JP2000258431A - Automatic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、自動分析装置に関
し、特にその試料の架設手段及び架設方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic analyzer and, more particularly, to a method and a method for laying a sample.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、治療や検査を目的として、血
液、尿、髄液等の体液や組織を試料(検体)として分析
し、成分濃度等を調べる方法の一つとして、キャリブレ
ーションによる方法がある。これは、まず、予め濃度の
わかっている試料(以下、標準試料と呼ぶ)について、
濃度と吸光度についての相関関係を表す検量線を立てる
(以下、キャリブレーションと呼ぶ)。そして、濃度が
わかっていない患者等の試料(以下、一般試料と呼ぶ)
の吸光度の測定を行い、この測定データと上記検量線よ
り各成分の濃度を換算する方法である。2. Description of the Related Art In general, for the purpose of treatment and examination, a method using calibration is one of the methods for analyzing a body fluid or tissue such as blood, urine, and cerebrospinal fluid as a sample (sample) and examining the concentration of components. is there. First, for a sample whose concentration is known in advance (hereinafter referred to as a standard sample),
A calibration curve representing the correlation between the concentration and the absorbance is established (hereinafter, referred to as calibration). And samples of patients whose concentrations are not known (hereinafter referred to as general samples)
Is measured, and the concentration of each component is converted from the measured data and the above calibration curve.
【0003】上記キャリブレーションにより試料を分析
し、成分濃度等を調べる手順を自動化した装置として、
自動分析装置がある。この自動分析装置により一度に大
量の試薬の分析、濃度演算等が可能であり、病院、検査
機関等において広く利用され作業性の向上に大きく貢献
している。[0003] As an apparatus that automates the procedure of analyzing a sample by the above calibration and examining the concentration of components, etc.
There is an automatic analyzer. This automatic analyzer can analyze a large amount of reagents at a time, calculate the concentration, etc., and is widely used in hospitals, inspection laboratories, etc., and greatly contributes to improvement of workability.
【0004】図6は従来の自動分析装置1を示したもの
である。FIG. 6 shows a conventional automatic analyzer 1.
【0005】図6において、円形サンプラ2は、検査対
象である試料を二重円状に架設する架設手段である。こ
の円形サンプラ2には、試料の熱による品質変化や蒸発
を防止するため保冷手段が設けてあり、キャリブレーシ
ョン用標準試料若しくは一般試料又は後述する精度管理
用標準試料を入れた試料容器201が架設される。In FIG. 6, a circular sampler 2 is a laying means for laying a sample to be inspected in a double circle. The circular sampler 2 is provided with cooling means for preventing quality change and evaporation of the sample due to heat, and a sample container 201 containing a calibration standard sample or a general sample or a quality control standard sample described later is installed. Is done.
【0006】なお、キャリブレーション用標準試料及び
後述する精度管理用標準試料は濃度演算の基準とするも
のであるから、円形サンプラ2に常設することが多く、
一方、一般試料は患者ごとに異なるものであるから、検
査毎に入れ替わるものである。Since the calibration standard sample and the quality control standard sample to be described later are used as a reference for the concentration calculation, they are usually provided in the circular sampler 2 in many cases.
On the other hand, the general sample is different for each patient, and is therefore replaced for each test.
【0007】試料容器201(試験管等)中の上記各試
料は、試料分注機構3により定量取り出され、硬質ガラ
ス等からなる複数の反応管4へ分注される。反応管4
は、例えば試料が血清であれば、人体温度(約37℃)
程度に保たれる状態になっている。Each of the above-mentioned samples in a sample container 201 (test tube or the like) is taken out by the sample dispensing mechanism 3 and dispensed to a plurality of reaction tubes 4 made of hard glass or the like. Reaction tube 4
For example, if the sample is serum, the human body temperature (about 37 ° C)
It is in a state where it is kept to a degree.
【0008】各試薬庫5、6中には、測定したい成分
(測定項目)に反応する各種試薬が、各試薬容器51、
61に格納されて設置されている。各試薬は、必要に応
じ各分注機構7、8によって反応管4に定量分注され
る。Various reagents reacting with the component (measurement item) to be measured are stored in the reagent containers 5 and 6, respectively.
61 and installed. Each reagent is dispensed into the reaction tube 4 by the dispensing mechanism 7 or 8 as needed.
【0009】試薬が分注された後、攪拌子を有する攪拌
部9により、反応管4中の試料と試薬は攪拌、混合され
る。After the reagent is dispensed, the sample and the reagent in the reaction tube 4 are stirred and mixed by the stirring section 9 having a stirrer.
【0010】そして、図示していない測光部において、
比色法と呼ばれる方法により、試薬を添加された試料の
発色状態等の反応過程を、当該試料の吸光度を測定する
ことにより光学的に測定する。この測定結果を基に、図
示していないデータ制御部においてキャリブレーション
による方法で分析成分の濃度演算若しくはキャリブレー
ションが行われる。Then, in a photometric unit (not shown),
By a method called a colorimetric method, a reaction process such as a coloring state of a sample to which a reagent is added is optically measured by measuring the absorbance of the sample. Based on this measurement result, the data control unit (not shown) calculates the concentration of the analysis component or performs calibration by a method based on calibration.
【0011】また、電解質測定部10により特定の電解
質の測定が行われ、前記特定成分量分析及び電解質測定
の後、洗浄部11により反応管4は洗浄される。Further, a specific electrolyte is measured by the electrolyte measuring unit 10, and after the specific component amount analysis and the electrolyte measurement, the reaction tube 4 is washed by the washing unit 11.
【0012】これら一連の動作により、サンプラ2にセ
ットされた一般試料の分析が行われる。Through a series of these operations, the analysis of the general sample set in the sampler 2 is performed.
