JP2001041654A - サンプル穀物乾燥装置における水分値制御装置 - Google Patents

サンプル穀物乾燥装置における水分値制御装置

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JP2001041654A
JP2001041654A JP21215299A JP21215299A JP2001041654A JP 2001041654 A JP2001041654 A JP 2001041654A JP 21215299 A JP21215299 A JP 21215299A JP 21215299 A JP21215299 A JP 21215299A JP 2001041654 A JP2001041654 A JP 2001041654A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 乾燥調製施設等荷受け穀物の自主検定装置に
供給する前にサンプル穀物を乾燥するサンプル穀物乾燥
装置に関し、小型で廉価なサンプル乾燥装置を実現し、
併せて処理時間の効率化をはかろうとする。 【解決手段】 複数のサンプル穀物を所定に乾燥するサ
ンプル穀物乾燥装置において、乾燥初期水分M0測定手
段と、サンプル乾燥における予測乾減率Aを記憶する手
段と、これら初期水分M0と予測乾減率Aとから乾燥仕
上げ前に水分測定するための経過時間H1を求め、この
経過時に測定された中間水分値Mnと乾減率Aから仕上
げ水分Meまでに要する仕上げ時間H(n+1)を求め、
この時間H(n+1)について乾燥出力をなすと共に、測
定水分値Mnが最終の仕上げ水分値Meに近づき予め設
定した最終水分測定範囲α以内に達したときには、乾燥
時間H(n+1)の経過後水分測定を行わず乾燥終了す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、乾燥調製施設等荷受
け穀物の自主検定装置に供給する前にサンプル穀物を乾
燥するサンプル穀物乾燥装置における水分値制御装置に
関する。
【0002】
【従来技術及び発明が解決しようとする課題】従来、サ
ンプル穀物乾燥装置として、例えばサンプル乾燥機本体
機枠の正面縦横複数に形成した空間部に、サンプル穀物
を収容したサンプル箱を格納し、これらサンプル箱の夫
々に対応すべく水分検出装置を設ける構成として、乾燥
仕上がり状況を監視している。サンプル箱個々に水分検
出装置を備えるため、検出遅れのない状態でサンプル乾
燥を終了できる点で優れるが、個々に水分検出装置を必
要としてコストが嵩む欠点がある。
【0003】
【課題を解決するための手段】この発明は上記に鑑み、
小型で廉価なサンプル乾燥装置を実現し、併せて処理時
間の効率化をはかろうとするもので、次の技術的手段を
講じた。即ち、複数のサンプル穀物を所定に乾燥するサ
ンプル穀物乾燥装置において、乾燥初期水分M0測定手
段と、サンプル乾燥における予測乾減率Aを記憶する手
段と、これら初期水分M0と予測乾減率Aとから乾燥仕
上げ前に水分測定するための経過時間H1を求め、この
経過時に測定された中間水分値Mnと乾減率Aから仕上
げ水分Meまでに要する仕上げ時間H(n+1)を求め、
この時間H(n+1)について乾燥出力をなすと共に、測
定水分値Mnが最終の仕上げ水分値Meに近づき予め設
定した最終水分測定範囲α以内に達したときには、乾燥
時間H(n+1)の経過後水分測定を行わず乾燥終了する
構成としたサンプル穀物乾燥装置における水分値制御装
置の構成とする。
【0004】
【発明の作用及び効果】この発明は以上の構成であるか
ら、乾減率Aと測定水分値とから初期乾燥時間、次回乾
燥時間、…のように乾燥時間を管理しながら乾燥を継続
していくものであるから、定期的なサンプル穀物の水分
検出を行う必要がなく、個々に水分計を備える必要がな
く、廉価に構成できる。
【0005】また、測定水分値Mnが最終の仕上げ水分
値Meに近づき予め設定した最終水分測定範囲α以内に
達したときには、乾燥時間H(n+1)の経過後水分測定
を行わず乾燥終了するものであるから、乾燥終了の判定
を迅速に行うことができる。
【0006】
【発明の実施の形態】この発明の一実施例を図面に基づ
いて説明する。図1はサンプル乾燥から自主検定を経て
