DE4140506C2 - Hochspannungsabtastkopf mit großem Frequenzbereich - Google Patents
Hochspannungsabtastkopf mit großem FrequenzbereichInfo
- Publication number
- DE4140506C2 DE4140506C2 DE4140506A DE4140506A DE4140506C2 DE 4140506 C2 DE4140506 C2 DE 4140506C2 DE 4140506 A DE4140506 A DE 4140506A DE 4140506 A DE4140506 A DE 4140506A DE 4140506 C2 DE4140506 C2 DE 4140506C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- capacitor
- input
- resistor
- voltage divider
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/04—Voltage dividers
- G01R15/06—Voltage dividers having reactive components, e.g. capacitive transformer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen Hochspannungstastkopf zum
Anschluß an ein elektronisches Instrument mit einem Teilerverhältnis,
daß den Eingangsspannungsbereich des Instruments erweitert.
Hochspannungsabtastköpfe für Oszilloskope ermöglichen die
Messung von Signalen, die den Eingangsspannungsbereich von
Oszilloskopen und anderen Meßinstrumenten, beispielsweise Spektrum-
Analysatoren übersteigen. Diese Meßinstrumente besitzen in typischer
Weise mehrere Eingangsspannungsbereiche, die von einigen Millivolt
bis zu mehren 10 Volt reichen. Sie lassen sich zur Messung von
mehreren 10 Volt auf mehrere 10 000 Volt dadurch ausdehnen, daß der
Standardtastkopf gegen einen Hochspannungstastkopf ausgetauscht wird.
Beispielsweise stehen die Hochspannungstastköpfe Tektronix P6015 und
Hewlett-Packard 1137A im Handel zur Verfügung, die eine
Spannungsteilung von
1000 : 1 ergeben. Die bekannten Hochspannungstastköpfe besitzen jedoch
hinsichtlich ihrer Anwendung eine Anzahl von Einschränkungen.
Es werden größere Frequenzbereiche, höhere
Eingangsspannungswerte und eine erhöhte Anpassungsfähigkeit bezüglich
der Leitungslänge zwischen dem Hochspannungs-Meßkopf und dem
Oszilloskop sowie einfachere Eicheinstellungen benötigt. Einige
Hochspannungstastköpfe verwenden umweltschädliche CFC-Materialien,
beispielsweise Freon, zur Verbesserung ihrer Isolationseigenschaften.
Solche Materialien sollten möglichst beseitigt werden, während
gleichzeitig die Güte verbessert wird.
Bekannte Hochspannungstastköpfe erfordern außerdem bis zu
sieben Einstellungen für die Eichung. Darüber hinaus führt die
verhältnismäßig hohe Eingangskapazität bekannter
Hochspannungstastköpfe zu einer starken Belastung des
Spannungsmeßpunktes für hohe Frequenzen, so daß es erforderlich wird,
die Spannungsfestigkeit des Tastkopfes oberhalb einer verhältnismäßig
niedrigen Frequenz zu verringern.
Aus der US-PS 4,418,314 ist ein Hochspannungstastkopf
bekannt, der einen parallelgeschalteten R-C-Spannungsteiler aufweist,
der über einen Eingangswiderstand und über eine nicht abgeschlossene
Übertragungsleitung an den Eingang eines Oszilloskops angeschlossen
werden kann. Der parallelgeschaltete R-C-Spannungsteiler ist durch
eine Dämpfungs- und Kompensationsschaltung ergänzt, die Reflexionen
unterdrücken soll, die aufgrund der fehlangepaßten
Übertragungsleitung hervorgerufen werden. Im Unterschied dazu,
verwendet die Erfindung ein Koaxialkabel bzw. ein Adernpaar, bei dem
Fehlanpassungen gerade vermieden werden sollen.
Aus der US-PS-3,532,982 ist bekannt, ein Koaxialkabel, das
einen elektrischen Tastkopf mit einem Oszilloskop verbindet, mit
einer überbrückten T-Schaltung abzuschließen. Ferner ist eine
Reihenschaltung aus einem Widerstand und einem Kondensator
vorgesehen, die unterschiedliche Eingangswiderstände von
Oszilloskopen kompensieren kann. An keiner Stelle findet sich jedoch
ein Hinweis oder eine Anregung dahin, daß Koaxialkabel sowohl
eingangsseitig als auch ausgangsseitig mit einem Widerstand
abzuschließen, dessen Wert etwa gleich dem Wert des
Wellenwiderstandes des Koaxialkabels ist.
