DE69030085T2 - Energie-analysator für geladene teilchen und spektrometer mit einer solchen anordnung - Google Patents

Energie-analysator für geladene teilchen und spektrometer mit einer solchen anordnung

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Description

  • Diese Erfindung betrifft einen Energieanalysator für geladene Teilchen, der zur Verwendung in einem doppelt fokussierenden Massenspektrometer geeignet ist, sowie ein Massenspektrometer, das einen solchen Analysator enthält.
  • Der häufigste Typ eines Energieanalysators für geladene Teilchen, der in Massenspektrometern enthalten ist, ist ein elektrostatischer Zylindersektor-Analysator. Ein solcher Analysator zeigt die Energiedispersion und die Fokussierung erster Ordnung entlang nur einer Achse und ist daher in Kombination mit einem Magnetsektor-Massenanalysator zur Bildung eines doppelt fokussierenden Massenspektrometers gut geeignet (d.h. Richtungs- sowie Geschwindigkeits-Fokussierung). Unglücklicherweise enthalten Zylindersektor-Analysatoren zwei gekrümmte Elektroden, die mit sehr engen Toleranzen hergestellt werden müssen und daher sehr teuer in der Herstellung sind. Ferner ergibt die Verwendung eines Zylindersektor-Analysators in einem Massenspektrometer, das mit einem Mehrkanaldetektor für die gleichzeitige Erfassung von mehr als einem Masse-Ladungsverhältnis ausgestattet ist, schwerwiegende Leistungseinschränkungen. Erstens ist wegen des begrenzten Raums zwischen den Elektroden das Ausmaß der Brennebene eingeschränkt, sodaß der Bereich der gleichzeitig darstellbaren Massen ebenfalls beschränkt ist. Zweitens ist die Brennebene eines solchen herkömmlichen Analysators gewöhnlich nicht senkrecht zur Laufrichtung der ihn verlassenden Ionen, sondern mit einem flachen Winkel geneigt. Dies begrenzt ferner das maximale Ausmaß des Spektrums, das gleichzeitig aufgezeichnet werden kann und macht die Ausgestaltung des Detektorsystems kompliziert. Weil ein herkönmlicher Analysator nur zwei Elektroden aufweist, ist ferner das elektrostatische Analysefeld vollständig durch die Form der Elektroden bestimmt. Das bedeutet, daß die Homogenität des Felds nicht geändert werden kann und die Anzahl von Aberrationen (z.B. Neigung und Krümmung der Brennebene), die korrigiert werden können, sehr beschränkt ist. Ähnlich, obwohl durch Verwendung eines Analysators mit einem weiteren Spalt ein größerer Massenbereich übertragen werden kann, muß man dann die Höhe der Platten größer machen, um sicher zu stellen, daß das Feld in der Nähe des Ionenstrahls ausreichend gleichmäßig ist, und dies ergibt häufig einen sehr großen und unerschwinglich teuren Analysator.
  • Es sind sehr wenig Analysatoren bekannt, die nicht auf dem Feld beruhen, das zwischen zwei genau geformten Elektroden zum Festlegen des Energieverteilungsfelds erzeugt wird. In herkömmlichen Analysatoren werden Hilfselektroden verwendet, um den Effekt streuender Felder dort zu kompensieren, wo der Strahl geladener Teilchen eintritt und den Analysator verläßt, jedoch legen diese nicht das Hauptanalysefeld fest. In diesen Analysatoren sind ein oder mehrere Elektroden am Eingang und Ausgang des Analysator vorgesehen und werden auf derartigen Potentialen gehalten, daß das Feld zwischen den Hauptelektroden so nahe wie möglich an dem Idealfeld gehalten wird (beispielsweise einem 1/r Feld im Fall eines Zylindersektor-Analysators). Ähnlich Streufeld-Korrekturelektroden können um die Ränder eines Parallelplatten-Analysators herum vorgesehen sein (siehe beispielsweise Stolterfoht in DE-2648466 A1).
  • Matsuda (Rev. Sci. Instrum. 1961, Vol 32(7), pp 850-852) beschrieb einen Zylindersekor-Analysator mit verstellbarer Brennweite, der ein Paar herkömmlicher Sektorelektroden und ein Paar ebener Hilfselektroden aufweist, die jeweils über und unter den Sektorelektroden angeordnet sind (d.h. entlang der "z" Achse versetzt sind) . Das Anlegen einer Potentialdifferenz zwischen diesen Elektroden ergibt eine Krümmung der potentialgleichen Flächen entlang der "z" Achse, sodaß der Analysator eine gewisse Fokussierung der "z" Richtung zeigt. Ein ähnliches Konzept ist in der JP 61-161645 A1 (1986) offenbart. Matsuda schlägt ferner vor, jede der ebenen Hilfselektroden durch eine Anzahl von Drähten zu ersetzen, die in konzentrischen Kreisbögen angeordnet sind, und an jeden Draht ein anderes Potential anzulegen, um Aberrationen zu korrigieren, jedoch nennt er keine Details, wie dieses in der Praxis erreicht werden könnte. In einer späteren Veröffentlichung (Int. J. Mass Spectrum Ion Phys., 1976, Vol 22, pp 95-102), schlägt Matsuda die Verwendung der Hilfselektroden in Verbindung mit Scheiben an den Hauptelektroden vor, um die Höhe der Hauptelektroden zu reduzieren, wie zum Erhalt einer geeigneten Feldhomogenität erforderlich ist. Bei allen diesen Analysatoren wird jedoch das Feld des Analysators prinzipiell durch die Hauptsektorelektroden bestimmt.
  • Zashkvara und Korsunshii (Sov. Phys. Tech. Phys. 1963 Vol 7(7) pp 614-619) beschreibt einen elektrostatischen Energieanalysator, der entlang beider "y" und "z" Achsen Fokussiereigenschaften aufweist, wobei die Hauptfeld-festlegenden Elektroden jederseits des Strahls geladener Teilchen entlang der y-Achse angeordnet sind und einen Stapel flacher Zylindersektorelektroden aufweisen, die voneinander isoliert sind. Ein Widerstandspotentialteiler dient dazu, jede Plattenelektrode mit einem geeigneten Potential zu versorgen. Auf diese Weise kann entlang der Analysator "z" Achse ein inhomogenes Feld erzeugt werden, und die Fokussierungseigenschaften des Analysators können in ähnlicher Weise wie bei dem Matsuda-Analysator eingestellt werden. Der Zashkvara Analysator enthält keinerlei Elektroden, die entlang der "z" Achse von dem geladenen Teilchenstrahl versetzt sind.
  • Dymovich und Sysoev beschreiben (Phys. Electronics, Moskau, 1965, Vol 2, pp 15-26 und 27-32) einen elektrostatischen Analysator, der dem von Matsuda vorgeschlagenen sehr ähnlich ist. Dieser Analysator umfaßt zwei Gruppen von Kreisbogenelektroden, von denen eine über und eine unter dem Ionenstrahl angeordnet ist, sowie zwei kreisförmige Hauptelektroden in einer herkömmlichen Anordnung an jeder Seite des Ionenstrahls. Der zur Verwendung in einem Kreuzfeld-Massenspektrometer ausgelegte Analysator ist ziemlich detailliert beschrieben. Aberrationen zweiter und höherer Ordnung werden durch Einstellen des Potentialgefälles über der Serie von Hilfselektroden in ähnlicher Weise korrigiert wie von Matsuda vorgeschlagen. Der beschriebene Analysator enthielt nicht weniger als 76 Kreisbogenelektroden (unterschiedlicher Radii) und es scheint so, daß er nie in einem praktikablem Instrument verwendet wurde, wahrscheinlich wegen dessen schwieriger Herstellung. Ein vollständiges Kreuzfeld-Massenspektrometer, das diese Elektrodenstruktur enthält, (von seinen Konstrukteuren "Elektrostatisches Mehrelektroden-Fokussiersystem oder EFS" genannt) ist in einer späteren Veröffentlichung beschrieben (Dymovich, Dorofeev und Petrov (Phys. Electronics, Moskau, 1966, Vol 3, pp66-75), jedoch nach dem sowjetischen Erfinderzertifikat 851547 (1981) erwies sich dieses Instrument wegen der großen Abmessungen seiner Elektrodenstruktur als einigermaßen unpraktikabel. Die in der SU 851547 vorgeschlagene Lösung dient zur Formung der Kreisbogenelektroden als metallische Ablagerungen auf einem Widerstandssubstrat, das leichter herzustellen ist, wobei jedoch einer der für die EFS vorgeschlagenen Vorteile entfällt, nämlich daß das Potentialgefälle zwischen den Elektroden durch das Widerstandssubstrat bestimmt wird und nicht leicht eingestellt werden kann, um Aberrationen höherer Ordnung zu korrigieren.
