JP2000230960A - コネクタ接触状態検査装置 - Google Patents
コネクタ接触状態検査装置Info
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- JP2000230960A JP2000230960A JP11031209A JP3120999A JP2000230960A JP 2000230960 A JP2000230960 A JP 2000230960A JP 11031209 A JP11031209 A JP 11031209A JP 3120999 A JP3120999 A JP 3120999A JP 2000230960 A JP2000230960 A JP 2000230960A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子制御装置のコネクタの接触不良を検査す
る。 【解決手段】 電子制御装置２のコネクタ７とノイズ除
去用コンデンサ４とに起因する電圧と、前記コネクタ７
の接触抵抗がほぼ零のときに対応する基準電圧とを比較
し、その差が一定以上のとき接触不良ありの信号を発す
るコネクタ接触状態検査装置。
る。 【解決手段】 電子制御装置２のコネクタ７とノイズ除
去用コンデンサ４とに起因する電圧と、前記コネクタ７
の接触抵抗がほぼ零のときに対応する基準電圧とを比較
し、その差が一定以上のとき接触不良ありの信号を発す
るコネクタ接触状態検査装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、生産設備制御や車
両制御などのための電子制御装置に付属しているコネク
タの接触状態、特に接触不良の有無を検査するコネクタ
接触状態検査装置に関する。
両制御などのための電子制御装置に付属しているコネク
タの接触状態、特に接触不良の有無を検査するコネクタ
接触状態検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、生産設備、自動車などの車両は、
複雑で高度な制御が必要になってきた。このため、これ
らを制御するために多くの電子制御装置が装備されるよ
うになってきた。
複雑で高度な制御が必要になってきた。このため、これ
らを制御するために多くの電子制御装置が装備されるよ
うになってきた。
【０００３】電子制御装置には他の電子制御装置とか電
源などと接続するためにコネクタが装備されている。と
ころが、コネクタは、接触抵抗がほぼ零または一定以下
でないと、電子制御装置が正常に働かなくなることがあ
り得る。そのため、電子制御制御装置が正常に働くため
には、コネクタの接触抵抗が零または一定以下であるこ
とを確保することが必要である。
源などと接続するためにコネクタが装備されている。と
ころが、コネクタは、接触抵抗がほぼ零または一定以下
でないと、電子制御装置が正常に働かなくなることがあ
り得る。そのため、電子制御制御装置が正常に働くため
には、コネクタの接触抵抗が零または一定以下であるこ
とを確保することが必要である。
【０００４】このような課題を解決するため、コネクタ
の接続状態を検査するための従来の技術として、特開平
７―８３９８２を、図６に基づいて説明する。この従来
の技術は、一対のケーブル心線１０１からなるケーブル
心線対１０２を多数撚り合わせて構成された通信ケーブ
ル１０３の端部に設けられた多対コネクタ１０４とケー
ブル心線１０１との接続の良否を検査することを目的と
したものである。その構成は、多対コネクタ１０４に接
続されるケーブル心線対１０２に生じる静電容量ｃを検
出し、その静電容量ｃと標準的な静電容量との差の絶対
値が所定値以内の場合は接続良信号を、所定値を外れる
ときは接続不良信号を出力する静電容量検出手段１０５
を備えた多対コネクタ接続検査装置である。
の接続状態を検査するための従来の技術として、特開平
７―８３９８２を、図６に基づいて説明する。この従来
の技術は、一対のケーブル心線１０１からなるケーブル
心線対１０２を多数撚り合わせて構成された通信ケーブ
ル１０３の端部に設けられた多対コネクタ１０４とケー
ブル心線１０１との接続の良否を検査することを目的と
したものである。その構成は、多対コネクタ１０４に接
続されるケーブル心線対１０２に生じる静電容量ｃを検
出し、その静電容量ｃと標準的な静電容量との差の絶対
値が所定値以内の場合は接続良信号を、所定値を外れる
ときは接続不良信号を出力する静電容量検出手段１０５
を備えた多対コネクタ接続検査装置である。
【０００５】たとえば、多対コネクタ１０４に接続され
るべき２本のケーブル心線１０１の一方が断線している
ような場合には、このケーブル心線対１０２に生じる静
電容量ｃはほぼ零となり、その結果、前記静電容量ｃと
標準的な静電容量との差の絶対値が所定値を外れること
になり、接続不良信号を出力し、接続不良を検査するこ
とができるというものである。
るべき２本のケーブル心線１０１の一方が断線している
ような場合には、このケーブル心線対１０２に生じる静
