DE69628372T2 - Verfahren zur Erzeugung einer feinen Struktur und Gerät mit feiner Struktur - Google Patents

Verfahren zur Erzeugung einer feinen Struktur und Gerät mit feiner Struktur Download PDF

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur, umfassend den Schritt des Strahlens eines Partikelstrahls örtlich auf eine Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, wodurch bewirkt wird, dass Atome eines bestimmten Elementes in der genannten Folie selektiv zur Außenseite der genannten Folie zurückprallen, so dass innerhalb der genannten Folie eine Zone in der Form eines Musters entsteht, in dem die Rate der Atome des genannten bestimmten Elementes geringer ist als in anderen Abschnitten der genannten Folie, sowie eine Mikrostrukturiervorrichtung mit einer Mikrostruktur, die mit Hilfe einer Folie gebildet wird, wobei innerhalb einer Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, eine Zone in der Form einer Mikrostruktur entsteht, in der die Rate der Atome eines spezifischen Elementes geringer ist als in anderen Abschnitten der genannten Folie.
  • Als Technologie zur Bildung einer Quantenfolie (eindimensionale Muldenstruktur) in einem Halbleiter wurde bereits ein Verfahren unter Anwendung von MBE (Molekularstrahlepitaxie) entwickelt.
  • Zur Bildung eines Quantendrahts (zweidimensionale Muldenstruktur) oder Quantenpunktes (dreidimensionale Muldenstruktur) wird jedoch eine zweidimensionale Mikrobearbeitungstechnik auf 10-nm-Niveau zusätzlich zu einer Folienbildungstechnik zum Bilden einer Quantenfolie benötigt. Es wurde jedoch bisher noch keine solche Technik entwickelt, die zuverlässig gewesen wäre. Spezifischer ausgedrückt, mit derzeit als zweidimensionales Mikrostrukturierverfahren etablierter Technologie kann nur eine Präzision von einigen Hundert nm gewährleistet werden. Somit kann eine solche Technologie nicht als Feinstrukturierverfahren zum Bilden einer zwei- oder dreidimensionalen Muldenstruktur wie oben erwähnt angewandt werden.
  • Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur, die den Schritt des Strahlens eines Partikelstrahls örtlich auf eine Atome von zwei oder mehr Elementen enthaltende Legierung oder Verbindung der oben erwähnten Art umfasst, sind z. B. in dem Artikel "AlF3- a new very high resolution electron beam resist", Applied Physics Letters, Bd. 45, Nr. 5, September 1984, in "Method for producing lithographic structures using high energy electrons", IBM Technical Disclosure Bulletin, Bd. 24, Nr. 3, August 1981, "Untersuchung von polykristallinen CAF2-Schichten als Elektronenstrahl-Resist", Journal of Information Recording Materials, Bd. 19, Nr. 1, Januar 1991, internationale Patentanmeldung WO94/11787 und europäische Patentanmeldung 0400651 beschrieben.
  • Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Massenproduktion, mit guter Regelbarkeit und guter Reproduzierbarkeit, einer Mikrostruktur auf 10-nm-Niveau mit einer Präzision in nm-Größenordnung wie z. B. Quantendraht (zweidimensionale Mikrostruktur) oder Quantenpunkt (dreidimensionale Mikrostruktur) sowie eine Vorrichtung mit einer solchen mit dem oben erwähnten Verfahren erzeugten Mikrostruktur bereitzustellen.
  • In einem ersten Aspekt stellt die Erfindung ein Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur bereit, das dadurch gekennzeichnet ist, dass der Partikelstrahl ein neutralen Atomstrahl ist, der durch eine Maske, in der zuvor eine vorbestimmte Struktur ausgebildet wurde, auf die genannte Folie gestrahlt wird. Die genannte Folie bildet vorzugsweise einen Abschnitt einer laminierten Struktur, in der die genannte Folie auf ihren beiden Seiten mit einer Schicht aus einer Substanz beschichtet wird, die sich von der die genannte Folie bildenden Substanz unterscheidet, und der genannte Partikelstrahl wird in einem solchen Winkel auf eine Endfläche der genannten laminierten Struktur gestrahlt, dass der genannte Bestrahlte Strahl die genannte Folie schneidet.
