EP0102358A1 - Münzprüfer für die prüfung unterschiedlicher münzdicken oder münzdurchmesser - Google Patents

Münzprüfer für die prüfung unterschiedlicher münzdicken oder münzdurchmesser

Info

Publication number
EP0102358A1
EP0102358A1 EP83900549A EP83900549A EP0102358A1 EP 0102358 A1 EP0102358 A1 EP 0102358A1 EP 83900549 A EP83900549 A EP 83900549A EP 83900549 A EP83900549 A EP 83900549A EP 0102358 A1 EP0102358 A1 EP 0102358A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
coin
channel
diameter
plate
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP83900549A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hans Ramseier
Walter Messerli
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ascom Autelca AG
Autelca AG
Original Assignee
Ascom Autelca AG
Autelca AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ascom Autelca AG, Autelca AG filed Critical Ascom Autelca AG
Publication of EP0102358A1 publication Critical patent/EP0102358A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties

Definitions

  • the invention relates to a coin validator for testing different coin thicknesses or diameter measurements.
  • the coin thickness or the coin diameter is one of several variables influencing the result of the check in the previous i- ⁇ in test; it cannot be checked independently of the other variables (coin diameter or coin thickness, coin alloy) and identical test results can be obtained for coins of different thicknesses or different diameters if the other variables (coin diameter or coin thickness, mint alloy) differ Influence of the coin thickness or. of the coin diameter compensate.
  • the object of the invention is to achieve this . 'to check the thickness or the diameter of the coins independently of the other mint properties (mint diameter or mint thickness, electrical and magnetic properties of the coin alloy or the coin metal).
  • FIG. 1 shows a longitudinal section through a section of a coin channel, on which a sensing element and a mechanical-electrical converter for coin thickness testing are arranged,
  • Fig. 3 is a rear view in the direction of the arrow
  • Fig. 4 is a plan view in the direction of the arrow
  • FIG. 5 shows a circuit diagram of a circuit containing the mechanical-electrical converter for checking the coin thickness.
  • the coin validator who developed the test device shown in the drawing for checking the coin thickness holds is part of the self-cashier of a coin operated telephone.
  • the self-cashier has a coin slot (not shown) which is common to all acceptable coins and inclined to the horizontal, which is provided with a device for the removal of elongated objects and in Switzerland which does not belong to the prior art. Patent application No. is described.
  • Connected to the coin insertion channel is the vertical section 1 of the coin channel shown in FIG. 1, in which the thickness of the coins is checked by means of the checking device of the coin validator described in more detail below.
  • the section of the coin channel (not shown) following section 1 the knurling of the coin edge, the diameter of the coins and. the electrical properties of the coin alloy or the coin metal were checked.
  • test device for the knurling of the coin rim is in the European.
  • the test devices for the diameter of the coins and the electrical properties of the coin alloy or the coin metal are in the European.
  • the coin channel section 1 shown in FIG. 1 is delimited by two narrow and two wide walls; the latter two are designated 2 and 3.
  • the test device for checking the coin thickness has a sensing element which consists of a sheet metal plate 4, the length of which corresponds approximately to the diameter of the largest acceptable coin type and the width approximately corresponds to the diameter of a medium-sized acceptable coin type.
  • the wall 3 has a rectangular recess 5 adapted to the plate 4.
  • the longitudinal edges 6 of the plate 4 are from Coin channel bent away and carry an axis 7 to which a flap 8 is articulated.
  • the flap 8 is pivotally mounted about an axis 9 seated in bearing blocks 12 on the side of the wall 3 facing away from the coin channel.
  • the transverse edges of the plate have a Z-profile (a folded edge) with flanges 10, 11 parallel to the plate surface 21.
  • a fork-shaped spiral spring 14 presses with its fork ends 15, 16 the axis 7 in the direction of the coin channel 1, whereby the plate. 4 is held in a rest position. In this rest position, the flanges 10, 11 of the plate 4 are pressed onto the edge surfaces 17, 18 of the wall 3 facing away from the coin channel 1 and the plate 4 lies at a distance parallel to the wall 2 which is less than • the thickness of the thinnest acceptable coin type .
  • the front end part 20 of the plate 4 in the direction of coin movement 19 is to form a run-up surface for the coins at an angle of approximately 20 ° from the rest of the plate surface parallel to the wall 2 in the rest position
  • the axis 7 carries the movable plate set 25 of a capacitor 26 with continuously variable capacitance, which forms a mechanical-electrical converter of the testing device.
  • the stationary plate set 27 of the capacitor 26 is firmly connected to the wall 3.
  • Set 27 ensures that the two sets of plates do not touch each other.
  • the guide member 28 also has two lateral projections 29, which limit the deflection of the plate 4 from the rest position by striking the supports 31 of the plate set 27 when they face the coin channel.
  • guide means are arranged which guide the coins to the wall 2 and prevent the coins from being flipped back and forth between the walls 2 and 3.
  • the guide means consist of a row of tongues 35 which are mounted next to one another and can be rotated side by side on an axis 34 on the wall 3, each by a spring 36 (one of these springs is shown in FIG. 4) in the direction of the wall 2 are pressed so that they run from the wall 3 obliquely to the coin direction 19 through the coin channel section 1 to the wall 2 and push the coins passing through to the wall 2 and dampen movements of the coins transverse to the coin direction 19.
  • the tongues 35 are made of smooth plastic, along which the coins can slide well. In the embodiment shown with the springs 36, they are useful rigid tongues 35 used. Of course, the springs 36 could also be omitted and tongues made of elastic material could be used.
  • a coil 37 of an oscillator 38 is also arranged in the coin running direction directly in front of the plate 4.
  • the oscillations of the oscillator 38 cease and the triggering device 39 containing it emits a trigger signal to a program control device of the coin validator, which is formed by a microprocessor 40 and which controls the coin controller shown in FIG shown, in the following explained circuit of the test device for checking the coin thickness controls.
  • a port (input and output module) 42 and two pulse counters 43, 44 are connected to the microprocessor 40.
  • the output of port 42 is connected to the D input of a D flip-flop (D flip-flop) 45.
  • a "Zero Detecf output" of the counter 43 is connected to the R input of the D flip-flop 45 and to the input of the port 42 C-input with flank control, a downward counter input of counter 43 connected to the output of an AND gate 47, the counter reading of counter 43 being reduced by the number one at each zero-one transition at the counter input the up-counter input of the counter 44, which is designed as a C input with edge control, is connected to the output of an AND gate 48, the counter reading of the counter 44 being increased by the number one at each zero-one transition at the counter input.
  • the flip-flop 45 is with its Q output to one of the two Inputs of the AND gates 47 and 48 and connected to the driver stage 50 of a first oscillator 51 with its C input designed as a clock input with edge control.
  • the D input is subordinate to the C input of flip-flop 45, ie the value of the variable at the D input is only stored in the flip-flop when there is a zero-to-transition at the C input.
  • the oscillator 51 is a so-called "two-gate RC oscillator” with two CM0S inverter gates (type MM 74C04), two resistors and a capacitor; it generates a rectangular pulse sequence.
  • the capacitor 26 serves as the capacitor, the capacitance of which is changed in proportion to the deflection of the plate 4 from the rest position.
  • the capacitance of the capacitor 26 is smallest when the plate 4 is in the rest position.
  • the oscillator frequency is then, for example, approximately 100 kHz. With the maximum deflection of the plate 4 from the rest position, the capacitance of the capacitor 26 is greatest and the oscillator frequency is then, for example, approximately 60 kHz.
