JP2000287135A - 撮像装置並びに固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 固体撮像素子の黒欠陥の画素位置を簡便に且
つ正確に検出して、検出した黒欠陥の補間をする。 【解決手段】 ＣＣＤイメージセンサに均一の明るさの
撮像光を照射し、その撮像光を光学的な低域通過フィル
タを用いてぼかす。続いて、そのときの画素データをメ
モリ上に取り込む。そして、ＣＣＤイメージセンサから
得られた撮像データを所定の閾値と比較して、この撮像
データがこの所定の閾値以下となっている画素アドレス
を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子を用
いた撮像装置、並びに、固体撮像素子の画素欠陥を検出
する固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】業務用や家庭用のビデオカメラ等には、
ＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサ等の
固体撮像素子が一般に用いられている。

【０００３】このようなＣＣＤイメージセンサでは、製
造時の欠陥等により、白欠陥や黒欠陥と呼ばれる固定パ
ターンノイズが発生する場合がある。これらは、例え
ば、フォトダイオードの暗電流や開口のばらつき等が原
因で生じ、ＣＣＤイメージセンサの所定の画素位置で常
に発生する。

【０００４】従来、製造したＣＣＤイメージセンサに白
欠陥がある場合、その欠陥が生じている画素を補間して
用いている。しかしながら、製造したＣＣＤイメージセ
ンサに黒欠陥がある場合には、その欠陥検出が困難であ
ることから、検査工程で製造不良として取り扱ってい
た。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、近年、ＣＣ
Ｄイメージセンサの画素数が増加している。そのため、
画素数の増加に伴い黒欠陥も増加し、歩留まりが悪くな
り、コスト高になっていた。

【０００６】本発明は、このような実情を鑑みてなされ
たものであり、固体撮像素子の黒欠陥の画素位置を簡便
に且つ正確に検出して、検出した黒欠陥の補間をするこ
とができる撮像装置を提供することを目的とする。

【０００７】また、本発明は、固体撮像素子の黒欠陥の
画素位置を簡便且つ正確に検出することができる固体撮
像素子の画素欠陥検出装置及び方法を提供することを目
的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明にかかる撮像装置は、撮像光を取り込み撮
像信号に変換する固体撮像素子と、上記固体撮像素子が
取り込む上記撮像光を光学的な低域通過フィルタを用い
てぼかす光学手段と、上記固体撮像素子から得られる撮
像信号を所定の閾値と比較して、この撮像信号がこの所
定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位置を検出
する黒欠陥検出手段と、上記黒欠陥検出手段が検出した
上記画素位置を記憶する記憶手段と、上記記憶手段が記
憶した上記画素位置を読み出し、上記固体撮像素子の上
記画素位置から得られる撮像信号を補間する補間手段と
を備え、上記黒欠陥検出手段は、上記光学手段によりぼ
かされた均一の明るさの撮像光を取り込んだときの上記
固体撮像素子から得られる撮像信号に基づき画素位置を
検出することを特徴とする。

【０００９】この撮像装置では、ぼかされた均一の明る
さの撮像光を取り込んだときの上記固体撮像素子から得
られる撮像信号を所定の閾値と比較して、この撮像信号
がこの所定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位
置を検出する。そして、この撮像装置では、検出した画
素位置を記憶して、この画素位置から得られる撮像信号
を補間する。

【００１０】また、本発明にかかる固体撮像素子の画素
欠陥検出装置は、撮像光を取り込み撮像信号に変換する
固体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の画素
欠陥検出装置であって、上記固体撮像素子に均一の明る
さの撮像光を照射する被写体と、上記被写体から照射さ
れる撮像光を光学的な低域通過フィルタを用いてぼかす
光学手段と、上記固体撮像素子から得られる撮像信号を
所定の閾値と比較して、この撮像信号がこの所定の閾値
以下となる上記固体撮像素子の画素位置を検出する黒欠
陥検出手段とを備えることを特徴とする。

【００１１】この固体撮像素子の画素欠陥検出装置で
は、ぼかされた均一の明るさの撮像光を取り込んだとき
の上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値
と比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる
上記固体撮像素子の画素位置を検出する。

【００１２】また、本発明にかかる固体撮像素子の画素
欠陥検出方法は、撮像光を取り込み撮像信号に変換する
固体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の画素
欠陥検出方法であって、上記固体撮像素子に均一の明る
さの撮像光を照射し、上記被写体から照射される撮像光
を光学的な低域通過フィルタを用いてぼかし、上記固体
撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値と比較し
て、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる上記固体
撮像素子の画素位置を検出することを特徴とする。