  • In einem weiteren Aspekt stellt die Erfindung eine Mikrostrukturiervorrichtung bereit, die dadurch gekennzeichnet ist, dass eine leitfähige Mikrostruktur auf der Innenseite einer Isolationsfolie aus einem Metalloxid gebildet wird.
  • In einem dritten Aspekt stellt die Erfindung eine Mikrostrukturiervorrichtung bereit, die dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Si-Mikrostruktur oder eine Si-reiche Mikrostruktur auf der Innenseite einer SiO2- Isolationsfolie gebildet wird.
  • In noch einem weiteren Aspekt stellt die Erfindung eine Mikrostrukturvorrichtung bereit, die dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Mikrostruktur aus einem metallischen Supraleiter auf der Innenseite einer Isolationsfolie aus einem Oxid eines metallischen Supraleiters gebildet wird.
  • Ausgestaltungen der Erfindung werden nachfolgend beispielhaft unter Bezugnahme auf die Begleitzeichnungen ausführlich beschrieben. Dabei zeigt:
  • 1 eine schematische Schnittansicht von Elementen, die einen Mikrostrukturierprozess gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung illustriert;
  • 2 ebenfalls eine schematische Schnittansicht von Elementen, die einen Mikrostrukturierprozess gemäß einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung illustriert; und
  • 3 eine schematische Schnittansicht von Elementen, die einen Mikrostrukturierprozess gemäß einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung illustriert.
  • In der nachfolgenden Beschreibung werden die Grundsätze des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Bildung einer Mikrostruktur erörtert.
  • Wenn beispielsweise ein schneller Partikelstrom oder ein fokussierter Ionenstrom auf eine Folie einer Substanz AB gestrahlt wird, die eine Verbindung einer Substanz A (mit Atomen A) und einer Substanz B (umfassend Atome B) ist und deren physikalische Eigenschaften sich von denen der Substanz A unterscheiden, dann kollidieren Strahlenpartikel mit Atomen A und B und bilden die Folie, wobei die Atome A oder B zurückprallen. Die zurückgeprallten Atome A oder B legen eine Entfernung zurück, die der Rückprallenergie entspricht. Wenn sich die Masse der Atome A und B voneinander unterscheidet, dann unterscheidet sich auch die Reichweite der Atome A und B voneinander. wenn z. B. die Masse der Atome B geringer ist, dann ist die Reichweite der Atome B größer als die der Atome A. Wenn die Reichweite der Atome B so groß ist, dass die Atome B durch die Folie passieren, und die Reichweite der Atome A so gering ist, dass die Atome A nicht durch die Folie passieren, dann werden die Atome B selektiv aus der Folie der Substanz AB ausgetrieben (Kickout-Effekt). So entsteht eine Zone, die reicher an Atomen A ist, nur in der Strahlungszone. Demgemäß wird in der Folie eine Mikrostruktur mit einer Zusammensetzung gebildet, die sich von der anderer Teile der Folie unterscheidet.
  • Wenn die Zahl der Atome B, die aufgrund des Partikelstrahls zurückprallen, allmählich erhöht wird, dann nähert sich die Zusammensetzung der Strahlungszone der der Substanz A. Somit ist es möglich, in der Folie AB eine Mikrostruktur aus einer Substanz zu bilden, die im Wesentlichen der Substanz A ähnlich ist.
  • Wenn andererseits eine laminierte Struktur gebildet wird, in der eine Folie aus einer Substanz AB, die der oben erwähnten Substanz AB ähnlich ist, von und zwischen Lagen einer anderen Substanz gehalten wird, und ein Partikelstrahl wird auf eine Endfläche der laminierten Struktur in einem solchen Winkel gestrahlt, dass der Partikelstrahl die Folie AB schneidet, dann entsteht eine Strahlungszone an einer Position, deren Tiefe von der oben erwähnten Endfläche durch die Reichweite des Partikelstrahls bestimmt wird. Die Zone, in der sich die bestrahlte Zone und die Folie AB schneiden, ist reich an Atomen A. Indem also die Energie des Partikelstrahls geregelt wird, kann leicht eine zweidimensionale Struktur auf 10-nm-Niveau mit guter Regelbarkeit und guter Reproduzierbarkeit entstehen.
