JP2002330355A

JP2002330355A - 撮像装置

Info

Publication number: JP2002330355A
Application number: JP2001135965A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Tsunoda; 浩角田
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 2001-05-07
Filing date: 2001-05-07
Publication date: 2002-11-15

Abstract

(57)【要約】【課題】固体撮像素子の画素欠陥は予め検出された位
置しか補正されなかった。そこで、画素欠陥位置を柔軟
に検出し補正を行う撮像装置を提供する。【解決手段】本発明に係る撮像装置は、固体撮像素子
に温度センサーを設け、画素欠陥検出を行い、フラッシ
ュメモリに欠陥画素情報テーブルとして、欠陥画素の位
置と出力値を、検出時温度とともに記録する。撮影時の
温度とテーブルの温度を比較し、テーブルの更新有無を
判定し、新たな欠陥画素情報テーブルとして登録を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＣＤイメージャ
等の固体撮像素子を具えた撮像光学系によって撮影され
た画像をディジタルデータとして記録媒体に記録するデ
ィジタルカメラ等の撮像装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＣＣＤイメージャ等の固体撮像素
子を具えた撮像光学系によって撮影された画像をディジ
タルデータとして記録媒体に記録するディジタルカメラ
等の撮像装置が普及している。

【０００３】ディジタルカメラにおいては、使用者によ
りシャッターボタンが押下されると、撮像光学系によっ
て撮影された画像の撮像データが、ディジタルデータに
変換された後、ＪＰＥＧ方式等、周知の圧縮方式により
圧縮され、これによって得られた圧縮データがＩＣカー
ドに記録される。

【０００４】ところで、ＣＣＤイメージャの製造工程に
おいては、露光時間やＣＣＤイメージャの温度等が所定
値に設定された撮影条件の下で黒一色の画面が撮影さ
れ、このときにＣＣＤイメージャから得られる撮像デー
タを構成する複数個の画素の中に、出力信号（輝度信
号）のレベル値が所定の閾値よりも大きい白点欠陥画素
が所定個数、例えば１６個以上含まれているか否かにつ
いて検査が行なわれる。そして、かかる白点欠陥画素が
１６個以上ある場合は、欠陥製品として取り除かれ、１
６個未満である場合は商品として出荷されているのが現
状である。

【０００５】しかしながら、この様なＣＣＤイメージャ
を搭載したディジタルカメラにおいて、仮に、ＣＣＤイ
メージャから得られる撮像データをそのままＩＣカード
に記録した場合、前記白点欠陥画素が白点欠陥となって
ＩＣカードに記録された画像に現れることになる。

【０００６】そこで、従来のディジタルカメラにおいて
は、かかる白点欠陥の発生を防止すべく、ＣＣＤイメー
ジャから得られる撮像データに後述の画素欠陥補正処理
を施すこととしている。

【０００７】図５は、ＣＣＤイメージャから得られる撮
像データに画素欠陥補正処理を施すディジタルカメラの
構成の一例を表わしている。

【０００８】図示の如く、撮像光学系１を構成するＣＣ
Ｄイメージャ１２は、アナログ信号処理回路２を介して
信号処理回路３に繋がっており、該信号処理回路３に
は、撮像光学系１によって撮影された画像を記録するた
めのＩＣカード４、画像処理時に使用されるＳＤＲＡＭ
５、及び撮像光学系１によって撮影された画像を表示す
るためのＬＣＤモニタ７が接続されている。

【０００９】撮像光学系１、アナログ信号処理回路２及
び信号処理回路３は、ＣＰＵ８に接続され、該ＣＰＵ８
によって動作が制御されている。ＣＰＵ８には、シャッ
ターボタン９が接続されている。

【００１０】上記アナログ信号処理回路２においては、
ＣＣＤイメージャ１２から得られる撮像データは、先
ず、ノイズ除去回路２１に入力されてノイズが除去さ
れ、続いて、ＡＧＣ（Auto Gain Control）回路２２に
入力されてゲイン調整された後、Ａ／Ｄ変換回路２３に
入力されてディジタルの撮像データに変換される。この
様にして得られたディジタル撮像データは、信号処理回
路３に入力される。

【００１１】信号処理回路３には、フラッシュメモリ６
が接続されており、該フラッシュメモリ６には、前記デ
ィジタル撮像データを構成する複数個の画素のうち、出
力信号のレベル値が大きい上位１６個の画素について、
各位置を表わす位置データが記録されている。これらの
位置データは、ディジタルカメラの調整工程において、
以下の手順でフラッシュメモリ６に書き込まれる。

【００１２】先ず、シャッターを閉止状態に設定すると
ともに、露光時間を４秒間に設定した状態で撮影が行な
われ、このときに上述の如くアナログ信号処理回路２か
ら出力されるディジタル撮像データを構成する複数個の
画素の中から、出力信号のレベル値の大きい上位１６個
の画素が白点欠陥画素として抽出され、抽出された１６
個の画素についての位置データがフラッシュメモリ６に
書き込まれる。

【００１３】上述の如くアナログ信号処理回路２のＡ／
Ｄ変換回路２３から信号処理回路３に入力されたディジ
タル撮像データは、先ず、フラッシュメモリ６に記録さ
れている位置データに基づいて画素欠陥補正処理が施さ
れる。具体的には、ディジタル撮像データを構成する複
数個の画素の内、フラッシュメモリ６に記録されている
位置データを有する１６個の画素について、それぞれの
出力信号のレベル値がその周囲に位置する画素のレベル
値に置き換えられる。

【００１４】この様にして画素欠陥補正処理が施された
撮像データは、色のバランスを調整するホワイトバラン
ス処理等の所定の画像処理、及びＪＰＥＧ方式による圧
縮処理が施され、これによって得られる圧縮データがＩ
Ｃカード４に記録される。

【００１５】従来のディジタルカメラにおいては、ＣＣ
Ｄイメージャ１２から得られる撮像データに上述の如く
画素欠陥補正処理を施すことによって、ＩＣカード４に
記録される画像における白点欠陥の発生が防止されてい
る。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のディジタルカメラにおいては、ディジタルカメラの
調整工程における撮影条件と同程度の条件で撮影が行な
われた場合、ＩＣカード４に記録される画像における白
点欠陥の発生を防止することができるが、上記調整工程
における撮影条件よりも厳しい条件で撮影が行なわれた
場合、例えば被写体が夜景であって露光時間が１秒以上
の長時間に設定されて撮影が行なわれた場合や、撮影感
度を向上させるべく図５のＡＧＣ回路２２のゲイン値を
大きな値に設定されて撮影が行なわれた場合には、上記
１６個の画素を対象として画素欠陥補正処理を行うだけ
では足りず、ＩＣカード４に記録される画像に、通常撮
影時には画素欠陥補正処理の対象とする必要のない画素
が白点欠陥となる問題があった。

【００１７】そこで、画素欠陥補正処理の対象とする画
素の個数を例えば５００個程度にまで増加させることが
考えられるが、この場合、従来、画素欠陥補正処理の対
象とする必要のない画素をも対象として該補正処理が行
なわれることになるため、ＩＣカード４に記録される画
像が不自然となる問題がある。

【００１８】また、ＣＣＤイメージャの経年変化による
素子の劣化や、外的要因による素子の欠損などにより、
前記調整工程において、欠陥画素として前記フラッシュ
メモリ６に記憶されている以外にも、新たに白点欠陥画
素となる劣化問題と、そして、ＣＣＤイメージャの周辺
温度が上昇することにより、従来、画素欠陥補正処理の
対象とする必要のない画素からの出力信号が白点欠陥画
素となる誤動作問題がある。

【００１９】これら前記調整工程以降に新たに欠陥画素
となる場合には、前記フラッシュメモリ６に反映されな
いことになる。

【００２０】さらに、撮像光学系に設けられた色フィル
タの種類によっては、各画素に配された色による感度が
異なるために、画素によっては目立ちやすいものと目立
ちにくいものが発生する。そのため、欠陥画素の判定閾
値が同じであると、特定の色フィルタが配された画素が
いつも欠陥画素の対象になってしまう問題がある。

【００２１】そこで、本発明の目的は、色フィルタの種
類による感度誤差を軽減し、補正対象画素の色による偏
りを無くすとともに、露光時間を長時間にした撮影、撮
影感度を向上した撮影、ＣＣＤイメージャの経年変化、
ＣＣＤイメージャの新たな欠損、およびＣＣＤイメージ
ャの周辺温度上昇によるＣＣＤイメージャの誤動作等に
よる欠陥画素の増加が発生する場合でも、ＩＣカード４
に現れる白点欠陥画素等の画素欠陥を適切に補正し、し
かも、通常撮影時において記録画像が不自然となること
が少ないディジタルカメラ等の撮像装置を提供するもの
である。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本発明に係る撮像装置
は、複数種類の色フィルタのいずれかが択一的に配され
た画素を複数個有する固体撮像素子を具えた撮像光学系
と、撮像光学系によって撮影された画像を基に前記画素
の欠陥を検出する欠陥画素検出手段と、欠陥と判断され
た画素の信号に対して画素欠陥補正処理を施す補正処理
手段とを具える。

【００２３】そして、前記欠陥画素検出手段は、以前に
検出された欠陥補正対象画素の位置及び温度の情報から
なる欠陥画素情報テーブルを記憶する記憶手段と、前記
欠陥画素情報テーブルに記録された温度と撮影時の固体
撮像素子の周辺温度と比較し、前記欠陥画素情報テーブ
ルを利用して画素欠陥補正をするか否かを判断する判定
手段と、該判定手段で前記欠陥画素情報テーブルを利用
しないと判断した場合、新たな欠陥画素情報を検出し、
前記欠陥画素情報テーブルを更新するテーブル更新手段
とを具える。

【００２４】さらに、固体撮像素子の各画素における色
フィルタの種類に応じて、各画素から得られる撮像信号
を所定数倍する色補正手段と、該色補正手段の出力レベ
ルを閾値と比較する比較手段とを具え、前記補正処理手
段は、該比較手段にて前記閾値を上回ると判断された画
素を欠陥補正処理対象画素として欠陥補正を為す第２補
正手段を具える。

【００２５】前記判定手段で、前記欠陥画素情報テーブ
ルの更新が必要と判断した場合、使用者に更新要否の判
断を確認する指示確認手段を具える。前記テーブル更新
手段には、撮影終了時または装置電源切断時に、更新時
の前記欠陥判定閾値を登録する閾値登録手段を具える。
また、一連の画素欠陥検出処理を、使用者が撮影時とは
別に任意に行える画素欠陥検出指示手段を具える。

【００２６】本発明の撮像装置は、撮影条件または前記
固体撮像素子に関する関連情報に応じて、欠陥補正対象
画素数が所定の上限値を超えないように、前記欠陥判定
閾値を変更させる。具体的には、前記撮影条件は、露光
時間または撮影感度であり、前記関連情報は、前記固体
撮像素子の周辺温度、稼動時間または稼動回数である。

【００２７】さらに、前記閾値変更手段は、長時間露光
の指示や固体撮像素子の高温など欠陥画素が大幅に増え
る前記撮影条件や前記関連情報を検出した際、欠陥補正
対象個数の前記所定上限値を増加させる上限値調整手段
を具え、前記色補正手段は、周辺温度が所定値以上であ
ることを検出すると、各画素における色フィルタの種類
に応じた輝度信号の前記所定数倍を、周辺温度に適応し
て変更する温度補正手段を具える。

【００２８】

【発明の実施の形態】以下、図面に従い、本発明の一実
施例について説明する。図１は、本発明に係る撮像装置
の構成を示す回路ブロック図である。

【００２９】撮像光学系１は、レンズ１０、シャッター
１１およびＣＣＤイメージャ１２で構成されており、撮
像対象は、レンズ１０を通し、シャッター１１を経て、
ＣＣＤイメージャ１２へ送られ、撮像データとして取り
込まれる。

【００３０】ＣＣＤイメージャ１２は、アナログ信号処
理回路２を介して信号処理回路３０に繋がっており、該
信号処理回路３０には、撮像光学系１によって撮影され
た画像を記録するためのＩＣカード４０、画像処理時に
使用されるＳＤＲＡＭ５０、及び撮像光学系１によって
撮影された画像を表示するためのＬＣＤモニタ７０が接
続されている。

【００３１】撮像光学系１、アナログ信号処理回路２及
び信号処理回路３０は、ＣＰＵ８０に接続され、該ＣＰ
Ｕ８０によって動作が制御されている。ＣＰＵ８０に
は、操作部９０と温度センサー１００が接続されてい
る。操作部９０は、レリーズボタンなど使用者の指示を
受ける各種ボタンが設けられており、前記ＣＰＵ８０に
使用者の指示操作に応じた制御信号が送られる。温度セ
ンサー１００は、ＣＣＤイメージャ１２の周辺温度を検
出し、前記ＣＰＵ８０に入力される。

【００３２】上記アナログ信号処理回路２においては、
ＣＣＤイメージャ１２から得られる撮像データは、先
ず、ノイズ除去回路２１に入力されてノイズが除去さ
れ、続いて、ＡＧＣ回路２２に入力されてゲイン調整さ
れた後、Ａ／Ｄ変換回路２３に入力されてディジタルの
撮像データに変換される。この様にして得られたディジ
タル撮像データは、信号処理回路３０に入力され、ＳＤ
ＲＡＭ５０に一時的に保持される。

【００３３】ＣＰＵ８０では、撮影時のＣＣＤイメージ
ャの周辺温度とフラッシュメモリ６０に保持されている
欠陥画素情報テーブルの検出温度とが比較され、温度差
が算出される。算出された温度差がある所定値を超える
と、信号処理回路３０では、新たに画素欠陥検出処理が
施され、検出された画素欠陥補正対象の各画素に対し
て、周知の画素欠陥補正処理が施されて、画素欠陥補正
がなされたディジタル撮像データとしてＳＤＲＡＭ５０
に保持される。算出された温度差が所定値以下であれ
ば、既にフラッシュメモリ６０に保持されている欠陥画
素情報テーブルを利用して、画素欠陥補正対象の各画素
を決定し、各画素に周知の画素欠陥補正処理が施され
る。

【００３４】画素欠陥補正されたディジタル撮像データ
は、信号処理回路３０にてモニタ表示のためのビデオ信
号処理が施され、ＬＣＤモニタ７０に表示される。ま
た、信号処理回路３０にて、色のバランスを調整するホ
ワイトバランス処理等の所定の画像処理、及びＪＰＥＧ
方式による圧縮処理が施され、ＩＣカード４０にＪＰＥ
Ｇ圧縮画像データとして記録される。

【００３５】算出された温度差が所定値以上になると、
画素欠陥検出処理が動作する。先ず、シャッター１１を
閉じた状態で、ＣＣＤイメージャ１２から得られる撮像
データに、前述のように、アナログ信号処理回路２の信
号処理が施され、信号処理回路３０にディジタル撮像デ
ータとして入力される。

【００３６】ここで、ＣＣＤイメージャ１２に配された
色フィルタの種類（例えば、原色フィルタでは、赤
（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ））によって感度が異なるた
め、ＣＣＤイメージャ１２からの出力信号のレベル値に
色フィルタの種類による輝度差が生じる。そこで、図２
のように、各画素に配された色フィルタの種類は特定で
きることから、各画素の出力信号のレベル値をそれぞれ
ｎ_R倍、ｎ_G倍、ｎ_B倍（実験的に求めた数値で、ここで
は、それぞれ２倍、４倍、1倍である。）することで、
色種類による誤差を軽減する色種類補正処理が施され
る。

【００３７】色種類補正処理が施されたディジタル撮像
データは、画素毎に位置情報と出力信号のレベル値を一
対として、ＳＤＲＡＭ５０に保持されており、出力信号
のレベル値の大きい順に並べ替えられたのち、画素欠陥
の判定閾値より大きい値で、かつ、画素欠陥対象個数を
越えないように、出力信号レベル値の大きい順から画素
欠陥の対象画素と判定する欠陥画素判定処理が施され
る。この際、画素欠陥対象個数がカウントされ、所定値
（例えば２００個）になると、画素欠陥の判定処理が終
了し、所定値個数分の欠陥画素が対象と判定される。画
素欠陥の対象個数が所定値未満であれば、判定された欠
陥画素が全て補正の対象となり、ＳＤＲＡＭ５０に、フ
ラッシュメモリ６０に保持された欠陥画素情報テーブル
と同じテーブルが作成され、撮影時のＣＣＤイメージャ
の周辺温度Ｔ℃とともに、記録される。具体例として、
図３（ａ）のように、ＣＣＤイメージャ１２に欠陥画素
（ｘ０、ｙ０）が存在した場合、図３（ｂ）のような欠
陥画素の位置情報とその出力信号のレベル値からなる欠
陥画素情報テーブルが作成され、撮影時のＣＣＤイメー
ジャの周辺温度Ｔ℃も同時に記録される。

【００３８】通常、撮影記録間隔の長い静止画撮影にあ
わせて、欠陥画素の対象個数を設定しているが、撮影記
録間隔の短い連写または動画撮影の場合は、欠陥画素の
対象個数を制限させて（例えば５０個）、画素欠陥の検
出および補正処理が施される。このとき、前述と同様
に、出力信号のレベル値の大きい順に並べることで、画
素欠陥が目立ちやすい画素から補正することができる。

【００３９】前述のように、新たに検出された欠陥画素
情報テーブルは、一先ずＳＤＲＡＭ５０に保持されてお
り、撮影終了後、ＬＣＤモニタ７０上に、該テーブルを
更新するかどうかを使用者に要否判断を確認する指示確
認画面を表示する。更新必要と判断されれば、フラッシ
ュメモリ６０に保持された欠陥画素情報テーブルが更新
される。また、更新不要と判断されれば、ＳＤＲＡＭ５
０に保持された新たに検出された該テーブルは、すぐに
破棄されるか、または、装置の通電中は保持し、電源切
断時に、破棄される。

【００４０】このとき、使用者が要否判断を行うときの
参考情報として、ＬＣＤモニタ７０に表示された前記指
示確認画面に、前記テーブルの更新必要と判断されたＣ
ＣＤイメージャの周辺温度または前記温度差を表示させ
てもよい。これにより、異常高温など異常検出動作によ
って作成されたテーブルを、更新の必要性を使用者に確
認することができる。

【００４１】また、該温度差が所定値を超えたことで、
該テーブルの更新が必要と判定された場合に、検出され
た該テーブルを、フラッシュメモリ６０に保持された欠
陥画素情報テーブルに、自動的に更新させてもよい。

【００４２】以上のように、ＣＣＤイメージャの周辺温
度の値により、既に保持されている欠陥画素情報テーブ
ルを用いて欠陥画素を決定するか、または、画素欠陥検
出処理が施され新たに欠陥画素情報テーブルを算出して
欠陥画素を決定するかのどちらかの方法で、欠陥画素が
特定される。

【００４３】特定された欠陥画素に対して、画素欠陥補
正処理が施される。この補正処理は、特定された欠陥画
素の周辺画素にて補間する周知の技術であるので、詳し
い説明は省略するが、欠陥画素を同色の色フィルタが配
された周辺画素で置換する方法、または、欠陥画素と同
色の複数の周辺画素から求めた平均値で置換する方法の
いずれかを用いる。

【００４４】次に、図４の本発明の一実施例である撮像
装置の動作フロー図を用いて説明する。図４は、撮影か
ら欠陥画素の検出を含めた記録媒体への記録までを説明
したものである。

