JP2000228568A - アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板 - Google Patents

アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板

Info

Publication number
JP2000228568A
JP2000228568A JP11027713A JP2771399A JP2000228568A JP 2000228568 A JP2000228568 A JP 2000228568A JP 11027713 A JP11027713 A JP 11027713A JP 2771399 A JP2771399 A JP 2771399A JP 2000228568 A JP2000228568 A JP 2000228568A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
aluminum nitride
brazing material
circuit board
insulated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11027713A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3837688B2 (ja
Inventor
Gyosan Nei
暁山 寧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dowa Holdings Co Ltd
Original Assignee
Dowa Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dowa Mining Co Ltd filed Critical Dowa Mining Co Ltd
Priority to JP02771399A priority Critical patent/JP3837688B2/ja
Publication of JP2000228568A publication Critical patent/JP2000228568A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3837688B2 publication Critical patent/JP3837688B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ceramic Products (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来のアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁
回路基板では窒化アルミニウム板の間の接合に未接欠陥
があるため、接合強度が十分でなかった。 【解決手段】 本発明のアルミニウム−窒化アルミニウ
ム絶縁回路基板は、窒化アルミニウム基板上にAgを含
むペースト状ろう材を介して、所定形状に形成されたア
ルミニウム板が配置され、アルミニウム板の全面又は一
部にNiメッキが施されていることを特徴とする。上記
ペースト状ろう材としては、20重量%以上のAgを含
むAg−Al合金系ペースト状ろう材、Ag合金系ろう
材、Ti,Mg,Si,Zn,Sn,Cuを1〜20重
量%含むAg−Al合金系ペースト状ろう材、またはT
i,Mg,Si,Zn,Sn,Cuを含むAg合金系ろ
う材を使用する。また、アルミニウム板は湿式エッチン
グ法によって所定形状に加工され、一方が回路であっ
て、他方がベース板である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアルミニウム−窒化
アルミニウム基板、特に、高圧大電力電子部品の実装
や、特に高信頼性が要求される自動車用電子部品の実装
に好適な金属/セラミックス絶縁基板に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来パワーモジュールのような高圧大電
力電子部品の実装に使用する基板として、セラミックス
基板の表面に銅板を接合して作製された銅張りセラミッ
クス複合絶縁基板が用いられている。この複合絶縁基板
は、使用されるセラミックスの種類及び製造方法によっ
て、銅/アルミナ直接接合基板、銅/窒化アルミニウム
直接接合基板、銅/アルミナろう接基板、及び銅/窒化
アルミニウムろう接基板に分けられる。
