DE9307408U1 - Transistorprüfgerät - Google Patents

Description

PATENTANWALT DR. STARK ■ MOERSER STRASSE 140 D-4150 KREFELi) · W (0215'.) 282 22 u. 2C469

93 102 / th

Rüdiger Wintjens, Briener Straße 148, 4190 Kleve 1 - Kellen

Transistorprüfgerät

Die Erfindung betrifft ein Transistorprüfgerät mit einer Suchlaufeinrichtung zur Ermittlung der Transistoranschlüsse und des Transistortyps PNP bzw. NPN und mit zugeordneten Anzeigen.

Derartige Transistorprüfgeräte sind regelmäßig mit einem Netzteil ausgerüstet und in der Lage, nicht nur die Transistoranschlüsse sondern auch den Transistortyp (= Dotierungsfolge) zu ermitteln. Dabei kann ein Transistor sowohl in eingebautem als auch in ausgebautem Zustand geprüft werden.

Bei einem Transistorprüfgerät der eingangs beschriebenen Gattung (DE-OS 20 59 463) ist die Suchlaufeinrichtung ein motorgetriebener Drehwähler, der die für die Prüfung der Transistoranschlüsse notwendigen Schalter durchläuft und angehalten wird, wenn die gesuchte Schalter erreicht ist. Dann werden die Belegung der Transistoranschlüsse sowie des Transistortyps angezeigt. Die mechanischen Bauteile dieses Transistorprüfgerätes sind störanfällig und nicht wartungsfrei.

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Aufgabe der Erfindung ist es, ein Transistorprüfgerät der eingangs beschriebenen Gattung im Hinblick auf Zuverlässigkeit und Schnelligkeit zu verbessern.

Diese Aufgabe wird gelöst mit der Merkmalskombination des Anspruch 1. Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unteransprüchen und der Beschreibung.

Im folgenden wird ein in der Zeichnung dargestelltes Ausführungsbeispiel der Erfindung erläutert; es zeigen:

Fig. 1 schematisch ein Blockschaltbild des Transistorprüfgerätes ,

Fig. 2 das Schaltbild einer Start/Stop-Einrichtung,
Fig. 3 das Schaltbild einer Umsetzbaugruppe,

Fig. 4 das Schaltbild eines Moduls "A" mit Relaiskarte,

Fig. 5 das Schaltbild einer NPN-PNP-Auswertlogik,
Fig. 6 das Schaltbild einer NPN-PNP-Anzeige,

Fig. 7 das Schaltbild eines vollelektronischen Relais zum Umsetzen einer binären Information in eine einem Transistoranschluß zuzuführende Spannung,

Fig. 8 eine Präzisionsschaltung für einen Komparator,

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Fig. 9 das Schaltbild einer NF/HF-Umschalt- und Anzeigelogik,

Fig. 10 das Schaltbild eines Silizium-Germanium-Detektors,

Fig. 11 das Schaltbild eines Takt-Simulators,
Fig. 12 das Schaltbild eines Schaltzeitmeßgerätes.

Das in der Zeichnung dargestellte Transistorprüfgerät besteht in seinem grundsätzlichen Aufbau aus einem Netzteil 1, einer Start/Stop-Einrichtung 2, einer Umsetzbaugruppe 3, einem Modul "A" 4, einer Relaiskarte 5, einer NF/HF-Umschalt- und Anzeigelogik 6, einem Schaltzeitmeßgerät 7, Anzeige für Belegung der Transistoranschlüsse 8, einer Anzeige für Dotierungsfolge: NPN/PNP 9, Taktsimuator mit Anzeige 10 und den +U be / -U eb -mV-Spannungsmesser 11.

Die Suchlaufeinrichtung weist einen Oszillator 12 mit einem nachgeschalteten Binärzähler 29 auf, wobei die Ausgänge des Binärzählers 29 einerseits über Binär/Dezimal-Wandler 30, 31 die Anzeigen 8 und außerdem Relais 34 zum Umschalten der Transistoranschlüsse betätigen sowie andererseits über Pegelwandler 35 zu den Kontakten der die Transistoranschlüsse versorgenden Relais 34 geführt sind, und daß ein Komparator 40 vorgesehen ist, der den Oszillator 12 abschaltet, wenn am Kollektor des untersuchten Transistors ein bestimmter Spannungsabfall auftritt. Auch mit diesem Transistorprüfgerät können Transistoren sowohl in eingebautem als auch in ausgebautem Zustand untersucht werden. Im Rahmen der beschriebenen Schaltung werden nach-

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einander die Transistoranschlüsse (Basis, Kollektor, Emitter) in den möglichen Kombinationen mit Spannung versorgt, wobei maximal 16 Schalter durchlaufen werden. Erst wenn am Kollektor des untersuchten Transistors unter Berücksichtigung des Transistortyps ein bestimmter Spannungsabfall auftritt, schaltet der Komparator 40 den Oszillator 12 aus und entsprechende, vorzugsweise optische Anzeigen 8 ein bzw. läßt Anzeigen 8, 96, 97, die zu jeder Zeit die Tiefe der schon durchgeführten Prüfschritte erkennen lassen, weiter aufleuchten, aus denen die Transistoranschlüsse und die Halbleiterdotierungsfolge NPN- oder PNP-Transistor entnommen werden können.

Da das erfindungsgemäße Transistorprüfgerät vollelektronisch arbeitet, ist es praktisch verschleiß- und damit wartungsfrei und läßt sich ferner in praktisch beliebigen Abmessungen aufbauen.

Dem Oszillator 12 ist ein Delay-Flipflop 13 zur Realisierung eines Tastverhältnisses von 1:1 nachgeschaltet, wodurch der Binärzähler 29 stets mit einem symmetrischem Signal angesteuert wird.

Ferner ist eine Reset-Taste 14 beim Delay-Flipflop 15 vorgesehen, über der alle an ihr angeschlossenen Speicherbausteine in einer geordneten Ausgangssituation versetzt werden.

Die bevorzugte Schaltung ist außerdem mit einer RC-Kombination 16 vorgesehen, dessen Knotenpunkt mit dem Setz/ Rücksetz-Kontakt der Reset-Taste 14 in unlösbarer Verbindung steht. Dadurch versetzen sich alle an ihr angeschlos-

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senen Speicherbausteine mit der Inbetriebnahme des Transistormeßgerätes selbsttätig und ohne äußeres Hinzutun in einer geordneten Ausgangssituation, so daß vor der 1. Messung die Reset-Taste 14 nicht betätigt werden muß.

Ferner ist ein Entlade-Schalt-Transistor 17 im Oszillatorkreis 12 vorgesehen. Durch diesen Transistor 17 wird sichergestellt, daß der Kondensator 18 im Oszillatorkreis im inaktiven Zustand des Oszillators absolut entladen wird. Die daraus resultierenden Vorteile sind folgende:

1. Jede Messung wird mit einer positiven ansteigenden Taktflanke am Binärzähler 29 eingeleitet.

2. Die 1. Meßzeit ist gleichlang wie die darauffolgenden Meßzeiten.

3. Wird der Oszillator vom Obertragungssignal "cy" vom Binärzähler 29 kommend gestoppt, stellt sich ein Dauerleuchten der Oszillator-Anzeige 19 ein, womit die Oszillator-Anzeige 19 fünf Anzeigefunktionen übernimmt:

3.1 Während der Prüfvorgänge im Oszillatorbetrieb teilt die aktive Oszillator-Anzeige 19 mit, daß eine aktive Spannungsmessung um den Prüfling-Tansistor im Gange ist.

