JP2000258431A

JP2000258431A - 自動分析装置

Info

Publication number: JP2000258431A
Application number: JP6712199A
Authority: JP
Inventors: Naoki Oe; 直樹大江; Toshiaki Nakazato; 俊章中里
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 1999-03-12
Filing date: 1999-03-12
Publication date: 2000-09-22

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】装置を大型化せず、一般試料と標準試料との混
同を防止して多くの試料、特にキャリブレーション用標
準試料を架設可能とした自動分析装置を実現する。【解決手段】キャリブレーション用標準試料のみを架
設する第１の架設分類と、キャリブレーション用標準試
料と精度管理用標準試料とを混在させて架設する第２の
架設分類と、濃度のわかっていない一般試料のみを架設
する第３の架設分類のうちいずれか一つを選択し選択架
設サンプラ２２に架設し、この架設分類を第１の登録画
面により架設分類を登録し、当該登録された架設分類に
応じて架設手段の駆動制御を行う制御部とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、自動分析装置に関
し、特にその試料の架設手段及び架設方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、治療や検査を目的として、血
液、尿、髄液等の体液や組織を試料（検体）として分析
し、成分濃度等を調べる方法の一つとして、キャリブレ
ーションによる方法がある。これは、まず、予め濃度の
わかっている試料（以下、標準試料と呼ぶ）について、
濃度と吸光度についての相関関係を表す検量線を立てる
（以下、キャリブレーションと呼ぶ）。そして、濃度が
わかっていない患者等の試料（以下、一般試料と呼ぶ）
の吸光度の測定を行い、この測定データと上記検量線よ
り各成分の濃度を換算する方法である。

【０００３】上記キャリブレーションにより試料を分析
し、成分濃度等を調べる手順を自動化した装置として、
自動分析装置がある。この自動分析装置により一度に大
量の試薬の分析、濃度演算等が可能であり、病院、検査
機関等において広く利用され作業性の向上に大きく貢献
している。

【０００４】図６は従来の自動分析装置１を示したもの
である。

【０００５】図６において、円形サンプラ２は、検査対
象である試料を二重円状に架設する架設手段である。こ
の円形サンプラ２には、試料の熱による品質変化や蒸発
を防止するため保冷手段が設けてあり、キャリブレーシ
ョン用標準試料若しくは一般試料又は後述する精度管理
用標準試料を入れた試料容器２０１が架設される。

【０００６】なお、キャリブレーション用標準試料及び
後述する精度管理用標準試料は濃度演算の基準とするも
のであるから、円形サンプラ２に常設することが多く、
一方、一般試料は患者ごとに異なるものであるから、検
査毎に入れ替わるものである。

【０００７】試料容器２０１（試験管等）中の上記各試
料は、試料分注機構３により定量取り出され、硬質ガラ
ス等からなる複数の反応管４へ分注される。反応管４
は、例えば試料が血清であれば、人体温度（約３７℃）
程度に保たれる状態になっている。

【０００８】各試薬庫５、６中には、測定したい成分
（測定項目）に反応する各種試薬が、各試薬容器５１、
６１に格納されて設置されている。各試薬は、必要に応
じ各分注機構７、８によって反応管４に定量分注され
る。

【０００９】試薬が分注された後、攪拌子を有する攪拌
部９により、反応管４中の試料と試薬は攪拌、混合され
る。

【００１０】そして、図示していない測光部において、
比色法と呼ばれる方法により、試薬を添加された試料の
発色状態等の反応過程を、当該試料の吸光度を測定する
ことにより光学的に測定する。この測定結果を基に、図
示していないデータ制御部においてキャリブレーション
による方法で分析成分の濃度演算若しくはキャリブレー
ションが行われる。

【００１１】また、電解質測定部１０により特定の電解
質の測定が行われ、前記特定成分量分析及び電解質測定
の後、洗浄部１１により反応管４は洗浄される。

【００１２】これら一連の動作により、サンプラ２にセ
ットされた一般試料の分析が行われる。

【００１３】上述したように、キャリブレーション用標
準試料は通常円形サンプラ２に常設される。しかし、測
定したい成分、すなわち測定項目によりその検量線が有
効とされる有効期限が決まっており、この有効期限切
れ、若しくは試料の腐敗の変化に応じて常設する標準試
料を更新しなければならない。現在では、自動的にこの
標準試料を更新しキャリブレーションを行う自動キャリ
ブレーション機能を有する自動分析装置１がある。