【0003】このうち、銅/アルミナ直接接合基板は、
特開昭52−37914号公報に開示されているよう
に、酸素を含有する銅板を使用するか、無酸素銅板を酸
化性雰囲気中で加熱することによって無酸素銅板の表面
に酸化銅層を形成してから、この銅板にアルミナ基板を
重ねて不活性雰囲気中で加熱し、銅板とアルミナ基板と
の界面に銅とアルミニウムとの複合酸化物を生成させ、
銅板とアルミナ基板とを接合する方法で製造されてい
る。
【0004】一方、銅/窒化アルミニウム直接接合基板
の場合には、予め窒化アルミニウム基板の表面に酸化物
を形成する必要がある。例えば特開平3−93687号
公報に開示するように、予め空気中において、約100
0℃の温度で窒化アルミニウム基板を処理し、表面に酸
化物を生成させてから、この酸化物を介して上述の方法
により銅板と窒化アルミニウム基板とを接合している。
【0005】また銅/アルミナろう接基板及び銅/窒化
アルミニウムろう接基板は、銅板とセラミックス基板を
活性金属のチタンまたはジルコニウムを含む銅系または
銀銅合金系ろう材を用いるろう接法で製造されている。
【0006】上述のような銅/セラミック絶縁回路基板
は広く使用されているにも関わらず、銅とセラミックス
の熱膨張係数の差に起因する熱応力によって、電子部品
の実装の際、及び使用中にセラミックス基板の内部にク
ラックが形成し、基板の表裏間の短絡が発生する。絶縁
回路基板の重要な評価項目の1つヒートサイクル耐量、
即ち、絶縁回路基板を−40℃から125℃まで繰り返
し加熱、冷却する際の、セラミックス基板にクラックが
発生するまでの循環回数は僅か50回前後である。
【0007】これを改善する為に、近年、銅の代わりに
軟らかいアルミニウムを回路材料として使うアルミニウ
ム/セラミックス絶縁回路基板が開発されるようになっ
た。
【0008】銅と同じように、電気と熱の優れた伝導性
を有するアルミニウムを絶縁回路基板の回路材料として
使う構想は以前からあった。例えば特開昭59−121
890号公報にはアルミニウム/アルミナ基板及びアル
ミニウム/窒化アルミニウム基板に関連する記述があ
る。実開平2−68448号公報と実開平3−5794
5号公報にはそれぞれAl−Si,Al−Ge系ろう材
を使って作製したアルミニウム/アルミナ,アルミニウ
ム/窒化アルミニウムろう接基板が開示されている。こ
れらの絶縁回路基板のヒートサイクル耐量は1000回
以上である。
【0009】しかしながら、アルミニウム自身が非常に
酸化しやすいため、室温においてアルミニウムの表面は
常に酸化膜によって覆われている。温度が高くなるとこ
の酸化膜は分解しやすくなるが、800℃においてもA
l−Al2 3 系の酸素平衡分圧は10-40 Paであ
る。一般に真空および不活性雰囲気中において加熱する
場合、アルミニウムの表面は酸化する。H.Johnら
はアルミナセラミックス上でのアルミニウムの濡れに及
ぼす雰囲気中の酸素分圧の影響を調べた。この研究によ
ると、アルミニウム表面に形成された酸化膜がアルミニ
ウムの濡れ性に大きく影響し、雰囲気中の酸素分圧が1
-13 Pa以上の場合、アルミニウムを融点以上の70
0℃に加熱しても、溶融したアルミニウムは円滑な液滴
状にならないくらいに表面に厚い酸化膜が形成され、そ
の濡れ性は非常に悪い(H.John、H.Hausn
er、Journal of material sc
ience letters,5(1986),P54
9−P552)。通常のろう接温度660℃以下では、
アルミニウム表面に酸化膜が残存する。酸化膜残存の状
態でろう接すると、アルミニウムの濡れ性が悪いため、
接合界面に未接欠陥が生じ、接合強度のバラツキは非常
に大きい。更に銅と異なり、アルミニウムの表面に形成
された酸化膜はアルミニウムセラミックス基板との接合
を阻害し、特に窒化アルミニウムセラミックスの場合、
ろう接は非常に困難である。これを改善するために、実
開平2−68448号公報と実開平3−57945号公
報の発明者らは更に窒化アルミニウムセラミックスを酸
化性雰囲気中において加熱し、表面にアルミナを形成し
てから上述のろう材でろう接する方法(特開平4−12
554号公報)、表面にアルミナを形成し、その上に更
にSiO2層を形成してから上述のろう材でろう接する
方法(特開平3−125463号公報)を発明した。
【0010】本発明者らは以前からアルミニウム表面の
酸化膜の影響に着目し、アルミニウム表面の酸化膜を除
去してから、アルミニウムと窒化アルミニウム等のセラ
ミックスを接合する溶湯接合法(特許第2642574
号、特開平7−276035号公報)を発明した。即
