JPH0411180Y2 - - Google Patents
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- JPH0411180Y2 JPH0411180Y2 JP13673186U JP13673186U JPH0411180Y2 JP H0411180 Y2 JPH0411180 Y2 JP H0411180Y2 JP 13673186 U JP13673186 U JP 13673186U JP 13673186 U JP13673186 U JP 13673186U JP H0411180 Y2 JPH0411180 Y2 JP H0411180Y2
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- JP
- Japan
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- circuit
- conductor
- probe
- pulse
- output
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 40
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 37
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は低抵抗計のプローブやケーブル線など
のような複数本の導体を一度に検査して、それら
各導体の断線の有無を判定する装置に関する。
のような複数本の導体を一度に検査して、それら
各導体の断線の有無を判定する装置に関する。
従来の技術
従来、低抵抗計には被測定抵抗に定電流を流
し、その両端の電圧を測定するため、定電流源の
端子と、電圧計の端子とが各々2個ずつ備えられ
ている(4端子法)。又、それらの各端子からは
プローブ(リード線)が出ている。この低抵抗計
には、更に第2図に示すような警告回路がある。
図中、10は定電流源、12(12a,12b)
はその各端子から出て被測定抵抗(抵抗値RX)
14に接続されたプローブである。16はオペア
ンプから成るコンパレータ、18はその基準電圧
源(電圧値E)である。このコンパレータ16は
被測定抵抗14の両端電圧と基準電圧Eとを比較
し、データ出力にNG信号を送り、表示を消灯又
は点滅させるなどして、測定者に警告を発する。
なお、基準電圧Eには定電流が崩れる直前の定電
流源の電圧を設定するため、抵抗値RXが測定範
囲を大幅に超えた時に警告を出すことになる。
又、電流プローブが開放したり、うまくクリツプ
されなかつたり、断線している状態の時もNG信
号が出る。
し、その両端の電圧を測定するため、定電流源の
端子と、電圧計の端子とが各々2個ずつ備えられ
ている(4端子法)。又、それらの各端子からは
プローブ(リード線)が出ている。この低抵抗計
には、更に第2図に示すような警告回路がある。
図中、10は定電流源、12(12a,12b)
はその各端子から出て被測定抵抗(抵抗値RX)
14に接続されたプローブである。16はオペア
ンプから成るコンパレータ、18はその基準電圧
源(電圧値E)である。このコンパレータ16は
被測定抵抗14の両端電圧と基準電圧Eとを比較
し、データ出力にNG信号を送り、表示を消灯又
は点滅させるなどして、測定者に警告を発する。
なお、基準電圧Eには定電流が崩れる直前の定電
流源の電圧を設定するため、抵抗値RXが測定範
囲を大幅に超えた時に警告を出すことになる。
又、電流プローブが開放したり、うまくクリツプ
されなかつたり、断線している状態の時もNG信
号が出る。
この時、コンパレータ16に入るのは定電流源の
電圧である。このようにして、測定者は警告の有
無で電流プローブの断線状態などを確認すること
ができる。
電圧である。このようにして、測定者は警告の有
無で電流プローブの断線状態などを確認すること
ができる。
考案が解決しようとする問題点
しかしながら、このような警報回路では電流プ
ローブの状態しかわからない。電圧計のプローブ
の判定はしていない。このため、電圧計のプロー
ブが断線していると、この低抵抗計は誤つた表示
をすることになる。
ローブの状態しかわからない。電圧計のプローブ