3.2 Im inaktiven Zustand der Oszillator-Anzeige 19 im Oszillatorbetrieb, wird die Umrüstung des Transistorprüfgerätes auf den nächsten Prüfschritt mitgeteilt.

3.3 Mit Abschluß einer Einzelmessung-"Niederfrequenz-

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Transistor-Überprüfung" teilt die ständig aufleuchtende Oszillator-Anzeige 19 definitiv mit, daß der NF-Transistor defekt ist.

3.4 Mit Abschluß einer NF-Transistor-Einzelmessung im Oszillatorbetrieb wird die Betriebsbereitschaft für eine "HF-Transistor-Einzelmessung" mitgeteilt. Dies mit der Aufforderung, die Start-Taste 27 einmal zu betätigen.

3.5 In der Betriebsart "Schrittmessung" wird die Oszillator-Anzeige 19 von der Simulations-Anzeige 76 abgelöst und die während des Betriebes inaktive Oszillator-Anzeige 19 teilt die korrekte Funktion der Betriebsart mit.

Ferner ist ein Potentiometer 20 im Oszillatorkreis 12 vorgesehen, womit vor einer NF-Transistor-Überprüfung die Oszillatorfrequenz f oez. innerhalb eines gegebenen Bereiches frei einstellbar ist.

Außerdem ist ein Oder-Gatter 21 mit vier Eingängen vorgesehen, über der

1. die symmetrische Taktfrequenz unverfälscht über ein Und-Gatter 22 zum Binärzähler 29 gelangt

2. dessen zweiter Eingang steht in direkter Verbindung mit dem Ausgang des Simulators

3. dessen dritter Eingang steht in direkter Verbindung mit einer BNC-Ausgangsbuchse zwecks Anschlusses eines

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externen, kabelgebundenen Simulators

4. dessen vierter Eingang zum Anschluß einer kabellosen Fernbedienung dient, zwecks Simulation der Oszillatorfrequenz resp. der Taktfrequenz in der Betriebsart "Einzelschrittmessung".

Ferner findet eine Abzweigung vom Und-Gatter 22 zur Ausgangsbuchse "t" statt, die in direkter Verbindung mit dem Eingang eines Schaltzeitmeßgerätes steht und über der die zu messenden Signale für Meßbeginn und Meßende geführt werden.

Außerdem befindet sich im Oszillatorkreis ein Schalter 28 zur Änderung der Oszillatorfrequenz, wodurch von einer Niederfrequenz-Transistor-Prüfung auf eine Hochfrequenz-Transistor-Prüfung geschaltet werden kann, so daß mit dem Transistormeßgerät sowohl NF-Transistroren als auch HF-Transistoren untersucht werden können.

Eine weitere bevorzugte Ausführung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß dem Komparator 40 ein Silizium-Germanium-Detektor nachgeschaltet ist, der einen Optokoppler 39 und einen Impedanzwandler 99 aufweist, wobei der Impedanzwandler eine duale Spannungsversorgung und einen niederohmigen Ausgang aufweist und der Ausgang einerseits niederohmig über einen Germanium-Transistor 100 und eine an dessen Emitter angeschlossene Silizium-Diode 101 an der Bezugsspannung sowie andererseits an Anzeigen für "Silizium" 102 bzw. "Germanium" 103 anliegt. Damit kann das Transistorprüfgerät auch selbsttätig feststellen, aus welchem Halbleiterausgangsdotierungsmaterial der zu untersu-

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chende Transistor hergestellt ist.

Bei der bevorzugten Schaltung wird die Ausgangsspannung eines Festspannungsregler-IC 104 durch Anhebung des Bezugspotentials unter Hinzunahme einer Zenerdiode 105 mittels eines Potentiometers 106 in gewünschter Höhe möglich.

Außerdem wird diese Ausgangsspannung dem Pluseingang eines vollelektronischen Relais 107 zugeführt, welcher die geregelte Plusspannung erst dann zu seinem Ausgang durchschaltet, wenn der Steuereingang "S" 108 vom vollelektronischem Relais durch den angesteuerten Optokoppler 39 über der Kollektor-Emitterstrecke des Optokopplers auf Bezugspotential liegt. Erst dann liegt am dualen Spannungsteiler 109, dem Impedanzwandler 99 und den Silizium-Germanium-Leuchtanzeigen 102, 103 die für ihren Betrieb erforderliche Betriebsspannung an, aus welchen Gründen die Leuchtanzeigen 102 oder 103 sich erst nach Abschluß einer Transistorüberprüfung von der aktiven Seite zeigen.

Ferner wird die relativ hochohmige +übe -Spannung bei NPN-Transistoren und die ebenfalls relativ hochohmige -U &egr; &bgr; Spannung bei PNP-Transistoren über eine Relais-Schaltung 110 immer mit der korrekten Polarität dem sehr hochohmigen Eingang des als Impedananzwandler geschalteten Operationsverstärkers 99 zugeführt, wodurch die Basis/Emitter-Spannungen stets mit der gewünschten Polung und unverfälscht, niederohmig am Ausgang des Impedanzwandlers 99 zur Verfügung steht.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung ist mit dem niederohmigen Ausgangswiderstand des Impedanzwandlers 99 da-

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durch gegeben, daß zwischen ihm und dem virtuellen Nullpunkt 111 der Schaltung sogar recht niederohmige analoge Meßwerke zur Spannungsanzeige mit nur einem Richtungsausschlag geschaltet werden können. Im Zuge der Genauigkeit ist bei der bevorzugten Schaltung ein digitales mV-Meter 11 zwischen den besagten Meßpunkten geschaltet, womit charakteristische Spannungsschwankungen unter gleichnamigen Transistortypen von vornherein z. B. für Meßzwecke selektiert werden können.

Außerdem steuert die Ausgangsspannung des Impedanzwandlers die als vollelektronisches Relais geschalteten Transistoren 112, 113 an, an dessen Ausgang die Leuchtanzeigen für "Silizium" 102 und "Germanium" 103 geschaltet sind.

Ferner ist zur direkten Ansteuerung des vollelektronischen Relais 107 ein Optokoppler 39 vorgesehen, der eine Signalübertragung zwischen den elektrisch isolierten Stromkreisen mit unterschiedlichen Spannungspegeln ermöglicht, womit einerseits keine elektrische und andererseits keine kontaktlose Verbindung zwischen zwei Schaltungen mit unterschiedlichen Spannungspotentialen geschaffen wurde.

Eine weitere bevorzugte Ausführung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß das Obertragsausgangs-Signal vom Binärzähler 29 kommend zur gesamten Steuerung der NF/HF-Umschalt- und Anzeigelogik herangezogen wird. Dies ist dadurch möglich, da das Obertragsausgangs-Signal "cy" über eine Eingangsbuchse 45 und einem Exor-Gatter 46 die vier an einer Taktleitung 47 liegenden Delay-Flipflops zeitgleich taktet, womit die an den jeweiligen Dateneingängen anliegenden Informationen einerseits für die optischen An-

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zeigen "Niederfrequenztransistorüberprüfung" 49, "Hochfrequenztransistorüberprüfung" 50, "Transistor defekt", "Messungen abgeschlossen/Finish" 52 und andererseits zur Ansteuerung eines Relais 53 zur NF/HF-Umschaltung zu den jeweiligen Q-Ausgängen der Delay-Flipflops 48 selber durchgeschaltet werden.

