DE2811127C3 - Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen - Google Patents
Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten SpulenInfo
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- DE2811127C3 DE2811127C3 DE19782811127 DE2811127A DE2811127C3 DE 2811127 C3 DE2811127 C3 DE 2811127C3 DE 19782811127 DE19782811127 DE 19782811127 DE 2811127 A DE2811127 A DE 2811127A DE 2811127 C3 DE2811127 C3 DE 2811127C3
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2688—Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
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Description
Die Erfindung geht aus von einer Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen gemäß dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Das in der Prüfeinrichtung angewandte Meßverfahren unter Ausnutzung des Effektes der Spannungsüberhöhung
in einem Parallel- und Serienresonanzkreis ist allgmein bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine automatische Prüfung der einzelnen gedruckten Spulen
einer Leiterplatte mit mehreren Spulen zu ermöglichen, wobei sichergestellt sein soll, daß die Spulen untereinander
meßtechnisch unwirksam geschaltet sind und eine Gut- oder Ausschußanzeige erfolgt bzw. die Leiterplatte mit einer eine bestimmte Güte nicht aufweisenden
Spule ausgeworfen wird.
Die Güte der gedruckten Schaltung ist abhängig von der Art des Isolierträgers, dem Leiterquerschnitt und
den Umgebungsbedingungen sowie in den Leiterbahnen vorhandenen Harrissen und/oder Feinschlüssen. Man
kann also durch Messung der Güte gleichzeitig über den Zustand einer Spule Aussagen machen.
Die genannte Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1
wiedergegebenen Merkmale gelöst
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in
den Unteransprüchen beschrieben.
Für die Messung ist es unumgänglich, für jede Meßstelle einen Kondensator mit einem bestimmten
Kapazitätswert vorzusehen, der mit der Spule über den Tastkopf zu einem Resonanzkreis geschaltet wird. Die
Resonanzfrequenzen eines so gebildeten Resonanzkreises liegen von gedruckter Leiterplatte zu Leiterplatte in
gewissen Grenzen auseinander. Aus diesem Grunde ist es notwendig, daß für die Messung ein frequenzmodulierter Hochfrequenzgenerator (Wobbler) eingesetzt
wird, um diese Abweichungen abfangen zu könen.
Da mehrere Spulen auf einer gedruckten Leiterplatte meßtechnisch nicht trennbar sind, müssen sie gemäß der
Lehre der Erfindung gegenseitig unwirksam geschaltet werden. Die Spulen werden dabei schrittweise hintereinander gemessen, wobei gleichzeitig die Spulen durch
Schalterdioden kurzgeschlossen werden, die momentan nicht der Messung unterzogen werden sollen. Die
Umschaltung kann z. B. mittels eines Schrittschalters oder Schieberegisters erfolgen. In Verbindung mit einer
getaktet gesteuerten, wiederholten Messung wird die Meßsicherheit wesentlich erhöht. Zu diesem Zweck sind
die Schrittimpulse synchron mit der Durchlaufzeit des Wobbiers geschaltet. Eine Fehlermeldung löst durch die
von dem Digitalwort gesteuerte Anzeige eine Anzeige aus bzw. bewirkt, daß der mechanische Auswurfmechanismus tätig wird, welcher z. B. aus einem von einem
Schrittschaltmotor pneumatisch gesteuerten Schieber bestehen kann.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand des in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Die auf ihre Güte zu überprüfenden Spulen Si, S2, Si
und St sind jeweils in einen Resonanzkreis geschaltet, der im Fall Si von dem in Reihe geschalteten
Kondensator Ci, im Fall der Spule S2 vom Kondensator
C2 und in den Fällen der Spulen Sj und Si von den
Kondensatoren Cz und G gebildet wird. Wie eingangs
erwähnt, beruht das Meßprinzip auf der Feststellung des Spannungsverhältnisses zwischen einem eingespeisten
Hochfrequenz-Signal und der Resonanzerhöhung an dem Schwingkreis. Hierbei wird das Hochfrequenz-Signal
in einen außerordentlich niedrigen Fußpunktwiderstand R eingespeist und belastungsfrei am Schwingkreis
gemessen. Die Hochfrequenz liegt von einem über die Trennverstärker 1,2 und 3 angekoppelten Wobbler 4 an.
Mit dem Schwingkreis Si, Ci sind eine Schalterdiode 5
und ein gegen Masse geschalteter Kondensator β sowie
eine über einen Kondensator angekoppelte Gleichrichterschaltung verbunden. Letztere bestell; aus der
gegen Masse geschalteten Diode 8 und der mit einem Eingang eines Operationsverstärker-, 10 verbundenen
Diode 9. Das Diodenpaar 8, 9 ist so geschaltet, daß die positiven Spannungsanteile der gleichgerichteten Hoch-Irequenz
an den Eingang des Operationsverstärkers 10 durchgeschaltet werden. Der zweite Hingang de^
Operationsverstärkers 10 ist mit einem an eine Spannungsquelle angeschlossenen Potentiometer 11
verbunden, an dem die Schaltschwelle des Operationsverstärkers eingestellt wird, wodurch eine direkte
Aussage über die Güte gemacht werden kann. Dem Operationsverstärker 10 ist ein Digitalanalogwandler 12
nachgeschaltet, der die anliegende Vergleichsspannung in Meßimpulse umwandelt, die aii Binärwort einem
Zähler 13 zugeführt werden, der mit einer nicht dargestellten Anzeige zur Anzeige des Gütewertes
angeschlossen ist bzw. mit einer Schaltungsanordnung zur Steuerung eines Auswurfmechanismus verbunden
ist Erfolgt eine Ausschußwertung, d. h. eine gewünschte Güte wird durch die Spule nicht erreicht, so wird dieses
angezeigt, wobei bei entsprechender Ausbildung des mechanischen Auswurfmechanismus auch gleichzeitig
die Leiterplatte aus der Meßvorrichtung ausgeworfen und eine neue eingeführt wird. Während des Meßvorganges
des ersten Schwingkreises Si, Q müssen sämtliche anderen Schwingkreise unwirksam geschaltet
werden. Dies erfolgt durch die schrittweise Ansteuerung der Schalterdiode 5 während eines Meßvorgangs. Soll
der erste Schwingkreis gemessen werden, d. h. die Güte der ersten Spule überprüft werden, so werden an die
übrigen Schalterdioden 14, 15 und 16 über den Verstärker 17, 18 und 19 Spannungen gelegt, die
während der gesamten Meßdauer anstehen. Bei der zu messenden Spule hingegen wird über den Verstarker 20
keine Spannung angelegt, so daß der Schwingkreis hochfrequenzmäßig nicht kurzgeschlossen ist und die
abtastbare Resonanzspannung nach Gleichrichtung dem Operationsverstärker 10 zugeführt werden kann.
Nach Beendigung der Bestimmung der Güte der Spule S1 erfolgt über ein nicht dargestelltes Schieberegister
eine Fortschaltung, so daß an der Schalterdiode 5 nunmehr eine Spannung anliegt und an der Schalterdi-
Ό ode 14 keine, während die übrigen Dioden wiederum
mit einer Spannung beschaltet sind und somit die entsprechenden Resonanzkreise kurzgeschlossen sind.
Ein Vorteil der Erfindung liegt u. a. darin, daß eine
Leiterplatte mil mehreren gedruckten Spulen schnell
;5 geprüft werden kann, eine automatische Selektion
erfolgt und Einzelspulen angezeigt werden.
Es hat sich in der Praxis gezeigt, daß insbesondere bei doppelt beschichteten Leiterplatten mit beidseitig
additiv aufgebrachten gedruckten Spulen Haarrisse und Feinschlüsse zu einer verhältnismäßig hohen Gütebeeinträchtigong
führen, so daß mit hohen Ausschußraten zu rechnen isi. Würde eine solche Leiterplatte bestückt
werden, so würde sich der Fehler erst beim Abgleich bemerkbar machen, so daß dann die gesamte Leiterplatte
ausgetauscht werden müßte. Ein solcher Austausch einer bestückten Leiterplatte wird durch vorherige
Güteprüfung der einzelnen Spulen vermieden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen einer gedruckten Schaltung nach
dem Resonanzverfahren mit einer Aufnahmevorrichtung für die gedruckte Schaltung mit auf die
Leiterbahnenden der gedruckten Spulen greifenden Tastköpfen, dadurch gekennzeichnet, daß
jede Spule (S\—St) über einen Trennverstärker (1,2,3) an einen gemeinsamen Wobbler (4) angeschlossen ist, und daß die nicht zu prüfenden Spulen
mittels Schalterdioden (5,14,15,16) und eines gegen Masse geschalteten Kondensators (6) hochfrequenzmäßig kurzgeschlossen sind, und daß die von der zu
messenden Spule abgreifbare Resonanzspannung nach Gleichrichtung dem ersten Eingang eines
Operationsverstärker (10) mit einstellbarer Schaltschwelle zugeführt wird, welche Schaltschwelle und
die damit verbundene Wertigkeit der Güte mittels einer am zweiten Eingang des Operationsverstärkers (10) angeschlossenen Spannungsquelle (11)
einstellbar ist, und daß bei Unterschreitung bzw. Überschreitung einer definierten Schaltschwelle
eine Sichtanzeige erfolgt, die die zu prüfende Leiterplatte als Ausschuß signalisiert.
2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zu prüfenden Spulen
(S, — S1) über ein Schrittschaltwerk an einen
zugeordneten Operationsverstärker (10) angeschaltet werden, und daß die übrigen Spulen zwecks
Verhinderung einer Beeinflussung der Spulengüte der zu messenden Spulen durch die Schalterdioden
(5,14,15,16) hochfrequenimäßig kurzgeschlossen
werden, und daß der Operationsverstärker (10) mit einem Analogdigitalwandler (12) verbunden ist, der
die gemessene Güte in einem Binärwort an eine Auswertschaltung abgibt.
abgibt.
3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ansteuerung der Schalterdioden (5,14,15,16) über ein Schieberegister erfolgt,
das derart geschaltet ist, daß lediglich immer nur die Schalterdiode nicht leitend geschaltet ist, die mit der
zu messenden Spule verbunden ist.
4. Prüfeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Auswurfmechanismus bei Nichteinhaltung vorgeschriebener Gütewerte einzelner Spulen die die
Bedingungen nicht erfüllenden Leiterplatten aus- ϊο
wirft.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782811127 DE2811127C3 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782811127 DE2811127C3 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2811127A1 DE2811127A1 (de) | 1979-09-20 |
DE2811127B2 DE2811127B2 (de) | 1981-03-12 |
DE2811127C3 true DE2811127C3 (de) | 1982-05-19 |
Family
ID=6034435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782811127 Expired DE2811127C3 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Einrichtung zum Prüfen der Güte von gedruckten Spulen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2811127C3 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63134965A (ja) * | 1986-11-11 | 1988-06-07 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 電気的振動回路の測定方法 |
-
1978
- 1978-03-15 DE DE19782811127 patent/DE2811127C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2811127A1 (de) | 1979-09-20 |
DE2811127B2 (de) | 1981-03-12 |
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