の判定はしていない。このため、電圧計のプロー
ブが断線していると、この低抵抗計は誤つた表示
をすることになる。
本考案はこのような従来の問題点に着目してな
されたものであり、複数本の導体につき、それら
各導体の断線の有無を一度に検査できる複数本の
導体断線検査装置を提供することを目的とする。
されたものであり、複数本の導体につき、それら
各導体の断線の有無を一度に検査できる複数本の
導体断線検査装置を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するための手段を、以下実施例
に対応する第1図を用いて説明する。
に対応する第1図を用いて説明する。
この複数本の導体断線検査装置は複数本の被測
定導体20の一端を互いに短絡しておき、それら
各導体20の他端に、順次パルス信号を与えるパ
ルス発生器22を接続する。そこに各導体20に
対応し、その導体20に入るパルス信号は直接受
け、他の導体20に入るパルス信号はラツチ回路
28を経てそれぞれ受ける複数のアンド回路26
と、各導体20の短絡個所をラツチ回路32を介
して各アンド回路26にそれぞれ接続する短絡端
子30と、各アンド回路26からの出力信号を受
け、各導体20の断線の有無を判定する回路34
とを備える。
定導体20の一端を互いに短絡しておき、それら
各導体20の他端に、順次パルス信号を与えるパ
ルス発生器22を接続する。そこに各導体20に
対応し、その導体20に入るパルス信号は直接受
け、他の導体20に入るパルス信号はラツチ回路
28を経てそれぞれ受ける複数のアンド回路26
と、各導体20の短絡個所をラツチ回路32を介
して各アンド回路26にそれぞれ接続する短絡端
子30と、各アンド回路26からの出力信号を受
け、各導体20の断線の有無を判定する回路34
とを備える。
作 用
上記手段は次のように作用する。
複数本の被測定導体20の各一端を互いに短絡
しておき、それら各導体20の他端に、順次パル
ス信号を与えるパルス発生器22を接続すると、
各導体20に向けて順番にパルス信号を発生する
ことができる。その際、パルス信号が向けられた
導体20に断線がないと、そのパルス信号は短絡
個所を通じ、他の導体20にも伝わつていく。、
又、それら各導体20に対応し、その導体20に
向けられたパルス信号は直接受け、その導体20
を通じて他の導体20に入るパルス信号はラツチ
回路28を経て受ける複数のアンド回路26と、
各導体20の短絡個所をラツチ回路32を介して
各アンド回路26に接続する短絡端子30と、各
アンド回路26からの出力信号を受け、各導体2
0の断線の有無を判定する判定回路34とを備え
ると、パルス信号が向けられた導体20が導通し
ていれば、その導体20に対応するアンド回路2
6に入る入力が少なくとも1つ短絡端子30に接
続されたラツチ回路32によつて“L”となるた
め、その出力も“L”となり、そこに接続された
判定回路34の出力は“L”のままで変化がな
い。次に、パルス信号が向けられた導体20に断
線があると、その導体20に対応するアンド回路
26に直接入る入力がパルス信号によつて“H”
になると、他の入力は全て“H”のままであるか
ら、全入力が“H”となり、出力が“H”に変わ
る。そこで、判定回路34の出力も“H”に変化
する。この判定回路34の出力“H”によつて、
データ出力にNG信号を送つたり、警告のための
表示を消灯又は点滅させる。
しておき、それら各導体20の他端に、順次パル
ス信号を与えるパルス発生器22を接続すると、
各導体20に向けて順番にパルス信号を発生する
ことができる。その際、パルス信号が向けられた
導体20に断線がないと、そのパルス信号は短絡
個所を通じ、他の導体20にも伝わつていく。、
又、それら各導体20に対応し、その導体20に
向けられたパルス信号は直接受け、その導体20
を通じて他の導体20に入るパルス信号はラツチ
回路28を経て受ける複数のアンド回路26と、
各導体20の短絡個所をラツチ回路32を介して
各アンド回路26に接続する短絡端子30と、各
アンド回路26からの出力信号を受け、各導体2
0の断線の有無を判定する判定回路34とを備え
ると、パルス信号が向けられた導体20が導通し
ていれば、その導体20に対応するアンド回路2
6に入る入力が少なくとも1つ短絡端子30に接
続されたラツチ回路32によつて“L”となるた