  • the oscillator 51 with its driver stage 50 is also connected to the other input of the AND gate 47.
  • a second oscillator 52 with a fixed frequency of approximately 2 MHz is connected to the other input of the AND gate 48 and also generates a square-wave pulse train.
  • the coin validator works as follows: When a coin or another metallic body passes the coil 37, the triggering device 39 sends a trigger signal to the microprocessor 40. The latter controls it immediately and then at two predetermined time intervals to be explained in more detail below 5 in each case as follows: the counter 43 is set to a predetermined number, for example 6, and the counter 44 is reset to zero. posed. Furthermore, the D input of the flip-flop 45 is set to the value one via the port 42.
  • the counter reading of the counter 43 is zero, the variable am , r zero Detect "output of the counter 43 assumes the value one and accordingly the value one is at the input of the port 42 and at the R input of the flip-flop 45. As a result, the flip-flop 45 is reset to the reset state, the Q output of the flip-flop assumes the value zero and the AND gates 47 and 48 are no longer permeable.
  • the level of the counter 44 indicates how many pulses the oscillator 52 has delivered during the six-pulse cycle of the oscillator 51. The one indicated by the counter 44 The number of pulses depends on the frequency of the oscillator 51 and thus on the capacitance of the capacitor 26, which in turn depends on the position of the plate 4.
  • the microprocessor 40 reads when the input is present ssignals at port 42 the count of the counter 44, and stores this value in a memory '(RAM) 53rd
  • the microprocessor 40 carries out three such measurements in succession.
  • the first measurement takes place immediately after the trigger signal of the device 39, that is to say at the time when the Coin passes the coil 37 and before it has reached the plate 4.
  • the second measurement is carried out for a period of time corresponding to the coin runtime between the coil 37 and the plate 4 after the trigger signal of the device 39, that is to say at the point in time at which the coin deflects the plate 4 from the rest position in accordance with the coin thickness.
  • the third measurement takes place after the trigger signal, which is chosen so large that the coin has normally left the area of the plate 4.
  • the microprocessor 40 then processes the three measured values obtained in these three measurements and stored in the memory 53 as follows: it subtracts the first measured value from the second measured value and compares the difference obtained with two for each acceptable coin type in the memory 53 stored limit values. If the difference lies between two limit values of an acceptable coin type, a character characterizing this coin type is stored in the memory 53. Otherwise, a signal which triggers the return of the coin is emitted.
  • the microprocessor further calculates the difference between the third and the first measured value and also emits a signal which triggers the return of the coin if this difference exceeds a predetermined limit value stored in the memory 53.
  • the additional first measurement and the formation of the difference between the second and the first measured value has the advantage that changes in the oscillator frequencies as a result of temperature changes or other interferences are compensated for.
  • the third measurement has the purpose of hanging coins or using a thread, for example Adhesive tape to remove stuck coins. Such coins are still on the plate 4 in the third measurement, which is why the difference between the third and first measured value is the same as the difference between the second and first measured value and thus larger than the corresponding predetermined limit value, if it is exceeded, the non-acceptance and return of the coin is triggered.
  • the electrical properties of the coin alloy or the coin metal, the diameter of the coin and the knurling of the coin edge are checked by means of test devices (not shown), likewise controlled by the microprocessor 40, as already mentioned in the introduction .
  • the microprocessor compares the respective measured value in a manner similar to the thickness test with two values stored for each acceptable coin type and stores the character assigned to the relevant coin type in the memory 53 if the measured value lies between the two limit values for a coin type .
  • the microprocessor compares the stored characters assigned to acceptable coin types and emits a signal which triggers the acceptance of the coin if all the characters match. Otherwise it triggers the return of the coin.
  • the plate 4 In its rest position, the plate 4 could also lie directly against the wall 2, but it is more expedient - as shown in the drawing - at a distance which is smaller than the thickness of the thinnest acceptable coin type is to keep away from the wall so that the course of the thin, light coins is not braked too much.
  • the plate 4 has the advantage that bent coins are eliminated. The acceptance of bent coins is particularly undesirable if the coins are sorted and stored as change by type of coin after being accepted for return, because the relevant parts of the cashier are precisely adapted to the respective thickness of the acceptable type of coin.
  • capacitor 26 with variable capacitance
  • a different mechanical-electrical converter which determines the amplitude or the frequency of an electrical signal, in particular another frequency-determining component of an oscillator.
  • a coil could be used with a coil core movable with respect to it, attached to the plate 4 or another sensing element, whose inductance and thus the oscillator frequency changes depending on the position of the sensing element.
  • the described device with the capacitor 26 is preferred because of its simplicity and reliability.
  • test device for testing the diameter of the coins can - as mentioned above - be designed in accordance with the test device described in European patent application with the publication number 0 023 965, namely two coils arranged on the two wide walls of the coin channel with transverse to the Coin running direction directly or at intervals next to each other arranged U or E cores, so that the influencing of the coil field or the coupling
  • the test device for the coin diameter can also be designed in accordance with the described test device for the coin thickness: a lever which projects obliquely to the coin running direction into the coin channel and serves in the Rest position is resiliently held on one of the two narrow walls or at a distance from one of the two narrow walls of the coin channel, which is smaller than the diameter of the smallest acceptable coin type.
  • the lever can be made in the same way as the plate 4 with the movable plate set of a capacitor corresponding to the capacitor 26 or a rotating capacitor
  • the test device for testing the electrical properties of the coin alloy or the coin metal can - as in the European.
  • the two coils have pot cores whose outside diameter is smaller than the diameter of the smallest acceptable coin type.
  • the microprocessor 40 triggers the acceptance of the coin only if the examination of the thickness, the diameter and the alloy of a coin yields values which are within the tolerance range of one and the same coin type lie.
  • the test value when testing the coin thickness is.
  • the status of the counter 44 or the aforementioned difference in the counter readings, when checking the coin diameter by means of the sensing element designed as a lever, the level of the corresponding counter or the counter reading difference, and when checking the coin diameter by means of the coils U or E cores as well as the testing of the coin alloy by means of the coils with pot cores is a quantity which is dependent on the influence of the magnetic field.
  • This size can be the size of a signal transmitted from one coil to the other, but it can also be the damping of the vibrations of an oscillating circuit with a self-induction coil arranged on the coin channel or the value of the gain of an oscillator amplifier controlled by a control device with -am Coin channel arranged self-induction coil, in which the coin causes the oscillator vibrations to suspend or to be inserted.
  • a control device with -am Coin channel arranged self-induction coil in which the coin causes the oscillator vibrations to suspend or to be inserted.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Coins (AREA)