ち、不活性雰囲気において、アルミニウム溶湯にセラミ
ックスを挿入し、移動することによって、アルミニウム
と溶湯とセラミックスの界面からアルミニウムの酸化膜
を除去し、アルミニウム溶湯でセラミックスを濡らして
から、セラミックスの表面に溶湯を所定の形状に凝固さ
せ、アルミニウムとセラミックスを接合させる方法であ
る。この方法で窒化アルミニウムとアルミニウムとの高
強度接合を実現させ、ヒートサイクル耐量3000回以
上のアルミニウム/窒化アルミニウム絶縁回路基板の作
製に成功した。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の接合方法においては、Al−Si合金ろう
材、Al−Ge合金ろう材を使ってアルミニウム/窒化
アルミニウムをろう接するときに、窒化アルミニウムの
表面に予め酸化膜を形成しなければならない。また溶湯
接合法でアルミニウムと窒化アルミニウムを接合する場
合、溶湯を所定の形状に凝固させる為のダイスが必要で
ある。即ち、次のような欠点があった。
【0012】1.酸化処理によって窒化アルミニウム自
身の強度は低くなり、アルミニウム/窒化アルミニウム
絶縁回路基板の強度は低くなる。半導体の実装工程及び
使用中において、窒化アルミニウム基板の割れが生じ、
半導体装置の絶縁不良の発生率は高くなる。
【0013】2.窒化アルミニウムの表面に酸化膜を形
成しても、アルミニウム表面及び上記ろう材の表面の酸
化膜に起因する未接欠陥の発生を完全には防止できな
い。
【0014】3.市販されている窒化アルミニウム基板
の表面は平らではなく、表面に凹凸があり、反りがあ
る。従って、溶湯接合法で接合する時に基板は反った状
態で接合され、その上に形成されたアルミニウム板の厚
みは不均一になり、その後のエッチング工程でエッチン
グ不良が発生する。
【0015】4.Al−Si、Al−Ge系ろう材でろ
う接する場合、窒化アルミニウムの表面に酸化膜を形成
する工程が必要である。また、溶湯接合法で接合する場
合、窒化アルミニウム基板のサイズ、厚み及びその上に
接合するアルミニウムの厚みに合うダイスが必要であ
る。何れの場合にも余分のコストがかかる。
【0016】5.アルミニウム合金ろう材は一般に箔状
或いはアルミニウムに圧着(クラッド)した状態で使用
されている。特にAl−Si系の箔状ろう材或いはクラ
ッド材は既にJIS標準化し、アルミニウムとアルミニ
ウム、或いはアルミニウムとセラミックスとのろう接に
広く使用されている。特に、特開昭60−71579号
公報、或いは上述のアルミニウムとセラミックスとのろ
う接に関する発明にこのようなろう材を使用している。
しかしながら、上記のように、市販されている窒化アル
ミニウム基板の表面には凹凸があり、ろう接の時にろう
材と窒化アルミニウムを重ねると、その間に隙間がで
き、この隙間の存在により、加熱時ろう材表面の酸化が
更に進み、未接不良が発生する。
【0017】上記のように、ろう接法は窒化アルミニウ
ムと銅との接合に一般的に応用されているにもかかわら
ず、この方法を窒化アルミニウムとアルミニウムとの接
合に応用した場合、未接欠陥が発生しやすい、また窒化
アルミニウムの表面に予め酸化膜を形成しなければなら
ないような問題点がある。
【0018】一方、本発明者らが開発した溶湯接合法の
知見に基づいて、ろう材表面の酸化膜を除去し、或いは
改質すれば、アルミニウムと窒化アルミニウムとの接合
状態が改善される可能性がある。本発明はろう接の方法
またはろう材を改良し、アルミニウムと窒化アルミニウ
ムとの直接ろう接の実現を計るために鋭意研究したとこ
ろ、ペースト状ろう材を窒化アルミニウム基板上に印刷
し、且つろう材にAgを添加し、ろう接時窒化アルミニ
ウム基板とアルミニウム板との間にAgを含む合金層を
形成させる。アルミニウムと窒化アルミニウムのろう接
状態を大幅に改善できることを見出し、本発明を完成す
ることができたものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明のアルミニウム−
窒化アルミニウム絶縁回路基板は、窒化アルミニウム基
板の少なくとも片面の基板上に、所定形状のアルミニウ
ム板を配設して成るアルミニウム−窒化アルミニウム絶
縁回路基板において、Agを含む合金層を介してアルミ
ニウム板が窒化アルミニウム基板上に配設されたことを
特徴とする。
【0020】上記合金層は実質的にAg−Al系合金、
または実質的にAg−Al−Si系合金からなることを
特徴とする。
【0021】上記アルミニウム板の表面の少なくとも一
部はNiめっきが施されたものよりなることを特徴とす
る。
【0022】上記合金層はAgを含むペースト状ろう材
