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Technisches
Gebiet
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Die vorliegende Erfindung betrifft
eine integrierte Halbleiterschaltung, und insbesondere eine Ausgabeschaltung
unter Verwendung eines MOS-Transistors.
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Stand der Technik
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Eine herkömmliche Ausgabeschaltung für eine integrierte
Halbleiterschaltung ist in 8 gezeigt.
Diese herkömmliche
Ausgabeschaltung wird nachfolgend unter Verwendung der 8 beschrieben.
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Die herkömmliche Ausgabeschaltung besteht
aus einem Signaleingangsanschluss 1, einem Freigabesignalanschluss 2,
einem Inverter 3, einer NAND-Schaltung 4 mit zwei
Eingängen,
einer NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen, einem PMOS-Transistor P1, einem
NMOS-Transistor N1, einem Leistungsversorgungsanschluss 6, dem ein Leistungsversorgungspotential
von 3 V zugeführt wird,
einem Erdungsanschluss 7, dem ein Erdungspotential zugeführt wird,
und einem Ausgangsanschluss 8.
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Der Signaleingangsanschluss 1 ist
an einen Eingangsanschluss von jeweils der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
und der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen. Der Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 ist
an den anderen Eingangsanschluss der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
und den Eingangsanschluss der Inverterschaltung 3 angeschlossen.
Der Ausgangsanschluss der Inverterschaltung 3 ist an den
anderen Eingangsanschluss der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen.
Der Ausgangsanschluss der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ist
an die Gateelektrode des PMOS-Transistors
P1 angeschlossen, während
der Ausgangsanschluss der NOR-Schaltung
an die Gate-elektrode des NMOS-Transistors N1 angeschlossen ist.
Der PMOS-Transistor P1 ist zwischen dem Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) und dem Ausgangsanschluss 8 angeschlossen. Die N-Wanne
im Substrat des PMOS-Transistors
P1 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 von 3 V angeschlossen.
Der NMOS-Transistor N1 ist zwischen dem Erdungsanschluss 7 und
dem Ausgangsanschluss 8 angeschlossen, während das
Substrat des NMOS-Transistors
N1 (P-Wanne) an den Erdungsanschluss 7 angeschlossen ist.
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Nun wird der Betrieb dieser Schaltung
beschrieben. Zuerst wird dann, wenn ein "L"-Pegelsignal (0 V)
zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei
Eingängen
ein "H"-Pegel, und die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
wird ein "L"-Pegel. Demgemäß werden der PMOS-Transistor
P1 und der NMOS-Transistor N1 ausgeschaltet. Als Ergebnis davon
ist der Ausgangsanschluss 8 völlig ohne Bezug auf ein Eingangssignal
zum Signaleingangsanschluss 1 in einem schwebenden Zustand.
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Als nächstes wird dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, wenn ein "L"-Pegelsignal zum Signaleingangsanschluss 1 eingegeben
wird, der PMOS-Transistor
P1 ausgeschaltet, und der NMOS-Transistor N1 wird eingeschaltet.
Als Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "L"-Pegelsignal aus. Andererseits wird
dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum
Signaleingangsanschluss 1 eingegeben wird, der PMOS-Transistor
P1 eingeschaltet, und der NMOS-Transistor N1 wird ausgeschaltet. Als
Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "H"-Pegelsignal aus.
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Jedoch gibt es bei der herkömmlichen
Ausgabeschaltung, wie beispielsweise derjenigen in 8, wenn der Ausgangsanschluss 8 an
ein externes Element mit einer Leistungsversorgungsspannung, die
höher als
3 V ist, wie beispielsweise einen Bus etc., der Signale von 5 V
zuführt,
angeschlossen ist, Umstände,
bei welchen die Spannung von 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt
werden kann, während
der Ausgangsanschluss 8 im schwebenden Zustand ist. Wenn eine Spannung
von 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt wird, wird
der Drainanschluss (P aktiv) des PMOS-Transistors P1 5 V. Weil das
Substrat (N-Wanne)
dieses PMOS-Transistors P1 an den Leistungsversorgungsanschluss 6 von
3 V angeschlossen ist, wird die Diode über dem Drainanschluss (P aktiv)
und dem Substrat (N-Wanne) in Vorwärtsrichtung vorgespannt, und
somit fließt ein
Strom in dieser Diode über
dem Drainanschluss und dem Substrat. Dies bedeutet, dass dann, wenn aufgrund
des Einflusses des Busses etc. mit einem zu ihm zugeführten Signal
von 5 V eine Spannung von 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt
wird, es eine Möglichkeit
eines Leckstroms einer Anzahl von mA gibt, der in dem Pfad von dem
Bus, dem ein Signal von 5 V zugeführt wird, zum Ausgangsanschluss
8, zum Drainanschluss des PMOS-Transistors P1, zum Substrat des
PMOS-Transistors P1, zum Leistungsversorgungsanschluss 6 der
Ausgangsschaltung fließt.
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Im US-Patent 5,381,062 ist eine integrierte Schaltung
offenbart, die einen ersten Feldeffekttransistor aufweist, der einen
Sourceanschluss hat, der an einen ersten Knoten angeschlossen ist,
und einen Gateanschluss, der an einen zweiten Knoten angeschlossen
ist, und einen zweiten Feldeffekttransistor zum Schützen des
ersten Transistors vor an den ersten Knoten angelegten Spannungen,
die größer als eine
vorbestimmte nominale Spannung sind. Der zweite Transistor enthält einen
Drainanschluss, der an den zweiten Knoten angeschlossen ist, einen Sourceanschluss,
der an den ersten Knoten angeschlossen ist, und einen Gateanschluss,
der an einen dritten Knoten angeschlossen ist. Eine Konstantspannungsquelle
ist mit dem dritten Knoten gekoppelt und führt eine Gatespannung zu dem
Gateanschluss des zweiten Transistors zu, so dass ein Drain-Source-Pfad
des zweiten Transistors nicht leitet, während eine an den ersten Knoten
angelegte Spannung allgemein kleiner als die Gatespannung plus einer
Schwellenspannung des zweiten Transistors ist. Die Konstantspannungsquelle
weist einen dritten Feldeftekttransistor auf, der einen Drainanschluss
und einen Gateanschluss hat, die an den dritten Knoten angeschlossen
sind, und einen Sourceanschluss, der mit einer ersten Leistungsversorgungsspannung
gekoppelt ist, so dass die Gatespannung im Wesentlichen gleich der
ersten Leistungsversorgungsspannung minus einer Schwellenspannung
des dritten Transistors ist.
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Zusammenfassung
der Erfindung
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Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Ausgabeschaltung unter Verwendung von MOS-Transistoren zu schaffen,
die wenigstens die zuvor angegebenen Nachteile des Standes der Technik
reduziert.
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Gemäß einem Aspekt der vorliegenden
Erfindung ist eine Ausgabeschaltung geschaffen, wie sie in einem
der unabhängigen
Ansprüche
1 oder 5 definiert ist.
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Gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung weist eine Ausgabeschaltung einen ersten
NMOS-Transistor auf, der einen Gateanschluss hat, der an einen ersten
Knoten angeschlossen ist, einen Anschluss, der an einen ersten Leistungsversorgungsanschluss
angeschlossen ist, der ein erstes Potential hat, und einen weiteren
Anschluss, der an einen zweiten Knoten angeschlossen ist; einen
zweiten MOS-Transistor, der innerhalb einer Wanne in schwebendem
Zustand ausgebildet ist und der einen Gateanschluss hat, der an
den ersten Knoten angeschlossen ist, einen Anschluss, der an den
zweiten Knoten angeschlossen ist, und einen weiteren Anschluss,
der an einen Ausgangsanschluss angeschlossen ist; und einen dritten MOS-Transistor,
der innerhalb der Wanne in schwebendem Zustand ausgebildet ist und
der einen Gateanschluss hat, der an den ersten Leistungsversorgungsanschluss
angeschlossen ist, der das erste Potential hat, einen Anschluss,
der an den ersten Knoten angeschlossen ist, und einen weiteren Anschluss,
der an den Ausgangsanschluss angeschlossen ist.
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Als Ergebnis der oben beschriebenen
Konfiguration steigt dann, wenn eine Spannung von einer externen
Schaltung etc. (beispielsweise 5 V), die höher als eine Leistungsversorgungsanschluss-Spannung
(beispielsweise 3 V) ist, zum Ausgangsanschluss eingegeben wird,
eine Wanne im schwebenden Zustand auf etwa das hohe Potential an,
das von der externen Schaltung etc. eingegeben wird. Als Ergebnis
wird ein zweiter Transistor, der innerhalb der Wanne ausgebildet
ist, ausgeschaltet, und wird die hohe Spannung, die von der externen
Vorrichtung eingegeben wird, nicht an den ersten Transistor angelegt.
Ebenso ist die Wanne im schwebenden Zustand bei dem Substrat des
zweiten Transistors nicht selbst an den Leistungsversorgungsanschluss
angeschlossen, und somit ist es möglich, den Fluss eines Leckstroms
vom Ausgangsanschluss zum Leistungsversorgungsanschluss zu verhindern.
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Kurze Beschreibung
der Zeichnungen
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1 ist
ein Schaltungsdiagramm, das ein erstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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2 ist
ein Schaltungsdiagramm, das ein zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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3 ist
ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der zum Ausgangsanschluss 8 zugeführten Spannung
und dem Leckstrom beim ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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4 ist
ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der zum Signaleingangsanschluss
zugeführten
Spannung und der Spannung jedes Abschnitts beim ersten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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5 ist
ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der zum Ausgangsanschluss 8 zugeführten Spannung
und dem Leckstrom beim zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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6 ist
ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der zum Signaleingangsanschluss
zugeführten
Spannung und der Spannung jedes Abschnitts beim zweiten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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7 ist
ein Schaltungsdiagramm, das ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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8 ist
ein Schaltungsdiagramm, das eine herkömmliche Ausgabeschaltung zeigt.
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Beste Art
zum Ausführen
der Erfindung
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1 zeigt
eine Ausgabeschaltung eines ersten Ausführungsbeispiels der vorliegenden
Erfindung. Teilen, die dieselben wie in 8 sind, sind dieselben Bezugszeichen
zugeteilt. Nachfolgend wird nun die Ausgabeschaltung der vorliegenden
Erfindung beschrieben.
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Der Signaleingangsanschluss 1 ist
jeweils an einen Eingangsanschluss der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen und
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen, während der
Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 an den anderen Eingangsanschluss
der NAND-Schaltung 5 mit zwei Eingängen und den Eingangsanschluss
der Inverterschaltung 3 angeschlossen ist. Der Ausgang
der Inverterschaltung 3 ist an den anderen Eingangsanschluss
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen. Der Ausgangsanschluss
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ist an die Gateelektrode
des PMOS-Transistors P1 und den Sourceanschluss des NMOS-Transistors
N11 angeschlossen. Der Sourceanschluss des PMOS-Transistors P1 ist
an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen,
während
der Drainanschluss des PMOS-Transistors P1 an den Sourceanschluss des
PMOS-Transistors P12 und den Sourceanschluss des PMOS-Transistors
P13 angeschlossen ist. Die Gateelektrode eines NMOS-Transistors N11 ist
an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen,
während
der Drainanschluss des NMOS-Transistors N11 an die Gateelektroden
eines PMOS-Transistors P12 und eines PMOS-Transistors P13 und den
Sourceanschluss eines PMOS-Transistors P14 angeschlossen ist. Der
Drainanschluss des PMOS-Transistors F12 ist an eine N-Wanne B1 im Substrat
des PMOS-Transistors P12, des PMOS-Transistors P13 und des PMOS-Transistors P14 angeschlossen.
Diese N-Wanne B1 im Substrat des PMOS-Transistors P12, des PMOS-Transistors P13
und des PMOS-Transistors P14 ist nicht an den Leistungsversorgungsanschluss
6 (3 V) angeschlossen, und die Gesamtheit der Wanne ist in einem schwebenden
Zustand. Anders ausgedrückt
sind die PMOS-Transistoren P12, P13 und P14 Transistoren, die innerhalb
der N-Wanne B1 in
einem schwebenden Zustand ausgebildet sind. Der Drainanschluss des
PMOS-Transistors P13 und der Drainanschluss des PMOS-Transistors
P14 sind an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen. Die
Gateelektrode des PMOS-Transistors
P14 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen.
