JP2000227455A - 電圧供給装置および方法 - Google Patents

電圧供給装置および方法

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JP2000227455A
JP2000227455A JP11028709A JP2870999A JP2000227455A JP 2000227455 A JP2000227455 A JP 2000227455A JP 11028709 A JP11028709 A JP 11028709A JP 2870999 A JP2870999 A JP 2870999A JP 2000227455 A JP2000227455 A JP 2000227455A
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Japan
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voltage
supply
terminal
voltage supply
line
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JP11028709A
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Kazunori Sato
和則 佐藤
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JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 正確な電圧をデバイスに供給することが可能
な電圧供給装置を提供する。 【解決手段】 電圧供給端子12を備えたデバイス13
に所定の電圧を供給するための電圧供給装置であって、
電圧供給基板10と電圧供給部11とを具備し、電圧供
給基板10は、互いに電気的に独立しそれぞれ電圧供給
時に電圧供給端子12と接触する供給ライン端子14お
よびフィードバック用ライン端子15と、供給ライン端
子14と電気的に接続されている電圧供給ライン16
と、フィードバック用ライン端子15と電気的に接続さ
れている電圧フィードバック用ライン17とを備え、前
記電圧供給部11は、デバイス13に供給する所定の電
圧の基準電圧を出力する基準電源18と、基準電源18
からの基準電圧および電圧フィードバック用ライン17
からのフィードバック電圧を入力し両電圧が等しくなる
ように調整された電圧を電圧供給ライン16に出力する
電圧調整部19とを備えていることを特徴とする電圧供
給装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばICなどの
デバイスを計測するときに該デバイスに電圧を供給する
ための電圧供給装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ICなどのデバイスの性能を評価するた
めに、これらのデバイスの電気特性を計測することが行
われる。電気計測は、被計測デバイスに計測用の信号を
送り、この計測用信号に対する該デバイスからの応答信
号を測定するなどして行われる。
【0003】デバイスの計測はデバイス計測器を用いて
行われる。デバイス計測器は、デバイスに信号を送りま
た受け取るための信号回路を備えた計測器本体のほか、
デバイスと信号をやり取りするためのプローブ端子また
はソケット端子等を備えている。デバイスが単体のとき
には、デバイス上に設けられたパッドにプローブを当て
プローブおよびパッドを介してデバイスと信号をやり取
りする。デバイスがパッケージに封入されているときに
は、パッケージをソケットに装着しソケットのソケット
端子およびこれと接触するパッケージのリード端子を介
してデバイスと信号をやり取りする。
【0004】デバイス計測器本体は、上述の信号回路の
ほかに、デバイスを駆動するための電源電圧等の電圧を
供給する電圧供給装置を有している。安定して精度の高
いデバイスの計測を行うためには、電圧供給装置から正
確な電圧をデバイスに供給する必要がある。
【0005】図5は、従来のデバイス計測器を示す概略
図である。図5においては、説明を容易にするために、
デバイス計測器の有する電圧供給装置に関連する部分の
みを示している。
【0006】デバイス計測器は、測定器(テスタ)1お
よびテストボード2からなる。デバイス3はテストボー
ド2上に装着される。このデバイス3は、電源電圧等の
電圧が供給されるための電圧供給端子4を有している。
電圧供給端子4は、デバイス上の電源パッドまたはデバ
イスが封入されているパッケージのリード端子等であ
る。測定器1には、電源電圧等の電圧を発生させる装置
が組み込まれている。測定器1で発生した電圧は、テス
トボード2上の配線(ライン)を介して被計測デバイス
3の電圧供給端子4へと供給される。
【0007】テストボード2上には、デバイスと信号を
やり取りするための配線(図示せず)のほか、電圧供給
ライン5および電圧フィードバック用ライン6が設けら
