JP2000347051A - 光・電気配線基板及びその製造方法並びに実装基板 - Google Patents

光・電気配線基板及びその製造方法並びに実装基板

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JP2000347051A
JP2000347051A JP2000087195A JP2000087195A JP2000347051A JP 2000347051 A JP2000347051 A JP 2000347051A JP 2000087195 A JP2000087195 A JP 2000087195A JP 2000087195 A JP2000087195 A JP 2000087195A JP 2000347051 A JP2000347051 A JP 2000347051A
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core
electrical
wiring
electrical wiring
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Taketo Tsukamoto
健人 塚本
Koichi Kumai
晃一 熊井
Shigeru Hirayama
茂 平山
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Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】、高密度実装又は小型化が可能で、しかも、光
部品の実装が電気部品の実装とが同じ方法で行える光・
電気配線基板を提供する。 【解決手段】電気配線を有する基板9の電気配線10の
上に、光を伝搬させるコア1とそのコアを埋没させるク
ラッド2とを有する光配線層13を備える光・電気配線
基板であって、コアの一部に設けられたミラー3と、ミ
ラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするために設け
られたパッド5と、パッドと基板の電気配線とを電気接
続するビアホール12とを具備する。なお、製造時の位
置合わせにはアライメントマーク4を用いることが好ま
しい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光配線と電気配線
とが混在する光・電気配線基板及びその製造方法並びに
その基板に光素子等の光部品と電気素子等の電気部品と
を実装した実装基板に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体大規模集積回路(LSI)
等の電気素子ではトランジスターの集積度が高まり、そ
の動作速度はクロック周波数で1GHzに達するものが
出現するに至っている。
【0003】この高集積化された電気素子を電気配線基
板に実装するために、BGA(Ball Grid A
rray)やCSP(Chip Size Packa
ge)等のパッケージが開発され、実用化されている。
図11はBGAパッケージに電気素子を実装し電気配線
基板へ実装した構造の概略を示したものである。
【0004】ガラス布にエポキシ樹脂等を含浸した銅貼
基板をベースに、絶縁層、導体層を交互に積層したいわ
ゆるビルドアップ多層積層板152の片側表面に金等で
バンプ153が形成され、電気素子151の電極と電気
接続されている。また、反対表面には金等で表面処理さ
れたパッド157が形成され、半田ボール154を介し
て電気配線基板155上に半田接続されている。周辺の
電気素子(図示せず)とは電気配線156を介して、電
気信号のやりとりを行うようになっている。
【0005】電気素子内部のクロック周波数が高くなる
につれて、電気素子外部の素子間信号速度も高くなる要
求がある。しかし、素子間の電気配線に高速の信号が流
れると、電気配線の形状不良による反射等のノイズ、あ
るいは、クロストークの影響が避けられなくなる。ま
た、電気配線から電磁波が発生して周囲に悪影響を与え
るという問題も発生する。このため、現状では、電気素
子間の信号速度をわざわざ落とし、これらの問題が起こ
らない程度にシステムが構築されている。これでは、高
集積された電気素子の機能が充分生かされていないこと
になる。
【0006】このような問題を解決するために、電気配
線基板上の銅による電気配線の一部を光ファイバーによ
る光配線に置き換え、電気信号の代わりに光信号を利用
することが考えられている。なぜなら、光信号の場合
は、ノイズ及び電磁波の発生を抑えられるからである。
【0007】電気信号を光信号に置き換えた系では、電
気信号は電気素子からBGAパッケージの電気配線を通
り、さらに、基板上の電気配線を経て、同基板上に設置
された光素子で光信号に変換され、同基板上の光ファイ
バに伝わる。すなわち、図12のように、BGAパッケ
ージ162の周辺部にレーザ等の発光素子やフォトダイ
オード等の受光素子である光素子166を配置させた形
態をとる。場合によっては、BGAパッケージと光素子
の間にドライバーICが存在する。
【0008】電気配線基板上の銅配線の一部を光ファイ
バによる光配線に置き換えた光・電気配線基板として、
一般的には、“山口ら「ファイバーボードを用いた光バ
ス高密度化の一検討」電子情報通信学会エレクトロニク
スソサイエティ大会、C−3−49、1997年”で記
載のように、電気配線部の周辺部に光ファイバーを配置
させたり、あるいは、電気配線基板の上部空間にフリー
な状態で光ファイバーを配置させている場合が多い。し
かし、これらの形態ではファイバー設置部分に無駄が多
く電子機器の小型化を困難にしている。
【0009】この問題を解決するため、特開平3−29
905号公報や特開平5−281429号公報にて述べ
られているように、電気配線基板上に光ファイバを絶縁
膜で固定した基板(光・電気配線基板)が提案されてい
る。
【0010】このような光・電気配線基板は、レーザダ