Die Ausrichtung der gesamten Schaltung erfolgt über der Eingangsbuchse 54, womit die gesamte Logik für eine "Vollmessung" vorbereitet ist, was durch die optische Leuchtanzeige "Vollmessung" mitgeteilt wird. Die ferner dann noch aufleuchtende Leuchtanzeige 49 "Niederfrequenz-Transistor-Prüfung" verlischt erst dann, nachdem die letzte Niederfrequenz-Transistor-Oberprüfung den Abschluß gefunden hat. Danach erscheint vom Binärzähler 29 kommend das Übertrags-Signal "cy", taktet die vier Delay-Flipflops 48, läßt die Leuchtanzeige 50 "HF-Transistorüberprüfung" aufhellen, läßt zeitgleich über eine Transistor-Stufe 56 ein Relais 53 anziehen, wodurch zwei Schalter 28, 37 umgelegt werden, die einerseits eine Veränderung der Oszillatorfrequenz und andererseits die Zwischenschaltung eines anderen Meßwiderstandes 36 in der Transistor-Prüfschaltung zur Folge haben. Ohne äußeres Hinzutun wird die HF-Transistor-Oberprüfung mit der Anzeige einer HF-Transistor-öberprüfung fortgesetzt, da ein mit einem Oder-Gatter 57 am Ausgang der Gesamtlogik befindliches Und-Gatter 58, das von einem am Ausgang der Logik befindliche retriggerbaren Monoflops 59 produzierte Ausgangssignal, nicht am Ausgang 60 der Schaltung erscheinen läßt, wodurch der Oszillator 12 nicht gestoppt wird. Die Leuchtanzeige 50 "HF-Transistor-Öberprüfung" verlischt erst dann, nachdem die letzte HF-Transistorüberprüfung ihren Abschluß gefunden hat. Das dann er-

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scheinende Übertrags-Signal "cy" bewirkt zeitgleich die Aktivierung der Leuchtanzeige 51 "Transistor defekt" und das Abfallen des zuvor angezogenen Relais 53, als auch einerseits die Taktung eines Delay-Flipflops 61, welches die Leuchtanzeige 52 "Messung abgeschlossen" aufleuchten läßt und von dessen Q-Ausgang ferner über eines am Ausgang der Logik befindliches Oder-Gatter 57 ein log. O-Signal zur Verriegelung der Start/Stop-Einrichtung ausgeht als auch andererseits die Taktung eines in der Start/Stop-Einrichtung befindlichen Delay-Flipflops 15, wodurch der Oszillator gestoppt wird. Die verbleibende Einflußmöglichkeit auf der Schaltung ist während eines Prüfvorganges eines NF- oder HF-Transistors möglich, wenn von der Auswertlogik das Stop-Signal über ein Oder-Gatter 62 auf den Takteingang des darauffolgenden Delay-Flipflops 61 erfolgt, worauf die Leuchtanzeige 52 "Messung abgeschlossen" aufhellt und das an seinem Q-Ausgang erscheindene log. O-Signal für eine Verriegelung über eine Tor-Schaltung 22 in der Start/Stop-Einrichtung sorgt, wodurch die Oszillatorfrequenz keinen Einfluß auf den Binärzähler 29 nehmen kann. Ferner gelangt das Stop-Signal über den Eingang einer darauffolgenden Oder-Schaltung 57 zum Ausgang 60 der Schaltung, wodurch der Oszillator 12 in der Start/Stop-Einrichtung sofort angehalten wird. Somit ist mit der Schaltung eine "Vollmessung" durchführbar, mit der zuerst eine NF-Transistorüberprüfung erfolgt und die nahtlos nach dem ersten Prüf-Intervall zur HF-Transistorüberprüfung wechselt, ohne das zu diesem Zweck Einfluß auf die Schaltung genommen werden muß. Dabei zeigt sie die Art der Transistorprüfung, NF/HF-Transistorüberprüfung über optische Anzeigen 49, 50 an und teilt ferner über Leuchtanzeigen 51, 52 an, ob der Prüfling-Tansistor defekt ist und wann die Messungen abge-

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schlossen sind. Eine gesonderte Stellung nimmt dabei die oben beschriebene Meßart und die dazugehörende optische Anzeige 55 für eine Vollmessung ein, denn die bevorzugte Schaltung erlaubt die externe Beeinflussung auf den Programm-Ablauf, womit neben der Vollmessung auch Einzelmessungen und die Kombination von "Schrittüberprüfungen" in der Meßart Vollmessung und Einzelmessungen machbar sind.

Zur Durchführung einer Einzelmessung zur Realisierung einer alleinigen HF-Transistor-öberprüfumg sind in der bevorzugten Schaltung der CY-Simulator, das daran angeschlossene RS-Kippglied 64, eine am Q-Ausgang des genannten RS-Kippgliedes 64 angeschlossene R-D-R-Kombination 65 sowie die Digit-Taste 66 für die Wahl einer HF-Transistor-Oberprüfung vorgesehen. Dabei wird nach Betätigung der Reset-Taste 14 die Taste 66 "HF-Transistor-überprüfung" einmal betätigt und über das RS-Kippglied 64 und dem daran angeschlossenen Delay-Flipflop das retriggerbare Monoflop 68 getriggert, an dessen Ausgang das simulierte cy-Signal über das angeschlossene Exor-Gatter 46 Einfluß auf die an der Taktleitung 47 angeschlossenen Delay-Flipflop 48 nimmt, womit von der NF- auf die HF-Transistor-Überprüfung geschaltet wurde. Mit Betätigung der Taste 66 "HF-Transistor-Überprüfung" erscheint am Q-Ausgang des RS-Kippgliedes 64 kurzzeitig ein prellfreier Impuls, welcher ferner über ein R-D-R-Glied 65 das für die optische Leuchtanzeige 55 "Vollmessung" verantwortliche Delay-Flipflop 69 taktet, wodurch sich einerseits die Anzeige 55 "Vollmessung" verdunkelt und andererseits sein Q-Ausgang log. 1-Pegel annimmt, womit das am Q-Ausgang angeschlossene Und-Gatter 58 in der Weise vorbereitet ist, daß ein vom Monoflop 59 kommendes Signal, dessen Ausgang in Verbindung mit dem ver-

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bleibenden Und-Gatter-Ausgang 58 steht, über das Und-Gatter 58 gelangen kann, womit der Oszillator 12 nach Abschluß der letztem HF-Transistor-Oberprüfung gestoppt wird.

Somit ist nach Betätigung der Reset-Taste 14 und der Taste 66 "HF-Transistor-Oberprüfung" eine Einzelmessung zur Überprüfung von Hochfrequenz-Transistoren möglich, womit die NF-Transistor-Oberprüfungsschritte umgangen wären. Daß es sich nicht um eine "Vollmessung" handelt, ist augenscheinlich an der inaktiven Leuchtanzeige 55 "Vollmessung" erkennbar. Die Art der gewählten Einzelprüfung ist optisch an der aktiven Leuchtanzeige 50 "HF-Transistor-Überprüfung" erkennbar.

