CH210631A - Einrichtung zum Prüfen von Spannungswandlern. - Google Patents

Description

  Einrichtung zum Prüfen von     Spannungswandlern.       Es     sind        Einrichtungen    zum Prüfen von       Spannungswandlern        bekannt,    bei denen der  Phasenwinkel und die Abweichung der Se  kundärspannung vom Sollwert     mittels    einer  Kompensationsmesseinrichtung gemessen wird.

    Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrich  tung zum     Prüfen    von     Spannungswandlern     mit einem an die     Prüfspannung    angeschlos  senen kapazitiven Spannungsteiler, der aus  einem Hochspannungskondensator und einem  Niederspannungskondensator zum Erzeugen  einer     Vergleichsspannung    besteht, die der  Sekundärspannung des zu prüfenden Span  nungswandlers über die     Primärwicklung     eines Hilfsübertragers entgegengeschaltet ist,  wobei die an sich bekannte     Kompensations-          messeinrichtung    an die Sekundärwicklung des  Hilfsübertragers angeschlossen ist.

   Die Ver  gleichsspannung und die zu     prüfende    Span  nung sind dabei in an sich bekannter Weise       gegeneinander    geschaltet, und zwar über die  Primärwicklung des Hilfsübertragers.    Gemäss der     Erfindung        ist    nun mit einer  der     Wicklungen    des Hilfsübertragers eine  Induktivität in Reihe geschaltet. Es hat sich  nämlich gezeigt, dass dadurch die     Messemp-          findlichkeit    erheblich gesteigert wird.

   Vor  zugsweise wird     mit    der     Primärwicklung    des  Hilfsübertragers eine Induktivität in Reihe  geschaltet, die so     bemessen    ist, dass die Ei  genfrequenz des aus der Induktivität und  dem     Niederspannungskondensator        bestehenden          greises    gleich der Frequenz der Prüfspan  nung ist, um eine möglichst grosse     Steigerung     der     Messempfindlichkeit    zu     .erreichen.     



  Ein Ausführungsbeispiel einer     Span-          nungswandler-Prüfei_nrichtung    gemäss der  Erfindung     ist    in der Zeichnung dargestellt,  wobei angenommen     ist,    dass es sich um die  Prüfung von einseitig geerdeten Hochspan  nungswandlern     handelt.    Dabei besteht der       Spannungsteiler    aus der Reihenschaltung  eines     Niederspannungskondensators    1 und  eines     Hochspannungskondensators    2     zwischen         Erde und     einer    gegen Erde Hochspannung  führenden Leitung 3. Parallel dazu liegt die.

         Primärwicklung    4 des, zu prüfenden Span  nungswandlers (Prüfling). Der eine Pol der  Sekundärwicklung 5 des Prüflings     ist    geerdet,  während der andere Pol über die Reihenschal  tung der Primärwicklung 6 eines Hilfsüber  tragers und einen induktiven Widerstand 7  an die durch den Kondensator 1 gegebene  Vergleichsspannung (Punkt 8) angeschaltet  ist. Der Primärwicklung 6 kann in an sich  bekannter Weise ein     Kondensator    parallel  geschaltet werden, um den induktiven Wider  stand der Wicklung mehr oder weniger aus  zugleichen. Die Sekundärwicklung 9 des Hilfs  übertragers liegt an einer an sich bekannten  Kompensationsmesseinrichtung 10, die ausser  dem in an sich bekannter Weise von der zu prü  fenden Spannung gespeist wird.

   Ein Messgerät  11, vorzugsweise ein Vibrationsgalvanometer.  dient dazu, auf Stromlosigkeit in der Sekun  därwicklung 9 abgleichen zu können. In an  sich bekannter Weise ergeben dann die an  der Kompensationsvorrichtung 10 bei     Strom-          losigkeit    abgelesenen Werte den Spannungs  und Winkelfehler des Prüflings.  



