DE6912949U - Halbleitergleichrichter. - Google Patents
Halbleitergleichrichter.Info
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Description
5873
GENERAL ELECTRIC COMPANY, Schenectady, N.Y. V.St.A.
Halbleitergleichrichter
Die Neuerung bezieht sich auf einen Halbleitergleichrichter mit einem scheibenförmigen Halbleiterkörper, an dessen großflächigen
Stirnseiten eine obere und eine untere großflächige Hauptelektrode in Form einer dünnen Scheibe aus einem elektrisch hochleitenden
Metall, wie Kupfer, Silber, Aluminium, Messing, ohne metallurgische Verbindung unter einem Druck anliegen, der durch
zwei Stempel aus elektrisch hochleitendem Metall, wie Kupfer, Aluminium, Messing von deren großflächigen Stirnseiten auf die
Außenseiten der Elektroden ohne metallurgische Verbindung ausgeübt wird.
Für die elektrische Energieumwandlung werden heute in immer stärkerem Maße Festkörpergleichrichter aus Halbleitermaterial, z.B.
Silicium, verwendet, die hohe Ströme führen können. Damit durchschnittliche Vorwärtsströme von 250 Ampdre oder mehr fließen
können, sind großflächige Halbleiterkörper notwendig. Im allgemeinen werden dünne, scheibenförmige, vielschichtige Halbleiterkörper
verwendet, die zwischen ebenen Metallelektroden angeordnet sind, welche derart an zwei entgegengesetzten Enden eines
Isolatorhohlkörpers befestigt sind, daß der Halbleiterkörper von einem abgedichteten Gehäuse umgeben ist. Bei Verwendung eines
zweischichtigen (PN)-Siliciumkörpers erhält man einen einfachen Gleichrichter oder eine Diode, wohingegen man bei Verwendung
eines vierschichtigen (PNPN)-Halbleiterkörpers mit einer Steuerelektrode einen steuerbaren Gleichrichter bzw. Thyristor erhält.
Für einen optimalen Wirkungsgrad ist es in jedem Fall erforderlich, daß die Grenzflächen zwischen den. Endflächen des Halb-
leiterkörpers und den auf diese aufgebrachten Elektroden
einen möglichst geringen elektrischen und thermischen Widerstand aufweisen. In der Praxis ist es jedoch schwierig, zwischen
diesen Teilen des abgedichteten Halbleitergleichrichters
eine großflächige Kontaktierung mit geringem Widerstand aufrechtzuerhalten, da der halbleiterkörper nicht den gleichen
thermischen Ausdehnungskoeffizienten wie die angrenzenden Metallelektroden aufweist und daher beim Steigen und Pallen
der Temperatur die Übergangsflächen zwischen Halbleiter und
Elektrode leicht brechen.
Das Problem nicht übereinstimmender Ausdehnungskoeffizienten
ist in der Halbleitertechnik seit langer Zeit bekannt. Zur
Vermeidung dieses Problems werden Siliciumkörper vorzugsweise
auf Metallplatten befestigt, deren Ausdehnungskoeffizient in dem bei der Herstellung und beim Betrieb benötigten Temperaturbereich
etwa dem des Siliciuros entspricht. Bei Halbleitergleichrichtern
für sehr hohe Ströme, bei denen über einen breiten Temperaturbereich von beispielsweise 150 C ein in-
P niger, großflächiger Kontakt von mehr als etwa 3,2 cm (0,5
Zoll ) Größe aufrechterhalten werden muß, innerhalb von welchen
der Halbleiterkörper nicht zerstört werden darf, eignen sich besser durch Druck hergestellte Gleitkontakte.
Bei der Herstellung eines solchen durch Druck bewirkten Gleitkontaktes
wird kein Lötmittel, Bindemittel oder dergleichen zum Befestigen des Halbleiterkörpers zwischen den beiden
Hauptelektroden des Halbleitergleichrichters verwendet. Stattdessen werden diese Teile unter Druck eingespannt und
dabei in gleitender Berührung gehalten, so daß sie sich theoretisch, wenn die Betriebstemperatur ansteigt, mit verschiedenen
Geschwindigkeiten frei ausdehnen könnten.