Zur Durchführung einer Einzelmessung zur Realisierung einer alleinigen NF-Transistorüberprüfung sind in der bevorzugten Schaltung die Taste 70 "NF-Transistor-Oberprüfung", das daran angeschlossene RS-Kippglied 71, das Delay-Flipflop 69, welches für die Leuchtanzeige "Vollmessung" zuständig ist sowie das am Q-Ausgang des besagten Delay-Flipflop 69 angeschlossene Und-Gatter 58 vorgesehen. Dabei wird nach Betätigung der Reset-Taste 14 die Taste 70 "NF-Transistor-Öberprüfung" einmal betätigt, wonach ein prellfreier Impuls vom RS-Kippglied 71, das Delay-Flipflop 69 taktet. Dabei verlischt die optische Leuchtanzeige 55 "Vollmessung" und am Und-Gatter-Eingang 58 liegt ein log. 1-Pegel an. Gelangt nach Ablauf der Niederfrequenz-Transistor-Überprüfung das vom Binärzähler 29 ausgesandte cy-Signal über das Exor-Gatter 46 auf den gemeinsamen Takteingang 47 der vier Delay-Flipflops 48, erscheint am Ausgang der Schaltung zur Signalumwandlung 73 resp. am Ausgang des

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retriggerbaren Monoflops 59 ein simuliertes Stop-Signal, welches ungehindert über das Und-Gatter 58 und das Oder-Gatter 57 zur Start/Stop-Einrichtung gelangt, womit der Oszillator 12 indirekt gestoppt wird. Somit ist nach Betätigung der Reset-Taste 14 und der Taste 70 "NF-Transistor-Überprüfung" eine Einzelmessung zur Oberprüfung von Niederfrequenz-Transistoren möglich, wobei gegenüber der "Vollmessung" die HF-Transistorüberprüfung nicht mehr durchgeführt wird. Zwar richtet sich die Meßelektronik auf eine anschließende HF-Transistor-Oberprüfung ein, aber diese kann nur über eine erneute Betätigung der Start-Taste 27 eingeleitet werden, was über der ständig aufleuchtenden Oszillator-Anzeige 19 mitgeteilt wird.

Im Eingangskreis ist ein Exklusiv-Oder-Gatter 46 vorgesehen, welches einerseits die Zuführung des vom Binärzähler 29 kommenden Signals als auch das vom CY-Simulator 63 kommenden Signals auf die Taktleitung 47 erlaubt und andererseits eine Wandlerfunktion übernimmt, wodurch mit zwei unterschiedlich aussehenden Signalen die am Ausgang vom Exor-Gatter angeschlossenen Delay-Flipflops 48 getaktet werden können.

Ferner ist ein CY-Simulator 63 vorgesehen, welcher in Verbindung mit dem an der Ausgangsleitung angeschlossenen Exklusiv-Oder-Gatter 46 die Nachbildung des vom Binärzählers 29 kommenden CY-Signals erlaubt, womit mit der am Eingang der Schaltung liegenden Taste 66 "HF-Transistor-Oberprüfung" Einfluß auf den vorprogrammierten Programmablauf genommen werden kann. Dabei arbeitet die Schaltung in der Weise, daß nach Betätigung der Eingangstaste 66 "HF-Transistor-Oberprüfung" das RS-Flipflop 64 ausgansseitig eine

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prellfreien Impuls auf den Takteingang des Delay-Flipflop 67 weitergeleitet, womit der Q-Ausgang log. 1-Pegel annimmt und das retriggerbare Monoflop 68 triggert, womit einerseits das Exor-Gatter 64 mit einem log. 1-Signal angesteuert wird und andererseits ein am Monoflop-Ausgang angeschlossener Inverter 72 das Signal um 180° dreht, womit das Delay-Flipflop 67 selbsttätig zurückgesetzt wird und sich die Schaltung des CY-Simulators 63 in Ausgangssituation befindet. Somit kann das nachgebildete Monoflop-Signal auch tatsächlich nur für die berechnete Zeit bzw. der Monoflopzeit wirksam sein.

Außerdem beinhaltet die bevorzugte Schaltung eine Schaltungseinheit 73 zur Signalumwandlung, welche schaltungstechnisch gleich dem CY-Simulator 63 aufgebaut ist. Hierbei wird das zugehörige Delay-Flipflop 48-1 vom CY-Signal getaktet, worauf das zugehörige retriggerbare Monoflop 59 vom Q-Ausgang des Delay-Flipflop 48-1 getriggert wird, welcher einerseits mit seinem Ausgangs-Signal über ein Und-Gatter 58 und ein Oder-Gatter 57 zum Ausgang 60 geleitet wird, wodurch der Start/Stop-Oszillator 12 in der Start/Stop-Einrichtung angehalten wird und andererseits sein Ausgangs-Signal auf den nachgeschalteten Invertereingang 74 gegeben wird, womit das Delay-Flipflop 48-1 selbsttätig in Ausgangssituation rückgesetzt wird. Somit findet eine Signalumwandlung vom log. 1 auf log. 0 auf log. 1 zu einem alleinigen log. 1-Signal für den Start/ Stop-Oszillator 12 in der Start/Stop-Einrichtung statt.

Ferner ist eine Anzeige- und Umschaltlogik vorgesehen, die einerseits erkennen läßt, welche Art der Transistor-Prüfung sich im Ablauf befindet, -NF- oder HF-Transistor-

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Oberprüfung 49, 50 - und weiter Mitteilung darüber gibt, ob ein Transistor 51 defekt ist und wann eine Messung 52 abgeschlossen ist und andererseits mit dem optischen Anzeigewechsel von NF-Transistor-Überprüfung auf HF-Transistor-Oberprüfung oder umgekehrt ein Relais 53 zum Anziehen oder Abfallen schalten, womit schaltungstechnische Veränderungen in der Transistor-Prüfschaltung durch Meßwiderstandsänderung 36 und im Start/Stop-Oszillatorkreis 12 eine Veränderung der Grundfrequenz stattfindet. Dies erfolgt dabei in der Weise, daß die an einer Taktleitung 47 befindlichen Delay-Flipflops zeitgleich vom CY-Signal vom Binärzähler 29 kommend getaktet werden, wobei mit jedem CY-Signal die an den Dateneingängen anliegenden Binär-Informationen zu den zugehörigen Q-Ausgängen der Delay-Flipflops 48 durchgeschaltet werden und einerseits die optischen Leuchtanzeigen entsprechend der durchgeschalteten Information aktivieren und andererseits das Relais 53 zur NF/HF-Umschaltung anziehen oder abfallen lassen.

Außerdem ist ein "Verrieglungs-Delay-Flipflop" 61 vorgesehen, welches mit jedem Abschluß einer Messung und insbesondere wichtig bei der Benutzung des Simulators als Taktgeber, selbsttätig die Verriegelung der Start/Stop-Einrichtung durchführt, so daß ungewollt gegebene Taktsignale nach Abschluß einer Messung keinen Einfluß auf den Binärzähler 29 nehmen können. Dies erfolgt dabei in der Weise, daß ein Oder-Gatter 62 mit zwei Eingängen vorgesehen ist, zudem einerseits das Stop-Signal der Auswertlogik und andererseits das Signal von dem Q-Ausgang des Delay-Flipflop geführt wird, daß für die optische Leuchtanzeige 51 "Transistor defekt" zuständig ist. Entsprechend, welches der genannten Signale zuerst an den beschriebenen Punkten er-

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scheint, wird zum Ausgang des Oder-Gatters 62 geschaltet, wodurch das Verriegelungs-Delay-Flipflop 61 getaktet wird und das an seinem Q-Ausgang erscheinende log. O-Signal die Start/Stop-Einrichtung verriegelt. Der Zeitpunkt der Verriegelung ist optisch an der aufhellenden Leuchtanzeige 32 "Messung abgeschlossen" erkennbar.