イオードやフォトダイオード等の光素子166の光軸と
光配線である光ファイバー167の光軸とを光学的に一
致させることが難しく、一般に熟練労働者に頼らなけれ
ば一致させられなかった。従って、リフロー炉などで自
動的にハンダ付けできるBGAパッケージ等の電気部品
と比較して、光素子を光・電気配線基板に実装すること
は、非常に高価なものになるという欠点があった。
【0011】さらに、光配線として光ファイバを用いる
場合、その屈曲性の限界から、複雑な形状の光配線には
対応しきれず、設計の自由度が低くなってしまい、高密
度配線あるいは基板の小型化に対応できないという問題
があった。
【0012】このため、電気配線基板の上に、光配線と
して、光導波路を用いた光・電気配線基板の構成がいく
つか提案されている。たとえば、特開平4−14668
4号公報や特開平6−258544号公報に述べられて
いる。光導波路の構成は光信号が伝搬するコアが、光信
号をコアに閉じこめるクラッド層に埋設されている。コ
アパターンの形成方法は、フォトリソグラフィ技術によ
り、メタルマスクを形成し、ドライエッチングで作製す
るか、コア材料に感光性が付与されている場合は露光、
現像処理にて作製できる。このため、フォトマスクのパ
ターンを基に光配線を形成できるため、その設計の自由
度は高くなる。また、比較的短距離の伝送にも対応が可
能となる。
【0013】しかしながら、光配線として光導波路を用
いた光・電気配線基板においても、光ファイバーを用い
た場合と同様に光軸合わせは非常に困難となる。先にあ
げた特開平4−146684号公報や特開平6−258
544号公報では、レーザーダイオードやフォトダイオ
ード等の光素子と光導波路との光軸合わせの構造につい
ては明記されていない。
【0014】また、特開平6−69490号公報では、
同様に光配線として光導波路を用いた光・電気配線基板
について述べられているが、光素子と光導波路の接続は
光ファイバーを用いているため、同様に光軸合わせが非
常に困難となる。
【0015】一方、電気配線基板上に光導波路を形成す
る方法として、特開平9−236731号公報では、セ
ラミック多層配線基板上に、直に、ビルドアップして形
成する方法、すなわち、セラミック多層配線基板上にク
ラッド層を形成し、コアパターンを形成し、さらに、そ
の上からクラッド層で覆う方法が提案されている。
【0016】しかしながら、光配線層の下地としての電
気配線基板表面は、電気配線が多層化されていること
で、非常に大きな凹凸が形成されている。このため、そ
の表面直に光導波路を形成すると、その凹凸のために光
信号の伝搬損失が大きくなるという問題点が発生する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】本発明は係る従来技術
の欠点に鑑みてなされたもので、高密度実装又は小型化
が可能で、しかも、光部品の実装が電気部品の実装とが
同じ方法で行える光・電気配線基板を提供することを課
題とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明において上記の課
題を達成するために、まず請求項1の発明では、電気配
線を有する基板の電気配線の上に、光を伝搬させるコア
とそのコアを埋没させるクラッドとを有する光配線層を
備える光・電気配線基板であって、コアの一部に設けら
れたミラーと、ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付
けするために設けられたパッドと、パッドと基板の電気
配線とを電気接続するビアホールと、を具備することを
特徴とする光・電気配線基板としたものである。
【0019】また請求項2の発明では、電気配線を有す
る基板の電気配線の上に、光を伝搬させるコアとそのコ
アを埋没させるクラッドとを有する光配線層を備える光
・電気配線基板であって、コアの一部に設けられたミラ
ーと、ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするた
めに設けられた光部品用のパッドと、電気部品をハンダ
付けするために光配線層上に設けられた電気部品用のパ
ッドと、光部品又は電気部品用のパッドと基板の電気配
線とを電気接続するビアホールと、を具備することを特
徴とする光・電気配線基板としたものである。
【0020】また請求項3の発明では、電気配線を有す
る基板の電気配線の上に、光を伝搬させるコアとそのコ
アを埋没させるクラッドとを有する光配線層を備える光
・電気配線基板であって、コアの一部に設けられたミラ
ーと、ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするた
めに設けられた光部品用のパッドと、電気部品をハンダ
付けするために光配線層上に設けられた電気部品用のパ
ッドと、光部品又は電気部品用のパッドと基板の電気配
線とを電気接続するビアホールと、光配線層上に設けら
れた電気配線と、を具備することを特徴とする光・電気
配線基板としたものである。
【0021】また請求項4の発明では、光配線層表面に
クラッドの屈折率と等しい樹脂層が形成され、該光部品
及び電気部品をハンダ付けするために設けられたパッド
上に孔が形成され、該パッド表面が露出していることを
特徴とする請求項1〜3記載の光・電気配線基板とした
ものである。
【0022】また請求項5の発明では、位置決めをする
アライメントマークと光を伝搬させるコアとそれらアラ
イメントマーク及びコアを埋没させるクラッドとを有す
る光配線層を支持体の上に作る工程と、アライメントマ
ークを基準にしてコアの一部にミラーを設けて光配線層
を、電気配線を有する基板に接着する工程と、基板上の
電気配線とビアホールで電気接続しているパッドを、ア
ライメントマークを基準にして光配線層上に作る工程と
を含む光・電気配線基板の製造方法であって、コアとア
ライメントマークとを同時に形成することを特徴とする
光・電気配線基板の製造方法としたものである。
【0023】また請求項6の発明では、位置決めをする