サンプルを袋詰するサンプルパックまでを一連に自動化
した装置の概要であり、1はサンプル乾燥機、2は自主
検定装置、3はサンプルパック機、4は制御部である。
【0007】上記のうち、サンプル乾燥機1は、サンプ
ル収容すべきサンプル箱5,5…にサンプルを投入ない
し排出するサンプル投入排出部6と、機枠の正面側に複
数のサンプルを格納しうる格納空間(図例では縦10列
横12列で計120口)7,7…を形成したサンプル箱
格納部8と、サンプル箱を所定の格納部7位置にて搬入
出するサンプル搬入出部9と、上記機枠内にあって乾燥
に必要な乾燥風調整機器を内蔵した乾燥風循環部10等
からなる。
【0008】上記サンプル投入排出部6には、サンプル
箱5を、正面側に荷受けサンプル投入位置イ、水分測定
のための水分測定サンプル投入位置ロ、同じく水分測定
サンプル受け位置ハ、及び乾燥終了後のサンプル排出位
置ニ、の夫々に対応すべくサンプル箱5挿入口11,1
2,13及び14を開口している。図外荷受け計量器よ
り600gから1000gの範囲でサンプリングされた
穀物は、適宜案内ダクト15を介してサイクロン16内
に送られ、該サイクロン16の下部に接続する案内シュ
ート17の下端部を上記荷受けサンプル投入位置イにの
ぞませる。
【0009】上記の水分測定のための水分測定サンプル
投入位置ロと水分測定サンプル受け位置ハとを接続する
流下路には水分計18を設け、サンプルの更に一部を受
けて単粒毎に水分測定しながら平均水分を算出しうる構
成である。また、前記乾燥終了後のサンプル排出位置ニ
は後記の自主検定装置2の入り口部に供給案内するシュ
ート19上端側をのぞませている。
【0010】サンプル箱5は、上面5aが開放され底部
5bは通気網部に構成されており、その正面側には断面
よりもやや大きい形状の密閉兼用の正面板5cを有し、
サンプル仕切り5dが、この正面板5cとは適宜間隔離
れて設けられている。このような構成の各サンプル箱
5,5…は、機枠正面の前記格納空間7,7…に略水平
状態で出入りさせることができる。該格納空間7,7…
は、サンプル箱5の受け面に通気網面積に見合うような
通気開口7aを有し、後面下方から該通気開口7aに亘
り乾燥風を導入する斜め方向の導入経路7bを形成して
いる。7cはサンプル穀物を通過した乾燥排風の排風口
である。
【0011】上記サンプル箱5,5…の格納空間7,7
…への搬入,排出、及びサンプル投入排出部6間への移
動は、サンプル搬入出部9の搬入出ロボット20が司
る。この搬入出ロボット20は、機枠前面上部と機枠下
面のベース部材21とに設ける横レール22,23,2
3に沿って横移動可能に設ける縦連結枠24に、上下移
動可能に装着されるもので、以下の構成である。縦連結
枠24に沿って上下移動する移動枠25に、左右一対の
レール26,26を設け、該レール26,26に沿って
サンプル箱を前後に搬入出する吸着ハンド28を備える
搬入出体29を設けてなる。なお、吸着ハンド28のレ
ール26,26に沿う前進は正逆転モータ27の正転に
より、逆の後進は該モータ27の逆転による。
【0012】吸着ハンド28は、その先端部に通電によ
り吸着作用し、かつ正逆転モータ30の作用にて上下反
転する電磁石体28a、該電磁石体28aに一体の上下
一対の突起部28b,28bからなり、前記サンプル箱
5の正面板5cを吸着し併せて該正面板5cに形成する
上下対称の反転用孔5e,5eに上記突起部28b,2
8bを係合して保持しうるもので、電磁石体28aの反
転回動により、サンプル箱5の開放上面5aが上向く標
準姿勢と、底部5bが上向く反転姿勢とに姿勢変更作動
する構成である。31は縦連結枠25を左右方向に移動
させる横移動モータ、32は移動枠26を上下縦移動さ
せる縦移動モータである。33はサンプル箱5を吸着保
持状態で格納空間から搬出した状態時にサンプル箱5の
有無を検出しうる光学センサで、仕上搬送や中間の水分
確認処理の際の搬出時にサンプル箱5が正規に吸着され
ているか否かを検知できる構成である。また、正規状態
ではサンプル箱5を吸着保持しない動作(例えばサンプ
ル箱搬出動作)にも関わらず当該センサがサンプル箱5
検知するときは異常であることを警報しうる。
【0013】前記サンプル乾燥機1の機枠内背面部にお