によって、窒化アルミニウム基板とアルミニウム板をろ
う接した後に得られることを特徴とする。
【0023】上記ペースト状ろう材は、有機物バインダ
ー、溶剤とAg粉末の混合物であるか、有機物バインダ
ー、溶剤とAg粉末とAl粉末の混合物であるか、有機
物バインダー、溶剤とAg粉末とAl粉末およびSi粉
末の混合物であることを特徴とする。
【0024】上記アルミニウム板は、湿式エッチング法
によって所定形状に加工され、一方が回路であって、他
方がベース板であることを特徴とする。
【0025】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施例を説明する。
【0026】本発明においては、Ag粉末にAl粉ある
いはSi粉と一定量の有機物バインダー及び溶剤を入れ
て均一に混ぜた後、三本ロールを通し、印刷用のペース
ト状のろう材を作製し、このろう材を窒化アルミニウム
基板の表面上に、所定の形状及び厚みに直接印刷した
後、所定の温度に加熱し、乾燥する。同じ手順で窒化ア
ルミニウム基板の裏面にもろう材を形成し、このように
してろう材が形成された窒化アルミニウム基板にこれを
挟む形でアルミニウム板を重ね、その上に重りを乗せて
真空中で一定の温度に加熱し、ろう材中のバインダー、
溶剤を除去した後、更にろう材の溶融温度以上、アルミ
ニウムの融点以下の温度に加熱し、ろう接を行う。
【0027】次いで、窒化アルミニウム基板の表面にろ
う接されたアルミニウム板上に所定形状のエッチングレ
ジストを形成し、塩化鉄の水溶液、硝酸の水溶液で不要
部分のアルミニウム及びAgを含む合金層を除去し、所
定形状のアルミニウム回路を形成し、アルミニウムの表
面の所定部分に耐酸、耐アルカリ熱乾燥型めっきレジス
トを所定の形状に印刷し、ジンケート処理を施した後、
Niめっき層を形成する。
【0028】アルミニウムとろう材の濡れ性は非常に良
いため、ろう材の上に直接アルミニウム板を置いても接
合上なんら問題は生じない。また、ろう材にAgが含有
されることによって、アルミニウムと窒化アルミニウム
の接合強度はさらに向上できる。然しながら、銀の添加
量が20重量%より少ない場合その効果は低い。従っ
て、銀の添加量は20重量%以上にするのが好ましい。
【0029】銀を添加する場合、Al−Ag合金粉末を
作ってからペースト状のろう材を作る方法と、アルミニ
ウム粉とAg粉を機械的に混ぜてペースト状ろう材とす
る方法がある。前者の場合、銀の分散性がよく、虫食い
欠陥が発生しにくい利点がある。
【0030】銀の添加による強度向上の原因は解明され
ていないが、銀は貴金属であり酸化しにくいため、銀の
添加により、ろう材表面の酸化状態が改善されるためで
あると考えられる。
【0031】また、アルミニウム板の局部貫通溶解によ
る虫食い欠陥の発生を防ぐ為には、ろう材の溶融温度を
低くすることが好ましい。また、ろう接強度をさらに改
善するために、ペースト状ろう材中に窒化アルミニウム
と反応しやすいような活性金属を添加しても差し支えな
い。添加する活性金属はCu、Si、Sn、Zn、M
g、Tiを1種類以上1−20重量%の範囲で添加する
のが好ましい。またその添加方法としてはアルミニウム
合金粉末を作ってからペースト状ろう材を作るのが理想
的であるが、それぞれの粉末を機械的に混ぜて、ペース
ト状ろう材にしても良い。
【0032】さらに、ペースト状ろう材の中にアルミニ
ウムが含有されていなくても、ろう接の際にアルミニウ
ム板がろう材中に溶け出すことによって、アルミニウム
を含んだ合金元素が作り出されることで、事前にアルミ
ニウムを含んだろう材ペーストと同じ働きをすることに
なる。
【0033】ろう材ペースト中のバインダー及び溶剤を
除去するための脱脂工程はろう接と同時に実施しても良
いが、バインダー及び溶剤を効率良く除去するために
は、アルミニウム板を重ねない状態でまず脱脂作業を実
施し、その後アルミニウム板を重ねてろう接するのが好
ましい。
【0034】次に本発明の窒化アルミニウムとアルミニ
ウムとの接合基板の製造方法をより具体的に説明する。
【0035】(実施例1)
【0036】市販されているアルミニウム粉、Ag粉と
有機物バインダーと溶剤を混合してなるビヒクルを用
い、アルミニウム粉、Ag粉、ビヒクルの重量比を8
0:20:15になるよう配合し、自動乳鉢で混合した
後、3本ロールを3回以上通し、20重量%のAgを含
むA1−Agのペースト状ろう材を作製した。このろう
材を市販されている窒化アルミニウム基板(イワキガラ
ス株式会社製、厚み0.635mm)の表面に厚さ20
μmになるように、所定の形状に印刷し、大気中におい