アライメントマークと光を伝搬させるコアとそれらアラ
イメントマーク及びコアを埋没させるクラッドとを有す
る光配線層を支持体の上に作る工程と、アライメントマ
ークを基準にしてコアの一部にミラーを設けて光配線層
を、電気配線を有する基板に接着する工程と、基板上の
電気配線とビアホールで電気接続しているパッドを、ア
ライメントマークを基準にして光配線層上に作る工程
と、光配線層表面にクラッドの屈折率と等しい樹脂層を
形成し、アライメントマーク基準にして孔を形成する工
程を含む光・電気配線基板の製造方法であって、コアと
アライメントマークとを同時に形成することを特徴とす
る光・電気配線基板の製造方法としたものである。
【0024】また請求項7の発明では、請求項1〜4の
何れか1項記載の光・電気配線基板に光部品又は/及び
電気部品を実装したことを特徴とする実装基板としたも
のである。
【0025】
【発明の実施の形態】1.光・電気配線基板 本発明の光・電気配線基板において、光部品(光素子)
を実装する部分の上面図を図1及び図2に示す。また、
コア1に沿って切断された断面図を図3及び図4に示
す。光配線層13は、光信号が伝搬するコア1と光信号
をコアに閉じこめるクラッド2からなる。コアを形成す
る材料の屈折率をクラッドのそれに比べ高くすることに
より、光信号はコア内を伝搬する。
【0026】光配線層13は接着剤11を介し、電気配
線10を有する基板9と固定されている。また、光配線
層13の表面には光部品と電気的接続をとるためのパッ
ド5、ランド6及びパッド5とランド6を接続するため
の電気配線7が設置され、ランド6と基板9上の電気配
線10とはビアホール12を介して電気接続される。図
示はしていないが、電気部品と基板上の電気配線との電
気接続も同様に行われる。
【0027】基板9は単層の絶縁基板でも、多層電気配
線基板でも良い。また、基板材料も、ポリイミドフィル
ムやガラス布にエポキシ樹脂等を含浸させた基板等を用
いることができる。あるいは、セラミック基板でも良
い。
【0028】また、光配線層13のコア1には45°の
ミラー3が設置されている。ミラー3を介して、光導波
路とレーザーダイオードやフォトダイオード等の光部品
の間で光信号は伝搬される。ミラー面界面はコアより屈
折率の低い樹脂を接触させるか、空気と接触させても良
い。また、金属薄膜を形成しても良い。
【0029】図1では、コア1に設けられたミラー3直
上の周辺部に光部品と電気接続するためのパッド5が配
置されている。パッドの数は4つに限定される必要はな
く、任意の数であっても良い。さらには、形状も円形に
限定される必要はなく、任意の形状であって良く。光部
品との接続のためのはんだボールや金属リード等に合わ
せた形状を選ぶことができる。
【0030】また、図1には、パッド5の位置を決める
ためのアライメントマーク4、並びに、ミラー3の位置
を決めるためのアライメントマーク8が形成されてい
る。これら、アライメントマークはコア1と同時に形成
される。一方、図2では、アライメントマーク8が形成
されていない例を示す。
【0031】図3(a)及び(b)では、光配線層13
の表面にパッド5、ランド6及び電気配線7が露出して
いる断面図を示す。ミラー3は図3(a)や(b)のよ
うな構造に形成できる。
【0032】図4(a)及び(b)では、光配線層13
の表面のランド6と電気配線7は、クラッド2と同じ屈
折率の樹脂層14で被覆され、光部品と電気接続するた
めのパッド5部分のみ、露出している。また、図示はし
ていないが、電気部品と電気接続するためのパッドも同
様に露出する必要がある。
【0033】2.光・電気配線基板の製造方法 本発明の光・電気配線基板の製造方法は、基本的には、
次の通りである。まず、電気配線を有する基板とは別
に、支持体の上で光配線層を作る。このとき、コアとア
ライメントマークをフォトリソグラフィー技術によって
同時に作る。次に、アライメントマークを基準として、
コアの一部にミラーを設けて光配線層を基板に接着す
る。さらに、ビアホールによって基板上の電気配線と電
気接続しているパッドを、アライメントマークを基準と
して、光配線層上に作る。
【0034】本製造方法では、光配線を凹凸のある電気
配線を有する絶縁基板上に直に、積み上げて作製するの
ではなく、あらかじめ別の支持体に作製し、電気配線基
板に貼り付けている。これにより、下地の電気配線基板
の凹凸を緩和し、凹凸による光信号の損失をある程度、
低減することができる。
【0035】以下、2つの実施の形態を説明する。
【0036】<光・電気配線基板の製造方法の第1の実
施の形態>光・電気配線基板の製造方法の第1の実施の
形態として、図3(a)に示す光・電気配線基板を、図
5の(a)〜(o)の流れに従って説明する。
【0037】図5の(a)のように、第1の支持体21
であるシリコンウエハの上に、剥離層22として、C
r、Cuの薄膜層をスパッタし、その後、硫酸銅めっき
浴中にてCu層を約10μm 形成した。
【0038】図5の(b)のように、剥離層22の上
に、第1のクラッド23としてポリイミドOPI−N1
005(日立化成工業(株)製)をスピンコートし、3
50℃にてイミド化させた。この時の膜厚は20μm で
あった。
【0039】図5の(c)のように、第1のクラッド2
3の上にコア24としてポリイミドOPI−N1305
(日立化成(株)製)を同様にスピンコートし、350
℃でイミド化させた。この時の膜厚は8μm であった。
この光配線層に用いられるコア並びにクラッド材料はポ
リイミド樹脂に限らず、フッ素化あるいは重水素化した
エポキシ樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等の高分子材
料の中で、光信号に用いられる光の波長により損失の少
ない材料を選ぶことができる。
【0040】さらに、コア層表面にAlを蒸着し、フォ
トレジストの所定のパターンを形成し、エッチング処理
を行い、Alのメタルマスク25及び26を形成した。