電容量ｃはほぼ零となり、その結果、前記静電容量ｃと
標準的な静電容量との差の絶対値が所定値を外れること
になり、接続不良信号を出力し、接続不良を検査するこ
とができるというものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の技術
は、コネクタの接続の良否すなわち続・断の２値を静電
容量の大きさにより検査するものであり、この技術をコ
ネクタの接触の良否、つまり接続されてはいるが、接触
抵抗が大きいか小さいかを検査するために応用しようと
すると、コネクタの接触抵抗が大きい場合の静電容量と
コネクタの接触抵抗がほぼ零の場合の静電容量の差が微
少なため正確に接触抵抗を測定することが難しいという
問題がある。
は、コネクタの接続の良否すなわち続・断の２値を静電
容量の大きさにより検査するものであり、この技術をコ
ネクタの接触の良否、つまり接続されてはいるが、接触
抵抗が大きいか小さいかを検査するために応用しようと
すると、コネクタの接触抵抗が大きい場合の静電容量と
コネクタの接触抵抗がほぼ零の場合の静電容量の差が微
少なため正確に接触抵抗を測定することが難しいという
問題がある。
【０００７】本発明は、上記の問題を解決するために、
電子制御装置に一般に内蔵されているノイズ除去用コン
デンサとコネクタとから閉回路を形成し、その間の電圧
と、コネクタが接触不良を起こしているか否かを判断す
るための基準電圧とを比較し、その比較値が所定値以上
のときコネクタ接触不良信号を出力することのできる装
置を提供することを目的とする。
電子制御装置に一般に内蔵されているノイズ除去用コン
デンサとコネクタとから閉回路を形成し、その間の電圧
と、コネクタが接触不良を起こしているか否かを判断す
るための基準電圧とを比較し、その比較値が所定値以上
のときコネクタ接触不良信号を出力することのできる装
置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段とその効果】前述の目的を
達成するために、請求項１の発明は、電子制御装置に内
蔵されているノイズ除去用コンデンサの両端に接続され
ているコネクタに接続された電流源と、前記電流源に並
列に接続された電圧計と、前記コネクタが接触不良を起
こしているか否かを判断するための基準電圧を発生する
ための基準電圧発生器と、前記電圧計の測定電圧と前記
基準電圧とを比較しその比較値が所定値以上のときコネ
クタ接触不良信号を出力する電圧検出部を備えているこ
とを特徴とするコネクタ接触状態検査装置である。
達成するために、請求項１の発明は、電子制御装置に内
蔵されているノイズ除去用コンデンサの両端に接続され
ているコネクタに接続された電流源と、前記電流源に並
列に接続された電圧計と、前記コネクタが接触不良を起
こしているか否かを判断するための基準電圧を発生する
ための基準電圧発生器と、前記電圧計の測定電圧と前記
基準電圧とを比較しその比較値が所定値以上のときコネ
クタ接触不良信号を出力する電圧検出部を備えているこ
とを特徴とするコネクタ接触状態検査装置である。
【０００９】このような構成のコネクタ接触状態検査装
置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否をコネク
タの接触抵抗とコンデンサにより生起する電圧により判
断するので、精度よく接触状態の良否を検査することが
できる装置を提供できるという優れた効果を有する。
置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否をコネク
タの接触抵抗とコンデンサにより生起する電圧により判
断するので、精度よく接触状態の良否を検査することが
できる装置を提供できるという優れた効果を有する。
【００１０】前述の目的を達成するために、請求項２の
発明は、請求項１に記載のコネクタ接触状態検査装置に
おいて、前記コネクタ接触不良信号に基づいて接触不良
を表示する表示部を備えたことを特徴とするコネクタ接
触状態検査装置である。
発明は、請求項１に記載のコネクタ接触状態検査装置に
おいて、前記コネクタ接触不良信号に基づいて接触不良
を表示する表示部を備えたことを特徴とするコネクタ接
触状態検査装置である。
【００１１】このような構成のコネクタ接触状態検査装
置は、コネクタの接触不良を表示することができるの
で、コネクタの交換を適時に促し、電子制御装置の誤動
作を事前に予防することができる装置を提供できるとい
う優れた効果を有する。
置は、コネクタの接触不良を表示することができるの
で、コネクタの交換を適時に促し、電子制御装置の誤動
作を事前に予防することができる装置を提供できるとい
う優れた効果を有する。
【００１２】前述の目的を達成するために、請求項３の
発明は、請求項１に記載のコネクタ接触状態検査装置に
おいて、前記電圧計の測定電圧を記憶する記憶部を備え
たことを特徴とするコネクタ接触状態検査装置である。
発明は、請求項１に記載のコネクタ接触状態検査装置に
おいて、前記電圧計の測定電圧を記憶する記憶部を備え