れている。電圧供給ライン5の先には供給ライン端子7
が取付けられている。供給ライン端子7は、パットと直
接接触するプローブ端子またはソケットのソケット端子
等である。供給ライン端子7を前述の電圧供給端子4と
接触させたのち、電圧供給ライン5を通じて被計測デバ
イス3に電圧を供給する。フィードバック用ライン6
は、電圧供給ライン5の先の部分、つまり電圧供給ライ
ン5と供給ライン端子7との接続箇所に近い部分に結線
されている。フィードバック用ライン6は、この結線箇
所での電圧を計測器1へフィードバックする。このよう
に電圧をフィードバックするのは、テストボード2上の
電圧供給ライン5の配線抵抗による電圧降下を補償し
て、より正確な電圧を電圧供給端子4に供給するためで
ある。
【0008】測定器(テスタ)1は、信号回路(図示せ
ず)のほか、基準電源8および比較器9を有している。
基準電源8から出力された電圧が、比較器9を介して、
電圧供給ライン5へと送られる。
【0009】基準電源8は、デバイス3に供給するべき
電圧を有する基準電圧を出力する。
【0010】比較器9は、基準電源8からの基準電圧お
よびフィードバック用ライン6からのフィードバック電
圧を入力して比較する。比較の結果、これらの電圧の間
に差があるときには、その電圧差がなくなるように調整
された電圧が比較器9から電圧供給ライン5へ出力され
る。このような電圧が出力される結果、フィードバック
用ライン6が結線されている電圧供給ライン5の先の部
分において、基準電圧に等しい電圧が実現される。こう
して、電圧供給ライン5での電圧降下が補償された、基
準電圧により近い、つまりより正確な電圧が被計測デバ
イス3の電圧供給端子4へと供給される。
【0011】しかし、上述した従来の電圧供給装置にお
いては、テストボード2上の電圧供給ライン5の配線抵
抗による電圧降下を補償することはできるが、テストボ
ード2から先の被計測デバイス3までの間の部材の抵抗
による電圧降下を補償することはできなかった。テスト
ボード2から被計測デバイス2までの間の部材とは、例
えば、プローブ端子、ソケットのソケット端子、および
パッケージのリード端子等である。これらの部材の抵抗
による電圧降下を補償することができないため、被計測
デバイス3に供給される電圧は、依然正確なものとはな
っていなかった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、正確な電圧をデバイスに供給することが可能な電圧
供給装置および方法を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電圧が
供給されるための電圧供給端子を備えた被電圧供給デバ
イスに所定の電圧を供給するための電圧供給装置であっ
て、電圧供給基板と電圧供給部とを具備し、前記電圧供
給基板は、互いに電気的に独立しそれぞれ電圧供給時に
電圧供給端子と接触する供給ライン端子およびフィード
バック用ライン端子と、供給ライン端子と電気的に接続
されている電圧供給ラインと、フィードバック用ライン
端子と電気的に接続されている電圧フィードバック用ラ
インとを備え、前記電圧供給部は、被電圧供給デバイス
に供給するべき所定の電圧の基準電圧を出力する基準電
源と、基準電源からの基準電圧および電圧フィードバッ
ク用ラインからのフィードバック電圧を入力し両電圧が
等しくなるように調整された電圧を電圧供給ラインに出
力する電圧調整部とを備えていることを特徴とする電圧
供給装置が提供される。
【0014】また、本発明によれば、電圧が供給される
ための電圧供給端子と、この電圧供給端子と電気的に接
続されている電圧フィードバック用端子とを備えた被電
圧供給デバイスに所定の電圧を供給するための電圧供給
装置であって、電圧供給基板と電圧供給部とを具備し、
前記電圧供給基板は、電圧供給時に電圧供給端子と接触
する供給ライン端子と、供給ライン端子と電気的に独立
し電圧供給時に電圧フィードバック用端子と接触するフ
ィードバック用ライン端子と、供給ライン端子と電気的
に接続されている電圧供給ラインと、フィードバック用
ライン端子と電気的に接続されている電圧フィードバッ
ク用ラインとを備え、前記電圧供給部は、被電圧供給デ
バイスに供給するべき所定の電圧の基準電圧を出力する
基準電源と、基準電源からの基準電圧および電圧フィー
ドバック用ラインからのフィードバック電圧を入力し両
電圧が等しくなるように調整された電圧を電圧供給ライ
ンに出力する電圧調整部とを備えていることを特徴とす
る電圧供給装置が提供される。
【0015】さらに、本発明によれば、電圧が供給され
るための電圧供給端子を備えた被電圧供給デバイスに所
定の電圧を供給するための電圧供給方法であって、電圧
供給時に電圧供給端子と電気的に接続される電圧供給ラ
インと、電圧供給ラインと電気的に独立し電圧供給時に
電圧供給端子と電気的に接続される電圧フィードバック
用ラインとを用い、電圧フィードバック用ラインを介し
て測定する電圧供給端子上の電圧が所定の電圧となるよ
うに、電圧供給ラインを介して該端子に電圧を供給する
