DE69121510T2 - Ausgangstrennstufe für einen integrierten Halbleiterschaltkreis - Google Patents

Ausgangstrennstufe für einen integrierten Halbleiterschaltkreis

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Description

    1. Technisches Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft eine Ausgangstrennstufe bzw. einen Ausgangspuffer und insbesondere einen Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises mit einer TTL- Schnittstelle.
  • 2. Darlegung des Standes der Technik
  • Fig. 1 zeigt ein Schaltschema, das einen bekannten Ausgangspuffer darstellt.
  • In Fig. 1 stellen eine Induktivität L und eine Kapazität C, die mit einem Ausgangsanschluß O42 eines Ausgangspuffers verbunden sind, eine Ersatzschaltung für eine Signalübertragungsleitung mit einer charakteristischen Impedanz Z&sub0; dar, welche an die der Leitung angepaßt ist. Der Ausgangspuffer schaltet p- und n-Kanal-MOS-Transistoren P42 bzw. N41, die mittels einer Treiberschaltung G41 mit Invertern 40 und 41 zwischen eine erste Stromquelle (nachstehend als VDD bezeichnet) und den Ausgangsanschluß O42 bzw. mittels einer Treiberschaltung G42 mit Invertern 42 und 43 zwischen eine zweite Stromquelle (nachstehend als GND bezeichnet) und den Ausgangsanschluß O42 geschaltet sind, komplementär zueinander als Reaktion auf ein Eingangssignal I41 zum Treiben der Last durch die Signalübertragungsleitung mit der charakteristischen Impedanz Z&sub0;. In dem Ausgangspuffer für einen integrierten Schaltkreis mit TTL-Schnittstelle mit einer Spannung der Stromquelle von 5 Volt werden die geometrischen Abmessungen der p- und n- Kanal-MOS-Transistoren in der Endstufe und der MOS-Transistoren, welche die Treiberschaltungen G41 und G42 bilden, so festgelegt, daß die Verzögerungszeit von dem Zeitpunkt, in dem das Einganqssignal I41 abzufallen beginnt, bis zu dem Zeitpunkt, in dem der Pegel am Ausgang 41 2 Volt gegen Masse erreicht, sowie die Verzögerungszeit von dem Zeitpunkt, in dem das Eingangssignal 141 anzusteigen beginnt, bis zu dem Zeitpunkt, in dem der Pegel am Ausgang 0,8 Volt gegen VDD erreicht, den technischen Daten entsprechen.
  • Fig. 2 zeigt ein Schaltschema eines bekannten Ausgangspuffers, der für bidirektionale Eingangs-/Ausgangs-Schaltungen verwendet wird, wie z. B. für einen Datenbus. Der Unterschied zwischen den Ausgangspuffern von Fig. 1 und 2 liegt darin, daß der letztere Ausgangspuffer in der Lage ist, die p- und n-Kanal-MOS-Transistoren P51 und N51 zwischen einem Steuerzustand, in dem einer der beiden Transistoren leitend ist, und einem Hochimpedanzzustand, in dem beide Transistoren nichtleitend sind, umzuschalten. Der Unterschied im Schaltungsaufbau liegt darin, daß in den Treiberschaltungen G51 bzw. G52 das NOR-Gatter 51 bzw. das NAND-Gatter 53 eingesetzt werden und der Zustand des Ausgangs O52 durch diese Gatter umgeschaltet wird. Die Gatter 51 und 53 empfangen ein Steuersignal C51.
  • Wie oben erwähnt, muß am Ausgang des Ausgangspuffers des integrierten Schaltkreises mit einer TTL-Schnittstelle, die eine Spannungsquelle von 5,0 Volt aufweist, die Spannung während der Anstiegszeit von 0,0 Volt auf 2,0 Volt und während der Abfallzeit von 5,0 Volt auf 0,8 Volt verändert werden. Die Spannungsänderung während der Abfallzeit ist etwa doppelt so groß wie die während der Anstiegszeit.
  • Entsprechend der Beschleunigung von Systemen, in denen integrierte Schaltkreise verwendet werden, ist eine Beschleunigung des Ausgangspuffers gefordert worden. Demnach ist es wünschenswert, am Ausgang für gleiche Anstiegs- und Abfallverzögerungszeiten zu sorgen. Daher sollte der Ausgangswiderstand des n-Kanal-MOS-Transistors in der Endstufe des Ausgangspuffers halb so groß wie der des p-Kanal-MOS-Transistors in der Endstufe sein. Wenn, wie bei O41-1 und O51-1 in Fig. 3 dargestellt, der Ausgangswiderstand des n-Kanal-MOS-Transistors in der Endstufe des Ausgangspuffers gleich dem des p-Kanal-MOS- Transistors, d. h. gleich der charakteristischen Impedanz der Signalübertragungsleitung ist, tritt kein Unterschwingen auf, während sich die Anstiegsverzögerungszeit verlängert. Wie bei O41-2 und O51-2 in Fig. 3 dargestellt, treten ein Unterschwingen und eine Funktionsstörung aufgrund dieses Unterschwingens auf, wenn der Ausgangswiderstand des n-Kanal-MOS-Transistors in der Endstufe des Ausgangspuffers niedriger als der halbe Ausgangswiderstand des p-Kanal-MOS-Transistors ist, d. h. niedriger als die charakteristische Impedanz der Signalübertragungsleitung.