【００１４】また、実際の分析調査においては、装置の
安定性を検証する観点から、キャリブレーション用標準
試料とは別の標準試料（以下、精度管理用標準試料）を
少なくとも一つ測定し、その結果を検討することで精度
管理が行われる。

【００１５】精度管理用試料、キャリブレーション用標
準試料、一般試料は、それぞれ使用目的が異なる。ま
た、一般試料は患者の検体であり、標準試料は基準とな
るものである。従って、前記三種の試料を円形サンプラ
２に架設する場合、混同しないよう注意が払われる。

【００１６】図７は、図６に示した従来の二重円状の円
形サンプラ２の上面図である。

【００１７】従来においては、自動キャリブレーション
若しくは精度管理に使用する標準試料は外周２２１へ、
一般試料は内周２２２へ分類し架設する構成としてい
た。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、測定
項目の増加や更に詳細な検量線を立てることが要請され
てきている。

【００１９】この要請に伴って、自動分析装置のサンプ
ラには、多大な量の標準試料、一般試料の架設が必要に
なってきた。しかも、自動キャリブレーションを可能と
するためには、標準試料が常設可能な架設箇所の数が多
いことが好ましい。

【００２０】自動分析装置１に備えられた円形サンプラ
２は、試料の品質変化や蒸発を防止するため保冷機能を
有しているから、長期に渡り使用する試料を架設するの
に適している。しかし、円形サンプラ２の外周２２１が
架設可能な試料容器２０１数には限界がある。

【００２１】また、外周２２１のみならず、内周２２２
にも標準試料を架設し一般試料と混在させるのは、試料
の混同を招く恐れがある。

【００２２】さらに、保冷機能を有する円形サンプラ２
自体の大型化は、装置１全体のサイズを変更せざるを得
ない程の大きなものとなり、装置の操作性の悪化、設置
制限、コストの上昇を招く結果となる。

【００２３】一方、図示していないが、円形サンプラ２
以外の試料容器架設手段として、ラックサンプラがあ
る。これは、オペレータにより選択的に自動分析装置１
に設置されるものであり、ラックを増やせば試料容器２
０１の架設数も増やすことができ、一時的に試料を追加
する場合に適している。しかし、当該ラックサンプラに
よる試料の保冷は、装置の構造上困難である。

【００２４】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記事情に鑑
みてなされたもので、装置自体を大型化せず、一般試料
と標準試料との混同を防止して多くの試料、特にキャリ
ブレーション用標準試料を架設可能とした自動分析装置
の実現を目的とする。

【００２５】本発明は、試料を架設する架設手段と、前
記架設手段の架設分類を入力する入力手段と、前記入力
手段によって入力された架設分類に応じた制御を行う制
御手段とを具備する自動分析装置である。

【００２６】このような構成によれば、標準試料の数に
応じて架設手段の架設分類を選択でき、従来の自動分析
装置と比較して多数の標準試料を架設することができ
る。

【００２７】その結果、試料の混同を防止し、更なる測
定項目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としな
がらも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コ
ストを同程度に維持することができる。

【００２８】また、本発明は、試料を架設する架設手段
と、キャリブレーション用標準試料のみを架設する第１
の架設分類とキャリブレーション用標準試料と精度管理
用標準試料とを架設する第２の架設分類と濃度のわかっ
ていない一般試料のみを架設する第３の架設分類のうち
いずれか一つを前記架設手段に架設する試料の架設分類
として入力する第１の架設分類入力手段と、前記第１の
架設分類入力手段により入力された架設分類に応じた制
御を行う制御手段とを具備する自動分析装置である。

【００２９】このような構成によれば、従来の自動分析
装置と同様の機能に加えて、架設分類の選択により、さ
らに多数の標準試料を架設し測定するすることもでき
る。

【００３０】その結果、試料の混同を防止し、更なる測
定項目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としな
がらも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コ
ストを同程度に維持することができる。

【００３１】さらに、前記自動分析装置において、複数
ある試料を前記架設分類による複数の試料群に分類し各
試料群に応じて架設分類を入力する第２の架設分類入力
手段をさらに具備する自動分析装置である。

【００３２】このような構成によれば、試料セットが複
数ある場合においても、各試料セットごとに架設分類を
登録することができる。

【００３３】その結果、一度登録すれば各試料セットに
応じた架設分類は決まるから、同一の試料セットで測定
を行う場合再び登録する手間を省くことができる。

【００３４】また、複数の試料セットについて測定を行
う場合であっても、試料の混同を防止し、更なる測定項
目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としながら
も、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コスト
を同程度に維持することができる。

【００３５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１実施形態及び
第２実施形態を図面に従って説明する。

【００３６】なお、以下の説明において、本発明に係る
自動分析装置の外観図は、円形サンプラ２が円形サンプ
ラ２０に代わることを除けば図６と同様であるから、同
図を援用するものとする。

【００３７】（第１実施形態）図１は、第１の実施の形
態に係る自動分析装置１において、円形サンプラ２の代
わりに設けられる円形サンプラ２０の概略構成を示して
いる。

【００３８】図１において、円形サンプラ２０の二重円
状の架設手段のうち、外側の円周上の標準試料専用サン
プラ２１は、キャリブレーション用標準試料や精度管理
用標準試料、試料容器２０１を洗うための洗剤用試料を
常設する架設手段であり、４５個の架設箇所を有してい
る。この標準試料専用サンプラ２１には、試薬混同防止
の観点から、一般試料は架設せず、原則として常設する
標準試料や洗剤用試料を架設する。

【００３９】一方、内側の円周上の選択架設サンプラ２
２は、常設する標準試料や洗剤用試料に限定せず、臨時
の測定項目の増加等必要に応じて標準試料、洗剤試料、
一般試料を架設する架設手段である。すなわち、オペレ
ータは、キャリブレーション用標準試料のみ架設する第
１の架設分類、キャリブレーション用標準試料と精度管
理用標準試料とを混在させる第２の架設分類、測定対象
である一般試料のみ架設する第３の試料架設分類のうち
から一つ選択し、当該選択した試料分類に応じて選択架
設サンプラ２２に試料を架設する。この選択架設サンプ
ラ２２は、標準試料専用サンプラ２１と別駆動になって
おり、３０個の架設箇所を有している。

【００４０】なお、図示していないが、自動分析装置１
は、熱による試料の品質変化や蒸発を防止するため、標
準試料専用サンプラ２１及び選択架設サンプラ２２を保
冷する保冷手段を有している。

【００４１】図２は、選択架設サンプラ２２の架設分類
を測定条件として登録するための第１の登録画面であ
り、自動分析装置１が有する図示していない表示部に表
示される。この表示画面の表示内容は、架設分類を登録
するための項目「一般試料測定」、「キャリブレーショ
ン」、「選択架設サンプラを標準試料用に使用」と、自
動分析装置１の駆動を制御するための項目「測定開
始」、当該第１の登録画面を終了するための項目「キャ
ンセル」に分類されている。オペレータは、この登録画
面によって架設分類を登録する。

【００４２】次に、上記構成を有する自動分析装置の動
作を説明する。

【００４３】最初に、臨時に測定項目を大量に増やした
い等の要請により、一時的に選択架設サンプラ２２にも
キャリブレーション用標準試料を架設する場合について
述べる。この場合、キャリブレーション用標準試料は、
測定標準試料専用サンプラ２１の４５箇所と選択架設サ
ンプラ２２の３０箇所とで最大７５箇所に架設すること
ができる。

【００４４】なお、精度管理用標準試料と一般試料は、
図示していないラックサンプラに試料が混同しないよう
に架設される。

【００４５】また、洗剤用試料をｎ個常設したい場合に
は、標準試料専用サンプラ２１に架設する。ここで、洗
剤用試料の架設を標準試料専用サンプラ２１に限ったの
は、常設する試料にいついては常に標準試料専用サンプ
ラ２１に架設することで、一時的に架設する試料との混
同を防止するためである。このとき、キャリブレーショ
ン専用標準試料は、最大７５−ｎ個の架設が可能であ
る。

【００４６】まず、上記要請に必要な各キャリブレーシ
ョン用標準試料を標準試料専用サンプラ２１及び選択架
設サンプラ２２に架設する。このとき、常設するキャリ
ブレーション用標準試料は標準試料専用サンプラ２１
へ、一時的に使用するキャリブレーション用標準試料は
選択架設サンプラ２２へ架設する。

【００４７】次に、図２に示した第１の登録画面で、選
択架設サンプラ２２に架設した試料セットの架設分類を
測定条件として登録する。今の場合、選択架設サンプラ
２２に架設されているのはすべてキャリブレーション用
標準試料であるから、「選択架設サンプラを標準試料用
に使用」と「キャリブレーション」の双方の項目をＯＮ
に設定して（所定の入力デバイスでチェックを入れ
る）、架設分類を登録する。登録の訂正は、前記入力デ
バイスで各項目のチェックを外せばよい。

【００４８】ここで、項目「一般試料測定」のＯＮ設定
と項目「選択架設サンプラを標準試料用に使用」のＯＮ
設定とは、機能的に試料の混同を防止するため排他的論
理になっている。

【００４９】このような構成によれば、項目「一般試料
測定」と項目「選択架設サンプラを標準試料に使用」と
が同時にＯＮ設定になることはなく、選択架設サンプラ
２２に架設された試料が標準試料か一般試料かを正確に
把握できる。

【００５０】次に、「測定開始」を選択することによ
り、自動分析装置１は測定動作を開始し、図示していな
いデータ制御部において、登録された架設分類に応じた
データ処理、すなわちキャリブレーションが行われる。

【００５１】なお、図示していないラックサンプラに架
設された精度管理用試料と一般試料の測定も同時進行さ
れる。

【００５２】このような構成によれば、臨時に測定項目
を大量に増やしたい等の要請により多数の標準試料につ
いてのキャリブレーションを希望する場合、標準試料専
用サンプラ２１のみならず選択架設サンプラ２２にもキ
ャリブレーション用標準試料を架設することができる。

【００５３】その結果、更なる測定項目の増加や詳細な
検量線を立てることを可能としながらも、装置を大型化
せず装置の操作性、設置制限、コストを同程度に維持す
ることができる。

【００５４】次に、測定項目の追加や詳細な検量線を立
てる等の要請により、４５個以上の標準試料のキャリブ
レーションと精度管理用標準試料の測定を必要とし、選
択架設サンプラ２２にも一時的に前記二種の標準試料を
架設する場合について説明する。このとき、キャリブレ
ーション用標準試料と精度管理用標準試料を合わせた最
大架設数が７５箇所であり、洗剤用試料を標準試料専用
サンプラ２１にｎ個常設するならば７５−ｎ箇所であ
る。

【００５５】なお、一般試料については、図示していな
いラックサンプラに架設される。

【００５６】まず、標準試料専用サンプラ２１及び選択
架設サンプラ２２に、上記要請に必要なキャリブレーシ
ョン用標準試料及び精度管理用標準試料を架設する。こ
のとき、常設するキャリブレーション用標準試料及び精
度管理用標準試料又は洗剤用試料は標準試料専用サンプ
ラ２１へ、一時的に使用するキャリブレーション用標準
試料及び精度管理用標準試料は選択架設サンプラ２２へ
架設する。

【００５７】次に、図２に示した第１の登録画面で、選
択架設サンプラ２２に架設した試料の架設分類を測定条
件として登録する。今の場合、選択架設サンプラ２２に
は、キャリブレーション用標準試料と精度管理用標準試
料が混在しているから、項目「選択架設サンプラを標準
試料用に使用」のみをＯＮに設定して架設分類を登録す
る。

【００５８】そして、「測定開始」を選択することによ
り測定動作を開始し、図示していないデータ制御部にお
いて、登録された架設分類に応じたデータ処理、すなわ
ちキャリブレーション及び精度管理が行われる。

【００５９】なお、図示していないラックサンプラに架
設された一般試料の測定も同時進行される。

【００６０】このような構成によれば、多数の標準試料
のキャリブレーションと精度管理用標準試料の測定を必
要とする場合、標準試料専用サンプラ２１のみならず選
択架設サンプラ２２にもキャリブレーション用標準試料
と精度管理用標準試料を架設することができる。

【００６１】その結果、更なる測定項目の増加、詳細な
検量線を立てること及び精密な精度管理を可能としなが
らも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コス
トを同程度に維持することができる。

【００６２】最後に、キャリブレーション、精度管理、
一般試料の成分測定及び濃度演算を必要とする場合につ
いて述べる。この場合は、標準試料専用サンプラ２１に
はキャリブレーション用標準試料及び精度管理用標準試
料又は洗剤用試料を架設し、選択架設サンプラ２２には
一般試料のみを架設する。これは、患者等の検体である
一般試料と標準試料との混同を防止するためである。従
って、架設キャリブレーション用標準試料と精度管理用
標準試料を合わせた架設数は、洗剤用試料を標準試料専
用サンプラ２１にｎ個常設するならば４５−ｎ箇所であ
り、洗剤用試料を架設しなければ最大架設数は４５箇所
である。また、一般試料の最大架設数は３０箇所とな
る。

【００６３】まず、キャリブレーション用標準試料及び
精度管理用標準試料を標準試料専用サンプラ２１に、一
般試料を選択架設サンプラ２２にそれぞれ架設する。

【００６４】次に、図２に示した第１の登録画面で、選
択架設サンプラ２２に架設した試料セットの架設分類を
測定条件として登録する。いまの場合、選択架設サンプ
ラ２２は、一般試料架設として使用するから、「一般試
料測定」の項目のみをＯＮに設定して架設分類を登録す
る。

【００６５】そして、「測定開始」を選択することによ
り測定を開始し、図示していないデータ制御部におい
て、登録された架設分類に応じたデータ処理、すなわち
キャリブレーション及び精度管理が行われる。

【００６６】架設分類に応じた選択架設サンプラ２２の
駆動制御を行う。

【００６７】このような構成によれば、キャリブレーシ
ョン、精度管理、一般試料の成分測定及び濃度演算を必
要とする場合、標準試料専用サンプラ２１にはキャリブ
レーション用標準試料と精度管理用標準試料を、選択架
設サンプラ２２には一般試料を架設することで、キャリ
ブレーション、精度管理、一般試料の成分測定及び濃度
演算を同時に混同のないように実行することができる。

【００６８】（第２実施形態）第１実施形態では、一時
的に使用するキャリブレーション用標準試料、精度管理
用標準試料、一般試料の数によって選択架設サンプラ２
２の架設分類を選択し、当該選択架設サンプラ２２の架
設試料を入れ替えず一つの試料セットを測定する場合を
例として動作説明を行った。

【００６９】これに対し、第２の実施の形態では、選択
架設サンプラ２２の架設試料を数回入れ替えて複数の試
料セットを測定する場合、すなわち、第１の実施の形態
で説明した測定動作を連続的に行う場合の動作を説明す
る。

【００７０】図３は、第２実施形態に係る自動分析装置
１において、選択架設サンプラ２２の架設分類を各測定
ごとに測定条件として登録する第２の登録画面である。
図２に示した第１の登録画面と同様に、図示していない
表示部に表示される。

【００７１】この表示画面の表示内容は、図２に示した
第１の登録画面に表示される５項目「一般試料測定」、
「キャリブレーション」、「選択架設サンプラを標準試
料用に使用」、「測定開始」、「キャンセル」に加え
て、選択架設サンプラ２２へのセット番号を登録する項
目「試料セットｎ」が設けられている。この項目におい
て、ｎは試料セットの順番を意味し、選択架設サンプラ
２２への架設回数とｎの番号を対応させて架設の各回ご
とに架設分類の登録を行う。図３においては、１回目の
架設に対応する架設分類の登録、すなわち、選択架設サ
ンプラ２２にすべてキャリブレーション用標準試料を架
設しキャリブレーションのみを行うための測定条件を示
している。

【００７２】上記構成を有する自動分析装置において、
選択架設サンプラ２２の架設試料を１回入れ替えて２つ
の試料セットを測定する場合を例として以下説明する。

【００７３】最初に、１回目の試料セットで測定を行う
手順を説明する。

【００７４】まず、第１の実施の形態で説明した第１、
第２、第３の架設分類のいずれかに従って、標準試料専
用サンプラ２１及び選択架設サンプラ２２に該当する試
料を架設する。また、図示していないラックサンプラ
に、精度管理用標準試料と一般試料を、混同しないよう
に架設する。

【００７５】次に、図３に示した登録画面において項目
「試料セット１」を選択し、試料セット１に対応した架
設分類を測定条件として登録する。

【００７６】そして、「測定開始」を選択することによ
り、円形サンプラ２０に架設された試料セット１及び図
示していないラックサンプラに架設された一般試料つい
ての測定処理は開始される。

【００７７】続いて、２回目の試料セットが、キャリブ
レーション用標準試料と精度管理用標準試料から成る場
合の手順を説明する。

【００７８】まず、２回目の試料セットで常設する標準
試料は標準試料専用サンプラ２１に、一時的使用する標
準試料は選択架設サンプラ２２に架設する。また、一般
試料は、図示していないラックサンプラに架設する。