  • Eine mit dem oben erwähnten erfindungsgemäßen Verfahren erhaltene Mikrostruktur hat eine Dicke, die im Wesentlichen gleich der Dicke der Folie ist. Wenn ein konvergenter Ionenstrahl verwendet und auf eine Stelle gestrahlt wird, dann wird die resultierende Mikrostruktur zu einem Punkt (Quantenpunkt) mit einer Größe ähnlich der Querschnittsgröße des Strahls. Wenn eine Folie von einem fokussierten Ionenstrahl abgetastet wird, dann wird die resultierende Mikrostruktur zu einer Linie (Quantendraht) mit einer Breite, die der Strahlengröße entspricht. Wenn eine Maske verwendet wird, dann hat die resultierende Mikrostruktur eine Dicke; die im Wesentlichen gleich der Dicke der Folie ist, und Form und Größe der Mikrostruktur entsprechen Form und Größe der Maskenstruktur.
  • Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur kann eine zwei- oder dreidimensionale Mikrostruktur mit einer Präzision in nm-Größenordnung mit guter Reproduzierbarkeit mit einem relativ einfachen Prozess gebildet werden, der im Hinblick auf seine Regelbarkeit ausgezeichnet ist, wie z. B. Strahlen eines Partikelstrahls durch eine Maske oder dergleichen, ohne dass die unnötigen Teile der Zielfolie entfernt werden, wie dies in der Fotolithografie des Standes der Technik mit der Bearbeitungstechnologie zum Bilden einer zweidimensionalen Mikrostruktur geschieht.
  • Wenn ein Verfahren angewendet wird, bei dem ein Partikelstrahl auf eine Endfläche einer laminierten Struktur gestrahlt wird, in der eine Zielfolie von und zwischen Lagen einer anderen Substanz gehalten wird, dann kann eine zwei- oder dreidimensionale Mikrostruktur in der gewünschten Zone der Folie gebildet werden, die nicht nach außen exponiert ist.
  • Eine Feinstrukturiervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung, die mit dem oben erwähnten Verfahren der vorliegenden Erfindung gebildet wird und die dadurch gekennzeichnet ist, dass auf der Innenseite einer Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, eine Zone in der Form einer Mikrostruktur entsteht, in der die Rate der Atome eines bestimmten Typs geringer ist als in anderen Teilen der Folie.
  • Ein spezifisches Beispiel für die erfindungsgemäße Feinstrukturiervorrichtung beinhaltet eine Struktur, in der ein Partikelstrahl auf eine Isolierfolie beispielsweise aus einem metallischen Oxid gestrahlt wird, so dass Sauerstoffatome selektiv ausgetrieben werden, so dass die Isolierfolie auf ihrer Innenseite mit einer leitfähigen Feinstruktur versehen wird.
  • Ein weiteres spezifisches Beispiel für die erfindungsgemäße Feinstrukturiervorrichtung beinhaltet eine Struktur, in der ein Partikelstrahl auf eine SiO2-Folie gestrahlt wird, um zu bewirken, dass Sauerstoffatome selektiv zurückprallen, so dass eine Vorrichtung entsteht, in der die SiO2-Folie auf ihrer Innenseite mit einer Si- oder Si-reichen Mikrostruktur versehen wird.
  • Noch ein weiteres spezifisches Beispiel für die erfindungsgemäße Feinstrukturiervorrichtung beinhaltet eine Struktur, in der ein Partikelstrahl auf eine Folie aus einem Oxid eines metallischen Supraleiters gestrahlt wird, so dass bewirkt wird, dass Sauerstoffatome selektiv ausgetrieben werden, so dass eine Vorrichtung entsteht, in der der Isolierfilm auf seiner Innenseite mit einer supraleitfähigen Mikrofolie versehen wird.
  • Ferner kann gemäß dem Verfahren der vorliegenden Erfindung ein Partikelstrahl auf eine Folie aus einer organischen Verbindung gestrahlt werden, so dass bewirkt wird, dass Atome eines spezifischen Elementes ausgetrieben werden, wodurch eine Mikrostruktur entsteht, in der die Rate der Atome des spezifischen Elementes geringer ist und die demzufolge eine Zusammensetzung besitzt, die sich von der der anderen Zone der Folie unterscheidet.
  • Ferner kann gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren ein Partikelstrahl auf eine Folie aus einer Legierung gestrahlt werden, wodurch bewirkt wird, dass Atome eines spezifischen Elementes in der Legierungszusammensetzung ausgetrieben werden, so dass eine Mikrostruktur mit einer Zusammensetzung entsteht, die sich von der der Legierung unterscheidet, oder die aus einem einzelnen Metall besteht.
  • (Beschreibung bevorzugter Ausgestaltungen der Erfindung)
  • In der folgenden Beschreibung werden bevorzugte Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf die Begleitzeichnungen erörtert.
  • Wie in der schematischen Schnittansicht von Elementen im Laufe einer Mikrostrukturausbildung in 1 dargestellt ist, wird auf der Oberfläche eines Substrats 1 eine Folie 2 gebildet, die eine Verbindung einer Substanz A (mit Atomen A) mit einer Substanz B (mit Atomen B) ist und die von einer Substanz AB gebildet wird, deren physikalischen Eigenschaften sich von denen der Substanz A unterscheiden. Die Folie 2 hat eine Dicke von etwa 10 nm. Die Atome der Substanz A haben eine größere Masse als die Atome der Substanz B, und die Massendifferenz ist vorzugsweise groß. Bei einem Beispiel für eine solche Kombination umfasst die Substanz A Metall- oder Halbleiteratome, und die Substanz B ist beispielsweise Sauerstoff, Stickstoff, Wasserstoff oder dergleichen, deren physikalischen Eigenschaften eine große Änderung erfahren, wenn sie auf die Substanz A gebondet werden, und deren Masse sich erheblich von der der Substanz A unterscheidet.
  • Ein fokussierter Ionenstrahl (z. B. metallischer fokussierter Ionenstrahl oder gasförmiger fokussierter Ionenstrahl) 3 mit einer Energie von etwa mehreren keV bis zu mehreren Dutzend keV, wird auf die durch die oben erwähnte Substanz AB gebildete Folie 2 gestrahlt. Den fokussierten Ionenstrahl 3 bildende Ionen kollidieren mit Atomen A und B, die die Folie 2 bilden, wodurch bewirkt wird, dass die Atome A und B zurückprallen. Die Reichweiten der Atome A und B zu dem Zeitpunkt, an dem die Atome A und B zurückgeprallt sind, unterscheiden sich aufgrund der Massendifferenz dazwischen voneinander, und die Reichweite der Atome B ist größer als die Reichweite der Atome A. Somit werden die Atome B selektiv aus einer Zone 4 der Folie 2 ausgetrieben, auf die der fokussierte Ionenstrahl 3 gerichtet ist. Die Folge ist, dass die physikalischen Eigenschaften der Strahlungszone 4 mit den physikalischen Eigenschaften der Substanz A identisch oder diesen ähnlich sind. Durch geeignetes Abtasten der Folie 2 mit dem fokussierten Ionenstrahl 3 kann dann auf der Innenseite der Folie 2 eine optionale Mikrostruktur gebildet werden, die den Abschnitten entspricht, auf die der fokussierte Ionenstrahl 3 gerichtet wurde. Was die Abmessungen der so gebildeten Struktur betrifft, so ist die Dicke gleich der der Folie 2, und die Größen in anderen Richtungen und die Präzision werden auf der Basis der Querschnittsgröße und Präzision des fokussierten Ionenstrahls 3 bestimmt.
  • Wenigstens ein Teil der den fokussierten Ionenstrahl 3 bildenden Ionen wird in die Folie 2 injiziert. Wenn jedoch als Strahlenquelle die Substanz A in ihrer natürlichen Form oder ein Element verwendet wird, das die physikalischen Eigenschaften der Substanz A nicht beschädigt, dann kann der Einfluss von Ionen des in die Folie 2 injizierten fokussierten Ionenstrahls 3 begrenzt werden.
  • In der oben erwähnten Ausgestaltung können die Dicke der Folie 2 und die Querschnittsgröße des fokussierten Ionenstrahls 3 leicht mit einer Präzision in nm-Größenordnung geregelt werden. Somit ist es gemäß dieser Ausgestaltung möglich, eine Reihe verschiedener Vorrichtungen z. B. mit Hilfe eines Quanteneffekts zu erzeugen, in denen die Folie 2 auf ihrer Innenseite mit einer Mikrostruktur mit einer Präzision in nm-Größenordnung erzeugt wird, deren physikalischen Eigenschaften sich von denen anderer Abschnitte der Folie 2 unterscheiden.