  • Die US-Patentschrift US-A-4 952 818 beschreibt eine symmetrische Gegentakt-Treiberschaltung für eine Übertragungsleitung mit einem zwischen die Stromversorgung und den Ausgangsanschluß geschalteten p-Kanal-MOS-Transistor und einem zwischen den Ausgangsanschluß und Masse geschalteten n-Kanal- MOS-Transistor, wobei die Transistoren in Abhängigkeit von einem Eingangssignal komplementär zueinander leitend sind, wobei der Ausgangswiderstand jedes Transistors gleich der charakteristischen Impedanz der mit dem Ausgangsanschluß verbundenen Signalübertragungsleitung ist.
  • Die japanische Offenlegungsschrift JP-A-112 424 von 1986 beschreibt symmetrische Gegentakt-Transistoranordnung, die eine Ausgangspufferschaltung bildet und in der die Last durch Änderung des Innenwiderstands der Pufferschaltung angepaßt werden kann.
  • Die japanische Offenlegungsschrift JP-A-81 409 von 1989 beschreibt eine symmetrische Gegentakt-Pufferschaltung gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1, die zur Rauschunterdrückung einen zweiten Transistor aufweist, der jedem der ersten p- und n-MOS-Transistoren zugeordnet ist, wobei der zweite Transistor einschaltet, wenn der erste ausschaltet, und der zweite Transistor ausschaltet, wenn der erste einschaltet.
  • Die vorliegende Erfindung ist in dem weiter unten stehenden Anspruch 1 definiert, auf den hiermit verwiesen wird. Vorteilhafte spezielle Ausführungsbeispiele werden in den abhängigen Ansprüchen dargelegt.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand von Beispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigen:
  • Fig. 1 ein Schaltschema, das einen bekannten Ausgangspuffer darstellt;
  • Fig. 2 ein Schaltschema, das einen Ausgangspuffer für eine bekannte bidirektionale Eingangs-/Ausgangs-Schaltung darstellt;
  • Fig. 3 eine Wellenformdarstellung zur Erläuterung der Arbeitsweise eines bekannten Ausgangspuffers;
  • Fig. 4 ein Schaltschema, das ein erstes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ausgangspuffers darstellt;
  • Fig. 5 ein Wellenform-Diagramm zur Erläuterung der Arbeitsweise der vorliegenden Erfindung; und
  • Fig. 6 ein Schaltschema, das ein zweites Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ausgangspuffers darstellt.
  • Ausführliche Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • Nachstehend werden anhand der Zeichnungen Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung beschrieben.
  • Fig. 4 zeigt ein Schaltschema, das ein erstes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Ausgangspuffers darstellt.
  • In Fig. 4 stellen eine Induktivität L und eine Kapazi tät C eine Ersatzschaltung für eine Signalübertragungsleitung mit einer charakteristischen Impedanz Z&sub0; dar.
  • p- und n-Kanal-MOS-Transistoren P11 und N11, die eine erste Ausgangsschaltung bilden, sind zwischen einer Stromquelle VDD und Masse GND in Serie geschaltet. Die MOS-Transistoren P11 und N11 haben jeweils einen Ausgangswiderstand, der gleich der charakteristischen Impedanz Z&sub0; der Signalübertragungsleitung ist. Die zusammengeschalteten Drainelektroden der Transistoren sind mit der Signalübertragungsleitung verbunden. Ein Eingangssignal I11 wird über eine Treiberschaltung G11 mit in Serie geschalteten Invertern 11 und 12 bzw. eine Treiberschaltung G12 mit in Serie geschalteten Invertern 13 und 14 an die Steuerelektroden der MOS-Transistoren P11 bzw. N11 angelegt.
  • Andererseits ist ein n-Kanal-MOS-Transistor N12, der eine zweite Ausgangsschaltung bildet, parallel zu dem n-Kanal- MOS-Transistor N11 zwischen den Ausgangsanschluß O12 und Masse GND geschaltet. Der Ausgangswiderstand des n-Kanal-MOS-Transistors N12 ist so voreingestellt, daß er gleich dem des n-Kanal-MOS-Transistors N11 ist.
