果と同様の効果を奏することができるのに加え、作業効
率を向上させることができた。
果と同様の効果を奏することができるのに加え、作業効
率を向上させることができた。
【００３３】請求項５による発明の構成・作用・効果は
次の通りである。
次の通りである。
【００３４】［構成］請求項３又は４による発明の構成
において、前記判別機構は、複数区画に区分けした直線
偏光板の直線偏光板部分ごとにその表面に欠陥があるか
否かを判別するよう構成し、前記直線偏光板にマーキン
グ可能なマーキング機構と、前記判別機構の判別結果に
基づいて前記マーキング機構を制御する制御手段とを設
けて、前記判別機構がいずれかの直線偏光板部分に欠陥
があることを判別すると、前記欠陥がある直線偏光板部
分に前記マーキング機構がマーキングするよう構成して
ある。
において、前記判別機構は、複数区画に区分けした直線
偏光板の直線偏光板部分ごとにその表面に欠陥があるか
否かを判別するよう構成し、前記直線偏光板にマーキン
グ可能なマーキング機構と、前記判別機構の判別結果に
基づいて前記マーキング機構を制御する制御手段とを設
けて、前記判別機構がいずれかの直線偏光板部分に欠陥
があることを判別すると、前記欠陥がある直線偏光板部
分に前記マーキング機構がマーキングするよう構成して
ある。
【００３５】［作用］請求項３又は４の構成による作用
と同様の作用を奏することができるのに加え、次の作用
を奏することができる。
と同様の作用を奏することができるのに加え、次の作用
を奏することができる。
【００３６】前記判別機構は、複数区画に区分けした直
線偏光板の直線偏光板部分ごとにその表面に欠陥がある
か否かを判別する。
線偏光板の直線偏光板部分ごとにその表面に欠陥がある
か否かを判別する。
【００３７】そして、判別機構がいずれかの直線偏光板
部分に欠陥があることを判別すると、制御手段による判
別機構の制御で、欠陥がある直線偏光板部分に前記マー
キング機構がマーキングする。
部分に欠陥があることを判別すると、制御手段による判
別機構の制御で、欠陥がある直線偏光板部分に前記マー
キング機構がマーキングする。
【００３８】直線偏光板は前記複数の偏光板部分ごとに
切断して製品化されることがあるが、この場合、表面に
欠陥がある偏光板部分に上記のようにマーキング機構が
マーキングするから、表面に欠陥がある偏光板部分と欠
陥がない直線偏光部分とを前記切断後に容易に区別する
ことができる。
切断して製品化されることがあるが、この場合、表面に
欠陥がある偏光板部分に上記のようにマーキング機構が
マーキングするから、表面に欠陥がある偏光板部分と欠
陥がない直線偏光部分とを前記切断後に容易に区別する
ことができる。
【００３９】［効果］従って、請求項３又は４の構成に
よる効果と同様の効果を奏することができるのに加え、
表面に欠陥がある偏光板部分と欠陥がない直線偏光部分
との後処理（例えば表面に欠陥がある偏光板部分の廃棄
処理）の作業効率を向上させることができる。
よる効果と同様の効果を奏することができるのに加え、
表面に欠陥がある偏光板部分と欠陥がない直線偏光部分
との後処理（例えば表面に欠陥がある偏光板部分の廃棄
処理）の作業効率を向上させることができる。
【００４０】請求項６による発明の構成・作用・効果は
次の通りである。
次の通りである。
【００４１】［構成］請求項５による発明の構成におい
て、前記マーキング機構を前記観察位置よりも前記コン
ベアの搬送方向下手側に配置し、前記コンベアの搬送速
度を検出する速度検出部を設け、前記制御手段は、前記
判別機構がいずれかの直線偏光板部分の表面に欠陥があ
ることを判別すると、その判別結果及び前記速度検出部
の検出結果に基づいて前記マーキング機構を制御して、
前記欠陥がある直線偏光板部分が前記マーキング機構側
を通過する際にマーキング作動させるよう構成してあ
る。
て、前記マーキング機構を前記観察位置よりも前記コン
ベアの搬送方向下手側に配置し、前記コンベアの搬送速
度を検出する速度検出部を設け、前記制御手段は、前記