め、その出力も“L”となり、そこに接続された
判定回路34の出力は“L”のままで変化がな
い。次に、パルス信号が向けられた導体20に断
線があると、その導体20に対応するアンド回路
26に直接入る入力がパルス信号によつて“H”
になると、他の入力は全て“H”のままであるか
ら、全入力が“H”となり、出力が“H”に変わ
る。そこで、判定回路34の出力も“H”に変化
する。この判定回路34の出力“H”によつて、
データ出力にNG信号を送つたり、警告のための
表示を消灯又は点滅させる。
実施例
以下、添附図面に基づいて、本考案の実施例を
説明する。
説明する。
第1図は本考案の一実施例による複数本の導体
断線検査装置の要部を示す回路図である。図中、
20(20a〜20d)は低抵抗計から取り外し
た検査の対象となる定電流供給用2本と電圧検出
用2本の計4本のプローブである。それら各プロ
ーブ20の一端を互いに短絡して用いる。22は
そのような各プローブ20の他端に接続され、そ
れら各プローブ20に順次1パルスずつのパルス
信号を与えるパルス発生器である。なお、24
(24a〜24d)はパルス発生器22と各プロ
ーブ20との間に介在し、逆流を防止するダイオ
ードである。26(26a〜26d)は各プロー
ブ20にそれぞれ対応するアンド回路である。こ
れら各アンド回路26は対応するプローブ20に
向けられたパルス信号は直接受け、そのプローブ
20を通じて他のプローブ20に入るパルス信号
はラツチ回路を経て、それぞれ受けている。な
お、28(28a〜28d)がそのようなラツチ
回路である。30は被測定導体20の短絡個所を
ラツチ回路32を介して各アンド回路26に接続
する短絡端子である。34はこれら各アンド回路
26からの出力信号を受け、各プローブ20の断
線の有無を判定する判定回路である。この判定回
路34内には各アンド回路26からの出力信号を
それぞれ受け、断線を検出した時、データ出力に
NG信号を送つたり、警告のため表示を消灯又は
点滅させるなどするラツチ回路36(36a〜3
6d)が含まれている。なお、上述したラツチ回
路28、32,36にはいずれもそれらのD端子
と端子とを短絡したDタイプのフリツプフロツ
プを用いる。そして、プローブ20の断線検査に
当つては先ず、D端子の出力を共に、“H”、Q
端子の出力を“L”とするリセツト状態に設定す
る。
断線検査装置の要部を示す回路図である。図中、
20(20a〜20d)は低抵抗計から取り外し
た検査の対象となる定電流供給用2本と電圧検出
用2本の計4本のプローブである。それら各プロ
ーブ20の一端を互いに短絡して用いる。22は
そのような各プローブ20の他端に接続され、そ
れら各プローブ20に順次1パルスずつのパルス
信号を与えるパルス発生器である。なお、24
(24a〜24d)はパルス発生器22と各プロ
ーブ20との間に介在し、逆流を防止するダイオ
ードである。26(26a〜26d)は各プロー
ブ20にそれぞれ対応するアンド回路である。こ
れら各アンド回路26は対応するプローブ20に
向けられたパルス信号は直接受け、そのプローブ
20を通じて他のプローブ20に入るパルス信号
はラツチ回路を経て、それぞれ受けている。な
お、28(28a〜28d)がそのようなラツチ
回路である。30は被測定導体20の短絡個所を
ラツチ回路32を介して各アンド回路26に接続
する短絡端子である。34はこれら各アンド回路
26からの出力信号を受け、各プローブ20の断
線の有無を判定する判定回路である。この判定回
路34内には各アンド回路26からの出力信号を
それぞれ受け、断線を検出した時、データ出力に
NG信号を送つたり、警告のため表示を消灯又は
点滅させるなどするラツチ回路36(36a〜3
6d)が含まれている。なお、上述したラツチ回
路28、32,36にはいずれもそれらのD端子
と端子とを短絡したDタイプのフリツプフロツ
プを用いる。そして、プローブ20の断線検査に
当つては先ず、D端子の出力を共に、“H”、Q
端子の出力を“L”とするリセツト状態に設定す
る。
次に、このような導体断線検査装置の動作を説
明する。先ず、パルス発生器22より、プローブ
20aに向けて1パルス発生する。この1パルス
はダイオード24aを通り、プローブ20aに入
る。なお、このプローブ20aに対応するアンド