【００７９】次に、図４に示した登録画面において項目
「試料セット２」を選択し、試料セット２に対応した架
設分類を測定条件として登録する。

【００８０】なお、図４においては、２回目の架設に対
応する架設分類の登録、すなわち、選択架設サンプラ２
２にキャリブレーション用標準試料と精度管理用標準試
料を架設し、一般試料の測定は行わずキャリブレーショ
ンと精度管理を行う測定条件を示している。

【００８１】そして、「測定開始」を選択することによ
り、円形サンプラ２０に架設された試料セット２及び図
示していないラックサンプラに架設された一般試料につ
いての測定処理は開始される。

【００８２】試料セットが多数ある場合には、同様にし
て各試料セットごとに登録し、測定を行えばよい。

【００８３】なお、再び試料セット１によって測定を行
なう場合には、図４に示した「試料セット２」の項目
を、「試料セット１」に変えることにより、図３に示し
た「試料セット１」に関する登録情報を再び呼びだすこ
とができる。

【００８４】このような構成によれば、多数の試料セッ
トについての測定を必要とする場合であっても、装置を
大型化せず装置の操作性、設置制限、コストを同程度に
維持しながら、更なる測定項目の増加、詳細な検量線を
立てること及び精密な精度管理を可能にできる。

【００８５】また、再度同一の試料セットで測定を行う
場合、再び登録する必要がなく各試料セットに応じた架
設分類を迅速に確認することができる。

【００８６】なお、各試料セットごとの測定条件の登録
は、予めすべての試料セットについて入力してもよい
が、誤作業防止の観点から、各試料セットを選択架設サ
ンプラ２２に最初に架設する時に各登録をすることが好
ましい。

【００８７】以上、本発明を第１及び第２の実施の形態
に基いて説明したが、上記実施の形態に限定されるもの
ではなく、例えば以下に示すように、その要旨を変更し
ない範囲で種々変形可能である。

【００８８】第１、第２の実施の形態においては、標準
試料専用サンプラ２１と選択架設サンプラ２２とは別駆
動であった。これに対し、図５に示した円形サンプラ２
３のように、一つのサンプラ上で架設位置を区別するこ
とにより標準試料専用位置２４と選択架設位置２５とし
て同様の効果を得ることも可能である。

【００８９】

【発明の効果】以上第１、第２の実施の形態で述べたよ
うに、選択架設サンプラ２２に架設する試料セットの架
設分類を登録し、当該架設分類に応じた選択架設サンプ
ラ２２の駆動制御を行うことで、装置自体を大型化せず
に多くの試料、特にキャリブレーション用標準試料を混
同せずに架設可能とした自動分析装置の実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】円形サンプラ２０の概略構成を示す図。

【図２】架設分類を測定条件として登録するための第１
の登録画面を示す図。

【図３】試料セット１の架設分類を測定条件として登録
するための第２の登録画面を示す図。

【図４】試料セット２の架設分類を測定条件として登録
するための第２の登録画面を示す図。

【図５】円形サンプラ２０の変形例の概略構成を示す
図。

【図６】自動分析装置の外観図。

【図７】従来の円形サンプラ２の概略構成を示す図。

【符号の説明】

１…自動分析装置２０…円形サンプラ２１…標準試料専用サンプラ２２…選択架設サンプラ２３…円形サンプラ２４…標準試料専用位置２５…選択架設位置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者中里俊章栃木県大田原市下石上1385番の１株式会社東芝那須工場内Ｆターム(参考） 2G058 CB05 CD04 GA01 GA11 GD02 2G059 AA01 BB13 EE01 FF08 MM05 MM12 PP01

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料を架設する架設手段と、前記架設手段の架設分類を入力する入力手段と、前記入力手段によって入力された架設分類に応じた制御
を行う制御手段と、を具備する自動分析装置。
【請求項２】試料を架設する架設手段と、キャリブレーション用標準試料のみを架設する第１の架
設分類とキャリブレーション用標準試料と精度管理用標
準試料とを架設する第２の架設分類と測定対象である一
般試料のみを架設する第３の架設分類のうちいずれか一
つを前記架設手段に架設する試料の架設分類として入力
する第１の架設分類入力手段と、前記第１の架設分類入力手段により入力された架設分類
に応じた制御を行う制御手段と、を具備する自動分析装置。
【請求項３】請求項１記載の自動分析装置において、複数の試料を前記架設分類による複数の試料群に分類し
各試料群に応じて架設分類を入力する第２の架設分類入
力手段をさらに具備する自動分析装置。