【0013】上述したように、キャリブレーション用標
準試料は通常円形サンプラ2に常設される。しかし、測
定したい成分、すなわち測定項目によりその検量線が有
効とされる有効期限が決まっており、この有効期限切
れ、若しくは試料の腐敗の変化に応じて常設する標準試
料を更新しなければならない。現在では、自動的にこの
標準試料を更新しキャリブレーションを行う自動キャリ
ブレーション機能を有する自動分析装置1がある。As described above, the calibration standard sample is usually provided on the circular sampler 2. However, the expiration date for which the calibration curve is valid is determined by the component to be measured, that is, the measurement item, and the permanent standard sample must be renewed in accordance with the expiration date or a change in the decay of the sample. At present, there is an automatic analyzer 1 having an automatic calibration function for automatically updating and calibrating the standard sample.
【0014】また、実際の分析調査においては、装置の
安定性を検証する観点から、キャリブレーション用標準
試料とは別の標準試料(以下、精度管理用標準試料)を
少なくとも一つ測定し、その結果を検討することで精度
管理が行われる。In the actual analysis and investigation, from the viewpoint of verifying the stability of the apparatus, at least one standard sample (hereinafter referred to as a quality control standard sample) different from the calibration standard sample is measured, and Quality control is performed by examining the results.
【0015】精度管理用試料、キャリブレーション用標
準試料、一般試料は、それぞれ使用目的が異なる。ま
た、一般試料は患者の検体であり、標準試料は基準とな
るものである。従って、前記三種の試料を円形サンプラ
2に架設する場合、混同しないよう注意が払われる。The purpose of use of each of the quality control sample, the calibration standard sample, and the general sample is different. The general sample is a patient sample, and the standard sample is a reference. Therefore, when the three types of samples are mounted on the circular sampler 2, care is taken to avoid confusion.
【0016】図7は、図6に示した従来の二重円状の円
形サンプラ2の上面図である。FIG. 7 is a top view of the conventional double circular sampler 2 shown in FIG.
【0017】従来においては、自動キャリブレーション
若しくは精度管理に使用する標準試料は外周221へ、
一般試料は内周222へ分類し架設する構成としてい
た。Conventionally, a standard sample used for automatic calibration or quality control is placed on the outer periphery 221.
The general sample was configured to be classified into the inner circumference 222 and erected.
【0018】[0018]
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、測定
項目の増加や更に詳細な検量線を立てることが要請され
てきている。In recent years, it has been required to increase the number of measurement items and to establish a more detailed calibration curve.
【0019】この要請に伴って、自動分析装置のサンプ
ラには、多大な量の標準試料、一般試料の架設が必要に
なってきた。しかも、自動キャリブレーションを可能と
するためには、標準試料が常設可能な架設箇所の数が多
いことが好ましい。In response to this request, it has become necessary for a sampler of an automatic analyzer to mount a large amount of standard samples and general samples. Moreover, in order to enable automatic calibration, it is preferable that the number of erection sites where a standard sample can be permanently installed is large.
【0020】自動分析装置1に備えられた円形サンプラ
2は、試料の品質変化や蒸発を防止するため保冷機能を
有しているから、長期に渡り使用する試料を架設するの
に適している。しかし、円形サンプラ2の外周221が
架設可能な試料容器201数には限界がある。The circular sampler 2 provided in the automatic analyzer 1 has a cooling function for preventing a change in quality and evaporation of the sample, and is therefore suitable for erection of a sample to be used for a long time. However, there is a limit to the number of sample containers 201 on which the outer periphery 221 of the circular sampler 2 can be installed.
【0021】また、外周221のみならず、内周222
にも標準試料を架設し一般試料と混在させるのは、試料
の混同を招く恐れがある。Further, not only the outer circumference 221 but also the inner circumference 222
If a standard sample is installed and mixed with a general sample, the sample may be confused.
【0022】さらに、保冷機能を有する円形サンプラ2
自体の大型化は、装置1全体のサイズを変更せざるを得
ない程の大きなものとなり、装置の操作性の悪化、設置
制限、コストの上昇を招く結果となる。Further, a circular sampler 2 having a cooling function
The increase in size of the apparatus itself is so large that the entire size of the apparatus 1 must be changed, resulting in deterioration of operability of the apparatus, installation restrictions, and increase in cost.
【0023】一方、図示していないが、円形サンプラ2
以外の試料容器架設手段として、ラックサンプラがあ
る。これは、オペレータにより選択的に自動分析装置1
に設置されるものであり、ラックを増やせば試料容器2
01の架設数も増やすことができ、一時的に試料を追加
する場合に適している。しかし、当該ラックサンプラに
よる試料の保冷は、装置の構造上困難である。On the other hand, although not shown, the circular sampler 2
There is a rack sampler as another sample container erection means. This means that the automatic analyzer 1 can be selectively operated by an operator.
It is installed in the sample container.
01 can be increased, which is suitable for temporarily adding a sample. However, it is difficult to keep the sample cool by the rack sampler due to the structure of the apparatus.
【0024】[0024]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記事情に鑑
みてなされたもので、装置自体を大型化せず、一般試料
と標準試料との混同を防止して多くの試料、特にキャリ
ブレーション用標準試料を架設可能とした自動分析装置
の実現を目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and does not increase the size of the apparatus itself, prevents confusion between a general sample and a standard sample, and increases the number of samples, particularly calibration. The purpose of the present invention is to realize an automatic analyzer capable of installing a standard sample for use.
【0025】本発明は、試料を架設する架設手段と、前
記架設手段の架設分類を入力する入力手段と、前記入力
手段によって入力された架設分類に応じた制御を行う制
御手段とを具備する自動分析装置である。According to the present invention, there is provided an automatic system comprising: erection means for erection of a sample; input means for inputting the erection classification of the erection means; and control means for performing control according to the erection classification input by the input means. It is an analyzer.
【0026】このような構成によれば、標準試料の数に
応じて架設手段の架設分類を選択でき、従来の自動分析
装置と比較して多数の標準試料を架設することができ
る。According to such a configuration, the erection type of the erection means can be selected according to the number of standard samples, and a larger number of standard samples can be erected than a conventional automatic analyzer.