Es hat sich jedoch gezeigt, daß die Reibungskräfte, die bei
der Gleitbewegung in den Grenzflächen der Druckkontakte auf-
treten, insbesondere bei Hochstrom-Bauelementen wegen der groCen
Temperaturschwankungen so groß sind, daß die Siliciumkörper übermäßig beansprucht werden. Zur Vermeidung dieses Nachteils
ist der Halbleitergleichrichter der eingangs erwähnten Art dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der oberen Elektrode und dem
oberen Stempel eine Pufferscheibe angeordnet ist, die an der Außenseite der oberen Elektrode und der Stirnseite des oberen
Stempels ohne metallurgische Verbindung großflächig anliegt und die aus einem anderen elektrisch leitenden Material als die
Stempel der Elektroden besteht, dessen Wärmeausdehnungskoeffi- I zient annähernd derselbe wie derjenige des Halbleiters und
wesentlich verschieden von demjenigen der Stempel und demjenigen der Elektroden ist.
Eine Ausführungsform der Neuerung wird nachstehend an Hand der Zeichnungen beispielshalber beschrieben.
Die Fig. 1 ist ein Schnitt durch einen Halbleitergleichrichter für hohe Ströme nach der Neuerung.
Die Fig. 2 zeigt einen Ausschnitt der Fig. 1 in Vergrößerung.
Die Fig. 3 ist eine Draufsicht' auf den neuerungsgemäßen Reibungsdämpfer.
Im folgenden wird an Hand der Fig. 1 ein Halbleitergleichrichter 11 beschrieben, dessen einzelne Teile, wenn es nicht ausdrücklich
anders erwähnt ist, kreisförmig ausgebildet sind. Der Halbleitergleichrichter 11 enthält einen scheibenförmigen
Halbleiterkörper 12, der zwischen den ebenen Böden bzw. Elektroden 13 und 14 zweier tassenförmiger Anschlußelemente angeordnet
ist. Die Randabschnitte 15 und 16 der beiden Anschluß-
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elemente sind derart an entgegengesetzten Enden 17 und 18
eines elektrisch ioolierenden Hohlkörpers 19 befestigt, daß
oich ein aus einem Stück bestehendes, hermetisch abgedichtetes
Gehäuse für den Halbleiterkörper 12 ergibt. Wie in Pig. 1 angedeutet ist, ist der Halbleitergleichrichter unter Druck
zwischen den einander zugewandten Enden zweier aufeinander ausgerichteter Stempel 20 und 21 eingespannt, die als elektrisehe
und thermische Leiter dienen.
Der scheibenförmige Halbleiterkörper 12 des Halbleitergleichrichters
11 besteht aus einem Halbleitermaterial und enthält, wie es in der Pig. 2 angedeutet ist, vorzugsweise eine z.B.
0,3 mm dünne großflächige, kreisrunde Scheibe 22 aus asymmetrisch leitendem Silicium, die auf einem dickeren,
z.B. 1,5 mm dicken scheibenförmigen Substrat 23 aus Wolfram oder Molybdän befestigt ist, auf dessen äußerer Oberfläche
ein Gold-Nickel-Kontakt 24 (z.B. 94$ Gold, f.0/« Nickel)
vorgesehen ist, während auf der äußeren Oberfläche der SiIiciumscheibe
22 ein dünner Metallkontakt 25 angebracht ist, der im Bedarfsfall auch weggelassen werden könnte. Der Kontakt
besteht vorzugsweise aus Gold, könnte jedoch auch aus anderen Metallen wie Silber, Aluminium, Indium, Rhodium, Nickel oder
irgendwelchen Legierungen dieser Metalle bestehen.
Der Halbleiterkörper 12 kann in bekannter Weise hergestellt
werden. Sein Durchmesser beträgt z.B. 32,4 mm. Im Inneren der Siliciumscheibe 22 ist mindestens ein großflächiger
PN-Übergang vorgesehen, der im wesentlichen parallel zu den Endflächen verläuft. Das gezeigte Ausführungsbeispiel
ist ein steuerbarer Halbleitergleichrichter, d.h. Thyristor,
dessen Halbleiterkörper vier Zonen von abwechselnd entgegengesetztem Leitungstyp enthält, von denen die eine am Band eine
Steuerelektrode 26 aufweist, die mit einer flexiblen Steuerleitung
27 ohmsch kontaktiert ist. Mit dem Substrat 23 ist in diesem falle eine P-Ieitende Zone des Halbleiterkörperβ 22
ohmsch verbunden, so daß der Vorwärtsstrom durch den Ha χ bleiterkörper
vom Kontakt 24 zum Kontakt 25 fließt. Die Kontakte sind geschliffen und geläppt, damit ihre Kontaktflächen
parallel zueinander und senkrecht zur Achse des Halbleiterkörpers 12 liegen. Auf der ringförmigen Fläche des Halbleiterkörper
12, die in radialer Richtung über die Oberfläche des Kontaktes 25 hinausragt, und auf demjenigen Teil der Oberfläche
des Kontaktes 25, der neben der am Umfang befindlichen
Steuerelektrode 26 liegt, ist ein Schutzüberzug 28 aus Isoliermaterial, z.B. Siliconkautschuk, vorgesehen.