  • Hand offenbart in der US-3407323 eine Aufreihung gekrümmter Elektroden sehr ähnlich jener, die von Dymovich und Sysoev beschrieben sind, und lehrt, daß diese dazu verwendet werden können, geladene Teilchen eines Strahls gemäß ihrer Energie abzulenken. Hand offenbart ferner Aufreihung paralleler gerader Elektroden zum Einführen eines Strahls mit einem breiten Energiespektrum entlang einer Mittellinie und zum Ablenken eines Stroms geladener Teilchen entlang der Feldlinien.
  • Soviet Physics Technical Physics, Vol 30 Nr. 3, März 1985, beschreibt ein Massenspektrometer mit einem elektrostatischen Dreielektrodenspiegel mit ebenen Elektroden.
  • Ein Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, einen zur Verwendung in einem doppelt fokussierenden Massenspektrometer geeigneten verbesserten Analysator anzugeben, der leicht und billig zu bauen ist.
  • Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, verschiedene Typen von Massenspektrometern vorzusehen, die einen solchen Analysator enthalten, und insbesondere doppelt fokussierende Massenspektrometer anzugeben, die einen solchen Analysator enthalten.
  • Nach einem Aspekt zeigt die Erfindung einen elektrostatischen Analysator zum Bereitstellen eines elektrostatischen Felds zum Dispergieren und Fokussieren eines Strahls einen Bereich von Energiene aufweisender geladener Teilchen auf ihren jeweiligen Energien entsprechende Bahnen, sodaß diese Teilchen den Analysator entlang der Bahnen verlassen, wobei der Analysator umfaßt:
  • eine erste Gruppe und eine zweite Gruppe von mit Abstand angeordneten linearen Elektroden, die an jeweils entgegengesetzten Seiten des Strahls angeordnet sind, wobei jede Gruppe ein Paar von Elektroden umfaßt, zwischen denen eine oder mehrere Mittelelektroden angeordnet sind;
  • Mittel zum Anlegen elektrischer Potentiale an die Elektroden derart, daß bei Verwendung das Potential einer Elektrode jedes Paars positiver ist und das Potential der anderen Elektrode des Paars negativer ist als das Potential, bei dem die in dem Strahl vorhandenen Ionen in den Analysator eintreten, und wobei die Potentiale aller in jeder dieser Gruppen vorgesehener Elektroden progressiv von einer Elektrode zur nächsten zunehmen, sodaß das elektrostatische Feld in einer Mittelebene zwischen den Gruppen der Elektroden liegt.
  • Bevorzugt sind die in jeder Gruppe vorgesehenen linearen Elektroden im wesentlichen parallel zueinander angeordnet und sind in einer zu der Mittelebene des Analysators parallelen Ebene aufgereiht.
  • Ferner bevorzugt sind die ersten (oberen) und zweiten (unteren) Elektrodengruppen im wesentlichen identisch, und die Elektroden in entsprechenden Positionen in jeder Gruppe werden auf dem gleichen Potential gehalten.
  • Bevorzugt wird eine Mittelelektrode jeder Gruppe auf einem Potential VM gehalten, und die Potentiale der anderen Elektroden in der Gruppe ergeben sich durch den Polynomausdruck:
  • VE = VM + VAyE + VByE² + VCyE³ + VDyE&sup4; + .. (1)
  • wobei VE das Potential einer bestimmten Elektrode ist, yE der Abstand der bestimmten Elektrode von der auf VM gehaltenen Elektrode (positiv in einer Richtung, negativ in der anderen), und VA, VB, VC und VD Konstanten sind.
  • Bevorzugt ist das Potential VM das Potential, mit dem die Ionen in den elektrostatischen Analysator eintreten (d.h. das Potential seines Eingangsschlitzes und der Mittelbahn. Alternativ kann ein Paar einander benachbarter Mittelelektroden auf jeweils positiven und negativen Potentialen bezüglich dem Potential gehalten werden, mit dem die Ionen in den Analysator eintreten.
  • Das Feld E an jedem Punkt der Mittelebene des Analysators ergibt sich daher durch den Polynomausdruck:
  • E = E&sub0; + E&sub1;yE + E&sub2;yE² + E&sub3;yE³ + .. [2]
  • In Gleichung [2] sind E&sub0; - E&sub3; Konstanten und yE ist der Abstand von der auf Potential VM gehaltenen Elektrode, gemessen in der Mittelebene. Es wird ersichtlich, daß das durch einen erfindungsgemäßen Analysator erzeugte Feld im wesentlichen ein lineares Feld ist, das durch Ausdrücke höherer Ordnung wie etwa E&sub2;yE² und E&sub3;yE³ modifiziert ist und das durch Einstellen der an die Elektroden angelegten Potentiale geändert werden kann. Ein solches Feld unterscheidet sich von den herkömmlichen Mehrelektroden-Analysatoren, die auf gekrümmten Elektroden mit Kreisform beruhen und daher ein Feld erzeugen, das proportional l/r ist (wobei r der Radius einer bestimmten Elektrode ist).
  • Bevorzugt wird der Koeffizient VA (Gleichung [1]) gewählt, um den Ablenkwinkel des Analysators einzustellen, und der Koeffizient VB wird gewählt, um die Brennweite einzustellen. Wenn Korrekturen höherer Ordnung erforderlich sind, kann der Koeffizient VC gewählt werden, um Ausdrücke zweiter Ordnung zu setzen (z.B. den Winkel der Brennebene zur Laufrichtung der geladenen Teilchen beim Verlassen des Analysators), und kann der Koeffizient VB gewählt werden, um die Ausdrücke dritter Ordnung einzustellen (z.B. die Krümmung der Brennebene). Natürlich lassen sich der Gleichung [1] Ausdrücke vierter und auch höherer Ordnung hinzufügen und nach Wunsch einstellen.
  • Im Prinzip benötigt der erfindungsgemäße Analysator keinerlei Elektroden an der Seite des Ionenstrahls wie bei herkömmlichen Analysatoren, weil das Feld in der Nähe des Strahls geladener Teilchen ausschließlich durch die Gruppen der Elektroden begrenzt ist. In der Praxis können jedoch die Elektroden an jedem Ende der Gruppen eine Einzelelektrode aufweisen, die durch die Mittelebene von der oberen Gruppe zu der unteren Gruppe verläuft, um hierdurch an den Seiten des Analysators eine Streufeldkorrektur vorzusehen.
  • Anzunehmen ist, daß der erfindungsgemäße Analysator ein allgemein ausgedehntere Brennebene als ein herkömmlicher Zweielektroden-Analysator ähnlicher Größe hat, weil die Seitenelektroden, sofern sie überhaupt vorgesehen sind, um einen viel größeren Abstand voneinander getrennt werden können als die Elektroden eines herkömmlichen Analysators. Dies ist möglich, weil die hauptsächlich durch die Nähe des Analysatorvakuumgehäuses bedingten Streufeldfehler an der Oberseite und Unterseite des Analysators wegen der Elektrodenstruktur nicht signifikant sind, unabhängig davon, wie groß der Abstand zwischen den Hauptelektroden ist, vorausgesetzt, daß eine ausreichende Anzahl von Elektroden vorgesehen ist. Auf diese Weise wird vermieden, daß man die Elektroden entlang der "z" Achse zum Verkleinern dieser Felder anordnen muß. Anders als bei herkömmlichen elektrostatischen Mehrelektroden-Analysatoren ermöglicht es die Elektrodenstruktur mit parallelen linearen Platten, einen kompakten Analysator sehr einfach zu bauen.