【００４５】ステップＳ１において、使用者が操作部９
０で、本撮像装置を撮影モードに切り換える指示を行う
と、ステップＳ２で、ＣＰＵ８０は、温度センサー１０
０でＣＣＤイメージャの周辺温度の測定を開始する。ス
テップＳ３にて、操作部９０にあるレリーズボタンが押
下されると、ステップＳ４において、ＣＣＤイメージャ
１２からアナログ信号処理回路２を通して、ディジタル
撮像データが信号処理回路３０に取り込まれると同時
に、温度センサー１００で測定された撮影時のＣＣＤイ
メージャの周辺温度をＣＰＵ８０が記録する。

【００４６】ステップＳ５において、フラッシュメモリ
６０に保持された欠陥画素情報テーブルの温度Ｔと、今
回測定された温度Ｔ₁とを比較する。温度差“Ｔ₁−Ｔ”
がある所定値以上であれば、ステップＳ６に進み、所定
値未満であれば、ステップＳ１０に進む。

【００４７】ステップＳ６では、ＣＣＤイメージャ１２
の色フィルタの種類に応じて、各画素に色補正処理が施
される。そして、ステップＳ７で、色補正処理された各
画素に対して画素欠陥検出処理が施され、ＳＤＲＡＭ５
０に新たな欠陥画素情報テーブルが作成される。ステッ
プＳ８にて、ＬＣＤモニタ７０に、検出された該テーブ
ルを既存の欠陥画素情報テーブルと更新させるかどうか
の確認画面を表示させる。更新必要であれば、更新フラ
グを“１”に設定され、更新不要であれば、更新フラグ
を“０”に設定される。

【００４８】ステップＳ９において、ステップＳ７で作
成された新たな欠陥画素情報テーブルを用いて欠陥画素
を特定し、特定された画素に対して補正処理が施され、
ステップＳ１１に進む。

【００４９】ステップＳ１０では、ステップＳ５にて、
温度差が所定値未満ということから、既存テーブルを用
いて欠陥画素を特定し、特定された画素に対して補正処
理が施され、ステップＳ１１に進む。

【００５０】ステップＳ１１において、欠陥画素補正が
施されたディジタル撮像データに、色のバランスを調整
するホワイトバランス処理等の所定の画像処理、及びＪ
ＰＥＧ方式による圧縮処理が施され、ＩＣカード４０に
ＪＰＥＧ圧縮画像データとして記録されて、ステップＳ
１２に進む。

【００５１】ステップＳ１２では、ステップＳ７での更
新フラグが“１”の場合に、ＳＤＲＡＭ５０に保持され
た新たな欠陥画素情報テーブルを、フラッシュメモリ４
０に保持された既存の欠陥画素情報テーブルに上書き更
新され、ステップＳ１３にて、単写（１枚撮像）の場合
の処理が終了する。通常は、ステップＳ３に戻り、次の
撮像指示を待つことになる。

【００５２】本発明の他の実施例によれば、使用者によ
って、撮像装置が長時間露光の撮像モードに設定された
場合、撮像動作に入る前に、画素欠陥検出処理が施され
る。この検出処理では、画素欠陥の判定閾値を変更し
て、画素欠陥対象個数の所定値を増加させる（例えば５
００個）。

【００５３】画素欠陥の対象個数が増加された新たな欠
陥画素情報テーブルが作成され、ＳＤＲＡＭ５０に保持
される。その後、レリーズボタン押下により、ＣＣＤイ
メージャ１２から撮像データが取り込まれ、アナログ信
号処理回路２を介して、信号処理回路３０にディジタル
撮像データが入力される。そして、ＳＤＲＡＭ５０に保
持された該テーブルを用いて、画素欠陥補正処理が施さ
れる。このとき、フラッシュメモリ４０へのテーブル更
新確認は表示されず、また、テーブルの温度差を判定す
る判定処理も施されない。これにより、長時間露光によ
って正常な画素が欠陥画素と同様の出力となっても、適
切に補正することができる。

【００５４】また、ＣＣＤイメージャ１２の周辺温度が
異常高温になった場合には、上記の長時間露光と同様
に、画素欠陥の判定閾値を変更して、画素欠陥対象個数
の所定値を増加させる。これにより、異常高温によって
欠陥画素と同様の出力を示す正常な画素が増えても、適
切な補正を施すことができる。