ことを特徴とする電圧供給方法が提供される。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明を
詳細に説明する。
【0017】図1は、本発明に係る電圧供給装置の一例
を示す概略断面図である。
【0018】本発明に係る電圧供給装置は、電圧を供給
するための電圧供給端子12を有する被電圧供給デバイ
ス13に、例えば電源電圧などの所定の電圧を供給する
ものである。電圧供給端子12は、例えばアルミニウ
ム、銅等の金属などによって形成されている。また、デ
バイス13には、ICなどのデバイスの単体のほかパッ
ケージに封入されているデバイスも含まれる。
【0019】電圧供給端子12としては、例えば、被電
圧供給デバイス13がデバイス単体のときにはデバイス
上の電源パッド等のパッドであり、該デバイス13がパ
ッケージに封入されたデバイスのときにはパッケージの
リード端子などである。
【0020】電圧供給端子12がデバイス13上のパッ
ドであるときには、このパッドは通常IC等で用いられ
ている電源パッド等をそのまま用いても良いが、通常の
電源パッドよりも大きく形成したパッドを新たに用いる
方が好ましい。通常の電源パッドよりも大きいパッドを
用いることによって、後述する供給ライン端子およびフ
ィードバック用ライン端子を、このパッドに同時に接触
するように作製および配置することが容易になる。
【0021】なお、電圧供給端子12がパッケージのリ
ード端子であるときには、リード端子はデバイス上の電
源パッド等とワイヤーボンディングなどによってパッケ
ージ内で接続されている。
【0022】本発明に係る電圧供給装置は、電圧供給基
板10および電圧供給部11を具備している。
【0023】本発明に係る電圧供給基板10は、電圧供
給部11からの電圧を被電圧供給デバイス13へと供給
するために、該デバイス13と電気的に連絡するための
ものである。前述の被電圧供給デバイス13は、例え
ば、電圧供給基板10上に装着される。電圧供給基板1
0は、供給ライン端子14、フィードバック用ライン端
子15、電圧供給ライン16、および電圧フィードバッ
ク用ライン17を備えている。
【0024】供給ライン端子14およびフィードバック
用ライン端子15は、電圧供給基板10上で電気的に接
続されておらず、互いに電気的に独立している。
【0025】供給ライン端子14およびフィードバック
用ライン端子15は、被電圧供給デバイス13に電圧を
供給するときに、それぞれ該デバイス13の電圧供給端
子12と接触により電気的に接続されるためのものであ
る。両ライン端子14および15は、電圧供給端子12
に同時に接触する。
【0026】供給ライン端子14およびフィードバック
用ライン端子15は、それぞれ例えば針状のプローブ端
子またはソケットのソケット端子などである。供給ライ
ン端子14およびフィードバック用ライン端子15と
も、銅、アルミニウム等の金属などによって形成されて
いる。被電圧供給デバイス13がデバイス単体のときに
は、デバイス上のパッド等にプローブ端子を当てて接触
させることによって、供給ライン端子14およびフィー
ドバック用ライン端子15と電圧供給端子15とを接触
させる。被電圧供給デバイス13がパッケージに封入さ
れているときには、このパッケージをソケットに装着し
てソケットのソケット端子とパッケージのリード端子と
を接触させることによって、供給ライン端子14および
フィードバック用ライン端子15と電圧供給端子15と
を接触させる。
【0027】本発明に係る電圧供給ライン16は、後述
する電圧供給部11からの電圧を被電圧供給デバイス1
3の電圧供給端子12に送るための配線である。電圧供
給ライン16は、電圧供給基板10上で供給ライン端子
14と電気的に接続されている。
【0028】電圧フィードバック用ライン17は、被電
圧供給デバイス13の電圧供給端子12上の電圧を電圧
供給部11へとフィードバックするための配線である。
電圧フィードバック用ライン17は、電圧供給基板10
上でフィードバック用ライン端子15と電気的に接続さ
れている。
【0029】上述の電圧供給ライン16および電圧フィ
ードバック用ライン17とも、銅、アルミニウム等の金
属などによって形成されている。
【0030】電圧供給ライン16と電圧フィードバック
用ライン17も、電圧供給基板10上では電気的に接続
されておらず、互いに電気的に独立している。両ライン
16、17は、被電圧供給デバイス13へ電圧を供給す
るときに、該デバイス13の電圧供給端子12とライン
14および15とがそれぞれ接触することにより、はじ
めて基板11上で電気的に接続される。
【0031】本発明に係る電圧供給部11は、上述の電
圧供給基板10を介して被電圧供給デバイス13へ電圧
を供給するためのものである。電圧供給部11は、基準
電源18、および電圧調整部19を備えている。
【0032】基準電源18は、被電圧供給デバイス13
に供給するべき所定の電圧値を有する基準電圧を出力す
る。基準電源18としては、例えば定圧直流電源などが
挙げられる。また、所定の電圧値としては、例えば3.