Description

Münzprüfer für die Prüfung unterschiedlicher Münzdicken oder Münzdurchmesser
Die Erfindung betrifft einen Münzprüfer für die Prüfung un¬ terschiedlicher Münzdicken oder ^nzdurchmesse .
»
Bei den. bekannten Münzprüfern gelangen die zu prüfen¬ den Münzen z . B . in das Spulenfeld des Schwingkreises eines Oszillators , woraufhin dessen Schwingungen j e nach den elektrischen (und magnetischen ) Eigen¬ schaften der Münzlegierung bzw . des Münzmetalls so¬ wie der Münzgrösse und -dicke aussetzen ode nicht aussetzen . Eine Auswerteschaltung stellt das Aus¬ setzen bzw . Nichtaussetzen der Schwingungen fest und löst die Münzannahme bzw . Münzrückgabe aus .
Die Münzdicke bzw. der Münzdurchmesser ist bei der bisherigen i-ϊinzDrüfung eine von mehreren das Ergebnis der Prüfung beein¬ flussenden Variablen ; sie lässt sich nicht unabhängig von den übrigen Variablen (Münzdurchmesser bzw. Münzdicke, Münzlegierung ) prüfen und identis che Prüfungsergeb¬ nisse können für Münzen unterschi edlicher Dicke bzw. unterschiedlichen Durchmessers erhalten werden, wenn die übrigen Variablen ( Münzdurchmesser bzw. Münzdicke, Minzlegierung) den Einfluss der Münzdicke bzw . des Münzdurchmessers kompensieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe.'zugrunde,die Dicke oder den Durchmesser der Münzen unabhängig von den übrigen Minzeigen¬ schaften (Minzdurchmesser bzw. Minzdicke, elektrische und magneti¬ sche Eigenschaften der Münzlegierung bzw. des Münzmetalls) zu prüfen.
Die erfindungsgemässe Lösung dieser Aufgabe ist Gegen¬ stand des Patentanspruchs 1. Bevorzugte Ausführungs¬ arten sind in den Patentansprüchen 2 bis 13 umschrie¬ ben.
Im folgenden wird anhand der Zeichnung ein Ausführungs¬ beispiel der Erfindung näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 einen Längsschnitt durch einen Abschnitt eines Münzkanals, an dem"ein Fühlorgan und ein mechanisch-elektrischer Wandler für die Münz- dickenprüfung angeordnet sind,
Fig. 2 einen Schnitt nach der Linie II-II in Fig. 1,
Fig. 3 eine Rückansicht in Blickrichtung des Pfeiles
III in Fig. 1 auf den mechanisch-elektri¬ schen Wandler,
Fig. 4 eine Draufsicht in Blickrichtung des Pfeiles
IV in Fig. 1 auf in Münzlaufrichtung vor dem Fühlorgan angeordnete Führungsmittel, und
Fig. 5 ein Schaltschema einer den mechanisch-elektri¬ schen Wandler enthaltenden Schaltung für die Prüfung der Münzdicke.
Der Münzprüfer, der die in der Zeichnung dargestellte Prüfvorrichtung für die Prüfung der Münzdicke ent- hält, ist Teil des Selbstkassierers eines Münzfern¬ sprechers. Der Selbstkassierer hat einen für sämtliche annehmbare Münzen gemeinsamen, zur Horizontalen ge¬ neigten (nicht dargestellten) Münzeinwurf anal, der mit einer Vorrichtung für die Ausscheidung von läng¬ lichen Gegenständen versehen ist und in der nicht zum Stande der Technik gehörenden Schweiz. Patentan¬ meldung Nr beschrieben ist. An den Münz¬ einwurfkanal schliesst der in Fig. 1 dargestellte vertikale Abschnitt 1 des Münzkanals an, in dem die Dicke der Münzen mittels der im folgenden näher be¬ schriebenen Prüfvorrichtung des Münzprüfers ge¬ prüft wird. Im auf den Abschnitt 1 folgenden (nicht dargestellten) Abschnitt des Münzkanals werden mittels weiterer Prüfvorrichtungen des Münzprüfers nacheinan¬ der die Rändeluήg des Münzrands, der Durchmesser der Münzen und. die elektrischen Eigenschaften der Münz¬ legierung bzw. des Münzmetalls geprüft. Die Prüf¬ vorrichtung für die Rändelung des Münzrands ist in der europ. Patentanmeldung mit der Veröffentlichungs¬ nummer 0 008 63 beschrieben; die PrüfVorrichtungen für den Durchmesser der Münzen und die elektrischen Eigenschaften der Münzlegierung bzw. des Münzmetalls sind in der europ. Patentanmeldung mit der Veröffent¬ lichungsnummer 0 023 965 erläutert.
Der in Fig. 1 dargestellte Münzkanalabschnitt 1 ist durch zwei schmale und zwei breite Wände begrenzt; die beiden letz¬ teren sind mit 2 und 3 bezeichnet. Die Prüfvorrichtung für die Prüfung der Münzdicke hat ein Fühlorgan, das aus einer Blechplatte 4 besteht, deren Länge etwa dem Durchmesser der grössten annehmbaren Münzsorte und deren Breite etwa dem Durchmesser einer mittel- grossen annehmbaren Münzsorte, entspricht. Die Wand 3 hat eine der Platte 4 angepasste rechteckige Aus¬ sparung 5. Die Längsränder 6 der Platte 4 sind vom Münzkanal weggebogen und tragen eine Achse 7, an wel¬ cher eine'Klappe 8 angelenkt ist. Die Klappe 8 ist um eine in Lagerböcken 12 an der dem Münzkanal abge¬ wandten Seite der Wand 3 sitzende Achse 9 schwenk¬ bar gelagert. Die Querränder der Platte haben Z-Profil (eine Abkantung mit Umkantung) mit zur Plattenfläche 21 parallelen Flanschen 10, 11. Eine gabelförmige Biegefeder 14 drückt mit ihren Gabelenden 15, 16 die Achse 7 in Richtung auf den Münzkanal 1, wodurch die Platte.4 in einer Ruhelage gehalten ist. In dieser Ruhelage sind die Flansche 10, 11 der Platte 4 auf die dem Münzkanal 1 abgewandten Randflächen 17, 18 der Wand 3 gedrückt und die Platte 4 liegt in einem Abstand parallel zur Wand 2, der kleiner als • die Dicke der dünnsten annehmbaren Münzsorte ist. Der in Münzlaufrichtung 19 vordere Endteil 20 der Platte 4 ist zur Bildung einer Auflauffläche für die Münzen um einen Winkel von etwa 20° von der übrigen, in der Ruhelage zur Wand 2 parallelen Plattenfläche
