DE69532457T2 - Schutzverfahren für Leiter- oder Führungsstifte von Halbleiteranordnungen während des Transports - Google Patents

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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Schutz der Anschlussstifte und Führungsstifte von Halbleiterbauelementen während des Transports, welche als "Leistungsmodule" bezeichnet werden und welche eine Schaltkreisplatte aufnehmen, auf der Halbleiterbauteile in einem isolierten Gehäuse montiert sind.
  • 4 ist eine Draufsicht, welche die Struktur eines herkömmlichen Halbleiterbauelements zeigt, welches als ein "Leistungsmodul" oder ein "intelligentes Leistungsmodul" bekannt ist. 5 ist ein Querschnitt entlang der Linie Q-Q' aus 4. Wie in diesen Figuren gezeigt ist, hat das Halbleiterbauelement ein Isolationsgehäuse 10 in der Form eines Rahmens 12, das gegenüberliegende Endöffnungen und eine innere Oberfläche hat. Eine Kühlbasisplatte (beispielsweise eine Metallplatte) 20 ist mit einem Klebemittel mit einer ersten Öffnungsstufe 14 verbunden, welche an einem ersten Ende des Rahmens 12 geformt ist, um eine erste Öffnung des Gehäuses 10 zu schließen. Schaltkreisplatten (Keramikplatten) 30, 31 sind mit einem Lötmittel etc. mit der inneren Oberfläche der Kühlbasisplatte 20 verbunden. Leitungsrahmen 40 bis 45 sind an ihren inneren Leitungsenden A verbunden mit den Landgebieten der auf der Schaltkreisplatte 30 geformten Dickschichtverdrahtung. Ein Anschlussstiftblock 70, der integral mit vielen darauf stehenden Anschlussstiften P1 bis P16 gebildet ist, ist an dem Rahmen 12 des Isolationsgehäuses 10 befestigt. Die Enden B der inneren Anschlüsse der entsprechenden Anschlussstifte P1 bis P16 sind verbunden mit der auf der Schaltkreisplatte 31 gebildeten Dickschichtverdrahtung. Die Schaltkreisplatte 30, die inneren Anschlüsse der Anschlußrahmen 40 bis 45 und die inneren Anschlüsse der Anschlussstifte P1 bis P16 sind in eine Harzgeldichtung 50, wie z. B. Silikonharz, eingelassen. Eine Isolationsabdeckplatte 60 ist mit einem Klebemittel mit einer zweiten Öffnungsstufe 18 verbunden, welche an dem zweiten Ende des Rahmens 12 gebildet ist, um die zweite Endöffnung des Gehäuses 10 zu schließen. Halbleiterbauteile (Chips) 32, 34 wie z. B. Leistungstransistoren, IGBTs (Transistortypen mit veränderlicher Leitfähigkeit), Dioden, Thyristoren, etc. sind auf den Schaltkreisplatten 30, 31 befestigt. Die inneren Anschlussenden A der Anschlußrahmen 40 bis 45 sind mit Lötmittel oder ähnlichem mit den Landteilen der Dickschichtverdrahtung der Schaltkreisplatte 30 verbunden und durch Verbindungsdrähte 32a und 34a mit den entsprechenden Halbleiterbauteilen 32 und 34 verbunden.
  • Die Anschlußrahmen 40 bis 45 sind eingesetzt in den Rahmen 12 und an dem Rahmen 12 an entsprechenden Anschlussscheiben 40a bis 45a mit Anschlussschrauben (nicht gezeigt) befestigt.