  • Ein Ausgangssignal einer Hilfstreiberschaltung G13, die den n-Kanal-MOS-Transistor N12 nur dann in einen Durchlaßzu stand bringt, wenn das Eingangssignal I11 ansteigt, wird an die Steuerelektrode des n-Kanal-MOS-Transistors N12 angelegt. Die Hilfstreiberschaltung G13 weist eine Serienschaltung von Invertern 15, 16 und 17 zum Invertieren des Eingangssignals I11 und ein NAND-Gatter 18, an welches das Ausgangssignal der Inverterschaltung und das Eingangssignal I11 angelegt werden, sowie einen Inverter 19 zu Invertieren des Ausgangssignals des Gatters 18 auf.
  • Fig. 5 zeigt eine Wellenformdarstellung zur Erläuterung der Arbeitsweise des Ausgangspuffers. Wenn sich das Eingangssignal I11 von einem VDD-Pegel auf einen GND-Pegel ändert, werden die Gate-Potentiale der MOS-Transistoren P11 und N11 durch die Treiberschaltungen G11 und G12 auf den GND-Pegel geändert. Dementsprechend werden die p- und n-Kanal-MOS-Transistoren P11 bzw. N11 ein- bzw. ausgeschaltet. Die Signalübertragungsleitung wird durch den p-Kanal-MOS-Transistor P11 so aufgeladen, daß das Ausgangssignal ansteigt. Am Ausgangsanschluß O11 tritt jedoch kein Überschwingen auf, da die Impedanz des Ausgangswiderstands des p-Kanal-MOS-Transistors P11 an die der Signalübertragungsleitung angepaßt ist.
  • Wenn sich andererseits das Eingangssignal I11 vom GND- Pegel auf den VDD-Pegel ändert, werden die Gate-Potentiale der MOS-Transistoren P11 und N11 durch die Treiberschaltungen G11 und G12 auf den VDD-Pegel geändert. Dementsprechend werden die p- und n-Kanal-MOS-Transistoren P11 und N11 aus- bzw. eingeschaltet. Da das Gate-Potential des n-Kanal-MOS-Transistors N12 durch die Hilfstreiberschaltung G13 gleichzeitig auf den VDD-Pegel geändert wird, wird der n-Kanal-MOS-Transistor N12 eingeschaltet. Dadurch wird die Signalübertragungsleitung durch die n-Kanal-MOS-Transistoren N11 und N12 schnell entladen, so daß das Ausgangssignal ansteigt.
  • In der Hilfstreiberschaltung G13 fällt nach dem Anstieg des Eingangssignals I11 das Ausgangssignal des Inverters 17 erst nach Ablauf einer durch die Inverter 15 bis 17 veranlaßten Signalübertragungs-Verzögerungszeit ab, und das Ausgangssignal des NAND-Gatters wird auf den VDD-Pegel invertiert. Das Ausgangssignal des Inverters 19 wird auf den GND-Pegel invertiert, und der n-Kanal-MOS-Transistor N12 wird ausgeschaltet.
  • Wenn das Eingangssignal auf eine solche Weise abfällt, werden im Übergangszustand beide n-Kanal-MOS-Transistoren N11 und N12 eingeschaltet. Der n-Kanal-MOS-Transistor N12 wird dann ausgeschaltet. Entsprechend ist die Abfallverzögerungszeit gleich der Anstiegsverzögerungszeit, so daß ein Unterschwingen des Ausgangssignals O11 reduziert werden kann.
  • In Fig. 6 ist ein Schaltschema eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung dargestellt. Das zweite Ausführungsbeispiel ist in der Grundstruktur im wesentlichen identisch mit dem ersten Ausführungsbeispiel, mit der Ausnahme, daß eine Treiberschaltung G21 zum Treiben eines p- Kanal-MOS-Transistors P21 ein NOR-Gatter 21 sowie Inverter 20 und 22 aufweist und daß eine Treiberschaltung zum Treiben eines n-Kanal-MOS-Transistors N21 ein NAND-Gatter 23 und einen Inverter 24 aufweist. An die Treiberschaltungen wird ein Steuersignal C21 angelegt.
  • Eine Hilfstreiberschaltung G23 zum Treiben eines n-Kanal-MOS-Transistors N22 weist ein NAND-Gatter 28 mit drei Eingängen und Inverter 25 bis 27 und 29 auf. An das NAND-Gatter 28 wird das Steuersignal C21 angelegt.
  • Dieses Ausführungsbeispiel arbeitet ähnlich wie das erste Ausführungsbeispiel, wenn das Steuersignal C21 den VDD-Pegel hat. Befindet sich das Steuersignal auf dem GND-Pegel, dann sind alle MOS-Transistoren P21, N21 und N22 ausgeschaltet.
  • Wie oben erwähnt, wird die Impedanz des Ausgangstransistors an die der Signalübertragungsleitung angepaßt, wenn der Potentialpegel am Signalausgangsanschluß ansteigt. Wenn das Potential abfällt, treibt die Treiberschaltung die Signalübertragungsleitung mit dem halben Ausgangswiderstand. Nach Abfall des Potentials wird die Impedanz der Treiberschaltung gleich derjenigen der Signalübertragungsleitung. Daher können ein Überschwingen und ein Unterschwingen am Ausgang so reduziert werden, daß ein Hochgeschwindigkeitsbetrieb eingerichtet werden kann.

Claims (5)

1. Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises mit einem ersten Kanal-MOS-Transistor (P11; P21), der zwischen eine erste Stromquelle (VDD) und einen Ausgangsanschluß (O12; O22) geschaltet ist, und einem zweiten Kanal-MOS- Transistor (N11; N21), der zwischen eine zweite Stromquelle (GND) und den Ausgangsanschluß (O12; O22) geschaltet ist, wobei der erste und der zweite Kanal-MOS-Transistor in Abhängigkeit vom Pegel eines an ihren Steuerelektroden anliegenden Eingangssignals (I11; I21) komplementär zueinander in einen Durchlaßzustand gebracht werden, um eine Ausgangslast (L, C) zu treiben, die eine mit dem Ausgangsanschluß verbundene Signalübertragungsleitung aufweist, wobei der erste und der zweite Kanal-MOS-Transistor jeweils einen Ausgangswiderstand aufweisen, der gleich der charakteristischen Impedanz der Signalübertragungsleitung ist, wobei der Ausgangspuffer ferner aufweist: eine Hilfssteuereinheit mit einem dritten Kanal-MOS- Transistor (N12; N22), wobei der erste und der dritte Kanal- MOS-Transistor zueinander komplementär sind, und eine Einrichtung (G13; G23), um den dritten Kanal-MOS-Transistor nur dann in einen Durchlaßzustand zu bringen, wenn das Eingangssignal ansteigt; dadurch gekennzeichnet, daß der dritte Kanal-MOS- Transistor im Durchlaßzustand einen Ausgangswiderstand aufweist, der gleich der charakteristischen Impedanz der Signalübertragungsleitung ist, die mit dem zweiten Kanal-MOS-Transistor zwischen der zweiten Stromquelle und dem Ausgangsanschluß parallelgeschaltet ist, und daß zum ersten Kanal-MOS-Transistor kein dem dritten Kanal-MOS-Transistor entsprechender Transistor parallelgeschaltet ist.
2. Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises nach Anspruch 1, wobei der erste Kanal-MOS-Transistor ein p-Kanal-MOS-Transistor, der zweite Kanal-MOS-Transistor ein n-Kanal-MOS-Transistor und der dritte Kanal-MOS-Transistor ein n-Kanal-MOS-Transistor ist.
3. Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Einrichtung (G13) zum Bringen des dritten Kanal-MOS-Transistors in den Durchlaßzustand aufweist: eine Serienschaltung von Invertern (15, 16, 17) zum Invertieren des Eingangssignals; ein NAND-Gatter (18), das mit dem Eingangssignalanschluß über die Inverterschaltung verbunden ist, und einen Inverter (19), der mit dem Ausgang des NAND-Gatters und der Steuerelektrode des dritten Kanal- MOS-Transistors verbunden ist.
4. Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Einrichtung (G13) zum Bringen des dritten Kanal-MOS-Transistors in den Durchlaßzustand aufweist: eine Serienschaltung von Invertern (25, 26, 27); ein NAND-Gatter (28) mit drei Eingängen, dessen erster Eingang mit einem Steuersignalanschluß (C21) verbunden ist, während sein zweiter Eingang mit dem Eingangssignalanschluß (I21) verbunden ist und sein dritter Eingang mit dem Ausgang der Serienschaltung von Invertern verbunden ist, deren Eingang mit dem Eingangssignalanschluß verbunden ist; und einen Inverter (29), der mit dem Ausgang des NAND-Gatters mit drei Eingängen und der Steuerlektrode des dritten Kanal-MOS-Transistors (N22) verbunden ist.
5. Ausgangspuffer eines integrierten Halbleiterschaltkreises nach Anspruch 1, wobei die Einrichtung zum Bringen des dritten Kanal-MOS-Transistors in den Durchlaßzustand eine Impulserzeugungs- und Treiberschaltung aufweist, die mit der Steuerelektrode des dritten Kanal-MOS-Transistors verbunden ist, um die Durchlaßzeit des dritten Kanal-MOS-Transistors festzulegen.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5345113A (en) * 1993-05-19 1994-09-06 Unisys Corporation Control module for reducing ringing in digital signals on a transmission line
US5514979A (en) * 1994-11-28 1996-05-07 Unisys Corporation Methods and apparatus for dynamically reducing ringing of driver output signal
US5896045A (en) * 1997-05-05 1999-04-20 Siegel; Joshua Static pulsed cross-coupled level shifter and method therefor
US5929680A (en) * 1997-05-16 1999-07-27 Tritech Microelectronics International Ltd Short circuit reduced CMOS buffer circuit
US6529050B1 (en) * 2001-08-20 2003-03-04 National Semiconductor Corporation High-speed clock buffer that has a substantially reduced crowbar current
DE10331059B4 (de) * 2003-07-09 2005-08-04 Siemens Ag Transceiver
US8174291B1 (en) * 2004-06-24 2012-05-08 Cypress Semiconductor Corporation Buffer circuit with improved duty cycle distortion and method of using the same
JP2011024150A (ja) * 2009-07-21 2011-02-03 Elpida Memory Inc 出力ドライバ、出力ドライバを含むメモリ、メモリコントローラ及びメモリシステム