  • 2 ist eine schematische Schnittansicht von Elementen im Laufe einer Strukturausbildung gemäß einer anderen Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung, in der ein nicht fokussierter schneller Partikelstrahl 5 verwendet wird.
  • In dieser Ausgestaltung wird auf der Oberfläche eines Substrats 1 eine Folie 2 von einer Substanz AB gebildet, die eine Verbindung der Substanzen A und B ist, ebenso wie in der Ausgestaltung von 1. Dann wird eine Maske 6 mit der gewünschten Struktur auf der Oberfläche der Folie 2 angeordnet, und der nicht fokussierte schnelle Partikelstrahl 5 wird durch die Maske 6 auf die Folie 2 gerichtet. Nach dem Passieren der Maske 6 kollidieren die schnellen Partikel mit den die Folie 2 bildenden Atomen A und B. Wie in der Ausgestaltung von 1 prallen die Atome B mit geringerer Masse selektiv zur Außenseite der Folie 2 zurück. Infolgedessen entsteht auf der Innenseite der von der Substanz AB gebildeten Folie 2 eine Zone 7 mit physikalischen Eigenschaften, die mit denen der Substanz A identisch oder diesen ähnlich sind.
  • In Zone 7 von 2 ist die Dicke gleich der der Folie 2, und andere Größen und Präzisionen werden mit den Strukturgrößen und der Präzision der Maske 6 bestimmt.
  • 3 ist eine schematische Schnittansicht von Elementen im Laufe einer Strukturierung gemäß einer weiteren Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung, in der eine Mikrostruktur in einer Folie in einem Abschnitt gebildet werden soll, die nicht zur Außenseite hin exponiert ist.
  • Gemäß der Ausgestaltung von 3 wird zunächst eine Folie 8a aus einer Substanz C auf der Oberfläche eines Substrats 1 ausgebildet, und eine Folie 2 aus einer Substanz AB ähnlich der Substanz AB in jeder der oben erwähnten Ausgestaltungen wird dann auf der Oberfläche der Folie 8a gebildet. Dann wird eine Folie 8b aus einer Substanz C auf der Oberfläche der Folie 2 gebildet, so dass eine laminierte Struktur entsteht, in der die Folie 2 der Substanz AB von und zwischen den Folien 8a, 8b der sich von der Substanz AB unterscheidenden Substanz C gehalten wird.
  • Dann wird die laminierte Struktur teilweise geätzt oder einer ähnlichen Behandlung unterzogen. So wird die Folie 2 an einer ihrer Endflächen zur Außenseite hin exponiert, und es entsteht eine Endfläche 9, die in Bezug auf die Richtung der Normallinie des Substrats 1 geneigt ist. Dann wird ein schneller Partikelstrahl 5 ähnlich dem in der Ausgestaltung von 2 auf die Endfläche 9 der laminierten Struktur in der Richtung der Normallinie des Substrats 1 gerichtet. Partikel des gerichteten Strahls 5 werden bis auf die durch die Energie bestimmte Tiefe injiziert. So entsteht in der laminierten Struktur eine geschichtete Partikel-injizierte Zone 10 mit einer vorbestimmten Tiefe von der Endfläche 9. An der Zone 11, in der die geschichtete Partikel-injizierte Zone 10 die Folie 2 durchquert, kollidieren Partikel des Strahls 5 mit Atomen A und B, genau wie in jeder der oben erwähnten Ausgestaltungen. Dann prallen die Atome B selektiv zur Außenseite der Folie 2 zurück.
  • Somit erfährt, wie in jeder der oben erwähnten Ausgestaltungen, die schneidende Zone 11 eine Veränderung der Zusammensetzung und hat physikalische Eigenschaften, die mit denen der Substanz A identisch oder diesen ähnlich sind. In der Schnittzone 11 ist die Dicke T ähnlich der Dicke der ursprünglichen Folie 2, die Tiefe D wird durch die Dispersion der Partikelreichweite bestimmt, und die durchschnittliche Distanz zwischen Endfläche 9 und Zone 11 wird durch die durchschnittliche Partikelreichweite bestimmt. Im Allgemeinen kann, da die Energie des Partikelstrahls genau geregelt werden kann, die Tiefe D der Zone 11 leicht mit einer Präzision in nm-Größenordnung geregelt werden. Somit kann eine zweidimensionale Mikrostruktur 11 mit der Dicke T und der Tiefe D gebildet werden, die auf 10-nm-Niveau mit einer Präzision in nm-Größenordnung liegen.