  • In einer bevorzugten Ausführung kann eine Eingangs- und Ausgangsstreufeldkorrektur durch zwei ähnliche Hilfselektrodenanordnungen vorgesehen sein, die jeweils am Eingang und/oder am Ausgang des Hauptanalysators angeordnet sind. Bevorzugt sind die oberen und unteren Gruppen der Hilfselektroden jeweils in den selben Ebenen wie die oberen und unteren Gruppen der in dem Hauptanalysator vorgesehenen Elektroden aufgereiht, und jede Hilfelektrode ist in Linie mit einer entsprechenden Elektrode in dem Hauptanalysator angeordnet.
  • In einer besonders bevorzugten Ausführung sind die Streufeldkorrektoren am Eingang und am Ausgang des Hauptanalysators vorgesehen, und das Potential der Hilfselektroden gleicht dem Potential des Strahls geladener Teilchen bei dessen Ankunft an dem Analysator. Normalerweise wird dieses Potential durch die Passage des Strahls durch einen Schlitz definiert, der auf dem gleichen Potential wie das Vakuumgehäuse des Analysators gehalten wird, normalerweise Masse-Potential. Bevorzugt können daher die Hilfselektroden auch auf Masse-Potential gehalten werden. Die Hilfselektrodenanordnungen können bevorzugt identisch zum Hauptanalysator konstruiert sein, mit dem Gewinn, daß die Elektroden nur etwa 25% der Länge der Hauptanalysatorelektroden benötigen und zwischen diesen keine Isolation erforderlich ist.
  • Der Analysator, der die beschriebenen Streufeldkorrektor enthält, ergibt eine wirksamere Korrektur, als die herkömmliche Plattenelektrode mit einem Schlitz.
  • Die Erfindung gibt ferner einen elektrostatischen Analysator an, der zwei oder mehr Mehrelektrodensegmente aufweist, in denen die Elektroden nicht alle geerdet sind und durch die die geladenen Teilchen nacheinander hindurchtreten. Beispielsweise kann ein solcher elektrostatischer Analysator in einem Massenspektrometer mit variabler Dispersion verwendet werden, wie er in der PCT Veröffentlichungsnummer WO 89/12315 beschrieben ist. Bevorzugt wird die Streufeldkorrektur jederseits der den Hauptanalysator aufweisenden Segmente mittels der oben beschriebenen Hilfelektrodenanordnungen durchgeführt.
  • Die Erfindung gibt ferner ein Massenspektrometer an, umfassend eine Quelle für geladene Teilchen, einen Detektor für geladene Teilchen, einen Momentenanalysator zum Dispergieren eines Strahls geladener Teilchen entsprechend ihren Masse-Ladungsverhältnissen, sowie einen elektrostatischen Analysator nach obiger Definition zum Dispergieren eines Strahls geladener Teilchen entsprechend ihrer Energie.
  • Bevorzugt wirken der Momentenanalysator und der Energieanalysator zusammen, um an dem Detektor ein Bild zu erzeugen, das sowohl Richtungs- als auch Geschwindigkeits-fokussiert ist. Auf diese Weise läßt sich ein doppelt fokussierendes Massenspektrometer wirtschaftlicher bereitstellen als ein herkömmliches Spektrometer mit einem Zylindersektoranalysator. Bevorzugt ist der Momentenanalysator ein Magnetsektor-Analysator, der dem Energie-Analysator entweder vorhergehen oder folgen kann.
  • Obwohl der in einem erfindungsgemäßen Massenspektrometer enthaltene Detektor für geladene Teilchen typischerweise ein Einkanaldetektor wie etwa ein Elektronenvervielfacher oder ein Faradaykäfig-Detektor ist, läßt sich vorteilhaft auch ein Mehrkanaldetektor verwenden, insbesondere, wenn der Energieanalysator dem Momentenanalysator folgt. In einem solchen Spektrometer kann ein größerer Anteil des Massenspektrums gleichzeitig an dem Detektor abgebildet werden, als es mit einem Sektor-Analysator möglich ist, weil im letzteren Fall der enge Spalt zwischen den Sektorelektroden die Ausdehnung seiner Brennebene stark einschränkt. In einem erfindungsgemäßen Spektrometer ist diese Einschränkung weniger stark, weil der Spalt zwischen den Seitenelektroden sehr breit gemacht werden kann.
  • Bei Verwendung in einem doppelt fokussierenden Spektrometer werden die Koeffizienten VA - VD (Gleichung [1]) so gewählt, daß sie die Fokussiereigenschaften des Analysators definieren und Aberrationen des endgültigen Bilds minimieren. Gewählt wird typischerweise der Koeffizient VA zur Definition des Ablenkwinkels des Analysators, der Koeffizient VB zur Definition der Brennweite, und die Koeffizienten VA und VB zur Definition der Neigung der Brennebene (d.h. des Winkels der Brennebene zur Laufrichtung der geladenen Teilchen beim Verlassen des Analysators) und der Krümmung. Diese Eigenschaften werden natürlich in Verbindung mit den entsprechenden Eigenschaften des Momentenanalysators gewählt, um ein doppelt fokussierendes Massenspektrometer vorzusehen. Jedoch ist es leichter, die Parameter in einem erfindungsgemäßen Analysator einzustellen, weil sie sich einfach durch Einstellen elektrischer Potentiale festlegen lassen, anstatt durch die geometrischen Eigenschaften des Analysators wie etwa dessen Radius und Sektorlänge. Demzufolge läßt sich derselbe Analysator in verschiedenen Typen von Massenspektrometern verwenden, was beträchtliche Kostenersparnisse mit sich bringt. Es ist sogar möglich, die Charakteristiken der Fokussierung erster Ordnung zu ändern, beispielsweise die Position des Ionendetektors relativ zu dem Analysator (und somit die Dispersion des Spektrometers), während man gleichzeitig eine geeignete Fokussierung zweiter und höherer Ordnung beibehält. Die Konstruktion eines Massenspektrometers mit verstellbarer Dispersion (d.h. ein "Zoom") ist demzufolge erleichtert. Besonders nützlich ist ein solches Spektrometer bei Verwendung eines Mehrkanaldetektors.
  • Der einfachste Weg zur Wahl der Elektrodenpotentiale in irgend einem erfindungsgemäßen Analysator oder Spektrometer geschieht durch Verwendung herkömmlicher Computer-Strahlenfolgerprogram me. Diese Programme ermöglichen die Vorhersage der Position und Form der Bildbrennebene aus einem gegebenen Satz von Elektrodenpotentialen durch wiederholtes Zeichnen der Bahnen durch den Analysator von Ionen unterschiedlicher Energien und Startpositionen. Für jede gewünschte Detektorposition läßt sich somit ein angenäherter Satz von Potentialen schaffen, und die Endeinstellung läßt sich an einem kompletten Spektrometer durchführen, wenn Mittel vorgesehen sind, um jedes Potential in einem engen Bereich einzustellen. Beispielsweise lassen sich die Elektrodenpotentiale für maximale Auflösung einstellen.
  • Die Erfindung wird nun im näheren Detail anhand eines Beispiels und unter Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in denen:
  • Figur 1 ist ein schematisches Diagramm eines elektrostatischen Analysators mit Gruppen linearer Elektroden;
  • Figur 2 ist eine Auftragung des Potentials der Elektroden des Analysators in einem Fallbeispiel;
  • Figur 3 ist eine Schaltung mit Darstellung, wie die Potentiale an die Elektroden des Analysators angelegt werden können;
  • Figur 4 ist eine Schnittzeichnung eines erfindungsgemäßen Analysators,
  • Figur 5 ist ein schematisches Diagramm eines besonders bevorzugten Typs des erfindungsgemäßen Analysators;
  • Figur 6 ist eine schematische Zeichnung eines Typs des erfindungsgemäßen Massenspektrometers;
  • Figur 7 ist eine Zeichnung mit Darstellung einer alternativen Konstruktion eines erfindungsgemäßen Analysators;
  • Figur 8 ist eine schematische Zeichnung eines weiteren Typs des erfindungsgemäßen Massenspektrometers;
  • Figur 9 ist eine schematische Zeichnung eines noch anderen Typs des erfindungsgemäßen Massenspektrometers.
  • Zuerst zu Figur 1. Ein allgemein mit 1 bezeichneter elektrostatischer Analysator umfaßt zwei Gruppen 2 und 3 mit Abstand angeordneter linearer Elektroden, (z.B. 4, 8, 9, 20), die jeweils in Ebenen 5 und 6 angeordnet sind, die zu der Mittelebene 7 des Analysators parallel sind. An die Elektroden werden derartige Potentiale angelegt, daß sie von den Elektroden 8 bis zu den Elektroden 9 zunehmend positiv werden, sodaß ein Strahl positiv geladener Teilchen 10, der wie gezeigt einfällt und in der Mittelebene 7 läuft, in dem Analysator in gekrümmten Bahn (z.B. 11 und 12) entsprechend der Energie der Teilchen abgelenkt wird, um eine Gruppe nach Energie dispergierter geladener Teilchen Strahlen 13, 14 zu bilden, welche den Analysator verlassen. In dem gezeigten Analysator sind die Elektrodengruppen 2 und 3 im wesentlichen identisch, und die Elektroden in einer Gruppe sind mit der entsprechenden Elektrode in der anderen Gruppe elektrisch verbunden, um hierdurch sicher zu stellen, daß entlang jeder Achse innerhalb des Analysators orthogonal zu den Ebenen 5, 6 und 7 im wesentlichen kein Feld vorhanden ist.
  • Das Feld in dem Analysator ist derart, daß ein in der Analysatorobjektebene 16 angeordnetes Objekt 15 (das beispielsweise durch einen engen Schlitz festgelegt ist) entsprechend der Energie der in dem Strahl 10 befindlichen geladenen Teilchen zu einer Serie von Energie-Dispersionsbildern 17, 18 in der Analysatorbildebene 19 fokussiert wird. Beispielsweise werden geladene Teilchen einer Energie entlang der gekrümmten Bahn 11 zur Bildung des Bilds 17 abgelenkt, und geladene Teilchen geringerer Energie werden entlang der gekrümmten Bahn 12 zur Bildung des Bilds 18 an einer anderen Stelle in der Bildbrennebene 19 abgelenkt. Weil kein zu den Ebenen 5, 6 und 7 orthogonales Feld vorhanden ist, bleiben die geladenen Teilchen in derselben Ebene, in der sie vor dem Eintritt in den Analysator laufen.
  • In dem in Figur 1 gezeigten Analysator ist eine ungerade Anzahl von Elektroden in jeder Gruppe vorgesehen, und die Mittelelektroden 20 jeder Gruppe werden auf dem Potential VM gehalten, d.h. dem Potential des Eingangsschlitzes des Analysators, der in der Objektebene 16 angeordnet ist und zur Festlegung des Objekts 15 dient. Alternativ kann ein nebeneinander in der Mitte des Strahls angeordnetes Elektrodenpaar auf Potentialen gehalten werden, die jeweils positiver und negativer bezüglich VM sind.
  • Die genaue Form der Ionenbahn durch den Analysator wird natürlich davon abhängen, wie sich das Potential zwischen den Elektroden 4, 8, 9 und 20 ändert. Wenn die Potentiale von den Elektroden 8 bis zu den Elektroden 9 linear zunehmen, dann werden positive Ionen gemäß Figur 1 abgelenkt, und die Bahnen 11 und 12 werden im wesentlichen parabolisch sein. Das Feld in dem Analysator würde dann im wesentlichen identisch zu dem sein, das zwischen jederseits des Ionenstrahls angeordneten zwei parallelen geraden Elektroden vorhanden ware. Wie gesagt ist es jedoch nützlicher, die Elektrodenpotentiale nach dem Polynomausdruck zu verschieben:
  • VE = VM + VAyE + VByE² + VCyE³ + VDyE&sup4; + ... [1]
  • wobei VE das Potential einer bestimmten Elektrode ist, VM das Potential der Mittelelektrode 20 ist, yE der Abstand dieser Elektrode von der Mittelelektrode ist und VA, VB, VC und VD Konstanten sind.
  • Figur 2 ist eine Auftragung des Potentials an den Elektroden der bezüglich ihrer Position, die unter Verwendung der Konstanten VA = 1,0, VB = 0,2, VC = 0,05 und VD = 0 berechnet ist, die nur für Illustrationszwecke gewählt sind. In Figur 2 stellt die Achse 21 das Potential der Elektrode VE dar, und die Achse 22 den Abstand der Elektrode von den Mittelelektroden 20 (yE). In der Zeichnung hat der Graph seinen Ursprung an der Mittelelektrode 20 (Potential VM und yE = 0). Die unterbrochene Linie 23 stellt eine lineare Potentialänderung dar, wie sie durch zwei herkömmliche angeordnete Hauptelektroden erzeugt würde, und die Kurve 24 zeigt die tatsächliche Potentialänderung in einem erfindungsgemäßen Analysator für die Konstantwerte VA = 1, VB = 0,2, VC = 0,05, VD = 0. Streng genommen umfaßt die Kurve 24 eine Serie kurzer gerader Linien, die an Punkten miteinander verbunden sind, die auf der Kurve dort liegen, wo das Potential durch die Elektrode selbst festgelegt ist. Natürlich muß man eine ausreichende Anzahl von Elektroden verwenden, um sicher zu stellen, daß die praktischen Abweichungen von der Kurve 24 die Analysatorleistung nicht signifikant beeinträchtigen. Für die meisten Anwendungen genügen angenähert 11 Elektroden 4, jedoch ist es in einem besonders leistungsfähigen Analysator vorteilhaft, doppelt soviel Elektroden zu verwenden, was eine noch genauere Festlegung des Felds zur Folge hat.
  • Es ist natürlich nicht wesentlich, daß sich die oben als Mittelelektrode definierte Elektrode in der räumlichen Mitte der Elektrodenreihe befindet. Es liegt im Umfang der Erfindung, mehr Elektroden an einer Seite der elektrischen Mitte als an der anderen Seite vorzusehen.
  • Figur 3 zeigt eine elektrische Schaltung zum Anlegen der erforderlichen Potentiale 4, 8, 9 und 20, die gemäß Figur 1 angeordnet sind. Wie gezeigt&sub1; legt eine Stromversorgung 25 gleiche positive und negative Spannungen an die Elektroden 8 und 9 an, und die Mittelelektroden 20 sind mit dem 0 Volt Anschluß der Versorgung verbunden, der auf dem Potential VM gehalten wird, typischerweise dem Massepotential. Die anderen Elektroden 4 werden durch Abgriffe an einem Potentialteiler gespeist, der Widerstände 26-35 aufweist, die so gewählt sind, daß das Potential an jeder Elektrode so ist, wie mit der Kurve 24 von Figur 2 festgelegt. Ferner ersichtlich ist aus Figur 3 die Verbindung jeder Elektrode in der oberen Gruppe 2 mit der entsprechenden Elektrode in der unteren Gruppe 3, um hierdurch sicher zu stellen, daß im wesentlichen kein Feld entlang einer Achse (z.B. 36 in Figur 3) orthogonal zu den Ebenen 5, 6 und 7 vorhanden ist.
  • Wenn mehr als ein Satz von Elektrodenpotentialen erforderlich ist, können zwei oder mehrere Widerstandsketten vorgesehen sein und kann ein mehrpoliger Schalter dazu dienen, bei Bedarf die Elektrodenverbindungen von einer Kette zur anderen zu ändern.
  • Um die Elektrodenpotentiale insbesondere während Optimierungsexperimenten leicht einstellen zu können, kann jede Elektrode 4 mit dem Gleitkontakt eines Potentiometers verbunden sein, das einen Teil des Potentialteilers bildet. Alternativ kann das Potential jeder Elektrode digital mittels einer herkömmlichen Spannungssteuerschaltung gesteuert werden, welche eine Digitalanalogwandler enthält. Dann läßt sich ein geeignet programmierter Computer verwenden, um die elektrischen Potentiale bei Bedarf auf jeglichen Wert zu legen. Dieses Verfahren zur Steuerung der Elektrodenpotentiale ist besonders nützlich, wenn viele verschiedene Sätze von Elektrodenpotentialen erforderlich sind.
  • Nun zu Figur 5. Ein erfindungsgemäßer elektrostatischer Analysator mit einer Streufeldkorrektur umfaßt einen Hauptanalysator 65, wie er etwa in Figur 1 gezeigt ist, einen Eingangsstreufeldkorrektor 68 und einen Ausgangsstreufeldkorrektor 71. Der Hauptanalysator 65 umfaßt eine obere Elektrodengruppe 66 und eine untere Elektrodengruppe 67. Die Elektroden in jeder Gruppe 66 und 67 werden, wie zuvor beschrieben, auf progressiv zunehmenden Potentialen gehalten.
  • Der Eingangsstreufeldkorrektor 68 umfaßt eine obere Elektrodengruppe 69 und eine untere Elektrodengruppe 70, und der Ausgangsstreufeldkorrektor 71 umfaßt ähnliche Gruppen 72 und 73. Jede Elektrode in den Gruppen 69, 70, 72 und 73 fluchtet mit einer Elektrode in den Gruppen 66 oder 67, um die beste Korrektur zu erhalten, und alle Elektroden der Gruppen 69, 70, 72 und 73 werden auf dem Potential gehalten, mit dem der Strahl in den Analysator eintritt (typischerweise Massepotential). Die Seitenelektroden (z.B. 75, 76, 77) jeder Gruppe, einschließlich jener des Hauptanalysators 65, verlaufen von der oberen Gruppe (66, 69 oder 72) durch die Mittelebene 74 des Analysators zur Bildung der entsprechenden Seitenelektrode der unteren Gruppe (67, 70 oder 73). Diese Seitenelektroden ergeben eine Streufeldkorrektur an den Seiten des Analysators und mindern signifikant eine Störung des elektrostatischen Felds innerhalb des Analysators, die sich andernfalls aus der Nähe eines geerdeten Vakuumgehäuses ergeben würde. Die Elektroden der Gruppen 69, 70, 72 und 73 haben typischerweise angenähert 25% der Längen der Elektroden 66 und 67, welche den Hauptanalysator 65 bilden.
  • Nun zu Figur 4. Ein zur Verwendung in der Erfindung geeigneter elektrostatischer Analysator ist in einem Vakuumgehäuse 37 eingeschlossen, das durch einen Deckel 38 verschlossen ist, der mit einem O-Ring 39 abgedichtet und durch Bolzen 40 befestigt ist. Ein Durchgang 41, der durch einen O-Ring gedichteten Flansch 42 verschlossen ist, der eine Anzahl von elektrischen Durchführungen 43 trägt, ist vorgesehen, um die Herstellung einer elektrischen Verbindung zu den Elektroden zu gestatten, welche den Analysator bilden (z.B. Leitung 44).
  • Der Analysator selbst umfaßt zwei Seitenelektroden 45, 46, welche rechteckige gerade Platten aufweisen, die durch die Mittelebene 7 des Analysators verlaufen. Seitenelektroden 45, 46 bilden die Endelektroden 8 und 9 der in den Figuren 1 und 3 schematisch dargestellten Elektrodenstrukturen. Wie erläutert, ergibt dies eine Streufeldkorrektur an den Rändern des Analysators und mindert den Abstand, mit dem die Elektrodenstruktur anzuordnen ist, um sicher zu stellen, daß das Feld in der Nähe des den Analysator durchlaufenden Ionenstrahl richtig festlegt wird.
  • Die Seitenelektroden 45 und 46 sind an vier Isolatierhalterungen (zwei für jede Elektrode) von Trägern 47 gestützt, welche am Boden des Vakuumgehäuses 37 mit Schrauben 48 befestigt sind. Jede Isolierhalterung umfaßt ein Keramikrohr 49 und ist durch eine Schraube 50 befestigt, die in eine Keramikbuchse 51 eingesetzt ist, und ein kurzes Keramikrohr 52 sitzt unter dem Kopf der Schraube 50, wie dargestellt.
  • Die obere Elektrodengruppe 2 und die untere Elektrodengruppe 3 (z.B. 4, 20) sind jeweils an zwei Keramikstangen 53 befestigt, die in Löchern angeordnet sind, die in die Seitenelektroden 45 und 46 gebohrt sind. Die Keramikbuchsen 54 halten die Elektroden 4 mit Abstand voneinander. Jede Elektrode 4 besteht aus einer dünnen (z.B. 0,5 mm) rechteckigen metallischen Platte angenähert der gleichen Länge wie die Seitenelektroden. Die Höhe der Elektroden sollte das mehrfache (z.B. das fünf bis zehnfache) ihres Abstands voneinander betragen, um die Wirkung von Streufeldern vernachlässigbar zu machen. Ein typischer Abstand zwischen Elektroden kann 5 mm betragen.
  • Alternativ kann der erfindungsgemäße Analysator so konstruiert sein, wie in Figur 7 dargestellt. Zwei Isolier- (z.B. Keramik- Platten 78, 79 sind wie gezeigt durch metallische Seitenelektroden 80, 81 mit Abstand voneinander angeordnet, welche den in Figur 4 gezeigten Seitenelektroden 45, 46 entsprechen. Schrauben 82 halten die Isolierplatten 78, 79 an den Elektroden 80 und 81. Jede Platte 78 und 79 umfaßt eine Serie von Rippen 83, welche parallel zu den Seitenelektroden 80 und 81 verlaufen und die mit einer elektrisch leitfähigen Lage 84 (z.B. einer metallisierten Folie) beschichtet sind, um die einzelnen Elektroden zu erzeugen. Die elektrische Verbindung zu jeder Elektrode ist durch die Verbindungsstäbe (z.B. 85) hergestellt, welche Löcher in den Platten 78 und 79 durchsetzen.
  • Ein ähnliches Konstruktionsverfahren läßt sich auch für die Eingangs- und Ausgangsstreufeldkorrektoren verwenden (68, 71 in Figur 5). Ein diese enthaltender kompletter Analysator läßt sich wirtschaftlich herstellen, in dem man die Isolierplatten 78, 79 (Figur 7) in Richtung der Streufeldkorrektoren ausrichtet und den Rippen 83 ähnelnde Rippen vorsieht, an denen die Elektroden mit den Korrekturanordnungen abgelagert werden können.
  • Obwohl die in Figur 7 dargestellte Rippenstruktur die besonders bevorzugte Ausführung ist, ist es möglich, die Elektroden einfach durch Ablagern metallischer Spuren aufflachen Isolierplatten zu bilden. Jedoch sind derart konstruierte Analysatoren nicht für Hochleistungsanwendungen geeignet.
  • Nun zu Figur 6. Ein Typ des erfindungsgemäßen Massenspektrometers umfaßt eine Ionenquelle 55, die einen Ionenstrahl 59 ausgibt. Diese laufen wiederum durch einen Momentenanalysator, in diesem Fall einen Magnetsektoranalysator 56, sowie durch einen elektrostatischen Mehrelektrodenanalysator 57, wie er beispielsweise in Figur 4 gezeigt ist. Der massenaufgelöste Ionenstrahl 61, der aus dem Analysator 57 austritt, wird an einem Detektor 58 für geladene Teilchen gesammelt, der eine herkömmliche Anordnung eines Einkanalelektronen-Vervielfachers und eines Sammelschlitzes aufweist, der die Auflösung des Spektrometers festlegt. Alternativ kann der Detektor 58 einen Mehrkanaldetektor aufweisen, der gleichzeitig mehr als ein Masse-Ladungsverhältnis aufzeichnen kann.
  • Der Magnetsektoranalysator 56 und der elektrostatische Analysator 57 sind bevorzugt als doppelt fokussierendes Massenspektrometer angeordnet, d.h. derart, daß sie zum Erzeugen eines Bilds auf dem Detektor zusammenwirken, der sowohl Richtungsals auch Geschwindigkeits-fokussiert ist. Es liegt jedoch ebenfalls im Umfang der Erfindung, einen Mehrelektrodenanalysator nach den Ansprüchen des beschriebenen Typs in anderen Typen von Massenspektrometern einzubauen, beispielsweise als Energiefilter zur Verbesserung der Häufigkeitsempfindlichkeit in einem Isotopenverhältnisspektrometer, in dem der Filter nicht mit einem Momentenanalysator zur Bildung eines doppelt fokussierenden Massenspektrometers zusammenwirkt.
  • An die Elektroden des Analysators 57 werden elektrische Potentiale durch die Stromversorgung 60 angelegt, die bevorzugt der in Figur 3 gezeigten ähnelt. Der Magnetsektoranalysator 56 wird durch die Stromversorgung 62 versorgt, und die Ionenguelle 55 durch die Stromversorgung 64. Ein Computer 63 dient zur Steuerung der Versorgungen 60, 62 und 64. Der Computer 63 ist so programmiert, daß er die Potentiale an den Elektroden des Analysators 57 (über die Stromversorgung 60) auf Werte setzt, welche ein Bild der Quelle 55 auf dem Detektor 58 erzeugen, wie in einem herkömmlichen doppelt fokussierenden Massenspektrometer.
  • Das Vorgehen für die Konstruktion eines erfindungsgemäßen doppelt fokussierenden Massenspektrometers ähnelt jenem zur Konstruktion eines herkömmlichen doppelt fokussierenden Massenspektrometers, außer, daß die Fokussierungseigenschaften des elektrostatischen Analysators nicht nur durch deren geometrische Charakteristiken wie etwa Radius und Sektorlänge festgelegt werden, sondern einfach durch die an die Elektroden angelegten Potentiale. Es ist daher im Gegensatz zu einem herkömmlichen Instrument einfach, diese Parameter zu ändern, um die Leistung des kompletten Spektrometers zu optimieren.
  • Die Erfindung ist nicht auf ein Spektrometer begrenzt, in dem der Momentenanalysator dem Energieanalysator voransteht. Einen Vorteil erhält man auch, falls der Energieanalysator dem Momentenanalysator voransteht. In ähnlicher Weise kann gegebenfalls ein erfindungsgemäßes doppelt fokussierendes Spektrometer die Bildung eines Zwischenbilds an der Grenze zwischen den zwei Analysatoren beinhalten, was vom Typ der verwendeten doppelt fokussierenden Geometrie abhängt.
  • Figur 8 ist ein schematisches Diagramm eines erfindungsgemäßen Isotopenverhältnisspektrometers. Eine Quelle für geladene Teilchen 86 erzeugt einen Ionenstrahl 87 mit Ionencharakteristiken des Elements oder der Elemente in einer Probe, deren Isotopenzusammensetzung zu bestimmen ist. Der Ionenstrahl 87 tritt in einen Mehrelektrodenanalysator 88 ein (der beispielsweise gemäß Figur 4 konstruiert ist) und wird auf ein Energiedispersions-Zwischenbild 89 abgelenkt und fokussiert. Der Ionenstrahl läuft weiter durch das Bild 89 in einen Magnetsektor-Momentenanalysator 90, der den Strahl in verschiedene Strahlen 91 - 93 dispergiert, welche Ionen unterschiedlicher Isotope aufweisen. Die Strahlen 91 - 93 werden in einer ähnlichen Anzahl von Kollektoren 94 - 96 aufgenommen, die zugunsten maximaler Genauigkeit typischerweise Faraday- Kollektoren sind, sodaß die Isotopenzusammensetzung des fraglichen Elements durch gleichzeitige Messung der durch die Kollektoren 94 - 96 erzeugten Signale bestimmt werden kann.
  • Auch möglich ist es, die Reihenfolge der Analysatoren 88 und 90 umzukehren, sodaß der Ionenstrahl 87 zuerst in den Magnetsektoranalysator 90 eintritt. Weil die Brennebene eines erfindungsgemäßen elektrostatischen Analysators ausgedehnter ist als jene eines Sektoranalysators, ist es möglich, den Massen dispergierten Ionenstrahl an dessen Eingang aufzunehmen und eine Serie von Massen dispergiert Energie fokussierten Bildern mit ausreichender Dispersion zu erzeugen, sodaß die Kollektoren 94 - 96 mit weiterem Abstand voneinander angeordnet werden können, als dies andernfalls möglich wäre. Dies verbessert die Häufigkeitempfindlichkeit des Spektrometers und erleichtert die Konstruktion des Kollektorsystems.
  • Figur 9 zeigt ein erfindungsgemäßes Massenspektrometer, das drei Analysatorsegmente aufweist, die jeweils nach obiger Beschreibung konstruiert sind. Eine Ionenquelle 97 erzeugt einen Strahl von Ionen 98, die durch den Magnetsektoranalysator 99 entsprechend ihren Masse-Ladungsverhältnissen in eine Mehrzahl von Strahlen 100 dispergiert werden. Die Strahlen 100 treten in einen elektrostatischen Analysator 106 ein, der drei Segmente 101 - 103 aufweist, von denen jedes geladene Teilchen entsprechend ihrer Energie dispergieren kann. Der Analysator 106 wirkt mit dem Analysator 99 zusammen, um an dem Detektor 104 ein Bild zu erzeugen, das sowohl Richtungs- als auch Geschwindigkeitsfokussiert ist. Der Detektor 104 ist ein Mehrkanaldetektor, der in Verbindung mit seiner schematisch bei 105 gezeigten Steuerung und Ausleseelektroniken eine große Anzahl unterschiedlicher Masse-Ladungsverhältnisse gleichzeitig erfassen kann. Die große Anzahl dem Analysator 106 zugeordneter einstellbarer Parameter gestattet es, eine sehr genaue doppelte Fokussierung über einen weiten Bereich von Ablenkwinkeln und Brennweiten des Analysators 106 zu halten. Dies erleichtert die Konstruktion eines besonders leistungsfähigen Mehrkanalspektrometers mit verschiedenen alternativen Detektoren.
  • Ebenfalls verwendbar sind Analysatorsegmente 101 und 103 zum Ändern der Energie eines Strahls geladener Teilchen, wenn dieser in das Segment 102 eintritt oder dieses verläßt. In dieser Anmeldung werden die Elektroden der so verwendeten Segmente typischerweise alle auf dem gleichen Potential gehalten.

Claims (21)

  1. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) zum Bereitstellen eines elektrostatischen Felds zum Dispergieren und Fokussieren eines Strahls (10, 59, 87, 98) einen Bereich von Energiene aufweisender geladener Teilchen auf ihren jeweiligen Energien entsprechende Bahnen, sodaß diese Teilchen den Analysator (1, 57, 65, 88, 106) entlang der Bahnen verlassen, wobei der Analysator (1, 65, 57, 88, 106) umfaßt:
    eine erste Gruppe (2, 66) und eine zweite Gruppe (3, 67) von mit Abstand angeordneten linearen Elektroden, die an jeweils entgegengesetzten Seiten des Strahls (10, 59, 87, 98) angeordnet sind, wobei jede Gruppe ein Paar von Elektroden (8, 9) umfaßt, zwischen denen eine oder mehrere Mittelelektroden (20) angeordnet sind;
    Mittel zum Anlegen elektrischer Potentiale an die Elektroden derart, daß bei Verwendung das Potential einer Elektrode (9, 46, 81) jedes Paars positiver ist und das Potential der anderen Elektrode (8, 45, 80) des Paars negativer ist als das Potential, bei dem die in dem Strahl vorhandenen Ionen in den Analysator eintreten, und wobei die Potentiale aller in jeder dieser Gruppen (2, 3; 66, 67) vorgesehener Elektroden progressiv von einer Elektrode zur nächsten zunehmen, sodaß das elektrostatische Feld in einer Mittelebene (7, 74) zwischen den Gruppen (2, 3; 66, 67) der Elektroden liegt.
  2. 2. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach Anspruch 1, in dem die in jeder Gruppe (2, 3; 66, 67) vorgesehenen linearen Elektroden (4, 8, 9, 20; 45, 46; 80, 81) im wesentlichen parallel zueinander angeordnet sind und in einer zu der Mittelebene (7, 74) parallelen Ebene (5, 6) aufgereiht sind.
  3. 3. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in dem die erste Gruppe (2, 66) und die zweite Gruppe (3, 67) im wesentlichen identisch sind und in dem die Elektroden (4, 8, 9, 20; 45, 46; 80, 81) in entsprechenden Positionen in jeder Gruppe auf dem gleichen Potential gehalten werden.
  4. 4. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in dem eine Mittelelektrode (20) jeder Gruppe auf einem Potential VM gehalten wird und sich die Potentiale der anderen Elektroden (4, 8, 9; 45, 46; 80, 81) in der Gruppe durch den Polynomausdruck ergeben:
    VE = VM + VAyE + VAyE² + VCyE³ + VDyE&sup4; + ...
    wobei
    VE das Potential einer bestimmten Elektrode ist,
    yE der Abstand der bestimmten Elektrode von der auf VM gehaltenen Elektrode,
    und VA, VB, VC und VB Konstanten sind.
  5. 5. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach Anspruch 4, der ein Energie-dispergiertes Bild (17, 18; 89) erzeugt, das zumindest in der ersten Ordnung fokussiert ist, und in dem die Koeffizienten VA und VB jeweils derart gewählt sind, daß sie den Ablenkwinkel und die Brennweite des Analysators (1, 65, 57, 88, 106) festlegen.
  6. 6. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach Anspruch 5, in dem die Koeffizienten VC und VD jeweils derart gewählt sind, daß sie die Neigung der Brennebene und die Krümmung der Brennebene festlegen.
  7. 7. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in dem die Elektroden an jedem Ende der ersten Gruppe (2, 66) zur Bildung der entsprechenden Endelektroden der zweiten Gruppe (3, 67) durch die Mittelebene verlaufen, um an den Seiten des Analysators (1, 65, 57, 88, 106) eine Streufeldkorrektur vorzusehen.
  8. 8. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in dem die Elektroden (4, 8, 9; 45, 46; 80, 81) durch Isolatoren (78, 79) mit Abstand voneinander gehaltene elektrisch leitfähige Elemente (84) sind.
  9. 9. Elektrostatischer Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, in dem zwei oder mehrere der Elektroden (4, 8, 9, 20; 45, 46; 80, 81) in der Gruppe (2, 3; 66, 67) auf einer Isolierplatte (78, 79) abgelagertes elektrisch leitfähiges Material (84) umfassen.
  10. 10. Elektrostatischer Analysator mit einem Hauptanalysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der vorhergehenden Ansprüche und zumindest einem Streufeldkorrektor (68, 71), der nahe dem Eingang (oder Ausgang) des Hauptanalysators angeordnet ist, wobei der Streufeldkorrektor (68, 71) eine obere Gruppe (69, 72) und eine untere Gruppe (70, 73) von mit Abstand voneinander angeordneten Hilfselektroden umfaßt, die jeweils über und unter dem Strahl (10, 59, 87, 98) geladener Teilchen angeordnet sind, wenn dieser in den Hauptanalysator (1, 65, 57, 88, 106) eintritt (oder diesen verläßt), und in dem alle diese Hilfselektroden auf dem gleichen Potential gehalten werden.
  11. 11. Elektrostatischer Analysator nach Anspruch 10, in dem die obere Gruppe (69, 72) und die untere Gruppe (70, 73) der Hilfselektroden jeweils in den gleichen Ebenen wie die ersten und zweiten Gruppen der in dem Hauptanalysator (1, 65, 57, 88, 106) vorgesehenen Elektroden aufgereiht sind, und wobei jede dieser Hilfselektroden in Linie mit einer entsprechenden Elektrode (4, 8, 9, 20; 45, 46; 80, 81) in dem Hauptanalysator (1, 65, 57, 88, 106) angeordnet ist.
  12. 12. Elektrostatischer Analysator nach einem der Ansprüche 10 oder 11, in dem an dem Eingang und Ausgang des Hauptanalysators (1, 65, 57, 88, 106) Streufeldkorrektoren (68, 71) vorgesehen sind und das Potential der Hilfselektroden gleich dem Potential des Strahls geladener Teilchen (10, 59, 87, 98) bei dessen Ankunft an dem Analysator ist.
  13. 13. Elektrostatischer Analysator nach Anspruch 12, in dem das Potential der Hilfselektroden Massepotential ist.
  14. 14. Elektrostatischer Analysator mit zwei oder mehreren Segmenten, durch die die geladenen Teilchen nacheinander hindurchtreten, wobei jedes Segment einen Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der Ansprüche 1 bis 9 umfaßt.
  15. 15. Massenspektrometer, umfassend: eine Quelle für geladene Teilchen (57, 86, 97), einen Detektor für geladene Teilchen (58; 94, 95, 96; 104), einen Momentenanalysator (56, 90, 99) zum Dispergieren eines Strahls geladener Teilchen (10, 591 87, 98) entsprechend ihrem Masse- Ladungsverhältnis sowie einen elektrostatischen Analysator (1, 65, 57, 88, 106) nach einem der Ansprüche 1 bis 14 zum Dispergieren eines Strahls geladener Teilchen (10, 59, 87, 98) entsprechend ihrer Energie.
  16. 16. Massenspektrometer nach Anspruch 15, in dem der Momentenanalysator (56, 90, 99) und der elektrostatische Analysator (1, 65, 57, 88, 106) zum Erzeugen eines zum sowohl Richtungsals auch Geschwindigkeits-fokussierten Bilds (17, 18, 89) an dem Detektor zusammenwirken.
  17. 17. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 15 oder 16, in dem der Momentenanalysator (56, 90, 99) ein Magnetsektoranalysator (56, 90, 99) ist.
  18. 18. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 16 oder 17, sofern von Anspruch 4 abhängig, in dem das Bild in einer Brennebene (19) erzeugt wird und in dem die Koeffizienten VA und VB 50 gewählt sind, daß sie zumindest einen Teil der Brennebene (19) mit dem Detektor (58; 94, 95, 96; 104) zusammenfallen lassen.
  19. 19. Massenspektrometer nach Anspruch 18, in dem die Koeffizienten VC und VB jeweils so gewählt sind, daß sie die Neigung der Brennebene und die Krümmung der Brennebene auf jeden gewünschten Wert festlegen.
  20. 20. Massenspektrometer nach einem der Ansprüche 15 bis 19, in dem der elektrostatische Analysator (1, 65, 57, 88, 106) der letzte Analysator ist, durch den die geladenen Teilchen hindurchtreten, bevor sie den Detektor (58; 94, 95, 96; 104) erreichen.
  21. 21. Massenspektrometer nach Anspruch 20, das zwei oder mehrere Detektoren (58; 94, 95, 96; 104) umfaßt, die in der Brennebene (19) aufgereiht sind, um gleichzeitig geladene Teilchen unterschiedlicher Masse-Ladungsverhältnisse zu empfangen.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010057476A2 (de) 2008-11-20 2010-05-27 Helmholtz-Zentrum Berlin Für Materialien Und Energie Gmbh Elektrostatischer primärenergieanalysator für geladene teilchen, spektrometer und monochromator mit einem solchen analysator

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5206506A (en) * 1991-02-12 1993-04-27 Kirchner Nicholas J Ion processing: control and analysis
DE4305363A1 (de) * 1993-02-23 1994-08-25 Hans Bernhard Dr Linden Massenspektrometer zur flugzeitabhängigen Massentrennung
NL9301617A (nl) * 1993-09-17 1995-04-18 Stichting Katholieke Univ Meetinrichting voor het meten van de intensiteit en/of polarisatie van elektromagnetische straling, voor het bepalen van fysische eigenschappen van een preparaat en voor het lezen van informatie vanaf een opslagmedium.