【0027】その結果、試料の混同を防止し、更なる測
定項目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としな
がらも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コ
ストを同程度に維持することができる。As a result, it is possible to prevent confusion of the sample and to increase the number of measurement items and to establish a detailed calibration curve, but to reduce the operability, installation restrictions and cost of the apparatus without increasing the size of the apparatus. Can be maintained to a degree.
【0028】また、本発明は、試料を架設する架設手段
と、キャリブレーション用標準試料のみを架設する第1
の架設分類とキャリブレーション用標準試料と精度管理
用標準試料とを架設する第2の架設分類と濃度のわかっ
ていない一般試料のみを架設する第3の架設分類のうち
いずれか一つを前記架設手段に架設する試料の架設分類
として入力する第1の架設分類入力手段と、前記第1の
架設分類入力手段により入力された架設分類に応じた制
御を行う制御手段とを具備する自動分析装置である。Further, the present invention provides an erecting means for erecting a sample and a first erecting means for erecting only a calibration standard sample.
Any one of the second erection class, in which a calibration standard sample and a quality control standard sample are erected, and the third erection class, in which only a general sample whose concentration is not known, is installed. An automatic analyzer comprising: first erection classification input means for inputting as erection classification of a sample erected on the means; and control means for performing control according to the erection classification input by the first erection classification input means. is there.
【0029】このような構成によれば、従来の自動分析
装置と同様の機能に加えて、架設分類の選択により、さ
らに多数の標準試料を架設し測定するすることもでき
る。According to such a configuration, in addition to the same functions as those of the conventional automatic analyzer, it is also possible to mount and measure a larger number of standard samples by selecting an installation class.
【0030】その結果、試料の混同を防止し、更なる測
定項目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としな
がらも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コ
ストを同程度に維持することができる。As a result, the confusion of the sample can be prevented, the number of measurement items can be further increased, and a detailed calibration curve can be established, but the operability, installation restrictions, and cost of the apparatus can be reduced without increasing the size of the apparatus. Can be maintained to a degree.
【0031】さらに、前記自動分析装置において、複数
ある試料を前記架設分類による複数の試料群に分類し各
試料群に応じて架設分類を入力する第2の架設分類入力
手段をさらに具備する自動分析装置である。Further, the automatic analyzer further comprises a second erection classification input means for classifying a plurality of samples into a plurality of sample groups according to the erection classification and inputting the erection classification according to each sample group. Device.
【0032】このような構成によれば、試料セットが複
数ある場合においても、各試料セットごとに架設分類を
登録することができる。According to such a configuration, even when there are a plurality of sample sets, the erection classification can be registered for each sample set.
【0033】その結果、一度登録すれば各試料セットに
応じた架設分類は決まるから、同一の試料セットで測定
を行う場合再び登録する手間を省くことができる。As a result, once registered, the erection classification according to each sample set is determined, so that when performing measurement with the same sample set, the trouble of registering again can be saved.
【0034】また、複数の試料セットについて測定を行
う場合であっても、試料の混同を防止し、更なる測定項
目の増加や詳細な検量線を立てることを可能としながら
も、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コスト
を同程度に維持することができる。Further, even when measurement is performed on a plurality of sample sets, it is possible to prevent confusion of the samples, to increase the number of measurement items and to establish a detailed calibration curve, but to increase the size of the apparatus. The operability, installation restrictions, and cost of the apparatus can be maintained at the same level without the need.
【0035】[0035]
【発明の実施の形態】以下、本発明の第1実施形態及び
第2実施形態を図面に従って説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment and a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0036】なお、以下の説明において、本発明に係る
自動分析装置の外観図は、円形サンプラ2が円形サンプ
ラ20に代わることを除けば図6と同様であるから、同
図を援用するものとする。In the following description, the external view of the automatic analyzer according to the present invention is the same as that shown in FIG. 6 except that the circular sampler 2 is replaced with the circular sampler 20, so that the drawing is referred to. I do.
【0037】(第1実施形態)図1は、第1の実施の形
態に係る自動分析装置1において、円形サンプラ2の代
わりに設けられる円形サンプラ20の概略構成を示して
いる。(First Embodiment) FIG. 1 shows a schematic configuration of a circular sampler 20 provided in place of the circular sampler 2 in the automatic analyzer 1 according to the first embodiment.
【0038】図1において、円形サンプラ20の二重円
状の架設手段のうち、外側の円周上の標準試料専用サン
プラ21は、キャリブレーション用標準試料や精度管理
用標準試料、試料容器201を洗うための洗剤用試料を
常設する架設手段であり、45個の架設箇所を有してい
る。この標準試料専用サンプラ21には、試薬混同防止
の観点から、一般試料は架設せず、原則として常設する
標準試料や洗剤用試料を架設する。In FIG. 1, among the double circular installation means of the circular sampler 20, the sampler 21 for the standard sample on the outer circumference is used for the calibration standard sample, the quality control standard sample, and the sample container 201. This is erection means for permanently installing a detergent sample for washing, and has 45 erection points. In order to prevent mixing of reagents, a general sample is not provided on the sampler 21 for the standard sample, but a standard sample or a detergent sample which is permanently provided is provided in principle.
【0039】一方、内側の円周上の選択架設サンプラ2
2は、常設する標準試料や洗剤用試料に限定せず、臨時
の測定項目の増加等必要に応じて標準試料、洗剤試料、
一般試料を架設する架設手段である。すなわち、オペレ
ータは、キャリブレーション用標準試料のみ架設する第
1の架設分類、キャリブレーション用標準試料と精度管
理用標準試料とを混在させる第2の架設分類、測定対象
である一般試料のみ架設する第3の試料架設分類のうち
から一つ選択し、当該選択した試料分類に応じて選択架
設サンプラ22に試料を架設する。この選択架設サンプ
ラ22は、標準試料専用サンプラ21と別駆動になって
おり、30個の架設箇所を有している。On the other hand, the selective erection sampler 2 on the inner circumference
2 is not limited to a permanent standard sample or detergent sample, but may be a standard sample, detergent sample,
This is a erection means for erection of a general sample. That is, the operator performs the first installation class in which only the calibration standard sample is installed, the second installation class in which the calibration standard sample and the quality control standard sample are mixed, and the second installation class in which only the general sample to be measured is installed. One of the three sample installation classes is selected, and a sample is installed on the selected installation sampler 22 according to the selected sample classification. The selective erection sampler 22 is driven separately from the standard sampler sampler 21, and has thirty erection points.