  • In der Ausgestaltung von 3 können, wenn ein fokussierter Ionenstrahl als Strahl 5 verwendet wird, nicht nur die Dicke und die Tiefe D, sondern auch die Breite (in der Richtung im rechten Winkel zur Zeichnungsebene) durch die Strahlengrößen geregelt werden. So kann eine dreidimensionale Mikrostruktur hergestellt werden.
  • In jeder der oben erwähnten Ausgestaltungen wird hauptsächlich eine Reichweitendifferenz zwischen den Substanzen A und B zu dem Zeitpunkt, an dem die Substanzen A und B zurückgeprallt sind, verwendet, so dass eine Substanz B ausgetrieben wird. Es ist jedoch bekannt, dass, wenn die auszutreibende Substanz B als Strahlenquelle verwendet wird, die der Substanz B mitgeteilte Rückprallenergie maximiert wird. Somit ist es möglich, einen Partikelstrahl der Substanz B auf die Folie 2 zu richten, um die Substanz B effektiv auszutreiben.
  • Die strukturellen Merkmale einer mit dem oben erwähnten erfindungsgemäßen Verfahren hergestellten Mikrostruktur liegen darin, dass eine Mikrostruktur einer spezifischen Substanz auf der Innenseite einer Folie einer Substanz gebildet wird, die sich von der spezifischen Substanz unterscheidet, und darin, dass die Strukturgrößen auf 10-nm-Niveau mit einer Präzision in nm-Größenordnung leicht erreichbar sind.
  • Gemäß der Fotolithografietechnologie des Standes der Technik wird eine gleichmäßige Folie aus einer Substanz, mit der eine Mikrostruktur gebildet werden soll, auf der Oberfläche eines Substrats oder dergleichen gebildet, und die Folie wird dann durch Entfernen ihrer unnötigen Teile strukturiert. Demgemäß entsteht die resultierende Mikrostruktur in einem Gefüge, in dem die verbleibende Foliensubstanz in einer vorbestimmten Struktur auf der Oberfläche des Substrats oder dergleichen platziert wird. Ferner kann eine Mikrobearbeitung gemäß einer solchen Fotolithografie lediglich eine Maßpräzision auf der Ebene in der Größenordnung von 100 nm gewährleisten.
  • Somit unterscheidet sich eine erfindungsgemäße Mikrostrukturiervorrichtung im Hinblick auf Struktur und Maßpräzision um etwa eine Dezimalstelle von einer Mikrostrukturiervorrichtung unter Anwendung einer Fotolithografietechnologie des Standes der Technik.
  • Nachfolgend werden Mikrostrukturiervorrichtungen gemäß Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben, die die Mikrostrukturierverfahren gemäß bevorzugten Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung illustrieren.
  • Wenn ein fokussierter Ionenstrahl 3 oder ein schneller Partikelstrahl 5 auf eine Folie 2 aus einem Metalloxid gerichtet wird, so dass Sauerstoffatome selektiv ausgetrieben werden, dann entsteht eine Vorrichtung, in der die Isolierfolie 2 aus Metalloxid auf ihrer Innenseite mit einer leitfähigen Mikrostruktur 4, 7, 11 versehen wird.
  • Wenn ein fokussierter Ionenstrahl 3 oder ein schneller Partikelstrahl 5 auf eine SiO2-Folie 2 gerichtet wird, so dass Sauerstoffatome selektiv ausgetrieben werden, dann entsteht eine Vorrichtung, in der die SiO2-Isolierfolie 2 auf ihrer Innenseite mit einer Si- oder Si-reichen Mikrostruktur 4, 7, 11 versehen wird.
  • Wenn ein fokussierter Ionenstrahl 3 oder ein schneller Partikelstrahl 5 auf eine Folie 2 aus einem Oxid eines metallischen Supraleiters wie z. B. Nb2O5 gerichtet wird, so dass Sauerstoffatome selektiv ausgetrieben werden, dann entsteht eine Vorrichtung, in der die Isolierfolie 2 aus Nb2O5 auf ihrer Innenseite mit einer supraleitenden Mikrofolie 4, 7, 11 aus Nb versehen wird.