US5886783A (en) * 1994-03-17 1999-03-23 Shapanus; Vincent F. Apparatus for isolating light signals from adjacent fiber optical strands
US5764823A (en) * 1994-03-17 1998-06-09 A R T Group Inc Optical switch for isolating multiple fiber optic strands
US5550631A (en) * 1994-03-17 1996-08-27 A R T Group Inc Insulation doping system for monitoring the condition of electrical insulation
US5513002A (en) * 1994-03-17 1996-04-30 The A.R.T. Group, Inc. Optical corona monitoring system
US5550629A (en) * 1994-03-17 1996-08-27 A R T Group Inc Method and apparatus for optically monitoring an electrical generator
US5552880A (en) * 1994-03-17 1996-09-03 A R T Group Inc Optical radiation probe
GB9510052D0 (en) * 1995-05-18 1995-07-12 Fisons Plc Mass spectrometer
GB9521723D0 (en) * 1995-10-24 1996-01-03 Paf Consultants Limited A multiple collector for Isotope Ratio Mass Spectrometers
US5986258A (en) * 1995-10-25 1999-11-16 Bruker Daltonics, Inc. Extended Bradbury-Nielson gate
US5696375A (en) * 1995-11-17 1997-12-09 Bruker Analytical Instruments, Inc. Multideflector
US5872356A (en) * 1997-10-23 1999-02-16 Hewlett-Packard Company Spatially-resolved electrical deflection mass spectrometry
US6501074B1 (en) 1999-10-19 2002-12-31 Regents Of The University Of Minnesota Double-focusing mass spectrometer apparatus and methods regarding same
US6831276B2 (en) 2000-05-08 2004-12-14 Philip S. Berger Microscale mass spectrometric chemical-gas sensor
CA2408235A1 (en) 2000-05-08 2001-11-15 Mass Sensors, Inc. Microscale mass spectrometric chemical-gas sensor
GB0200469D0 (en) * 2002-01-10 2002-02-27 Amersham Biosciences Ab Adaptive mounting
US6867414B2 (en) * 2002-09-24 2005-03-15 Ciphergen Biosystems, Inc. Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements
GB2401243B (en) * 2003-03-11 2005-08-24 Micromass Ltd Mass spectrometer
US6984821B1 (en) * 2004-06-16 2006-01-10 Battelle Energy Alliance, Llc Mass spectrometer and methods of increasing dispersion between ion beams
CN102339719B (zh) * 2010-07-29 2016-04-13 岛津分析技术研发(上海)有限公司 离子导引装置
US8698107B2 (en) * 2011-01-10 2014-04-15 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Technique and apparatus for monitoring ion mass, energy, and angle in processing systems
US9594879B2 (en) 2011-10-21 2017-03-14 California Instutute Of Technology System and method for determining the isotopic anatomy of organic and volatile molecules
CA2895288A1 (en) * 2011-12-30 2013-07-04 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Ion optical elements
GB2561998A (en) * 2012-10-10 2018-10-31 California Inst Of Techn Mass spectrometer, system comprising the same, and methods for determining isotopic anatomy of compounds
GB2541391B (en) * 2015-08-14 2018-11-28 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Detector and slit configuration in an isotope ratio mass spectrometer
WO2017075470A1 (en) * 2015-10-28 2017-05-04 Duke University Mass spectrometers having segmented electrodes and associated methods
GB2562990A (en) * 2017-01-26 2018-12-05 Micromass Ltd Ion detector assembly
US10566180B2 (en) 2018-07-11 2020-02-18 Thermo Finnigan Llc Adjustable multipole assembly for a mass spectrometer
RU205154U1 (ru) * 2020-12-03 2021-06-29 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ) Анализатор космических частиц низких энергий
DE102020133974B3 (de) 2020-12-17 2022-03-17 SURFACE CONCEPT GmbH Energieanalysator für elektrisch geladene Teilchen

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3407323A (en) * 1966-05-23 1968-10-22 High Voltage Engineering Corp Electrode structure for a charged particle accelerating apparatus, arrayed and biased to produce an electric field between and parallel to the electrodes
US3636345A (en) * 1969-10-27 1972-01-18 Joel Hirschel Mass spectrometer detector arrays
DE2648466A1 (de) * 1976-10-26 1978-04-27 Hahn Meitner Kernforsch Spektrometer fuer niederenergetische elektronen, insbesondere auger- elektronen
SU851547A1 (ru) * 1978-03-24 1981-07-30 Московский Ордена Трудового Красногознамени Инженерно-Физический Институт Масс-спектрометр
SU1091257A1 (ru) * 1982-02-03 1984-05-07 Институт Ядерной Физики Ан Казсср Масс-спектрометр
US4472631A (en) * 1982-06-04 1984-09-18 Research Corporation Combination of time resolution and mass dispersive techniques in mass spectrometry
JPS59143252A (ja) * 1983-02-03 1984-08-16 Jeol Ltd 重畳場質量分析装置
FR2544914B1 (fr) * 1983-04-19 1986-02-21 Cameca Perfectionnements apportes aux spectrometres de masse
JPS6193545A (ja) * 1984-10-12 1986-05-12 Japan Atom Energy Res Inst 粒子分析器
JPS61161645A (ja) * 1985-01-09 1986-07-22 Natl Inst For Res In Inorg Mater 円筒静電型粒子エネルギ−分析器
JPS61206155A (ja) * 1985-03-11 1986-09-12 Hitachi Ltd 質量分析計
JPS61253760A (ja) * 1985-05-07 1986-11-11 Hitachi Ltd 荷電粒子エネルギ−分析器
GB8512253D0 (en) * 1985-05-15 1985-06-19 Vg Instr Group Double focussing mass spectrometers
JPS6477853A (en) * 1987-09-18 1989-03-23 Jeol Ltd Mapping type ion microanalyzer
JPH01213950A (ja) * 1988-02-23 1989-08-28 Jeol Ltd 質量分析装置及びそれを用いたms/ms装置
GB8812940D0 (en) * 1988-06-01 1988-07-06 Vg Instr Group Mass spectrometer
JPH0224950A (ja) * 1988-07-14 1990-01-26 Jeol Ltd 同時検出型質量分析装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010057476A2 (de) 2008-11-20 2010-05-27 Helmholtz-Zentrum Berlin Für Materialien Und Energie Gmbh Elektrostatischer primärenergieanalysator für geladene teilchen, spektrometer und monochromator mit einem solchen analysator
DE102008058144A1 (de) 2008-11-20 2010-05-27 Helmholtz-Zentrum Berlin Für Materialien Und Energie Gmbh Elektrostatischer Analysator für geladene Teilchen, Spektrometer und Monochromator mit einem solchen Analysator
DE102008058144B4 (de) * 2008-11-20 2011-07-14 Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, 14109 Elektrostatischer Energieanalysator für geladene Teilchen, Spektrometer und Monochromator mit einem solchen Analysator

Also Published As

Publication number Publication date
CA2055609C (en) 1999-08-17
US5194732A (en) 1993-03-16
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EP0474723B1 (de) 1997-03-05
JP2857685B2 (ja) 1999-02-17
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US5198666A (en) 1993-03-30
DE69033353D1 (de) 1999-12-16
ATE149741T1 (de) 1997-03-15
CA2056424C (en) 1999-08-17
JPH05505901A (ja) 1993-08-26
DE69030085D1 (de) 1997-04-10
JP2857686B2 (ja) 1999-02-17
EP0570361B1 (de) 1999-11-10
CA2055609A1 (en) 1990-12-02
EP0474723A1 (de) 1992-03-18
DE69033353T2 (de) 2000-02-24

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