【0040】なお、図示していないが、自動分析装置1
は、熱による試料の品質変化や蒸発を防止するため、標
準試料専用サンプラ21及び選択架設サンプラ22を保
冷する保冷手段を有している。Although not shown, the automatic analyzer 1
Has a cooling means for keeping the sampler 21 for the standard sample and the sampler 22 selectively installed in order to prevent the quality change and evaporation of the sample due to heat.
【0041】図2は、選択架設サンプラ22の架設分類
を測定条件として登録するための第1の登録画面であ
り、自動分析装置1が有する図示していない表示部に表
示される。この表示画面の表示内容は、架設分類を登録
するための項目「一般試料測定」、「キャリブレーショ
ン」、「選択架設サンプラを標準試料用に使用」と、自
動分析装置1の駆動を制御するための項目「測定開
始」、当該第1の登録画面を終了するための項目「キャ
ンセル」に分類されている。オペレータは、この登録画
面によって架設分類を登録する。FIG. 2 is a first registration screen for registering the erection class of the selected erection sampler 22 as a measurement condition, which is displayed on a display unit (not shown) of the automatic analyzer 1. The display contents of this display screen include items “General sample measurement”, “Calibration”, “Use selected installation sampler for standard sample” for registering the installation classification, and control of driving of automatic analyzer 1. Item "measurement start" and an item "cancel" for ending the first registration screen. The operator registers the installation classification on this registration screen.
【0042】次に、上記構成を有する自動分析装置の動
作を説明する。Next, the operation of the automatic analyzer having the above configuration will be described.
【0043】最初に、臨時に測定項目を大量に増やした
い等の要請により、一時的に選択架設サンプラ22にも
キャリブレーション用標準試料を架設する場合について
述べる。この場合、キャリブレーション用標準試料は、
測定標準試料専用サンプラ21の45箇所と選択架設サ
ンプラ22の30箇所とで最大75箇所に架設すること
ができる。First, a case where a calibration standard sample is temporarily installed on the selective installation sampler 22 in response to a request to temporarily increase a large number of measurement items will be described. In this case, the calibration standard is
A maximum of 75 locations can be installed at 45 locations of the sampler 21 dedicated to the measurement standard sample and 30 locations of the selective installation sampler 22.
【0044】なお、精度管理用標準試料と一般試料は、
図示していないラックサンプラに試料が混同しないよう
に架設される。The standard sample for quality control and the general sample are
The sample is installed on a rack sampler (not shown) so that the sample is not confused.
【0045】また、洗剤用試料をn個常設したい場合に
は、標準試料専用サンプラ21に架設する。ここで、洗
剤用試料の架設を標準試料専用サンプラ21に限ったの
は、常設する試料にいついては常に標準試料専用サンプ
ラ21に架設することで、一時的に架設する試料との混
同を防止するためである。このとき、キャリブレーショ
ン専用標準試料は、最大75−n個の架設が可能であ
る。When it is desired to permanently provide n detergent samples, the detergent sampler 21 is provided. Here, the construction of the detergent sample is limited to the standard sampler 21. The permanent sample is always constructed on the standard sampler 21 to prevent confusion with the temporarily constructed sample. That's why. At this time, a maximum of 75-n calibration standard samples can be installed.
【0046】まず、上記要請に必要な各キャリブレーシ
ョン用標準試料を標準試料専用サンプラ21及び選択架
設サンプラ22に架設する。このとき、常設するキャリ
ブレーション用標準試料は標準試料専用サンプラ21
へ、一時的に使用するキャリブレーション用標準試料は
選択架設サンプラ22へ架設する。First, the calibration standard samples required for the above request are installed on the standard sampler sampler 21 and the selective installation sampler 22. At this time, the permanently provided calibration standard sample is a sampler 21 dedicated to the standard sample.
The calibration standard sample temporarily used is installed on the selective installation sampler 22.
【0047】次に、図2に示した第1の登録画面で、選
択架設サンプラ22に架設した試料セットの架設分類を
測定条件として登録する。今の場合、選択架設サンプラ
22に架設されているのはすべてキャリブレーション用
標準試料であるから、「選択架設サンプラを標準試料用
に使用」と「キャリブレーション」の双方の項目をON
に設定して(所定の入力デバイスでチェックを入れ
る)、架設分類を登録する。登録の訂正は、前記入力デ
バイスで各項目のチェックを外せばよい。Next, on the first registration screen shown in FIG. 2, the installation classification of the sample set installed on the selected installation sampler 22 is registered as a measurement condition. In this case, since all of the standard samples for calibration are installed on the selective installation sampler 22, both the items “Use the selected installation sampler for standard samples” and “Calibration” are turned on.
(Check with a predetermined input device) and register the erection classification. Correction of registration may be performed by unchecking each item with the input device.
【0048】ここで、項目「一般試料測定」のON設定
と項目「選択架設サンプラを標準試料用に使用」のON
設定とは、機能的に試料の混同を防止するため排他的論
理になっている。Here, the ON setting of the item "General sample measurement" and the ON of the item "Use selected erection sampler for standard sample"
The setting is exclusive logic in order to functionally prevent confusion of the sample.