回路26aには直接入る。次に、プローブ20a
に入つた1パルスはそれが導通していると、短絡
個所を通じ、プローブ20b,20c,20dに
それぞれが入るが、それらが全て導通していれ
ば、更にラツチ回路28b,28c,28dに入
ることになる。又、短絡端子30を通じ、ラツチ
回路32にも入る。なお、短絡端子30からラツ
チ回路32に至る導線は当然断線していないもの
とする。そこで、各ラツチ回路28,32の各
端子の出力は全て“L”に変わる。このため、ア
ンド回路26aの出力は“L”で、ラツチ回路3
2aの出力も“L”のままで変化しない。以後、
各パルス発生前に、ラツチ回路28,32を全て
リセツト状態に戻し、プローブ20b,20c,
20dに向けて順番に1パルスを与える。この
時、各プローブ20にはいずれも断線がないので
あるから、ラツチ回路32b,32c,32dの
出力はいずれも同様に“L”のままである。この
ようにして各プローブ20はいずれも断線してい
ないことが判定される。もし、プローブ20aが
断線していれば、ラツチ回路28b〜28d、3
2には1パルスが入らないので、それらの出力は
いずれも変化せず、“H”のままであり、それが
全てアンド回路26aに入る。この時、アンド回
路26aの出力はプローブ20aに向かう1パル
スが発生しているときだけ“H”となる。他の各
プローブ20b,20c,20dに向かう1パル
スが発生している時はいずれも“L”である。こ
の結果、ラツチ回路36aの出力はアンド回路2
6aの“H”出力によつて“H”に変化し、それ
が保持されることになる。そこで、プローブ20
aが断線していることがわかる。次に、プローブ
20aが導通しており、他のプローブ20b,2
0c,20dのいずれか(全部でもよい)が断線
している時は、その導通していたプローブ20a
に対応するアンド回路26aに入る入力が少なく
とも1つ“L”となるため、アンド回路26aの
出力は“L”で、ラツチ回路36aの出力も
“L”のままで変化がない。このようにして、順
次1パルスの向けられたプローブ20が断線して
いれば、その状態が直ちにラツチされるので、各
プローブ20の断線の有無を一度に検査して明確
に判定することができる。なお、ラツチ回路36
については、端子から出力を得るように変形す
ることもできる。
明する。先ず、パルス発生器22より、プローブ
20aに向けて1パルス発生する。この1パルス
はダイオード24aを通り、プローブ20aに入
る。なお、このプローブ20aに対応するアンド
回路26aには直接入る。次に、プローブ20a
に入つた1パルスはそれが導通していると、短絡
個所を通じ、プローブ20b,20c,20dに
それぞれが入るが、それらが全て導通していれ
ば、更にラツチ回路28b,28c,28dに入
ることになる。又、短絡端子30を通じ、ラツチ
回路32にも入る。なお、短絡端子30からラツ
チ回路32に至る導線は当然断線していないもの
とする。そこで、各ラツチ回路28,32の各
端子の出力は全て“L”に変わる。このため、ア
ンド回路26aの出力は“L”で、ラツチ回路3
2aの出力も“L”のままで変化しない。以後、
各パルス発生前に、ラツチ回路28,32を全て
リセツト状態に戻し、プローブ20b,20c,
20dに向けて順番に1パルスを与える。この
時、各プローブ20にはいずれも断線がないので
あるから、ラツチ回路32b,32c,32dの
出力はいずれも同様に“L”のままである。この
ようにして各プローブ20はいずれも断線してい
ないことが判定される。もし、プローブ20aが
断線していれば、ラツチ回路28b〜28d、3
2には1パルスが入らないので、それらの出力は
いずれも変化せず、“H”のままであり、それが
全てアンド回路26aに入る。この時、アンド回
路26aの出力はプローブ20aに向かう1パル
スが発生しているときだけ“H”となる。他の各
プローブ20b,20c,20dに向かう1パル
スが発生している時はいずれも“L”である。こ
の結果、ラツチ回路36aの出力はアンド回路2
6aの“H”出力によつて“H”に変化し、それ
が保持されることになる。そこで、プローブ20
aが断線していることがわかる。次に、プローブ
20aが導通しており、他のプローブ20b,2
0c,20dのいずれか(全部でもよい)が断線