【００１３】この固体撮像素子の画素欠陥検出方法で
は、ぼかされた均一の明るさの撮像光を取り込んだとき
の上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値
と比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる
上記固体撮像素子の画素位置を検出する。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態として
本発明を適用したデジタルカメラ装置について、図面を
参照しながら説明する。

【００１５】本発明は、図１に示すようなデジタルカメ
ラ装置に適用される。

【００１６】図１に示すデジタルカメラ装置１は、撮像
光を集光するレンズ２と、レンズ２により集光された撮
像光を電気信号である撮像信号に変換するＣＣＤイメー
ジセンサ３と、ＣＣＤイメージセンサ３からの撮像信号
をデジタル化して撮像データを出力するアナログ／デジ
タル（Ａ／Ｄ）変換器４と、Ａ／Ｄ変換器４からの撮像
データに対して画像処理を行う画像処理回路５と、画像
処理回路５により画像処理がされた画像データを記録す
る外部メディア６と、画像処理回路５により画像処理が
された画像データ等を記憶するＲＡＭ（Random Access
Memory）７と、画像処理回路５等の制御を行うマイクロ
コントローラ８と、レンズ２及びＣＣＤイメージセンサ
３を駆動する駆動回路９と、外部メディア６及びＲＡＭ
７を制御するメモリコントローラ１０と、不揮発性メモ
リ１１とを備えている。

【００１７】レンズ２は、被写体から得られる撮像光を
集光する。このレンズ２は、駆動回路９からの制御信号
に応じて、焦点位置を移動したり、アイリスの開閉をし
たり、ズームアップをしたりし、撮像光を光学的に処理
する。

【００１８】ＣＣＤイメージセンサ３は、撮像光を光電
変換して電気信号である撮像信号に変換する。このＣＣ
Ｄイメージセンサ３は、各画素に所定のコーディングが
された色フィルタが設けられており、カラーの撮像信号
を出力する。

【００１９】Ａ／Ｄ変換器４は、ＣＣＤイメージセンサ
３からアナログ信号として出力されてくる撮像信号をデ
ジタル化する。Ａ／Ｄ変換器４は、デジタル化した撮像
データを出力する。

【００２０】画像処理回路５は、Ａ／Ｄ変換器４により
デジタル化された撮像データに対して画像処理を行う。

【００２１】具体的に画像処理回路５は、図２に示すよ
うに、補間回路２１と、デジタルクランプ回路２２と、
ホワイトバランス回路２３と、γ補正回路２４と、輝度
データ生成回路２５と、色差データ生成回路２６とを有
している。画像処理回路５の各回路は、マイクロコント
ローラ８により制御される。

【００２２】補間回路２１は、後述する画素欠陥検出処
理により検出した欠陥アドレス情報に基づき、撮像デー
タに含まれる画素の欠陥部分を補間する処理を行う。デ
ジタルクランプ回路２２は、撮像データのクランプ補正
を行う。一般に、ＣＣＤイメージセンサ３から得られる
撮像信号をＡ／Ｄ変換器４によりＡ／Ｄ変換する場合、
黒レベルに所定のオフセットを加えて行われる。クラン
プ補正は、このオフセット分を差し引き、撮像データの
黒レベルを、本来の黒レベルに補正する処理を行うもの
である。ホワイトバランス回路２３は、カラー信号のホ
ワイトバランスの調整をする回路である。ＣＣＤイメー
ジセンサ３は、白色光を撮像したとき、色フィルタの感
度のばらつきから、各色のレベルが同一とならない。ホ
ワイトバランスの調整は、各色のデータにそれぞれ個別
のゲインをかけてレベル調整をし、色コーディング間の
ばらつきを補正するものである。各色に与えるゲイン
は、予め計測したデータに基づきマイクロコントローラ
８がその値を与えても良いし、検波回路を用いて、クラ
ンプ量及びフィルタ別積分値を取得して計算しても良
い。γ補正回路２４は、撮像データのリニアリティを可
変してガンマ補正を行う。輝度データ生成回路２５は、
撮像データから輝度データを生成して出力する。色差デ
ータ生成回路２６は、撮像データから色差データを生成
して出力する。