21 in Richtung auf die Wand 3 abgebogen. Die Kante
22 zwischen dem vorderen Endteil 20 und dem Steg des Z-Profilrands liegt in der Ruhelage der Platte in der Ebene.der den Münzkanal 1 begrenzenden Fläche der Wand 3 unmittelbar angrenzend an den vorderen Rand 23 der Aussparung 5.
Die Achse 7 trägt den beweglichen Plattensatz 25 eines Kondensators 26 mit stufenlos veränderbarer Kapazität, der einen mechanisch-elektrischen Wand¬ ler der Prü Vorrichtung bildet. Der ruhende Platten¬ satz 27 des Kondensators 26 ist fest mit der Wand 3 verbunden. Auf der Achse 7 sitzt ferner ein Führungs¬ glied 28 aus Isoliermaterial, das zwischen zwei Plat¬ ten des Plattensatzes 27 und dessen beide Träger 31 greift und bei einer Bewegung der Platte 4 an den beiden Trägern 31 und den beiden Platten des Plattensatzes 27 anliegend gleitet und den in den Plattensatz 27 hin¬ einbewegten Plattensatz 25 führt. Durch die Führung des Führungsglieds 28 an den beiden Platten des Plat-
• tensatzes 27 ist gewährleistet, dass die beiden Plat¬ tensätze einander nicht berühren. Durch die Führung des Führungsglieds 28 an den beiden Trägern 31 wird erreicht, dass der Plattensatz 25 geradlinig in den Plattensatz 27 hineingeführt, also nicht gedreht wird, so dass der Ueberdeckungsgrad und damit die Kapazität proportional zur Auslenkung der Platte zunimmt. Das Führungsglied 28 hat ferner zwei seitliche Vorsprünge 29, welche die Auslenkung der Platte 4 aus der Ruhe¬ lage begrenzen, indem sie an den Trägern 31 des Plat¬ tensatzes 27 anschlagen, wenn- die dem Münzkanal zuge-
•wandte Fläche 21 der Platte 4 in der Ebene der dem Münzkanal zugewandten Fläche der Wand 3 liegt..
Am Uebergang zwischen dem (nicht dargestellten) schräg zur Horizontalen verlaufenden Münzeinwurfkanal und dem vertikalen Münzkanalabschnitt 1 sind Führungsmittel angeordnet, welche die Münzen an die Wand 2 führen und verhindern, dass die Münzen zwischen den Wänden 2 und 3 hin- und hergeschlagen werden. Die Führungs¬ mittel bestehen aus einer Reihe nebeneinander dreh¬ bar auf einer Achse 34 an der Wand 3 gelagerter Zungen 35, die einzeln durch je eine Feder 36, (in Fig. 4 ist eine dieser Federn dargestellt), in Richtung auf die Wand 2 gedrückt sind, so dass sie von der Wand 3 schräg zur Münzlaufrichtung 19 durch den Münzkanal¬ abschnitt 1 zur Wand 2 verlaufen und die durchlaufen¬ den Münzen an die Wand 2 drängen sowie Bewegungen der Münzen quer zur Münzlaufrichtung 19 dämpfen. Die Zun¬ gen 35 bestehen aus glattem Kunststoff, entlang dem " die Münzen gut gleiten können. Bei der dargestellten Ausführύngsform mit den Federn 36 werden zweckmässig biegesteife Zungen 35 verwendet. Selbstverständlich könnten die Federn 36 auch weggelassen und Zungen aus elastischem Material verwendet werden.
In Münzlaufrichtung unmittelbar vor der Platte 4 ist ferner eine Spule 37 eines Oszillators 38 angeordnet, deren Feld quer durch den Münzkanalabschnitt 1 ver¬ läuft. Wenn ein münzartiger, metallischer Körper durch das Spulenfeld läuft, setzen die Schwingungen des Os¬ zillators 38 aus und die diesen enthaltende Auslöse¬ vorrichtung 39 gibt ein Auslösesignal an eine durch einen Mikroprozessor 40 gebildete Programmsteuervor¬ richtung des Münzprüfers, welche die in Fig. 5 darge¬ stellte, im folgenden erläuterte Schaltung der Prüfvor¬ richtung für die Prüfung der Münzdicke ansteuert. An den Mikroprozessor 40 sind ein Port ( Eingabe- und Ausgabe-Baustein) 42 und zwei Impulszähler 43, 44 an¬ geschlossen. Der Ausgang des Ports 42 ist an den D- Eingang eines D-Flipflops (D-Kippglieds) 45 ange¬ schlossen. Ein in der Zeichnung mit ZD bezeichneter "Zero-Detecf-Ausgang des Zählers 43, der aktiviert wird, wenn der Zählerstand Null ist, ist mit dem R- Eingang des D-Flipflops 45 und dem Eingang des Ports 42 verbunden. Weiter ist ein als C-Eingang mit Flan¬ kensteuerung ausgebildeter Rückwärts-Zähleingang des Zählers 43 mit dem Ausgang eines UND-Tores 47 ver¬ bunden, wobei der Zählerstand des Zählers 43 bei jedem Null-Eins-Uebergang am Zähleingang um die Zahl Eins erniedrigt wird. Ein ebenfalls als C-Eingang mit Flankensteuerung ausgebildeter Vorwärts-Zähl- eingang des Zählers 44 ist mit dem Ausgang eines UND-Tors 48 verbunden, wobei der Zählerstand des Zählers 44 bei jedem Null-Eins-Uebergang am Zähl¬ eingang um die Zahl Eins erhöht wird. Der Flipflop 45 ist mit seinem Q-Ausgang je an einen der beiden Eingänge der UND-Tore 47 und 48 und mit seinem als Takt- Eingang mit Flankensteuerung ausgebildeten C-Eingang an die Treiberstufe 50 eines ersten Oszillators 51 an¬ geschlossen. Der D-Eingang ist dem C-Eingang des Flip- flops 45 untergeordnet, d.h. der Wert der Variablen am D-Eingang wird im Flipflop erst bei einem Null-Eins- Uebergang am C-Eingang gespeichert. Der Oszillator 51 ist ein sog. "Two-Gate-RC-Oscillator" mit zwei CM0S- Invertergattern (Typ MM 74C04), zwei Widerständen und einem Kondensator; er erzeugt eine Rechteckimpuls¬ folge. Als Kondensator dient der Kondensator 26, dessen Kapazität proportional zur Auslenkung der Plat¬ te 4 aus der Ruhelage verändert wird. Die Kapazität des Kondensators 26 ist am kleinsten, wenn die Plat¬ te 4 in der Ruhelage ist. Die Oszillatorfrequenz be¬ trägt dann z.B. etwa 100 kHz. Bei der maximalen Aus¬ lenkung der Platte 4 aus der Ruhelage ist die Kapazi¬ tät des Kondensators 26 am grössten und die Oszillator¬ frequenz beträgt dann z.B. etwa 60 kHz. Der Oszillator- 51 ist mit seiner Treiberstufe 50 ferner an den ande¬ ren Eingang des UND-Tors 47 angeschlossen. An den anderen Eingang des UND-Tors 48 ist ein zweiter Os¬ zillator 52 mit fest eingestellter Frequenz von etwa 2 MHz angeschlossen, der ebenfalls eine Rechteck¬ impulsfolge erzeugt.
