DE9010700U1 - Haltevorrichtung für Proben, von denen ein Schliff angefertigt werden soll - Google Patents
Haltevorrichtung für Proben, von denen ein Schliff angefertigt werden sollInfo
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Description
Haltevorrichtung für Proben, von denen
ein "chiiff angefertigt wärdk.· soll
Die vor Liegende Neuerung betrifft eine Haltevorrichtung für Proben, von denen -iin Schliff zur Sichtbarmachung von Längsoder Querschnittsstrukturen angefertigt werden soll, welche aus
einem Vergußmaterial hergestellt ist.
Längs- oder Querschnittsschliffe werden beispielsweise von
Leiterplatten angefertigt, um Schichtdicken der Lackierung, der Kupferkaschierung, der Aufmetallisierung, Leiterbreiten,
Abstände zwischen Innenlagen, Restringe, Lagenversatz u.a. zu &ngr; untersuchen.
Zur Anfertigung von Schliffen wurde bisher, wie aus einem Firmenprospekt der Firma Jean Wirtz, "Einbetten und
Kennzeichnen", Seite 2 und einer Veröffentlichung der Firma Struers über Probenpräparation, Probennahme und Einbetten, Nov.
83, hervorgeht, eine Probe der zu untersuchenden Leiterplatte in
ein Vergußmaterial, z.B. Gießharz mit einem Füllmittel, eingegossen und der aus dem Vergußmaterial bestehende Körper mit
samt der darin eingegossenen Probe einem SchleifVorgang unterzogen. Diese Vorgehensweise ist sehr material- und
zeitaufwendig, da für jede Probenuntersuchung ein neuer Guß hergestellt werden muß.
ANT Nachrichtentechnik GmbH
ti·· 1
Der Neuerung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine Haltevorrichtung der eingangs er-narrten Art anzugeben, welche
eine Ersparnis an Material und L ^t bei der Herstellung eines
Probenschliffs mit sich bringt.
Neuerungsgemäß wird diese Aufgabe durch die Merkmale des
Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Neuerung gehen aus den Unteransprüchen hervor.
Dadurch, daß die Halterung'es der Neuerung zufolge ermöglicht,
eine Probe nach dem Schliff wieder herauszunehmen, kann ein und dieselbe Halterung für viele Probenschliffe verwendec werden.
Anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels
wird nachfolgend die Neuerung näher erläutert.
Die Figur zeigt eine perspektivische Ansicht eines aus eirem
Vergußmaterial (z.B. Gießharz mit einem Füllstoff) hergestellten Blocks 1, der eine Ausnehmung 2 iur Aufnahme einer zu
schleifenden Probe 3, z.B. einer Leiterplatte, aufweist. Die Ausnehmung 2 ist so bemessen, daß eine Probe 3 bequem in eie
eingelegt und nach dem Schliff wieder aus ihr entnommen werden
kann.
Damit die Probe 3 beim SchleifVorgang fest in der Ausnehmung 2
sitzt, ist mindestens eine Schrauho 4 vorgesehen, welche durch
den Bluck 1 in die Ausnehmung 2 vordringt, sodaß mit lh? die
Probe 3 gegen die gegenüberliegende Wand der Ausnehmung 2 gepreßt werden kann.
Es sind ein oder mehrere zusätzliche Schrauben 5 vorgesehen,
welche ebenfalls durch den Block 1 in die Ausnehmung 2 hineinragen und dazu dienen, die Probe 3 iii der Ausnehmung 2 in
eine gewünschte Lage zu bringen. Diese für die Lagejustierung
zuständigen Schrauben 5 sind zweckmäßigerweise an der Bodenseite
der Ausnehmung 2 angeordnet.
Für die Schrauben 4,5 zur Arretierung und Lagejustierung können
in den Block 1 Gewindebuchsen mit eingegossen werden.
Claims (4)
- ANT Nachrichtentechnik GmbH ·'"": &bgr;?Schutzansprüche1» Haltevorrichtung für Proben, von denen ein schliff zur Sichtbarmachung von Längs- oder Querschnittsstrukturen angefertigt werden soll, welche aus einen Vergußraaterial hergestellt ist, dadurch gekennzeichnet, daß ein Block (1) mit einer darin für die Aufnahme der Probe (3) vorhandenen Ausnehmung gegossen ist, und daß in dem Block (1) Mittel (4,5) zur Arretierung und/oder Lagejustierung der jeweiligen in die Ausnehmung (2) eingesetzten Probe (3) eingelassen sind.
- 2. Haltevorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (4) zur Arretierung der Probe (3) aus mindestens einer Schraube bestehen, die durdh den Block (1) bis in die Ausnehmung (2) vordringt, sodaß mit ihr die Probe (3) gegen die der Schraube (4) gegenüberliegende wand der Ausnehmung (2) gepreßt werden kann.
- 3. Haltevorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daP durch den Block (1) bis in die Ausnehmung (2) hinein ein oder mehrere Schrauben (5) vordringen, die dazu dienen, die Probe (3) in der Ausnehmung (2) in eine gewünschte Lage zu bringen.
- 4. Haltevorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß an den Stellen, wo Schrauben (4.5) zur Arretierung oder Lagejustierung im Block (1) vorgesehen sind, Gewindebuchsen für diese Schrauben (4,5) in den Block (1) eingegossen sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE9010700U DE9010700U1 (de) | 1990-07-18 | 1990-07-18 | Haltevorrichtung für Proben, von denen ein Schliff angefertigt werden soll |
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Publications (1)
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| DE9010700U1 true DE9010700U1 (de) | 1990-09-27 |
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE9010700U1 (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE9015096U1 (de) * | 1990-11-02 | 1991-04-18 | Lindner, Horst, 8400 Regensburg | Säge zum Trennen von Materialproben |
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| EP3644039A1 (de) * | 2018-10-26 | 2020-04-29 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Probenhaltervorrichtung für eine schleifeinrichtung und verfahren zum herstellen einer mikroskopisch planen ebene an einer probe |
| CN111469199A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-07-31 | 中国科学院物理研究所 | 一种用于薄膜截面样品的制备和转移的装置 |
-
1990
- 1990-07-18 DE DE9010700U patent/DE9010700U1/de not_active Expired - Lifetime
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| JP3523264B2 (ja) | 1994-08-17 | 2004-04-26 | コミツサリア タ レネルジー アトミーク | 標本ホルダーを有する研磨装置 |
| EP3644039A1 (de) * | 2018-10-26 | 2020-04-29 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Probenhaltervorrichtung für eine schleifeinrichtung und verfahren zum herstellen einer mikroskopisch planen ebene an einer probe |
| DE102018126749A1 (de) * | 2018-10-26 | 2020-04-30 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Probenhaltervorrichtung für eine Schleifeinrichtung und Verfahren zum Herstellen einer mikroskopisch planen Ebene an einer Probe |
| CN111469199A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-07-31 | 中国科学院物理研究所 | 一种用于薄膜截面样品的制备和转移的装置 |
| CN111469199B (zh) * | 2020-04-21 | 2021-06-18 | 中国科学院物理研究所 | 一种用于薄膜截面样品的制备和转移的装置 |
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