たことを特徴とするコネクタ接触状態検査装置である。
【００１３】このような構成のコネクタ接触状態検査装
置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否を表す電
圧の履歴を連続的に記憶することができるので、誤動作
が発生した後、誤動作発生の原因ともなるコネクタの接
触不良が発生していたか否かを調査することができ、誤
動作の原因の究明が容易になるという優れた効果を有す
る。
置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否を表す電
圧の履歴を連続的に記憶することができるので、誤動作
が発生した後、誤動作発生の原因ともなるコネクタの接
触不良が発生していたか否かを調査することができ、誤
動作の原因の究明が容易になるという優れた効果を有す
る。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明の１実施例を図に基づき説
明する。
明する。
【００１５】図1は、本発明の１実施例を適用したコネ
クタ接触状態検査装置とその関連装置の概念図を示す。
クタ接触状態検査装置とその関連装置の概念図を示す。
【００１６】生産設備、車両などの制御対象１は、電子
制御装置２の制御回路３により制御される。電子制御装
置２は、前記制御回路３と、前記制御回路３に接続され
前記制御回路３にノイズが入力するのを防止するための
ノイズ除去用コンデンサ４と、前記ノイズ除去用コンデ
ンサ４の両端に接続された導線５、６により接続された
コネクタ７とを備えている。前記コネクタ７は、前記コ
ネクタ接触状態検査装置９のレセクタブル８に接続され
ている。
制御装置２の制御回路３により制御される。電子制御装
置２は、前記制御回路３と、前記制御回路３に接続され
前記制御回路３にノイズが入力するのを防止するための
ノイズ除去用コンデンサ４と、前記ノイズ除去用コンデ
ンサ４の両端に接続された導線５、６により接続された
コネクタ７とを備えている。前記コネクタ７は、前記コ
ネクタ接触状態検査装置９のレセクタブル８に接続され
ている。
【００１７】前記コネクタ接触状態検査装置９は、前記
導線５と前記コネクタ７との接触状態および前記導線６
と前記コネクタ７との接触状態を検査する。なお、前記
レセクタブル８と前記コネクタ７または導線との間の接
触抵抗はほぼ零に保持されるよう保守されているものと
する。
導線５と前記コネクタ７との接触状態および前記導線６
と前記コネクタ７との接触状態を検査する。なお、前記
レセクタブル８と前記コネクタ７または導線との間の接
触抵抗はほぼ零に保持されるよう保守されているものと
する。
【００１８】前記コネクタ接触状態検査装置９は、コネ
クタ接触抵抗測定部１０と、基準電圧発生器１３と、電
圧検出部１４と、表示部１５と、記憶部１６とを備えて
いる。
クタ接触抵抗測定部１０と、基準電圧発生器１３と、電
圧検出部１４と、表示部１５と、記憶部１６とを備えて
いる。
【００１９】前記コネクタ接触抵抗測定部１０は、前記
コネクタ７に前記レセクタブル８を介して接続されてい
る電流源１１と、前記電流源１１に並列に接続された電
圧計１２を有している。
コネクタ７に前記レセクタブル８を介して接続されてい
る電流源１１と、前記電流源１１に並列に接続された電
圧計１２を有している。
【００２０】以下に、前記コネクタ接触抵抗測定部１０
の作用を説明する。前記電子制御装置２の前記コネクタ
７に前記レセクタブル８を接続し、（図示のない）開閉
器を操作して前記電流源１１から電流を流すと、前記ノ
イズ除去用コンデンサ４、前記導線５、前記導線６、前
記コネクタ７および前記電流源１１により構成される閉
回路を電流が流れる。このとき、前記電圧計１２によ
り、前記電流源１１に並列に接続されているので、前記
ノイズ除去用コンデンサ４と前記コネクタ７に起因する
電圧が測定される。
の作用を説明する。前記電子制御装置２の前記コネクタ
７に前記レセクタブル８を接続し、（図示のない）開閉
器を操作して前記電流源１１から電流を流すと、前記ノ
イズ除去用コンデンサ４、前記導線５、前記導線６、前
記コネクタ７および前記電流源１１により構成される閉
回路を電流が流れる。このとき、前記電圧計１２によ
り、前記電流源１１に並列に接続されているので、前記
ノイズ除去用コンデンサ４と前記コネクタ７に起因する
電圧が測定される。
【００２１】図２は、図１の前記コネクタ接触抵抗測定
部１０と前記ノイズ除去用コンデンサ４と前記コネクタ
７とからなる回路を模式的に表した図である。図２によ
り、接触抵抗と電圧との関係を説明する。なお、前記コ
ネクタ７と前記導線５との接触抵抗と、前記コネクタ７
と前記導線６との接触抵抗は直列に接続されているの
で、加算して抵抗器１７の抵抗としてあらわしてある。
レセクタブル８と（符号の表示のない）導線との接触抵
抗は、零としている。
部１０と前記ノイズ除去用コンデンサ４と前記コネクタ
７とからなる回路を模式的に表した図である。図２によ
り、接触抵抗と電圧との関係を説明する。なお、前記コ