【0049】このような構成によれば、項目「一般試料
測定」と項目「選択架設サンプラを標準試料に使用」と
が同時にON設定になることはなく、選択架設サンプラ
22に架設された試料が標準試料か一般試料かを正確に
把握できる。According to such a configuration, the item “general sample measurement” and the item “use the selected erection sampler for the standard sample” are not simultaneously set to ON, and the sample erected on the selected erection sampler 22 is not changed. Accurate grasp of standard sample or general sample.
【0050】次に、「測定開始」を選択することによ
り、自動分析装置1は測定動作を開始し、図示していな
いデータ制御部において、登録された架設分類に応じた
データ処理、すなわちキャリブレーションが行われる。Next, by selecting “start measurement”, the automatic analyzer 1 starts the measurement operation, and the data control unit (not shown) performs data processing according to the registered construction classification, ie, calibration. Is performed.
【0051】なお、図示していないラックサンプラに架
設された精度管理用試料と一般試料の測定も同時進行さ
れる。The measurement of the quality control sample and the general sample mounted on a rack sampler (not shown) is simultaneously performed.
【0052】このような構成によれば、臨時に測定項目
を大量に増やしたい等の要請により多数の標準試料につ
いてのキャリブレーションを希望する場合、標準試料専
用サンプラ21のみならず選択架設サンプラ22にもキ
ャリブレーション用標準試料を架設することができる。According to such a configuration, when it is desired to calibrate a large number of standard samples due to a request to temporarily increase a large number of measurement items, not only the standard sampler sampler 21 but also the selective erection sampler 22 is required. Also, a calibration standard sample can be installed.
【0053】その結果、更なる測定項目の増加や詳細な
検量線を立てることを可能としながらも、装置を大型化
せず装置の操作性、設置制限、コストを同程度に維持す
ることができる。As a result, it is possible to increase the number of measurement items and to establish a detailed calibration curve, but to maintain the operability, installation restrictions, and cost of the apparatus at the same level without increasing the size of the apparatus. .
【0054】次に、測定項目の追加や詳細な検量線を立
てる等の要請により、45個以上の標準試料のキャリブ
レーションと精度管理用標準試料の測定を必要とし、選
択架設サンプラ22にも一時的に前記二種の標準試料を
架設する場合について説明する。このとき、キャリブレ
ーション用標準試料と精度管理用標準試料を合わせた最
大架設数が75箇所であり、洗剤用試料を標準試料専用
サンプラ21にn個常設するならば75−n箇所であ
る。Next, due to requests for addition of measurement items, establishment of detailed calibration curves, etc., calibration of 45 or more standard samples and measurement of quality control standard samples are required. The case where the two types of standard samples are erected will be described. At this time, the maximum number of bridges including the calibration standard sample and the quality control standard sample is 75, and if n detergent samples are permanently provided in the sampler dedicated to standard sample 21, the number is 75-n.
【0055】なお、一般試料については、図示していな
いラックサンプラに架設される。The general sample is installed on a rack sampler (not shown).
【0056】まず、標準試料専用サンプラ21及び選択
架設サンプラ22に、上記要請に必要なキャリブレーシ
ョン用標準試料及び精度管理用標準試料を架設する。こ
のとき、常設するキャリブレーション用標準試料及び精
度管理用標準試料又は洗剤用試料は標準試料専用サンプ
ラ21へ、一時的に使用するキャリブレーション用標準
試料及び精度管理用標準試料は選択架設サンプラ22へ
架設する。First, the calibration standard sample and the quality control standard sample required for the above-mentioned request are installed on the sampler 21 dedicated to the standard sample and the selective installation sampler 22. At this time, the calibration standard sample and the quality control standard sample or the detergent sample that are permanently installed are sent to the sampler 21 dedicated to the standard sample, and the calibration standard sample and the quality control standard sample that are temporarily used are sent to the selective erection sampler 22. Erect.
【0057】次に、図2に示した第1の登録画面で、選
択架設サンプラ22に架設した試料の架設分類を測定条
件として登録する。今の場合、選択架設サンプラ22に
は、キャリブレーション用標準試料と精度管理用標準試
料が混在しているから、項目「選択架設サンプラを標準
試料用に使用」のみをONに設定して架設分類を登録す
る。Next, on the first registration screen shown in FIG. 2, the installation classification of the sample installed on the selected installation sampler 22 is registered as a measurement condition. In this case, since the standard sample for calibration and the standard sample for quality control are mixed in the selected erection sampler 22, only the item “Use the selected erection sampler for the standard sample” is set to ON to classify the erection. Register
【0058】そして、「測定開始」を選択することによ
り測定動作を開始し、図示していないデータ制御部にお
いて、登録された架設分類に応じたデータ処理、すなわ
ちキャリブレーション及び精度管理が行われる。Then, the measurement operation is started by selecting “start measurement”, and data processing according to the registered construction classification, that is, calibration and accuracy management are performed in a data control unit (not shown).
【0059】なお、図示していないラックサンプラに架
設された一般試料の測定も同時進行される。Note that the measurement of a general sample mounted on a rack sampler (not shown) also proceeds at the same time.
【0060】このような構成によれば、多数の標準試料
のキャリブレーションと精度管理用標準試料の測定を必
要とする場合、標準試料専用サンプラ21のみならず選
択架設サンプラ22にもキャリブレーション用標準試料
と精度管理用標準試料を架設することができる。According to such a configuration, when it is necessary to calibrate a large number of standard samples and measure the standard samples for quality control, not only the sampler dedicated to standard samples 21 but also the selective sampler 22 is used. A sample and a standard sample for quality control can be installed.
【0061】その結果、更なる測定項目の増加、詳細な
検量線を立てること及び精密な精度管理を可能としなが
らも、装置を大型化せず装置の操作性、設置制限、コス
トを同程度に維持することができる。As a result, the number of measurement items can be further increased, a detailed calibration curve can be established, and precise accuracy control can be performed, but the operability, installation restrictions, and cost of the apparatus can be reduced to the same level without increasing the size of the apparatus. Can be maintained.