【００５５】本発明の上記両実施例において、検出され
た欠陥画素情報テーブルが更新される場合、画素欠陥対
象個数の所定値に達したときの画素欠陥の判定閾値は、
撮像装置の電源断時にフラッシュメモリ４０に記録され
る。これにより、画素欠陥の判定閾値を、ＣＣＤイメー
ジャ１２の経年変化や温度変化等によって増加する欠陥
画素の検出に追随させることができる。

【００５６】さらに、ＣＣＤイメージャ１２の周辺温度
が予め設定された温度以上になると、前記色種類補正処
理において、色フィルタの緑（Ｇ）に相当する画素の出
力信号のレベル値をさらに大きくさせて、それぞれｎ_R
倍、ｍ_G倍、ｎ_B倍（実験的に求めた数値、ｍ_G＞ｎ_Gで、
ここでは、それぞれ2倍、6倍、1倍である。）とする。
これにより、温度変化に左右されにくい緑（Ｇ）のレベ
ル値を他の色と同等レベルまで引き上げて、温度によっ
て生じる色種類による誤差を軽減させることができる。

【００５７】本発明のさらに他の実施例によれば、ＣＣ
Ｄイメージャ１２への電源供給時間または稼動回数をカ
ウントする計時回路を設けて、ＣＰＵ８０により時間ま
たは回数をフラッシュメモリ４０に保持させるように構
成させる。また、フラッシュメモリ４０に保持された欠
陥画素情報テーブルが更新されたときに、前記時間また
は前記回数を０に戻す初期化処理をするように構成させ
る。そして、前記時間または前記回数が、所定数値以上
になれば、画素欠陥検出処理を自動的に施すように構成
させ、欠陥画素情報テーブルを更新させるようにする。
これにより、欠陥画素情報テーブルが長期にわたり更新
されずに、ＣＣＤイメージャ１２が稼動されているよう
な場合に、所定時間または所定回数稼動ごとに、画素欠
陥検出処理が施されることで、ＣＣＤイメージャ１２に
新たに画素欠陥が発生しても、適切に欠陥画素情報テー
ブルが更新され、欠陥画素補正処理が施されることにな
る。

【００５８】さらに、本発明の撮像装置では、ＣＣＤイ
メージャ１２の温度変化および経年変化によって、画素
欠陥検出処理を行い、前記テーブルを更新して補正処理
を施しているが、操作部９０から使用者の指示により画
素欠陥検出処理を行い、前記テーブルを更新するように
構成することで、使用者が新たな欠陥画素を発見した場
合などに、前記テーブルを適切に更新することができ
る。

【００５９】尚、本発明の撮像装置は、上記した実施の
形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱し
ない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論であ
る。

【００６０】例えば、固体撮像素子として、ＣＣＤイメ
ージャについて説明したが、ＣＭＯＳセンサーであって
もよい。

【００６１】

【発明の効果】以上、説明したように本発明の撮像装置
によれば、固体撮像素子の画素欠陥に影響を与える経年
変化や温度変化に対応した画素欠陥補正をすることがで
きる。また、固体撮像素子に配された色フィルタの種類
により発生する誤差を軽減することができる。さらに、
長時間露光によって発生するより目立ちやすい欠陥画素
を、補正の対象にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る撮像装置の一実施例の構成を示す
回路ブロック図である。

【図２】固体撮像素子に配される原色フィルタの配置例
を示す図である。

【図３】ＣＣＤイメージャの画素欠陥イメージとフラッ
シュメモリに保持される欠陥画素情報テーブルの一例を
示す図である。

【図４】本発明に係る撮像装置の一実施例の動作フロー
図である。

【図５】従来のディジタルカメラの構成を示す回路ブロ
ック図である。

【符号の説明】

１撮像光学系１０レンズ１１シャッター１２ＣＣＤイメージャ２アナログ信号処理回路２１ノイズ除去回路２２ＡＧＣ回路２３Ａ／Ｄ変換回路３０信号処理回路４０ＩＣカード５０ＳＤＲＡＭ６０フラッシュメモリ７０ＬＣＤモニタ８０ＣＰＵ９０操作部１００温度センサー