メタルマスク25は光配線となるコアパターンを、メタ
ルマスク26はアライメントマークパターンを示す。
【0041】図5の(d)のように、酸素ガスを用い、
反応性イオンエッチングにてコア24をエッチングし
た。さらに、メタルマスクであるAl膜をエッチング除
去してコア(光配線)パターン27及びアライメントマ
ークパターン28を同時に形成した。このときのコアパ
ターンの線幅は8μmであり、断面形状は高さ8μm、
幅8μmの正方形となった。断面の寸法は、これに限ら
ず、伝送モード、コアとクラッドの屈折率差によって5
μmから100μmで選ぶことができる。
【0042】図5の(e)のように、第2のクラッド2
9としてOPI−1005を同様にコートしてイミド化
させる。この時のクラッド厚は、コア光配線層上で20
μmであった。
【0043】図5の(f)のように、第2クラッド29
の表面に、Cr、Cuの金属薄膜層をスパッタし、加え
て、硫酸銅めっき浴中にてCu層を約10μm 形成し
た。さらに、フォトリソグラフィー技術によりフォトレ
ジストのパターンを形成し、エッチング液にてエッチン
グすることにより、パッド30、電気配線およびランド
を形成した。ランドには、後ほどレーザにてビアホール
形成用の孔部を形成するための開口部31をあらかじめ
設けておいた。図示はしていないが、同時に、電気部品
接続のためのパッド、電気配線及びランドも形成した。
【0044】図5の(g)のように、銅で形成したパッ
ド30、電気配線及びランドを剥離液から保護するため
に、保護膜としてフォトレジスト32をコーティングし
た。
【0045】図5の(h)のように、剥離液として塩化
第2鉄液を用いて剥離層22中のCu層を溶解し、光配
線層を剥離して光配線フィルムを作製した。
【0046】図5の(i)のように、光配線層上のパッ
ド、電気配線及びランドが形成されている側を、第2の
支持体33に接着剤で接着させる。第2の支持体33は
光配層が接着されていない側からアライメントマーク2
8が見えるように透明なものを利用する。また、接着剤
は、剥離しやすいものを用いるか、あるいは、紫外線で
硬化することにより接着力が低下するものを用いる。
【0047】図5の(j)のように、コアパターン27
を形成する際に同時に形成していたアライメントマーク
(図示せず)を基準に、コアパターン27の一部に機械
加工で基板と45°の角度にミラー34を形成した。
【0048】図5の(k)のように、電気配線36を有
する基板35上に、接着剤として熱可塑性を示す変成ポ
リイミド樹脂37を20μm コーティング、乾燥させ、
光配線層のミラー加工した面を貼り合わせ加熱接着し
た。
【0049】図5の(l)のように、紫外線を照射する
ことにより第2の支持体33を剥離した。
【0050】図5の(m)のように、光配線層上に、保
護膜として、めっきレジスト38をコーティングした。
【0051】図5の(n)のように、ビアホールを形成
する位置として、ランドの開口部31に、レーザにてビ
アホール用の孔39を形成した。レーザとしては、エキ
シマレーザ、炭酸ガスレーザ、YAGレーザなどが適し
ている。
【0052】図5の(o)のように、光配線層表面に並
びにレーザ加工を施した孔内部に、スパッタにてCr、
Cuの金属薄膜を形成し、この金属薄膜を電極として、
硫酸銅浴中でビアホール内部並びにランド部に銅めっき
を行った。さらに、保護膜であるめっきレジスト38を
除去し、ビアホール40及びランド41を形成して、本
発明の第1の実施形態の光・電気配線基板を得た。
【0053】<光・電気配線基板の製造方法の第2の実
施の形態>光・電気配線基板の製造方法の第2の実施の
形態として、図3(a)に示す光・電気配線基板を、図
6の(a)〜(m)の流れに従って説明する。
【0054】図6の(a)のように、支持体51である
シリコンウエハの上に、剥離層52として、Cr、Cu
の薄膜層をスパッタし、その後、硫酸銅めっき浴中にて
Cu層を約10μm 形成した。
【0055】図6の(b)のように、剥離層52の上
に、第1のクラッド53としてポリイミドOPI−N1
005(日立化成工業(株)製)をスピンコートし、3
50℃にてイミド化させた。この時の膜厚は20μm で
あった。
【0056】図6の(c)のように、第1のクラッド5
3の上にコア54としてポリイミドOPI−N1305
(日立化成(株)製)を同様にスピンコートし、350
℃でイミド化させた。この時の膜厚は8μm であった。
この光配線層に用いられるコア並びにクラッド材料はポ
リイミド樹脂に限らず、フッ素化あるいは重水素化した
エポキシ樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等の高分子材
料の中で、光信号に用いられる光の波長により損失の少
ない材料を選ぶことができる。
【0057】さらに、コア層表面にAlを蒸着し、フォ
トレジストの所定のパターンを形成し、エッチング処理
を行い、Alのメタルマスク55及び56を形成した。
メタルマスク55は光配線となるコアパターンを、メタ
ルマスク56はアライメントマークパターンを示す。
【0058】図6の(d)のように、酸素ガスを用い、
反応性イオンエッチングにてコア54をエッチングし
た。さらに、メタルマスクであるAl膜をエッチング除
去してコア(光配線)パターン57及びアライメントマ
ークパターン58を同時に形成した。このときのコアパ
ターンの線幅は8μmであり、断面形状は高さ8μm、
幅8μmの正方形となった。断面の寸法は、これに限ら
ず、伝送モード、コアとクラッドの屈折率差によって5
μmから100μmで選ぶことができる。
【0059】図6の(e)のように、第2のクラッド5
9としてOPI−1005を同様にコートしてイミド化
させる。この時のクラッド厚は、コア光配線層上で20
μmであった。
【0060】図6の(f)のように、コアパターン57
を形成する際に同時に形成していたアライメントマーク
(図示せず)を基準に、コアパターン57の一部に機械