0V〜5.0Vである。
【0033】電圧調整部18は、例えば、2つの入力端
子および1つの出力端子を備えた比較回路等によって構
成される。このような比較回路は、例えばオペアンプな
どを用いて作製することができる。
【0034】電圧調整部19は、基準電源18からの基
準電圧を調整したのちに、調整した電圧を上述した電圧
供給ライン16へと出力する。基準電圧の調整は、電圧
フィードバック用ライン17からのフィードバック電圧
に基いて行う。フィードバック電圧は、これまでの説明
から明らかなように、被電圧供給デバイス13の電圧供
給端子12上での電圧を測定した値である。
【0035】電圧調整部19での電圧の調整は、以下の
ようにして行う。すなわち、基準電圧およびフィードバ
ック電圧を入力して比較する。比較した結果、両電圧に
差があるときには、その電圧差がなくなるように調整さ
れた電圧を電圧供給ライン16へ出力する。具体的に
は、両電圧の電圧差に比例した電圧を基準電圧に加え、
この合計の電圧を出力する。こうして、基準電圧および
フィードバック電圧が等しくなるように調整された電圧
が、電圧供給ライン16へと出力される。以上の結果、
電圧供給端子12において基準電圧に等しい電圧が実現
される。
【0036】上述したように、本発明に係る電圧供給装
置においては、被電圧供給デバイス13の電圧供給端子
12上の電圧を直接フィードバックしながら、該端子1
3に調整された電圧を供給している。すなわち、供給基
板10上の電圧供給ライン16の配線抵抗による電圧降
下だけでなく、プローブ端子、ソケット端子などの供給
ライン端子14の配線抵抗、およびパッケージのリード
部分などの配線抵抗による電圧降下をも補償することが
できる。そのため、電圧供給端子12に供給される電圧
は、基準電圧に非常に近い正確なものとなっている。
【0037】図2は、本発明に係る電圧供給装置の他の
例を示す概略断面図である。
【0038】図1に示した部材と同様の部材について
は、同符号を示して説明を省略する。
【0039】本例においては、被電圧供給デバイス13
は、電圧供給端子12のほかに電圧フィードバック用端
子20を有している。
【0040】電圧フィードバック用端子20としても、
前述した電圧供給端子12と同様に、例えば、デバイス
13上のパッド、パッケージのリード端子などが挙げら
れる。電圧フィードバック用端子20も、電圧供給端子
12と同様に、例えばアルミニウム等の金属などによっ
て形成されている。
【0041】電圧フィードバック端子20は、デバイス
13上の配線21によって電圧供給端子12と電気的に
接続されている。配線21の長さは、例えば200μm
である。配線21は、例えばアルミニウム等の金属など
によって形成されている。
【0042】本例においては、被電圧供給デバイス13
に電圧を供給するときに、供給ライン端子14は該デバ
イス13の電圧供給端子12のみと接触する。そして、
フィードバック用ライン端子15は該デバイス13の電
圧フィードバック用端子20のみと接触する。
【0043】上述したように、図2の装置においては、
デバイス13上の電圧フィードバック用端子20および
配線21を介して、電圧供給端子12上の電圧が電圧調
整部19へと直接フィードバックされている。そのた
め、図1の装置と同様に、電圧供給ライン16の配線抵
抗、プローブ端子およびソケット端子などの供給ライン
端子14の配線抵抗、ならびにパッケージのリード部分
などの配線抵抗による電圧降下が補償されている。従っ
て、図1に示した装置と同様に、基準電圧に非常に近い
正確な値の電圧が電圧供給端子12に供給される。
【0044】図3は、本発明に係る電圧供給装置をデバ
イス計測装置に組み込んだ一例を示す概略図である。図
3のデバイス計測装置は、本発明に係る電圧供給装置に
よって被計測デバイスに電源電圧などの所定の電圧を供
給しながら、該デバイスを計測する。図3の装置は、パ
ッケージに封入されたデバイスを計測するタイプのもの
である。
【0045】図3のデバイス計測装置は、テスタ(計測
器)30、およびテストボード31を備えている。テス
トボード31は、本発明に係る電圧供給基板を兼ね、ソ
ケット部33および基盤部34からなる。ソケット部3
3は、被計測デバイス13が封入されたパッケージ35
を装着するためのものである。