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583321A (ja) * 1981-06-29 1983-01-10 Fujitsu Ltd データバッファ回路
JPS6057724A (ja) * 1983-09-09 1985-04-03 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JPS61112424A (ja) * 1984-11-06 1986-05-30 Nec Corp 出力バツフア回路
JPS62220026A (ja) * 1986-03-20 1987-09-28 Toshiba Corp 出力バツフア回路
US4697107A (en) * 1986-07-24 1987-09-29 National Semiconductor Corporation Four-state I/O control circuit
US4785201A (en) * 1986-12-29 1988-11-15 Integrated Device Technology, Inc. High speed/high drive CMOS output buffer with inductive bounce suppression
JPS63240208A (ja) * 1987-03-27 1988-10-05 Nec Corp 出力バツフア回路
US4829199A (en) * 1987-07-13 1989-05-09 Ncr Corporation Driver circuit providing load and time adaptive current
JPS6481409A (en) * 1987-09-22 1989-03-27 Nec Corp Buffer circuit
US4855623A (en) * 1987-11-05 1989-08-08 Texas Instruments Incorporated Output buffer having programmable drive current
US4845388A (en) * 1988-01-20 1989-07-04 Martin Marietta Corporation TTL-CMOS input buffer
US4825101A (en) * 1988-02-11 1989-04-25 Advanced Micro Devices, Inc. Full-level, fast CMOS output buffer
JPH0278319A (ja) * 1988-09-14 1990-03-19 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0777345B2 (ja) * 1988-11-04 1995-08-16 三菱電機株式会社 半導体装置
US5008568A (en) * 1989-01-24 1991-04-16 Integrated Device Technology, Inc. CMOS output driver
US4952818A (en) * 1989-05-17 1990-08-28 International Business Machines Corporation Transmission line driver circuits
US4961010A (en) * 1989-05-19 1990-10-02 National Semiconductor Corporation Output buffer for reducing switching induced noise
US5089722A (en) * 1990-04-02 1992-02-18 Motorola, Inc. High speed output buffer circuit with overlap current control

Also Published As

Publication number Publication date
DE69121510D1 (de) 1996-09-26
EP0481737A3 (en) 1993-08-11
EP0481737A2 (de) 1992-04-22
EP0481737B1 (de) 1996-08-21
JPH04153761A (ja) 1992-05-27
US5216300A (en) 1993-06-01

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