Die US-PS 3,015,080 offenbart ein System zur Übertragung
von elektrischen Signalen über ein Koaxialkabel, das nicht mit einer
Impedanzanpassungsschaltung abgeschlossen ist. Im Gegensatz dazu,
lehrt die Erfindung, das Koaxialkabel eingangsseitig und
ausgangsseitig mit dem Wellenwiderstand des Koaxialkabels
abzuschließen.
Aus der DE 23 54 978 ist eine Einrichtung zur Erfassung der
Zündspannung des Explosionsmotors eines Kraftfahrzeuges bekannt. Die
Einrichtung ist kapazitiv an ein Zündkabel angekoppelt und über eine
Leitung an ein außerhalb des Fahrzeuges befindliches Prüfgerät
anschließbar. Das Zündkabel ist mittels eines kapazitiven
Spannungsteilers an die Leitung angeschaltet. Zwischen der Leitung
und dem Spannungsteiler kann ein Impedanzwandler vorgesehen sein,
wenn durch die Eigenkapazität der Leitung und deren Wellenwiderstand
der Spannungsteiler erheblich belastet wird. Dieser Schritt lassen
sich aber keine Anregungen noch Hinweise entnehmen, die Leitung
eingangsseitig und ausgangsseitig mit deren Wellenwiderstand
abzuschließen.
Aus der DE-PS 1 39 958 ist eine Schaltungsanordnung zum
Messen von Teilentladungen in der Isolierung von elektrischen Leitern
bekannt. Dazu wird das zu überprüfende Koaxialkabel in Reihe mit
einer Sperrimpedanz geschaltet. Die Sperrimpedanz dient dazu, eine
Spannungsquelle gegen einen großen Stromfluß zu schützen, aber nicht
dazu, das Koaxialkabel mit dessen Wellenwiderstand abzuschließen.
Ferner ist ein Kondensator parallel zum überprüfenden Koaxialkabel
geschaltet; dieser Kondensator dient lediglich als Koppelkondensator.
Die schaltungstechnischen Maßnahmen haben daher nicht die Aufgabe,
das zu überprüfende Koaxialkabel eingangsseitig und ausgangsseitig
mit dessen Wellenwiderstand abzuschließen.
Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, einen
Hochspannungstastkopf zu schaffen, der gleichzeitig einen großen
Frequenzumfang, hohe Eingangsspannungsfestigkeit, erhöhte
Flexibilität im Hinblick auf die Leitungslänge zwischen dem
Hochspannungsmeßpunkt und dem Meßgerät besitzt und einfache
Eicheinstellungen ermöglicht. Die Lösung der Aufgabe ist in den
unabhängigen Patentansprüchen angegeben. Weiterbildungen der
Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Kurz zusammengefaßt, weist ein Hochspannungstastkopf nach
der Erfindung ein übliches Hochfrequenz-Koaxialkabel auf, das über
den größten Teil seines Hochfrequenzbereiches mit seinem
Wellenwiderstand abgeschlossen ist, sowie eine Schaltung mit
Widerständen und Kondensatoren, die ein festes Teilungsverhältnis
unabhängig von der Eingangsfrequenz liefert.
Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, daß ein großer
Arbeitsfrequenzbereich erzielbar ist.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung liegt darin, daß eine
hohe Eingangsspannungsfestigkeit erreicht wird.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist die erhöhte
Flexibilität hinsichtlich der Leitungslänge zwischen dem
Hochspannungsmeßpunkt und dem Meßgerät, beispielsweise einem
Oszilloskop.
Weiterhin ist es vorteilhaft, daß Eicheinstellungen einfach
sind.