【0062】最後に、キャリブレーション、精度管理、
一般試料の成分測定及び濃度演算を必要とする場合につ
いて述べる。この場合は、標準試料専用サンプラ21に
はキャリブレーション用標準試料及び精度管理用標準試
料又は洗剤用試料を架設し、選択架設サンプラ22には
一般試料のみを架設する。これは、患者等の検体である
一般試料と標準試料との混同を防止するためである。従
って、架設キャリブレーション用標準試料と精度管理用
標準試料を合わせた架設数は、洗剤用試料を標準試料専
用サンプラ21にn個常設するならば45−n箇所であ
り、洗剤用試料を架設しなければ最大架設数は45箇所
である。また、一般試料の最大架設数は30箇所とな
る。Finally, calibration, accuracy control,
The case where the measurement of the components of a general sample and the calculation of the concentration are required is described. In this case, a standard sample for calibration and a standard sample for quality control or a sample for detergent are provided on the sampler 21 dedicated to standard sample, and only a general sample is provided on the sampler 22 for selective installation. This is to prevent confusion between a general sample, which is a specimen of a patient or the like, and a standard sample. Therefore, the number of erections including the erection calibration standard sample and the quality control standard sample is 45-n if n detergent samples are permanently provided in the standard sampler sampler 21, and the detergent sample is erected. Otherwise, the maximum number of erections is 45. In addition, the maximum number of erected general samples is 30.
【0063】まず、キャリブレーション用標準試料及び
精度管理用標準試料を標準試料専用サンプラ21に、一
般試料を選択架設サンプラ22にそれぞれ架設する。First, a standard sample for calibration and a standard sample for quality control are installed on a sampler 21 for exclusive use of a standard sample, and a general sample is installed on a sampler 22 for selective installation.
【0064】次に、図2に示した第1の登録画面で、選
択架設サンプラ22に架設した試料セットの架設分類を
測定条件として登録する。いまの場合、選択架設サンプ
ラ22は、一般試料架設として使用するから、「一般試
料測定」の項目のみをONに設定して架設分類を登録す
る。Next, on the first registration screen shown in FIG. 2, the installation classification of the sample set installed on the selected installation sampler 22 is registered as a measurement condition. In this case, since the selected erection sampler 22 is used as a general sample erection, only the item of “general sample measurement” is set to ON and the erection classification is registered.
【0065】そして、「測定開始」を選択することによ
り測定を開始し、図示していないデータ制御部におい
て、登録された架設分類に応じたデータ処理、すなわち
キャリブレーション及び精度管理が行われる。Then, the measurement is started by selecting “start measurement”, and data processing according to the registered construction classification, that is, calibration and accuracy management are performed in a data control unit (not shown).
【0066】架設分類に応じた選択架設サンプラ22の
駆動制御を行う。The drive control of the selected erection sampler 22 according to the erection classification is performed.
【0067】このような構成によれば、キャリブレーシ
ョン、精度管理、一般試料の成分測定及び濃度演算を必
要とする場合、標準試料専用サンプラ21にはキャリブ
レーション用標準試料と精度管理用標準試料を、選択架
設サンプラ22には一般試料を架設することで、キャリ
ブレーション、精度管理、一般試料の成分測定及び濃度
演算を同時に混同のないように実行することができる。According to such a configuration, when calibration, accuracy control, measurement of components of a general sample, and concentration calculation are required, the standard sampler for calibration and the standard sample for quality control are stored in the sampler dedicated to standard sample 21. By laying a general sample on the selective erection sampler 22, calibration, accuracy control, measurement of components of the general sample, and concentration calculation can be executed simultaneously without confusion.
【0068】(第2実施形態)第1実施形態では、一時
的に使用するキャリブレーション用標準試料、精度管理
用標準試料、一般試料の数によって選択架設サンプラ2
2の架設分類を選択し、当該選択架設サンプラ22の架
設試料を入れ替えず一つの試料セットを測定する場合を
例として動作説明を行った。(Second Embodiment) In the first embodiment, the erection sampler 2 is selected according to the number of calibration standard samples, quality control standard samples, and general samples used temporarily.
The operation has been described by taking as an example a case where two installation categories are selected and one sample set is measured without changing the installation samples of the selected installation sampler 22.
【0069】これに対し、第2の実施の形態では、選択
架設サンプラ22の架設試料を数回入れ替えて複数の試
料セットを測定する場合、すなわち、第1の実施の形態
で説明した測定動作を連続的に行う場合の動作を説明す
る。On the other hand, in the second embodiment, when a plurality of sample sets are measured by replacing the erection sample of the selective erection sampler 22 several times, that is, the measurement operation described in the first embodiment is performed. The operation in the case of performing the operation continuously will be described.
【0070】図3は、第2実施形態に係る自動分析装置
1において、選択架設サンプラ22の架設分類を各測定
ごとに測定条件として登録する第2の登録画面である。
図2に示した第1の登録画面と同様に、図示していない
表示部に表示される。FIG. 3 is a second registration screen for registering the installation classification of the selected installation sampler 22 as a measurement condition for each measurement in the automatic analyzer 1 according to the second embodiment.
Similar to the first registration screen shown in FIG. 2, it is displayed on a display unit (not shown).
【0071】この表示画面の表示内容は、図2に示した
第1の登録画面に表示される5項目「一般試料測定」、
「キャリブレーション」、「選択架設サンプラを標準試
料用に使用」、「測定開始」、「キャンセル」に加え
て、選択架設サンプラ22へのセット番号を登録する項
目「試料セットn」が設けられている。この項目におい
て、nは試料セットの順番を意味し、選択架設サンプラ
22への架設回数とnの番号を対応させて架設の各回ご
とに架設分類の登録を行う。図3においては、1回目の
架設に対応する架設分類の登録、すなわち、選択架設サ
ンプラ22にすべてキャリブレーション用標準試料を架
設しキャリブレーションのみを行うための測定条件を示
している。The display contents of this display screen include five items “general sample measurement” displayed on the first registration screen shown in FIG.
In addition to “Calibration”, “Use selected erection sampler for standard sample”, “Start measurement”, and “Cancel”, an item “Sample set n” for registering a set number to the selected erection sampler 22 is provided. I have. In this item, n means the order of the sample set, and the number of installations on the selected installation sampler 22 is associated with the number of n to register the installation classification for each installation. FIG. 3 shows the registration of the installation classification corresponding to the first installation, that is, measurement conditions for installing all calibration standard samples in the selected installation sampler 22 and performing only calibration.
【0072】上記構成を有する自動分析装置において、
選択架設サンプラ22の架設試料を1回入れ替えて2つ
の試料セットを測定する場合を例として以下説明する。In the automatic analyzer having the above configuration,
The following describes an example of a case where two sample sets are measured by replacing the installation sample of the selective installation sampler 22 once.
【0073】最初に、1回目の試料セットで測定を行う
手順を説明する。First, the procedure for measuring with the first sample set will be described.
【0074】まず、第1の実施の形態で説明した第1、
第2、第3の架設分類のいずれかに従って、標準試料専
用サンプラ21及び選択架設サンプラ22に該当する試
料を架設する。また、図示していないラックサンプラ
に、精度管理用標準試料と一般試料を、混同しないよう
に架設する。First, the first, second embodiment described in the first embodiment,
According to one of the second and third installation classifications, the sample corresponding to the sampler dedicated to standard sample 21 and the selective installation sampler 22 is installed. A standard sample for quality control and a general sample are installed on a rack sampler (not shown) so as not to be confused.
【0075】次に、図3に示した登録画面において項目
「試料セット1」を選択し、試料セット1に対応した架
設分類を測定条件として登録する。Next, the item “sample set 1” is selected on the registration screen shown in FIG. 3, and the installation classification corresponding to the sample set 1 is registered as a measurement condition.
【0076】そして、「測定開始」を選択することによ
り、円形サンプラ20に架設された試料セット1及び図
示していないラックサンプラに架設された一般試料つい
ての測定処理は開始される。By selecting "start measurement", the measurement process for the sample set 1 provided on the circular sampler 20 and the general sample provided on the rack sampler (not shown) is started.
【0077】続いて、2回目の試料セットが、キャリブ
レーション用標準試料と精度管理用標準試料から成る場
合の手順を説明する。Next, a procedure in the case where the second sample set includes a calibration standard sample and a quality control standard sample will be described.
【0078】まず、2回目の試料セットで常設する標準
試料は標準試料専用サンプラ21に、一時的使用する標
準試料は選択架設サンプラ22に架設する。また、一般
試料は、図示していないラックサンプラに架設する。First, the standard sample that is permanently installed in the second sample set is installed on the sampler 21 dedicated to the standard sample, and the standard sample that is temporarily used is installed on the selective installation sampler 22. The general sample is installed on a rack sampler (not shown).
【0079】次に、図4に示した登録画面において項目
「試料セット2」を選択し、試料セット2に対応した架
設分類を測定条件として登録する。Next, the item “sample set 2” is selected on the registration screen shown in FIG. 4, and the installation classification corresponding to the sample set 2 is registered as a measurement condition.
【0080】なお、図4においては、2回目の架設に対
応する架設分類の登録、すなわち、選択架設サンプラ2
2にキャリブレーション用標準試料と精度管理用標準試
料を架設し、一般試料の測定は行わずキャリブレーショ
ンと精度管理を行う測定条件を示している。In FIG. 4, registration of the erection class corresponding to the second erection, ie, the selection erection sampler 2
Reference numeral 2 shows a measurement condition in which a calibration standard sample and a quality control standard sample are installed, and calibration and quality control are performed without measuring a general sample.
【0081】そして、「測定開始」を選択することによ
り、円形サンプラ20に架設された試料セット2及び図
示していないラックサンプラに架設された一般試料につ
いての測定処理は開始される。Then, by selecting "start measurement", the measurement process for the sample set 2 provided on the circular sampler 20 and the general sample provided on the rack sampler (not shown) is started.
【0082】試料セットが多数ある場合には、同様にし
て各試料セットごとに登録し、測定を行えばよい。When there are a large number of sample sets, registration and measurement may be performed for each sample set in the same manner.
【0083】なお、再び試料セット1によって測定を行
なう場合には、図4に示した「試料セット2」の項目
を、「試料セット1」に変えることにより、図3に示し
た「試料セット1」に関する登録情報を再び呼びだすこ
とができる。When the measurement is again performed using the sample set 1, the item “sample set 2” shown in FIG. 4 is changed to “sample set 1” so that “sample set 1” shown in FIG. Can be recalled.
【0084】このような構成によれば、多数の試料セッ
トについての測定を必要とする場合であっても、装置を
大型化せず装置の操作性、設置制限、コストを同程度に
維持しながら、更なる測定項目の増加、詳細な検量線を
立てること及び精密な精度管理を可能にできる。According to such a configuration, even when measurement for a large number of sample sets is required, the operability, installation restrictions, and cost of the apparatus are maintained at the same level without increasing the size of the apparatus. Further, the number of measurement items can be further increased, a detailed calibration curve can be established, and precise precision control can be performed.
【0085】また、再度同一の試料セットで測定を行う
場合、再び登録する必要がなく各試料セットに応じた架
設分類を迅速に確認することができる。When the measurement is performed again with the same sample set, it is not necessary to register again, and the erection classification according to each sample set can be quickly confirmed.
【0086】なお、各試料セットごとの測定条件の登録
は、予めすべての試料セットについて入力してもよい
が、誤作業防止の観点から、各試料セットを選択架設サ
ンプラ22に最初に架設する時に各登録をすることが好
ましい。The measurement conditions for each sample set may be registered in advance for all the sample sets. However, from the viewpoint of preventing erroneous work, when each sample set is first installed on the selective installation sampler 22, It is preferable to make each registration.