  • 6 ist eine explosionsförmige isometrische Ansicht, welche den Anschlussstiftblock und seine Installationsstruktur zeigt. Mit Bezug auf 6, der Anschlussstiftblock 70 ist eine Einsetzgießteil, welcher separat von dem Isolationsgehäuse 10 gegossen wird. Der Anschlussstiftblock 70 enthält eine Basis 71, auf der die Anschlussstifte P1 bis P16 stehen, eine Stufe 72, eine Kupplungsklemme (nicht gezeigt), welche auf der gegenüberliegenden Seite der Fläche, auf der die Stufe 72 geformt ist, angeordnet ist, und Führungsstifte G1 und G2. Die obere Oberfläche der Stufe 72 ist auf der gleichen Höhe positioniert wie die obere Oberfläche der zweiten Endöffnungsstufe 18, wenn die Führungsstifte G1 und G2 in die entsprechenden Schlitze 12a, welcher an der inneren Oberfläche des Rahmens 12 des Isolationsgehäuses 10 geformt sind, eingesetzt sind, um die Isolationsabdeckplatte 60 aufzunehmen. Die Kupplungsklemme kuppelt mit einer keilförmigen Kuppelklemme 12b, welche auf der inneren Oberfläche des Rahmens 12 geformt ist, um einer Entfernung des einmal eingesetzten Anschlussstiftblocks zu widerstehen. Die Führungsstifte G1 und G2 sind in entsprechende Führungslöcher eingesetzt, welche an einem weiblichen Stecker für die Anschlussstifte P1 bis P16 geformt sind (nicht gezeigt). Ein Paar von Unterstützungsstiften 12c, welche den eingesetzten Anschlussstiftblock 70 in einer vorbestimmten Höhe lokalisieren und stützen, sind an der inneren Oberfläche des Rahmens 12 ausgebildet. Der Anschlussstiftblock ist separat von dem Isolationsgehäuse 10 gegossen, um das Volumen des Harzgusses zu reduzieren, und um dadurch den Einfluss des Schrumpfens etc. des Harzes zu minimieren. Durch diese Mittel werden sowohl die Präzision der Abstände zwischen den Anschlussstiften als auch die Vertikalität der Anschlussstifte P1 bis P16 verbessert, und folglich wird die Produktionsausbeute des Halbleiterbauelements verbessert.
  • Der Anschlussstiftblock 70 ist am Isolationsgehäuse 10 fest genug installiert, so dass er nicht leicht durch das Einsetzen des Anschlussstiftblocks 70 in die Schlitze 12a oder durch das Zusammenkuppeln der Kupplungsklemmen 12b des Rahmens 12 und der Kupplungsklemme des Anschlussstiftblocks 70 herausgeht. 7 zeigt einen teilweisen Querschnitt des Isolationsgehäuses mit dem darin installierten Anschlussstiftblock. Wie in 7 gezeigt, ist das Isolationsgehäuse 10 mit der Harzgeldichtung 50 (wie z. B. Silikonharz) gefüllt, und ist dann durch die Isoationsabdeckplatte 60 verschlossen, welche mit einem Klebemittel an die zweite Endöffnungsstufe 18 des Isolationsgehäuses 10 und an die Stufe 72 des Anschlussstiftblocks 70 befestigt ist.
  • Die oben beschriebene Struktur zum Installieren des Anschlussstiftblocks 70 an dem Halbleitermodul hat den Nachteil, dass die Harzgeldichtung (Silikonharz) 50 aufgeheizt wird und expandiert aufgrund der zur Befestigung der Isolationsabdeckplatte 60 an dem Isolationsgehäuse 10 aufgebrachten Erhitzung oder durch die von den Leistungselementen während des Betriebs des Halbleitermoduls, welche in die Harzgeldichtung 50 eingelassen sind, erzeugten Hitze. Die expandierende Heizgeldichtung 50 breitet sich über die Einsetzlücke G zwischen der Basis 71 des Anschlussstiftblocks 70 und der inneren Oberfläche des Rahmens 12 aus oder hebt die Isolationsabdeckplatte 60 an.
  • Ein anderer Nachteil ist, dass, da die Anschlussstifte P1 bis P16 extrem feine quadratische Stäbchen mit einer Weite kleiner als 1 mm sind, die Anschlussstifte leicht durch jeden unerwünschten Kontakt etc. während des Transports der Halbleitermodule verbogen werden. Überdies werden die Führungsstifte G1 und G2 leicht abgebrochen.
  • Die EP-A-0 591 631 zeigt ein Leistungshalbleiterbauelement mit einem Leistungsschaltkreis und einem Steuerschaltkreis, welche in ein Harzgehäuse eingelassen sind, wobei die Schaltkreise auf unterschiedlichen Substraten befestigt und intern durch Anschlussstifte innerhalb des Gehäuses miteinander verbunden sind. Leistunganschlüsse und Kontrollanschlüsse, welche mit den entsprechenden Leistungssteuerschaltkreisen verbunden sind, ragen aus dem Gehäuse und werden zusammen mit Anschlussstiften zuerst mittels Einsetztechniken zusammen mit dem Gehäuse gegossen. Die Leistunganschlüsse und die Kontrollanschlüsse sind an der peripheren Kante des Gehäuses angeordnet und die Anschlussstifte sind an einem Stiftblock angeordnet, der an einem Mittelteil innerhalb des Gehäuses bereitgestellt ist, wobei das Substrat für den Leistungsschaltkreis auf einer hitzeableitenden Metallbasis, welche mit dem Boden des Gehäuses kombiniert ist, angebracht ist, und das Substrat für den Steuerschaltkreis ist auf dem Stiftblock mit den Leistungsanschlüssen und den Steueranschlüssen und dem Stiftblock befestigt, wobei die Leistungsanschlüsse und die Steueranschlüsse miteinander verlötet sind. In dieser Konstruktion ragen die Leistungs- und Steueranschlüsse aus dem Gehäuse, es ist aber kein Schutz für die Anschlüsse bereitgestellt und sie können leicht verbogen werden, wenn der Gegenstand wie oben beschrieben verpackt oder transportiert wird.
  • Im Hinblick auf das Vorangegangene ist es ein Gegenstand der Erfindung, ein Verfahren zum Schutz der Anschlussstift und Führungsstifte eines Halbleiterbauelements während des Transports bereitszustellen.
  • Entsprechend der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Schutz der Anschlussstifte und Führungsstifte eines Halbleiter-Bauelements während des Transports, welches umfasst ein Isolationsgehäuse (10) in der Form eines Rahmens (12), welches gegenüberliegende Endöffnungen und eine innere Oberfläche hat; einen Anschlussstiftblock (80) welcher Führungsstifte (G1, G2) und eine Basis (81) mit einer Vielzahl daraufstehender Anschlussstifte (P1 bis P16) hat, wobei der Anschlussstiftblock (80) an der inneren Oberfläche des Rahmens angebracht ist, und die Anschlussstifte (P1 bis P16) entsprechende innere Anschlüsse haben; eine Kühlbasisplatte (20), welche eine erste Endöffnung des Isolationsgehäuses abschließt; eine Schaltkreisplatte (30, 31), auf der Halbleiterchips (32, 34) befestigt sind, welche mit den Enden (B) der inneren Anschlüsse verbunden sind, wobei die Schaltkreisplatte (30, 31) mit der inneren Oberfläche der Kühlbasisplatte (20) verbunden ist; eine Harzgeldichtung (50) in welche die Schaltkreisplatte (30, 31) und die inneren Anschlüsse eingelassen sind, wobei die Harzgeldichtung (50) im wesentlichen den inneren Raum des Isolationsgehäuses füllt; eine Isolationsabdeckplatte (60), welche die zweite Endöffnung des Isolationsgehäuses (10) verschließt; gekennzeichnet durch Bereitstellen eines Umhüllungsblocks (90), welcher eine Vielzahl von Anschlußlöchern (h1 bis h22) und eine Vielzahl von Führungslöchern (H1, H2) hat, in welche die Anschlussstifte (P1 bis P16) und die Führungsstifte (G1, G2) ungehindert eingeführt werden können bzw. welcher ungehindert von den Anschluss- und Führungsstiften entfernt werden kann, und Anordnen des Umhüllungsblocks über die Anschluss- und Führungsstifte derart, um die Anschluss- und Führungsstifte während des Transports des Halbleiterbauelements zu schützen.
  • Vorzugsweise beinhaltet das Verfahren die Benutzung von Stopp-Vorsprüngen (84) auf der Basis (81) des Anschlussstiftblocks (80), um die Einsetztiefe des Umhüllungsblocks auf die Anschluss- und Führungsstifte zu begrenzen.
  • Das Verfahren kann ebenso beinhaltet die Benutzung von Stufen (92) in der Nähe der Führungslöcher (H1, H2) auf der Kontaktoberfläche (90a) des Umhüllungsblocks (90), welche dem Basisblock zugewandt sind, wenn sie sich über den Anschluss- und Führungsstiften befinden.
  • Weiter kann ein Umhüllungsblock benutzt werden, der ein erstes Führungsloch an einem ersten Ende aufweist, der ein zweites Führungsloch an einem zweiten Ende aufweist, der ein drittes Führungsloch mittig in einer Linie der Anschlussstifte aufweist, und der mindestens einen der Aufteilung dienenden dünneren Abschnitt, welcher durch eine Ausnehmung gebildet wird, in der Nähe des dritten Führungslochs aufweist.