判別機構がいずれかの直線偏光板部分の表面に欠陥があ
ることを判別すると、その判別結果及び前記速度検出部
の検出結果に基づいて前記マーキング機構を制御して、
前記欠陥がある直線偏光板部分が前記マーキング機構側
を通過する際にマーキング作動させるよう構成してあ
る。
【００４２】［作用］請求項５の構成による作用と同様
の作用を奏することができるのに加え、次の作用を奏す
ることができる。
の作用を奏することができるのに加え、次の作用を奏す
ることができる。
【００４３】判別機構がいずれかの直線偏光板部分の表
面に欠陥があることを判別すると、制御手段が判別機構
の判別結果及び前記速度検出部の検出結果に基づいてマ
ーキング機構を制御して、表面に欠陥がある直線偏光板
部分が、前記観察位置よりもコンベアの搬送方向下手側
のマーキング機構側を通過する際に、前記直線偏光板部
分にマーキングさせる。
面に欠陥があることを判別すると、制御手段が判別機構
の判別結果及び前記速度検出部の検出結果に基づいてマ
ーキング機構を制御して、表面に欠陥がある直線偏光板
部分が、前記観察位置よりもコンベアの搬送方向下手側
のマーキング機構側を通過する際に、前記直線偏光板部
分にマーキングさせる。
【００４４】これにより、表面に欠陥がある直線偏光板
部分にマーキング機構でマーキングするたびに直線偏光
板部分の送りを停止させる必要がなくなる。
部分にマーキング機構でマーキングするたびに直線偏光
板部分の送りを停止させる必要がなくなる。
【００４５】［効果］従って、表面に欠陥がある直線偏
光板部分にマーキング機構でマーキングするたびに直線
偏光板部分の送りを停止させなくてもよいから、作業効
率を向上させることができた。
光板部分にマーキング機構でマーキングするたびに直線
偏光板部分の送りを停止させなくてもよいから、作業効
率を向上させることができた。
【００４６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００４７】図１，図２に、偏光フィルム１（直線偏光
板に相当）の検査装置を示し、図７に本検査装置の概略
図を示してある。
板に相当）の検査装置を示し、図７に本検査装置の概略
図を示してある。
【００４８】前記偏光フィルム１の検査装置は、偏光フ
ィルム１を搬送する主コンベア２と、その搬送経路の中
間部側で偏光フィルム１を観察する観察部３と、主コン
ベア２の搬送終端部側で偏光フィルム１の裏面にマーキ
ング可能なマーキング機構４と、前記マーキング機構４
の下手側で偏光フィルム１を搬送する補助コンベア５と
を装置フレーム６に支持させて構成してある。
ィルム１を搬送する主コンベア２と、その搬送経路の中
間部側で偏光フィルム１を観察する観察部３と、主コン
ベア２の搬送終端部側で偏光フィルム１の裏面にマーキ
ング可能なマーキング機構４と、前記マーキング機構４
の下手側で偏光フィルム１を搬送する補助コンベア５と
を装置フレーム６に支持させて構成してある。
【００４９】前記主コンベア２は、多孔質のコンベアベ
ルト７を複数の輪体８に巻回するとともに、搬送方向中
間部の下方に、コンベアベルト７側の空気を吸引する空
気室９・ブロア１０を設けて、吸着コンベアに構成して
ある。
ルト７を複数の輪体８に巻回するとともに、搬送方向中
間部の下方に、コンベアベルト７側の空気を吸引する空
気室９・ブロア１０を設けて、吸着コンベアに構成して
ある。
【００５０】前記偏光フィルム１の主コンベア２の搬送
始端側への供給は、主コンベア２を停止させた状態で作
業者が行う。
始端側への供給は、主コンベア２を停止させた状態で作
業者が行う。
【００５１】前記主コンベア２の搬送始端側に、搬送方
向上手側の偏光フィルム１の端縁を受け止めて、偏光フ
ィルム１を搬送方向で位置決めする位置決め板１１と、
偏光フィルム１の幅方向の端縁を受け止めて、偏光フィ
ルム１を搬送幅方向で位置決めする位置決めローラ機構
１２とを配設してある。
向上手側の偏光フィルム１の端縁を受け止めて、偏光フ
ィルム１を搬送方向で位置決めする位置決め板１１と、