  • In keiner der Vorrichtungen mit den. oben erwähnten Materienzusammensetzungen ist die Gestalt der Mikrostruktur 4, 7, 11 auf eine spezifische beschränkt, sondern ist wählbar. Da jedoch eine Mikrostruktur auf 10-nm-Niveau mit einer Präzision in nm-Größenordnung gebildet werden kann, kann eine Vorrichtung entstehen, in der ein Quanteneffekt ausreichend genutzt wurde.
  • Es wird nunmehr vorgeschlagen, dass das Elementgefüge von 3 verwendet wird und die Folie 2 aus Nb2O5 und die obere und untere Folie 8a, 8b aus Nb hergestellt werden. Wenn dann die Sauerstoffelemente in der Zone 11 selektiv ausgetrieben werden, entsteht ein massiver Josephson-Übergang, in dem zwei supraleitende Nb-Folien 8a, 8b durch eine Brücke 11 mit einem Nb-Mikrosupraleiter aneinander gebondet werden. So kann eine supraleitfähige Vorrichtung wie z. B. SQUID oder dergleichen mit guter Reproduzierbarkeit erhalten werden.
  • Durch Anwenden des erfindungsgemäßen Mikrostrukturierverfahrens können nicht nur die oben erwähnten Vorrichtungen erhalten werden, in denen ein Quanteneffekt genutzt wurde, sondern auch eine Mikrostruktur mit beliebigen der nachfolgenden Materienzusammensetzungen, obwohl ihre industrielle Anwendung Gegenstand weiterer Diskussionen sein wird.
  • Wenn z. B. ein Strahl auf eine Folie 2 aus einer organischen Verbindung gerichtet wird, so dass Atome eines spezifischen Typs, z. B. Wässerstoff-, Sauerstoff- Stickstoff- oder Metallatome, ausgetrieben werden, dann entsteht eine Mikrostruktur, die im Hinblick auf die Rate solcher spezifischer Atome reduziert ist und die eine Zusammensetzung aufweist, die sich von der anderer Zonen unterscheidet.
  • Ferner kann, wenn ein Strahl auf eine Legierungsfolie 2 gerichtet wird, so dass Atome eines spezifischen Typs in der Legierungszusammensetzung ausgetrieben werden, in der Legierungsfolie eine Struktur entstehen, die aus einem Metall besteht, die sich in der Zusammensetzung von der Legierung unterscheidet, oder die aus einem einzelnen Metall besteht.

Claims (5)

  1. Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur, umfassend den Schritt des Strahlens eines Partikelstrahls örtlich auf eine Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, wodurch bewirkt wird, dass Atome eines bestimmten Elementes in der genannten Folie selektiv zurückprallen, so dass innerhalb der genannten Folie eine Zone entsteht, die weniger reich an den Atomen des genannten bestimmten Elementes ist als andere Abschnitte der genannten Folie, wobei das Verfahren dadurch gekennzeichnet ist, dass der Partikelstrahl ein neutraler Atomstrahl ist, der durch eine Maske mit einer vorbestimmten Struktur auf die genannte Folie gestrahlt wird.
  2. Verfahren zum Bilden einer Mikrostruktur nach Anspruch 1, bei dem die genannte Folie einen Abschnitt einer laminierten Struktur bildet, in der die genannte Folie auf ihren beiden Seiten mit einer Schicht aus einer Substanz beschichtet wird, die sich von der die genannte Folie bildenden Substanz unterscheidet, und der genannte Partikelstrahl in einem solchen Winkel auf eine Endfläche der genannten laminierten Struktur gestrahlt wird, dass der genannte gestrahlte Strahl die genannte Folie schneidet.
  3. Mikrostrukturiervorrichtung mit einer Mikrostruktur, die mithilfe einer Folie gebildet wird, wobei innerhalb einer Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, eine Mikrostruktur entsteht, die eine Zone enthält, die weniger reich an den Atomen eines bestimmten Elementes ist als andere Abschnitte der genannten Folie, wobei die Vorrichtung dadurch gekennzeichnet ist, dass eine leitfähige Mikrostruktur innerhalb einer Isolationsfolie aus einem Metalloxid gebildet wird.