  • Die Anschlussstifte und die Führungsstifte werden vollständig durch den Umhüllungsblock durch das Aufstecken des Umhüllungsblocks auf die Anschlussstifte und die Führungsstifte abgedeckt. Der Umhüllungsblock vermeidet, dass während des Transports irgend etwas in direkten Kontakt mit den Stiften kommt und bewahrt die Stifte vor dem Verbiegen oder dem Brechen. Die Stopp-Vorsprünge werden auf der oberseitigen Oberfläche der Basis des Anschlussstiftblocks gebildet, um den Bereich einzugrenzen, bis zu dem der Umhüllungsblock auf die Anschlussstifte gedrückt werden kann, um ein Minimum an Spielraum zwischen den Stiften der Schaltkreisanschlußgruppen auf einer Seite eines Arms zu sichern. Wenn der Umhüllungsblock aufgesteckt ist, berührt die Kontaktfläche die Stopp-Vorsprünge, so dass eine Lücke um die Füße (Wurzeln) der Stifte verbleibt. Diese Lücke ermöglicht das Herausziehen des eingesetzten Umhüllungsblocks. Wenn ein Führungsstift abgebrochen ist, wird der abgebrochene Führungsstift durch Ankleben mit einem Klebemittel repariert. Wie auch immer, manchmal breitet sich das Klebemittel von dem reparierten Führungsstift aus und verfestigt sich an Stellen, welche es erschweren, den Umhüllungsblock komplett aufzustecken. Der Aussparungsraum für das sich ausbreitende Klebemittel, welcher gebildet wird durch die Bereitstellung der Stufen auf der Kontaktfläche des Umhüllungsblocks benachbart zu den entsprechenden Führungslöchern, ermöglicht das vollständige Aufstecken des Umhüllungsblocks. Durch die Verwendung des Umhüllungsblocks, der das dritte Führungsloch und mindestens eine der Aufteilung dienende Ausnehmung hat, können Führungsblöcke mit unterschiedlicher Anzahl von Anschlussstiften leicht versorgt werden. Dieser Typ des Umhüllungsblocks wird entlang der Ausnehmung geteilt, wenn der korrespondierende Anschlußblock eine kleinere Anzahl von Anschlussstiften hat.
  • Bevorzugte Verfahren zum Ausführen der vorliegenden Erfindung werden nun mittels Beispielen und mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben, in welchen:
  • 1(a) ist ein Querschnitt eines Halbleiterbauelements, auf welches das Verfahren der vorliegenden Erfindung angewandt werden kann;
  • 1(b) ist ein teilweiser Querschnitt, der die Installationsstruktur des Anschlussstiftblocks aus 1(a) zeigt;
  • 2 ist eine explosionsartige isometrische Ansicht, die die Installationsstruktur für den Anschlussstiftblock zeigt;
  • 3(a) ist eine Draufsicht auf einen zweiten Umhüllungsblock zur Benutzung in dem Verfahren der vorliegenden Erfindung;
  • 3(b) ist eine Vorderansicht des Umhüllungsblocks aus 3(a);
  • 4 ist eine Draufsicht, welche eine Struktur eines herkömmlichen Halbleiterbauelements, welches "Leistungsmodul" oder "intelligentes Leistungsmodul" genannt wird, zeigt, auf welches die das vorliegende Verfahren angewandt werden kann;
  • 5 ist ein Querschnitt entlang Q-Q' aus 4;
  • 6 ist eine explosionsartige isometrische Ansicht, die den Anschlussstiftblock und seine Installationsstruktur entsprechend dem Stand der Technik zeigt; und
  • 7 ist ein teilweiser Querschnitt des Isolationsgehäuses mit dem darauf installierten Anschlussstiftblock entsprechend dem Stand der Technik.
  • In Bezug auf die Zeichnungen, 1(a) ist ein Querschnitt eines Halbleiterbauelements auf welches das Verfahren der vorliegenden Erfindung angewandt werden kann. 1(b) ist ein teilweiser Querschnitt, der die Installationsstruktur des Anschlussstiftblocks aus 1(a) zeigt und 2 ist eine explosionsartige isometrische Ansicht welche die Installationsstruktur für den Anschlussstiftblock und den Umhüllungsblock zeigt.