Wie aus der Pig. 1 hervorgeht, befinden sich die entgegengesetzten
Endflächen des Halbleiterkörpers 12 mit je einer ebenen Oberfläche der parallelen Elektroden 13 und 14 der beabstandeten
Anschlußelemente des Halbleitergleichrichters 11
in Anlage, so daß der zwischen den Stempeln 20 und 21 fließende Verbraucherstrom auch durch die Elektroden 13 und 14
und den Halbleiterkörper 12 fließt. Dabei kann die Elektrode
13 auch als Anode" und die Elektrode 14 auch als Katode bezeichnet
werden. Jede Elektrode besteht aus einer dünnen Scheibe aus einem hochleitenden, duktilen Metall wie z.B.
Silber, Aluminium, Messing oder vorzugsweise Kupfer. Die besten Ergebnisse erhält.man, wenn die Elektroden 13 und 14
j · mit sehr dünnen Silber-, Gold- oder Nickelschichten plattiert
sind.
· Die Anode 13 ist mittels eines dünnen, im wesentlichen zyi, lindrischen Rohrs 29 bleibend mit dem nach außen flansch-
5j artig erweiterten Randabschnitt 15 verbunden, der an einer
metallisierten Endfläche 17 des Isolatorhohlkörpers 19 angelötet
oder andersartig befestigt ist. Die Teile 13, 15 und 29 bilden somit ein aus einem Stück bestehendes, tassenförmiges
Anschlußelement, wobei das Rohr 29 ein Teil einer Art elasti-
scher Membran (Diaphragma) ist, die wie gezeigt in den Isola-
torhohlkörper 19 ragt. Ein ähnliches Anschlußelement ist
durch dio Katode 14» don Randabochnitt 16 und ein dieco boiden
Toile vcrblndendea Rohr 30 goblldet, welches jedoch nicht
zylindrisch ist, sondern einen mit einer Einbuchtung versehenen Abschnitt 30a aufweist, durch den ein vergrößerter Raum
zum Anschluß einer Steuerzuleitung 27 an die Steuerelektrode
gebildet ist. Außerdem ist die Katode 14 im Gegensatz zur kreisrunden Anode 13 im wesentlichen D-förmig ausgebildet,
indem in ihrem linken Teil 31 ein Randsegment abgebogen ist, damit derjenige Katodenteil, der in der Nähe der peripheren
Steuerelektrode 26 an die obere Oberfläche des Halbleiterkörpers 12 angrenzt, entlastet wird.
Damit auch die innere Steuerzuleitung 27 von außen her zugänglich
ist, enthält der Halbleitergleichrichter 11 eine Steuerklemme 33 aus leitendem Material, die durch den Isolatorhohlkörper
19 geführt ist. Wie die Pig. 1 zeigt, enthält der Isolatorhohlkörper 19 zwei koaxial zueinander angeordnete
Zylinderringe 34 und 35 mit gleichem Innendurchmesser, die vorzugsweise aus Keramik bestehen. Der Zylinderring 35,
an dessen metallisierter Endfläche 18 eier Randabschnitt 16
des Katodenanschlußelementes angelötet ist, ist in Achsrichtung
relativ kurz, wohingegen der Zylinderring 34 aus einer länglichen Hülse besteht, die. die Anode 13, den Halbleiterkörper
12, die Katode 14 und den unteren Teil des Rohrs 30 umgibt. Die beiden Zylinderringe 34 und 35, aus denen der
Isolatorhohlkörper 19 zusammengesetzt ist, sind durch einen Metallring 36 und die ringförmige Steuerklemme 33 verbunden.