  4. Mikrostrukturiervorrichtung mit einer Mikrostruktur, die mithilfe einer Folie gebildet wird, wobei innerhalb einer Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, eine Mikrostruktur entsteht, die eine Zone enthält, die weniger reich an den Atomen eines bestimmten Elementes ist als andere Abschnitte der genannten Folie, wobei die Vorrichtung dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Si-Mikrostruktur oder eine Si-reiche Mikrostruktur innerhalb einer SiO2-Isolationsfolie gebildet wird.
  5. Mikrostrukturiervorrichtung mit einer Mikrostruktur, die mithilfe einer Folie gebildet wird, wobei innerhalb einer Folie aus einer Legierung oder Verbindung, die Atome von zwei oder mehr Elementen enthält, eine Mikrostruktur entsteht, die eine Zone enthält, die weniger reich an den Atomen eines bestimmten Elementes ist als andere Abschnitte der genannten Folie, wobei die Vorrichtung dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Mikrostruktur aus einem metallischen Supraleiter innerhalb einer Isolationsfolie aus einem Oxid eines metallischen Supraleiters gebildet wird.
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1065145A (ja) * 1996-08-22 1998-03-06 Hitachi Ltd 電導性原子サイズ細線および原子サイズスイッチ
US6656568B1 (en) 1999-05-28 2003-12-02 The Regents Of The University Of Colorado Ordered arrays of nanoclusters
DE10022543B4 (de) * 1999-10-27 2005-08-18 Db Reise & Touristik Ag Schienengebundenes Fahrzeugsegment mit rumpfintegierter Fliehkraftkompensation
US6518194B2 (en) 2000-12-28 2003-02-11 Thomas Andrew Winningham Intermediate transfer layers for nanoscale pattern transfer and nanostructure formation
JP2003279705A (ja) * 2002-03-25 2003-10-02 Sanyo Electric Co Ltd 反射防止部材
US6967112B2 (en) * 2003-12-23 2005-11-22 Sharp Laboratories Of America, Inc. Three-dimensional quantum dot structure for infrared photodetection
US7259373B2 (en) * 2005-07-08 2007-08-21 Nexgensemi Holdings Corporation Apparatus and method for controlled particle beam manufacturing
WO2008140585A1 (en) 2006-11-22 2008-11-20 Nexgen Semi Holding, Inc. Apparatus and method for conformal mask manufacturing
US10991545B2 (en) 2008-06-30 2021-04-27 Nexgen Semi Holding, Inc. Method and device for spatial charged particle bunching
US10566169B1 (en) 2008-06-30 2020-02-18 Nexgen Semi Holding, Inc. Method and device for spatial charged particle bunching
TWI557887B (zh) * 2010-03-19 2016-11-11 量宏科技股份有限公司 影像感測器及用來讀取影像感測器之方法
US9941316B2 (en) 2014-06-10 2018-04-10 Invisage Technologies, Inc. Multi-terminal optoelectronic devices for light detection
CN109863603B (zh) 2016-10-20 2023-02-17 因维萨热技术公司 具有电子收集电极和空穴收集电极的图像传感器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3536547A (en) * 1968-03-25 1970-10-27 Bell Telephone Labor Inc Plasma deposition of oxide coatings on silicon and electron bombardment of portions thereof to be etched selectively
US4874460A (en) * 1987-11-16 1989-10-17 Seiko Instruments Inc. Method and apparatus for modifying patterned film
JP2650930B2 (ja) * 1987-11-24 1997-09-10 株式会社日立製作所 超格子構作の素子製作方法
JPH033328A (ja) * 1989-05-31 1991-01-09 Hitachi Ltd 固体試料表面の改質方法
CA2047139C (en) * 1990-07-16 1997-12-09 Mitsuchika Saitoh Method for manufacturing superconducting device composed of oxide superconductor material and superconducting device manufactured thereby
US5178726A (en) * 1991-03-07 1993-01-12 Minnesota Mining And Manufacturing Company Process for producing a patterned metal surface
JPH0677181A (ja) * 1992-08-26 1994-03-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物半導体の微細構造形成方法
WO1994011787A1 (en) * 1992-11-19 1994-05-26 The University Court Of The University Of Dundee Method of deposition

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