Der Ausgangsanschluss der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen ist
an die Gateelektrode des NMOS-Transistors N1 angeschlossen, wobei
der Sourceanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Erdungsanschluss 7 angeschlossen
ist, während
der Drainanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Sourceanschluss des
NMOS-Transistors N12 angeschlossen ist. Der Drainanschluss des NMOS-Transistors
N12 ist an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen, während die
Gateelektrode des NMOS-Transistors N12 an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) angeschlossen ist. Das Substrat des PMOS-Transistors P1 ist an
den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen.
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Nun wird der Schaltungsbetrieb beschrieben.
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Zuerst wird dann, wenn ein "L"-Pegelsignal (0 V) zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "H"-Pegel (3 V) und wird der PMOS-Transistor
P1 ausgeschaltet. Weil das "H"-Pegel-Eingangssignal über die
Inverterschaltung 3 auch zur NOR-Schaltung 5 mit zwei
Eingängen
eingegeben wird, wird die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
ein "L"-Pegel, was veranlasst,
dass der NMOS-Transistor N1 ausgeschaltet wird. Daher werden dann,
wenn das Eingangssignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 ein "L"-Pegel ist, der PMOS-Transistor P1 und
der NMOS-Transistor N1 beide zusammen ausgeschaltet, und der Ausgangsanschluss 8 ist
ohne Bezug auf ein Eingangssignal am Signaleingangsanschluss 1 in
einem schwebenden Zustand.
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In diesem Zustand werden dann, wenn
von einem externen Leistungsanschluss etc. 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt
werden (beispielsweise dann, wenn ein Bus, an welchen der Ausgangsanschluss 8 angeschlossen
ist, 5 V wird), Dioden über
dem Drainanschluss und dem Substrat des PMOS-Transistors P13 und
dem Drainanschluss und dem Substrat des PMOS-Transistors P14 in
Vorwärtsrichtung
vorgespannt. Demgemäß fließt ein Strom
von einem aktiven Bereich des Drainanschlusses P zu einer Substrat-N-Wanne
B1 und steigt das Potential der N-Wanne in schwebendem Zustand auf etwa
5 V an.
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Weil das Potential der N-Wanne auf
etwa 5 V ansteigt, ist das Substratpotential höher als das Gatepotential des
PMOS-Transistors P14 (3 V). Demgemäß wird der PMOS-Transistor
P14 eingeschaltet und bildet einen Kanal. Weil der PMOS-Transistor P14 eingeschaltet
wird, wird auch das Potential des Sourceanschlusses des PMOS-Transistors
P14 dasselbe wie die an den Ausgangsanschluss 8 angelegte
Spannung (5 V).
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Das Gatepotential des PMOS-Transistors P12
und des PMOS-Transistors 13, die an den Sourceanschluss
des PMOS-Transistors P14 angeschlossen sind, wird auch 5 V. Als
Ergebnis löschen die
PMOS-Transistoren P12 und P13 jede Differenz bzw. jeden Unterschied
zwischen dem Potential der N-Wanne B1 im Substrat und dem Gatepotential
aus. Dies bedeutet, dass die PMOS-Transistoren P12 und P13 ausgeschaltet
werden und keinen Kanal bilden.
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Weil die PMOS-Transistoren P12 und
P13 ausgeschaltet werden, werden die zum Ausgangsanschluss 8 zugeführten 5
V nicht zum PMOS-Transistor P1 transferiert. Es gibt daher keinen
Fluss eines Leckstroms durch das Substrat des PMOS-Transistors P1.
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Ebenso ist die N-Wanne B1 im Substrat
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 in einen schwebenden
Zustand und ist nicht in Verbindung mit dem Leistungsversorgungsanschluss von
3 V. Das bedeutet, dass es aufgrund der Dioden über dem Drainanschluss und
dem Substrat des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
keine Sorge über
einen Leckstrom gibt, der zum Leistungsversorgungsanschluss 6 fließt.
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Der NMOS-Transistor N11 existiert
auch zwischen dem Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14 und dem
Ausgang der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen. Wenn
der Ausgangsanschluss 8 schwebend ist, sind das Gatepotential
und das Sourcepotential des NMOS-Transistors N11 dieselben, weil
die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "H"-Pegel ist und der NMOS-Transistor N11 im
AUS-Zustand ist. Zum Ausgangsanschluss 8 zugeführte 5 V
werden daher nicht zum Ausgang der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen über den
NMOS-Transistor N14 zugeführt.
Das bedeutet, dass es keine Furcht vor einem Leckstrom gibt, der
durch Transistoren fließt,
die innerhalb der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
enthalten sind.
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Der obere Teil der 3 zeigt eine Spannungsschwankung der
N-Wanne im schwebenden Zustand und die Schwankung bzw. Variation
bezüglich
eines Potentials (S13), das zu den Gateelektroden des PMOS-Transistors
P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt wird, wenn die zum Ausgangsanschluss 8 zugeführte Spannung
(OUT) veranlasst wird, von 0 bis 5,5 V zu variieren. Der untere
Teil der 3 zeigt einen
elektrischen Strom, der von der Seite des Leistungsversorgungsanschlusses 6 (3
V) dieser Schaltung beobachtet wird, als IM1. Wie es oben beschrieben
worden ist, steigt dann, wenn 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt werden,
das Potential der N-Wanne im schwebenden Zustand auf etwa 5 V an.
Ebenso wird S13, welches zu den Gateelektroden des PMOS-Transistors
P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt wird, 5 V. Der Strom IM1,
der in der Schaltung fließt,
ist etwa 8 mA. Es wird verstanden werden, dass dies verglichen mit
der Zahl einer Anzahl von mA beim herkömmlichen Stand der Technik
klein ist.
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Als nächstes wird dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, wenn ein "L"-Pegelsignal zum Signaleingangsanschluss 1 als
Eingangssignal eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ein "H"-Pegel. Demgemäß wird der
PMOS-Transistor P1 ausgeschaltet. Weil die NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
auch eine "L"-Pegeleingabe zu
einem ihrer Eingangsanschlüsse
hat, ist die Ausgabe ein "H"-Pegel. Der NMOS-Transistor
N1 wird daher eingeschaltet. Als Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "L"-Pegelsignal aus.