Ferner sieht die bevorzugte Schaltung eine Einrichtung vor, die den Eingriff im Programmablauf in der Art und Weise erlaubt, so daß im Gegensatz zur "Vollmessung", welche eine NF- und HF-Transistorprüfung vorsieht, nur eine NF-Transistor-überprüfung durchgeführt wird. Dies erfolgt dabei in der Weise, daß nach Betätigung der Digit-Taste 70 "NF-Transistor-Öberprüfung" über ein RS-Kippglied 71 ein prellfreier Impuls auf den Takteingang eines danachgeschalteten Delay-Flipflops 69 gelangt, wodurch einerseits die Leuchtanzeige 55 "Vollmessung" verlischt und andererseits ein am Q-Ausgang des Delay-Flipflops 69 angeschlossener Und-Gatter-Eingang 58 mit einem log. 1-Pegel beaufschlagt wird.

Eines nach Ablauf einer NF-Transistor-Überprüfung am Ausgang der Signal-Wandlerschaltung 73 erscheinende log. 1-Signal gelangt über das nachgeschaltete Und-Gatter 58 und Oder-Gatter 57 zur Start/Stop-Einrichtung, wodurch der Oszillator 12 gestoppt wird und die NF-Transistor-Überprüfung abgeschlossen ist.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung kennzeichnet sich dadurch aus, daß von einem Simulator aus prellfreie Impulse auf eine dafür vorgesehene Eingangsklemme 23 "S" der Start/Stop-Einrichtung gegeben werden.

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womit neben den Meßarten Vollmessung und Einzelmessungen ferner eine Kombination von "Schritt-Oberprüfungen" in den Meßarten Vollmessung und Einzelmessungen durchführbar sind. Dabei gelten die schon beschriebenen Maßnahmen zur Einflußnahme auf den Ablauf des Programmes, jedoch wird die Ablaufgeschwindigkeit nicht mehr vom Oszillator 12 in der Start/Stop-Einrichtung vorgegeben, sondern diese kann in einer zeitlich beliebig gedehnten Form Schritt für Schritt über der Taste 75 "Simulator" bestimmt werden. Dabei wird die Oszillator-Anzeige 19 durch die optische Anzeige 76 "Simulator" abgelöst, womit sich die Simulator-Anzeige 76 bei jeder Spannungsanalyse um den Prüfling herum von der aktiven Seite zeigt bzw. die inaktive Simulatoranzeige den Wechsel zum nächst tieferen Prüfschritt anzeigt. Ist das Transistor-Prüfprogramm vollständig durchlaufen, wird dies durch die aufleuchtende optische Anzeige 52 "Messung abgeschlossen" mitgeteilt, womit auch zeitgleich die Meßelektronik verriegelt wird, so daß die weitere Betätigung der Simulationstaste ohne Auswirkung bleibt. Die Verriegelung der Start/Stop-Einrichtung und die damit gegebene Null-Funktion des Simulators ist auch dann gegeben, wenn während des PrüfVorganges das Stop-Signal von der Auswertlogik aus Einfluß auf die NF/HF-Umschalt- und Anzeigelogik nimmt.

Somit ist eine Schaltungseinheit geschaffen worden, wodurch eine dritte Meßart vorliegt, die eine Kombination von Schritt-Oberprüfungen in den Meßarten "Vollmessung" und "Einzelmessungen" erlaubt. Dabei wird die Oszillator-Anzeige 19 durch die optische Leuchtanzeige 76 "Simulator" abgelöst.

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Eine weitere bevorzugte Ausführung der Erfindung kennzeichnet sich dadurch aus, daß das elektromagnetische Bauteil "Relais" durch eine vollelektronische und kontaktlose Schaltung ersetzt wird. Die Realisierung erfolgt dabei in der Weise, daß der an der Basis eines Längstransistors 41 angeschlossene zweite Transistor 42 zur Steuerung des Längstransistors 41 herangezogen wird. Liegt an der Basis vom zweiten Transistor 42 ein log. O-Pegel an, ist seine Kollektor-Emitter-Strecke hochohmig und der Längstransistor 41 bleibt durch seinen an der Basis angeschlossenen Widerstand durchgeschaltet, womit die Kollektor-Emitter-Strecke des Längstransistors 41 niederohmig bleibt. Liegt an der Basis vom zweiten Transistor 42 ein log. 1-Pegel an, ist seine Kollektor-Emitter-Strecke niederohmig, wodurch der Längstransistor 41 gesperrt wird. Durch die Reihenschaltung der Kollektor-Emitter-Strecke eines dritten Transistors 44 an den Längstransistor 41 mit Anschluß seiner Basis am Steuereingang 43, ist ein "regelbarer Widerstand" geschaffen worden, an dessen Kollektor die Ausgangsspannung abgreifbar ist. Dabei zeigen die beiden in Serie geschalteten Transistoren 41, 44 stets um 180° entgegengesetztes Verhalten. D. h., ist der erste Längstransistor 41 hochohmig, ist der zweite Längstransistor 44 durchgeschaltet und die Ausgangsspannung beträgt bis auf eine geringe Kollektor-Emitter-Restspannung null Volt. Analog dazu stellt sich am Ausgang die volle Betriebsspannung ein, ist der erste Längstransistor 44 niederohmig und der zweite Längstransistor 44 gesperrt. Somit ist eine Schaltung entstanden, wodurch ein konventionelles "Relais" durch eine vollelektronische Schaltung abgelöst wird, welches gegenüber dem Relais einerseits den Vorteil hat, kontaktlos zu sein und andererseits um ein vielfaches schnei-

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ler auf Eingangssignale an seinem Ausgang reagiert, wobei die Ausgangssignale noch prellfrei abgreifbar sind.

Eine weitere bevorzugte Ausführung der Erfindung kennzeichnet sich dadurch aus, daß die von einem Start/Stop-Oszillator 12 kommenden Signale nicht nur zur Ansteuerung des Binärzählers 29 herangezogen werden, sondern das diese Signale ferner über der Ausgangsbuchse 24 "t" der Start/ Stop-Einrichtung zur Meßeingangsbuchse 77 "t &khgr; " der Schaltzeitmeßeinrichtung weitergeleitet werden. Dabei wird mit jeder positiv ansteigenden Taktflanke am Meßeingang 77 "t x " eine Zeitmessung in der Weise eingeleitet, daß einerseits über das Oder-Gatter(I) 78 ein daran angeschlossenes Und-Gatter(I) 79 mit seinem Ausgang ein Eingang vom Und-Gatter(II) 80 mit log. 1-Pegel ansteuert, wodurch die von einem X-TAL-Oszillator 81 kommenden Impulse über das Und-Gatter (II) 80 in einen Zähler 81 einlaufen können und andererseits zeitgleich über Oder-Gatter(I) 78 + (II) 82 ein retriggerbares Monoflop 83 getriggert wird, mit dessen Ausgangs-Signal über Oder-Gatter(III) 84 der Zähler 81 über seinen Reset-Eingang 85 für die einlaufende Impulse an seinem Takteingang 86 freigeschaltet wird. Erreicht vor dem Pegelwechsel von log. 1 auf log. 0 am Meßeingang "t * " 77 ein Stop-Signal der Auswert-Logik den Takteingang vom Delay-Flipflop 87 1 (-D-FF 1), geht einerseits der Q-Ausgang vom D-FFl 87 auf log. 1, womit über Oder-Gatter(II) 82 das retriggerbare Monoflop 83 weitergetriggert wird und den Zählerstand beibehält und andererseits wird zeitgleich das Und-Gatter(II) 80 durch den Pegelwechsel am Meßeingang 77 "t &khgr; " von log. 1 auf log. 0 umdurchlässig für die vom X-TAL-Oszillator 81 kommenden Impulse. Wird das D-FF 1 87 nicht getaktet, während sich an der Meßeingangsbuchse 77