Der Metallring 36 und die Steuerklemme 33 sind koaxial zwischen den Zylinderringen 34 und 35 angeordnet, wobei die
Steuerklemme 33 an der metallisierten Endfläche des Zylinderrings 34 befestigt ist und ringförmig nach außen ragt, während
der Metallring 36 an der metallisierten Endfläche des
Zylinderrings 35 befestigt ist und in ähnlicher Yfeise ringförmig
nach außen ragt. Der Metallring 36 und die Steuerklemme
33 sind längs ihres äußeren Umfange miteinander ver-
schweißt, so daß sich ein hermetisch abgedichtetes Cöhäuce
für den Halbleiterkörper 12 ergibt. Vorzugsweise wird din Ver schweißung in einer inerten Atmosphäre vorgenommen, 3o daß
Sauerstoff und andere unerwünschte Gase bleibend vom Inneren des Gehäuses abgehalten sind. Innerhalb des Gehäuses ist die
Steuerzuleitung 27 mit einem leitenden Vorsprung 38 der Steuerklemme
33 verbunden (vgl. Pig. 1).
Der Halbleiterkörper 12 wird zwischen den Hauptelektroden 13 und 14 des Halbleitergleichrichters mechanisch unter Druck so
eingespannt, daß er gleichzeitig elektrisch mit den Hauptelektroden in Serie liegt. Zum Verbinden dieser Teile wird
kein Lötmittel oder dergl. verwendet. Der elektrische Kontakt zwischen den Metallflächen des Halbleiterkörpers 12 und den
angrenzenden Kontaktflächen der zugeordneten Elektroden wird lediglich dadurch gesichert, daß diese Teile durch einen im
etwa kreisförmigen Bereich der Grenzflächen wirksamen Druck eingespannt werden. Dieser Druck wird in erster Linie durch
die elastischen Eigenschaften der beiden Anschlußeleroente bewirkt,
die an den beiden Enden des Halbleitergleichrichters angeordnet sind. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel
werden die Anode 13 und die Katode 14 außerdem.· mittels der
nach außen liegenden Stempel 20 und 21 fest gegen den Halbleiterkörper gedrückt, wodurch sich eine noch innigere Berührung
und eine für hohe Ströme geeignete Grenzfläche mit gerin gem Widerstand ergibt. Zum Zusammendrücken der Stempel 20
und 21 in Achsrichtung kann irgendeine von außen her wirksame Einspannvorrichtung verwendet werden.
Die aufeinander ausgerichteten Stempel 20 und 21 sind im wesentlichen
zylindrisch und bestehen aus einem hochleitenden
Material wie Aluminium, Messing oder vorzugsweise Kupfer. Sie ragen aus breiteren Bauteilen oder Wärraesenken aus gleichem
oder ähnlichem Material heraus und sind geeignet abgeschrägt,
damit sie in die tassenförmigen Anschlußelemente des Halblei-
41
tergleichrichters passen. An ihren Enden sind parallele, ebene Kontaktflächen 43 bzw. 44 vorgesehen. Die Kontaktfläche
43 des Stempels 20 liegt an der äußeren Kontaktfläche der Anode 13 an. In ähnlicher Weise liegt die Kontaktfläche
44 des Stempels 21 der äußeren Kontaktfläche der Katode 14 gegenüber, wobei zwischen den einander zugewandten
Flächen eine erfindungsgemäße Pufferscheibe 45 angeordnet ist. Die besten Ergebnisse werden erzielt, wenn
die Endflächen der Stempel mit sehr dünnen Schichten aus Silber, Nickel oder Gold überzogen sind.
In den kleinen Zwischenräumen,· die sich an den beiden Enden des Isolatorhohlkörpers 19 zwischen diesem und den
angrenzenden Wärmesenken ergeben, sind Dichtungsringe 46 aus einem nachgiebigen Material vorgesehen, die zur mechanischen
Stabilität des Isolatorhohlkörpers 19 beitragen und verhindern, daß Staub oder andere Verunreinigungen in
den Raum eintreten, der die abgeschrägten Enden der Stempel 20 und 21 umgibt.
Wenn der Halbleitergleichrichter 11 zwischen den Stempeln
20 und 21 gemäß Pig. 1 eingespannt ist, dann sind seine Anode 13 und seine Katode 14 fest gegen den dazwischen befindlichen,
scheibenförmigen Halbleiterkörper 12 gedrückt. Auf die aneinandergrenzenden Kontaktflächen dieser Teile wird
ein hoher Druck von beispielsweise 211 kg/cm ausgeübt, so daß im gesamten Bereich der großflächigen Grenzfläche
eine gute elektrische und thermische Leitfähigkeit sichergestellt.ist. In radialer Richtung ist der Halbleiterkörper
12 dabei jedoch höchstens durch Reibung bean- I sprucht.