Nachfolgend soll die Erfindung anhand von
Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den Zeichnungen beschrieben
werden. Es zeigen:
Fig. 1 das Schaltbild eines Hochspannungstastkopfes nach
der Erfindung;
Fig. 2 ein mechanisches Blockdiagramm des
Hochspannungstastkopfes nach Fig. 1;
Fig. 3 das Schaltbild der Ersatzschaltung nach Fig. 1 von
Gleichstrom bis etwa 270 Hz für einen bevorzugten Satz von
Bauteilwerten;
Fig. 4 das Schaltbild der Ersatzschaltung gemäß Fig. 1
bei etwa 270 Hz bis 1 MHz für den bevorzugten Satz von
Bauteilwerten;
Fig. 5 das Schaltbild der Ersatzschaltung gemäß Fig. 1
bei etwa 1 MHz bis 100 MHz für den bevorzugten Satz von
Bauteilwerten;
Fig. 6 das Schaltbild der Ersatzschaltung gemäß Fig. 1
oberhalb von etwa 100 MHz für den bevorzugten Satz von
Bauteilwerten.
Fig. 1 zeigt einen Hochspannungstastkopf, der
allgemein die Bezugszahl 10 trägt und Kondensatoren 11 bis 18,
Widerstände 19 bis 26 und ein Koaxialkabel 28 mit einem
Wellenwiderstand von 50 Ohm enthält. Die Widerstände 19 bis 23
sind spezielle Hochspannungswiderstände, die je für ein Fünftel
der angelegten Spannung ausgelegt sind. Die Kondensatoren 11 bis
15 sind spezielle Hochspannungstypen, die je ein Fünftel der
angelegten Spannung aushalten. Der Kondensator 17 ist
einstellbar und wird zur Eichung des Tastkopfes 10 bezüglich der
Eingangsimpedanz des Meßgerätes benutzt. Ein typisches
Oszilloskop, an das der Tastkopf 10 angeschaltet wird, besitzt
einen Eingangswiderstand Ri und eine Eingangskapazität Ci. In
typischer Weise hat Ri einen Wert von etwa 1 Megohm und Ci einen
Wert von etwa 0,03 nF. Die Kapazität des Koaxialkabels wird
durch den Kondensator Cc dargestellt und beträgt etwa 0,3 nF.
Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel hat der Kondensator 16
einen Wert von 3 nF, der Kondensator 18 von 2,7 nF, der
Widerstand 25 hat einen Wert von 110 Kiloohm und die Widerstände
24 und 26 haben je einen Wert von 50 Ohm. Das Kabel 28 ist etwa 3 m
lang.
Fig. 2 zeigt den grundsätzlichen mechanischen Aufbau
des Tastkopfes 10. Eine Erdleitung 30 und eine Meßleitung 32
verbinden das zu messende Gerät (DUT von device under test) mit
einem Meßkopf 34, der die Widerstände 19 bis 25 und die
Kondensatoren 11 bis 17 enthält. Der Meßkopf 34 ist über das
Koaxialkabel 28 mit einer Abschluß- und Verbindereinheit 36
verbunden. Die Einheit 36 enthält einen Widerstand 26, einen
Kondensator 18 und einen BNC-Stecker zum schnellen Anschluß an
ein Oszilloskop. Aus Sicherheitsgründen sind der Tastkopf 10 und
insbesondere der Meßkopf 34 nicht dafür ausgelegt, mit der Hand
gehalten zu werden. Da der Meßkopf 10 für eine Messung
gefährlicher und tötlicher Spannungen geschaffen ist und es
Schwierigkeiten bereitet, einen mit der Hand gehaltenen Tastkopf
bei Beobachtung des Oszilloskops unter Kontrolle zu halten, ist
der Tastkopf 10 statt dessen so ausgelegt, daß er sich auf einer
Arbeitsfläche befestigen läßt. Ein haftendes Gewebe,
beispielsweise Velcro® wird benutzt, um den Meßkopf 34 nahe dem
zu messenden Kopf auf einer geerdeten oder isolierten Fläche
festzuhalten. Die Hochspannungs-Eingangsmeßleitung 32 führt von
dem Spannungsteiler-Meßkopf 34 mit maximalem Abstand von der
Befestigungsebene weg, um für einen Kriechabstand zum Zweck
einer Hochspannungsisolation zu sorgen. Bei einem alternativen
Ausführungsbeispiel kann der Widerstand 25 für einen
Gleichstrom-Maßstabsfaktor aus dem Meßkopf 34 zur Einheit 36
verlegt werden, ohne den Betrieb der Schaltung wesentlich zu
ändern. Für bestimmte Maßstabsfaktoren kann der Widerstand 25
völlig weggelassen werden, so daß der Eingangswiderstand Ri des
Oszilloskops allein für den Abfühlzweig eines niederfrequenten
Spannungsteilers benutzt wird.