加工で基板と45°の角度にミラー60を形成した。
【0061】図6の(g)のように、剥離液として塩化
第2鉄液を用いて剥離層中のCu層を溶解し、光配線層
を剥離して光配線フィルムを作製した。
【0062】図6の(h)のように、電気配線62を有
する基板61上に、接着剤として熱可塑性を示す変成ポ
リイミド樹脂63を20μm コーティング、乾燥させ、
光配線層のミラー加工した面を貼り合わせ加熱接着し
た。
【0063】図6の(i)のように、ビアホールを形成
する位置に、レーザにてビアホール用の孔64を形成し
た。レーザとしては、エキシマレーザ、炭酸ガスレー
ザ、YAGレーザなどが適している。
【0064】図6の(j)のように、光配線層表面に並
びにレーザ加工を施した孔内部に、スパッタにてCr、
Cuの金属薄膜65を形成した。
【0065】図6の(k)のように、パッド部、ランド
部及び電気配線部以外の光配線層表面にめっきレジスト
のパターン66を形成した。
【0066】図6の(l)のように、金属薄膜65を電
極として、硫酸銅浴中でビアホール内部、パッド部、ラ
ンド部及び電気配線部に銅めっきを行った。
【0067】図6の(m)のように、めっきレジスト6
6を剥離し、さらに、金属薄膜65をソフトエッチング
にて除去して、ビアホール67、パッド、ランド68及
び電気配線を形成して、本発明の第2の実施形態の光・
電気配線基板を得た。
【0068】<光・電気配線基板の製造方法の第3の実
施の形態>光・電気配線基板の製造方法の第3の実施の
形態として、図3(b)に示す光・電気配線基板を、図
7の(a)〜(p)の流れに従って説明する。
【0069】図7の(a)のように、第1の支持体71
であるシリコンウエハの上に、剥離層72として、C
r、Cuの薄膜層をスパッタし、その後、硫酸銅めっき
浴中にてCu層を約10μm 形成した。
【0070】図7の(b)のように、剥離層72の上
に、第1のクラッド73としてポリイミドOPI−N1
005(日立化成工業(株)製)をスピンコートし、3
50℃にてイミド化させた。この時の膜厚は20μm で
あった。
【0071】図7の(c)のように、第1のクラッド7
3の上にコア74としてポリイミドOPI−N1305
(日立化成(株)製)を同様にスピンコートし、350
℃でイミド化させた。この時の膜厚は8μm であった。
この光配線層に用いられるコア並びにクラッド材料はポ
リイミド樹脂に限らず、フッ素化あるいは重水素化した
エポキシ樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等の高分子材
料の中で、光信号に用いられる光の波長により損失の少
ない材料を選ぶことができる。
【0072】さらに、コア層表面にAlを蒸着し、フォ
トレジストの所定のパターンを形成し、エッチング処理
を行い、Alのメタルマスク75及び76を形成した。
メタルマスク75は光配線となるコアパターンを、メタ
ルマスク76はアライメントマークパターンを示す。
【0073】図7の(d)のように、酸素ガスを用い、
反応性イオンエッチングにてコア74をエッチングし
た。さらに、メタルマスクであるAl膜をエッチング除
去してコア(光配線)パターン77及びアライメントマ
ークパターン78を同時に形成した。このときのコアパ
ターンの線幅は8μmであり、断面形状は高さ8μm、
幅8μmの正方形となった。断面の寸法は、これに限ら
ず、伝送モード、コアとクラッドの屈折率差によって5
μmから100μmで選ぶことができる。
【0074】図7の(e)のように、第2のクラッド7
9としてOPI−1005を同様にコートしてイミド化
させる。この時のクラッド厚は、コア光配線層上で20
μmであった。
【0075】図7の(f)のように、第2クラッド79
の表面に、Cr、Cuの薄膜層をスパッタし、加えて、
硫酸銅めっき浴中にてCu層を約10μm 形成した。さ
らに、フォトリソグラフィー技術によりフォトレジスト
のパターンを形成し、エッチング液にてエッチングする
ことにより、パッド80、電気配線およびランドを形成
した。ランドには、後ほどレーザにてビアホール形成用
の孔部を形成するための開口部81をあらかじめ設けて
おいた。図示はしていないが、同時に、電気部品接続の
ためのパッド、電気配線及びランドも形成した。
【0076】図7の(g)のように、銅で形成したパッ
ド80、電気配線及びランドを剥離液から保護するため
に、保護膜としてフォトレジスト82をコーティングし
た。
【0077】図7の(h)のように、剥離液として塩化
第2鉄液を用いて剥離層中のCu層を溶解し、光配線層
を剥離して光配線フィルムを作製した。
【0078】図7の(i)のように、光配線層上のパッ
ド、電気配線及びランドが形成されている側を、第2の
支持体83に接着剤で接着させる。第2の支持体83は
光配層が接着されていない側からアライメントマーク7
8が見えるように透明なものを利用する。また、接着剤
は、剥離しやすいものを用いるか、あるいは、紫外線で
硬化することにより接着力が低下するものを用いる。
【0079】さらに、光配線層の接着面とは反対の面上
に、Cr、Cuの薄膜層をスパッタし、加えて、硫酸銅
めっき浴中にてCu層を約10μm 形成した。さらに、
フォトリソグラフィー技術によりフォトレジストのパタ
ーンを形成し、エッチング液にてエッチングすることに
より、ミラー形成のためのレーザー用マスク84を形成
した。レーザー用マスクには開口部85が形成されてお
り、レーザー光を照射することにより開口部のみ加工が
可能となる。本レーザー用マスクの位置も、反対面のパ
ッド同様、アライメントマーク78で規定される。
【0080】図7の(j)のように、レーザーマスク部
に、基板面に対して45°の角度からレーザーを照射す
ることにより、基板と45°の角度にミラー34を形成
した。レーザーとしては、エキシマレーザー、炭酸ガス
レーザー、YAGレーザーなどが適している。
【0081】図7の(k)のように、レーザーマスク8
4をエッチング液にて除去した。
【0082】図7の(l)のように、電気配線88を有