いて、乾燥風循環部10を構成している。多数のサンプ
ル箱5,5…格納空間7,7…の背面側に、前後幅を適
宜に狭く構成した空間を形成し、この空間部を隔てて観
音開きの開閉扉34,34を設ける。開閉扉34の裏面
側には、上下に長い断面矩形の一対のダクト35,35
を構成する。なお該ダクト35の上下側は開放し、これ
らダクト途中にはヒータ36を設けると共に上面開放部
側近傍には吸引ファン37を配設している。38は吸引
ファン37近傍の機枠壁部に形成した外気導入口であ
る。該ダクト35の下方出口には、温度センサ39を配
設している。ヒータ36をオンし、吸引ファン37を作
動すると、ダクト35内には上方から下方に抜ける通気
状態となり、その間でヒータ36で温められ乾燥風とな
ってダクト35の外側を上昇し、再び外気と混合しなが
らダクト35内を抜けて乾燥風を循環しうるもので、温
度センサ39が検出する乾燥風温度が予め設定した乾燥
風温度に達するとヒータ36の通電をオフし、再び当該
設定温度以下に至ると通電オンしながら、循環する乾燥
風温度を制御する構成である。
【0014】従ってダクト35の内部を上方から下方に
流通しながら乾燥風となり、ダクト35から出て上昇す
る乾燥風とで乾燥風循環経路10aが形成される。該乾
燥風循環経路10aの上昇側経路には、前記サンプル箱
格納空間7の各乾燥風導入経路7b,7b…がのぞみ、
これら各導入経路7b,7b…入り口側に設ける導入フ
ァン40,40…のオン作動によって乾燥風の一部が所
定の乾燥風導入経路7bに導入される構成である。
【0015】上記の実施例では、開閉扉34,34の裏
面側にダクト35,35を構成したから、内部点検のた
めに開閉扉34,34を開放すると、サンプル箱5の格
納空間部背面が露出してこれら周辺の点検作業が容易で
ある。なお、ダクト35内に乾燥風調整機器としてのヒ
ータ36を設けたが、外部であっても良く、また、乾燥
風調整機器としてはヒータのほか除湿器などがある。
【0016】41,41…は、機枠上面に設けた排気フ
ァンで、上下に連設する格納空間7,7…の排風口に接
続されていて、サンプル箱5に収容されたサンプル穀物
中を通過した乾燥風を集合して排気しうる構成である。
前記水分測定サンプル投入位置ロと水分測定サンプル受
け位置ハとを接続する流下路の水分計18につき詳細に
説明すると、流下路42はホッパ42aとこれに続く細
径の垂直路42bとからなり、ホッパ42aの側壁一部
を切欠き構成して少量のサンプル穀物の溜り部42cを
構成する。この溜り部42cの下方にのぞませて左右一
対の送り螺旋43a,43bからなる一粒繰出機構43
を設ける。この一粒繰出機構43は水分計18の構成一
部であるが、当該水分計18本体は、流下路42の近傍
に固定して設けられる。本体内部には、一対の電極ロー
ル44を配設し、一粒毎繰り出される穀物を順次圧砕し
ながらその電気抵抗値を水分値に換算する公知の構成で
ある。一粒毎に複数粒の水分値を算出するとその平均水
分値を算出するものである。45は水分測定用に供給さ
れるサンプル穀物以外を垂直路42bに一旦保持するシ
ャッタであり、サンプル箱5が水分測定サンプル投入位
置ロから水分測定サンプル受け位置ハに移動してくるま
での間、シャッタ45閉じして上記保持状態とする。サ
ンプル箱5が水分測定サンプル受け位置ハに移動して待
機状態となるとシャッタ45を開とすべくタイマ制御す
る構成である。46は水分測定用に供給された圧砕サン
プルの取出し容器である。
【0017】上記水分検出信号は、後記制御部4にて演
算処理され各部運転の信号出力がなされる。水分測定結
果とサンプル乾燥終了との関連につき、以下説明する。
図外荷受計量機による測定水分値(初期水分値)をM0
(%)、中間の測定水分値Mn(%)、仕上げ水分値M
e(%)、乾減率A(%)とする。荷受水分値M0と仕
上げ水分値Meより初回乾燥時間H1を算出する。即
ち、 H1=((M0−Me)/A)/2 である。この乾燥時間H1経過時点で中間の水分値M1
を測定できる。即ち、吸着ハンド28は、該当のサンプ
ル箱5を搬出し、水分測定サンプル投入位置ロまで移動
してこのサンプル箱5を反転し、全量をホッパ42aに
投入すると、その一部のサンプル穀物は水分計18に供
給され水分測定される。その平均水分値が上記M1であ
