DE8502446U1 - Gaslaser mit einem frequenzselektiven dielektrischen Schichtensystem - Google Patents

Gaslaser mit einem frequenzselektiven dielektrischen Schichtensystem

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DE8502446U1 DE19858502446 DE8502446U DE8502446U1 DE 8502446 U1 DE8502446 U1 DE 8502446U1 DE 19858502446 DE19858502446 DE 19858502446 DE 8502446 U DE8502446 U DE 8502446U DE 8502446 U1 DE8502446 U1 DE 8502446U1
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    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/05Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
    • H01S3/08Construction or shape of optical resonators or components thereof
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    • H01S3/02Constructional details
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Description

Balzers Aktiengesellschaft Unser Zeichen
Für st enttarn Liechtenstein VPA 85 P 8 O O 5 DE
Siemens Aktiengesellschaft
Berlin und München
Gaslaser mit einem frequenzselektiven dielektrischen Schichtensystem.
Die Erfindung betrifft einen Gaslaser gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Ein solcher Laser ist beispielsweise aus der DE-OS 23 42 911 bekannt.
Gaslaser strahlen gewöhnlich auf einer Vielzahl von Wellenlängen. Man muß daher, wenn nur eine einzige Wellenlänge benötigt wird, Vorkehrungen zur Unterdrükkung des restlichen Emissionsspektrums treffen. In der eingangs zitierten Offenlegungsschrift wird hierzu vorgeschlagen, einen der beiden Resonatorspiegel folgendermaßen zu beschichten: Vor und hinter einer λ/2-Schicht befinden sich - in spiegelsymmetrischer Anordnung - mehrere, jeweils aus einer optisch dichten und einer optisch dünnen λ/4-Schicht gebildete Paare (A= Wellenlänge des störenden Lichts). Ein derartiges Schichtensystem liefert ein ausgeprägtes Reflexionsminimum. Man kann damit aus einer Reihe relativ eng benachbarter Laserlinien ohne weiteres eine bestimmte Linie wegfiltern; es bereitet aber Schwierigkeiten, umgekehrt aus dem gleichen Spektrum alle Linien bis auf eine zu unterdrücken.
Eine solche Frequenzcharakteristik ließe sich durch eine modifizierte Beschichtung erzielen. Hierfür sind allerdings Schichtengefüge erforderlich, deren Reflexionsmaxima temperatur- und druckabhängig sind, und zwar in einem Ausmaß, das beispielsweise bei einem Ar+-Laser mit seinen relativ geringen Linienabständen zu spürbaren Leistungseinbüßen "führt. Weniger kritisch sind die Verhältnisse, wenn man die Linienauswahl durch dielektrische Kantenfilter auf beiden Spiegeln trifft. Dem ste-Les 1 Lk/9.1.1985
85 P 8 O O 5 DE
her allerdings höhere Kosten gegenüber: Die Spiegelherstellung ist aufwendig - man muß ein relativ weiches Material mit einer häufig auch noch gekrümmten Oberfläche polieren und beschichten - und führt zu Ausbeuten von deutlich unter 100%.
Natürlich könnte man mit breitbandigen Spiegeln arbeiten und die Linienauswahl durch Etalons, frequenzselektive Polarisatoren oder dispergierende Elemente besorgen lu lassen {uei—kjo c\j ou ?£.? uuer tro-uo <nj fy /η-ό). ^uä Teile im Resonator sollten allerdings nach Möglichkeit vermieden werden, allein schon deshalb, weil sie den Aufbau komplizierter machen und den Strahl schwächen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Laser der eingangs genannten Art so auszugestalten, daß störende Frequenzanteile des Laserlichts einfach und zuverlässig unterbunden werden. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Lasertype mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
Der vorgeschlagene Gaslaser läßt sich relativ kostengünstig fertigen: Zusatzteile sind nicht erforderlich. Das Brewster-Fenster besteht gewöhnlich aus einem harten, gut polierbaren Material (Quarz) mit planen Oberflächen; es läßt sich also bequem vergüten und beschichten. Die Mehrfachschicht ist aus nur zwei Schichtenarten aufgebaut; die Schichten dürfen dabei von ihrem Elealwert ( A). abweichen, vorausgesetzt, Schichten gleicher Art sind mit einer Toleranz von einigen % - gleich dick. Hinzukommen bemerkenswerte optische Qualitäten: Verglichen mit einem frequenzseiektiven Spiegel sind die Dämpfungswerte beim Nutz- und Störlicht in etwa gleich und die Einflüsse von Temperatur- und Druckänderungen geringer.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand zusätzlicher Ansprüche.
L' 3 -
VPA 85 P 8 O O 5 DE
Der Lösungsvorschlag soll nun anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert werden. In den Figuren der Zeichnung sind einander entsprechende Teile mit gleichem Bezugszeichen versehen. Es zeigen
Fig. 1 das Ausführungsbeispiel in einem schematischen
Längsschnitt und
Fig. 2 von dem Ausführungsbeispiel der Fig. 1 einen vergrößerten Ausschnitt, mit einer genaueren Darstellung der Mehrfachschicht.
Der dargestellte Laser ist ein Ar+-Laser, der ausschließlich bei einer Frequenz von 0,488um emittieren soll. Er enthält im einzelnen ein argongefülltes Entladungsrohr 1, das an seinen beiden Enden mit je einer Entladungselektrode 2, 3 versehen ist und durch ,je ein Brewster-Fenster 4, 5 abgeschlossen wird. Das Rohr befindet sich in einem durch zwei Spiegel 6, 7 gebildeten Resonator.
Das Fenster 5 ist auf seiner dem Spiegel 7 zugewandten Seite mit einer dielektrischen Mehrfachschicht 8 überzogen. Dieses Schichtensystem besteht aus zwölf Einzelschichten 9, 10, die abwechselnd einen Brechungsindex von 2,2 bzw. 1,46 haben und 71,2nm bzw. 120,5nm dick sind. Sie bestehen aus aufgedampftem Ta2U3 bzw. S1O2. Die Brewster-Fenster bestehen ebenfalls aus Quarz.
Für die einzelnen Laserlinien \ mit ihren Anregungswahrscheinlichkeiten A ergeben sich - für p-polarisiertes Licht bei einem Einfallswinkel von 55,5° - folgende Reflexionsfaktoren Rr,
Ai (nm) D f οδ ^ A
454 11 0.12
456 12 0.35
466 13 0.2
473 9.7 0.3
λ i (nm) Rp {%) A
476 7.4 0.75
488 0.000 1.5
496 6.8 0.7
501 17.7 0.4
514 51 2.0
J '4 -
"VPA 85 P 8 O O 5 OE
Bei Schichtdickenrehiern von -lift und Streulicht- und Absorptionsverlusten von insgesamt<O,05% belaufen sich die Verluste bei der O,488um-Linie auf etwa 0,2%. Die übrigen Laserlinien sind ausgedämpft; dies gilt insbesondere auch für die an sich stark angeregte 0,5i4um-Linie, weil gerade in diesem Frequenzbereich der R -Wert besonders hoch ist.
Die Erfindung beschränkt sich nicht nur auf das dargestellte Ausführungsbeispiel. So läßt sich die Mehrfachschicht - in entsprechender Anpassung - für die Selektion anderer Ar+-Linien oder Linien anderer (Edel-)Gase und in geeigneten Fällen sogar zur Auswahl von mehr als einer Linie verwenden. Davon abgesehen bleibt es dem Fachmann unbenommen, das Schichtensystem im vorgeschlagene η Rahmen in mehrfacher Hinsicht abzuwandeln: Die niedrig- und/oder hochbrechenden Schichten könnten beispielsweise zur Steigerung der Selektivität - dicker gewählt werden (q>1); die Mehrfachschicht könnte wenigstens teilweise auf die Innenseite des Brewster-Fensters aufgebracht werden - eine Aufteilung auf beide Fensterseiten kann sich aus Gründen der Thermostabilität empfehlen; die Schichten lassen sich auch auf andere Weise, beispielsweise durch eine Sputtertechnik, auftragen. Im übrigen ist es ohne Belang, ob das Brewster-Fenster einen gasdichten Rohrabschluß bildet oder rein mechanisch gehaltert wird.
7 Pe*eß*|fnsprüche
2 Figuren

Claims (7)

- ·5 -'■ VPA 85P 8 00 5DE -PattentFpisprüche
1. Gaslaser, enthaltend
1a) ein Entladungsrohr, das
b).zumindest an einem seiner beiden Enden mit einem Brewster-Fenster versehen ist;
2a) ein frequenzselektives dielektrisches Schichtensystem zur Unterdrückung unerwünschter Laserlinien, mit
b) einer Mehrfachschicht aus mehreren aufeinander folgenden Schichten, die alternierend einen hohen Brechungsindex nn ("Schichten erster Art") und einen niedrigen Brechungsindex n^ ("Schichten zweiter Art") aufweisen (An = H^-Ii1=O, 5) und insbesondere die gleiche optische Dicke haben;
dadurch gekennzeichnet, daß 2c) das Schichtensystem auf demBrewster-Fenster (5) angeordnet ist,
d) ausschließlich aus der Mehrfachschicht (8) besteht, e) zwischen fünf und neun Schichten (9, 10) jeder Art
vorgesehen sind, und daß gilt:
f) 0 2^ ^l
(dim « Dicke der i-ten Schicht der m-ten Art, gemessen in Richtung des durchtretenden Lichts; q * ganze Zahl - 0;
A. = Wellenlänge der gewünschten Laserlinie in der jeweiligen Schicht).
2. Laser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß gilt: 0,99dQm =dim=1,01dQm und
3. Laser nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrfachschicht (8) aus höchstens sieben Schichten (9, 10) jeder Art besteht und daß gilt: 1,9=nh = 2,5 , 1,38=^^1,7 und ^n = O,6.
Il ) 1 )
-'•6 - VPA 85P 8 O 05 QE
4. Argon-Ionen-Laser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß λ= 0,488um, daß die Mehrfachschicht (8) aus mindestens sechs Schichten (9, 10) Jeder Art besteht und daß gilt: 2,1 = 1^ = 2,3 und 1,4 = ^ = 1,5.
5. Laser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrfachschicht (8) aus sechs Schichten (9, 10) jeder Art besteht, daß n^ und U1 Werte
von etwa 2,2 bzw. 1,46 haben und daß die Schichten (9, 10) der ersten und zweiten Art etwa 71,2nm bzw. 120,5nm dick sind.
6. Laser nach Anspruch 5, dadurch gekenn zeichnet, daß die Schichten (9, 10) erster und zweiter Art aus Ta£°3 bzw* Si02
7. Laser nach einem der Ansprüche 1 bis 6, d a d u r ch gekennzeichnet, daß sich die Mehrfachschicht (8) auf der Außenseite des Brewster-Fensters (5) befindet.
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