Fig. 3 zeigt das Ersatzschaltbild von Fig. 1 für
Eingangsfrequenzen von Gleichstrom bis etwa 270 Hz. Die
Kondensatoren 11 bis 18 haben bei diesen Frequenzen eine so hohe
Impedanz, daß sie vernachlässigt werden können. Die
Spannungsteilung beträgt etwa 10 000 : 1, da die Hochspannungs-
Eingangswiderstände 19 bis 23 in Reihe einen Wert von insgesamt
1000 Megohm haben und die Parallelschaltung des Widerstandes 25
mit dem Eingangswiderstand Ri etwa 100 Kiloohm beträgt.
Fig. 4 zeigt das Ersatzschaltbild von Fig. 1 für
Eingangsfrequenzen von etwa 270 Hz bis 1 MHz. Jetzt herrschen
die Kapazitäten vor und die Spannungsteilung beträgt weiterhin
etwa 10 000 : 1. Die Reihenkapazität der Hochspannungs-
Eingangskondensatoren 11-15 beträgt 0,6 pF und die
Parallelkapazität der Kondensatoren 16 und 18 sowie Cc und Ci
etwa 6 nF. Für längere Kabel 28 steigt die Niederfrequenz-
Kapazität Cc an. Der Wert des Kondensators 18 wird dann
verringert um die Gesamtkapazität der Parallelschaltung auf
insgesamt 6 Nf zu halten.
Fig. 5 ist das Ersatzschaltbild des Tastkopfes 10 für
Eingangsfrequenzen zwischen etwa 1 MHz und 100 MHz. Die
Spannungsteilung erfolgt in zwei Stufen. Zunächst tritt eine
Spannungsteilung von 5000 : 1 im Spannungsteiler mit den
Kondensatoren 11 bis 16 auf. Danach ergibt sich eine Teilung von
2 : 1 für den Widerstandsspannungsteiler mit den Widerständen 24
und 26. über den größten Teil dieses Frequenzbereiches ist das
Koaxialkabel 28 mit 50 Ohm mit seinem Wellenwiderstand durch die
Widerstände 24 und 26 abgeschlossen. Dadurch wird das
Frequenzansprechen im wesentlichen unabhängig von der
Kabellänge.
Fig. 6 zeigt das Ersatzschaltbild des Tastkopfes 10
für Eingangsfrequenzen oberhalb von etwa 100 MHz. Der
Kondensator 17 ist so eingestellt, daß er der Eingangskapazität
Ci des Oszilloskops entspricht. Die Spannungsteilung beträgt
etwa 10 000 : 1 in zwei Schritten. Zunächst ergibt sich eine
Teilung von 5000 : 1 für den kapazitiven Spannungsteiler mit den
Kondensatoren 11 bis 16 und dann eine Teilung von 2 : 1 für den
kapazitiven Spannungsteiler mit den Kondensatoren 17 und Ci. Die
Einstellung des Kondensators 17 für das hochfrequente Ende der
Bandbreite des Tastkopfes 10 ist die einzige erforderliche
Eicheinstellung.
Jeder Hochspannungs-Eingangswiderstand 19 bis 23 muß
einem Anteil der angelegten Spannung ohne Durchschlag oder
Funkenbildung widerstehen. Für eine maximale Meßspannung von
50 000 Volt müssen die Widerstände 19 bis 23 je für eine
Spannung von 10 000 Volt ausgelegt sein. Jeder Widerstand 19 bis
23 muß eine Belastbarkeit haben, die nicht kleiner als 10 000
zum Quadrat geteilt durch den Widerstandswert (V2/R) ist. Ein
hoher Widerstandswert für die Widerstände 19 bis 23 belastet
zwar den Spannungsmeßpunkt weniger, die Messung ist aber
empfindlicher gegen Rauschen. Ein annehmbarer Kompromiß für die
maximale Energiebelastbarkeit ist ein halbes Watt für jeden
Widerstand. Dies führt zu einem Widerstandswert von 200 Megohm
für jeden Widerstand 19 bis 23. Der Gesamteingangswiderstand des
Tastkopfes 10 beträgt daher etwa 1 Gigaohm (1000 Megohm). Jeder
Hochspannungs-Eingangskondensator 11 bis 15 muß ebenfalls einer
Spitzenspannung von 10 000 Volt widerstehen. Außerdem bestimmt
die Stromführungsmöglichkeit der Kondensatoren 11 bis 15 die
Grenzfrequenz, bei der die Spannungsfestigkeit des Tastkopfes
mit der Frequenz abzunehmen beginnt. Für eine gegebene
Stromführungskapazität ermöglicht ein kleinerer Kapazitätswert
eine höhere Grenzfrequenz. Sehr kleine Kapazitätswerte (im
niedrigen Pikofaradbereich) sind jedoch schwierig mit genauen
Werten zu erhalten und Streukapazitäten üben dann einen größeren
Einfluß aus. Durch Reihenschaltung mehrerer Kondensatoren ergibt
sich eine Anzahl von Vorteilen. Zunächst können Kondensatoren
mit verhältnismäßig großen Werten bei brauchbarer Genauigkeit
benutzt werden und trotzdem ist die Gesamtreihenkapazität klein.
Der verringerte Kapazitätswert führt zum anderen zu einer
kleineren Belastung des Spannungsmeßpunktes. Zum dritten wird
der Spannungsgradient über mehrere Zentimeter ausgedehnt, statt
das er (bei einem einzigen Kondensator) konzentriert ist. Ein
brauchbarer Kompromiß für die Anzahl der Kondensatoren ist fünf,
wobei jeder Kondensator eine Kapazität von 3 pF und eine
Stromgrenze von 1 A hat. Nimmt man ein sinusförmiges
Eingangssignal und eine Spitzenspannung von 10 KV für jeden der
Kondensatoren 11 bis 15 an, so beträgt die Grenzfrequenz etwa
7,5 MHz. Diese Grenzfrequenz ist höher als bei jetzt
handelsüblichen Hochspannungstastköpfen. Für fünf Kondensatoren
mit je 3 pF beträgt die Tastkopf-Eingangskapazität 0,6 pF oder
etwa 1 pF unter Berücksichtigung von
Verdrahtungsstreukapazitäten. Diese Eingangskapazität ist
niedriger als die der im Augenblick handelsüblichen
Hochspannungstastköpfe.
Die Widerstände 24 und 26 sollen beide gleich dem
Wellenwiderstand des Kabels 28 sein, um einen optimalen Abschluß
zu erreichen. Die beiden Widerstände 24 und 26 ergeben eine
Spannungsteilung von 2 : 1, was bedeutet, daß der kapazitive
Eingangsspannungsteiler einer Teilerfaktor für
Wechselstromsignale haben muß, der gleich dem halben Faktor des
Widerstandsspannungsteilers für Gleichstromsignale ist. Es
besteht die Möglichkeit, einen Wert für den Widerstand 24 zu
wählen, der zu einer unterschiedlichen Spannungsteilung führt,
und dann für eine Kompensation durch Abänderung der kapazitiven
Spannungsteilung zu sorgen. Normalerweise erreicht man dadurch
jedoch keinen Vorteil gegenüber einer Verwendung gleicher
Widerstandswerte für die Widerstände 24 und 26. Bei Verwendung
ungleicher Widerstandswerte ist außerdem das Kabel 28
eingangsseitig schlechter abgeschlossen. Der Widerstand 25 wird
durch das gewünschte Teilverhältnis des Tastkopfes 10 bestimmt.
Wenn der Tastkopf 10 für Spannungen bis zum 50 000 Volt benutzt
werden soll, ist eine Spannungsteilung von 1000 : 1 nicht
befriedigend, weil dies zu einem Ausgangssignal von maximal 50
Volt führen würde (das oberhalb des normalen Eingangsbereiches
der meisten Oszilloskope liegt). Für ein Teilerverhältnis von
10 000 : 1 läßt sich die höchste Spannung bequem messen. Bei einer
maximalen Empfindlichkeit eines Oszilloskops von 2 mV je Teilung
entspricht ein voll ausgeschriebenes Schirmbild in typischer
Weise einer Sinusspannung von etwa 57 VRMS. Bei einem
Teilerverhältnis von 10 000 : 1 kann daher der Tastkopf 10 zur
Messung von Spannungen benutzt werden, die von Netzspannungen im
Haushalt bis zu mehreren 10 000 Volt reichen. Für ein
Widerstands-Spannungsteilerverhältnis des Abtastkopfes von
10 000 : 1 und einen Wert von 1 Megohm für Ri hat der Widerstand
25 einen Wert von etwa 111 Kiloohm. In ähnlicher Weise ist für
ein kapazitives Spannungsteilerverhältnis von 10 000 : 1 die Summe
der Kapazitäten 16, 18 und der Kapazitäten Cc und Ci (etwa 6 pF)
10 000 mal 0,6 pF, nämlich der Kapazität der Reihenschaltung aus
den Hochspannungskondensatoren 11 bis 15. Da die Kapazität des
Kabels 28 in typischer Weise 100 pF/m beträgt ist Cc etwa 300 pF
für ein Koaxialkabel mit 3 m Länge. Bei einer typischen
Oszilloskop-Eingangskapazität Ci von 25 pF beträgt der
entsprechende Wert des Kondensators 18 2,675 nF. Für ein Kabel
28 mit einer Länge von 9 m beträgt Cc etwa 900 pF und der
entsprechende Wert des Kondensators 18 ist 2,075 nF. Der
variable Kondensator 17 ist so eingestellt, daß er an die
Oszilloskop-Eingangskapazität Ci angepaßt ist, die in typischer
Weise zwischen 20 pF und 30 pF liegt. Alternativ kann das Kabel
28 ein verdrilltes Adernpaar oder eine Bandleitung mit zwei
Adern sein (eine Bandleitung, beispielsweise eine Bandleitung
mit einem Wellenwiderstand von 300 Ohm für private
Fernsehantennen).
Claims (9)
1. Hochspannungstastkopf zum Anschluß an elektronische
Instrumente mit einem Teilerverhältnis, das den
Eingangsspannungsbereich des Instruments erweitert,
umfassend:
einen Spannungsteiler mit wenigstens einem ersten Kondensator (11) und einem zweiten Kondensator (16), die unter Bildung eines gemeinsamen elektrischen Knotenpunktes in Reihe geschaltet sind,
eine Einrichtung (32) zur Anschaltung eines zu prüfenden Gerätes an den ersten Kondensator (11) des Spannungsteilers, derart, daß eine angelegte Spannung sich auf den ersten und den zweiten Kondensator (11, 16) verteilt,
ein Koaxialkabel (28) mit einem vorbestimmten Wellenwiderstand, das einen Innen- und einen Außenleiter aufweist und ein erstes sowie ein zweites Ende besitzt, wobei der Außenleiter am ersten Ende an den zweiten Kondensator (16) angeschaltet ist,
einen Eingangswiderstand (24), der mit einer ersten Seite an den Knotenpunkt zwischen dem ersten und zweiten Kondensator (11, 16) im Spannungsteiler angeschaltet ist und mit einer zweiten Seite mit dem Innenleiter am ersten Ende des Koaxialkabels (28) verbunden ist, wobei der Eingangswiderstand (24) einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Koaxialkabels (28) hat,
eine Abschlußschaltung mit einem Widerstand (26) in Reihe mit einem Kondensator (18), wobei der Widerstand einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Koaxialkabels (28) hat und die Abschlußschaltung zwischen den Innen- und den Außenleiter am zweiten Ende des Koaxialkabels geschaltet ist, und
eine Einrichtung zur Verbindung der Abschlußschaltung mit dem elektronischen Instrument (36).
einen Spannungsteiler mit wenigstens einem ersten Kondensator (11) und einem zweiten Kondensator (16), die unter Bildung eines gemeinsamen elektrischen Knotenpunktes in Reihe geschaltet sind,
eine Einrichtung (32) zur Anschaltung eines zu prüfenden Gerätes an den ersten Kondensator (11) des Spannungsteilers, derart, daß eine angelegte Spannung sich auf den ersten und den zweiten Kondensator (11, 16) verteilt,
ein Koaxialkabel (28) mit einem vorbestimmten Wellenwiderstand, das einen Innen- und einen Außenleiter aufweist und ein erstes sowie ein zweites Ende besitzt, wobei der Außenleiter am ersten Ende an den zweiten Kondensator (16) angeschaltet ist,
einen Eingangswiderstand (24), der mit einer ersten Seite an den Knotenpunkt zwischen dem ersten und zweiten Kondensator (11, 16) im Spannungsteiler angeschaltet ist und mit einer zweiten Seite mit dem Innenleiter am ersten Ende des Koaxialkabels (28) verbunden ist, wobei der Eingangswiderstand (24) einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Koaxialkabels (28) hat,
eine Abschlußschaltung mit einem Widerstand (26) in Reihe mit einem Kondensator (18), wobei der Widerstand einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Koaxialkabels (28) hat und die Abschlußschaltung zwischen den Innen- und den Außenleiter am zweiten Ende des Koaxialkabels geschaltet ist, und
eine Einrichtung zur Verbindung der Abschlußschaltung mit dem elektronischen Instrument (36).
2. Tastkopf nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Spannungsteiler einen
ersten Widerstand (19) parallel zum ersten Kondensator
(11) und einen zweiten Widerstand (25) parallel zum
zweiten Kondensator (16) besitzt.
3. Tastkopf nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der Spannungsteiler fünf erste
Kondensatoren (11 bis 15) mit je drei pF aufweist, die
jeweils parallel mit einem von fünf ersten Widerständen
(19 bis 23) mit je 200 Megohm verschaltet sind,
daß das Koaxialkabel (28) einen Wellenwiderstand von 50 Ohm und eine Länge von etwa 3 m besitzt,
daß der Eingangswiderstand (24) und der Abschlußwiderstand (18) einen Wert von je 50 Ohm haben und
daß die Abschlußschaltung einen BNC-Stecker zum Anschluß an das Meßinstrument aufweist.
daß das Koaxialkabel (28) einen Wellenwiderstand von 50 Ohm und eine Länge von etwa 3 m besitzt,
daß der Eingangswiderstand (24) und der Abschlußwiderstand (18) einen Wert von je 50 Ohm haben und
daß die Abschlußschaltung einen BNC-Stecker zum Anschluß an das Meßinstrument aufweist.
4. Tastkopf nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß ein variabler
Eingangskondensator (17) parallel zum Eingangswiderstand
(24) geschaltet ist.
5. Tastkopf nach Anspruch 4,
gekennzeichnet, daß das Produkt aus dem Wert des
Eingangskondensators (17) und des Eingangswiderstandes
(24) etwa gleich dem Produkt aus dem Wert der
Eingangskapazität des elektronischen Instruments und dem
Widerstand (26) in der Abschlußschaltung ist.
6. Tastkopf nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß das Teilerverhältnis des
Tastkopfes gleich ist,
der Summe der Kapazitäten des ersten und des zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler, der Kapazität des Koaxialkabels (28), des Kondensators (18) in der Abschlußschaltung und der Eingangskapazität des elektronischen Instruments (36) geteilt durch die Kapazität des ersten Kondensators (11) im Spannungsteiler, wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen etwa 270 Hz und 1 MHz liegt,
der Summe der Kapazität des ersten und zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler geteilt durch die Kapazität des ersten Kondensators (11) im Spannungsteiler multipliziert mit der Summe der Widerstandswerte des Eingangs- und des Abschlußwiderstandes (24, 26) geteilt durch den Widerstand des Abschlußwiderstandes (26), wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen etwa 1 MHz und 100 MHz liegt,
dem Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments (36) und dem Widerstandswert des zweiten Widerstandes (25) parallel zum zweiten Kondensator (16) im Spannungsteiler zuzüglich dem Produkt aus dem ersten und dem zweiten Widerstand (19, 25) im Spannungsteiler zuzüglich dem Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments (26) und dem Widerstandswert des ersten Widerstandes (19) im Spannungsteiler, insgesamt dividiert durch das Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments und dem Widerstandswert des zweiten Widerstandes (25) parallel zum zweiten Kondensator (16) im Spannungsteiler, wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen Gleichstrom und etwa 270 Hz beträgt.