【００２３】外部メディア６は、例えば、光ディスク、
磁気ディスク、磁気テープ、メモリカード等の着脱可能
な記録媒体である。

【００２４】ＲＡＭ７は、このデジタルカメラ装置１内
部に設けられた記憶装置である。

【００２５】マイクロコントローラ８は、Ａ／Ｄ変換器
４によるアナログ／デジタル変換処理、画像処理回路５
による画像処理の制御を行い、また、駆動回路９を介し
て、レンズ２の焦点位置、電子シャッタのスピード、ア
イリスの開閉、ズーム距離等を制御する。

【００２６】メモリコントローラ１０は、外部メディア
６及びＲＡＭ７へのデータの書き込み、外部メディア６
及びＲＡＭ７からのデータの読み出しの制御を行う。

【００２７】不揮発性メモリ１１は、後述する画素欠陥
検出処理により検出されたＣＣＤイメージセンサ３の黒
欠陥部分の位置情報を示す欠陥アドレス情報を記憶す
る。

【００２８】このようなデジタルカメラ装置１では、ユ
ーザの操作に応じて被写体の撮像をし、その撮像データ
を外部メディア６又はＲＡＭ７に記録することができ
る。

【００２９】つぎに、デジタルカメラ装置１によるＣＣ
Ｄイメージセンサ３の黒欠陥検出処理の内容について説
明する。

【００３０】デジタルカメラ装置１では、図３のフロー
チャートに示すような、画像の取り込み準備処理（ステ
ップＳ１）、データの取り込み処理（ステップＳ２）、
欠陥検出処理（ステップＳ３）、アドレス保存処理（ス
テップＳ４）を、マイクロコントローラ８が順次行うこ
とにより、ＣＣＤイメージセンサ３の黒欠陥検出処理を
行う。

【００３１】画像の取り込み準備処理（ステップＳ１）
では、図４に示すステップＳ１１〜ステップＳ１５の処
理が行われる。

【００３２】まず、ステップＳ１１において、被写体と
の画角合わせを行う。図５に、被写体とデジタルカメラ
装置１との位置関係を示す。被写体２０は、所定の大き
さの例えば矩形状の表示画面から、均一の明るさの光を
発光する。ここでは、被写体２０とデジタルカメラ装置
１との画角を合わせることにより、ＣＣＤイメージセン
サ３により取り込まれた画像の明るさが、画面内で均一
になるようにする。この画角あわせでは、被写体２０が
デジタルカメラ装置１の画角内に入るような位置を予め
求めておき、この位置にデジタルカメラ装置１を自動的
に配置するようにしてもよいし、出力される撮像画像を
目視しながら位置決めをしてもよい。

【００３３】続いて、ステップＳ１２において、マイク
ロコントローラ８は、γ補正回路２４をオフとして、ガ
ンマ補正処理を行わないよう設定する。すなわち、ＣＣ
Ｄイメージセンサ３から得られる撮像データを線形性を
もったまま検出できるように設定する。

【００３４】続いて、ステップＳ１３において、マイク
ロコントローラ８は、ＣＣＤイメージセンサ３から得ら
れる撮像信号が、線形性を有する範囲の最大のレベルと
なるに、ＣＣＤイメージセンサ３に照射される撮像光の
明るさを調整する。具体的には、マイクロコントローラ
８は、アイリスの開度や被写体２０の明るさを調整し
て、ＣＣＤイメージセンサ３に照射される撮像光の明る
さを調整する。明るさを調整して線形性を有する撮像信
号が得られるようにするのは、撮像信号が非線形領域と
なった場合、黒点の信号レベルを正確に計算できなくな
るためである。また、明るさを調整して最大のレベルと
なるような撮像信号を得るようにするのは、Ｓ／Ｎ比を
高くするためである。なお、アイリスの開度や被写体２
０の明るさを予め求めて置いて、ここでは、その求めた
値にアイリスの開度や被写体２０の明るさを設定するよ
うにしてもよい。

【００３５】続いて、ステップＳ１４において、マイク
ロコントローラ８は、レンズ２の焦点位置やアイリスの
開度等を調整して、ＣＣＤイメージセンサ３により取り
込まれる撮像光をぼかす。例えば、レンズ２の焦点位置
をＮｅａｒ端やＦａｒ端に設定したり、また、アイリス
等を調整し被写界深度をあさくしたりして、ＣＣＤイメ
ージセンサ３により取り込まれる画像をぼかす。すなわ
ち、光学的に低域通過フィルタリングを行う。これは、
被写体やレンズ等にゴミ等が付着している場合に、この
ゴミ等を黒欠陥として検出しないようにするためであ
る。