偏光フィルム１の幅方向の端縁を受け止めて、偏光フィ
ルム１を搬送幅方向で位置決めする位置決めローラ機構
１２とを配設してある。
【００５２】図３に示すように、前記位置決めローラ機
構１２は、装置フレーム６に支持させたブラケット１３
に、前記搬送幅方向に沿う軸芯周りに回転可能なローラ
１４を、コンベアベルト７に当接する状態に支持させ
て、コンベアベルト７の送りに伴って、前記ローラ１４
を回転させるよう構成してある。偏光フィルム１は前記
ローラ１４の側面に当てつける。
構１２は、装置フレーム６に支持させたブラケット１３
に、前記搬送幅方向に沿う軸芯周りに回転可能なローラ
１４を、コンベアベルト７に当接する状態に支持させ
て、コンベアベルト７の送りに伴って、前記ローラ１４
を回転させるよう構成してある。偏光フィルム１は前記
ローラ１４の側面に当てつける。
【００５３】作業者が主コンベア２の搬送始端側に偏光
フィルム１を供給した後、主コンベア２を駆動させて偏
光フィルム１を観察部３側に送る。
フィルム１を供給した後、主コンベア２を駆動させて偏
光フィルム１を観察部３側に送る。
【００５４】前記観察部３は、主コンベア２の搬送経路
上の所定の観察位置に位置した偏光フィルム１の表面を
照明する照明機１５を設け、前記照明機１５で照明した
偏光フィルム１の表面を、偏光フィルム１とクロスニコ
ルになるように配置した検光子１６（図７参照）を通し
て撮像する撮像機１７を設け、前記撮像機１７の撮像に
基づいて、偏光フィルム１の表面に異物や傷等の欠陥が
あるか否かを判別する画像処理式の判別機構１８を設け
て構成してある。
上の所定の観察位置に位置した偏光フィルム１の表面を
照明する照明機１５を設け、前記照明機１５で照明した
偏光フィルム１の表面を、偏光フィルム１とクロスニコ
ルになるように配置した検光子１６（図７参照）を通し
て撮像する撮像機１７を設け、前記撮像機１７の撮像に
基づいて、偏光フィルム１の表面に異物や傷等の欠陥が
あるか否かを判別する画像処理式の判別機構１８を設け
て構成してある。
【００５５】つまり、偏光フィルム１の表面を照明し、
その表面を偏光フィルム１とクロスニコルになるように
配置した検光子１６を通して観察する。この観察は、主
コンベア２で偏光フィルム１を搬送しながら行う。
その表面を偏光フィルム１とクロスニコルになるように
配置した検光子１６を通して観察する。この観察は、主
コンベア２で偏光フィルム１を搬送しながら行う。
【００５６】前記偏光フィルム１はその表面に無反射コ
ート層を設けてあり、前記観察部３で前記表面の無反射
コート層等の欠陥を検査することができる。無反射コー
ト層は、偏光フィルム表面の反射率を例えば１％以下、
好ましくは０．５％以下とするものである。
ート層を設けてあり、前記観察部３で前記表面の無反射
コート層等の欠陥を検査することができる。無反射コー
ト層は、偏光フィルム表面の反射率を例えば１％以下、
好ましくは０．５％以下とするものである。
【００５７】図１，図２，図４に示すように前記照明機
１５は、装置フレーム６の幅方向両端部側にＴ溝付きの
一対の第１縦フレーム１９を、搬送幅方向に沿う下側第
１軸芯Ｏ周りに揺動自在に各別に支持させ、前記一対の
第１縦フレーム１９に枢支連結された状態で両第１縦フ
レーム１９を各別に支持する一対の第１リンク部材２０
を、搬送幅方向に沿う下側第２軸芯Ｐ周りに揺動自在
に、装置フレーム６の幅方向両端部側に各別に支持さ
せ、一対の第１縦フレーム１９にその長手方向に位置変
更自在に架設した第１横フレーム２７に、主コンベア２
のほぼ全幅にわたる光源としてのライト２２を支持させ
て構成してある。
１５は、装置フレーム６の幅方向両端部側にＴ溝付きの
一対の第１縦フレーム１９を、搬送幅方向に沿う下側第
１軸芯Ｏ周りに揺動自在に各別に支持させ、前記一対の
第１縦フレーム１９に枢支連結された状態で両第１縦フ
レーム１９を各別に支持する一対の第１リンク部材２０
を、搬送幅方向に沿う下側第２軸芯Ｐ周りに揺動自在
に、装置フレーム６の幅方向両端部側に各別に支持さ
せ、一対の第１縦フレーム１９にその長手方向に位置変
更自在に架設した第１横フレーム２７に、主コンベア２
のほぼ全幅にわたる光源としてのライト２２を支持させ
て構成してある。
【００５８】前記下側第２軸芯Ｐは搬送方向に往復位置
変更調節自在で、詳しくは、Ｔ溝付きのフレームで形成
した装置フレーム部分６の前記Ｔ溝に、第１リンク部材
２０の下端部側の第１枢支連結ピン２３を固定及び固定
解除自在に取り付けてある。
変更調節自在で、詳しくは、Ｔ溝付きのフレームで形成
した装置フレーム部分６の前記Ｔ溝に、第１リンク部材
２０の下端部側の第１枢支連結ピン２３を固定及び固定
解除自在に取り付けてある。
【００５９】同様に、第１リンク部材２０と第１縦フレ
ーム１９との間の第２枢支連結ピン２４も、第１縦フレ
ーム１９のＴ溝に固定及び固定解除自在に取り付けて、
第１縦フレーム１９の長手方向に位置変更自在に構成し
てある。
ーム１９との間の第２枢支連結ピン２４も、第１縦フレ
ーム１９のＴ溝に固定及び固定解除自在に取り付けて、
第１縦フレーム１９の長手方向に位置変更自在に構成し
てある。
【００６０】以上のように構成して、主コンベア２の搬
送面上の偏光フィルム１に対するライト２２の位置を変
更調節可能にしてある。
送面上の偏光フィルム１に対するライト２２の位置を変
更調節可能にしてある。
【００６１】図１，図２，図５に示すように前記撮像機
１７は、装置フレーム６の幅方向両端部側にＴ溝付きの
一対の第２縦フレーム２５を、前記下側第１軸芯Ｏ周り
に揺動自在に各別に支持させ、前記一対の第２縦フレー
ム２５に枢支連結された状態で両第２縦フレーム２５を
各別に支持する一対の第２リンク部材２６を、搬送幅方
向に沿う下側第３軸芯Ｑ周りに揺動自在に、装置フレー
ム６の幅方向両端部側に支持させ、一対の第２縦フレー
ム２５にその長手方向に位置変更自在に架設した第２横
フレーム２１に、４個のカメラ２８（ラインセンサーカ
メラである）を並設して構成してある。
１７は、装置フレーム６の幅方向両端部側にＴ溝付きの
一対の第２縦フレーム２５を、前記下側第１軸芯Ｏ周り
に揺動自在に各別に支持させ、前記一対の第２縦フレー
ム２５に枢支連結された状態で両第２縦フレーム２５を
各別に支持する一対の第２リンク部材２６を、搬送幅方
向に沿う下側第３軸芯Ｑ周りに揺動自在に、装置フレー
ム６の幅方向両端部側に支持させ、一対の第２縦フレー
ム２５にその長手方向に位置変更自在に架設した第２横
フレーム２１に、４個のカメラ２８（ラインセンサーカ
メラである）を並設して構成してある。
【００６２】前記下側第３軸芯Ｑは搬送方向に往復位置
変更調節自在で、詳しくは、Ｔ溝付きのフレームで形成
した装置フレーム６部分の前記Ｔ溝に、第２リンク部材
２６の下端部側の第３枢支連結ピン２９を固定及び固定
解除自在に取り付けてある。
変更調節自在で、詳しくは、Ｔ溝付きのフレームで形成
した装置フレーム６部分の前記Ｔ溝に、第２リンク部材
２６の下端部側の第３枢支連結ピン２９を固定及び固定
解除自在に取り付けてある。
【００６３】同様に、第２リンク部材２６と第２縦フレ
ーム２５との第４枢支連結ピン３０も、第２縦フレーム
２５のＴ溝に取外し自在に連結して、第２縦フレーム２
５の長手方向に位置変更自在に構成してある。
ーム２５との第４枢支連結ピン３０も、第２縦フレーム
２５のＴ溝に取外し自在に連結して、第２縦フレーム２
５の長手方向に位置変更自在に構成してある。
【００６４】以上のように構成して、主コンベア２の搬
送面上の偏光フィルム１に対するカメラ２８の位置を変
更調節可能にしてある。
送面上の偏光フィルム１に対するカメラ２８の位置を変
更調節可能にしてある。
【００６５】前記偏光フィルム１に対するライト２２と
カメラ２８の位置変更調節は、検査対象の偏光フィルム
１群の検査を開始する前に行う。
カメラ２８の位置変更調節は、検査対象の偏光フィルム
１群の検査を開始する前に行う。
【００６６】前記判別機構１８は、複数区画に区分けし
た偏光フィルム１部分ごとにその表面に欠陥があるか否
かを判別する（偏光フィルムは各偏光フィルム部分に裁
断されて製品化される）。
た偏光フィルム１部分ごとにその表面に欠陥があるか否
かを判別する（偏光フィルムは各偏光フィルム部分に裁
断されて製品化される）。
【００６７】図１，図２，図６に示すように前記マーキ
ング機構４は、複数のサインペンを複数のエアシリンダ
を各別に介して昇降自在に装置フレーム６に設けて構成
してある。
ング機構４は、複数のサインペンを複数のエアシリンダ
を各別に介して昇降自在に装置フレーム６に設けて構成
してある。
【００６８】そして、図８に示すように、前記主コンベ
ア２の搬送速度を検出する速度検出部３１を設け、判別
機構１８の判別結果と速度検出部３１の検出結果とに基
づいてマーキング機構４のエアシリンダを制御する制御
装置３２（制御手段に相当）を設けて、判別機構１８が
いずれかの偏光フィルム１部分の表面に欠陥があること
を判別すると、欠陥がある直線偏光板部分１がマーキン
グ機構４側を通過する際に、対応するサインペンが上昇
してきてその欠陥がある偏光フィルム１部分にマーキン
グするよう構成してある。
ア２の搬送速度を検出する速度検出部３１を設け、判別
機構１８の判別結果と速度検出部３１の検出結果とに基
づいてマーキング機構４のエアシリンダを制御する制御
装置３２（制御手段に相当）を設けて、判別機構１８が
いずれかの偏光フィルム１部分の表面に欠陥があること
を判別すると、欠陥がある直線偏光板部分１がマーキン
グ機構４側を通過する際に、対応するサインペンが上昇
してきてその欠陥がある偏光フィルム１部分にマーキン
グするよう構成してある。
【００６９】前記マーキング機構４の上側には、偏光フ
ィルム１を押さえる押さえローラ３３を設けて、マーキ
ングに伴う偏光フィルム１の浮き上がりを防止してあ
る。
ィルム１を押さえる押さえローラ３３を設けて、マーキ
ングに伴う偏光フィルム１の浮き上がりを防止してあ
る。
【００７０】前記補助コンベア５は、補助コンベアベル
ト３５を複数の輪体３６に巻回して成る４個の補助コン
ベア部分を搬送幅方向に並設して構成してある。
ト３５を複数の輪体３６に巻回して成る４個の補助コン
ベア部分を搬送幅方向に並設して構成してある。
【００７１】前記補助コンベア５の搬送終端側に、偏光
フィルム１を受け止めるフィルム受け止め板３４を設け
て、偏光フィルム１の補助コンベアからの落下を防止し
てある。
フィルム１を受け止めるフィルム受け止め板３４を設け
て、偏光フィルム１の補助コンベアからの落下を防止し
てある。
【００７２】補助コンベア５で送られてくる偏光フィル
ム１は作業者が回収する。
ム１は作業者が回収する。
【００７３】［別実施形態］前記マーキング機構４で偏
光フィルム１の裏面にマーキングするときに、偏光フィ
ルム１の送りを停止させるよう構成してあってもよい。
光フィルム１の裏面にマーキングするときに、偏光フィ
ルム１の送りを停止させるよう構成してあってもよい。
【００７４】前記偏光フィルム１は、その表面に無反射
コート層が設けられていないものであってもよい。
コート層が設けられていないものであってもよい。
【００７５】上記の検査装置によることなく、例えば、
偏光フィルム１の表面をライト等で照明した状態で、作
業者が、偏光フィルム１とクロスニコルになるように手
に持った検光子１６を通して偏光フィルム１の表面を観
察してもよい。
偏光フィルム１の表面をライト等で照明した状態で、作
業者が、偏光フィルム１とクロスニコルになるように手
に持った検光子１６を通して偏光フィルム１の表面を観
察してもよい。
【００７６】前記偏光フィルム１の表面の欠陥としては
異物・傷・ピンホール・むら等がある。
異物・傷・ピンホール・むら等がある。
【図１】偏光フィルムの検査装置の側面図
【図２】偏光フィルムの検査装置の平面図
【図３】位置決めローラ機構を示す図
【図４】照明機構を示す図
【図５】カメラを示す正面図
【図６】マーキング機構を示す正面図
【図７】偏光フィルムの検査装置の概略図
【図８】制御系を示す図