Der Münzprüfer arbeitet wie folgt: Wenn eine Münze oder ein anderer metallischer Körper die Spule 37 passiert, gibt die Auslösevorrichtung 39 ein Auslöse¬ signal an den Mikroprozessor 40. Dieser steuert un¬ mittelbar hierauf und danach in zwei vorbestimmten, weiter unten näher zu erläuternden Zeitabständen die in Fig. 5 dargestellte Schaltung jeweils wie folgt an: Der Zähler 43 wird auf eine vorbestimmte Zahl, z.B. 6 gestellt, und der Zähler 44 auf Null zurück- gestellt. Ferner wird über den Port 42 der D-Eingang des Flipflops 45 auf den Wert Eins gesetzt. Synchron mit dem Anstieg des nächstfolgenden Rechteckimpulses des Oszillators 51, d.h. beim dadurch bewirkten Null- Eins-Uebergang am C-Eingang des Flipflops 45 nimmt dessen Q-Ausgang den Wert Eins an, wodurch das UND- Tor 47 für diesen und die folgenden Impulse des Os¬ zillators 51 und das UND-Tor 48 für die Impulse des Oszillators 52 durchlässig wird. Der Zählerstand des Zählers 43 wird nun bei jedem Impuls des Oszilla¬ tors 51 um Eins erniedrigt und der Zähler 44 zählt die Impulse des Oszillators 52. Nach sechs Impulsen des Oszillators 51 ist der Zählerstand des Zählers 43 Null, die Variable am ,rZero-Detect"-Ausgang des Zählers 43 nimmt den Wert Eins an und entsprechend liegt am Eingang des Ports 42 und am R-Eingang des Flipflops 45 der Wert Eins. Dadurch wird der Flip¬ flop 45 in den Rücksetzzustand zurückgesetzt, der Q-Ausgang des Flipflops nimmt den Wert Null an und die UND-Tore 47 und 48 sind nicht mehr durchlässig. Der Stand des Zählers 44 gibt an, wieviele Impulse der Oszillator 52 während dem sechs Impulse umfassen¬ den Impulszug des Oszillators 51 geliefert hat. Die vom Zähler 44 angegebene Impulszahl hängt von der Frequenz des Oszillators 51 und damit von der Kapa¬ zität des Kondensators 26 ab, die ihrerseits von der Stellung der Platte 4 abhängt. Der Mikroprozessor 40 liest nach Vorliegen des Eingangssignals am Port 42 den Zählerstand des Zählers 44 und speichert diesen Messwert in einem Speicher' (RAM) 53.
Wie oben erwähnt, führt der Mikroprozessor 40 nachei¬ nander drei derartige Messungen durch. Die erste Messung erfolgt unmittelbar nach dem Auslösesignal der Vorrichtung 39, also im Zeitpunkt, in dem die Münze die Spule 37 passiert und bevor sie die Platte 4 erreicht hat. Die zweite Messung wird eine der Münzlaufzeit zwischen der Spule 37 und der Platte 4 entsprechende Zeitdauer nach dem Auslösesignal der Vorrichtung 39 ausgeführt, also in dem Zeitpunkt, in dem die Münze die Platte 4 entsprechend der Münz¬ dicke aus der Ruhelage auslenkt. Die dritte Messung erfolgt eine Zeitdauer nach dem Auslösesignal, die so gross gewählt ist, dass die Münze normalerweise den Bereich der Platte 4 verlassen hat. Der Mikro¬ prozessor 40 verarbeitet die bei diesen drei Messun¬ gen erhaltenen, im Speicher 53 gespeicherten drei Messwerte anschliessend wie folgt: Er subtrahiert den ersten Messwert vom zweiten Messwert und vergleicht die erhaltene Differenz mit je zwei für jede anneh- bare Münzsorte im Speicher 53 gespeicherten Grenz¬ werten. Liegt die Differenz zwischen zwei Grenzwerten einer annehmbaren Münzsorte, wird ein diese Münz¬ sorte charakterisierendes Zeichen im Speicher 53 ge¬ speichert. Andernfalls wird ein die Münzrückgabe aus¬ lösendes Signal abgegeben. Weiter berechnet der Mikroprozessor die .Differenz zwischen dem dritten und dem ersten Messwert und gibt ebenfalls ein die Münz¬ rückgabe auslösendes Signal ab, wenn diese Differenz einen vorbestimmten, im Speicher 53 gespeicherten Grenzwert überschreitet.
Für die Prüfung der Münzdicke wäre an sich nur eine, nämlich die zweite Messung, notwendig. Die zusätzli¬ che erste Messung und die Differenzbildung zwischen dem zweiten und dem ersten Messwert hat aber den Vor¬ teil, dass Aenderungen der Oszillatorfrequenzen in¬ folge Temperaturänderungen oder anderen Störeinflüs¬ sen kompensiert werden. Die dritte Messung hat den Zweck, an einem Faden hängende Münzen oder z.B. mittels Klebeband, zusammengeklebte Münzen auszuscheiden. Solche Münzen liegen bei der dritten Messung noch an der Platte 4, weshalb die Differenz zwischen dem dritten und ersten Messwert gleich gross wie die Differenz zwischen dem zweiten und ersten Messwert und damit grösser als der entsprechend vorbestimmte Grenzwert wird, bei dessen Ueberschreitung die Nicht¬ Annahme und Rückgabe der Münze ausgelöst wird.
Anschliessend an die beschriebene Dickenprüfung wer¬ den - wie bereits einleitend erwähnt - die elektrischen Eigenschaften der Münzlegierung bzw. des Müπzmetalls, der Durchmesser der Münze und die Rändelung des Münzen¬ rands mittels (nicht dargestellter), ebenfalls vom Mikroprozessor 40 gesteuerter Prüfvorrichtungen ge¬ prüft. Dabei vergleicht der Mikroprozessor den jewei¬ ligen Messwert ähnlich wie bei der Dickenprüfung mit je zwei für jede annehmbare Münzsorte gespeicherten Werten und speichert das der betreffenden Münzsorte zugeordnete Zeichen im Speicher 53, wenn der Mess¬ wert zwischen den beiden Grenzwerten für eine Münz¬ sorte liegt. Anschliessend vergleicht der Mikropro¬ zessor die gespeicherten, annehmbaren Münzsorten zuge¬ ordneten Zeichen und gibt ein die Münzannahme auslösen¬ des Signal ab, wenn alle Zeichen übereinstimmen. An¬ dernfalls löst er die Münzrückgabe aus.