て80℃で30分加熱し、ろう材を乾燥した。同じ手順
で窒化アルミニウム基板の裏面にも所定形状のろう材を
形成した。更に、このろう材が印刷された窒化アルミニ
ウム基板を挟む形で市販されたアルミニウム板(JIS
1050、厚み0.5mm)を重ね、10-5torrの
真空中において500℃で3時間加熱し脱脂処理した
後、620℃で1時間加熱しろう接を行った。
【0037】次いで、窒化アルミニウム基板の表面にろ
う接されたアルミニウム板上に所定形状のエッチングレ
ジストを形成し、塩化鉄溶液で不要部分を除去し、所定
形状のアルミニウム回路を形成した。アルミニウムの表
面の所定部分に耐酸、耐アルカリ熱乾燥型めっきレジス
トを所定の形状に印刷し、ジンケート処理を施した後、
厚さ3.5μmの無電解Niめっき層を形成した。更に
有機溶剤を使って、メッキレジストを溶かし、最終製品
の部分めっきアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路
基板を作製した。
【0038】アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路
基板を超音波探傷法で検査し、未接欠陥の無いことを確
認した。更に、アルミニウムと窒化アルミニウム基板の
界面にカッターを押し入れてアルミニウムの一部を剥が
し、ピール強度測定用のサンプルを作製し、ピール強度
を測定した。ピール強度は3.5kg/cmであった。
【0039】(実施例2)
【0040】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材の組成は30重量%
のAgを含むAl−Agとし、ろう接温度は600℃と
した。作製したアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回
路基板のピール強度は4.7kg/cmであり、未接欠
陥はなかった。
【0041】(実施例3)
【0042】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材の組成は56重量%
のAgを含む共晶組成のAl−Agとし、ろう接温度は
580℃とした。作製したアルミニウム−窒化アルミニ
ウム絶縁回路基板のピール強度は3.8kg/cmであ
り、未接欠陥はなかった。
【0043】(実施例4)
【0044】実施例3と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材はAgろう材とし
た。作製したアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路
基板のピール強度は4.1kg/cmであり、未接欠陥
はなかった。
【0045】(実施例5)
【0046】実施例4と実質的に同じようにアルミニウ
ム−窒化アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検
査とピール強度測定を行った。但し、ろう材としては、
更にSi粉を添加し、20重量%のAgと10重量%の
Siを含むAl−Ag−Siのろう材を作製した。作製
したアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板のピ
ール強度は5.9kg/cmであり、未接欠陥はなかっ
た。
【0047】(実施例6)
【0048】実施例5と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材としては、40重量
%のAgと10重量%のSiを含むAl−Ag−Siの
ろう材を作製し、560℃でろう接を行った。作製した
アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板のピール
強度は8.0Kg/cmであり、未接欠陥はなかった。
【0049】(実施例7)
【0050】実施例6と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材としては、60重量
%のAgと10重量%のSiを含むAl−Ag−Siの
ろう材を作製し、560℃でろう接を行った。作製した
アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板のピール
強度は10Kg/cmであり、未接欠陥はなかった。
【0051】(実施例8)
【0052】実施例5と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材としては、80重量
%のAgと10重量%のSiを含むAl−Ag−Siろ