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das log. 1-Signal befindet wird mit abfallendem Spannungspegel an der Eingangsbuchse "tx" das retriggerbare Monoflop 83 nicht mehr getriggert, womit Oder-Gatter(III)-Ausgang 84 log. O-Pegel annimmt und den Zählerstand löscht, womit sich die Schaltung selbsttätig in Ausgangssituation versetzt hat und für die nächste Messung vorbereitet ist. Somit sit eine Schaltzeitmeßeinrichtung geschaffen worden, womit für besondere Anwendungsbedingungen in der Meßtechnik &zgr;. B. für Schalttransistoren für Datenverarbeitungsanlagen bezogen auf ihre Durchschaltgeschwindigkeit unter gleichnamigen Transistoren selektiert werden können. Dabei wird jede Schaltzeitmessung ohne äußeres Hinzutun bei allen Meßarten selbsttätig eingeleitet und zum Abschluß gebracht, wobei das Ergebnis der Durchschaltzeit mit Abschluß einer Transistorüberprüfung mit dem Aufhellen der optischen Leuchtanzeige 52 "Messung abgeschlossen" direkt von einer Siebensegment-Anzeige 88 ablesbar ist bzw. keine Anzeige vorliegt, wenn der Transistor defekt ist.

Außerdem befindet sich in der Schaltzeitmeßeinrichtung eine Eingabetaste 89 über der die Meßschaltung für externe Messungen vorbereitet werden kann. Zu diesem Zweck wird die Digit-Taste 89 "t &khgr; -extern" einmal betätigt, worauf das RS-Kippglied 90 einen prellfreien Impuls auf den Takteingang des Delay-Flipflos D-FF 2 91 gibt, dessen Q-Ausgang einerseits das Und-Gatter(III) 92 öffnet und andererseits über Oder-Gatter(III) 84 an den Reset-Eingang des Zählers 81 ein log. 1-Pegel führt, womit der Zähler 81 für einlaufende Impulse an seinem Takteingang 86 freigeschaltet ist. Die Bereitschaft zur Messung eines externen Signals über der Meßeingangsbuchse 93 "t &khgr; -extern" wird durch die optische Leuchtanzeige 96 "t &khgr; -extern" mitge-

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teilt. Dabei wird das zu messende Signal über die Eingangsbuchse 93 auf die Meßschaltung gegeben, wobei die Messung mit einem O-auf-1-Signal eingeleitet wird bzw. mit einer positiven Taktflanke und mit dem Abfall des zu messenden Signals abgeschlossen wird. Darüber hinaus wird mit der abfallenden Flanke über einen Inverter 94 ein Taktflanke über das Und-Gatter(III) 92 gebildet, welches das D-FF 3 95 taktet und die an seinem Dateneingang "D" anliegende log. O-Information zum Q-Ausgang schaltet, womit das Und-Gatter(I) 79 verriegelt wird, so daß keine Taktflanke am Meßeingang t &khgr; -extern 93 Einfluß auf die Meßschaltung nehmen kann. Die gemessene Zeit kann direkt von der Siebensegment-Anzeige 88 abgelesen werden und verlischt erst mit Bestätigung der Reset-Taste 14 womit die Schaltung im Urzustand versetzt wird, was an der inaktiven Leuchtanzeige 96 "t &khgr; -extern" erkennbar ist.

Somit lassen sich neben externen Schaltsignalen ferner Monoflopausgangs-Signale, hochgenaue Ermittlungen von Tastverhältnissen usw. messen.

Das Transistormeßgerät verfügt über einige nachstehende Besonderheiten:

1. Mit der Inbetriebnahme des Transistormeßgerätes oder nach Betätigung der Reset-Taste 14 (Fig. 2) befindet sich das Gerät in einem vorprogrammierten Zustand. In dieser Ausgangssituation ist eine "Vollmessung" vorgesehen, wobei im 1. Intervall eine NF- und im 2. Intervall eine HF-Transistor-Oberprüfung durchgeführt wird. Dieser Betriebszustand wird durch die Leuchtanzeige 55 (Fig. 9) "Vollmessung" angezeigt.

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Dabei findet der Wechsel von der NF- zur HF-Transistor-Oberprüfung selbsttätig und ohne äußeres Hinzutun statt, was rein optisch über den Leuchtanzeigen 49 (Fig. 9) "NF-Tansistor Oberprüfung" und 50 (Fig. 9) "HF-Transistor-Oberprüfung" verfolgt werden kann. Hat der letzte Prüfschritt im 2. Intervall zu keinem Resultat geführt, ist der Transistor defekt,was durch die Anzeige 51 (Fig. 9) "Transistor defekt" angezeigt wird. Daß die Oberprüfungen abgeschlossen sind, ist ferner an der dann aktiven Leuchtanzeige 52 (Fig. 9) "Messung abgeschlossen" ersichtlich.

2. Soll nur eine NF-Transistor-Oberprüfung durchgeführt werden, ist vor Betätigung der Start-Taste 27 (Fig.2) die Digit-Taste 70 (Fig. 9) "NF-Transistor-Überprüfung" einmal zu betätigen. Dann verlischt die Anzeige 55 (Fig. 9) "Vollmessung" und die Anzeige 49 (Fig. 9) "NF-Transistor-Oberprüfung" signalisiert die "NF-Trans istor-Oberprüfung" . Ist der NF-Transistor defekt, wird das Ende des letzen PrüfSchrittes mit der dann ständig aufleuchtenden Oszillator-Anzeige 19 (Fig. 2) angezeigt und dies darüber hinaus mit dem Hinweis, mit Betätigung der Start-Taste 27 (Fig. 2) eine HF-Transistor-Oberprüfung einzuleiten.

3. Soll nur eine HF-Transistor-Oberprüfung durchgeführt werden, ist vor Betätigung der Start-Taste 27 (Fig. 2) die Digit-Taste 66 (Fig. 9) "HF-Transistor-Oberprüfung" einmal zu betätigen. Dann verdunkeln sich die Anzeige 55 (Fig. 9) "Vollmessung" sowie 49 (Fig. 9) "NF-Transistor-Oberprüfung" und die allein aufleuchtende Anzeige 50 (Fig. 9) "HF-Transistor-Oberprüfung"

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signalisiert die Einzelmessung "HF-Transistor-Oberprüfung". Der Abschluß des letzten PrüfSchrittes wird mit der Leuchtanzeige 52 (Fig. 9) "Messung abgeschlossen" angezeigt. Ist der Prüfling defekt, wird dies durch die Anzeige 51 (Fig. 9) "Transistor defekt" mitgeteilt.

4. Das Transistormeßgerät beinhaltet eine speziell entwickelte Schaltung zur Erfassung bzw. zur Messung der Transistor-Schaltzeiten, die selbstätig und ohne äußeres Hinzutun eingeleitet, durchgeführt und zum Abschluß gebracht werden. Die Ausrichtung der Meßschaltung erfolgt dabei selbsttätig mit Inbetriebnahme des Transistormeßgerätes bzw. mit Betätigung der Reset-Taste 14 (Fig. 2). Ferner wird mit jedem Taktsignal, mit dem eine Transistorprüfung eingeleitet wird, eine Schaltzeitmessung begonnen. Ist der Prüfling in Ordnung, wird die Schaltzeitmessung mit dem Signal abgeschlossen, mit dem auch der Oszillator 12 (Fig. 2) gestoppt wird und die effektive Transistordurchschaltzeit wird über der Siebensegment-Anzeige (Fig. 12) angezeigt. Ist der Transistor defekt, liegt keine Anzeige vor.