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Wenn ein "H"-Pegelsignal
zum Signaleingangsanschluss 1 als Eingangssignal eingegeben wird,
wird die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "L"-Pegel und wird der PMOS-Transistor
P1 eingeschaltet. Die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen wird
ein "L"-Pegel und der NMOS-Transistor
N1 wird ausgeschaltet. Der NMOS-Transistor N11 wird auch ausgeschaltet,
was bedeutet, dass das "L"-Pegelsignal am Ausgang
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen zu den Gateelektroden
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt wird.
Weil es eine Diode über
dem Sourceanschluss und dem Substrat des PMOS-Transistors P12 und
des PMOS-Transistors P13 gibt, wird dann, wenn das Potential der
N-Wanne B1 des Substrats niedriger als 3 V ist, diese Diode in Vorwärtsrichtung
vorgespannt, und ein Strom fließt
in den Dioden über
dem Sourceanschluss und dem Substrat. Das Potential der N-Wanne
B1 im Substrat des PMOS-Transistors P12, des PMOS-Transistors P13
und des PMOS-Transistors
P14 steigt aufgrund dieses Stroms auf etwa 3 V an. Als Ergebnis
wird das Potential des Substrats relativ zum Gatepotential des PMOS-Transistors
P12 und des PMOS-Transistors P13 höher. Ein Kanal wird in dem
PMOS-Transistor P12 und in dem PMOS-Transistor P13 ausgebildet, und
sie werden EIN-geschaltet. Durch Einschalten des PMOS-Transistors
P12 wird das Potential der schwebenden N-Wanne B1 auf zuverlässige Weise veranlasst,
auf 3 V anzusteigen, mit dem Effekt, dass die Operation des PMOS-Transistors
P13 veranlasst wird, stabiler zu sein. Als Ergebnis der oben beschriebenen
Operation gibt der Ausgang 8 ein "H"-Pegel-(3 V)-Signal
aus.
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4 zeigt
das Potential des Ausgangsanschlusses 8 (OUT), das Gatepotential
des PMOS-Transistors P1 (S11), das Gatepotential des NMOS-Transistors
N1 (S12), das Gatepotential des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
(S13), und das Potential der N-Wanne B1 im schwebenden Zustand,
wenn das zu dem Signaleingangsanschluss 1 (IN) zugeführte Potential
veranlasst wird, von 0 bis 3 V (L zu H) zu variieren, wobei ein "H"-Pegel zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 eingegeben
wird. Wie es in dem Diagramm gezeigt ist, gibt der Ausgangsanschluss 8 mit
dem zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführten Signal IN auf einem "L"-Pegel ein "L"-Pegelsignal
als OUT aus und gibt der Ausgangsanschluss 8 mit IN auf
einem "H"-Pegel ein "H"-Pegelsignal als OUT aus.
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In dieser Schaltung wird dann, wenn
eine Spannung von 5 V an den Ausgangsanschluss 8 angelegt
wird, diese Spannung von 5 V direkt zu dem NMOS-Transistor N1 etc.
geführt,
und der NMOS-Transistor N12 funktioniert, um eine Beschädigung am
NMOS-Transistor N1 etc. zu verhindern.
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Gemäß der Ausgabeschaltung des
ersten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung werden für jedes zu den Eingangsanschlüssen zugeführtes Eingangssignal
dieselben Ausgangssignale vom Ausgangsanschluss 8 ausgegeben,
wie beim herkömmlichen
Stand der Technik. Andererseits werden dann, wenn ein Potential
(5 V), das höher
als das Potential des Leistungsversorgungsanschlusses 6 (3 V)
ist, von einer externen Schaltung etc. zum Ausgangsanschluss 8 eingegeben
wird, der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor P13 als Ergebnis
der Tatsache in den AUS-Zustand versetzt, dass das Potential der
Wanne B1 im schwebenden Zustand bei dem Substrat der PMOS-Transistoren
P12, P13 und P14 auf etwa 5 V ansteigt. Als Ergebnis wird dann,
wenn der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor P13 ausgeschaltet werden,
das Potential von 5 V an den PMOS-Transistor P1 angelegt, und es gibt
keinen Leckstrom, der vom Drainanschluss des PMOS-Transistors P1 über das
Substrat zum Leistungsversorgungsanschluss 6 fließt. Weiterhin
kann deshalb, weil die N-Wanne B1 im schwebenden Zustand beim Substrat
der PMOS-Transistoren P12, P13 und P14 selbst nicht an den Leistungsversorgungsanschluss 6 von
3 V angeschlossen ist, der Fluss eines Leckstroms vom Ausgangsanschluss 8
zum Leistungsversorgungsanschluss 6 verhindert werden.
Es ist auch möglich,
den Fluss eines Leckstroms über
die NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen zu verhindern, weil der
NMOS-Transistor N11 ausgeschaltet ist.
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2 ist
ein Schaltungsdiagramm, das eine Ausgabeschaltung eines zweiten
Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung zeigt. Teilen, die dieselben wie diejenigen
in 1 sind, sind dieselben
Bezugszeichen zugeteilt. Die Ausgabeschaltung des zweiten Ausführungsbeispiels
wird unter Verwendung der 2 beschrieben.
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Der Signaleingangsanschluss 1 ist
jeweils an einen Eingangsanschluss von jeder der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
und der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen, während der
Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 an den anderen Eingangsanschluss
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen und an den Eingangsanschluss
der Inverterschaltung 3 angeschlossen ist. Der Ausgang
der Inverterschaltung 3 ist an den anderen Eingangsanschluss
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen. Der Ausgangsanschluss
der NAND- Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ist an die Gateelektrode des PMOS-Transistors P1 und an den Sourceanschluss des
NMOS-Transistors N11 angeschlossen. Der Sourceanschluss des PMOS-Transistors
P1 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen,
während
der Drainanschluss des PMOS-Transistors
P1 an den Sourceanschluss des PMOS-Transistors P12 und an den Sourceanschluss des
PMOS-Transistors P13 angeschlossen ist. Die Gateelektrode des NMOS-Transistors
N11 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen,
während
der Drainanschluss des NMOS-Transistors N11 an die Gateelektroden
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 und an den
Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14 angeschlossen ist. Der
Drainanschluss des PMOS-Transistors P12 ist an die N-Wanne B1 bei dem
Substrat des PMOS-Transistors P12, des PMOS-Transistors P13, des
PMOS-Transistors
P14 und eines PMOS-Transistors P25 angeschlossen, und diese N-Wanne ist in einem
schwebenden Zustand, was genauso wie beim ersten Ausführungsbeispiel
ist. Das bedeutet, dass beim zweiten Ausführugsbeispiel der PMOS-Transistor
P12, der PMOS-Transistor P13, der PMOS-Transistor P14 und der PMOS-Transistor
P25 innerhalb der N-Wanne B1 im schwebenden Zustand ausgebildet
sind. Der Sourceanschluss des PMOS-Transistors P25 ist an diese
N-Wanne B1 im schwebenden
Zustand angeschlossen. Die Drainanschlüsse der PMOS-Transistoren P13,
P14 und P25 sind an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen.
Die Gateelektroden des PMOS-Transistors P14 und des PMOS-Transistors P25 sind
an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3 V) angeschlossen.
Der Ausgangsanschluss der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen ist
an die Gateelektrode des NMOS-Transistors N1 angeschlossen, während der
Sourceanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Endungsanschluss 7 angeschlossen
ist, und der Drainanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Sourceanschluss
des NMOS-Transistors N12 angeschlossen ist. Der Drainanschluss des NMOS-Transistors
N12 ist an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen, während die
Gateelektrode des NMOS-Transistors N12 an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) angeschlossen ist. Das Substrat des PMOS-Transistors P1 ist an
den Leistungsversorgungsanschluss 6 angeschlossen.
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Als nächstes wird der Betrieb dieser
Schaltung beschrieben.
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Zuerst wird dann, wenn ein "L"-Pegelsignal (0 V) zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 eingegeben
wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "H"-Pegel (3 V) und wird der PMOS-Transistor
P1 ausgeschaltet. Weil das "H"-Pegeleingangssignal über die
Inverterschaltung 3 auch zur NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
eingegeben wird, wird die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
ein "L"-Pegel und wird der NMOS-Transistor
N1 ausgeschaltet. Daher werden dann, wenn das Eingangssignal zum
Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 ein "L"-Pegel
ist, der PMOS-Transistor P1 und der NMOS-Transistor N1 beide zusammen
ausgeschaltet und ist der Ausgangsanschluss 8 ohne Bezug
auf ein Eingangssignal am Signaleingangsanschluss 1 in
einem schwebenden Zustand.
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In diesem Zustand wird dann, wenn
5 V an den Ausgangsanschluss 8 von einem externen Leistungsanschluss
etc. angelegt werden (beispielsweise dann, wenn ein Bus, an welchen
der Ausgangsanschluss 8 angeschlossen ist, 5 V wird), eine
Spannung in Vorwärtsrichtung
an Dioden über
dem Substrat und den Drainanschlüssen
des PMOS-Transistors P13, des PMOS-Transistors P14 und des PMOS-Transistors
P25 angelegt, und ein Strom fließt in diesen Dioden. Als Ergebnis
steigt das Potential der N-Wanne B1 im Substrat auf etwa 5 V an.
Als Ergebnis dessen, dass das Potential der N-Wanne B1 auf etwa
5 V angestiegen ist, ist deshalb, weil die Gatepotentiale des PMOS-Transistors
P14 und des PMOS-Transistors
P25 3 V sind, das Substratpotential relativ höher und werden der PMOS-Transistor P14
und der PMOS-Transistor P25 eingeschaltet. Weil der PMOS-Transistor
P14 eingeschaltet ist, erscheinen an den Ausgangsanschluss angelegte
5 V am Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14, und die Gateelektroden
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13, die an den
Sourceanschluss des PMOS-Transistors P12 angeschlossen sind, werden
5 V. Der PMOS-Transistor P25 wird auch eingeschaltet, was bedeutet,
dass das Potential der N-Wanne B1 5 V wird, und nicht etwa 5 V (5 – α) wie beim
ersten Ausführungsbeispiel,
und das Potential der N-Wanne B1 des Substrats und das Gatepotential
der PMOS-Transistoren P12 und P13 werden alle auf dasselbe Potential
eingestellt. Als Ergebnis werden der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor
P13 mit einem stabileren Betrieb als bei dem ersten Ausführungsbeispiel
eingeschaltet. Wenn der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor
P13 eingeschaltet werden, werden die zum Ausgangsanschluss 8 zugeführten 5
V zum PMOS-Transistor P1 transferiert, und es gibt keinen Leckstrom,
der durch das Substrat des PMOS-Transistors P1 fließt. Bei
diesem zweiten Ausführungsbeispiel
gibt es deshalb, weil die N-Wanne B1 im Substrat der PMOS-Transistoren
P12, P13 und P25 in einem schwebenden Zustand ist, gleich wie beim
ersten Ausführungsbeispiel
aufgrund der Dioden über den
Drainanschlüs sen
der PMOS-Transistoren P12, P13 und P25 und dem Substrat keine Sorge über einen
Leckstrom, der über
die N-Wanne B1 des Substrats zum Leistungsversorgungsanschluss 6 fließt.
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Der NMOS-Transistor N11 existiert
auch zwischen dem Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14 und dem
Ausgang der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen. Wenn
der Ausgangsanschluss 8 im schwebenden Zustand ist, sind das Gatepotential und
das Sourcepotential des NMOS-Transistors N11 dieselben, weil die
Ausgabe der NAND-Schaltung 5 auf einem "H"-Pegel
ist und der NMOS-Transistor N11
ausgeschaltet ist. Zum Ausgangsanschluss 8 zugeführte 5 V
werden daher nicht zum Ausgangsanschluss der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen über den
NMOS-Transistor N14 zugeführt.
Das bedeutet, dass es keine Furcht vor einem Leckstrom gibt, der über Transistoren
fließt,
die innerhalb der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen enthalten sind.
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Der obere Teil der 5 zeigt eine Spannungsvariation der N-Wanne
im schwebenden Zustand und die Variation bezüglich eines Potentials (S23),
das zu den Gateelektroden des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors
P13 zugeführt
wird, wenn die zum Ausgangsanschluss 8 zugeführte Spannung
(OUT) veranlasst wird, von 0 bis 5,5 V zu variieren. Der untere
Teil der 5 zeigt einen elektrischen
Strom, der von der Seite des Leistungsversorgungsanschlusses (3V)
dieser Schaltung beobachtet wird, als IM2. Wie es oben beschrieben
worden ist, steigt dann, wenn 5 V zum Ausgangsanschluss 8 hinzugefügt werden,
das Potential der N-Wanne im schwebenden Zustand auf 5 V an. Ebenso
wird dieselbe Spannung von 5 V zu den Gateelektroden des PMOS-Transistors
P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt. Als Ergebnis ist der Betrieb
der Schaltung, bei welcher die zum Substrat und zum Gateanschluss
zugeführten
Potentiale perfekt übereinstimmen,
stabiler, und ein Strom IM2, der in der Schaltung fließt, ist
etwa 3 mA, was, wie es verstanden werden wird, noch kleiner als
beim ersten Ausführungsbeispiel
ist.
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Als nächstes wird dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, wenn ein "L"-Pegelsignal zum Signaleingangsanschluss 1 als
Eingangssignal eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ein "H"-Pegel und wird der
PMOS-Transistor P1 ausgeschaltet. Weil die NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
auch eine "L"-Pegeleingabe zu
einem ihrer Eingangsanschlüsse
hat, ist die Ausgabe ein "H"-Pegel und wird der
NMOS-Transistor N1 eingeschaltet. Als Ergebnis davon gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "L"-Pegel-(0 V)-Signal aus.
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Wenn ein "H"-Pegel
zum Signaleingangsanschluss 1 als Eingangssignal eingegeben
wird, wird die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "L"-Pegel und wird der PMOS-Transistor
P1 eingeschaltet. Die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen wird
ein "L"-Pegel und der NMOS-Transistor
N1 wird ausgeschaltet. Ebenso wird deshalb, weil der NMOS-Transistor
N11 eingeschaltet wird, der "L"-Pegel am Ausgang
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen zu den Gateelektroden
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt. Aufgrund
der Dioden über
den Sourceanschlüssen
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 steigt das
Potential der N-Wanne
B1 im Substrat der PMOS-Transistoren P12, p13 und P14 auf etwa 3
V an, was bedeutet, dass das Potential eines Potentials des Substrats
relativ höher
als beim PMOS-Transistor P12 und beim PMOS-Transistor P13 ist, und
der PMOS-Transistor
P12 und der PMOS-Transistor P13 werden beide EIN-geschaltet. Als
Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "H"-Pegel-(3 V)-Signal aus.
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6 zeigt
das Potential des Ausgangsanschlusses 8 (OUT), das Gatepotential
des PMOS-Transistors P1 (S21), das Gatepotential des NMOS-Transistors
N1 (S22), das Gatepotential des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
(S23), und das Potential der N-Wanne B1 im schwebenden Zustand,
wenn das zum Signaleingangsanschluss 1 (IN) zugeführte Potential
veranlasst wird, sich von 0 zu 3 V (L zu H) zu ändern, wobei ein "H"-Pegel zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 eingegeben
wird. Wie es in dem Diagramm gezeigt ist, gibt der Ausgangsanschluss 8 mit
dem zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführten Signal IN auf einem "L"-Pegel ein "L"-Pegelsignal
als OUT aus und gibt der Ausgangsanschluss 8 mit IN auf
einem "H"-Pegel ein "H"-Pegelsignal als OUT aus.
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Gemäß der Ausgabeschaltung des
zweiten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung werden für jedes zu den Signaleingangsanschlüssen zugeführtes Eingangssignal
dieselben Ausgangssignale vom Ausgangsanschluss 8 ausgegeben,
wie beim herkömmlichen
Stand der Technik. Ebenso steigt selbst dann, wenn ein Potential
(5 V), das höher
als das Potential des Leistungsversorgungsanschlusses 6 ist,
zum Ausgangsanschluss 8 von einer externen Schaltung etc.
eingegeben wird, die N-Wanne B1 bei dem Substrat des PMOS-Transistors
P12 und des PMOS-Transistors P13 auf 5 V an, was dasselbe Potential
wie das Gatepotential des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
ist, und zwar aufgrund der Funktion des PMOS-Transistors P25. Deshalb
wird ein Betrieb des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
stabiler als beim ersten Ausführungsbeispiel ausgeführt, und
der Fluss eines Leckstroms vom Ausgangsanschluss 8 zum Leistungsversorgungsanschluss 6 kann
verhindert werden. Ebenso gibt es aufgrund des NMOS-Transistors
N11 keine Furcht vor einem Leckstrom, der durch die NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
fließt.
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7 ist
ein Schaltungsdiagramm, das eine Ausgabeschaltung eines dritten
Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung zeigt. Teilen, die dieselben wie diejenigen
in 1 und in 2 sind, sind dieselben Bezugszeichen
zugeteilt. Die Ausgabeschaltung der vorliegenden Erfindung wird
unter Verwendung der 7 beschrieben.
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Der Signaleingangsanschluss 1 ist
jeweils an einen Eingang von jeder der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen und
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen und an die Gateelektrode
eines NMOS-Transistors N75 angeschlossen, während der Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 an
den anderen Eingangsanschluss der NAND-Schaltung 4 mit zwei
Eingängen,
den Eingangsanschluss der Inverterschaltung und die Gateelektrode
eines NMOS-Transistors N76 angeschlossen ist. Der Ausgangsanschluss
der Inverterschaltung 3 ist mit dem anderen Eingangsanschluss
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen angeschlossen. Der Ausgangsanschluss
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ist an die Gateelektrode
des PMOS-Transistors P1 und an den Sourceanschluss des NMOS-Transistors N11 angeschlossen.
Der Sourceanschluss des PMOS-Transistors P1 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) angeschlossen, und der Drainanschluss des PMOS-Transistors P1
ist an den Sourceanschluss des PMOS-Transistors P12 und den Sourceanschluss
des PMOS-Transistors P13 angeschlossen. Der Drainanschluss des NMOS-Transistors
N11 ist an die Gateelektroden des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13
angeschlossen, sowie an den Sourceanschluss des PMOS-Transistors
P14 und an den Drainanschluss des NMOS-Transistors N74. Der Sourceanschluss
des NMOS-Transistors
N74 ist an den Drainanschluss des NMOS-Transistors N75 angeschlossen.
Der Sourceanschluss des NMOS-Transistors N75 ist an den Drainanschluss
des NMOS-Transistors N76 angeschlossen, und der Sourceanschluss des
NMOS-Transistors N76 ist an den Erdungsanschluss 7 angeschlossen.
Der Drainanschluss des PMOS-Transistors P12 ist an die N-Wanne im schwebenden Zustand
beim Substrat der PMOS-Transistoren P12, P13 und P14 angeschlossen,
während
der Drainanschluss des PMOS-Transistors P13 und der Drainanschluss
des PMOS-Transistors P14 an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen
sind. Die Gateelektrode des PMOS-Transistors P14 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) angeschlossen. Der Ausgangsanschluss der NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
ist an die Gateelektrode des NMOS-Transistors N1 angeschlossen,
während
der Sourceanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Endungsanschluss 7 angeschlossen
ist und der Drainanschluss des NMOS-Transistors N1 an den Sourceanschluss
des NMOS-Transistors N12 angeschlossen ist. Der Drainanschluss des
NMOS-Transistors N12 ist an den Ausgangsanschluss 8 angeschlossen
und der Gateanschluss des NMOS-Transistors N12 ist an den Leistungsversorgungsanschluss 6 (3
V) angeschlossen. Das Substrat des PMOS-Transistors P1 ist an den
Leistungsversorgungsanschluss 6 angeschlossen.
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Als nächstes wird der Betrieb der
Schaltung beschrieben.
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Zuerst wird dann, wenn ein "L"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als
Eingangssignal eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ein "H"-Pegel und wird der
PMOS-Transistor P1 ausgeschaltet. Weil das "H"-Pegeleingangssignal über die
Inverterschaltung 3 auch zur NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen eingegeben
wird, wird die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
ein "L"-Pegel und wird der
NMOS-Transistor N1 ausgeschaltet. Daher werden dann, wenn das Eingangssignal
zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 ein "L"-Pegel ist, der PMOS-Transistor P1 und
der NMOS-Transistor
N1 beide zusammen ausgeschaltet, und der Ausgangsanschluss 8 ist
ohne Bezug auf ein Eingangssignal am Signaleingangsanschluss 1 in
einem schwebenden Zustand.
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In diesem Zustand wird dann, wenn
5 V an den Ausgangsanschluss 8 von einem externen Leistungsanschluss
etc. angelegt werden (beispielsweise dann, wenn ein Bus, an welchen
der Ausgangsanschluss 8 angeschlossen ist, 5 V wird), eine
Spannung in Vorwärtsrichtung
an Dioden über
dem Substrat und den Drainanschlüssen
des PMOS-Transistors P13 und des PMOS-Transistors P14 angelegt, und
als Ergebnis eines Stroms, der in diesen Dioden fließt, steigt
das Potential der N-Wanne B1 im Substrat des PMOS-Transistors B13
und des PMOS-Transistors P14 auf etwa 5 V an. Als Ergebnis dessen, dass
das Potential der N-Wanne B1 auf etwa 5 V angestiegen ist, ist deshalb,
weil das Gatepotential des PMOS-Transistors P14 3 V ist, das Substratpotential relativ
höher,
und der PMOS-Transistor P14 wird eingeschaltet. Weil der PMOS-Transistor
P14 eingeschaltet wird, wird auch der Sourceanschluss des PMOS-Transistors
P14 zu der an den Ausgangsanschluss 8 angelegten Spannung
(5 V), und die Gatepotentiale des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors
P13, die an den Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14 angeschlossen sind, werden
auch 5 V. Wenn die Gatepotentiale des PMOS-Transistors P12 und des
PMOS-Transistors P13 5 V werden, werden der PMOS-Transistor P12 und
der PMOS-Transistor P13 ausgeschaltet. Deshalb werden die zum Ausgangsanschluss 8 zugeführten 5
V zu dem PMOS-Transistor P1 übertragen, und
es gibt keinen Fluss eines Leckstroms durch das Substrat von P1.
Ebenso gibt es deshalb, weil die N-Wanne B1 im Substrat des PMOS-Transistors P12 und
des PMOS-Transistors P13 in einem schwebenden Zustand ist, aufgrund
der Dioden über
den Drainanschlüssen
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 und dem Substrat
keine Sorge über
einen Leckstrom, der zu dem Leistungsversorgungsanschluss 6 fließt.
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Weiterhin werden bei dieser Schaltungskonstruktion
dann, wenn 5 V an den Sourceanschluss des PMOS-Transistors P14 angelegt
werden, d.h. an den Ausgangsanschluss, die NMOS-Transistoren N74,
N75 und N76 an den Abschnitt angeschlossen, der 5 V wird. Es gibt
eine Möglichkeit
eines Leckstroms vom Ausgangsanschluss 8 zum Endungsanschluss 7.
Jedoch dann, wenn das zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "L"-Pegel ist, ist der
NMOS-Transistor N76 immer im AUS-Zustand. Deshalb gibt es selbst
dann, wenn der NMOS-Transistor N75 durch das zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführte Signal,
das sich zu einem "H"-Pegel ändert, eingeschaltet
wird, solange das zu dem Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "L"-Pegel ist, keine
Möglichkeit
eines Leckstroms, der vom Ausgangsanschluss 8 zum Endungsanschluss 7 über den
Pfad fließt,
der aus den Transistoren P14, N74, N75 und N76 aufgebaut ist.
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Als nächstes wird dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben wird, wenn ein "L"-Pegelsignal zu dem Signaleingangsanschluss 1 als
Eingangssignal eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ein "H"-Pegel und wird der
PMOS-Transistor P1 ausgeschaltet. Weil die NOR-Schaltung 5 mit
zwei Eingängen
auch eine "L"-Pegeleingabe zu
einem ihrer Eingangsanschlüsse
hat, ist die Ausgabe ein "H"-Pegel und wird der
NMOS-Transistor N1 eingeschaltet. Als Ergebnis davon gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "L"-Pegelsignal aus.
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Als nächstes wird dann, wenn ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als Eingangssignal
eingegeben worden ist, wenn ein "L"-Pegel zum Signaleingangsanschluss 1 als
Eingangssignal eingegeben wird, die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
ein "H"-Pegel und wird der
PMOS-Transistor P1 ausgeschaltet. Weil ein "L"-Pegelsignal
zu einem der Eingangsanschlüsse
der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen eingegeben wird, wird
die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen ein "L"-Pegel und wird der NMOS-Transistor
N1 eingeschaltet. Als Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "L"-Pegelsignal aus.
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Wenn ein "H"-Pegel
zum Signaleingangsanschluss 1 als Eingangssignal eingegeben
wird, wird die Ausgabe der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen ein "L"-Pegel und wird der PMOS-Transistor
P1 eingeschaltet. Die Ausgabe der NOR-Schaltung 5 mit zwei Eingängen wird
ein "L"-Pegel und der NMOS-Transistor
N1 wird ausgeschaltet. Ebenso wird deshalb, weil der NMOS-Transistor
N11 eingeschaltet wird, der "L"-Pegel am Ausgang
der NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen zu den Gateelektroden
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 zugeführt. Aufgrund
der Dioden über
den Sourceanschlüssen
des PMOS-Transistors P12 und des PMOS-Transistors P13 steigt das
Potential der N-Wanne
im Substrat der PMOS-Transistoren P12, P13 und P14 auf etwa 3 V an,
was bedeutet, dass der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor
P13 eingeschaltet werden. Als Ergebnis gibt der Ausgangsanschluss 8 ein "H"-Pegel-(3 V)-Signal aus.
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Hier ist dann, wenn der Fall betrachtet
wird, bei welchem sich das zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführte Signal
von einem "L"-Pegel zu einem "H"-Pegel ändert, während ein "H"-Pegelsignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 als
Eingangssignal zugeführt
wird, der NMOS-Transistor N74 immer im Ein-Zustand und ändert sich das Gatepotential des
NMOS-Transistors N75 von einem "L"-Pegel zu einem "H"-Pegel in Reaktion auf die Änderung
beim Eingangssignal IN. Ebenso ist deshalb, weil das zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "H"-Pegel ist, der NMOS-Transistor
N76 eingeschaltet. Wenn sich das Gatepotential des NMOS-Transistors
N75 zu einem "H"-Pegel ändert, wird
der NMOS-Transistor N75 eingeschaltet, und weil der NMOS-Transistor
N74 und der NMOS-Transistor N75 beide eingeschaltet werden, ändert sich das
zum Gateanschluss des PMOS-Transistors P13 zugeführte Potential von einem "H"-Pegel
zu einem "L"-Pegel, aber nicht über die
NAND-Schaltung 4 mit zwei Eingängen und den NMOS-Transistor
N11. Das bedeutet, dass bei einem als Eingangssignal zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführten "H"-Pegelsignal
dann, wenn sich das zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführte Signal
von einem "L"-Pegel zu einem "H"-Pegel ändert, der Schaltbetrieb des
PMOS-Transistors P13 von einem AUS-Zustand zum EIN-Zustand schneller
als beim ersten und beim zweiten Ausführungsbeispiel ist.
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Gemäß der Ausgabeschaltung des
dritten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung werden für jedes zu den Eingangsanschlüssen zugeführte Eingangssignal
dieselben Ausgangssignale vom Ausgangsanschluss 8 ausgegeben,
wie beim herkömmlichen
Stand der Technik. Ebenso werden selbst dann, wenn ein Potential
(5 V), das höher
als das Potential des Leistungsversorgungsanschlusses 6 ist,
zum Ausgangsanschluss 8 von einer externen Schaltung etc.
eingegeben wird, der PMOS-Transistor P12 und der PMOS-Transistor
P13 als Ergebnis der Tatsache ausgeschaltet, dass das Potential
der N-Wanne B1 beim Substrat der PMOS-Transistoren P12, P13 und P14 auf etwa
5 V ansteigt, und der Fluss eines Leckstroms vom Ausgangsanschluss
8 zum Leistungsversorgungsanschluss 6 kann verhindert werden.
Es gibt auch aufgrund des NMOS-Transistors N11 keine Furcht vor
einem Leckstrom, der durch die NAND-Schaltung 4 fließt.
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Ebenso ändert sich dann, wenn sich
das zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführte Eingangssignal von einem "L"-Pegel zu einem "H"-Pegel ändert (d.h.
sich der Ausgangspegel von einem "L"-Pegel
zu einem "H"-Pegel ändert),
wobei das zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "H"-Pegel ist, das Potential,
das zum Gateanschluss des PMOS-Transistors P13 zugeführt wird,
von einem "H"-Pegel zu einem "L"-Pegel, ohne durch die NAND-Schaltung 4 mit
zwei Eingängen
und den NMOS-Transistor N11 zu laufen, was bedeutet, dass das Schalten
des PMOS-Transistors P13 vom AUS-Zustand zum EIN-Zustand schneller
ist, und die Änderung
bezüglich
eines Ausgangssignals ist auch schneller.
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Ebenso ist bei diesem Schaltungsaufbau dann,
wenn das zum Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "L"-Pegel ist, der NMOS-Transistor
N76 immer ausgeschaltet. Dies bedeutet, dass es selbst dann, wenn
sich das zum Signaleingangsanschluss 1 zugeführte Signal
zu einem "H"-Pegel ändert, unmöglich ist,
dass es dort irgendeinen Fluss eines Leckstroms von dem Ausgangsanschluss
8 zum Erdungsanschluss 7 gibt, solange das zu dem Freigabesignal-Eingangsanschluss 2 zugeführte Signal
ein "L"-Pegel ist.
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Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Endung sind nicht auf die Ausgabeschaltungen mit drei Zuständen beschränkt, die
in dieser Beschreibung beschrieben sind, und gleiche Effekte werden
dann erhalten werden, wenn sie auf eine normale Gegentakt-Ausgabeschaltung
angewendet wird. Weil die NMOS-Transistoren N11 und N12 in 1 und 2 und die NMOS-Transistoren N11, N12
und N74 in 7 vorgesehen
sind, um eine Beschädigung
an anderen Elementen durch das Anlegen einer Spannung von 5 V an
den Ausgangsanschluss 8 zu verhindern, gibt es keine Gefahr
dafür,
dass andere Komponenten durch eine Spannung von 5 V beschädigt werden,
und dann gibt es kein wirkliches Hindernis für den Effekt eines Reduzierens
eines Leckstroms, selbst wenn sie entfernt sind.
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Gebiet einer
industriellen Anwendung
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Wie es oben beschrieben ist, ist
die vorliegende Erfindung als Ausgabeschaltung für eine Halbleitervorrichtung
anwendbar, und insbesondere als Ausgabeschaltung in einem Schnittstellenabschnitt
von 5 V zu 3 V, etc.