う材を作製し、550℃でろう接を行った。作製したア
ルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板のピール強
度は20Kg/cmであり、未接欠陥はなかった。
【0053】(実施例9)
【0054】実施例8と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材としては、90重量
%のAgと10重量%のSiを含むAl−Ag−Siろ
う材を作製した。作製したアルミニウム−窒化アルミニ
ウム絶縁回路基板のピール強度は17Kg/cmであ
り、未接欠陥はなかった。
【0055】(実施例10)
【0056】実施例5と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、ろう材としては、Si粉の
代わりにCu粉を添加し、20重量%のAgと20重量
%のCuを含むAl−Ag−Cuのろう材を作製し、6
00℃でろう接を行った。作製したアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板のピール強度は3.6kg/
cmであり、未接欠陥はなかった。
【0057】(比較例1)
【0058】厚さ20μmの箔状の10重量%のSiを
含むAl−Siろう材を使って、10-5torrの真空
中において620℃で1時間加熱しAl板と窒化アルミ
ニウム基板とのろう接を行った。その後実施例1と同じ
ようにアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板を
作製し、超音波検査とピール強度測定を行った。この基
板には19%の未接部が有り、ピール強度は1.5kg
/cmであった。
【0059】(比較例2)
【0060】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、使用したろう材はAgを含
まず、10重量%のSiを含むAl−Siペースト状ろ
う材であり、作製した絶縁回路基板のピール強度は1.
2kg/cmであり、未接欠陥はなかった。
【0061】(比較例3)
【0062】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、使用したろう材はAgを含
まず、33重量%のCuを含むAl−Cu共晶合金ペー
スト状ろう材とした。作製した絶縁回路基板のピール強
度は1kg/cm未満であり、未接欠陥はなかった。
【0063】(比較例4)
【0064】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、使用したろう材はAgを含
まず、60重量%のSnを含むAl−Snペースト状ろ
う材とし、ろう接温度は600℃であった。作製した絶
縁回路基板のピール強度は1kg/cm未満であり、未
接欠陥はなかった。
【0065】(比較例5)
【0066】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、使用したろう材はAgを含
まず、10重量%のZnを含むAl−Znペースト状ろ
う材とし、ろう接温度は630℃であった。作製した絶
縁回路基板のアルミニウム板にピンホール欠陥があり、
ピール強度は1kg/cm未満であった。なお、この基
板に未接欠陥はなかった。
【0067】(比較例6)
【0068】実施例1と同じようにアルミニウム−窒化
アルミニウム絶縁回路基板を作製し、超音波検査とピー
ル強度測定を行った。但し、使用したろう材はAgを1
0重量%しか含まないAl−Agペースト状ろう材と
し、ろう接温度は640℃であった。作製した絶縁回路
基板のピール強度は1.5kg/cmであり、未接欠陥
はなかった。
【0069】以上の結果を表1に示す。
【0070】
【表1】
【0071】図1は、上記アルミニウム−窒化アルミニ
ウム絶縁回路基板の断面図を示し、1は窒化アルミニウ
ム基板、2はろう材、3はアルミニウム回路、4はアル
ミニウムベース板である。
【0072】
【発明の効果】上記のように本発明によれば、窒化アル
ミニウム絶縁回路基板の表面処理工程を省略でき、未接
欠陥のないアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基
板を低コストで製造できるようになる大きな利益があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁
回路基板の断面図である。
【符号の説明】
1 窒化アルミニウム絶縁回路基板 2 ろう材 3 アルミニウム回路 4 アルミニウムベース板