１ 直線偏光板 ４ マ−キング機構 １５ 照明機 １６ 検光子 １７ 撮像機 １８ 判別機構 ３１ 速度検出部 ３２ 制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０９Ｆ 9/00 ３５２ Ｇ０９Ｆ 9/00 ３５２ ５Ｇ４３５ Ｆターム(参考） 2G051 AA41 AB01 AB02 AB07 CA03 CA04 CB01 CC07 DA05 DA15 2G086 EE09 EE10 2H049 BA02 BB03 BB05 BB65 BC12 BC21 2H088 FA11 FA17 FA30 HA28 MA20 2H091 FA07Z FA41X FA50Z FC29 FC30 LA30 MA10 5G435 AA17 FF05 KK07 KK10
Claims (6)
- 【請求項１】 直線偏光板の表面を照明し、その表面を
該直線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光
子を通して観察することを特徴とする直線偏光板の検査
方法。 - 【請求項２】 直線偏光板の表面を照明する照明機を設
け、前記照明機で照明した直線偏光板の表面を、前記直
線偏光板とクロスニコルになるように配置した検光子を
通して撮像する撮像機を設けてある直線偏光板の検査装
置。 - 【請求項３】 前記撮像機の撮像に基づいて、前記直線
偏光板の表面に欠陥があるか否かを判別する画像処理式
の判別機構を設けてある請求項２記載の直線偏光板の検
査装置。 - 【請求項４】 前記直線偏光板を搬送するコンベアを設
け、搬送経路上の所定の観察位置に位置した前記直線偏
光板の表面を前記照明機が照明するとともに、前記撮像
機が前記検光子を通して撮像するように、前記照明機と
撮像機とを配置してある請求項３記載の直線偏光板の検
査装置。 - 【請求項５】 前記判別機構は、複数区画に区分けした
直線偏光板の直線偏光板部分ごとにその表面に欠陥があ
るか否かを判別するよう構成し、前記直線偏光板にマー
キング可能なマーキング機構と、前記判別機構の判別結
果に基づいて前記マーキング機構を制御する制御手段と
を設けて、前記判別機構がいずれかの直線偏光板部分に
欠陥があることを判別すると、前記欠陥がある直線偏光
板部分に前記マーキング機構がマーキングするよう構成
してある請求項３又は４記載の直線偏光板の検査装置。 - 【請求項６】 前記マーキング機構を前記観察位置より
も前記コンベアの搬送方向下手側に配置し、前記コンベ
アの搬送速度を検出する速度検出部を設け、前記制御手
段は、前記判別機構がいずれかの直線偏光板部分の表面
に欠陥があることを判別すると、その判別結果及び前記
速度検出部の検出結果に基づいて前記マーキング機構を
制御して、前記欠陥がある直線偏光板部分が前記マーキ
ング機構側を通過する際にマーキング作動させるよう構
成してある請求項５記載の直線偏光板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11231480A JP2001056270A (ja) | 1999-08-18 | 1999-08-18 | 直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11231480A JP2001056270A (ja) | 1999-08-18 | 1999-08-18 | 直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001056270A true JP2001056270A (ja) | 2001-02-27 |
Family
ID=16924165