【００３６】続いて、ステップＳ１５において、マイク
ロコントローラ８は、デジタルクランプ回路２２及びホ
ワイトバランス回路２４に、クランプ補正及びホワイト
バランスの調整をさせる。

【００３７】デジタルカメラ装置１では、以上のステッ
プＳ１１〜ステップＳ１５の処理を行い、画像の取り込
み準備処理（ステップＳ１）を終える。

【００３８】データの取り込み処理（ステップＳ２）で
は、画像の取り込み準備処理で設定された条件で、被写
体２０を撮像して、例えば１フレーム分の撮像データを
ＲＡＭ７に格納する。このデータの取り込み処理では、
マイクロコントローラ８は、輝度データ及び色差データ
を生成せずに、γ補正回路２４の出力をそのままＲＡＭ
７に格納するようにメモリコントローラ１０を制御す
る。すなわち、輝度データ生成回路２５及び色差データ
生成回路２６の機能をオフとする。

【００３９】画像の欠陥検出処理（ステップＳ３）で
は、データの取り込み処理で取り込まれたＲＡＭ７に格
納された例えば１フレーム分の撮像データに基づき、図
６に示すステップＳ２１〜ステップＳ２６の処理が行わ
れる。

【００４０】まず、ステップＳ２１において、マイクロ
コントローラ８は、ＲＡＭ７に取り込まれた例えば１フ
レーム分の撮像データを、複数のブロックに分割する。
すなわち、１つのフレームを複数のブロックに分割す
る。例えば、図７に示すように、１フレームが１２００
×１６００画素から構成されている場合は、１つが２０
０×２００画素からなる４８個の正方形のブロックに分
割する。このように１つのフレームを複数のブロックに
分割するのは、レンズのシェーディングによる影響を少
なくするためである。分割数は、予めレンズのシェーデ
ィングを測定しておき、検出レベルに影響を与えない程
度とする。

【００４１】そして、以下ステップＳ２２〜ステップＳ
２５の処理は、分割した複数のブロックの内の１つのブ
ロックを選択して行う。

【００４２】まず、ステップＳ２２において、マイクロ
コントローラ８は、ＣＣＤイメージセンサ３上の色フィ
ルタ毎に、検出レベルの平均値を求める。これは、ブロ
ック内の全ての画素の平均値であってもよいし、例えば
ブロックの中心部分の画素の平均値であっても良い。ま
た、メディアンフィルタ処理を行って中央値を求め、こ
の値を平均値としても良い。

【００４３】続いて、ステップＳ２３において、ステッ
プＳ２２で求めた平均値に所定の係数をかけて、閾値を
求める。この閾値は、この閾値以下のレベルの画素が、
黒点であると判断するために用いられる。なお、係数の
値は、色コーディングによる誤差の影響から、各色毎に
レベルが異なる場合があるため、色フィルタ毎に異なる
ようにしても良い。

【００４４】続いて、ステップＳ２４において、マイク
ロコントローラ８は、ステップＳ２３で求めた閾値と、
ブロック内の全ての画素のレベルとを比較して、この閾
値以下のレベルの画素を検出する。ここで検出された画
素が、ＣＣＤイメージセンサ３の黒欠陥部分である。す
なわち、均一の明るさの撮像光がＣＣＤイメージセンサ
３に照射されているため、本来であれば全ての画素から
同一のレベルの信号が検出されるはずであるが、黒欠陥
が存在する場合、その画素からは低いレベルの信号が検
出されてしまう。このステップＳ２４では、ステップＳ
２３で求めた閾値と、ブロック内の全ての画素のレベル
とを比較することにより、その低いレベルの画素を見つ
けだす。

【００４５】そして、このステップＳ２４において、マ
イクロコントローラ８は、検出された黒欠陥部分の画素
の位置情報、すなわち、その黒欠陥部分のＣＣＤイメー
ジセンサ３上のアドレスをＲＡＭ７に書き込む。

【００４６】続いて、ステップＳ２５において、マイク
ロコントローラ８は、フレーム内の最後のブロックまで
以上のステップＳ２２からステップＳ２５までの処理を
行ったかどうかを判断する。つまり、フレーム内の全て
のブロックに対して黒欠陥の検出を行ったかどうかを判
断する。

【００４７】全てのブロックに対して黒欠陥の検出処理
を行っていない場合には、ステップＳ２６に進む。そし
てこのステップＳ２６において、マイクロコントローラ
８は、次のブロックを選択し、ステップＳ２２からの処
理を繰り返す。

【００４８】また、全てのブロックに対して黒欠陥の検
出処理を行った場合には、画像の欠陥検出処理を終了す
る。

【００４９】デジタルカメラ装置１では、以上のステッ
プＳ２１〜ステップＳ２６の画像の欠陥検出処理を行う
ことにより、ＣＣＤイメージセンサ３上に存在する全て
の黒欠陥の画素アドレスを、ＲＡＭ７上に記憶させるこ
とができる。

【００５０】アドレス保存処理（ステップＳ４）では、
画像の欠陥検出処理によりＲＡＭ７上に格納されたＣＣ
Ｄイメージセンサ３の画素アドレスを、黒欠陥部分の位
置情報を示す欠陥アドレス情報として、不揮発性メモリ
１１上に保存する。

【００５１】以上のような処理を行うことによりデジタ
ルカメラ装置１では、ＣＣＤイメージセンサ３の黒欠陥
部分の検出を行うことができる。

【００５２】そして、デジタルカメラ装置１では、撮影
時において、マイクロコントローラ８がこの不揮発性メ
モリ１１から欠陥アドレス情報を読み出し、この欠陥ア
ドレス情報を画像処理回路５の補間回路２１に供給す
る。そして、補間回路２１は、この欠陥アドレス情報に
示された画素については、周囲の画素データから画素値
を補間した画素データを生成し、元の画素データと置き
換えてデジタルクランプ回路２２に供給する。

【００５３】以上のようにデジタルカメラ装置１では、
ぼかされた均一の明るさの撮像光を取り込んだときのＣ
ＣＤイメージセンサ３から得られる撮像データを所定の
閾値と比較して、この撮像データがこの所定の閾値以下
となるＣＣＤイメージセンサ３の画素アドレスを検出す
る。そして、このデジタルカメラ装置１では、検出した
画素アドレスを不揮発性メモリ１１上に記憶して、撮影
時にこの画素アドレスから得られる撮像データを補間す
る。

【００５４】このことにより、このデジタルカメラ装置
１では、ＣＣＤイメージセンサ３の黒欠陥の画素アドレ
スを簡便に且つ正確に検出して、検出した黒欠陥の補間
をすることができる。そのため、このデジタルカメラ装
置１では、黒欠陥を有するＣＣＤイメージセンサ３であ
っても用いることができ、コストダウンを図ることがで
きる。

【００５５】なお、以上本発明の実施の形態として、デ
ジタルカメラ装置１について説明したが、ＣＣＤイメー
ジセンサの欠陥検出装置にも適用することができる。

【００５６】この場合、ＣＣＤイメージセンサの欠陥検
出装置は、被写体２０と、レンズ２と、Ａ／Ｄ変換器４
と、画像処理回路５と、ＲＡＭ７と、マイクロコントロ
ーラ８と、駆動回路９と、メモリコントローラ１０とか
らなる構成により、ＣＣＤイメージセンサの黒欠陥のア
ドレスを検出する。また、画像処理回路５には、補間回
路２１、γ補正回路２４、輝度データ生成回路２５、色
差データ生成回路２６は、備えなくても良い。また、デ
ジタルクランプ処理及びホワイトバランスの調整処理
は、マイクロコントローラ８に行わせることもできるの
で、Ａ／Ｄ変換器４から出力された撮像データを直接Ｒ
ＡＭ７に格納するようにしてもよい。

【００５７】

【発明の効果】本発明にかかる撮像装置では、ぼかされ
た均一の明るさの撮像光を取り込んだときの固体撮像素
子から得られる撮像信号を所定の閾値と比較して、この
撮像信号がこの所定の閾値以下となる固体撮像素子の画
素位置を検出する。そして、この撮像装置では、検出し
た画素位置を記憶して、この画素位置から得られる撮像
信号を補間する。

【００５８】このことにより、この撮像装置では、固体
撮像素子の黒欠陥の画素位置を簡便に且つ正確に検出し
て、検出した黒欠陥の補間をすることができる。そのた
め、この撮像装置では、黒欠陥を有する固体撮像素子で
あっても用いることができ、コストダウンを図ることが
できる。

【００５９】また、本発明にかかる固体撮像素子の画素
欠陥検出装置及び方法では、ぼかされた均一の明るさの
撮像光を取り込んだときの上記固体撮像素子から得られ
る撮像信号を所定の閾値と比較して、この撮像信号がこ
の所定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位置を
検出する。

【００６０】このことにより、この固体撮像素子の画素
欠陥検出装置及び方法では、固体撮像素子の黒欠陥の画
素位置を簡便に且つ正確に検出することができる。その
ため、この固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法で
は、検出した黒欠陥の画素位置の情報を与えることによ
り、固体撮像素子を用いるビデオカメラやその他の製品
に補間させるができる。従って、この固体撮像素子の画
素欠陥検出装置及び方法では、黒欠陥を有する固体撮像
素子であっても良品と扱うことができ、固体撮像素子の
コストダウンを図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したデジタルカメラ装置のブロッ
ク図である。

【図２】上記デジタルカメラ装置の画像処理回路のブロ
ック図である。

【図３】上記デジタルカメラ装置の黒欠陥検出処理の処
理内容を示すフローチャートである。

【図４】上記黒欠陥検出処理における画像取り込み準備
処理の処理内容を示すフローチャートである。

【図５】上記画像取り込み準備処理における画角合わせ
処理を説明する図である。

【図６】上記黒欠陥検出処理における欠陥検出処理の処
理内容を示すフローチャートである。

【図７】上記欠陥検出処理におけるブロック分割処理を
説明する図である。

【符号の説明】

１ デジタルカメラ装置、２ レンズ、３ ＣＣＤイメ
ージセンサ、４ Ａ／Ｄ変換器、５ 画像処理回路、６
外部メディア、７ ＲＡＭ、８ マイクロコントロー
ラ、９ 駆動回路、１０ メモリコントローラ、１１
不揮発性メモリ