【0087】以上、本発明を第1及び第2の実施の形態
に基いて説明したが、上記実施の形態に限定されるもの
ではなく、例えば以下に示すように、その要旨を変更し
ない範囲で種々変形可能である。The present invention has been described based on the first and second embodiments. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, as described below, the scope of the present invention is not changed. Various modifications are possible.
【0088】第1、第2の実施の形態においては、標準
試料専用サンプラ21と選択架設サンプラ22とは別駆
動であった。これに対し、図5に示した円形サンプラ2
3のように、一つのサンプラ上で架設位置を区別するこ
とにより標準試料専用位置24と選択架設位置25とし
て同様の効果を得ることも可能である。In the first and second embodiments, the standard sampler 21 and the selectively installed sampler 22 are driven separately. On the other hand, the circular sampler 2 shown in FIG.
By distinguishing the erection positions on one sampler as in 3, it is also possible to obtain the same effect as the standard sample dedicated position 24 and the selected erection position 25.
【0089】[0089]
【発明の効果】以上第1、第2の実施の形態で述べたよ
うに、選択架設サンプラ22に架設する試料セットの架
設分類を登録し、当該架設分類に応じた選択架設サンプ
ラ22の駆動制御を行うことで、装置自体を大型化せず
に多くの試料、特にキャリブレーション用標準試料を混
同せずに架設可能とした自動分析装置の実現できる。As described in the first and second embodiments, the erection class of the sample set erected on the selected erection sampler 22 is registered, and the drive control of the selected erection sampler 22 according to the erection class is registered. By performing the above, it is possible to realize an automatic analyzer that can be installed without increasing the size of the apparatus itself, and without confusing many samples, especially calibration standard samples.
【図1】円形サンプラ20の概略構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a circular sampler 20.
【図2】架設分類を測定条件として登録するための第1
の登録画面を示す図。FIG. 2 is a first diagram for registering an installation classification as a measurement condition.
The figure which shows the registration screen of.
【図3】試料セット1の架設分類を測定条件として登録
するための第2の登録画面を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a second registration screen for registering the erection classification of a sample set 1 as a measurement condition.
【図4】試料セット2の架設分類を測定条件として登録
するための第2の登録画面を示す図。FIG. 4 is a view showing a second registration screen for registering the erection classification of a sample set 2 as a measurement condition.
【図5】円形サンプラ20の変形例の概略構成を示す
図。FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a modification of the circular sampler 20;
【図6】自動分析装置の外観図。FIG. 6 is an external view of an automatic analyzer.
【図7】従来の円形サンプラ2の概略構成を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional circular sampler 2.
1…自動分析装置 20…円形サンプラ 21…標準試料専用サンプラ 22…選択架設サンプラ 23…円形サンプラ 24…標準試料専用位置 25…選択架設位置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Automatic analyzer 20 ... Circular sampler 21 ... Sampler for standard samples 22 ... Sampler for selective installation 23 ... Circular sampler 24 ... Position for exclusive use of standard samples 25 ... Position for selective installation
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中里 俊章 栃木県大田原市下石上1385番の1 株式会 社東芝那須工場内 Fターム(参考) 2G058 CB05 CD04 GA01 GA11 GD02 2G059 AA01 BB13 EE01 FF08 MM05 MM12 PP01 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Toshiaki Nakazato 1385-1 Shimoishigami, Otawara-shi, Tochigi F-term in the Toshiba Nasu Plant (reference) 2G058 CB05 CD04 GA01 GA11 GD02 2G059 AA01 BB13 EE01 FF08 MM05 MM12 PP01
Claims (3)
を行う制御手段と、 を具備する自動分析装置。An automatic analysis comprising: erection means for erection of a sample; input means for inputting the erection classification of the erection means; and control means for performing control according to the erection classification input by the input means. apparatus.
設分類とキャリブレーション用標準試料と精度管理用標
準試料とを架設する第2の架設分類と測定対象である一
般試料のみを架設する第3の架設分類のうちいずれか一
つを前記架設手段に架設する試料の架設分類として入力
する第1の架設分類入力手段と、 前記第1の架設分類入力手段により入力された架設分類
に応じた制御を行う制御手段と、 を具備する自動分析装置。2. A erection means for erection of a sample, a first erection classification for erection of only a calibration standard sample, and a second erection classification and measurement for erection of a calibration standard sample and a quality control standard sample. First erection classification inputting means for inputting any one of the third erection classifications for erection of only the target general sample as the erection classification of the sample erected on the erection means, and the first erection classification input Control means for performing control according to the erection classification input by the means.
各試料群に応じて架設分類を入力する第2の架設分類入
力手段をさらに具備する自動分析装置。3. The automatic analyzer according to claim 1, further comprising a second erection class inputting means for classifying the plurality of samples into a plurality of sample groups according to the erection classification and inputting the erection class according to each sample group. Automatic analyzer equipped.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6712199A JP2000258431A (en) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | Automatic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6712199A JP2000258431A (en) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | Automatic analyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000258431A true JP2000258431A (en) | 2000-09-22 |
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ID=13335764
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP6712199A Pending JP2000258431A (en) | 1999-03-12 | 1999-03-12 | Automatic analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2000258431A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008209338A (en) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Hitachi High-Technologies Corp | Automatic analyzer |
JP2009294230A (en) * | 2009-09-24 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | Automatic analyzer |
CN111381065A (en) * | 2018-12-28 | 2020-07-07 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | In-vitro diagnosis analyzer and sample rack processing method thereof |
-
1999
- 1999-03-12 JP JP6712199A patent/JP2000258431A/en active Pending
Cited By (5)
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JP4491505B2 (en) * | 2009-09-24 | 2010-06-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analyzer |
CN111381065A (en) * | 2018-12-28 | 2020-07-07 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | In-vitro diagnosis analyzer and sample rack processing method thereof |
CN111381065B (en) * | 2018-12-28 | 2023-12-12 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | In-vitro diagnosis analyzer and sample frame processing method thereof |
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