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11231480A Pending JP2001056270A (ja) | 1999-08-18 | 1999-08-18 | 直線偏光板の検査方法及び直線偏光板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001056270A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001108630A (ja) * | 1999-10-12 | 2001-04-20 | Sumitomo Chem Co Ltd | 光学透明フィルムの検査方法 |
| CN100338456C (zh) * | 2002-05-31 | 2007-09-19 | 住友化学工业株式会社 | 偏光膜的检查方法及检查装置 |
| CN100339700C (zh) * | 2002-05-31 | 2007-09-26 | 住友化学工业株式会社 | 偏光膜的检查方法及检查装置 |
| KR100769326B1 (ko) * | 2006-04-28 | 2007-10-24 | 충북대학교 산학협력단 | 편광 필름 검사 장치 |
| CN100462778C (zh) * | 2005-12-05 | 2009-02-18 | 恩富技术株式会社 | 偏振光膜检查装置及方法 |
| CN100462777C (zh) * | 2005-12-05 | 2009-02-18 | 恩富技术株式会社 | 偏振光膜检查装置及方法 |
| US8821674B2 (en) | 2009-04-10 | 2014-09-02 | Nitto Denko Corporation | Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof |
| JP2016014661A (ja) * | 2014-06-19 | 2016-01-28 | ザ・ボーイング・カンパニーＴｈｅＢｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ | 繊維ガラス及び複合部品内のピンホールを検出するためのシステム及び方法 |
-
1999
- 1999-08-18 JP JP11231480A patent/JP2001056270A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001108630A (ja) * | 1999-10-12 | 2001-04-20 | Sumitomo Chem Co Ltd | 光学透明フィルムの検査方法 |
| CN100338456C (zh) * | 2002-05-31 | 2007-09-19 | 住友化学工业株式会社 | 偏光膜的检查方法及检查装置 |
| CN100339700C (zh) * | 2002-05-31 | 2007-09-26 | 住友化学工业株式会社 | 偏光膜的检查方法及检查装置 |
| CN100462778C (zh) * | 2005-12-05 | 2009-02-18 | 恩富技术株式会社 | 偏振光膜检查装置及方法 |
| CN100462777C (zh) * | 2005-12-05 | 2009-02-18 | 恩富技术株式会社 | 偏振光膜检查装置及方法 |
| KR100769326B1 (ko) * | 2006-04-28 | 2007-10-24 | 충북대학교 산학협력단 | 편광 필름 검사 장치 |
| US8821674B2 (en) | 2009-04-10 | 2014-09-02 | Nitto Denko Corporation | Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof |
| JP2016014661A (ja) * | 2014-06-19 | 2016-01-28 | ザ・ボーイング・カンパニーＴｈｅＢｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ | 繊維ガラス及び複合部品内のピンホールを検出するためのシステム及び方法 |
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