する基板87上に、接着剤として熱可塑性を示す変成ポ
リイミド樹脂89を20μm コーティング、乾燥させ、
光配線層のミラー加工した面を貼り合わせ加熱接着し
た。
【0083】図7の(m)のように、紫外線を照射する
ことにより第2の支持体83を剥離した。
【0084】図7の(n)のように、光配線層上に、保
護膜として、めっきレジスト90をコーティングした。
【0085】図7の(o)のように、ビアホールを形成
する位置として、ランドの開口部81に、レーザーにて
ビアホール用の孔91を形成した。レーザーとしては、
エキシマレーザー、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー
などが適している。
【0086】図7の(p)のように、光配線層表面に並
びにレーザー加工を施した孔内部に、スパッタにてC
r、Cuの金属薄膜を形成し、この金属薄膜を電極とし
て、硫酸銅浴中でビアホール内部並びにランド部に銅め
っきを行った。さらに、保護膜としてのめっきレジスト
90を除去し、ビアホール92及びランド93を形成し
て、本発明の第3の実施形態の光・電気配線基板を得
た。
【0087】また、詳細には説明しないが、本発明の第
3の実施形態において、図7の(f)で、パッド、ラン
ド及び電気配線を形成する際に同時に、ミラー形成のた
めのレーザー用マスクを形成し、基板と45°の角度で
レーザー加工を行いミラーを形成することもできる。こ
れにより、工程が簡略化できるだけでなく、パッドとミ
ラーの位置が1枚のフォトマスクにて精度良く決まる。
【0088】<光・電気配線基板の製造方法の第4の実
施の形態>光・電気配線基板の製造方法の第4の実施の
形態として、図4(a)に示す光・電気配線基板を、図
8の(a)〜(q)の流れに従って説明する。
【0089】図8の(a)のように、支持体101であ
るシリコンウエハの上に、剥離層102として、Cr、
Cuの薄膜層をスパッタし、その後、硫酸銅めっき浴中
にてCu層を約10μm 形成した。
【0090】図8の(b)のように、剥離層102の上
に、第1のクラッド103としてポリイミドOPI−N
1005(日立化成工業(株)製)をスピンコートし、
350℃にてイミド化させた。この時の膜厚は20μm
であった。
【0091】図8の(c)のように、第1のクラッド1
03の上にコア104としてポリイミドOPI−N13
05(日立化成(株)製)を同様にスピンコートし、3
50℃でイミド化させた。この時の膜厚は8μm であっ
た。この光配線層に用いられるコア並びにクラッド材料
はポリイミド樹脂に限らず、フッ素化あるいは重水素化
したエポキシ樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等の高分
子材料の中で、光信号に用いられる光の波長により損失
の少ない材料を選ぶことができる。
【0092】さらに、コア層表面にAlを蒸着し、フォ
トレジストの所定のパターンを形成し、エッチング処理
を行い、Alのメタルマスク105及び106を形成し
た。メタルマスク105は光配線となるコアパターン
を、メタルマスク106はアライメントマークパターン
を示す。
【0093】図8の(d)のように、酸素ガスを用い、
反応性イオンエッチングにてコア104をエッチングし
た。さらに、メタルマスクであるAl膜をエッチング除
去してコア(光配線)パターン107及びアライメント
マークパターン108を同時に形成した。このときのコ
アパターンの線幅は8μmであり、断面形状は高さ8μ
m、幅8μmの正方形となった。断面の寸法は、これに
限らず、伝送モード、コアとクラッドの屈折率差によっ
て5μmから100μmで選ぶことができる。
【0094】図8の(e)のように、第2のクラッド1
09としてOPI−1005を同様にコートしてイミド
化させる。この時のクラッド厚は、コア光配線層上で2
0μm であった。
【0095】図8の(f)のように、第2クラッド10
9の表面に、Cr、Cuの薄膜層をスパッタし、加え
て、硫酸銅めっき浴中にてCu層を約10μm 形成し
た。さらに、フォトリソグラフィー技術によりフォトレ
ジストのパターンを形成し、エッチング液にてエッチン
グすることにより、パッド110、電気配線およびラン
ドを形成した。ランドには、後ほどレーザーにてビアホ
ール形成用の孔部を形成するための開口部111をあら
かじめ設けておいた。図示はしていないが、同時に、電
気部品接続のためのパッド、電気配線及びランドも形成
した。
【0096】図8の(g)のように、銅で形成したパッ
ド110、電気配線及びランドを剥離液から保護するた
めに、保護膜としてフォトレジスト112をコーティン
グした。
【0097】図8の(h)のように、剥離液として塩化
第2鉄液を用いて剥離層中のCu層を溶解し、光配線層
を剥離して光配線フィルムを作製した。
【0098】図8の(i)のように、光配線層上のパッ
ド、電気配線及びランドが形成されている側を、第2の
支持体113に接着剤で接着させる。第2の支持体11
3は光配層が接着されていない側からアライメントマー
ク108が見えるように透明なものを利用する。また、
接着剤は、剥離しやすいものを用いるか、あるいは、紫
外線で硬化することにより接着力が低下するものを用い
る。
【0099】図8の(j)のように、コアパターン10
7を形成する際に同時に形成していたアライメントマー
ク(図示せず)を基準に、コアパターン107の一部に
機械加工で基板と45°の角度にミラー114を形成し
た。
【0100】図8の(k)のように、電気配線116を
有する基板115上に、接着剤として熱可塑性を示す変
成ポリイミド樹脂117を20μm コーティング、乾燥
させ、光配線層のミラー加工した面を貼り合わせ加熱接
着した。
【0101】図8の(l)のように、紫外線を照射する
ことにより第2の支持体113を剥離した。
【0102】図8の(m)のように、光配線層上に、保
護膜として、めっきレジスト118をコーティングし
た。