Die Pla.tte 4 könnte in ihrer Ruhelage auch unmittel¬ bar an der Wand 2 anliegen-, es ist aber zweckmässiger, sie - wie in der Zeichnung dargestellt - in einem Ab¬ stand, der kleiner als die Dicke der dünnsten annehm¬ baren Münzsorte ist, von der Wand zu halten, damit der Lauf der dünnen, leichten Münzen nicht zu stark ge¬ bremst wird.
- Anstelle der Platte 4 könnte auch ein anderes Fühl¬ organ, z.B. ein länglicher Fühler, verwendet werden. Die Platte 4 hat aber den Vorteil, dass verbogene Münzen ausgeschieden werden. Die Annahme verbogener Münzen ist vor allem dann unerwünscht, wenn die Münzen nach der Annahme für die Rückgabe als Wechselgeld nach Münzsorten sortiert und gespeichert werden, weil die betreffenden Teile des Selbstkassierers genau der jeweiligen Dicke der annehmbaren Münzsorte an- gepasst sind.
Anstelle des Kondensators 26 mit veränderbarer Kapa¬ zität könnte auch ein anderer, die Amplitude oder die Frequenz eines elektrischen Signals bestimmen¬ der mechanisch-elektrischer Wandler, insbesondere 'auch ein anderer frequenzbestimmender Bauteil eines Oszillators vorgesehen werden. Zum Beispiel könnte eine Spule mit in bezug auf sie beweglichem, an der Platte 4 oder einem anderen Fühlorgan befestigtem Spulenkern verwendet werden, deren Induktivität und damit die Oszillatorfrequenz in Abhängigkeit von der Stellung des Fühlorgans ändert. Die beschriebene Vorrichtung mit dem Kondensator 26 ist aber wegen ihrer Einfachheit und Zuverlässigkeit bevorzugt.
Die Prüfvorrichtung für die Prüfung des Durchmessers der Münzen kann - wie oben erwähnt - entsprechend der in der europäischen Patentanmeldung mit der Veröffent¬ lichungsnummer 0 023 965 beschriebenen Prüfvorrich¬ tung ausgeführt sein, nämlich zwei an den beiden breiten Wänden des Münzkanals angeordnete Spulen mit quer zur Münzlaufrichtung unmittelbar oder in Ab¬ ständen nebeneinander angeordneten U- oder E-Kernen aufweisen, so dass die für die Münzannahme massgeben- de Beeinflussung des Spulenfelds bzw. des Kopplungs-
grads zwischen den beiden Spulen im wesentlichen vom Durchmesser der Münzen abhängt. Um eine vom Münz¬ material völlig unabhängige Prüfung des Münzdurch¬ messers zu erhalten, kann die Prüfvorrichtung für den Münzdurchmesser auch entsprechend der beschriebenen PrüfVorrichtung für die Münzdicke ausgebildet sein: Als Fühlorgan kann ein schräg zur Münzlaufrichtung in den Münzkanal ragender Hebel dienen, der in der Ruhe- läge federnd an einer der beiden schmalen Wände oder in einem Abstand von einer der beiden schmalen Wände des Münzkanals gehalten ist, der kleiner als der Durchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist. Der Hebel kann in derselben Weise wie die Platte 4 mit dem beweglichen Plattensatz eines dem Kondensator 26 entsprechenden Kondensators oder eines Drehkondensators
.verbunden sein, der wie der Kondensator 26 der fre¬ quenzbestimmende Bauteil-eines Oszillators ist, der Teil einer der Schalt ng 42-52 entsprechenden, eben¬ falls an den Mikroprozessor 40 angeschlossenen Schal¬ tung ist.
Die Prüfvorrichtung für die Prüfung der elektrischen Eigenschaften der Münzlegierung bzw. des Münzmetalls kann - wie ebenfalls in der europ. Patentanmeldung mit der Veröffentlichungsnummer 0 023 965 beschrieben - durch eine LegierungsprüfSchaltung mit zwei einander am Münzkanal gegenüberliegenden Kopplungsspulen er¬ folgen. Die beiden Spulen haben Topfkerne, deren Aussendurchmesser kleiner als der Durchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist.
Wie erwähnt, löst der Mikroprozessor 40 die Münzan¬ nahme nur aus, wenn die Prüfung der Dicke, des Durch¬ messers und der Legierung einer Münze Werte ergibt, die im Toleranzbereich ein und derselben Münzsorte liegen. Der Prüfungswert ist bei der Prüfung der Münz¬ dicke der.' Stand des Zählers 44 bzw. die erwähnte Differenz der Zählerstände, bei der Prüfung des Münz¬ durchmessers mittels des als Hebel ausgebildeten Fühl¬ organs der Stand des entsprechenden Zählers bzw. die Zählerstanddifferenz, und bei der Prüfung des Münz¬ durchmessers mittels der Spulen mit U- oder E-Kernen sowie der Prüfung der Münzlegierung mittels der Spu¬ len mit Topfkernen eine von der Beeinflussung des magnetischen Felds abhängige Grosse. Diese Grosse kann die Grosse eines von der einen auf die andere Spule übertragenen Signals sein,_ sie kann aber auch die Dämpfung der Schwingungen eines Schwingkreises mit einer am Münzkanal angeordneten Selbstinduktionsspule oder der Wert der von einer Steuervorrichtung ge¬ steuerten Verstärkung eines Oszillatorverstärkers mit -am Münzkanal angeordneter Selbstinduktionsspule sein, bei dem die Münze die Oszillatorschwingungen zum Aus¬ setzen oder zum Einsetzen bringt. Die letztere Möglich¬ keit ist in der europäischen Patentanmeldung Nr. 81109571.0 (entsprechend in der Schweiz. Patentanmel¬ dung Nr. 8 979/80) beschrieben.

Claims

Patentansprüche
1. Münzprüfer für die Prüfung unterschiedlicher Münz- . dicken oder Münzdurchmesser, gekennzeichnet durch ein bewegliches Fühlorgan (4), das federnd (14) in einer in den Münzkanal (1) ragenden Ruhelage gehalten ist, aus der es von einer durch den Münzkanal (1) laufen¬ den Münze je nach deren Dicke oder Durchmesser ver¬ schieden weit ausgelenkt wird, und das mit einem me¬ chanisch-elektrischen Wandler (26) einer Schaltungs¬ anordnung (51) verbunden ist, die ein elektrisches Signal erzeugt, dessen Frequenz oder Amplitude sich stetig mit der Auslenkung des Fühlorgans (4) aus der Ruhelage ändert und somit ein Mass für die Münzdicke oder den Münzdurchmesser ist.
2. Münzprüfer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich¬ net, dass der mechanisch-elektrische Wandler ein Kondensator (26) mit stetig veränderbarer Kapazität ist, dessen beweglicher Plattensatz (25) mit dem Fühl¬ organ (4) verbunden ist.
3. Münzprüfer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn¬ zeichnet, dass der mechanisch-elektrische "Wandler ein frequenzbestimmender Bauteil (26) eines Oszilla¬ tors (51) ist.
4. Münzprüfer nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch einen ersten Zähler (43) für die Perioden des Os¬ zillators (51) und einen zweiten Zähler (44) für die Perioden eines zweiten Oszillators (52), dessen fest eingestellte Frequenz ein Vielfaches der durch den mechanisch-elektrischen Wandler (26) veränderbaren Frequenz des ersten Oszillators (51) beträgt, und durch eine Steuervorrichtung (40, 42, 45), welche die Zähler (43, 44) und/oder zwischen diese und die Oszillatoren (51, 52) geschaltete Schaltglieder (47, 48) so an¬ steuert, dass beide Zähler (43, 44) gleichzeitig mit¬ einander beginnen, die Perioden ihres Oszillators (51, 52) zu zählen, und das Zählen des zweiten Zählers (44) genau in dem Zeitpunkt unterbrochen oder der Zählerstand des zweiten Zählers (44) genau in dem Zeitpunkt abgelesen wird, in dem der erste Zähler (43) eine vorbestimmte Anzahl Perioden des ersten Oszillators (51) gezählt hat, wobei der Zählerstand des zweiten Zählers (44) ein Mass für die Dicke oder den Durchmesser der Münze ist.
5. Münzprüfer nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich¬ net, dass in Münzlaufrichtung (19) vor dem Fühlorgan (4) ein Prüforgan (37) einer auf metallische Körper ansprechenden und dabei ein Auslösesignal an die Steuer¬ vorrichtung (40, 42, 45) abgebenden Auslösevorrichtung (39) angeordnet ist, und die Steuervorrichtung den ZählVorgang der beiden Zähler (43, 44) unmittelbar nach dem Auslösesignal und hierauf erneut nach einer der Münzlaufzeit zwischen dem Prüforgan (38) und dem Fühlorgan (4) entsprechenden Zeitdauer auslöst und die Differenz zwischen den beiden Zählerständen des zweiten Zählers (44) bildet, um ein von Frequenz¬ verschiebungen der Oszillatoren infolge Temperatur¬ änderungen und anderen Störein lüssen unabhängiges Mass für die Dicke oder den Durchmesser der Münze zu erhalten.
6. Münzprüfer nach einem der Ansprüche 1 bis-5, für die Prüfung unterschiedlicher Münzdicken, dadurch ge¬ kennzeichnet, dass das Fühlorgan eine Platte (4) ist, die in der Ruhelage federnd (14) an einer (2) der beiden breiten Wände (2, 3) oder in einem Abstand von einer (2) der beiden breiten Wände (2,3) des Münzkanals (1) gehalten ist, der kleiner als die Dicke der dünnsten annehmbaren Münzsorte ist.
7. Münzprüfer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Abmessungen der Platte (4) quer und längs zum Münzkanal (1) grösser als der Münzdurchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte sind.
8. Münzprüfer nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekenn¬ zeichnet, dass die andere (3) der beiden breiten Wände (2, 3) des Münzkanals (1) eine der Platte (4) ange- passte Aussparung (5) hat und die Auslenkung der Platte (4) aus der Ruhelage in Richtung auf die andere Wand (3) so begrenzt ist, dass die Platte (4) nur soweit in die Aussparung (5) hineinbewegbar ist, bis ihre dem Münzkanal (1) zugewandte Fläche (21) annähernd in der Ebene der anderen Wandfläche (3) liegt, und dass der in Münzlaufrichtung vordere Endteil (20) der Plat¬ te (4) eine schräg zur übrigen Plattenfläche (21) ver¬ laufende Au lauf lache aufweist, welche in der Ruhelage der Platte (4) an den vorderen Rand (23) der Ausspa- "rung (5) angrenzt.
9. Münzprüfer nach einem der Ansprüche 6 bis 8, ge¬ kennzeichnet durch in Münzlaufrichtung (19) vor dem Fühlorgan (4) angeordnete, an der anderen (3) der beiden breiten Wände (2, 3) des Münzkanals (1) ge¬ lagerte, schräg zur Münzlaufrichtung (19) in den Münz¬ kanal (1) ragende, federnde Führungsmittel (35, 36), welche die durch den Münzkanal (1) laufenden Münzen an die eine (2) der beiden breiten Wände (2, 3) führen und Querbewegungen der Münzen zwischen den bei¬ den breiten Wänden (2, 3) des Münzkanals (1) dämpfen.
10. Münzprüfer nach Anspruch 9, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Führungsmittel durch eine Reihe neben- einander a der anderen Wand (3) gelagerte Zungen (35) gebildet sind, die aus elastischem Material bestehen und/oder einzeln durch je eine Feder (36) belastet sind, welche sie von der anderen Wand (3) weg in die schräg zur Münzlaufrichtung (19) in den Münz¬ kanal (1) ragende Lage drückt.
11. Münzprüfer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, für die Prüfung unterschiedlicher Münzdurchmesser, dadurch gekennzeichnet, dass das Fühlorgan ein schräg zur Münzlaufrichtung in den Münzkanal ragender Hebel ist, der in der Ruhelage federnd an einer der beiden schmalen Wände oder in einem Abstand von einer der bei¬ den- schmale Wände des Münzkanals gehalten ist, der kleiner als der Durchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist.
12. Münzprüfer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, für die Prüfung unterschiedlicher Münzdicken, Münzdurch¬ messer und Münzlegierung, dadurch gekennzeichnet, dass das Fühlorgan eine Platte (4) ist, die in der Ruhelage federnd (14) an einer (2) der beiden breiten Wände (2, 3) oder in einem Abstand von einer (2) der beiden breiten Wände (2, 3) des Münzkanals (1) gehal¬ ten ist, der kleiner als die Dicke der dünnsten an¬ nehmbaren Münzsorte ist, wobei die Frequenz oder Amplitude des von der ersten Schaltungsanordnung (51) erzeugten Signals ein Mass für die Münzdicke ist, dass ein zweites, durch einen Hebel gebildetes Fühlorgan schräg zur Münzlaufrichtung in den Münzkanal ragt, das in der Ruhelage federn an einer der beiden schma¬ len Wände oder in einem Abstand von einer der bei¬ den schmalen Wände des Münzkanals gehalten ist, der kleiner als der Durchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist und das mit einem zweiten mechanisch- elektrischen Wandler einer zweiten Schaltungsanordnung verbunden ist, die ein elektrisches Signal erzeugt, dessen Frequenz oder Amplitude ein Mass für den Münzdurchmesser ist, dass eine dritte Schaltungs¬ anordnung vorgesehen ist, die eine am Münzkanal an¬ geordnete Spule aufweist, deren Kern sowohl in Münz¬ laufrichtung wie auch quer dazu kleiner als der Durch¬ messer der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist, und die eine von der Beeinflussung des Spulenfelds durch das Münzmaterial abhängige Grosse liefert und dass die drei Schaltungsanordnungen mit einer Steuervorrichtung verbunden sind, welche einen Speicher aufweist, in dem für jede annehmbare Münzsorte je ein zulässiger Maximal- und ein zulässiger Minimalwert für die von den drei Schaltungsanordnungen gelieferten, von den Münzeigenschaften abhängigen Grossen gespeichert sind, und welche die Annahme einer Münze nur dann auslöst, wenn die von den drei Schaltungsanordnungen gelieferten Grossen zwischen den für dieselbe Münzsorte gespeicher¬ ten Minimal- und Maximalwerten liegen.
13. Münzprüfer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, für die Prüfung unterschiedlicher Münzdicken, Münzdurch¬ messer und Münzlegierungen, dadurch gekennzeichnet, dass das Fühlorgan eine Platte (4) ist, die in der Ruhelage federnd (14) an einer (2) der beiden breiten Wände (2, 3) oder in einem Abstand von einer (2) der beiden breiten Wände (2, 3) des Münzkanals (1) gehal¬ ten ist, der kleiner als die Dicke der dünnsten annehm¬ baren Münzsorte ist, wobei die Frequenz oder Amplitude des von der ersten Schaltungsanordnung (51) erzeugten Signals ein Mass für die Münzdicke ist, dass eine zweite Schaltungsanordnung für die Prüfung des Münz¬ durchmessers vorgesehen ist, die eine am Münzkanal angeordnete Spule oder einen Kondensator aufweist,
- F deren magnetisches bzw. dessen elektrisches Feld quer annähernd durch den ganzen Münzkanal verläuft, und die' eine von der Beeinflussung des Feldes abhängige Grosse liefert, dass eine dritte Schaltungsanordnung für die Prüfung der Münzlegierung vorgesehen ist, die eine am Münzkanal angeordnete Spule aufweist, deren Kern sowohl in Münzlaufrichtung wie auch quer dazu kleiner als der Durchmesser der kleinsten annehmbaren Münzsorte ist, und die eine von der Beeinflussung des Spulenfelds durch das Münzmaterial abhängige Grosse liefert, und dass die drei Schaltungsanordnungen mit einer Steuervorrichtung verbunden sind, welche einen Speicher aufweist, in dem für jede annehmbare Münzsor¬ te je ein zulässiger Maximal- und ein zulässiger Minimal¬ wert für die von den drei Schaltungsanordnungen gelie¬ ferten, von den Münzeigensehaften abhängigen Grossen gespeichert sind, und welche die Annahme einer Münze nur dann auslöst, wenn die von den drei Schaltungsan¬ ordnungen gelieferten Grossen zwischen den für die¬ selbe Münzsorte gespeicherten Minimal- und Maximalwer¬ ten liegen.
EP83900549A 1982-03-04 1983-02-14 Münzprüfer für die prüfung unterschiedlicher münzdicken oder münzdurchmesser Withdrawn EP0102358A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH1321/82 1982-03-04
CH1321/82A CH655810A5 (de) 1982-03-04 1982-03-04 Muenzpruefer fuer die pruefung unterschiedlicher muenzdicken und/oder muenzdurchmesser und/oder muenzlegierungen.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP0102358A1 true EP0102358A1 (de) 1984-03-14