Das Transistorprüfgerät arbeitet wie folgt:

Die Start/Stop-Einrichtung 2 (Fig. 2) weist eine RC-Kombination 16 auf, die mit der Inbetriebnahme des Transistormeßgerätes alle an ihr angeschlossenen Delay-Flipflops in einer geordneten Ausgangssituation versetzt, so daß die Reset-Taste 14 nicht mit der ersten, sondern nur vor den danachfolgenden Transistorüberprüfungen einmal betätigt

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werden muß, um die Speicherbausteine in einer korrekten Meßausgangssituation zu versetzen. Ferner gehört zur Start/Stop-Einrichtung 2 eine Start-Taste 27, womit das Delay-Flipflop 15 gesetzt wird und mit dem an seinem Q-Ausgang erscheinenden log. 1-Signal der Start/Stop-Oszillator 12 gestartet wird. Dabei wird über den Schalt/ Entlade-Transistor 17 sichergestellt, daß der Oszillator 12 seine Schwingungen stets mit einer ansteigenden positiven Taktflanke beginnt, womit weiter sichergestellt ist, daß die 1. Meßzeit gleich groß ist wie die darauffolgenden Meßzeiten. Dem Oszillator 12 ist ein Delay-Flipflop 13 nachgeschaltet, womit das Signal am Q-Ausgang vom Delay-Flipflop 13 ein Tastverhältnis von 1:1 aufweist. Daß der Oszillator 12 seine Schwingungen mit einer positiven Taktflanke einleitet und daß das Tastverhältnis 1:1 ist und ferner die 1. Meßzeit gleich groß ist wie die darauffolgende Meßzeiten, wird von der Oszillator-Leuchtanzeige 19 angezeigt. Das symmetrische Ausgangssignal gelangt unverfälscht über ein von vier vorhandenen Eingängen eines Oder-Gatters 21 über einen von zwei vorhandenen Eingängen eines Und-Gatters 22 einerseits zur Ausgangsbuchse 24, von wo aus es weiter zum Schaltzeitmeßgerät 7 weitergeleitet wird und andererseits über eine Ausgangsklemme auf den Takteingang eines Vier-Bit-Binärzählers 29 (Fig. 3).

Der an den Ausgängen Ql, Q2 und Q3 des Binärzählers 29 erscheinende 3-Bit-Binär-Code wird in einem Binär/Dezimal-Wandler, der aus den Und-Gattern 30 und den Invertern 31 mit nachgeschalteten Treiberstufen 32 aufgebaut ist, in einen Dezimal-Code umgewandelt, von denen die Signale 1, 2, 3, 4, 5 und 6 an der Anzeige 8 (Fig. 1) für die Belegung der Transistoranschlüsse anliegen und außerdem über

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den parallel zu den Auegängen 1 bis 5 belegten Ausgangsklemmen a, b, c, d und e zur Relaiskarte 5 (Fig. 4) geführt sind. Der Q4-Ausgang des Binärzählers 29 wird einerseits über eine Treiberstufe 32 zum Ausgang N/P zu einer NPN/PNP-Anzeige 9 (Fig. 6) geführt, während das an der Ausgangsklemme anliegende Q4-Signal für Ausbauzwecke vorgesehen bleibt. Ferner werden die Ql-, Q2- und Q3-Signale des Binärzählers 29 zu einer aus Exor-Gattern 33 bestehenden Schaltung geführt, wobei die an den Ausgangsklemmen X, Y und Z erscheinenden Signale einerseits durch die von den Und-Gatter-Ausgängen 30 auf die Exor-Gatter-Eingängen 33 geführten Signale, sowie auch andererseits durch die vom Q4-Ausgang des Binärzählers 29 auf die Exor-Gatter-Eingängen 33 geführten Signale in der Weise geprägt werden, so daß bei einer NPN-Transistorüberprüfung sich an Klemme X stets ein log. 0-Pegel und an den Klemmen Y und Z ein log. 1-Pegel einstellen, während analog zu einer PNP-Transistor-Oberprüfung sich die um 180° entgegengesetzten Logik-Pegel einstellen. Die Signale X, Y und Z der Umsetzbaugruppe werden den X-, Y- und Z-Eingängen des Moduls "A^M 4 (Fig. 4) zugeführt.

In Fig. 4 erkennt man die schon erwähnten Eingänge a bis e, denen jeweils Relais 34 zugeordnet sind, mit welchen die Transistoranschlüsse des in den Meß-Eingang (Fig. 1) gesetzten Transistors in den möglichen Kombinationen beschaltet werden. Die frei erforderlichen Spannungen für die Transistor-Prüfschaltung werden im Modul "A" 4 über die an den Eingängen X, Y und Z geschalteten vollelektronischen Relais 35 (Fig. 7) / "W" gewonnen. Dabei werden die für die NPN/PNP-Transistor-Auswertlogik (Fig. 5) interessierenden Spannungen dem Kollektorkreis der Transi-

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stor-Prüfschaltung entnommen, der durch die Baugruppen zwischen der Eingangsklemme Y und der Ausgangsklemme II gebildet wird. Zu dieser Auswertlogik (Fig. 5) gehört ein Komparator 40 (Fig. 5) mit einer in Fig. 8 wiedergegebenen Präzisionsschaltung. Der Komparator 40 spricht an, wenn am Kollektor des untersuchten Transistors ein bestimmter Spannungsabfall auftritt. Dann schaltet der Komparator 40 den Oszillator 12 (Fig. 2) ab, womit die Messung abgeschlossen ist, was durch die Leuchtanzeige 52 (Fig. 9) "Messung abgeschlossen" mitgeteilt wird.

Ober die optische Leuchtanzeige 8 (Fig. 1) wird die Anschlußbelegung des Transistors in Verbindung mit den drei Zahlen 1, 2 und 3 an der Meßeingangsbuchse bzw. an den Prüfspitzen der Prüfklemmen ersichtlich. Ist der Transistor defekt, zeigen sich die Leuchtanzeigen von der inaktiven Seite.

Die NPN/PNP-Anzeige 9 zeigt über zwei Leuchtdioden 97, 98 (Fig. 6) die Dotierungsfolge des Prüflings an. Ist der Transistor defekt, zeigt die NPN/PNP-Anzeige 9 die Rücksetzung der gesamten Logik mit der NPN-Anzeige 97 an, während die verbleibenden Informationen wie "Messung abgeschlossen" oder "Transistor defekt" bis zur Einleitung einer neuen Messung durch Betätigung der Reset-Taste 14 (Fig. 2) gespeichert bleiben.