  Um eindeutige Verhältnisse zu erhalten,  hat es sich als notwendig herausgestellt, so  wohl den induktiven Widerstand als auch  den Hilfsübertrager gegen das Eindringen  von     elektromagnetischen    Störungen und ge  gen Kopplung mit andern Teilen der Schal  tung abzuschirmen. Der Hilfsübertrager ist  zu     diesem    Zweck mit zwei Schirmen 16 und  17 versehen, und zwar ist einmal die Primär  wicklung     mit    einem auf dem Potential der zu  prüfenden     Spannung    liegenden Schirm 16  versehen, während ein     zweiter    auf     Erdpoten-          tial    liegender Schirm 17 eine kapazitive  Kopplung zwischen Primär- und Sekundär  wicklung verhindert.

   Der induktive Wider  stand 7 ist von einem Schirm 18 umgeben.  der an das Potential der Vergleichsspannung  angeschlossen ist.  



  In vielen Fällen wird es erwünscht sein,       Prüflinge    für     verschiedene    Primärspannun  gen mit der gleichen Anordnung und bei  der gleichen     Hochspannung    zu prüfen. Für         diesen    Fall müssen entsprechende Vergleichs  spannungen zur Verfügung stehen, die man  durch Änderung des kapazitiven Verhält  nisses an dem Spannungsteiler herstellen  kann.

   In diesem Falle benutzt man vorzugs  weise einen zum wahlweisen Einschalten  verschiedener Niederspannungskondensatoren  in den die     Vergleichsspannung    erzeugenden  Teil des kapazitiven Spannungsteilers die  nenden     Schalter    und einen mit diesem zwang  läufig gekuppelten     Schalter    zum Einschal  ten der zugehörigen induktiven Widerstände.  



  Selbstverständlich kann man den induk  tiven Widerstand auch in dem Sekundärkreis  des Hilfsübertragers anordnen, wobei der  Widerstand unter Berücksichtigung des  Übersetzungsverhältnisses des Hilfsübertra  gers entsprechend bemessen werden muss.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH: Einrichtung zum Prüfen von Spannungs wandlern mit einem an die Prüfspannung angeschlossenen kapazitiven Spannungsteiler, der aus einem Hochspannungskondensator und einem Niederspannungskondensator zum Erzeugen einer Vergleichsspannung besteht, die der Sekundärspannung des zu prüfenden Spannungswandlers über die Primärwicklung eines Hilfsübertragers entgegengeschaltet ist, und einer an die Sekundärwicklung des Hilfsübertragers angeschlossenen Kompensa- tionsmesseinrichtung, dadurch gekennzeich net,

   dass zwecks Erhöhung der Messempfind- lichkeit mit einer der Wicklungen des Hilfs übertragers eine Induktivität in Reihe ge schaltet ist. <B>UNTERANSPRÜCHE:</B> 1. Einrichtung nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet"dass mit der Primär wicklung des Hilfsübertragers eine Induk- tivität in Reihe geschaltet ist, die so be messen ist, dass die Eigenfrequenz des aus der Induktivität und dem Niederspan nungskondensator bestehenden Kreises gleich der Frequenz der Prüfungsspan nung ist.

   2. Einrichtung nach Patentanspruch mit einer Einrichtung zum wahlweisen Erzeu gen verschiedener Vergleichsspannungen, gekennzeichnet durch einen zum wahl weisen Einschalten verschiedener Konden satoren in den die Vergleichsspannung er zeugenden Teil des kapazitiven Spannungs- teilers dienenden Schalter und einen mit diesem zwangläufig gekuppelten Schalter zum Einschalten der zugehörigen induk tiven Widerstände.

   3. Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine auf dem Potential der Normalspannung liegende Abschir mung der Induktivität. 4. Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine auf dem zu prü fenden Potential liegende Abschirmung der Primärwicklung des Hilfsübertragers. 5.

   Einrichtung nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine geerdete, die ka- pazitive Kopplung zwischen Primär- und Sekundärwicklung des Hilfsübertragers verhindernde Abschirmung.