している時は、その導通していたプローブ20a
に対応するアンド回路26aに入る入力が少なく
とも1つ“L”となるため、アンド回路26aの
出力は“L”で、ラツチ回路36aの出力も
“L”のままで変化がない。このようにして、順
次1パルスの向けられたプローブ20が断線して
いれば、その状態が直ちにラツチされるので、各
プローブ20の断線の有無を一度に検査して明確
に判定することができる。なお、ラツチ回路36
については、端子から出力を得るように変形す
ることもできる。
上記実施例では複数本の導体断線検査装置を用
いて低抵抗計の4端子プローブの断線検査をおこ
なつたが、複数本の導線を有するケーブルなどに
対しても同様に検査を一度に実施することができ
る。
いて低抵抗計の4端子プローブの断線検査をおこ
なつたが、複数本の導線を有するケーブルなどに
対しても同様に検査を一度に実施することができ
る。
考案の効果
以上説明した本考案によれば、複数本の導体に
つき、それら各導体の断線の有無を一度に検査す
ることができる。
つき、それら各導体の断線の有無を一度に検査す
ることができる。
第1図は本考案一実施例による複数本の導体断
線検査装置の要部を示す回路図である。第2図は
従来の低抵抗計に備えられている警告回路を示す
図である。 20……被測定導体、22……パルス発生器、
26……アンド回路、28,32,36……ラツ
チ回路、34……判定回路。
線検査装置の要部を示す回路図である。第2図は
従来の低抵抗計に備えられている警告回路を示す
図である。 20……被測定導体、22……パルス発生器、
26……アンド回路、28,32,36……ラツ
チ回路、34……判定回路。
Claims (1)
- 一端を互いに短絡した複数本の被測定導体の各
他端に、順次パルス信号を与えるパルス発生器
と、各導体に対応し、その導体に向けられたパル
ス信号は直接受け、その導体を通じて他の導体に
入るパルス信号はラツチ回路を経てそれぞれ受け
る複数のアンド回路と、各導体の短絡個所をラツ
チ回路を介して各アンド回路に接続する短絡端子
と、各アンド回路からの出力信号を受け、各導体
の断線の有無を判定する判定回路とを備えること
を特徴とする複数本の導体断線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13673186U JPH0411180Y2 (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13673186U JPH0411180Y2 (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6344168U JPS6344168U (ja) | 1988-03-24 |
JPH0411180Y2 true JPH0411180Y2 (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=31040120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13673186U Expired JPH0411180Y2 (ja) | 1986-09-05 | 1986-09-05 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0411180Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2564400Y2 (ja) * | 1991-10-23 | 1998-03-09 | 三菱重工業株式会社 | ラミナフロー冷却装置 |
JP4531608B2 (ja) * | 2005-03-30 | 2010-08-25 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電池電圧測定装置 |
-
1986
- 1986-09-05 JP JP13673186U patent/JPH0411180Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6344168U (ja) | 1988-03-24 |
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