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 窒化アルミニウム基板の少なくとも片面
    の基板上に、所定形状のアルミニウム板を配設して成る
    アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板におい
    て、Agを含む合金層を介してアルミニウム板が窒化ア
    ルミニウム基板上に配設されたことを特徴とするアルミ
    ニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板。
  2. 【請求項2】 上記合金層は実質的にAg−Al系合金
    からなることを特徴とする請求項1記載のアルミニウム
    −窒化アルミニウム絶縁回路基板。
  3. 【請求項3】 上記合金層は実質的にAg−Al−Si
    系合金からなることを特徴とする請求項1記載のアルミ
    ニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板。
  4. 【請求項4】 上記アルミニウム板の表面の少なくとも
    一部はNiめっきが施されたものよりなることを特徴と
    する請求項1、2または3記載のアルミニウム−窒化ア
    ルミニウム絶縁回路基板。
  5. 【請求項5】 上記合金層はAgを含むペースト状ろう
    材によって、窒化アルミニウム基板とアルミニウム板を
    ろう接した後に得られることを特徴とする請求項1、
    2、3または4記載のアルミニウム−窒化アルミニウム
    絶縁回路基板。
  6. 【請求項6】 上記ペースト状ろう材が有機物バインダ
    ー、溶剤とAg粉末の混合物であることを特徴とする請
    求項5記載のアルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路
    基板。
  7. 【請求項7】 上記ペースト状ろう材が有機物バインダ
    ー、溶剤とAg粉末とAl粉末の混合物であることを特
    徴とする請求項5記載のアルミニウム−窒化アルミニウ
    ム絶縁回路基板。
  8. 【請求項8】 上記ペースト状ろう材が有機物バインダ
    ー、溶剤とAg粉末とAl粉末およびSi粉末の混合物
    であることを特徴とする請求項5記載のアルミニウム−
    窒化アルミニウム絶縁回路基板。
  9. 【請求項9】 上記アルミニウム板は、湿式エッチング
    法によって所定形状に加工されることを特徴とする請求
    項1、2、3、4、5、6、7または8記載のアルミニ
    ウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板。
  10. 【請求項10】 上記アルミニウム板は一方が回路であ
    って、他方がベース板であることを特徴とする請求項
    1、2、3、4、5、6、7、8または9記載のアルミ
    ニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板。
JP02771399A 1999-02-04 1999-02-04 アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板 Expired - Fee Related JP3837688B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02771399A JP3837688B2 (ja) 1999-02-04 1999-02-04 アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02771399A JP3837688B2 (ja) 1999-02-04 1999-02-04 アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000228568A true JP2000228568A (ja) 2000-08-15
JP3837688B2 JP3837688B2 (ja) 2006-10-25