る。制御部4はこの中間水分値M1と仕上げ水分値Me
とより、次回乾燥時間(H2)を算出する。即ち、 H2=((M1−Me)/A)/2 である。
【0018】そしてH2時間が経過すると、再びサンプ
ル箱5は水分測定を受けるべく水分測定サンプル投入位
置ロに搬出移動され、同様の処理と演算が行われる。
(n+1)回目の測定にかかる水分値Mnとすると、
(n+1)回目の乾燥時間は、 H(n+1)=((Mn−Me)/A)/2 と表される。この次回乾燥時間H(n+1)の算出に基づ
き、サンプル箱5は所定格納空間7に戻されて乾燥を継
続するが、この乾燥の経過と共に、上記中間測定水分値
Mnが、仕上げ水分値Me+αの範囲以内になると、つ
まり、最終水分測定範囲α(例えばα=1%)となっ
て、最終の仕上げ水分値に近づくと、乾燥のみ行い時間
経過しても水分測定は行わず、この経過時間に達する
と、該当のサンプル箱5は乾燥終了後のサンプル排出位
置ニに搬出移送されて自主検定装置2入り口で待機す
る。
【0019】上記乾減率Aについて、予め設定された値
でもよく、実測による算出値でもよいが、安定して乾燥
できる場合には設定値支障ないものである。自主検定装
置2の構成について説明する。籾の自主検定装置は、籾
を脱ぷ処理して後、整粒玄米と屑米とに篩い選別し、そ
れらの比率を算出して荷受け籾の歩留まりを求め、籾持
込み農家個々の金額換算の根拠とするものである。自主
検定装置2の入り口ホッパ50に前記シュート19の排
出口をのぞませ、サンプル乾燥完了後の籾を受入れ可能
に構成している。該入り口ホッパ50は下方の計量ホッ
パ51に連通しており、該計量ホッパ51内投入待機状
態で計量器52による計量が実行できる構成である。な
お入り口ホッパ50には所定容積を越える過剰部分が案
内シュート53を経由してスロワ54に直接供給され
る。
【0020】一方計量ホッパ51内籾はゲートが開くと
スロワ55を経由して機枠上部に設けられ、一対の脱ぷ
ロール56,56を有する脱ぷ部57に供給される構成
である。58は排塵ファン,59は排塵筒である。脱ぷ
部57の下方には単一の回転選別筒60を設ける。該選
別筒60には脱ぷ済の玄米が供給され、篩孔から漏下す
る屑米と選別筒内に残る整玄米とに選別する構成であ
る。これら選別分離された屑米と整玄米とは順序を前後
して上記計量ホッパ51に供給される構成であり、各別
に計量されるものである。
【0021】上記の計量された屑米,整玄米は前記過剰
籾を受け入れるスロワ54に供給される。上記スロワ5
4の排出口は、サイクロン61を経由してサンプルパッ
ク機3に供給され、先にスロワ54に供給された籾・屑
米・整玄米の順に袋詰めされる。即ち、サンプルパック
機3は左右のロールから帯状フィルムが順次繰り出され
るよう構成され、縦・横溶着機構の作動により袋状に成
形されたフィルムに、先ず籾サンプルが供給され、自主
検定作業の終了と共に屑米・整玄米の順で包装処理され
る。整玄米サンプルには、荷受けデータや計量検査デー
タが印字された伝票が同封される。62は伝票出力印字
機である。
【0022】前記サンプル乾燥機1,自主検定装置2,
サンプルパック機3の各運転制御及び各装置間の関連制
御は制御部4が司る。例えば制御部4には、荷受日,穀
物持込み者氏名,品種等の荷受データ入力部を備え、該
入力データは、荷受計量機からサンプル籾を乾燥するサ
ンプル乾燥機におけるサンプル箱5の状況、自主検定装
置2による検定結果等を一元的に管理する指標となって
いる。
【0023】上記制御部4は、前記水分計18データの
入力と関連制御出力のほか、サンプル乾燥機1の搬入出
ロボット20の作動、乾燥風循環部10のヒータ36の
オンオフ制御、自主検定装置2の運転制御と各種計量信
号の入出力処理、サンプルパック機3のシール機構の制
御や伝票印字出力、封入出力など一連の動作を司ってい
る。
【0024】上例の作用について説明する。サンプル乾
燥機1の搬入出ロボット20は、空のサンプル箱5を吸
着ハンド28で吸着保持して、荷受サンプル投入位置イ
に挿入して待機する。荷受計量機からのサンプル穀物と
しての籾が搬送されてきて、その排出口からサンプル箱
5内に投入される。搬入出ロボット20は予め設定され
た空きの格納空間7に向け、縦横に移動し、サンプル箱
5はその正面に達する。続いてモータ27'の正転に伴