Family

ID=4207707

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP83900549A Withdrawn EP0102358A1 (de) 1982-03-04 1983-02-14 Münzprüfer für die prüfung unterschiedlicher münzdicken oder münzdurchmesser

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP0102358A1 (de)
CH (1) CH655810A5 (de)
DK (1) DK499283A (de)
FI (1) FI833847A (de)
NO (1) NO834018L (de)
WO (1) WO1983003154A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19614575A1 (de) * 1996-04-12 1997-10-16 Konstantin Prof Dr Ing Meyl Verfahren und Vorrichtung zum Empfang von Neutrinos

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8511163D0 (en) * 1985-05-02 1985-06-12 Howells G Coin handling apparatus
CH668325A5 (de) * 1985-09-23 1988-12-15 Sodeco Compteurs De Geneve Muenzpruefer mit einer vorrichtung zur pruefung des durchmessers.
CH670717A5 (de) * 1986-05-14 1989-06-30 Autelca Ag
US4845994A (en) * 1988-02-29 1989-07-11 Automatic Toll Systems, Inc. Coin testing apparatus
GB2271875A (en) * 1992-10-14 1994-04-27 Tetrel Ltd Coin validator
ATE154852T1 (de) * 1992-10-14 1997-07-15 Tetrel Ltd Münzprüfer
DE4436318B4 (de) * 1994-10-11 2008-10-09 Nsm-Löwen Entertainment Gmbh Münzprüfer zur Bestimmung der Echtheit von Münzen
GB2314189B (en) * 1996-06-14 2000-08-09 Mars Inc Coin handling apparatus
US6907977B1 (en) 2000-01-28 2005-06-21 Cashcode Company Inc. Capacitance sensor for coin evaluation
AU2000222731A1 (en) * 2000-01-28 2001-08-07 Cashcode Company Inc. Capacitance sensor for coin evaluation
DE10057236B4 (de) * 2000-11-18 2004-03-18 National Rejectors, Inc. Gmbh Münzprüfer mit Dämpfungselement in der Münzlaufbahn
DE10057614A1 (de) * 2000-11-21 2002-06-06 Nat Rejectors Gmbh Münzprüfer
DE102004020791B3 (de) * 2004-04-28 2005-11-17 National Rejectors, Inc. Gmbh Vorrichtung zur Ablenkung und Beruhigung von Münzen in einem Münzprüfer

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1246622A (en) * 1967-07-17 1971-09-15 Mars Inc Coin or token testing system
US3667485A (en) * 1969-10-21 1972-06-06 William J Sesko Fare box with belt conveyor and coin size detector
DE2053704A1 (de) * 1970-11-02 1972-05-10 Pruemm G Verfahren zur elektronischen Prüfung mehrerer Münzsorten
FR2353910A1 (fr) * 1976-06-02 1977-12-30 Affranchissement Timbrage Auto Discriminateur logique de pieces de monnaie
US4184366A (en) * 1976-06-08 1980-01-22 Butler Frederick R Coin testing apparatus

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO8303154A1 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19614575A1 (de) * 1996-04-12 1997-10-16 Konstantin Prof Dr Ing Meyl Verfahren und Vorrichtung zum Empfang von Neutrinos

Also Published As

Publication number Publication date
FI833847A0 (fi) 1983-10-20
CH655810A5 (de) 1986-05-15
NO834018L (no) 1983-11-03
DK499283D0 (da) 1983-11-01
FI833847A (fi) 1983-10-20
DK499283A (da) 1983-11-01
WO1983003154A1 (en) 1983-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2654472C2 (de)
DE2935539C2 (de)
DE69034216T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Echtheitsprüfung von Geld
EP0102358A1 (de) Münzprüfer für die prüfung unterschiedlicher münzdicken oder münzdurchmesser
DE2350989C2 (de)
DE2350990C2 (de)
WO1987000661A1 (en) Device for verifying coins
DE68914030T2 (de) Münzprüfer.
DE3876708T2 (de) Muenzendiskriminierer.
DE1449293B2 (de) Muenzpruefer
EP0704825B1 (de) Einrichtung zur Prüfung der Echtheit von Münzen, Jetons oder anderen flachen metallischen Gegenständen
DE2824835C2 (de)
DE2158025C3 (de) Vorrichtung zum Prüfen der Echtheit und des Wertes von Münzen
DE2716740A1 (de) Vorrichtung zur automatischen, beruehrungsfreien pruefung von muenzen auf echtheit und/oder nennwert und/oder zur rechnergefuehrten parameterauswertung
DE2916123A1 (de) Schaltungsanordnung zur pruefung der groesse von materialzusammensetzung von muenzen
DE69016660T2 (de) Münzprüfvorrichtung.
DE3026880A1 (de) Muenzpruefeinrichtung
DE69010895T2 (de) Vorrichtung zur münzhandhabung.
DE3506713C2 (de)
DE4138018C1 (de)
EP0590381B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Eichen eines Münzprüfers
DE2014023A1 (de) Vorrichtung zum Prüfen der Eigen schäften von Metallscheiben
CH647608A5 (de) Verfahren und einrichtung zur echtheitspruefung von muenzen.
EP0805423B1 (de) Einrichtung zur Prüfung der Echtheit von Münzen, Jetons oder anderen flachen metallischen Gegenständen
DE2017390A1 (de) Münzprüfer

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 19830924

AK Designated contracting states

Designated state(s): AT BE DE FR GB NL SE

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 19850709

RIN1 Information on inventor provided before grant (corrected)

Inventor name: MESSERLI, WALTER

Inventor name: RAMSEIER, HANS