  • Das Halbleiterbauelement wird als "Leistungsmodul" oder "intelligentes Leistungsmodul" bezeichnet und hat ein zweidimensionales Layout entsprechend dem in 4 gezeigten. Um sich nun auf die 1(a) und 1(b) zu beziehen, hat das Halbleiterbauelement ein Isolationsgehäuse 10 in der Form eines Rahmens 12, mit gegenüberliegenden Endöffnungen und einer inneren Oberfläche. Eine Hitze dissipierende Basisplatte 20 (vorzugsweise eine Metallplatte) ist mit einem Klebemittel an einen Falz oder eine Stufe 14, welche an dem ersten Ende des Rahmens 12 ausgebildet ist, befestigt, um die erste Endöffnung des Gehäuses 10 zu schließen. Schaltkreisplatten (Keramikplatten) 30, 31 sind beispielsweise mit Lötmittel etc. mit der inneren Oberfläche der Basisplatte 20 verbunden. Anschlußrahmen 40 bis 45 sind an ihren inneren Anschlußenden A mit der Dickschichtverdrahtung, welche auf der Schaltkreisplatte 30 gebildet ist, verbunden. Die Anschlußrahmen 41, 43, 44 und 45 sind in 1(a) gezeigt. Ein Anschlussstiftblock 80, der ein integriertes Einsetzgießteil mit daraufstehenden Anschlussstiften P1 bis P16 ist, ist an dem Rahmen 12 des Gehäuses 10 befestigt. Die Enden B der inneren Anschlüsse der entsprechenden Anschlussstifte P1 bis P16 sind mit der auf der Schaltkreisplatte 31 ausgebildeten Dickschichtverdrahtung verbunden. Die Schaltkreisplatte 30, die inneren Anschlüsse der Anschlußrahmen 40 bis 45 und die inneren Anschlüsse der Anschlussstifte P1 bis P16 sind in eine Harzgeldichtung (z. B. Silikonharz) 50 eingelassen. Eine Isolationsabdeckplatte 60 ist mit einem Klebemittel an eine zweite Endöffnungsstufe 18, welche an dem zweiten Ende des Rahmens 12 ausgebildet ist, verbunden, um die zweite Endöffnung des Gehäuses 10 zu schließen. Halbleiterelemente (Chips) 32, 34, wie beispielsweise Leistungstransistoren, IGBT (Transistortypen mit veränderlicher Leitfähigkeit), Dioden, Thyristoren, etc. sind auf den Schaltkreisplatten 30 und 31 angebracht. Die inneren Anschlußenden A der Anschlußrahmen 40 bis 45 sind, z. B. durch Löten etc., mit den Landteilen der Dickschichtverdrahtung der Schaltkreisplatte 30 verbunden, und sind mittels Verbindungsdrähten 32a und 34a mit den korrespondierenden Halbleiterelementen 32 und 34 verbunden. Die Anschlußrahmen 40 bis 45 sind in den Rahmen 12 eingesetzt und an entsprechenden Anschlussbeilagscheiben 40a bis 45a mit Anschlussschrauben (nicht gezeigt) befestigt.
  • Um sich nun auf 1(b) und 2 zu beziehen, ist der Anschlussstiftblock 80 ein Einsetzgießteil, welches separat von dem Isolationsgehäuse 10 gegossen wird. Der Anschlussstiftblock 80 beinhaltet eine Basis 81, auf der die Anschlussstifte P1 bis P16 stehen; eine Stufe 82; eine erste Kupplungsklaue 81a, welche ein Einrastteil 81b hat, das an der Oberfläche der Basis 81 geformt ist, welche der Oberfläche, an der die Stufe 82 ausgeformt ist, gegenüberliegt; Führungsstifte G1 und G2; eine Entlüftungsöffnung 83, welche durch die Basis 81 mittels einer Ausnehmung 82a der Stufe 82 zu dem Einrastteil 81b der Kupplungsklaue 81a reichend ausgebildet ist; und eine Vielzahl von Stopp-Vorsprüngen 84, welche auf der oberen Oberfläche der Basis 81 gebildet sind. Die obere Oberfläche der Stufe 82 ist auf der gleichen Höhe angebracht wie die obere Oberfläche der zweiten Öffnungsstufe 18, wenn die Führungsstifte G1 und G2 in die entsprechenden Schlitze 12a, welche auf der inneren Oberfläche des Rahmens 12 des Isolationsgehäuses 10 angebracht sind, eingesetzt sind, um so die Isolationsabdeckplatte 60 aufzunehmen. Die Kupplungsklaue 81a kuppelt mit einer keilförmigen Kupplungsklaue 12b, welche an der inneren Oberfläche des Rahmens 12 (siehe 1(b)) angeordnet ist. Die Führungsstifte G1 und G2 sind eingesetzt in entsprechende Führungslöcher, welche auf einem weiblichen Stecker für die Anschlussstifte P1 bis P16 (nicht gezeigt) angebracht sind.