い移動枠26毎前方に移動して、サンプル箱5を格納空
間7に挿入するものである。ここで吸着ハンド28の通
電を解くと、サンプル箱5は格納空間7に挿入維持され
ることとなる。移動枠26は退避動して次のサンプル箱
搬入出に携わる。サンプル箱5が格納空間7に挿入保持
されると、対応する導入ファン40を作動し、乾燥風循
環部10の循環経路10aから乾燥風の一部を導入しつ
つサンプル籾に作用させて乾燥させる。以下の数値を元
に乾燥終了時間の管理手順を説明する。仮に、 荷受水分値:M0=25(%) 中間測定水分値:Mn=Mn(%) 仕上げ水分値:Me=15(%) 乾減率:1(%) 初回乾燥時間:H1 次回乾燥時間:H(n+1) 最終水分測定範囲:α=1(%) とする。先ず、初回乾燥時間H1は、 H1=((25−15)/1)/2=5(時間) この初回乾燥時間経過後の水分測定による中間水分値が
16(%)とすると、Mn=16(%)であるから、 H2=((16−15)/1)/2=0.5(時間) となり、H2≦Me+αであるから、このH2なる乾燥
時間経過後、乾燥終了信号が出力され、導入ファン40
をオフする。もって乾燥風の供給は停止される。
【0025】図12に示す他例について説明すると、設
定乾減率1%における理論連続乾燥データ(図中二点鎖
線)では、荷受水分値25%から仕上水分値15%まで
乾燥するに際して、初回乾燥時間5時間では測定水分値
が20%となり、順次7.5時間後に第2回測定水分値
が17.5%、8.75時間後に第3回測定水分値が1
6.3%…となり、10時間で乾燥終了する。この理論
直線に対し、実測乾燥データには(図中実線)、熱風温
度のばらつき、サンプル箱内籾サンプルの密度の相違等
によって、必ずしも設定乾減率1%は確保できず、図例
のように初回乾燥時間5時間で水分測定値がいきなり1
7.5%となり、実質乾減率1.5%となっている。順
次第2回乾燥時間6.25時間経過後測定水分値16.
5%、第3回乾燥時間7時間経過後測定水分値15.9
%となり、この水分値15.9%は最終水分測定範囲α
(=1%)以下となって、最終乾燥時間0.9時間が経
過すると乾燥終了となる。
【0026】このように、理論連続乾燥データ通りには
乾燥経過しないけれども、初回乾燥時間、第2回乾燥時
間…を順次実測水分値から算出できて、所定の範囲に収
まるとタイマ管理に切り替えて乾燥仕上げとなるもので
ある。従って、過乾燥となる恐れが少なく、然も最終仕
上時の管理はタイマのみのよるから作業効率を低下させ
ないものである。
【0027】上記の要領で乾燥終了の水分を管理する構
成であるから、測定水分と乾減率とから乾燥時間を算出
しながら乾燥を継続することができ、定期的なサンプル
穀物の水分検出を行う必要がなく、複数のサンプルに対
して単一の水分計を設ければ足り、コストダウンに寄与
しうる。なお、最終水分測定範囲を定めて最後は水分測
定を省略する構成であるため、乾燥終了の判定を迅速に
行うことができる。
【0028】上記実施例では乾減率Aは固定の定数をも
って算出するものとしたが、水分測定の都度実際の乾減
率値と比較し、該乾減率Aの正否を確認しながら適宜に
補正処理して用いてもよい。この場合には、精度の向上
がはかれる。乾燥終了したサンプル箱5のサンプル籾
は、サンプル排出位置ニにおいて、吸着ハンド28先端
の電磁石体28aの反転により、シュート19に移され
る。この乾燥済サンプル籾は、自主検定装置2の入り口
ホッパ50に至り、所定容積の籾が確保され、自主検定
工程処理を受ける。余りの籾はそのままサンプルパック
機3に投入されて袋詰めされ、残りの検定サンプルの投
入を待つ。
【0029】さて、自主検定装置2に入った籾は、先ず
計量ホッパ51に入り、計量器52で計量される。その
計量データは制御部4の所定記憶手段に記憶される。計
量後直ちにスロワ55を経由して脱ぷ部57に供給され
る。一対の脱ぷロール56,56で脱ぷされた後、玄米
は回転選別筒60に入って選別処理を受ける。予め設定
された所定時間回転選別作用を受け、篩孔から漏下する
屑米が先に計量ホッパ51に供給されて計量され、次い
で整玄米が計量ホッパ51に排出されて計量される。こ
れらの計量データも籾計量データと同様に出力され記憶
される。なお、制御部4では、整玄米の歩留まりが計算