【0103】図8の(n)のように、ビアホールを形成
する位置として、ランドの開口部111に、レーザーに
てビアホール用の孔119を形成した。レーザーとして
は、エキシマレーザー、炭酸ガスレーザー、YAGレー
ザーなどが適している。
【0104】図8の(o)のように、光配線層表面に並
びにレーザー加工を施した孔内部に、スパッタにてC
r、Cuの金属薄膜を形成し、この金属薄膜を電極とし
て、硫酸銅浴中でビアホール内部並びにランド部に銅め
っきを行った。さらに、めっきレジスト118を除去
し、ビアホール120及びランド121を形成した。
【0105】図8の(p)のように、光配線層表面に、
クラッドに用いたポリイミドOPI−N1005(日立
化成工業(株)製)をスピンコートし、350℃にてイ
ミド化させた。この時の膜厚は10μm であった。
【0106】図8の(q)のように、アライメントマー
ク108を基準にして、パッド部にレーザー光を照射し
て、パッド上のポリイミドを除去した。レーザーとして
は、エキシマレーザー、炭酸ガスレーザー、YAGレー
ザーなどが適している。これにより、本発明の第4の実
施形態の光・電気配線基板を得た。
【0107】また、詳細な説明は省略するが、前述の第
2から第3の実施形態にて作製した光・電気基板の光配
線層上に、同様に、クラッドに用いたポリイミドOPI
−N1005(日立化成工業(株)製)層を形成し、パ
ッド上のポリイミドを除去することにより、図4(a)
及び(b)に記載の光・電気配線基板を作製することが
できる。
【0108】3.実装基板 本発明の光・電気配線基板に光部品である発光素子、受
光素子を実装した形態をそれぞれ図9(a)及び(b)
に示す。また、電気部品であり、ハンダボール142を
有するBGAパッケージ141を実装した形態を図10
に示す。
【0109】図9(a)では、発光素子131の発光面
132から照射されたレーザー光135はミラー134
にて反射され、光配線層のコアを伝搬する。また、図9
(b)では、光配線層のコアを伝搬してきたレーザー光
はミラー139にて反射し、受光素子136の受光面1
37に照射される。
【0110】光部品と光・電気配線基板の電気接続はは
んだボール133、138で行われるが、金属リードを
有する光部品の場合はパッドとはんだ接合される。
【0111】先に述べたように、コアとアライメントマ
ークを同時に形成することにより、アライメントマーク
を基準にパッドの位置、機械加工によって形成されたミ
ラーの位置、あるいは、レーザー用マスクによって形成
されたミラーの位置が精度良く決まる。さらには、パッ
ドと光部品を接合するためのはんだのセルフアライメン
ト効果により光部品の発光面や受光面の位置とも精度良
く決まることになる。また、光配線層表面にクラッドの
屈折率と同じ材料の樹脂層を形成し、アライメントマー
クを基準に、パッド表面の樹脂をレーザーにて除去する
ことにより、さらに、はんだボールやリードのハンダ接
合時に光部品の位置精度が高くなる。
【0112】したがって、図10に示す電気部品と同様
に光部品が光・電気配線基板にリフロー炉を通して表面
実装するだけで、精度良く光部品の光軸と光導波路の光
軸を合わせることが可能になった。
【0113】
【発明の効果】本発明は、次のような効果がある。
【0114】第1に、電気配線を有する基板の上に光配
線層を設けるので、高密度実装又は小型化が可能である
という効果がある。
【0115】第2に、コアと光部品用パッドとミラーの
位置関係が意図されたものに極めて近いので、光部品の
光軸とコアの光軸とを光学的に一致させることが容易で
あり、それゆえ光部品と電気部品とを同時に実装できる
という効果がある。
【0116】第3に、光配線層上にも電気配線を設ける
ことができるので電気配線間のクロストークを抑えるこ
とができるという効果がある。
【0117】第4に、電気配線を有する基板とは別に、
支持体の上に光配線層を作製し、その光配線層を基板に
接着するので、基板上の電気配線の上に直接光配線層を
作製する場合と比較して、基板上の電気配線の凹凸の影
響を少なくでき、コアの光伝搬損出を低減できるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光・電気配線基板を示す上面図。
【図2】本発明の光・電気配線基板を示す上面図。
【図3】本発明の光・電気配線基板を示す断面図。
【図4】本発明の光・電気配線基板を示す断面図。
【図5】本発明の光・電気配線基板の製造方法を示す断
面図。
【図6】本発明の光・電気配線基板の製造方法を示す断
面図。
【図7】本発明の光・電気配線基板の製造方法を示す断
面図。
【図8】本発明の光・電気配線基板の製造方法を示す断
面図。
【図9】本発明の光・電気配線基板に光部品を実装した
構造を説明する断面図。
【図10】本発明の光・電気配線基板に電気部品を実装
した構造を説明する断面図。
【図11】従来の電気配線基板に電気部品を実装した構
造を示す断面図。
【図12】従来の光・電気配線基板に光素子や電気素子
を実装した構造を示す断面図。
【符号の説明】
1…コア 2…クラッド 3…ミラー 4…アライメントマーク 5…パッド 6…ランド 7…電気配線 8…アライメントマーク 9…基板 10…電気配線 11…接着剤層 12…ビアホール 13…光配線層 14…樹脂層 15…孔部 21…第1の支持体 22…剥離層 23…第1のクラッド 24…コア 25…メタルマスク 26…メタルマスク 27…コアパターン 28…アライメントマーク 29…第2のクラッド 30…パッド 31…開口部 32…保護膜 33…第2の支持体 34…ミラー 35…基板 36…電気配線 37…接着剤層 38…保護膜 39…孔部 40…ビアホール 41…ランド 51…支持体 52…剥離層 53…第1のクラッド 54…コア 55…メタルマスク 56…メタルマスク 57…コアパターン 58…アライメントマーク 59…第2のクラッド 60…ミラー 61…基板 62…電気配線 63…接着剤層 64…孔部 65…金属薄膜 