【0046】被計測デバイス13は、樹脂等によってパ
ッケージ35に封入されている。図3においては、封入
のための樹脂等は省略してある。被計測デバイス13
は、外部と計測信号等をやり取りするための複数のパッ
ド38をその表面に有している。パッド38には、電源
パッド39、およびフィードバック電圧を送るためのセ
ンスパッド40が含まれている。電源パッド39とセン
スパッド40とは、デバイス13上の配線41によって
電気的に接続されている。
【0047】パッケージ35の有する複数のリード端子
36には、被計測デバイス13と計測信号等をやり取り
するための端子のほか、本発明に係る電圧供給端子12
および電圧フィードバック用端子20が含まれている。
【0048】デバイス13上のパッド38は、ワイヤー
ボンディング42によって、パッケージ35のリード端
子36とそれぞれ接続されている。デバイス13上の電
源パッド39は、パッケージ35の電圧供給端子12と
接続されている。また、デバイス13上のセンスパッド
40は、パッケージ35の電圧フィードバック用端子2
0と接続されている。図3においては、説明を容易にす
るために、電源パッド39と電圧供給端子12とを接続
するワイヤーボンディング43、およびセンスパッド4
0と電圧フィードバック用端子20とを接続するワイヤ
ーボンディング44のみを示している。
【0049】ソケット部33には、パッケージ35がソ
ケット部33に装着されたときに、パッケージ35のリ
ード端子36と接触により電気的に接続されるための複
数のソケット端子37が設けられている。ソケット端子
37には、被計測デバイス13と計測信号等をやり取り
するための端子のほか、本発明に係る供給ライン端子1
4、およびフィードバック用ライン端子15が含まれて
いる。
【0050】パッケージ35の電圧供給端子12とソケ
ット部33の供給ライン端子14とが、接触により接続
される。また、パッケージ35の電圧フィードバック用
端子20とソケット部33のフィードバック用ライン端
子15とが、接触により接続される。
【0051】図3に示す基盤部34には、テスタ30と
被計測デバイス13との間で計測信号等をやり取りする
ための配線のほかに、本発明に係る電圧供給ライン16
および電圧フィードバック用ライン17等が設けられて
いる。図3においては、説明を容易にするために、電圧
供給ライン16および電圧フィードバック用ライン17
のみを示している。
【0052】ソケット部33の供給ライン端子14は基
盤部34の電圧供給ライン17と接続されている。ソケ
ット部33のフィードバック用ライン端子15は基盤部
34の電圧フィードバック用ライン17と接続されてい
る。
【0053】図3のデバイス計測装置の備えるテスタ3
0は、被計測デバイス13に計測用信号等を送りまた受
け取るための信号回路のほか、本発明に係る電圧供給部
を備えている。図3においては、説明を容易にするため
に、本発明に係る電圧供給部のみを示している。
【0054】電圧供給部は、基準電源18、および電圧
調整部であるセンスアンプ32からなる。センスアンプ
32は比較回路の一種から構成されている。センスアン
プ32は、基準電源18からの基準電圧、および前述し
た電圧フィードバック用ライン17からのフィードバッ
ク電圧を入力し、図1に示す電圧調整部19と同様に、
調整された電圧を電圧供給ライン16へ出力する。
【0055】上述したように、図3に示す電圧供給装置
においては、被電圧供給デバイス13の電圧供給端子4
0上の電圧を直接フィードバックしながら、調整された
電圧を被電圧供給デバイス13に供給している。すなわ
ち、基盤部34上の電圧供給ライン16の配線抵抗によ
る電圧降下だけでなく、ソケット端子37やパッケージ
基板35などの供給ライン、すなわちワイヤーボンディ
ング43、電圧供給端子12、および供給ライン端子1
4の配線抵抗による電圧降下をも補償することができ
る。そのため、被電圧供給デバイス13に供給される電
圧は、基準電圧に非常に近い正確なものとなっている。
【0056】図4は、本発明に係る電圧供給装置をデバ
イス計測装置に組み込んだ他の例を示す概略図である。
図3に示した部材と同様の部材については、同じ符号を
付して説明を省略する。
【0057】図4のデバイス計測装置は、デバイス単体