ネクタ７と前記導線５との接触抵抗と、前記コネクタ７
と前記導線６との接触抵抗は直列に接続されているの
で、加算して抵抗器１７の抵抗としてあらわしてある。
レセクタブル８と（符号の表示のない）導線との接触抵
抗は、零としている。
【００２２】前記電流源から流れる電流をIとし、前記
コネクタ７の接触抵抗をRとし、前記ノイズ除去用コン
デンサ４の静電容量をC０とすると、通電後ｔ秒後の前
記電圧計に表れる電圧V（ｔ）は以下の式により算出さ
れる。 V（ｔ）＝Iｔ／C０＋RI 通電後ｔ０秒後の前記電圧は、接触抵抗の有無により以
下のようになる。 接触抵抗R＝R０のとき、 V（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋R
０I 接触抵抗R＝０のとき、 V０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０ 図３は、この様子をあらわしたグラフである。横軸に通
電後の時間ｔをとり、縦軸に電圧計に表れる電圧V
（ｔ）をとっている。通電後ｔ０秒後における、接触抵
抗RがR０のときの電圧V（ｔ０）と接触抵抗Rが零のとき
の電圧V０（ｔ０）が対比して表示されている。図３か
ら明らかなように、 V（ｔ０）−V０（ｔ０）を評価す
れば、V（ｔ０）−V０（ｔ０）＝ R０Iであるので、接
触抵抗の大きさが電圧に比例的に反映するので、精度の
よい検査をすることができることになる。
コネクタ７の接触抵抗をRとし、前記ノイズ除去用コン
デンサ４の静電容量をC０とすると、通電後ｔ秒後の前
記電圧計に表れる電圧V（ｔ）は以下の式により算出さ
れる。 V（ｔ）＝Iｔ／C０＋RI 通電後ｔ０秒後の前記電圧は、接触抵抗の有無により以
下のようになる。 接触抵抗R＝R０のとき、 V（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋R
０I 接触抵抗R＝０のとき、 V０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０ 図３は、この様子をあらわしたグラフである。横軸に通
電後の時間ｔをとり、縦軸に電圧計に表れる電圧V
（ｔ）をとっている。通電後ｔ０秒後における、接触抵
抗RがR０のときの電圧V（ｔ０）と接触抵抗Rが零のとき
の電圧V０（ｔ０）が対比して表示されている。図３か
ら明らかなように、 V（ｔ０）−V０（ｔ０）を評価す
れば、V（ｔ０）−V０（ｔ０）＝ R０Iであるので、接
触抵抗の大きさが電圧に比例的に反映するので、精度の
よい検査をすることができることになる。
【００２３】図１に戻って説明する。前記基準電圧発生
器１３は、基準電圧として、通電後の時間ｔ秒に対応し
て設定された電圧V（ｔ）＝ Iｔ／C０＋αを出力するよ
うに設定されている。たとえば、通電後ｔ０秒後の基準
電圧をV０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋αに設定する。な
お、前記電圧αは、（図示しない）電圧調整スイッチに
より大きくも小さくも設定を変更することができる。最
も小さい値は、零である。前記電圧αを調整することに
より、前記制御回路３が誤動作を起こすおそれのあるコ
ネクタ接触抵抗が前記制御回路３の仕様に応じて変わり
得ることに対応して前記基準電圧を調整することができ
るようになっている。
器１３は、基準電圧として、通電後の時間ｔ秒に対応し
て設定された電圧V（ｔ）＝ Iｔ／C０＋αを出力するよ
うに設定されている。たとえば、通電後ｔ０秒後の基準
電圧をV０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋αに設定する。な
お、前記電圧αは、（図示しない）電圧調整スイッチに
より大きくも小さくも設定を変更することができる。最
も小さい値は、零である。前記電圧αを調整することに
より、前記制御回路３が誤動作を起こすおそれのあるコ
ネクタ接触抵抗が前記制御回路３の仕様に応じて変わり
得ることに対応して前記基準電圧を調整することができ
るようになっている。
【００２４】前記電圧検出部１４は、前記電圧計から出
力する電圧と前記基準電圧発生器１３の基準電圧を比較
し、その比較値が所定値以上のときコネクタ接触不良信
号を出力する機能を有するものである。前記比較値は、
前記電圧計から出力する電圧と前記基準電圧発生器１３
の基準電圧との差により導き出す方式もあれば、前記電
圧計から出力する電圧を前記基準電圧発生器１３の基準
電圧で割算する方式もある。
力する電圧と前記基準電圧発生器１３の基準電圧を比較
し、その比較値が所定値以上のときコネクタ接触不良信
号を出力する機能を有するものである。前記比較値は、
前記電圧計から出力する電圧と前記基準電圧発生器１３
の基準電圧との差により導き出す方式もあれば、前記電
圧計から出力する電圧を前記基準電圧発生器１３の基準
電圧で割算する方式もある。
【００２５】また、前記所定値以上というのは、零以上
をさし、前記した基準電圧の調整機能を設けた理由と同