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮像光を取り込み撮像信号に変換する固
   体撮像素子と、 上記固体撮像素子が取り込む上記撮像光を光学的な低域
   通過フィルタを用いてぼかす光学手段と、 上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値と
   比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる上
   記固体撮像素子の画素位置を検出する黒欠陥検出手段
   と、 上記黒欠陥検出手段が検出した上記画素位置を記憶する
   記憶手段と、 上記記憶手段が記憶した上記画素位置を読み出し、上記
   固体撮像素子の上記画素位置から得られる撮像信号を補
   間する補間手段とを備え、 上記黒欠陥検出手段は、上記光学手段によりぼかされた
   均一の明るさの撮像光を取り込んだときの上記固体撮像
   素子から得られる撮像信号に基づき画素位置を検出する
   ことを特徴とする撮像装置。
2. 【請求項２】 上記黒欠陥検出手段は、撮像信号の線形
   性が保たれる最大レベルとなる明るさであって上記光学
   手段によりぼかされた均一の明るさの撮像光を取り込ん
   だときの上記固体撮像素子から得られる撮像信号に基づ
   き画素位置を検出することを特徴とする請求項１記載の
   撮像装置。
3. 【請求項３】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像素
   子から得られる撮像信号の黒レベルの補正をして、画素
   位置を検出することを特徴とする請求項１記載の撮像装
   置。
4. 【請求項４】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像素
   子から得られる撮像信号を所定のブロック毎に画面分割
   し、このブロック毎に画面分割した撮像信号を、このブ
   ロック毎に定められた閾値と比較して、この撮像信号が
   この所定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位置
   を検出することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
5. 【請求項５】 上記黒欠陥検出手段は、上記ブロック毎
   に撮像信号の平均値を求め、この平均値に基づき上記ブ
   ロック毎に閾値を定めることを特徴とする請求項４記載
   の撮像装置。
6. 【請求項６】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像素
   子の色フィルタ毎に、上記撮像信号が所定の閾値以下と
   なる上記固体撮像素子の画素位置を検出することを特徴
   とする請求項１記載の撮像装置。
7. 【請求項７】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像素
   子から得られる撮像信号のホワイトバランスを調整し
   て、画素位置を検出することを特徴とする請求項６記載
   の撮像装置。
8. 【請求項８】 上記補間手段は、上記固体撮像素子の上
   記画素位置の周囲の信号に基づき、上記固体撮像素子の
   上記画素位置から得られる撮像信号を補間することを特
   徴とする請求項１記載の撮像装置。
9. 【請求項９】 撮像光を取り込み撮像信号に変換する固
   体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の画素欠
   陥検出装置において、 上記固体撮像素子に均一の明るさの撮像光を照射する被
   写体と、 上記被写体から照射される撮像光を光学的な低域通過フ
   ィルタを用いてぼかす光学手段と、 上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値と
   比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる上
   記固体撮像素子の画素位置を検出する黒欠陥検出手段と
   を備える固体撮像素子の画素欠陥検出装置。
10. 【請求項１０】 上記黒欠陥検出手段は、撮像信号の線
    形性が保たれる最大レベルとなる明るさの撮像光を取り
    込んだときの上記固体撮像素子から得られる撮像信号に
    基づき画素位置を検出することを特徴とする請求項９記
    載の固体撮像素子の画素欠陥検出装置。
11. 【請求項１１】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像
    素子から得られる撮像信号の黒レベルの補正をして、画
    素位置を検出することを特徴とする請求項９記載の固体
    撮像素子の画素欠陥検出装置。
12. 【請求項１２】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像
    素子から得られる撮像信号を所定のブロック毎に画面分
    割し、このブロック毎に画面分割した撮像信号を、この
    ブロック毎に定められた閾値と比較して、この撮像信号
    がこの所定の閾値以下となる上記固体撮像素子の画素位
    置を検出することを特徴とする請求項９記載の固体撮像
    素子の画素欠陥検出装置。
13. 【請求項１３】 上記黒欠陥検出手段は、上記ブロック
    毎に撮像信号の平均値を求め、この平均値に基づき上記
    ブロック毎に閾値を定めることを特徴とする請求項１２
    記載の固体撮像素子の画素欠陥検出装置。
14. 【請求項１４】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像
    素子の色フィルタ毎に、上記撮像信号が所定の閾値以下
    となる上記固体撮像素子の画素位置を検出することを特
    徴とする請求項９記載の固体撮像素子の画素欠陥検出装
    置。
15. 【請求項１５】 上記黒欠陥検出手段は、上記固体撮像
    素子から得られる撮像信号のホワイトバランスを調整し
    て、画素位置を検出することを特徴とする請求項１４記
    載の固体撮像素子の画素欠陥検出装置。
16. 【請求項１６】 撮像光を取り込み撮像信号に変換する
    固体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の画素
    欠陥検出方法において、 上記固体撮像素子に均一の明るさの撮像光を照射し、 上記撮像光を光学的な低域通過フィルタを用いてぼか
    し、 上記固体撮像素子から得られる撮像信号を所定の閾値と
    比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下となる上
    記固体撮像素子の画素位置を検出することを特徴とする
    固体撮像素子の画素欠陥検出方法。
17. 【請求項１７】 撮像信号の線形性が保たれる最大レベ
    ルとなる明るさの撮像光を上記固体撮像素子で取り込む
    ことを特徴とする請求項１６記載の固体撮像素子の画素
    欠陥検出方法。
18. 【請求項１８】 上記固体撮像素子から得られる撮像信
    号の黒レベルの補正をして、画素位置を検出することを
    特徴とする請求項１６記載の固体撮像素子の画素欠陥検
    出方法。
19. 【請求項１９】 上記固体撮像素子から得られる撮像信
    号を所定のブロック毎に画面分割し、このブロック毎に
    画面分割した撮像信号を、このブロック毎に定められた
    閾値と比較して、この撮像信号がこの所定の閾値以下と
    なる上記固体撮像素子の画素位置を検出することを特徴
    とする請求項１６記載の固体撮像素子の画素欠陥検出方
    法。
20. 【請求項２０】 上記ブロック毎に撮像信号の平均値を
    求め、この平均値に基づき上記ブロック毎に閾値を定め
    ることを特徴とする請求項１９記載の固体撮像素子の画
    素欠陥検出方法。
21. 【請求項２１】 上記固体撮像素子の色フィルタ毎に、
    上記撮像信号が所定の閾値以下となる上記固体撮像素子
    の画素位置を検出することを特徴とする請求項１６記載
    の固体撮像素子の画素欠陥検出方法。
22. 【請求項２２】 上記固体撮像素子から得られる撮像信
    号のホワイトバランスを調整して、画素位置を検出する
    ことを特徴とする請求項２１記載の固体撮像素子の画素
    欠陥検出方法。