Mit dem dargestellten Transitormeßgerät wird gleichzeitg auch festgestellt, ob es sich um einen Germanium-Transistor oder einen Silizium-Transistor handelt. Der zugeordnete Silizium-Germanium-Detektor ist in Fig. 10 wiedergegeben. Zum Detektor gehört der Optokoppler 39, der über

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den Steuereingang "S" 108 die über den Bauteilen Spannungsregler-IC 104, Zenerdiode 105 und dem einstellbaren Widerstand / Potentiometer 106 erzeugte stabilisierte Spannung zur Ausgangsklemme U a des elektronischen Relais 107 schaltet, wodurch der aktive duale Spannungsteiler 109 die für den Betrieb des Impedanzwandler 99 erforderliche duale Spannungsversorgung bereitstellen kann. Somit kann die interessierende Basis/Emitter-Spannung von der relativ hochohmigen Transistor-Prüfschaltung vom den Klemmen I und III (Fig. 4) über eine Relaisschaltung 110 den Eingängen des Impedanzwandlers +U &bgr; und -U c 99 zugeführt werden, womit einerseits der Prüfling nicht belastet wird und andererseits die +U be -Spannung niederohmig am Ausgang der Impedanzwandlerschaltung 99 zur Verfügung steht. Der niederohmige Ausgang der Impedanzwandlerschaltung 99 liegt einerseits niederohmig über einem Germanium-Transistor 100 und einer an dessen Emitter angeschlossenen Siliziumdiode

101 an der Bezugsspannung an, wodurch über den Transistoren 112 und 113 eine Ansteuerung der Anzeige 102, 103 für "Silizium" bzw. "Germanium" möglich wird. Wenn der Komparator 40 (Fig. 5) den Oszillator 12 (Fig. 2) abschaltet, schaltet er gleichzeitig den Optokoppler 39 ein. Wenn am Ausgang des Impedanzwandler&egr; 99 eine Spannung von etwa 600-mV liegt, das ist die Basis-Emitter-Spannung eines Silizium-Transistors, wird durchgeschaltet und die Anzeige

102 für "Silizium" leuchtet auf. Wenn am Ausgang des Impedanzwandlers 99 eine Spannung von ca. 300-mV liegt, das ist die Basis-Emitter-Spannung eines Germanium-Transistors, wird nicht durchgeschaltet, und die Anzeige 103 für "Germanium" leuchtet auf. Wenn der Transistor defekt ist, leuchtet keine der Anzeigen 102, 103 auf.

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Die für Meßschaltungen wichtig zu erfassenden, aber stark streuenden Basis-Enitter-Spannungen werden mit dem im Ausgangskreis der Impedanzwandlerschaltung 99 geschalteten digitalen Millivoltmeter 11 präzise ablesbar, womit eine korrekte Selektierung möglich ist. Ist der Transistor defekt, liegt keine Anzeige vor.

Mit dem dargestellten Transistormeßgerät wird gleichzeitg die für jeden Transistor typische Durchschaltzeit meßtechnisch erfaßt und zur Anzeige gebracht. Die Schaltung des zugeordneten Schaltzeit-Meßgerätes ist in Fig. 12 wiedergegeben. Dabei wird jede Schaltzeitmessung mit der positiv ansteigenden Taktflanke eingeleitet, die von der Ausgangsbuchse 24 (Fig. 2) der Start/Stop-Einrichtung 2 auf den Meßeingang 77 geführt wird. Das Meß-Einleitsignal gelangt zum Und-Gatter 80, welches öffnet und die vom Oszillator 81 kommenden Impulse in den Zähler einlaufen läßt. Das zeitgleich getriggerte Monoflop 83 hält mit seinem log. 1-Signal den Zähler frei. Gelangt kein Stop-Signal von der Buchse 60 (Fig. 9) der NF/HF-Umschalt- und Anzeigelogik 6 auf den Takteingang vom Delay-Flipflop 87, wird mit der Pegeländerung des Meß-Einleit-Signals auf log. 0 der Zählerinhalt über den nicht mehr getriggerten retriggerbaren Monoflop 83 am Reset-Eingang 85 mit einem Low-Pegel gelöscht. Gelangt jedoch vor Pegeländerung des Meß-Einleit-Signals von log. 1 auf log. 0 das Stop-Signal auf den Takteingang des Delay-Flipflops 87, bleibt das Monoflop 83 trotz der darauffolgenden Pegeländerung am Meßeingang 77 von log. 1 auf log. 0 weiterhin getriggert, wofür der Q-Ausgang vom Delay-Flipflop 87 nun zuständig ist. Da mit der zweiten Pegeländerung an der Meßeingangsbuchse 77 einerseits der Zählerinhalt nicht gelöscht wird und anderer-

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seits keine weiteren Impulse über das Und-Gatter 80 in den Zähler einlaufen können, wird mit Abschluß einer Transistorüberprüfung die Transistor-Durchschaltzeit direkt von der Siebensegment-Anzeige 68 wiedergegeben.

Ist der Transistor defekt, liegt keine Anzeige vor. Zur Messung externer Schaltzeiten, Monoflopausgangs-Signale, Tastverhältnisse usw. wird nach Betätigung der Reset-Taste 14 (Fig. 2) die Taste 89 "t &khgr; -extern" einmal betätigt, wobei die Leuchtanzeige 96 "t &khgr; -extern" die Bereitschaft einer Messung anzeigt. Das zu messende Signal wird über den Meßeingang 93 wiedergegeben. Bezogen auf den Meßablauf gelten die oben beschriebenen Abläufe. Lediglich das Delay-Flipflop 95 ist über das Und-Gatter 92 und der Inverterstufe 94 mit eingeschliffen, wodurch mit der zweiten Pegeländerung am Meßeingang 93 das Delay-Flipflop 95 die Meßschaltung über das Und-Gatter 79 verriegelt, so daß ein zweites Meßsignal an der Eingangsbuchse 93 das Meßergebnis nicht mehr verfälschen kann. Eine neue externe Schaltzeitmessung ist erst nach Betätigung der Reset-Taste 14 (Fig. 2) und der Taste 89 "t &khgr; -extern" möglich.

Claims (5)

PATENTANWALT DR. STARK · MOERSER STRASSE 140 ■ D-4150 KREFELD · 3? (021 51) 2 62 22 b. 204 6S Ansprüche

1. Transistorprüfgerät mit einer Suchlaufeinrichtung zur Ermittlung der Transistoranschlüsse und des Transistortyps PNP bzw. NPN und eit zugeordneten Anzeigen, dadurch gekennzeichnet, daß die Suchlaufeinrichtung einen Oszillator (12) mit einen nachgeschalteten Binärzähler (29), wobei die Ausgänge des Binärzählers (29) über Binär/Dezimal-Wandler (30, 31) die Anzeigen (8) und außerdem Relais (34) zum Umschalten der Transistoranschlüsse betätigen sowie andererseits über Pegelwandler (35) zu den Kontakten der die Transistoranschlüsse versorgenden Relais (34) geführt sind, und daß ein Komparator (40) vorgesehen ist, der den Oszillator (12) abschaltet, wenn am Kollektor des untersuchten Transistors ein bestimmter Spannungsabfall auftritt.

2. Transistorprüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dem Oszillator (12) ein Delay-Flipflop (13) zum Aufbau eines Tastverhältnisses von 1:1 nachgeschaltet ist.

3. Transistorprüfgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Delay-Flipflop (15) vorgesehen ist, welches beim Start des Oszillators (12) die Bausteine auf log. 0 setzt.

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4. Transietorprüfgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß an Eingang des Oszillators (12) eine Schalteinrichtung (28) vorgesehen ist, nit der der Oszillator (12) von Niederfrequenzprüfung auf Hochfrequenzprüfung oder ungekehrt geschaltet werden kann.

5. Transistorprüfgerät nach einen der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß den Konparator (40) ein Siliziun-Gernaniun-Detektor nachgeschaltet ist, der einen spannungsstabilisierten Optokoppler (39) und einen Impedanzwandler (99) aufweist, wobei der Impedanzwandler (99) eine duale Spannungsversorgung und einen niederohmigen Ausgang aufweist und der Ausgang einerseits niederohnig über einen Germanium-Transistor (100) und eine an dessen Emitter angeschlossene Silizium-Diode (101) an der Bezugsspannung sowie andererseits an Anzeigen (102, 103) für "Silizium" bzw. "Germanium" anliegt.