CH210631A - Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern. - Google Patents
Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern.Info
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Description
Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern. Es sind Einrichtungen zum Prüfen von Spannungswandlern bekannt, bei denen der Phasenwinkel und die Abweichung der Se kundärspannung vom Sollwert mittels einer Kompensationsmesseinrichtung gemessen wird. Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrich tung zum Prüfen von Spannungswandlern mit einem an die Prüfspannung angeschlos senen kapazitiven Spannungsteiler, der aus einem Hochspannungskondensator und einem Niederspannungskondensator zum Erzeugen einer Vergleichsspannung besteht, die der Sekundärspannung des zu prüfenden Span nungswandlers über die Primärwicklung eines Hilfsübertragers entgegengeschaltet ist, wobei die an sich bekannte Kompensations- messeinrichtung an die Sekundärwicklung des Hilfsübertragers angeschlossen ist. Die Ver gleichsspannung und die zu prüfende Span nung sind dabei in an sich bekannter Weise gegeneinander geschaltet, und zwar über die Primärwicklung des Hilfsübertragers. Gemäss der Erfindung ist nun mit einer der Wicklungen des Hilfsübertragers eine Induktivität in Reihe geschaltet. Es hat sich nämlich gezeigt, dass dadurch die Messemp- findlichkeit erheblich gesteigert wird. Vor zugsweise wird mit der Primärwicklung des Hilfsübertragers eine Induktivität in Reihe geschaltet, die so bemessen ist, dass die Ei genfrequenz des aus der Induktivität und dem Niederspannungskondensator bestehenden greises gleich der Frequenz der Prüfspan nung ist, um eine möglichst grosse Steigerung der Messempfindlichkeit zu .erreichen. Ein Ausführungsbeispiel einer Span- nungswandler-Prüfei_nrichtung gemäss der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, wobei angenommen ist, dass es sich um die Prüfung von einseitig geerdeten Hochspan nungswandlern handelt. Dabei besteht der Spannungsteiler aus der Reihenschaltung eines Niederspannungskondensators 1 und eines Hochspannungskondensators 2 zwischen Erde und einer gegen Erde Hochspannung führenden Leitung 3. Parallel dazu liegt die. Primärwicklung 4 des, zu prüfenden Span nungswandlers (Prüfling). Der eine Pol der Sekundärwicklung 5 des Prüflings ist geerdet, während der andere Pol über die Reihenschal tung der Primärwicklung 6 eines Hilfsüber tragers und einen induktiven Widerstand 7 an die durch den Kondensator 1 gegebene Vergleichsspannung (Punkt 8) angeschaltet ist. Der Primärwicklung 6 kann in an sich bekannter Weise ein Kondensator parallel geschaltet werden, um den induktiven Wider stand der Wicklung mehr oder weniger aus zugleichen. Die Sekundärwicklung 9 des Hilfs übertragers liegt an einer an sich bekannten Kompensationsmesseinrichtung 10, die ausser dem in an sich bekannter Weise von der zu prü fenden Spannung gespeist wird. Ein Messgerät 11, vorzugsweise ein Vibrationsgalvanometer. dient dazu, auf Stromlosigkeit in der Sekun därwicklung 9 abgleichen zu können. In an sich bekannter Weise ergeben dann die an der Kompensationsvorrichtung 10 bei Strom- losigkeit abgelesenen Werte den Spannungs und Winkelfehler des Prüflings. Um eindeutige Verhältnisse zu erhalten, hat es sich als notwendig herausgestellt, so wohl den induktiven Widerstand als auch den Hilfsübertrager gegen das Eindringen von elektromagnetischen Störungen und ge gen Kopplung mit andern Teilen der Schal tung abzuschirmen. Der Hilfsübertrager ist zu diesem Zweck mit zwei Schirmen 16 und 17 versehen, und zwar ist einmal die Primär wicklung mit einem auf dem Potential der zu prüfenden Spannung liegenden Schirm 16 versehen, während ein zweiter auf Erdpoten- tial liegender Schirm 17 eine kapazitive Kopplung zwischen Primär- und Sekundär wicklung verhindert. Der induktive Wider stand 7 ist von einem Schirm 18 umgeben. der an das Potential der Vergleichsspannung angeschlossen ist. In vielen Fällen wird es erwünscht sein, Prüflinge für verschiedene Primärspannun gen mit der gleichen Anordnung und bei der gleichen Hochspannung zu prüfen. Für diesen Fall müssen entsprechende Vergleichs spannungen zur Verfügung stehen, die man durch Änderung des kapazitiven Verhält nisses an dem Spannungsteiler herstellen kann. In diesem Falle benutzt man vorzugs weise einen zum wahlweisen Einschalten verschiedener Niederspannungskondensatoren in den die Vergleichsspannung erzeugenden Teil des kapazitiven Spannungsteilers die nenden Schalter und einen mit diesem zwang läufig gekuppelten Schalter zum Einschal ten der zugehörigen induktiven Widerstände. Selbstverständlich kann man den induk tiven Widerstand auch in dem Sekundärkreis des Hilfsübertragers anordnen, wobei der Widerstand unter Berücksichtigung des Übersetzungsverhältnisses des Hilfsübertra gers entsprechend bemessen werden muss.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH: Einrichtung zum Prüfen von Spannungs wandlern mit einem an die Prüfspannung angeschlossenen kapazitiven Spannungsteiler, der aus einem Hochspannungskondensator und einem Niederspannungskondensator zum Erzeugen einer Vergleichsspannung besteht, die der Sekundärspannung des zu prüfenden Spannungswandlers über die Primärwicklung eines Hilfsübertragers entgegengeschaltet ist, und einer an die Sekundärwicklung des Hilfsübertragers angeschlossenen Kompensa- tionsmesseinrichtung, dadurch gekennzeich net,dass zwecks Erhöhung der Messempfind- lichkeit mit einer der Wicklungen des Hilfs übertragers eine Induktivität in Reihe ge schaltet ist. <B>UNTERANSPRÜCHE:</B> 1. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet"dass mit der Primär wicklung des Hilfsübertragers eine Induk- tivität in Reihe geschaltet ist, die so be messen ist, dass die Eigenfrequenz des aus der Induktivität und dem Niederspan nungskondensator bestehenden Kreises gleich der Frequenz der Prüfungsspan nung ist.2. Einrichtung nach Patentanspruch mit einer Einrichtung zum wahlweisen Erzeu gen verschiedener Vergleichsspannungen, gekennzeichnet durch einen zum wahl weisen Einschalten verschiedener Konden satoren in den die Vergleichsspannung er zeugenden Teil des kapazitiven Spannungs- teilers dienenden Schalter und einen mit diesem zwangläufig gekuppelten Schalter zum Einschalten der zugehörigen induk tiven Widerstände.3. Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine auf dem Potential der Normalspannung liegende Abschir mung der Induktivität. 4. Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine auf dem zu prü fenden Potential liegende Abschirmung der Primärwicklung des Hilfsübertragers. 5.Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine geerdete, die ka- pazitive Kopplung zwischen Primär- und Sekundärwicklung des Hilfsübertragers verhindernde Abschirmung.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE210631X | 1938-07-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH210631A true CH210631A (de) | 1940-07-31 |
Family
ID=5798367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH210631D CH210631A (de) | 1938-07-06 | 1939-06-16 | Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH210631A (de) |
-
1939
- 1939-06-16 CH CH210631D patent/CH210631A/de unknown
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