  • Der Anschlussstiftblock 80 ist auf dem Isolationsgehäuse 10 so fest angebracht, so dass er nicht leicht durch Einsetzen des Anschlussstiftblocks 80 in die Schlitze 12a und durch Zusammenkuppeln der Kupplungsklaue 12b des Rahmens 12 und der Kupplungsklaue 81a des Anschlussstiftblocks 80 herausgeht. In diesem Ausführungsbeispiel ist die Einsetzlücke G zwischen dem Anschlussstiftblock 80 und dem Rahmen 12 verschlossen mit einer Dichtung oder einem Klebemittel etc. 85 auf der Seite des inneren Raumes des Gehäuses 10, welches über die Entlüftungsöffnung 83 mit der Außenseite kommuniziert.
  • Folglich wird die Einsetzlücke G zwischen dem Anschlussstiftblock 80 und dem Rahmen 20 auf der Seite der inneren Oberfläche des Gehäuses 10 dadurch geschlossen, dass der Anschlussstiftblock 80 in den Schlitz 12a eingesetzt und in dem Gehäuse 10 eingebaut wird. Die Harzgeldichtung 50, auch wenn sie erhitzt wird und durch die von den Halbleiterchips 32 und 34 erzeugte Hitze expandiert wird, weitet sich niemals durch die Lücke G aus. Falls die Harzgeldichtung 50 thermisch expandiert, neigt der Luftdruck in dem Inneren dazu, anzusteigen. Wie auch immer, die Entlüftungsöffnung 83 verhindert das Ansteigen des inneren Druckes, und das Niveau der freien Oberfläche der Harzgeldichtung 50 vergrößert sich ohne Probleme, wenn das Gel expandiert. Folglich wird exzessive thermische Beanspruchung und ein Abheben der Isolationsabdeckplatte 60 verhindert, und die Zuverlässigkeit des Halbleiterelements wird verbessert. In diesem Ausführungsbeispiel ist die Entlüftungsöffnung 83 über das Einrastteil 81b der Kupplungsklaue 81a ausgebildet, so dass die Entlüftungsöffnung mit der Außenseite durch die Lücke der Kupplungsklaue 12b, welche auf der Seite des Gehäuses 10 ausgeformt ist, in Verbindung treten. Der Anschlussstiftblock 80 mit der daran ausgebildeten Entlüftungsöffnung 83 wird hergestellt durch Einspritzguß in einem einfachen Guß ohne bewegliche Kerne, durch Ausformung der Entlüftungsöffnung 83 über dem Stuftenteil der Kupplungsklaue 81 des anschließend gegossenen Anschlussstiftblocks. Da die Gießkonstruktion vereinfacht wird, werden die Herstellungskosten des Halbleiterbauelements verringert.
  • Wie in 2 gezeigt ist, hat ein aus Harz gemachter Umhüllungsblock 90 Anschlußlöcher h1 bis h22 korrespondierend zu den Anschlussstiften P1 bis P16 und Führungslöcher H1 und H2 korrespondierend zu den Führungsstiften G1 und G2. Die Anschlussstifte P1 bis P16 sind frei einsetzbar in und entfernbar von den Anschlußlöchern hl bis h22. Die Führungsstifte G1 und G2 sind frei einsetzbar in und entfernbar von den Führungsstiften H1 und H2. Und Doppelstufen 92 bzw. 92 , welche zwei entsprechende Stufen haben, sind auf einer Kontaktoberfläche 90a des Umhüllungsblocks 90 auf der Seite der jeweiligen Führungsstifte H1 und H2 ausgebildet.
  • Die Anschlussstifte und die Führungsstifte werden vollständig durch ein Umhüllungsblock bedeckt, in dem ein Umhüllungsblock 90 auf die Anschlussstifte P1 bis P16 und die Führungsstifte G1 und G2 aufgesteckt wird. Der Umhüllungsblock 90 behindert alles daran, während des Transports in direkten Kontakt mit den Stiften zu kommen, und bewahrt die Stifte vor dem Umbiegen oder Brechen. Stopp-Vorsprünge 84 sind auf der oberen Oberfläche der Basis 81 des Anschlussstiftblocks 80 angeordnet, um den Abstand zwischen den Schaltkreisanschlußgruppen auf einer Seite eines Arms zu bestimmen. Wenn der Umhüllungsblock 90 aufgesteckt wird, berührt eine Kontaktoberfläche 90a die Stopp-Vorsprünge 84, wobei eine Lücke um die Füße der Stifte gelassen wird. Die Lücke zwischen dem Umhüllungsblock und der Basis 81 ermöglicht das Entfernen des aufgesetzten Umhüllungsblocks 90.
  • Falls entweder Führungsstift G1 oder G2 gebrochen ist, wird der gebrochene Führungsstift durch Zusammenkleben seiner Teile mit einem Klebemittel repariert. Wie auch immer, manchmal verbreitet sich das Klebemittel von den reparierten Führungsstiften und haftet an den benachbarten Gebieten der Basis 81 und macht es schwierig, den Umhüllungsblock vollständig aufzustecken. Um dieses Problem zu vermeiden, werden Doppelstufen 92 auf der Kontaktoberfläche 90a des Umhüllungsblocks 90 an den Seiten der entsprechenden Führungslöcher H1 und H2 geformt, um einen Entlastungsraum zur Aufnahme jedes überflüssigen Klebemittels bereitzustellen. Folglich kann der Umhüllungsblock 90 einfach auf einen reparierten Führungsstift aufgesteckt werden.
  • 3(a) ist eine Draufsicht auf einen anderen Umhüllungsblock, und 3(b) ist eine Frontalansicht eines Umhüllungsblocks gemäß 3(a). Dieser Umhüllungsblock 100 hat ein erstes Führungsloch H1, welches an einem Ende des Umhüllungsblocks 100 angeordnet ist, ein zweites Führungsloch H2, welches an einem anderen Ende des Umhüllungsblocks 100 angeordnet ist, und ein drittes Führungsloch H3, welches an einer Stelle in der Mitte der Anordnung der Führungslöcher h1 bis h36 angeordnet ist. Die Führungslöcher h1 bis h25 sind zwischen dem ersten Führungsloch H1 und dem dritten Führungsloch H3 angeordnet. Ausnehmungen 100a zum Aufteilen sind an den vorderseitigen und rückseitigen Oberflächen des Umhüllungsblocks 100 zwischen dem dritten Führungsloch H3 und dem Führungsloch h26 angeordnet. Doppelstufen (wie die Stufen 92) sind an einer Kontaktoberfläche 100b des Umhüllungsblocks 100 benachbart der Führungslöcher H1, H2 und H3 angeordnet.
  • Dieser Umhüllungsblock 100 kommt mit Anschlussstiftblöcken zurecht, welche eine unterschiedliche Anzahl von Anschlussstiften haben. Zum Schutz eines Anschlussstiftblocks, der 36 Anschlussstifte hat, wird der Umhüllungsblock 100 in dem Zustand, wie in den 3(a) und 3(b) gezeigt ist, benutzt. Zum Schutz eines Anschlussstiftblocks, der 25 Anschlussstifte hat, wird der Umhüllungsblock 100 geteilt durch Zerbrechen des geschwächten Abschnitts zwischen den Ausnehmungen 100a, 100a, und der Teil, der die Führungslöcher H1 und H3 hat, wird verwendet. Folglich reduziert der Umhüllungsblock 100 die Kosten des Gusses.
  • Wie oben dargelegt wurde, beinhaltet das Verfahren entsprechend der Erfindung die Verwendung eines Umhüllungsblocks, der die auf einem Anschlussstiftblock stehenden Stifte abdeckt und schützt.
  • Da die Anschlussstifte und die Führungsstifte des Anschlussstiftblocks vollständig durch den Umhüllungsblock abgedeckt werden, wenn der Umhüllungsblock auf den Anschlussstiften und den Führungsstiften plaziert ist, sind die Stifte vor Berührungen, Deformationen und Abbrechen während des Transports geschützt.
  • Die Bereitstellung der Stopp-Vorsprünge, welche auf der oberen Oberfläche der Basis des Anschlussstiftblocks angeordnet sind, bedeutet, dass eine Lücke um die Füße der Stifte gelassen wird, und dass so der eingesetzte Umhüllungsblock leicht entfernt werden kann.
  • Da ein Entlastungsraum für sich ausbreitende Klebemittel gelassen wird, in dem die Doppelstufen bzw. zwei angebrachten Stufen auf der Kontaktoberfläche des Umhüllungsblocks benachbart zu den entsprechenden Führungslöchern angeordnet sind, wird das vollständige Einsetzen des Umhüllungsblocks ermöglicht, sogar wenn gebrochene Führungsstifte durch Klebemittelverbindung repariert worden sind.
  • Durch die Benutzung des Umhüllungsblocks, der ein drittes Führungsloch und Ausnehmungen zum Aufteilen hat, ist es möglich, mit Führungblöcken zurechtzukommen, welche eine unterschiedliche Anzahl von Anschlussstiften haben. Diese Art von Umhüllungsblock wird entlang der Ausnehmungen geteilt, wenn der Anschlußblock, für den er benutzt werden soll, eine geringere Anzahl von Anschlussstiften hat.

Claims (4)

  1. Ein Verfahren zum Schutz der Anschlussstifte und Führungsstifte eines Halbleiter-Bauelements während des Transports, welches umfasst ein Isolationsgehäuse (10) in der Form eines Rahmens (12), welches gegenüberliegende Endöffnungen und eine innere Oberfläche hat; einen Anschlussstiftblock (80) welcher Führungsstifte (G1, G2) und eine Basis (81) mit einer Vielzahl daraufstehender Anschlussstifte (P1–P16) hat, wobei der Anschlussstiftblock (80) an der inneren Oberfläche des Rahmens angebracht ist, und die Anschlussstifte (P1–P16) haben entsprechende innere Anschlüsse; eine Kühlbasisplatte (20), welche eine erste Endöffnung des Isolationsgehäuses abschließt; eine Schaltkreisplatte (30, 31) auf der Halbleiterchips (32, 34) befestigt sind, welche mit den Enden (B) der inneren Anschlüsse verbunden sind, wobei die Schaltkreisplatte (30, 31) mit der inneren Oberfläche der Kühlbasisplatte (20) verbunden ist; eine Harzgeldichtung (50) in welche die Schaltkreisplatte (30, 31) und die inneren Anschlüsse eingelassen sind, wobei die Harzgeldichtung (50) im wesentlichen den inneren Raum des Isolationsgehäuses füllt; eine Isolationsabdeckplatte (60), welche die zweite Endöffnung des Isolationsgehäuses (10) verschließt; gekennzeichnet durch Bereitstellen eines Umhüllungsblocks (90), welcher eine Vielzahl von Anschlußlöchern (h1–h22) und eine Vielzahl von Führungslöchern (H1, H2) hat, in welche die Anschlussstifte (P1–P16) und die Führungsstifte (G1, G2) ungehindert eingeführt werden können bzw. welcher ungehindert von den Anschluss- und Führungsstiften entfernt werden kann, und Anordnen des Umhüllungsblocks über die Anschluss- und Führungsstifte derart, um die Anschluss- und Führungsstifte während des Transports des Halbleiterbauelements zu schützen.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass Stopp-Vorsprünge (84) auf der Basis (81) des Anschlussstiftblocks (80) benutzt werden, um die Einsetztiefe des Umhüllungsblocks auf die Anschluss- und Führungsstifte zu begrenzen.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass Stufen (92) in der Nähe der Führungslöcher (H1, H2) auf der Kontaktoberfläche (90a) des Umhüllungsblocks (90) benutzt werden, welche dem Basisblock zugewandt sind, wenn sie sich oberhalb der Anschluss- und Führungsstifte befinden.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass ein Umhüllungsblocks (90) benutzt wird, der ein erstes Führungsloch (H1) an seinem ersten Ende aufweist, der ein zweites Führungsloch (H2) an seinem zweiten Ende aufweist, der ein drittes Führungsloch (H3) mittig in einer Linie der Anschlussstifte (P1–P16) aufweist, und der mindestens einen der Aufteilung dienenden dünneren Abschnitt, welcher durch eine Ausnehmung (100a) gebildet wird, in der Nähe des dritten Führungslochs (H3) aufweist.
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