Family

ID=12228652

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02771399A Expired - Fee Related JP3837688B2 (ja) 1999-02-04 1999-02-04 アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3837688B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002246713A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Kyocera Corp セラミック回路基板
JP2010234401A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Dowa Metaltech Kk ろう材、ろう材の接合方法及びろう材接合基板
US20140134448A1 (en) * 2011-07-11 2014-05-15 Nhk Spring Co., Ltd. Laminated body and method of manufacturing laminated body
CN114349471A (zh) * 2022-01-20 2022-04-15 深圳思睿辰新材料有限公司 一种用于igbt封装的陶瓷覆铝板及其制备方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03125463A (ja) * 1989-10-09 1991-05-28 Mitsubishi Materials Corp 半導体装置用軽量基板
JPH0494893A (ja) * 1990-08-09 1992-03-26 Meidensha Corp ロウ材の製造方法
JPH0769750A (ja) * 1993-06-29 1995-03-14 Tokuyama Corp セラミック接合構造体
JPH07161871A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Toshiba Corp 回路基板
JPH10200219A (ja) * 1997-01-08 1998-07-31 Denki Kagaku Kogyo Kk 回路基板
JPH10251075A (ja) * 1997-03-12 1998-09-22 Dowa Mining Co Ltd 金属−セラミックス複合基板及びその製造法並びにそれに用いるろう材
JPH10270596A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付セラミック回路基板

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03125463A (ja) * 1989-10-09 1991-05-28 Mitsubishi Materials Corp 半導体装置用軽量基板
JPH0494893A (ja) * 1990-08-09 1992-03-26 Meidensha Corp ロウ材の製造方法
JPH0769750A (ja) * 1993-06-29 1995-03-14 Tokuyama Corp セラミック接合構造体
JPH07161871A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Toshiba Corp 回路基板
JPH10200219A (ja) * 1997-01-08 1998-07-31 Denki Kagaku Kogyo Kk 回路基板
JPH10251075A (ja) * 1997-03-12 1998-09-22 Dowa Mining Co Ltd 金属−セラミックス複合基板及びその製造法並びにそれに用いるろう材
JPH10270596A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付セラミック回路基板

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002246713A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Kyocera Corp セラミック回路基板
JP4721534B2 (ja) * 2001-02-21 2011-07-13 京セラ株式会社 セラミック回路基板
JP2010234401A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Dowa Metaltech Kk ろう材、ろう材の接合方法及びろう材接合基板
US20140134448A1 (en) * 2011-07-11 2014-05-15 Nhk Spring Co., Ltd. Laminated body and method of manufacturing laminated body
CN114349471A (zh) * 2022-01-20 2022-04-15 深圳思睿辰新材料有限公司 一种用于igbt封装的陶瓷覆铝板及其制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3837688B2 (ja) 2006-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20180255645A1 (en) Method for producing metal/ceramic circuit board
EP1122780A2 (en) Laminated radiation member, power semiconductor apparatus and method for producing the same
KR100374379B1 (ko) 기판
JPH08255973A (ja) セラミックス回路基板
JP3834351B2 (ja) セラミックス回路基板
JP4018264B2 (ja) アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁基板の製造方法
JPH02196074A (ja) セラミックスと金属の接合体の製造法
JP2000228568A (ja) アルミニウム−窒化アルミニウム絶縁回路基板
JPH09181423A (ja) セラミックス回路基板
JPH0810202Y2 (ja) 半導体装置用軽量基板
JPH05198917A (ja) セラミックス配線基板の製造方法
JP2594475B2 (ja) セラミックス回路基板
JP3167796B2 (ja) セラミックス回路基板
JP2004059375A (ja) セラミックス−金属部材接合体
JP2006120973A (ja) 回路基板および回路基板の製造方法
JP3302714B2 (ja) セラミックス−金属接合体
JP2003285195A (ja) セラミック回路基板及びその製造方法
JP2000086368A (ja) 窒化物セラミックス基板
JPH07142858A (ja) セラミックス配線基板の製造方法
JP4286992B2 (ja) Al回路板用ろう材とそれを用いたセラミックス回路基板
JPH07114316B2 (ja) 銅回路を有する窒化アルミニウム基板の製造方法
JPH06263554A (ja) セラミックス−金属接合基板
JP3387655B2 (ja) セラミックスとシリコンの接合方法
JPS6334963A (ja) 半導体装置用セラミツク基板の製造方法およびその方法に使用するクラツド材
JPH05221759A (ja) メタライズ層を有する窒化アルミニウム基板とそのメタライズ方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060411

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060612

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060711

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060720

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100811

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110811

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120811

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130811

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees