DE4244059A1 - - Google Patents

Info

Publication number
DE4244059A1
DE4244059A1 DE4244059A DE4244059A DE4244059A1 DE 4244059 A1 DE4244059 A1 DE 4244059A1 DE 4244059 A DE4244059 A DE 4244059A DE 4244059 A DE4244059 A DE 4244059A DE 4244059 A1 DE4244059 A1 DE 4244059A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
data
control signal
signal
write
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE4244059A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Nishimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of DE4244059A1 publication Critical patent/DE4244059A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiterspei­ chervorrichtung, genauer auf Halbleiterspeichervorrichtungen mit Adreßübergang-Erkennungsschaltungen und ein Verfahren zum Betrieb derselben.
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild, welches ein Beispiel eines her­ kömmlichen dynamischen wahlfreien Zugriffspeichers (im folgenden als DRAM bezeichnet) zeigt. In Fig. 7 umfaßt ein Speicherfeld 1 eine Mehrzahl von, in einer Matrix angeordneten, Speicherzellen dynamischen Typs und einen Dekoder, der irgendeine aus der Mehr­ zahl der Speicherzellen dynamischen Typs auswählt. Ein Adreßpuffer 2 empfängt extern angelegte Adressensignale A0-An zur Erzeugung interner Adressensignale a0-an. Der Dekoder im Speicherfeld 1 de­ codiert die internen Adressensignale a0-an zur Auswahl einer Spei­ cherzelle, deren Adresse durch die internen Adressensignale a0-an bestimmt wird.
Ein RAS-Puffer 3 empfängt ein externes Reihenadressentaktsignal /RAS zur Erzeugung eines internen Reihenadressentaktsignales R/RAS Ein CAS-Puffer 4 erhält ein externes Spaltenadressentaktsignal /CAS zur Erzeugung eines internen Spaltenadressentaktsignales R/CAS.
Das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS ist ein internes Signal zur Aktivierung des gesamten Systems und wechselt in Synchronisa­ tion mit dem externen Reihenadressentaktsignal /RAS. Das interne Spaltenadressentaktsignal R/CAS ist ein internes Signal zur Aktivie­ rung eines Spaltensystems und wechselt in Synchronisation mit dem externen Spaltenadressentaktsignal /CAS.
Eine Schreibsteuerschaltung 5 erzeugt Schreibsteuersignale RWR, RWDE, und RWT als Antwort auf ein externes Schreibfreigabesignal /WE, das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS und das interne Spaltenadressentaktsignal R/CAS. Eine Eingabepufferschaltung 6 lie­ fert Daten D, die an ein Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegt sind, an eine Datenbusleitung DB als Antwort auf das Schreibsteu­ ersignal RWR. Eine Schreibpufferschaltung 7 liefert die Daten auf der Datenbusleitung DB an eine Eingabe/Ausgabe-Busleitung IOB als Antwort auf das Schreibsteuersignal RWDE.
Eine ATD-Erzeugungsschaltung 8 antwortet auf das interne Reihen­ adressentaktsignal R/RAS, das Schreibsteuersignal RWT und ein Steuer­ signal Ra mit der Erkennung von Übergängen bzw. Änderung der inter­ nen Adressensignale a0-an zur Erzeugung eines ATD (address transi­ tion detection = Adressübergangserkennung)-Signales RATD. Eine Aus­ gabesteuerschaltung erzeugt Ausgabesteuersignale RPA und RDOT als Antwort auf das ATD-Signal RATD.
Eine Vorverstärkerschaltung 10 antwortet auf das Ausgabesteuersi­ gnal RPA mit der Verstärkung der Daten auf der Eingabe/Ausgabe-Bus­ leitung IOB und liefert die verstärkten Daten an die Datenbuslei­ tung DB. Eine Hauptverstärkerschaltung 11 antwortet auf das Aus­ gabesteuersignal RDOT mit der Verstärkung und dem Halten der Daten auf der Datenbusleitung DB und legt die gehaltenen Daten an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT als Antwort auf ein externes Ausgabe­ freigabesignal OE.
Der Lese- und Schreibbetrieb des DRAM wird nun beschrieben.
In einem Lesezyklus, wenn die internen Adressensignale a0-an wech­ seln, erzeugt die ATD-Erzeugungsschaltung 8 das ATD-Signal RATD wäh­ rend im Speicherfeld 1 die Daten von einer durch die internen Adressensignale a0-an bestimmten Adresse in eine Eingabe/Ausgabe- Busleitung IOB gelesen werden. Die Ausgabesteuerschaltung 9 er­ zeugt zuerst das Ausgabesteuersignal RPA als Antwort auf das ATD- Signal RATD Die Vorverstärkerschaltung 10 antwortet auf das Ausga­ besteuersignal RPA mit der Verstärkung der in die Eingabe/Ausgabe- Busleitung IOB gelesenen Daten und legt die verstärkten Daten auf die Datenbusleitung DB.
Die Ausgabesteuerschaltung 9 erzeugt dann das Ausgabesteuersignal RDOT. Die Hauptverstärkerschaltung 11 antwortet auf das Ausgabesteu­ ersignal RDOT mit der Verstärkung und dem Halten der Daten auf der Datenbusleitung DB. Zusätzlich antwortet die Hauptverstärkerschal­ tung 11 auf das externe Ausgabefreigabesignal OE mit der Ausgabe der gehaltenen Daten zum Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT.
In einem Schreibzyklus erzeugt die Schreibsteuerschaltung 5 zuerst das Schreibsteuersignal RWR. Die Eingabepufferschaltung 6 antwortet auf das Schreibsteuersignal RWR mit dem Einlesen und der Verstär­ kung der Daten D, die extern an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegt sind, und legt die verstärkten Daten auf die Datenbuslei­ tung DB.
Die Schreibsteuerschaltung 5 erzeugt dann das Schreibsteuersignal RWDE. Die Schreibpufferschaltung 7 antwortet auf das Schreibsteuer­ signal RWDE mit dem Einlesen und der Verstärkung der Daten auf der Datenbusleitung DB und legt die verstärkten Daten auf die Einga­ be/Ausgabe-Busleitung IOB. Die Daten auf der Eingabe/Ausgabe-Bus­ leitung IOB werden in eine durch die internen Adressensignale a0-an bestimmte Adresse im Speicherfeld 1 geschrieben.
Am Ende des Schreibbetriebs erzeugt die Schreibsteuerschaltung 5 das Schreibsteuersignal RWT. Die ATD-Erzeugungsschaltung 8 wird als Antwort auf das Schreibsteuersignal RWT zur Erzeugung des ATD-Si­ gnales RATD aktiviert, so daß in derselben Art und Weise wie beim Lesezyklus die in das Speicherfeld 1 geschriebenen Daten durch die Eingabe/Ausgabe-Busleitung IOB und die Vorverstärkerschaltung 10 an die Datenbusleitung DB geliefert werden und durch die Hauptver­ stärkerschaltung 11 weiter verstärkt und gehalten werden.
Fig. 8 zeigt ein Signalwellenformdiagramm eines Schreibzyklus. Wie aus Fig. 8 ersichtlich, steigt zuerst das Schreibsteuersignal RWR und dann das Schreibsteuersignal RWDE an. Infolgedessen werden die extern an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegten Daten durch die Eingabepufferschaltung 6 und die Schreibpufferschaltung 7 in das Speicherfeld 1 geschrieben.
Am Ende des Schreibbetriebs steigt das Schreibsteuersignal RWT an. Als Antwort auf den Anstieg des Schreibsteuersignals RWT steigt das ATD-Signal RATD an. Das Ausgabesteuersignal RPA und das Ausgabesteu­ ersignal RDOT steigen dann als Folge dessen an. Infolgedessen werden die in das Speicherfeld 1 geschriebenen Daten durch die Vorver­ stärkerschaltung 10 an die Hauptverstärkerschaltung 11 geliefert und darin gehalten.
Der Grund für das Lesen der in das Speicherfeld 1 geschriebenen Daten in die Hauptverstärkerschaltung 11 am Ende des Schreibbe­ triebes wird im folgenden beschrieben.
Wie oben ausgeführt wird der Lesebetrieb als Antwort auf das ATD- Signal RATD ausgeführt. Jedoch wird im Fall des Schreibens von Daten in eine bestimmte Adresse im Speicherzellenfeld 1 und des Lesens der Daten von derselben Adresse darin das ATD-Signal RATD nicht er­ zeugt, da die internen Adressensignale a0-an sich nicht ändern. Darum arbeiten die Vorverstärkerschaltung 10 und die Hauptverstär­ kerschaltung 11 nicht und die aus dem Speicherfeld 1 gelesenen Daten können nicht ausgegeben werden.
Um dies zu verhindern wird am Ende des Schreibbetriebes die ATD- Erzeugungsschaltung 8 durch das Schreibsteuersignal RWT aktiviert, so daß die in das Speicherfeld 1 geschriebenen Daten in der Haupt­ verstärkerschaltung 11 gehalten werden können.
Fig. 9 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibsteuerschaltung 5 zeigt. Die Schreibsteuer­ schaltung 5 umfaßt Signalerzeugungsschaltungen 51, 52, 53 und 54. Die Signalerzeugungsschaltung 51 umfaßt ein NOR-Gatter G1, Inver­ ter G2, G2, G3 und G4 und NAND-Gatter G5, G6 und G7. Die Signal­ erzeugungsschaltung 52 umfaßt Inverter G8, G9, G10 und G12 und ein NAND-Gatter G11. Die Signalerzeugungsschaltung 53 umfaßt Inverter G13, G14, und G15 und ein NOR-Gatter G16. Die Signalerzeugungs­ schaltung umfaßt Inverter G17, G18, und G19 und ein NOR-Gatter G20.
Die Signalerzeugungsschaltung 51 erzeugt ein Steuersignal RW als Antwort auf das externe Schreibfreigabesignal /WE, das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS und das interne Spaltenadressentakt­ signal R/CAS. Die Signalerzeugungsschaltung 52 erzeugt das Schreib­ steuersignal RWR als Antwort auf das Steuersignal RW. Die Signaler­ zeugungsschaltung 53 erzeugt das Schreibsteuersignal RWDE als Ant­ wort auf das Steuersignal RWR. Die Signalerzeugungsschaltung 54 erzeugt das Schreibsteuersignal RWT als Antwort auf das Steuersi­ gnal RW.
Fig. 8 zeigt, daß, wenn das interne Spaltenadressentaktsignal R/CAS auf "L" fällt, während das externe Schreibfreigabesignal /WE und das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS sich beide in einem "L"- Status befinden, das Steuersignal RW "H" erreicht (Schreibstatus). Wenn das interne Spaltenadressentaktsignal R/CAS auf "H" steigt, fällt danach das Steuersignal RW auf "L".
Als Antwort auf den Anstieg des Steuersignals RW steigt das Schreibsteuersignal RWR auf "H" und fällt nach einer vorgeschriebe­ nen Zeit auf "L". Als Antwort auf das Fallen des Steuersignals RWR steigt das Schreibsteuersignal RWDE auf "H" und fällt nach einer vorgeschriebenen Zeit auf "L". Als Antwort auf den Abfall des Steuersignals RW steigt das Schreibsteuersignal RWT auf "H" an und fällt nach einer vorgeschriebenen Zeit auf "L".
Fig. 10 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Eingabepufferschaltung 6 zeigt. Die Eingabepuffer­ schaltung 6 umfaßt ein NOR-Gatter G21, Inverter G22, G23, G24, G25, G26 und G27, p-Kanal-MOS-Transistoren P1, P2, P3 und P4 und n-Kanal-MOS-Transistoren N1, N2, N3 und N4. Die Transistoren P1, P2, N1 und N2 bilden einen Inverter 61, und die Transistoren P3, P4, N3 und N4 bilden einen Inverter 62. Die Inverter G24 und G25 bilden eine bistabile Kippstufe L1.
Wenn das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS auf "L" ist, werden die extern an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegten Daten D über das NOR-Gatter G21 und den Inverter G22 an den Inverter 61 angelegt.
Wenn das Schreibsteuersignal RWR "H" wird, wird der Inverter 61 aktiviert, wobei die Daten in der bistabilen Kippstufe L1 eingele­ sen und gehalten werden. Wenn das Steuersignal RW "H" ist, befindet sich der Inverter 62 in einem aktivierten Status, wobei die in der bistabilen Kippstufe L1 gehaltenen Daten über die Inverter G26, 62 an die Datenbusleitung DB angelegt werden.
Fig. 11 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibpufferschaltung 7 darstellt. Die Schreibpuf­ ferschaltung 7 umfaßt n-Kanal-MOS-Transistoren N5, N6, N7 und N8, NOR-Gatter G30 und G31, und Inverter G28 und G29. Die Eingabe/Aus­ gabe-Busleitung IOB umfaßt ein Paar von Eingabe/Ausgabe-Leitungen IO1 und IO2.
Wenn das Schreibsteuersignal RWDE "H" erreicht, werden die Daten auf der Datenbusleitung DB über den Inverter G28 und das NOR-Gatter G30 an die Gates der Transistoren N5 und N8 und über das NOR-Gat­ ter G31 an die Gates der Transistoren N6 und N7 angelegt, so daß die Daten auf der Datenbusleitung DB an die Eingabe/Ausgabe-Lei­ tung IO1 und die invertierten Daten der Daten auf der Datenbuslei­ tung DB an die Eingabe/Ausgabe-Leitung IO2 angelegt werden. Das heißt die Eingabe/Ausgabe-Leitungen IO1 und IO2 werden mit komple­ mentären Daten versorgt.
Fig. 12 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der ATD-Erzeugungsschaltung 8 zeigt. Die ATD-Erzeugungs­ schaltung 8 umfaßt ein NOR-Gatter G32, einen Inverter G33, n-Ka­ nal-MOS-Transistoren N9, N10 und N11, und Erkennungsschaltungen 81-8n.
Die jeweiligen Erkennungsschaltungen 81-8n erkennen Übergänge der internen Adressensignale a0-an zur Erzeugung von Erkennungspulsen Rc0-Rcn. Das NOR-Gatter G32 erzeugt ein Ausgabesignal "H", wenn das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS und das Steuersignal Ra "L" erreichen.
Wie in Fig. 13 gezeigt, wird, wenn irgendeine der Erkennungs­ schaltungen 81-8n die Erkennungspulse Rci (i = 0-n) erzeugt, einer der Transistoren N9-N10 angeschaltet, wobei auf dem ATD-Signal RATD ein von dem Inverter G33 gelieferter Puls erscheint. Wenn auf dem Schreibsteuersignal RWT ein Puls erzeugt wird, wird der Transistor N11 angeschaltet und auf dem ATD-Signal RATD erscheint ein Puls. Das Steuersignal Ra ist ein Verzögerungssignal des internen Reihen­ adressentaktsignales R/RAS.
Fig. 14 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Ausgabesteuerschaltung 9 zeigt. Die Ausgabesteuer­ schaltung 9 umfaßt Signalerzeugungsschaltungen 91, 92. Die Signal­ erzeugungsschaltung 91 umfaßt Inverter G34, G35 und G36 und ein NOR-Gatter G37. Die Signalerzeugungsschaltung 92 umfaßt Inverter G38, G39 und G40 und ein NOR-Gatter G41.
Die Signalerzeugungsschaltung 91 antwortet auf ATD-Signal RATD mit der Erzeugung des Ausgabesteuersignals RPA Die Signalerzeugungs­ schaltung 92 antwortet auf ATD-Signal RPA mit der Erzeugung des Ausgabesteuersignals RDOT.
Wie aus Fig. 13 ersichtlich, steigt das Ausgabesteuersignal RPA als Antwort auf den Abfall des ATD-Signales RATD auf "H" und nach einer vorgeschriebenen Zeitperiode fällt es auf "L". Das Ausgabesteuer­ signal RDOT steigt als Antwort auf den Abfall des ATD-Signales RPA auf "H" und nach einer vorgeschriebenen Zeitperiode fällt es auf "L".
Fig. 15 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Vorverstärkerschaltung 10 zeigt. Die Vorverstärker­ schaltung 10 umfaßt p-Kanal-MOS-Transistoren P5-P9, n-Kanal-MOS- Transistoren N12-N17, und Inverter G42-G45. Die Transistoren PS, P6, N12, N13 und N14 bilden einen Verstärker 101. Die Transistoren P7 und N15 bilden ein Transfergate 102. Die Inverter G43 und G44 bilden eine bistabile Kippstufe 103. Die Transistoren P8, P9, N16 und N17 bilden einen Inverter 104.
Wenn das Ausgabesteuersignal RPA "H" ist, ist der Verstärker 101 aktiviert, so daß die Daten auf den Eingabe/Ausgabe-Leitungen I01 und I02 durch den Verstärker 101 zum Anlegen an das Transfergate 102 verstärkt werden. Wenn das Ausgabesteuersignal RPA "H" ist, wird das Transfergate 102 angeschaltet, so daß die durch den Ver­ stärker 101 verstärkten Daten an die bistabile Kippstufe 103 an­ gelegt und darin gehalten werden. Der Inverter 104 wird, wenn das Steuersignal RW "L" ist, aktiviert, so daß die in der bistabilen Kippstufe 103 gehaltenen Daten an die Datenbusleitung DB angelegt werden.
Fig. 16 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur des Hauptbereiches der Hauptverstärkerschaltung 11 zeigt. Die Hauptverstärkerschaltung 11 umfaßt einen getakteten Inverter G46, Inverter G47, G48 und G49, NAND-Gatter G50 und G51, und n- Kanal-MOS-Transistoren N18 und N19. Die Inverter G47 und G48 bil­ den eine bistabile Kippstufe 111.
Wenn das Ausgabesteuersignal RDOT "H" ist, wird der getaktete Inver­ ter G46 aktiviert, wobei die Daten auf der Datenbusleitung DB an die bistabile Kippstufe 111 angelegt und darin gehalten werden. Wenn das externe Ausgabefreigabesignal OE "H" ist, werden die in der bistabilen Kippstufe 111 gehaltenen Daten und die invertierten Daten davon über die NAND-Gatter G50 und G51 entsprechend an die Gates der Transistoren N18 und N19 angelegt und daraus folgend werden die Daten an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegt.
Wie oben beschrieben, muß ein herkömmlicher DRAM die ATD-Erzeu­ gungsschaltung 8 und die Vorverstärkerschaltung 10 am Ende des Schreibbetriebes aktivieren. Daraus entsteht das Problem des er­ höhten Stromverbrauches.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, den Stromverbrauch beim Schreibbetrieb in einer Halbleiterspeichervorrichtung mit einer ATD-Erzeugungsschaltung zu reduzieren, und zu ermöglichen, daß eine Hauptverstärkerschaltung geschriebene Daten ohne Aktivierung einer ATD-Erzeugungsschaltung und einer Vorverstärkerschaltung im Schreibbetrieb in einen dynamischen wahlfreien Zugriffsspeicher (DRAM) aufnimmt. Eine Halbleiterspeichervorrichtung entsprechend der vorliegenden Erfindung umfaßt eine Speicherschaltung zur Spei­ cherung von Daten, eine Adressensignaleingabeschaltung, einen Da­ tenbus, eine Eingabepufferschaltung, eine Verstärkerschaltung, eine Adressübergangerkennungsschaltung, eine erste Steuerschaltung und eine zweite Steuerschaltung.
Die Adressensignaleingabeschaltung empfängt ein extern angelegtes Adressensignal. Der Datenbus überträgt Daten, die in die durch das Adressensignal festgelegte Adresse der Speicherschaltung geschrie­ ben werden sollen, oder Daten, die von der durch das Adressensi­ gnal bestimmten Adresse der Speicherschaltung gelesen werden. Die Eingabepufferschaltung empfängt extern angelegte Daten und legt dieselben auf den Datenbus. Die Verstärkerschaltung verstärkt und hält die auf den Datenbus gelesenen Daten.
Die Adreßübergang-Erkennungsschaltung erkennt den Übergang des Adressensignals von der Adressensignaleingabeschaltung zur Erzeu­ gung eines Erkennungssignals. Die erste Steuerschaltung aktiviert die Verstärkerschaltung als Antwort auf das Erkennungssignal von der Adreßübergang-Erkennungsschaltung beim Lesebetrieb. Beim Schreibbetrieb aktiviert die zweite Steuerschaltung die Eingabe­ pufferschaltung und des weiteren die Verstärkerschaltung.
Im Schreibbetrieb erzeugt die zweite Steuerschaltung zuerst ein erstes Schreibsteuersignal und danach ein zweites Schreibsteuersi­ gnal. Die erste Steuerschaltung antwortet auf das Erkennungssignal mit der Erzeugung eines Ausgabesteuersignals. Die Eingabepuffer­ schaltung wird als Antwort auf das erste Schreibsteuersignal akti­ viert. Die Verstärkerschaltung wird als Antwort auf das zweite Schreibsteuersignal oder das Ausgabesteuersignal aktiviert.
Im Schreibbetrieb wird die Verstärkerschaltung als Antwort auf den Übergang eines Adressensignals aktiviert, so daß Daten, die von einer bestimmten Adresse der Speicherschaltung auf den Datenbus gelesen werden, von der Verstärkerschaltung verstärkt und gehalten werden.
Im Schreibbetrieb werden die Eingabepufferschaltung und des weite­ ren die Verstärkerschaltung aktiviert, wobei externe Daten auf den Datenbus gelegt sind. Die auf den Datenbus gelegten Daten werden in eine bestimmte Adresse der Speicherschaltung gelesen. Gleich­ zeitig werden die auf den Datenbus gelegten Daten durch die Ver­ stärkerschaltung verstärkt und gehalten.
Wie oben beschrieben, können im Schreibbetrieb die an den Datenbus angelegten geschriebenen Daten ohne Aktivierung der Adreßübergang- Erkennungsschaltung direkt von der Verstärkerschaltung aufgenommen werden. Infolgedessen kann der Leistungsverbrauch beim Schreibbe­ trieb reduziert werden.
Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Figu­ ren.
Von den Figuren zeigt
Fig. 1 ein Schaltbild, das die Struktur eines DRAM ent­ sprechend einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 ein Wellenformdiagramm von Signalen, das den Schreibbetrieb des DRAM aus Fig. 1 zeigt;
Fig. 3 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibsteuerschaltung des DRAM aus Fig. 1 zeigt;
Fig. 4 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der ATD-Erzeugungsschaltung des DRAM aus Fig. 1 zeigt;
Fig. 5 ein Wellenformdiagramm von Signalen, das den Be­ trieb der ATD-Erzeugungsschaltung beschreibt;
Fig. 6 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Hauptverstärkerschaltung des DRAM aus Fig. 1 zeigt;
Fig. 7 ein Schaltbild, das die Struktur eines herkömmli­ chen DRAM zeigt;
Fig. 8 ein Wellenformdiagramm von Signalen, das den Schreibbetrieb des DRAM aus Fig. 7 zeigt;
Fig. 9 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibsteuerschaltung des DRAM aus Fig. 7 zeigt;
Fig. 10 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Eingabepufferschaltung der DRAM′s aus den Fig. 1 und 7 zeigt;
Fig. 11 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibpufferschaltung der DRAM′s aus den Fig. 1 und 7 zeigt;
Fig. 12 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der ATD-Erzeugungsschaltung des DRAM aus Fig. 7 zeigt;
Fig. 13 ein Wellenformdiagramm von Signalen, das den Betrieb der ATD-Erzeugungsschaltung aus Fig. 12 zeigt;
Fig. 14 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Ausgabesteuerschaltung der DRAM′s aus den Fig. 1 und 7 zeigt;
Fig. 15 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Vorverstärkerschaltung der DRAM′s aus den Fig. 1 und 7 zeigt;
Fig. 16 eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Hauptverstärkerschaltung des DRAM aus Fig. 7 zeigt.
Fig. 1 ist ein Schaltbild, das die Struktur eines DRAM entspre­ chend einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Der DRAM unterscheidet sich von einem in Fig. 7 gezeigten herkömmli­ chen DRAM dadurch, daß seine Struktur aus einer Schreibsteuer­ schaltung 5a, einer ATD-Erzeugungsschaltung 8a und einer Hauptver­ stärkerschaltung 11a unterschiedlich zu der in Fig. 7 gezeigten (Struktur) der Schreibsteuerschaltung 5, der ATD-Erzeugungsschal­ tung 8 und der Hauptverstärkerschaltung 11 ist, und dadurch, daß das Schreibsteuersignal RWT von der Schreibsteuerschaltung 5a nicht an die ATD-Erzeugungsschaltung 8a, und daß das Schreibsteuersignal RWDE von der Schreibsteuerschaltung 5a nicht an die Hauptverstärker­ schaltung 11a gelegt wird. Der andere Teil der Struktur ist der­ selbe wie der in den Fig. 7, 10, 11, 14 und 15 gezeigte. Dieser DRAM ist auf einem Chip ausgebildet.
Der Schreibbetrieb des DRAM aus Fig. 1 wird nun beschrieben.
In einem Schreibzyklus erzeugt die Schreibsteuerschaltung 5a zu­ erst das Schreibsteuersignal RWR. Die Eingabepufferschaltung 6 wird als Antwort auf das Schreibsteuersignal RWR aktiviert, wobei die Daten D, welche extern an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT ange­ legt sind, durch die Eingabepufferschaltung 6 verstärkt, und die verstärkten Daten an die Datenbusleitung DB angelegt werden.
Die Schreibsteuerschaltung 5a erzeugt dann das Schreibsteuersignal RWDE. Als Antwort auf das Schreibsteuersignal RWDE werden die Schreibpufferschaltung 7 und die Hauptverstärkerschaltung 11a ak­ tiviert, so daß die Daten auf der Datenbusleitung DB durch die Schreibpufferschaltung 7 verstärkt werden, und die verstärkten Daten dann an die Eingabe/Ausgabe-Busleitung IOB angelegt werden. Die Daten auf der Eingabe/Ausgabe-Busleitung IOB werden in eine durch die internen Adressensignale a0-an bestimmte Adresse in dem Speicherfeld 1 geschrieben. Gleichzeitig werden die Daten auf der Datenbusleitung DB von der Hauptverstärkerschaltung 11a verstärkt und gehalten.
Der Schreibbetrieb des DRAM aus Fig. 1 ist derselbe wie der des DRAM aus Fig. 7.
Fig. 2 zeigt ein Wellenformdiagramm von Signalen beim Schreibbe­ trieb des DRAM aus Fig. 1.
In einem Schreibzyklus steigt zuerst das Schreibsteuersignal RWR und danach das Schreibsteuersignal RWDE an, wobei die extern an das Eingabe/Ausgabe-Terminal IOT angelegten Daten D durch die Eingabe­ pufferschaltung 6 und die Schreibpufferschaltung 7 in das Spei­ cherfeld 1 geschrieben werden. Die geschriebenen Daten auf dem Datenbus DB werden gleichzeitig von der Hauptverstärkerschaltung 11a gehalten.
Fig. 3 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Schreibsteuerschaltung 5a zeigt. Die Schreibsteuer­ schaltung 5a umfaßt Signalerzeugungsschaltungen 51, 52 und 53. Die Strukturen der Signalerzeugungsschaltungen 51, 52 und 53 sind die­ selben wie die der entsprechenden, in Fig. 9 gezeigten, Signaler­ zeugungsschaltungen 51, 52 und 53. In der Schreibsteuerschaltung 5a aus Fig. 3 ist die in Fig. 9 gezeigte Signalerzeugungsschaltung 54 nicht vorgesehen.
Wie in Fig. 2 zu sehen, steigt das Steuersignal RW, wenn das inter­ ne Spaltenadressentaktsignal R/CAS auf "L" fällt, während sich das externe Schreibfreigabesignal /WE und das interne Reihenadressen­ taktsignal RRAS in einem "L"-Status befinden, auf "H" (Schreibsta­ tus). Danach, wenn das interne Spaltenadressentaktsignal R/CAS auf "H" steigt, fällt das Steuersignal RW auf "L".
Als Antwort auf den Anstieg des Steuersignals RW steigt das Schreib­ steuersignal RWR auf "H" und fällt nach einer vorgeschriebenen Zeit­ periode auf "L". Als Antwort auf den Abfall des Schreibsteuer­ signals RWR steigt das Schreibsteuersignal RWDE auf "H" und fällt nach einer vorgeschriebenen Zeitperiode auf "L".
Fig. 4 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der ATD-Erzeugungsschaltung 8a zeigt. Die in Fig. 4 ge­ zeigte ATD-Erzeugungsschaltung 8a unterscheidet sich von der in Fig. 12 gezeigten ATD-Erzeugungsschaltung 8 dadurch, daß der das Schreibsteuersignal RWT empfangende Transistor N11 nicht vorgesehen ist. Der andere Teil der Struktur ist derselbe wie der in Fig. 12 gezeigte.
Wenn das Steuersignal Ra und das interne Reihenadressentaktsignal R/RAS auf "L" sind, erreicht ein Ausgabesignal des NOR-Gatters G32 "H". Wenn irgendeine der Erkennungsschaltungen 81-8n einen Erken­ nungspuls Rci (i = 0-n) erzeugt, wird einer der Transistoren N9-N10 angeschaltet, wobei, wie in Fig. 5 gezeigt, ein von Inverter G33 gelieferter Puls auf dem ATD-Signal RATD erscheint.
Fig. 6 ist eine schematische Darstellung, die detailliert die Struktur der Hauptverstärkerschaltung 11a zeigt. Die in Fig. 6 ge­ zeigte Hauptverstärkerschaltung 11a unterscheidet sich von der in Fig. 16 gezeigten Hauptverstärkerschaltung 11 dadurch, daß ein In­ verter G52 und ein n-Kanal-MOS-Transistor N20 für ein Transfergate zwischen der Datenbusleitung DB und der bistabilen Kippstufe 111 in Serie geschaltet sind. Das Gate des Transistors N20 wird mit dem Schreibsteuersignal RWDE von der Schreibsteuerschaltung 5a versorgt (siehe Fig. 1 und 3). Der andere Teil der Struktur ist derselbe wie der in Fig. 16 gezeigte.
Wenn das Ausgabesteuersignal RDOT "H" erreicht, wird der getaktete Inverter G46 aktiviert, so daß die Daten auf der Datenbusleitung DB durch den getakteten Inverter G46 an die bistabile Kippstufe 111 angelegt und darin gehalten werden.
Wenn das Schreibsteuersignal RWDE im Schreibbetrieb "H" erreicht, wird der Transistor N20 angeschaltet, wobei die Daten auf der Da­ tenbusleitung DB durch den Inverter G52 und den Transistor N20 an die bistabile Kippstufe 111 angelegt und in dieser gehalten werden.
Anstelle des Schreibsteuersignals RWDE kann ein, auf das Schreib­ steuersignal RWDE antwortendes, anderes Signal an das Gate des Tran­ sistors N20 gelegt werden.
Ein getakteter Inverter kann anstelle des Inverters G52 und des Transistors N20 vorgesehen werden.
Bei der oben beschriebenen Ausführungsform können im Schreibbetrieb an die Datenbusleitung DB angelegte geschriebene Daten ohne Akti­ vierung der ATD-Erzeugungsschaltung 8a und der Vorverstärkerschal­ tung 10 direkt in der Hauptverstärkerschaltung 11a gehalten werden. Daher kann der Leistungsverbrauch beim Schreibbetrieb reduziert werden.

Claims (10)

1. Halbleiterspeichervorrichtung, mit
einer Speichereinrichtung (1) zum Speichern von Daten;
einer Adressensignaleingabeeinrichtung (2) zum Empfangen von extern angelegten Adressensignalen;
einem Datenbus (DB) zur Übertragung von Daten, die in eine durch die Adressensignale bestimmte Adresse der Speichereinrichtung (1) geschrieben werden sollen, oder von Daten, die aus einer durch die Adressensignale bestimmten Adresse der Speichereinrichtung (1) ge­ lesen werden;
einer Eingabepuffereinrichtung (6) zum Empfangen extern angelegter Daten und zum Anlegen der Daten an den Datenbus (DB);
einer Verstärkereinrichtung (11a) zum Verstärken und Halten der auf den Datenbus (DB) gelesenen Daten;
einer Adreßübergang-Erkennungseinrichtung (8a) zum Erkennen eines Übergangs eines Adressensignals von der Adressensignaleingabeein­ richtung (2) zur Erzeugung eines Erkennungssignals;
einer auf das Erkennungssignal von der Adreßübergang-Erkennungsein­ richtung (8a) antwortenden ersten Kontrolleinrichtung (9) zur Akti­ vierung der Verstärkereinrichtung (11a) beim Lesebetrieb; und
einer zweiten Steuereinrichtung (5a) zur Aktivierung der Eingabe­ puffereinrichtung (6) und weiter zur Aktivierung der Verstärkerein­ richtung (11a).
2. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
beim Schreibbetrieb die zweite Steuereinrichtung (5a) zuerst ein erstes Schreibsteuersignal (RWR) und dann ein zweites Schreibsteuer­ signal (RWDE) erzeugt,
die erste Steuereinrichtung (9) als Antwort auf das Erkennungssi­ gnal (RATD) ein Ausgabesteuersignal (RDOT) erzeugt,
die Eingabepuffereinrichtung (6) als Antwort auf das erste Schreib­ steuersignal (RWR) aktiviert wird, und
die Verstärkereinrichtung (11a) als Antwort auf das zweite Schreib­ steuersignal (RWDE) oder das Ausgabesteuersignal (RDOT) aktiviert wird.
3. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß
die Verstärkereinrichtung (11a) Halteeinrichtungen (111) zum Ver­ stärken und Halten von Daten, und
auf das zweite Schreibsteuersignal (RWDE) oder das Ausgabesteuersi­ gnal (RDOT) antwortende Übertragungseinrichtungen (G46, G52, N20) zur Übertragung von Daten von dem Datenbus (DB) zu der Halteein­ richtung (111) aufweist.
4. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Übertragungseinrichtung einen getakteten Inverter (G46) auf­ weist.
5. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Übertragungseinrichtung ein Transfergate (N20) aufweist.
6. Halbleiterspeichervorrichtung nach einem der Ansprüche 3-5, mit einer auf ein extern angelegtes Ausgabefreigabesignal (OE) antwor­ tenden Ausgabeeinrichtung (G50, G51) zur Ausgabe von Daten, die in der Halteeinrichtung (111) gehalten werden.
7. Halbleiterspeichervorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, mit
einem Eingabe/Ausgabebus (IOB) zur Übertragung von in die Speicher­ einrichtung (1) zu schreibenden Daten, oder von aus der Speicher­ einrichtung (1) gelesenen Daten,
einer Schreibpuffereinrichtung (7) zum Empfangen von Daten von dem Datenbus (DB) und zum Anlegen der Daten an den Eingabe/Ausgabebus (IOB), und
einer Vorverstärkereinrichtung (10) zum Verstärken von auf den Ein­ gabe/Ausgabebus (IOB) gelesenen Daten, und zum Anlegen der ver­ stärkten Daten an den Datenbus (DB), wobei im Lesebetrieb die erste Steuereinrichtung (9) auf das Erkennungs­ signal (RATD) antwortet, indem sie zuerst die Vorverstärkereinrich­ tung (10) und danach die Verstärkereinrichtung (11a) aktiviert, und im Schreibbetrieb die zweite Steuereinrichtung (5a) zuerst die Ein­ gabepuffereinrichtung (6) aktiviert und danach die Schreibpuffer­ einrichtung (7) und die Verstärkereinrichtung (11a) aktiviert.
8. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Schreibbetrieb die zweite Steuereinrichtung (5a) zuerst ein erstes Schreibsteuersignal (RWR) und danach ein zweites Schreibsteuersignal (RWDE) erzeugt,
die erste Steuereinrichtung (9) auf das Erkennungssignal (RATD) zu­ erst mit der Erzeugung eines ersten Ausgabesteuersignals (RPA) und danach mit der Erzeugung eines zweiten Ausgabesteuersignals (RDOT) antwortet,
die Eingabepuffereinrichtung (6) als Antwort auf das erste Schreib­ steuersignal (RWR) aktiviert wird,
die Schreibpuffereinrichtung (7) als Antwort auf das zweite Schreibsteuersignal (RWDE) aktiviert wird, die Vorverstärkereinrich­ tung (10) als Antwort auf das erste Ausgabesteuersignals (RPA) akti­ viert wird, und
die Verstärkereinrichtung (11a) als Antwort auf das zweite Schreib­ steuersignal (RWDE) oder zweite Ausgabesteuersignals (RDOT) aktiviert wird.
9. Halbleiterspeichervorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Speichereinrichtung (1) eine Mehrzahl von Speicherzellen des dynamischen Typs aufweist.
10. Verfahren zum Betrieb einer Halbleiterspeichervorrichtung, die eine Speichereinrichtung (1) zum Speichern von Daten, eine Eingabe­ puffereinrichtung (6) zum Empfangen von extern angelegten Daten und zum Anlegen der Daten an einen Datenbus (DB), und eine Verstärker­ einrichtung (11a) zum Verstärken und Halten von auf den Datenbus (DB) gelesenen Daten aufweist, mit den Schritten:
Erkennung des Übergangs eines Adressensignals zur Erzeugung eines Erkennungssignals (RATD);
Aktivierung der Verstärkereinrichtung (11a) als Antwort auf das Erkennungssignal (RATD) beim Lesebetrieb; und
Aktivierung der Eingabepuffereinrichtung (6) und des weiteren Akti­ vierung der Verstärkereinrichtung (11a) beim Schreibbetrieb.
DE4244059A 1992-02-03 1992-12-24 Withdrawn DE4244059A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4017662A JPH05217367A (ja) 1992-02-03 1992-02-03 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4244059A1 true DE4244059A1 (de) 1993-08-05

Family

ID=11950069

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4244059A Withdrawn DE4244059A1 (de) 1992-02-03 1992-12-24

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5307324A (de)
JP (1) JPH05217367A (de)
KR (1) KR960002821B1 (de)
DE (1) DE4244059A1 (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2627475B2 (ja) * 1992-10-07 1997-07-09 三菱電機株式会社 半導体メモリ装置
KR960013858B1 (ko) * 1994-02-03 1996-10-10 현대전자산업 주식회사 데이타 출력버퍼 제어회로
US5469473A (en) * 1994-04-15 1995-11-21 Texas Instruments Incorporated Transceiver circuit with transition detection
US5487038A (en) * 1994-08-15 1996-01-23 Creative Integrated Systems, Inc. Method for read cycle interrupts in a dynamic read-only memory
KR0186094B1 (ko) * 1995-10-12 1999-05-15 구본준 메모리 소자내의 메인앰프의 배치구조
DE19617172C2 (de) * 1996-04-29 1999-06-24 Siemens Ag Integrierte Schaltungsanordnung zur Reduzierung der Stromaufnahme
KR100289383B1 (ko) * 1997-10-10 2001-05-02 김영환 쓰기제어드라이브회로
KR100271632B1 (ko) * 1997-10-10 2000-11-15 김영환 쓰기제어드라이브 회로
KR100301046B1 (ko) * 1998-09-01 2001-09-06 윤종용 그래픽처리속도를향상시킬수있는듀얼포트를갖는고속싱크로너스메모리장치
SG97920A1 (en) * 1999-10-18 2003-08-20 Ibm Address wrap function for addressable memory devices
KR100519877B1 (ko) * 2003-12-19 2005-10-10 삼성전자주식회사 레이트 라이트 기능을 갖는 반도체 메모리 장치 및 그데이터 입출력방법

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4581718A (en) * 1983-06-03 1986-04-08 Hitachi, Ltd. MOS memory
US4888736A (en) * 1987-01-14 1989-12-19 Texas Instruments Incorporated Semiconductor memory device using stored capacitor charge for writing data

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61110394A (ja) * 1984-10-31 1986-05-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPS63257999A (ja) * 1987-04-15 1988-10-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH01105387A (ja) * 1987-10-19 1989-04-21 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH0770213B2 (ja) * 1988-10-03 1995-07-31 三菱電機株式会社 半導体メモリ装置
JPH0646513B2 (ja) * 1989-07-12 1994-06-15 株式会社東芝 半導体記憶装置のデータ読出回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4581718A (en) * 1983-06-03 1986-04-08 Hitachi, Ltd. MOS memory
US4888736A (en) * 1987-01-14 1989-12-19 Texas Instruments Incorporated Semiconductor memory device using stored capacitor charge for writing data

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Electronics, 11.9.1980, S. 117-123 *

Also Published As

Publication number Publication date
KR930018583A (ko) 1993-09-22
JPH05217367A (ja) 1993-08-27
KR960002821B1 (ko) 1996-02-26
US5307324A (en) 1994-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3588247T2 (de) Dynamischer Halbleiterspeicher mit einer statischen Datenspeicherzelle
DE69410526T2 (de) Synchrone Halbleiterspeicheranordnung mit einer Eingangsschaltung zur Herstellung eines konstanten Hauptsteuersignals, um einem Zeitgeber zu erlauben, Steuersignale zu verriegeln
DE4322994C2 (de) Halbleiterspeichervorrichtung und Verfahren zum Setzen des Test-Modus einer Halbleiterspeichervorrichtung
DE3727688C2 (de) Halbleiterspeichersystem
DE69320416T2 (de) Halbleiter-Speichergerät mit Spannungstressprüfmodus
DE19807298C2 (de) Synchrone Halbleiterspeichereinrichtung
DE4236453C2 (de) Mehrkanal-Speichereinrichtung und Verfahren zum Betreiben derselben
DE69422120T2 (de) Synchroner dynamischer Speicher mit wahlfreiem Zugriff
DE4432925C2 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE69319372T2 (de) Halbleiterspeichervorrichtung mit Selbstauffrischungsfunktion
DE4129875C2 (de)
DE3827287A1 (de) Halbleiterspeichereinrichtung
DE4140846A1 (de) Halbleiterspeichereinrichtung und betriebsverfahren hierfuer
DE4428647B4 (de) Halbleiterspeicherbauelement mit einer Struktur zur Ansteuerung von Eingabe/Ausgabeleitungen mit hoher Geschwindigkeit
DE19636743B4 (de) Halbleiterspeichervorrichtung mit Datenausgabewegen für einen schnellen Zugriff
DE4244059A1 (de)
EP0056240A2 (de) Speicheranordnung
DE19749360A1 (de) Speicherzellen mit mehreren Ein-Ausgabeports und Speicher mit paralleler Dateninitialisierung
DE4201785C2 (de) Halbleiterspeichereinrichtung und Verfahren zur Initialisierung einer internen Schaltung einer Halbleiterspeichereinrichtung
DE19831350B4 (de) Halbleiterschaltungsvorrichtung, die synchron mit einem Taktsignal arbeitet, und Verfahren der Verwendung einer Halbleiterschaltungsvorrichtung, die synchron mit einem Taktsignal arbeitet
DE4108996C2 (de) Halbleiterspeichereinrichtung
DE19832960A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung mit Einbrenntestfunktion
DE3883935T2 (de) Halbleiterspeicheranordnung mit einem seriellen Zugriffsspeicher.
DE68908318T2 (de) Halbleiterspeicher mit Serieneingang/Serienausgang.
DE3784600T2 (de) Halbleiterspeicher mit schreibfunktion.

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee