DE737681C

DE737681C - Einrichtung zum Pruefen von Spannungswandlern

Info

Publication number: DE737681C
Application number: DES132879D
Authority: DE
Inventors: Dr-Ing Hans Poleck
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1938-07-07
Filing date: 1938-07-07
Publication date: 1943-07-19

Description

Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern Es sind Einrichtungen zum Prüfen von Spannungswandlern bekannt, bei denen der Phasenwinkel und _ die Abweichung der Sekundärspannung vom Sollwert mittels einer Kompensationsmeßeinrichtung gemessen werden. Die Erfindung bezieht sich auf eine solche @pannungswandlerprüfeinrichtung, die sich eines kapazitiven Spannungsteilers zum Erzeugen der Vergleichsspannung bedient. Die Vergleichsspannung und die zu prüfende Spannung- sind dabei in an sich bekannter Weise gegeneinandergeschaltet, und zwar über die Primärwicklung ,eines Hilfsübertragers, an dessen Sekundärwicklung ,die Komp:ens:ationsmeßvorrichtung angeschlossen ist.
Gemäß der. Erfindung ist nun zwecks Erhöhung der Meßempfindlichkeit mit der Primärwicklung des Hilfsübertragers eine Induktivität in Reihe geschaltet, die so bemessen ist, daß die Eigenfrequenz des aus der Induktivität und dem Niederspannungskondensator bestehenden Kreises gleich der Frequenz der Prüfspannung ist.
Eine beispielsweise Ausführungsform der Spannungswandlerprüfeinrichtung gemäß der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, wobei angenommen ist, daß es sich um die Prüfung von einseitig geerdeten Hochspannungswandlern handelt. Dabei besteht der Spannungsteiler aus der Reihenschaltung eines Niederspannungskondensators i und eines Hochspannungskondensators 2 zwischen Erde und einer =gegen Erde Hochspannung führenden Leitung 3. Parallel dazu liegt clie PrimärwicIdung 4. des zu prüfenden Spannungswandlers (Prüfling j. Der eine Pol der Sekundärwicklung 5 des Prüflings ist geerdet, während der andere Pol über die Reihenschaltung der PrimärcvickIung 6eines Hilfsübertragers und einen induktiven Widerstand ; an die durch den Kondensator i gegebene Vergleichsspannung (Punkt 8) angeschaltet ist. Die Seku:ndärwickluing 9 des Hilfsübertragers liegt an einer Kompensationameßvorr ichtung i o, die außerdem in an sich bekannter Weise von der zu prüfenden Spannung gespeist wird. Ein Meßgerät i i, vorzugsweise ein Vibrationsgalvano:metür, dient dazu, auf Stromlosigkeit in der Sekundärwicklung 9 a.bgleichen zu können. In an sich bekannter Weise ergeben dann die an der Kompensationsvorrichtung io bei Stromlosigkeit abgelesenen Werte den Spannungs- und Winkelfehler des Prüflings.
Um eindeutige Verhältnisse zu erhalten, hat es sich als notwendig herausgestellt, sowohl den induktiven Widerstand als auch den Hilfsübertrager gegen -das Eindringen von elektromagnetischen Störungen und ;gegen Kopplung mit anderen Teilen der Schaltung abzuschirmen. Der Hilfsübertrager ist zu diesem Zweck mit zwei Schirmen 16 und i; versehen, und zwar ist einmal die Primärwicklung mit .einem auf dem Potential der zu prüfenden Spannung liegenden Schirm 16 versehen, während ein zweiter auf Erdpotential. liegender Schirm 17 Leine kapazitive Kopplung zwischen Primär- und Sekundärwicklung verhindert. Der induktive Widerstand 7 ist von einem Schirm 18 umgeben, der an das Potential der Vergleichsspannung angeschlossen ist.
In vielen Fällen wird es :erwünscht sein, Prüflinge für verschiedene Primärspannungen mit der gleichen Anordnung und bei der gleichen Hochspannung zu prüfen. Für diesen Fall müssen entsprechende Vergleichsspannungen zur Verfügung stehen, die man durch Änderung des kapazitiven Verhältnisses an dem Spannungsteiler herstellen kann. In diesem Falle benutzt man vorzugsweise einen zum wahlweisen Einschalten verschiedener Niederspannungskondensatoren in den die Vergleichsspannung erzeugenden Teil des lapazitiven Spannungsteilers dienenden Schalter und einen mit diesem zwangsläufig gekuppelten Schalter zum Einschalten der zugehörigen induktiven Widerstände.
Selbstverständlich kann man den induktiven Widerstand auch in dem Sekundärkreis des Hilfsübertragers anordnen, wobei der induktive Widerstand unter Berücksichtigung des übersetzungsverhältniss:es des Hilfsübertragers entsprechend bemessen werden muß.

Claims

PATENTANSPRÜCHE: i. Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern mit einem an die Prüfspannung angeschlossenen kapazitiven Spannungsteiler, der aus einem Hochspannungskondensator und einem Niederspannungskondensator zum Erzeugen einer Vergleichsspannung besteht, die der Sekundärspannung des zu prüfenden Spannungswandlers ii,ber die Primärwicklung eines Hilfsübertragers entgegengeschaltet ist, und einer an die Sekundärwicklung des Hilfsübertragers angeschlossenen Kompensatioasmeßeinrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß zwecks Erhöhung der Meßempfindlichkeit mit der Primärwicklung (6) des Hilfsübertragers eine Induktivität (7) in Reihe geschaltet ist, die so bemessen ist, daß die Eigenfrequenz des aus der Induktivität (7) und dem Niederspannungskondensator densator (i, 1a, 13) bestehenden Kreises gleich der Frequenz der Prüfspannung ist. ?. Einrichtung nach Anspruch i mit einer Einrichtung zum wahlweisen Erzeugen verschiedener Vergleichsspannungen, gekennzeichnet durch einen zum wahlweisen Einschalten verschiedener Kondensatoren (i, 12, 13) in den die Vergleichsspannung erzeugenden Teil des kapazitiven Spannungsteilers dienenden Schalter (1q.) und einen mit diesem zwangsläufig gekuppelten Schalter (15) zum Einschaltender zugehörigen induktiven Widerstände (7).