される。
【0030】計量ホッパ51での計量が完了すると直ち
にスロワ55でサンプルパック機3に投入され屑米と整
玄米とが別々に袋詰めされる。整玄米サンプルが投入さ
れる際には前記荷受データや上記計量データ,算出歩留
まり等が印字された伝票が挿入され、一緒に封入され
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】装置概要正面図である。
【図2】その平面図である。
【図3】サンプル搬入出ロボットの側面図である。
【図4】サンプル搬入出ロボットの側面図である。
【図5】サンプル乾燥機の側断面図である。
【図6】縦連結枠の支持構成を示す断面図である。
【図7】サンプル乾燥機の平面図である。
【図8】水分測定部の正面図出有る。
【図9】自主検定装置の正断面図である。
【図10】自主検定装置の側断面図である。
【図11】自主検定装置の側断面図である。
【図12】乾燥時間−水分値関係グラフである。
【符号の説明】
1…サンプル乾燥機、2…自主検定装置、3…サンプル
パック機、4…制御部、5…サンプル箱、5a…上面、
5b…底部、5c…正面板、5d…サンプル仕切り、5
e,5e…反転用孔、6…サンプル投入排出部、7…格
納空間、7a…通気開口、7b…(個別)導入経路、7
c…排風口、8…サンプル箱格納部、9…サンプル搬入
出部、10…乾燥風循環部、10a…乾燥風循環経路、
11,12,13,14…サンプル箱挿入口、15…案
内ダクト、16…サイクロン、17…案内シュート、1
8…水分計、19…シュート、20…搬入出ロボット、
21…ベース部材、22,23…横レール、24…縦連
結枠、25…移動枠、26,26…レール、27…正逆
転モータ、28…吸着ハンド、28a…電磁石体、29
…搬入出体、29b,29b…突起部、30…正逆転モ
ータ、31…横移動モータ、32…縦移動モータ、33
…光学センサ、34,34…開閉扉、35,35…ダク
ト、36…ヒータ、37…吸引ファン(循環ファン)、
38…外気導入口、39…温度センサ、40,40…導
入ファン、41…排気ファン、42…流下路、42a…
ホッパ、42b…垂直路、42c…溜り部、43…一粒
繰出機構、43a,43b…送り螺旋、44…電極ロー
ル、45…シャッタ、50…入り口ホッパ、51…計量
ホッパ、52…計量器、53…案内シュート、54…ス
ロワ、55…スロワ、56,56…脱ぷロール、57…
脱ぷ部、58…排塵ファン、59…排塵筒、60…回転
選別筒、61…サイクロン、62…伝票出力印字機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉浦 直樹 香川県大川郡長尾町西877番地 讃光工業 株式会社内 Fターム(参考) 3L113 AA07 AB03 AC08 AC25 AC45 AC46 AC48 AC49 AC52 AC53 AC54 AC57 AC59 AC60 AC63 AC73 AC75 AC78 AC79 AC80 AC90 BA03 CA02 CA03 CA08 CB05 CB17 CB24 CB28 CB30 CB34 CB35 DA01 DA06 DA08 DA14 4D043 BB02 BB09 BB11 BB21

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のサンプル穀物を所定に乾燥するサ
    ンプル穀物乾燥装置において、乾燥初期水分M0測定手
    段と、サンプル乾燥における予測乾減率Aを記憶する手
    段と、これら初期水分M0と予測乾減率Aとから乾燥仕
    上げ前に水分測定するための経過時間H1を求め、この
    経過時に測定された中間水分値Mnと乾減率Aから仕上
    げ水分Meまでに要する仕上げ時間H(n+1)を求め、
    この時間H(n+1)について乾燥出力をなすと共に、測
    定水分値Mnが最終の仕上げ水分値Meに近づき予め設
    定した最終水分測定範囲α以内に達したときには、乾燥
    時間H(n+1)の経過後水分測定を行わず乾燥終了する
    構成としたサンプル穀物乾燥装置における水分値制御装
    置。
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