66…めっきレジスト 67…ビアホール 68…ランド 71…第1の支持体 72…剥離層 73…第1のクラッド 74…コア 75…メタルマスク 76…メタルマスク 77…コアパターン 78…アライメントマーク 79…第2のクラッド 80…パッド 81…開口部 82…保護膜 83…第2の支持体 84…レーザ用マスク 85…開口部 86…ミラー 87…基板 88…電気配線 89…接着剤層 90…保護膜 91…孔部 92…ビアホール 93…ランド 101…第1の支持体 102…剥離層 103…第1のクラッド 104…コア 105…メタルマスク 106…メタルマスク 107…コアパターン 108…アライメントマーク 109…第2のクラッド 110…パッド 111…開口部 112…保護膜 113…第2の支持体 114…ミラー 115…基板 116…電気配線 117…接着剤層 118…保護膜 119…孔部 120…ビアホール 121…ランド 122…樹脂層 123…開口部 131…発光素子 132…発光面 133…はんだボール 134…ミラー 135…レーザー光 136…受光素子 137…受光面 138…半田ボール 139…ミラー 140…レーザー光 141…電気部品 142…はんだボール 151…電気素子 152…ビルドアップ多層積層板 153…バンプ 154…半田ボール 155…電気配線基板 156…電気配線 157…パッド 161…電気素子 162…BGAパッケージ 163…半田ボール 164…電気配線基板 165…電気配線 166…光素子 167…光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H047 KA04 KB08 LA09 PA02 PA24 PA28 QA05 RA08 TA05 TA23 TA44 5E338 AA03 BB63 BB75 CC01 CC10 CD32 DD11 DD32 EE22 EE23 EE43

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電気配線を有する基板の電気配線の上に、
    光を伝搬させるコアとそのコアを埋没させるクラッドと
    を有する光配線層を備える光・電気配線基板であって、 コアの一部に設けられたミラーと、 ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするために設
    けられたパッドと、 パッドと基板の電気配線とを電気接続するビアホール
    と、 を具備することを特徴とする光・電気配線基板。
  2. 【請求項2】電気配線を有する基板の電気配線の上に、
    光を伝搬させるコアとそのコアを埋没させるクラッドと
    を有する光配線層を備える光・電気配線基板であって、 コアの一部に設けられたミラーと、 ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするために設
    けられた光部品用のパッドと、 電気部品をハンダ付けするために光配線層上に設けられ
    た電気部品用のパッドと、 光部品又は電気部品用のパッドと基板の電気配線とを電
    気接続するビアホールと、 を具備することを特徴とする光・電気配線基板。
  3. 【請求項3】電気配線を有する基板の電気配線の上に、
    光を伝搬させるコアとそのコアを埋没させるクラッドと
    を有する光配線層を備える光・電気配線基板であって、 コアの一部に設けられたミラーと、 ミラーの直上の周囲に光部品をハンダ付けするために設
    けられた光部品用のパッドと、 電気部品をハンダ付けするために光配線層上に設けられ
    た電気部品用のパッドと、 光部品又は電気部品用のパッドと基板の電気配線とを電
    気接続するビアホールと、 光配線層上に設けられた電気配線と、を具備することを
    特徴とする光・電気配線基板。
  4. 【請求項4】光配線層表面にクラッドの屈折率と等しい
    樹脂層が形成され、該光部品及び電気部品をハンダ付け
    するために設けられたパッド上に孔が形成され、該パッ
    ド表面が露出していることを特徴とする請求項1〜3の
    何れか1項記載の光・電気配線基板。
  5. 【請求項5】位置決めをするアライメントマークと光を
    伝搬させるコアとそれらアライメントマーク及びコアを
    埋没させるクラッドとを有する光配線層を支持体の上に
    作る工程と、アライメントマークを基準にしてコアの一
    部にミラーを設けて光配線層を、電気配線を有する基板
    に接着する工程と、基板上の電気配線とビアホールで電
    気接続しているパッドを、アライメントマークを基準に
    して光配線層上に作る工程とを含む光・電気配線基板の
    製造方法であって、 コアとアライメントマークとを同時に形成することを特
    徴とする光・電気配線基板の製造方法。
  6. 【請求項6】位置決めをするアライメントマークと光を
    伝搬させるコアとそれらアライメントマーク及びコアを
    埋没させるクラッドとを有する光配線層を支持体の上に
    作る工程と、アライメントマークを基準にしてコアの一
    部にミラーを設けて光配線層を、電気配線を有する基板
    に接着する工程と、基板上の電気配線とビアホールで電
    気接続しているパッドを、アライメントマークを基準に
    して光配線層上に作る工程と、光配線層表面にクラッド
    の屈折率と等しい樹脂層を形成し、アライメントマーク
    基準にして孔を形成する工程を含む光・電気配線基板の
    製造方法であって、 コアとアライメントマークとを同時に形成することを特
    徴とする光・電気配線基板の製造方法。
  7. 【請求項7】請求項1〜4の何れか1項記載の光・電気
    配線基板に光部品又は/及び電気部品を実装したことを
    特徴とする実装基板。
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