を計測するタイプであり、デバイス上のパッドに接触さ
せるための計測用のプローブを有している。プローブの
先端をパッドに接触させ、プローブを介して計測信号等
のやり取りおよび所定の電圧の供給を行う。
【0058】図4に示すデバイス計測装置は、テスタ
(計測器)30、およびプローブカード50を備えてい
る。テスタ30は、図3に示したデバイス計測装置に備
わっているものと同様である。プローブカード50は、
本発明に係る電圧供給基板を兼ねている。
【0059】プローブカード50には、被計測デバイス
13上のパッドと接触して計測信号等のやり取りをする
ためのプローブ51、およびプローブ51と接続されて
いる配線(図示せず)のほか、本発明に係る供給ライン
端子である電圧供給用プローブ52、およびフィードバ
ック用ライン端子であるフィードバック用プローブ5
3、ならびに本発明に係る電圧供給ライン16、電圧フ
ィードバック用ライン17等が設けられている。電圧供
給用プローブ52は電圧供給ライン16と接続され、フ
ィードバック用プローブ53は電圧フィードバック用ラ
イン17と接続されている。
【0060】図4においては、説明を容易にするため
に、電圧供給用プローブ51、フィードバック用プロー
ブ52、電圧供給ライン16、およびフィードバック用
ライン17のみを示している。
【0061】プローブカード50は、上述の複数のプロ
ーブを配置するための針元リング54を有している。各
プローブは、針元リング54上で互いに電気的に独立し
て下方に向けて配置されている。
【0062】載置台(図示せず)に載置された被計測デ
バイス13が、プローブカード50の下方からプローブ
カード50に向って上昇してくる。上昇によって、該デ
バイス13の各パッドが所定のプローブの先端と接触す
る。すなわち、被計測デバイス13の電源パッド39は
電圧供給用プローブ52と接触し、センスパッド40は
フィードバック用プローブ53と接触する。
【0063】上述したように、図4に示す電圧供給装置
においては、被電圧供給デバイス13の電圧供給端子4
0上の電圧を直接フィードバックしながら、調整された
電圧を被電圧供給デバイス13に供給している。すなわ
ち、プローブカード50上の電圧供給ライン16の配線
抵抗による電圧降下だけでなく、プローブカード50の
電圧供給プローブ52などの配線抵抗による電圧降下を
も補償することができる。そのため、被電圧供給デバイ
ス13に供給される電圧は、基準電圧に非常に近い正確
なものとなっている。
【0064】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明によっ
て、正確な電圧をデバイスに供給することが可能な電圧
供給装置および電圧供給方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電圧供給装置の一例を示す概略
図。
【図2】本発明に係る電圧供給装置の他の例を示す概略
図。
【図3】本発明に係る電圧供給装置をデバイス測定装置
に組み込んだ一例を示す概略図。
【図4】本発明に係る電圧供給装置をデバイス測定装置
に組み込んだ他の例を示す概略図。
【図5】従来の電圧供給装置を示す概略図。
【符号の説明】
10…電圧供給基板 11…電圧供給部 12…電圧供給端子 13…被電圧供給デバイス 14…供給ライン端子 15…フィードバック用ライン端子 16…電圧供給ライン 17…電圧フィードバック用ライン 18…基準電源 19…電圧調整部 20…電圧フィードバック用端子 21…配線 30…テスタ 31…テストボード 32…センスアンプ 33…ソケット部 34…基盤部 35…パッケージ 36…リード端子 37…ソケット端子 38…パッド 39…電源パッド 40…センスパッド 41…配線 42、43、44…ワイヤーボンディング 50…プローブカード 51…プローブ 52…電圧供給用プローブ 53…フィードバック用プローブ 54…針元リング

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電圧が供給されるための電圧供給端子を
    備えた被電圧供給デバイスに所定の電圧を供給するため
    の電圧供給装置であって、電圧供給基板と電圧供給部と
    を具備し、 前記電圧供給基板は、互いに電気的に独立しそれぞれ電
    圧供給時に電圧供給端子と接触する供給ライン端子およ
    びフィードバック用ライン端子と、供給ライン端子と電
    気的に接続されている電圧供給ラインと、フィードバッ
    ク用ライン端子と電気的に接続されている電圧フィード
    バック用ラインとを備え、 前記電圧供給部は、被電圧供給デバイスに供給するべき
    所定の電圧の基準電圧を出力する基準電源と、基準電源
    からの基準電圧および電圧フィードバック用ラインから
    のフィードバック電圧を入力し両電圧が等しくなるよう
    に調整された電圧を電圧供給ラインに出力する電圧調整
    部とを備えていることを特徴とする電圧供給装置。
  2. 【請求項2】 電圧が供給されるための電圧供給端子
    と、この電圧供給端子と電気的に接続されている電圧フ
    ィードバック用端子とを備えた被電圧供給デバイスに所
    定の電圧を供給するための電圧供給装置であって、電圧
    供給基板と電圧供給部とを具備し、 前記電圧供給基板は、電圧供給時に電圧供給端子と接触
    する供給ライン端子と、供給ライン端子と電気的に独立
    し電圧供給時に電圧フィードバック用端子と接触するフ
    ィードバック用ライン端子と、供給ライン端子と電気的
    に接続されている電圧供給ラインと、フィードバック用
    ライン端子と電気的に接続されている電圧フィードバッ
    ク用ラインとを備え、 前記電圧供給部は、被電圧供給デバイスに供給するべき
    所定の電圧の基準電圧を出力する基準電源と、基準電源
    からの基準電圧および電圧フィードバック用ラインから
    のフィードバック電圧を入力し両電圧が等しくなるよう
    に調整された電圧を電圧供給ラインに出力する電圧調整
    部とを備えていることを特徴とする電圧供給装置。
  3. 【請求項3】 電圧が供給されるための電圧供給端子を
    備えた被電圧供給デバイスに所定の電圧を供給するため
    の電圧供給方法であって、 電圧供給時に電圧供給端子と電気的に接続される電圧供
    給ラインと、 電圧供給ラインと電気的に独立し電圧供給時に電圧供給
    端子と電気的に接続される電圧フィードバック用ライン
    とを用い、 電圧フィードバック用ラインを介して測定する電圧供給
    端子上の電圧が所定の電圧となるように、電圧供給ライ
    ンを介して該端子に電圧を供給することを特徴とする電
    圧供給方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006118244A1 (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Agilent Technologies, Inc. Fet特性測定システム
WO2020149104A1 (ja) * 2019-01-15 2020-07-23 株式会社村田製作所 電子回路モジュール、検査システム、及び通信装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006118244A1 (ja) * 2005-04-28 2006-11-09 Agilent Technologies, Inc. Fet特性測定システム
US7242200B2 (en) 2005-04-28 2007-07-10 Agilent Technologies, Inc. System for measuring FET characteristics
JPWO2006118244A1 (ja) * 2005-04-28 2008-12-18 アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc. Fet特性測定システム
WO2020149104A1 (ja) * 2019-01-15 2020-07-23 株式会社村田製作所 電子回路モジュール、検査システム、及び通信装置
JPWO2020149104A1 (ja) * 2019-01-15 2021-11-25 株式会社村田製作所 電子回路モジュール、検査方法、及び通信装置

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