Während des Betriebs wird der Halbleitergleichrichter Wärmeatößen
unterworfen, die Änderungen seiner Dimensionen zur Folge haben. Da die Katode 14 nicht aus dem gleichen Mate-
rial wie der Halbleiterkörper 12 besteht, besitzen diese Teile verschiedene thermische Ausdehnungskoeffizienten, so
daß ihre miteinander in Berührung befindlichen Kontaktflächen gegeneinander reiben. Durch diese Grenzflächenreibung
oder -gleitung wird der Siliciumkörper 12 mechanisch beansprucht, was auf die Dauer zu Riosen oder anderen ernsthaften
Beschädigungen führen kann. Als Folge davon werden sowohl die Zahl der aufeinanderfolgenden wicd erholbaren
Wärmestöße als auch die maximal mögliche Temperaturdifferenz pro Warmestoß, die bekannte Bauelemente ohne Zerstörung
aushalten können, in unerwünschtem Maße erniedrigt.
Zur Verbesserung der thermischen Belastbarkeit wird neuerungsgemäß in der Einspannvorrichtung zwischen der äußeren
Oberfläche der Katode 14 und der ihr zugewandten Kontaktfläche 44 des Stempels 21 die Pufferscheibe 45 vorgesehen.
Die Pufferscheibe 45 ist ein im allgemeinen scheibenförmiger Bauteil aus Hartmetall, dessen Ausdehnungskoeffizient angenähert
gleich dem des Halbleiterkörpers 12 in dem Temperaturbereich ist, in dem der Halbleitergleichrichter 11
betrieben wird, Das Grundmaterial der Pufferscheibe kann
aus Wolfram, Molybdän, Chrom oder im wesentlichen aus Eisen und Nickel zusammengesetzten Legierungen bestehen, die gewöhnlich
mit Ferni, Pernico oder Kovar bezeichnet werden. Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel der Erfindung wird
Wolfram verwendet, da dieses bessere thermische und elektrische Leitfähigkeitseigenschaften besitzt. Wie die Katode
ist die Pufferscheibe 45 vorzugsweise mit einer Plattierung oder einem Überzug aus Nickel, Silber oder Gold versehen.
Die Pufferscheibe 45 aus Wolfram, die viel dicker als die Kupferkatode 14 (z.B. fünfmal dicker) ist, besteht aus
einem einzelnen Stück und ist vom Gleichrichter 11 trennbar, d.h. mit der angrenzenden Katode nicht metallurgisch verbunden.
Ihre untere Breitseite ist im wesentlichen an die
äußere Oberfläche der Katode 14 angepaßt und liegt an dieser an. Bei dem in der Zeichnung dargootellten Thyristor iot die
Pufforschcibe 45 daher D-förroig ausgebildet (Gig. 3). Bei
Verwendung der Pufferscheibe in einer Diode mit einer kreisförmigen
Katode würde die Pufferscheibe natürlich ebenfalls kreisrund sein und das gestrichelt dargestellte Segment 45a
zusätzlich aufweisen. Vorzugsweise ist in der Grenzfläche zwischen der Katode und der Pufferscheibe zur Förderung von
Gleitbewegungen ein sehr dünner PiIm aus einem inerten Schmiermittel wie Siliconöl vorgesehen. Dadurch wird eine
Oxidation der in Berührung befindlichen Oberflächen vermieden und ihre Adhäsion verringert. Aus dem gleichen Grund wird
auch zwischen die Pufferscheibe 45 und die Oberfläche 44 des Stempels 21 Siliconöl gebracht, wenn die Pufferscheibe nicht,
wie es manchmal der Fall sein kann, am distalen Ende des Stempels befestigt, z.B. angelötet ist.
Die Katode 14 des Gleichrichters 11 ist zwischen dem inneren Halbleiterkörper--12 und der äußeren Pufferscheibe 45 fest
eingespannt, und da sie dünn ist und aus einem duktilen Material besteht, nimmt sie die thermischen Ausdehnungseigenschaften
dieser angrenzenden Teile an. Insbesondere werden die innere Oberfläche der Katode und die Goldfläche 25 des
Halbleiterkörpers 12 mit hoher Wahrscheinlichkeit verschmelzen.