様に、前記制御回路３が誤動作を起こすおそれのあるコ
ネクタ接触抵抗が前記制御回路３の仕様に応じて変わり
得ることに対応して調整可能にしたものである。
をさし、前記した基準電圧の調整機能を設けた理由と同
様に、前記制御回路３が誤動作を起こすおそれのあるコ
ネクタ接触抵抗が前記制御回路３の仕様に応じて変わり
得ることに対応して調整可能にしたものである。
【００２６】上記構成の作用を以下に説明する。たとえ
ば、通電後ｔ０秒後の前記基準電圧発生器１３の基準電
圧を接触抵抗R＝０のときの電圧Iｔ０／C０と同じ電圧
に設定する。コネクタの接触抵抗が零のときは、前記電
圧計１２から出力される電圧は Iｔ０／C０となるの
で、コネクタ接触不良信号を出力することがない。しか
し、コネクタの接触抵抗がR０のとき、前記電圧計１２
から出力される電圧はIｔ０／C０＋R０Iとなり、前記比
較値として、前記電圧計から出力された電圧Iｔ０／C０
＋R０Iと前記基準電圧発生器１３の基準電圧Iｔ０／C０
との差により導き出す方式をとれば、（Iｔ０／C０＋R
０I）−（Iｔ０／C０）＝ R０Iとなる。この場合、前記
所定値を R０Iより小さい値を設定しておけば、（Iｔ０
／C０＋R０I）−（Iｔ０／C０）＝ R０I ＞所定値とな
り、コネクタ接触不良信号を出力することになる。
ば、通電後ｔ０秒後の前記基準電圧発生器１３の基準電
圧を接触抵抗R＝０のときの電圧Iｔ０／C０と同じ電圧
に設定する。コネクタの接触抵抗が零のときは、前記電
圧計１２から出力される電圧は Iｔ０／C０となるの
で、コネクタ接触不良信号を出力することがない。しか
し、コネクタの接触抵抗がR０のとき、前記電圧計１２
から出力される電圧はIｔ０／C０＋R０Iとなり、前記比
較値として、前記電圧計から出力された電圧Iｔ０／C０
＋R０Iと前記基準電圧発生器１３の基準電圧Iｔ０／C０
との差により導き出す方式をとれば、（Iｔ０／C０＋R
０I）−（Iｔ０／C０）＝ R０Iとなる。この場合、前記
所定値を R０Iより小さい値を設定しておけば、（Iｔ０
／C０＋R０I）−（Iｔ０／C０）＝ R０I ＞所定値とな
り、コネクタ接触不良信号を出力することになる。
【００２７】以上説明した構成のコネクタ接触状態検査
装置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否をコネ
クタの接触抵抗とコンデンサにより生起する電圧により
判断するので、精度よく接触状態の良否を検査すること
ができる装置を提供できるという優れた効果を有する。
装置は、コネクタの接触状態すなわち接触の良否をコネ
クタの接触抵抗とコンデンサにより生起する電圧により
判断するので、精度よく接触状態の良否を検査すること
ができる装置を提供できるという優れた効果を有する。
【００２８】本発明が精度のよい検査ができる点につい
て、従来の技術と対比して説明する。
て、従来の技術と対比して説明する。
【００２９】本発明の実施例によると、前記したよう
に、図２において、通電後ｔ０秒後の前記電圧計１２の
電圧は、接触抵抗の有無により以下のようになる。 接触抵抗R＝０のとき、 V０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０ 接触抵抗R＝R０のとき、 V（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋R
０I となる。接触抵抗の検出のしやすさを電圧の変化率｜V
（ｔ０）−V０（ｔ０）｜／ V０（ｔ０）で表すと、 ｜V（ｔ０）−V０（ｔ０）｜／ V０（ｔ０）＝(C０／ｔ
０) R０ となる。
に、図２において、通電後ｔ０秒後の前記電圧計１２の
電圧は、接触抵抗の有無により以下のようになる。 接触抵抗R＝０のとき、 V０（ｔ０）＝ Iｔ０／C０ 接触抵抗R＝R０のとき、 V（ｔ０）＝ Iｔ０／C０＋R
０I となる。接触抵抗の検出のしやすさを電圧の変化率｜V
（ｔ０）−V０（ｔ０）｜／ V０（ｔ０）で表すと、 ｜V（ｔ０）−V０（ｔ０）｜／ V０（ｔ０）＝(C０／ｔ
０) R０ となる。
【００３０】従来の技術の場合は、図２の電圧計１２、
電流源１１に代えて（図示しない）定電流印加方式の静
電容量計を設けコネクタとノイズ除去用コンデンサから
なる回路の静電容量を測定することが仮定される。この
場合、通電後ｔ０秒後の前記静電容量は、接触抵抗の有
無により以下のようになる。 接触抵抗R＝０のとき、 静電容量C0 接触抵抗R＝R０のとき、 静電容量C＝C0Ｉt0／（Ｉｔ
０＋Ｒ０ＩＣ０） となる。接触抵抗の検出のしやすさを静電容量の変化率
｜C−C０｜／ C０で表すと、 となる。
電流源１１に代えて（図示しない）定電流印加方式の静
電容量計を設けコネクタとノイズ除去用コンデンサから
なる回路の静電容量を測定することが仮定される。この
場合、通電後ｔ０秒後の前記静電容量は、接触抵抗の有
無により以下のようになる。 接触抵抗R＝０のとき、 静電容量C0 接触抵抗R＝R０のとき、 静電容量C＝C0Ｉt0／（Ｉｔ
０＋Ｒ０ＩＣ０） となる。接触抵抗の検出のしやすさを静電容量の変化率
｜C−C０｜／ C０で表すと、 となる。
【００３１】前記電圧の変化率と前記静電容量の変化率
を概念的に示したのが図４である。横軸にコネクタの接
触抵抗をとり、縦軸に電圧および静電容量の変化率をと
る。図４から明らかなように、電圧の変化率は、接触抵
抗の増加につれて比例的に増加するが、静電容量の変化
率は、比例的に増加せず、接触抵抗の増加につれて漸増
する程度である。従って、接触抵抗が大きくなればなる
ほど、電圧の変化率による方が静電容量の変化率による
方より接触抵抗を精度よく測定できるといえる。図５
は、図２の前記ノイズ除去用コンデンサの静電容量を
０．１μFとし、通電後１ｍｓｅｃ時の前記電圧の変化
率および前記静電容量の変化率を示した算出例である。
図５から、接触抵抗が大きくなればなるほど、電圧の変
化率による方が静電容量の変化率によるより接触抵抗を
精度よく測定できることがわかる。
を概念的に示したのが図４である。横軸にコネクタの接
触抵抗をとり、縦軸に電圧および静電容量の変化率をと
る。図４から明らかなように、電圧の変化率は、接触抵
抗の増加につれて比例的に増加するが、静電容量の変化
率は、比例的に増加せず、接触抵抗の増加につれて漸増
する程度である。従って、接触抵抗が大きくなればなる
ほど、電圧の変化率による方が静電容量の変化率による
方より接触抵抗を精度よく測定できるといえる。図５
は、図２の前記ノイズ除去用コンデンサの静電容量を
０．１μFとし、通電後１ｍｓｅｃ時の前記電圧の変化
率および前記静電容量の変化率を示した算出例である。
図５から、接触抵抗が大きくなればなるほど、電圧の変
化率による方が静電容量の変化率によるより接触抵抗を
精度よく測定できることがわかる。
【００３２】以上説明した請求項１の発明の実施例によ
れば、以下の効果を有する。
れば、以下の効果を有する。
【００３３】上記コネクタ接触状態検査装置９は、コネ
クタ７の接触状態すなわち接触の良否をコネクタ７の接
触抵抗とコンデンサ４による降下電圧により判断するの
で、精度よく接触状態の良否を検査することができ、前
記電子制御装置２がコネクタ７の接触不良を原因とする
誤動作の危険を少なくすることができるという優れた効
果を有する。
クタ７の接触状態すなわち接触の良否をコネクタ７の接
触抵抗とコンデンサ４による降下電圧により判断するの
で、精度よく接触状態の良否を検査することができ、前
記電子制御装置２がコネクタ７の接触不良を原因とする
誤動作の危険を少なくすることができるという優れた効
果を有する。
【００３４】また、上記コネクタ接触状態検査装置９を
利用すれば、前記電子制御装置２に接触抵抗測定用回路
を設けるなどの改造する必要がなく、手軽に前記電子制
御装置２の外部から測定できるという優れた効果を有す
る。
利用すれば、前記電子制御装置２に接触抵抗測定用回路
を設けるなどの改造する必要がなく、手軽に前記電子制
御装置２の外部から測定できるという優れた効果を有す
る。
【００３５】また、上記コネクタ接触状態検査装置９を
利用すれば、前記電子制御装置２の製造工程において前
記コネクタの接触状態の良否を検査する必要がある場合
でも、最終工程での完成後、手軽に前記電子制御装置２
の外部から測定できるという優れた効果を有する。
利用すれば、前記電子制御装置２の製造工程において前
記コネクタの接触状態の良否を検査する必要がある場合
でも、最終工程での完成後、手軽に前記電子制御装置２
の外部から測定できるという優れた効果を有する。
【００３６】図１に示すように、前記コネクタ接触状態
検査装置９には、前記電圧検出部１４の出力を受けるよ
う接続された表示部１５が設けられている。前記表示部
１５は、前記電圧検出部１４から前記コネクタ接触不良
信号を受けると、コネクタが接触不良であることを知ら
せる機能を持っている。たとえば、前記表示部１５は、
コネクタの交換を促すための警報を発したり、文字を表
示したり、ランプの点灯や点滅などでコネクタ接触不良
を報知したりするものである。
検査装置９には、前記電圧検出部１４の出力を受けるよ
う接続された表示部１５が設けられている。前記表示部
１５は、前記電圧検出部１４から前記コネクタ接触不良
信号を受けると、コネクタが接触不良であることを知ら
せる機能を持っている。たとえば、前記表示部１５は、
コネクタの交換を促すための警報を発したり、文字を表
示したり、ランプの点灯や点滅などでコネクタ接触不良
を報知したりするものである。
【００３７】このように表示部１５を備えたコネクタ接
触状態検査装置は、コネクタの接触不良を表示すること
ができるので、コネクタの交換を適時に促し、電子制御
装置の誤動作を事前に予防することができるという優れ
た効果を有する。
触状態検査装置は、コネクタの接触不良を表示すること
ができるので、コネクタの交換を適時に促し、電子制御
装置の誤動作を事前に予防することができるという優れ
た効果を有する。
【００３８】図１の前記コネクタ接触状態検査装置９に
は、前記電圧計１２の出力である測定電圧を記憶するた
めの記憶部１６が設けられている。この記憶部１６は、
コネクタの接触状態すなわち接触の良否を表す電圧の履
歴を連続的に記憶することができるので、誤動作が発生
した後、誤動作発生の原因ともなるコネクタの接触不良
が発生していたか否かを調査することができ、誤動作の
原因の究明が容易になるという優れた効果を有する。
は、前記電圧計１２の出力である測定電圧を記憶するた
めの記憶部１６が設けられている。この記憶部１６は、
コネクタの接触状態すなわち接触の良否を表す電圧の履
歴を連続的に記憶することができるので、誤動作が発生
した後、誤動作発生の原因ともなるコネクタの接触不良
が発生していたか否かを調査することができ、誤動作の
原因の究明が容易になるという優れた効果を有する。
【図１】本発明の１実施例を適用したコネクタ接触状態
検査装置とその関連装置の概念図を示す。
検査装置とその関連装置の概念図を示す。
【図２】前記コネクタ接触抵抗測定部１０と前記ノイズ
除去用コンデンサ４と前記コネクタ７とからなる回路を
模式的に表した図である。
除去用コンデンサ４と前記コネクタ７とからなる回路を
模式的に表した図である。
【図３】通電後ｔ秒後の前記電圧計１２に表れる電圧V
（ｔ）のグラフである。
（ｔ）のグラフである。
【図４】電圧の変化率と静電容量の変化率を概念的に示
したグラフである。
したグラフである。
【図５】電圧の変化率と静電容量の変化率を算出したグ
ラフである。
ラフである。
【図６】従来の技術のコネクタ接続検査装置の概念図で
ある。
ある。
１……制御対象、２……電子制御装置、３……制御回
路、４……ノイズ除去用コンデンサ、５……導線、６…
…導線、７……コネクタ、８……レセクタブル、９……
コネクタ接触状態検査装置、１０……コネクタ接触抵抗
測定部、１１……電流源、１２……電圧計、１３……基
準電圧発生器、１４……電圧検出部、１５……表示部、
１６……記憶部、１７……抵抗器 １０１……ケーブル心線、１０２……ケーブル心線対、
１０３……通信ケーブル、１０４……多対コネクタ、１
０５……静電容量検出手段
路、４……ノイズ除去用コンデンサ、５……導線、６…
…導線、７……コネクタ、８……レセクタブル、９……
コネクタ接触状態検査装置、１０……コネクタ接触抵抗
測定部、１１……電流源、１２……電圧計、１３……基
準電圧発生器、１４……電圧検出部、１５……表示部、
１６……記憶部、１７……抵抗器 １０１……ケーブル心線、１０２……ケーブル心線対、
１０３……通信ケーブル、１０４……多対コネクタ、１
０５……静電容量検出手段
Claims (3)
- 【請求項１】 電子制御装置に内蔵されているノイズ除
去用コンデンサの両端に接続されているコネクタに接続
された電流源と、前記電流源に並列に接続された電圧計
と、前記コネクタが接触不良を起こしているか否かを判
断するための基準電圧を発生するための基準電圧発生器
と、前記電圧計の測定電圧と前記基準電圧とを比較しそ
の比較値が所定値以上のときコネクタ接触不良信号を出
力する電圧検出部を備えていることを特徴とするコネク
タ接触状態検査装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のコネクタ接触状態検査
装置において、前記コネクタ接触不良信号に基づいて接
触不良を表示する表示部を備えたことを特徴とするコネ
クタ接触状態検査装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載のコネクタ接触状態検査
装置において、前記電圧計の測定電圧を記憶する記憶部
を備えたことを特徴とするコネクタ接触状態検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031209A JP2000230960A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | コネクタ接触状態検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031209A JP2000230960A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | コネクタ接触状態検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000230960A true JP2000230960A (ja) | 2000-08-22 |
Family
ID=12325054
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11031209A Pending JP2000230960A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | コネクタ接触状態検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000230960A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008093314A (ja) * | 2006-10-16 | 2008-04-24 | Pentax Corp | 超音波診断装置 |
| KR101002573B1 (ko) | 2009-06-25 | 2010-12-17 | 주식회사 리얼게인 | 슬롯진단장치 |
| WO2013093431A1 (en) | 2011-12-22 | 2013-06-27 | Silicon Sensing Systems Limited | Critical capacitor built in test |
| CN103852682A (zh) * | 2012-11-28 | 2014-06-11 | 联发科技股份有限公司 | 侦测电路以及电路侦测方法 |
| AT518595A1 (de) * | 2016-04-18 | 2017-11-15 | Avl Ditest Gmbh | Bestimmung der elektrischen Kontaktierung |
| CN109813998A (zh) * | 2019-01-14 | 2019-05-28 | 珠海格力电器股份有限公司 | 一种数码设备接口潮湿检测电路及终端 |
| EP4354161A1 (en) * | 2022-10-14 | 2024-04-17 | Melexis Technologies SA | Error detection circuit for monitoring an external component |
-
1999
- 1999-02-09 JP JP11031209A patent/JP2000230960A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008093314A (ja) * | 2006-10-16 | 2008-04-24 | Pentax Corp | 超音波診断装置 |
| KR101002573B1 (ko) | 2009-06-25 | 2010-12-17 | 주식회사 리얼게인 | 슬롯진단장치 |
| US9383400B2 (en) | 2011-12-22 | 2016-07-05 | Silicon Sensing Systems Limited | Critical capacitor built in test |
| WO2013093431A1 (en) | 2011-12-22 | 2013-06-27 | Silicon Sensing Systems Limited | Critical capacitor built in test |
| GB2511220A (en) * | 2011-12-22 | 2014-08-27 | Silicon Sensing Systems Ltd | Critical capacitor built in test |
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| CN103852682A (zh) * | 2012-11-28 | 2014-06-11 | 联发科技股份有限公司 | 侦测电路以及电路侦测方法 |
| CN103852682B (zh) * | 2012-11-28 | 2016-10-05 | 联发科技股份有限公司 | 侦测电路以及电路侦测方法 |
| US9588859B2 (en) | 2012-11-28 | 2017-03-07 | Mediatek Inc. | Detecting circuit and related circuit detecting method |
| AT518595A1 (de) * | 2016-04-18 | 2017-11-15 | Avl Ditest Gmbh | Bestimmung der elektrischen Kontaktierung |
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| US10753985B2 (en) | 2016-04-18 | 2020-08-25 | Avl Ditest Gmbh | Determining electrical contacting between an electrical system and a measuring system |
| CN109813998A (zh) * | 2019-01-14 | 2019-05-28 | 珠海格力电器股份有限公司 | 一种数码设备接口潮湿检测电路及终端 |
| EP4354161A1 (en) * | 2022-10-14 | 2024-04-17 | Melexis Technologies SA | Error detection circuit for monitoring an external component |
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