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考） // Ｈ０４Ｎ 101:00 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１ＣＦターム(参考） 2H054 AA01 5B057 BA30 CA01 CA16 CB01 CB16 CE02 CH07 CH11 5C024 BX01 CX23 CX24 CX27 DX04 EX15 GY01 GY31 HX18 HX23 HX29 HX32 HX57 HX58 5C065 AA03 BB23 DD02 DD15 GG13 GG31 5C077 LL02 LL06 LL11 MM03 MP08 PP02 PP77 PQ22

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数種類の色フィルタのいずれかが択一
的に配された画素を複数個有する固体撮像素子を具えた
撮像光学系と、該撮像光学系によって撮影された画像を
基に前記画素の欠陥を検出する欠陥画素検出手段と、欠
陥と判断された画素の信号に対して画素欠陥補正処理を
施す補正処理手段とを具えた撮像装置において、以前に
検出された欠陥補正対象画素の位置及び温度の情報から
なる欠陥画素情報テーブルを記憶する記憶手段と、前記
欠陥画素情報テーブルに記録された温度と撮影時の固体
撮像素子の周辺温度を比較し、前記欠陥画素情報テーブ
ルを利用して画素欠陥補正をするか否かを判断する判定
手段と、該判定手段で前記欠陥画素情報テーブルを利用
しないと判断した場合、新たな欠陥画素情報を検出し、
前記欠陥画素情報テーブルを更新するテーブル更新手段
を具える撮像装置。
【請求項２】撮像装置の撮影条件または前記固体撮像
素子に関する関連情報に応じて、欠陥補正対象画素数が
所定の上限値を超えないように、欠陥判定閾値を変更さ
せる閾値変更手段を具える請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】前記撮影条件は、露光時間または撮影感
度であり、前記関連情報は、前記固体撮像素子の周辺温
度、稼動時間または稼動回数であることを特徴とする請
求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】前記閾値変更手段は、長時間露光の指示
や固体撮像素子の高温など欠陥画素が大幅に増える前記
撮影条件や前記関連情報を検出した際、欠陥補正対象個
数の前記所定上限値を増加させる上限値調整手段を具え
る請求項１ないし請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】前記テーブル更新手段には、撮影終了時
または装置電源切断時に、欠陥画素検出時の前記欠陥判
定閾値を登録する閾値登録手段を具える請求項１ないし
請求項２に記載の撮像装置。
【請求項６】前記判定手段で、前記欠陥画素情報テー
ブルの更新が必要と判断した場合、使用者に更新要否の
判断を確認する指示確認手段を具える請求項１に記載の
撮像装置。
【請求項７】複数種類の色フィルタのいずれかが択一
的に配された画素を複数個有する固体撮像素子を具えた
撮像光学系と、該撮像光学系によって撮影された画像を
基に前記画素の欠陥を検出する欠陥画素検出手段と、欠
陥と判断された画素の信号に対して画素欠陥補正処理を
施す補正処理手段とを具えた撮像装置において、前記固
体撮像素子の各画素における色フィルタの種類に応じ
て、各画素から得られる撮像信号を所定数倍する色補正
手段と、該色補正手段の出力レベルを欠陥判定閾値と比
較する比較手段とを具え、前記補正処理手段は、該比較
手段にて前記欠陥判定閾値を上回ると判断された画素を
欠陥補正処理対象画素として欠陥補正を為す欠陥補正手
段を具える撮像装置。
【請求項８】前記色補正手段は、前記固体撮像素子の
周辺温度が所定値以上であることを検出すると、各画素
における色フィルタの種類に応じた輝度信号の前記所定
数倍を、前記周辺温度に適応して変更する温度補正手段
を具える請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】一連の画素欠陥検出処理を、使用者が撮
影時とは別に任意に指示できる画素欠陥検出指示手段を
具える請求項１ないし請求項８に記載の撮像装置。