Folglich werden die Oberflächenauslenkungen der
Katode relativ zum Halbleiterkörper wirksam vermieden, so
daß die Oberflächenbeschaffenheit der Siliciumscheibe 22 erhalten
bleibt. Die an die Katode angrenzende Oberfläche der Pufferscheibe weist abgerundete Kanten bzw. Ränder auf, damit
Rißbildungen oder Brüche in der unterhalb der Pufferscheibe liegenden Siliciumscheibe vermieden werden.
Durch das zusätzliche Anbringen der Pufferscheibe 45außerhalb
des Gehäuses des Halbleitergleichrichters 11 wird die thermische Belastbarkeit des Gleichrichters wesentlich verbessert,
69129A9H.9.72
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- 11
ohne daß seine thermischen oder elektrischen Eigenschaften
merklich verschlechtert werden. Versuche haben insbesondere ergeben, daß seine Lebensdauer bei einem Anstieg des thermischen
Widerstands bei Stoßbetrieb von nur etwa 1,5$,
gemessen durch die Zahl der Temperaturzyklen in einem gegebenen Temperaturbereich, um etwa das 100-fache erhöht wird.
Im Vergleich zu einer Anordnung, bei der die Pufferscheibe
innerhalb des abgedichteten Gehäuses zwischen Halbleiterkörper und Katode untergebracht wird, weist die erfindungsgemäße
Anordnung mehrere Vorteile auf. In thermischer Hinsicht ist es günstiger, wenn die Katode und nicht die Pufferscheibe
dem Halbleiterkörper am nächsten liegt, da die Katode aus Kupfer besteht, dessen spezifische Wärme etwa
dreimal so groß und dessen Dichte weniger als halb so groß wie die von Wolfram ist. Weiterhin ist die Kontaktfläche
größer und verschmilzt die Katode leichter mit der Goldoberfläche
25 des Halbleiterkörpers, wodurch der thermische Widerstand dieses der Wärmequelle am nächsten liegenden Übergangs
vermindert wird. Weiterhin besteht nioht die Gefahr, daß die Pufferscheibe während der Abdichtung des Gleichrichters
11 und seinem nachfolgenden Einspannen in dt>r Einspannvorrichtung
aus ihrer genau-festgelegten räumlichen Lage verschoben
werden kann. Eine äußere Pufferscheibe 45 gestattet außerdem eine größere Flexibilität, da sie, ohne daß die
übrige Gleichrichteranordnung irgendwie verändert werden müßte, im Bedarfsfall weggelassen und z.B. durch ein gleichgroßes
Abstandsstück aus Kupfer ersetzt werden kann, wenn nämlich beispielsweise die Betriebstemperaturschwankungen
nicht so stark sind, daß die Verwendung der Pufferscheibe
notwendig wäre. Schließlich sei in diesem Zusammenhang darauf hingewiesen, daß es, wenn es die Temperaturschwankungen
erlauben, für eine stoßweise Belastung günstiger sein kann, die Kupferkatode 14 wesentlich dicker als beschrieben (z.B.
doppelt so diok) oder die Pufferscheibe 45 wesentlich dünner
zu maohen.
Claims (2)
1. Halbleitergleichrichter mit einem scheibenförmigen Halbleiterkörper,
an dessen großflächigen Stirnseiten eine obere und eine untere großflächige Hauptelektrode in Form einer
dünnen Scheibe aus einem elektrisch hochleitenden Metall, wie Kupfer, Silber, Aluminium, Messing, ohne metallurgische
Verbindung unter einem Druck anliegen, der durch zwei Stempel aus elektrisch hochleitendem Metall, wie Kupfer, Aluminium,
Messing von deren großflächigen Stirnseiten auf die Außenseiten der Elektroden ohne metallurgische Verbindung ausgeübt
wird, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der oberen Elektrode (14) und dem oberen Stempel
(21) eine Pufferscheibe (45) angeordnet ist, die an der Außenseite der oberen Elektrode (14) und der Strinseite (44)
des oberen Stempels (21) ohne metallurgische Verbindung großflächig anliegt und die aus einem anderen elektrisch leitenden
Material als die Stempel der Elektroden besteht, dessen Wärmeausdehnungskoeffizient annähernd derselbe wie derjenige
des Halbleiters und wesentlich verschieden von demjenigen der Stempel und demjenigen der Elektroden ist.
2. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1 mit einem Halbleiter aus Silizium, dadurch gekennzeichnet,
daß das Material der Pufferscheibe aus Wolfram, Molybdän, Chrom oder hauptsächlich Eisen und Nickel enthaltenden Legierungen
besteht.
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