der Summe der Kapazitäten des ersten und des zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler, der Kapazität des Koaxialkabels (28), des Kondensators (18) in der Abschlußschaltung und der Eingangskapazität des elektronischen Instruments (36) geteilt durch die Kapazität des ersten Kondensators (11) im Spannungsteiler, wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen etwa 270 Hz und 1 MHz liegt,
der Summe der Kapazität des ersten und zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler geteilt durch die Kapazität des ersten Kondensators (11) im Spannungsteiler multipliziert mit der Summe der Widerstandswerte des Eingangs- und des Abschlußwiderstandes (24, 26) geteilt durch den Widerstand des Abschlußwiderstandes (26), wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen etwa 1 MHz und 100 MHz liegt,
dem Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments (36) und dem Widerstandswert des zweiten Widerstandes (25) parallel zum zweiten Kondensator (16) im Spannungsteiler zuzüglich dem Produkt aus dem ersten und dem zweiten Widerstand (19, 25) im Spannungsteiler zuzüglich dem Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments (26) und dem Widerstandswert des ersten Widerstandes (19) im Spannungsteiler, insgesamt dividiert durch das Produkt aus dem Eingangswiderstand des elektronischen Instruments und dem Widerstandswert des zweiten Widerstandes (25) parallel zum zweiten Kondensator (16) im Spannungsteiler, wenn die Frequenz des Eingangssignals zwischen Gleichstrom und etwa 270 Hz beträgt.
7. Tastkopf nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß der Wert des Kondensators (18)
so bemessen ist, daß er die Kapazität des Koaxialkabels
(28) kompensiert.
8. Hochspannungstastkopf zur Anschaltung an ein
elektronisches Instrument mit einem Teilerverhältnis, das
den Eingangsspannungsbereich des Instruments erweitert,
umfassend:
einen Spannungsteiler mit wenigstens einem ersten Kondensator (11) und einem zweiten Kondensator (16), die unter Bildung eines gemeinsamen elektrischen Knotenpunktes in Reihe geschaltet sind,
eine Einrichtung (32) zur Anschaltung eines zu prüfenden Gerätes an den ersten Kondensator (11) des Spannungsteilers, derart, daß eine angelegte Spannung sich auf den ersten und den zweiten Kondensator (11, 16) aufteilt,
ein Adernpaar mit einem vorbestimmten Wellenwiderstand, wobei die Adern je ein erstes und ein zweites Ende besitzen und die zweite Ader am ersten Ende mit dem zweiten Kondensator (16) verbunden ist,
einen Eingangswiderstand (24), der mit einer ersten Seite mit dem Knotenpunkt des ersten und zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler und mit einer zweiten Seite mit der ersten Ader am ersten Ende verbunden ist, wobei der Eingangswiderstand (24) einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Adernpaares (28) hat,
eine Abschlußschaltung, die einen Widerstand (26) in Reihe mit einem Kondensator (18) aufweist, wobei der Widerstand einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Adernpaares hat und die Abschlußschaltung zwischen der ersten und zweiten der am zweiten Ende geschaltet ist, und
eine Einrichtung zur Verbindung der Abschlußschaltung mit dem elektronischen Instrument.
einen Spannungsteiler mit wenigstens einem ersten Kondensator (11) und einem zweiten Kondensator (16), die unter Bildung eines gemeinsamen elektrischen Knotenpunktes in Reihe geschaltet sind,
eine Einrichtung (32) zur Anschaltung eines zu prüfenden Gerätes an den ersten Kondensator (11) des Spannungsteilers, derart, daß eine angelegte Spannung sich auf den ersten und den zweiten Kondensator (11, 16) aufteilt,
ein Adernpaar mit einem vorbestimmten Wellenwiderstand, wobei die Adern je ein erstes und ein zweites Ende besitzen und die zweite Ader am ersten Ende mit dem zweiten Kondensator (16) verbunden ist,
einen Eingangswiderstand (24), der mit einer ersten Seite mit dem Knotenpunkt des ersten und zweiten Kondensators (11, 16) im Spannungsteiler und mit einer zweiten Seite mit der ersten Ader am ersten Ende verbunden ist, wobei der Eingangswiderstand (24) einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Adernpaares (28) hat,
eine Abschlußschaltung, die einen Widerstand (26) in Reihe mit einem Kondensator (18) aufweist, wobei der Widerstand einen Wert etwa gleich dem Wellenwiderstand des Adernpaares hat und die Abschlußschaltung zwischen der ersten und zweiten der am zweiten Ende geschaltet ist, und
eine Einrichtung zur Verbindung der Abschlußschaltung mit dem elektronischen Instrument.
9. Tastkopf nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß das Adernpaar ein verdrilltes
Adernpaar oder eine Bandleitung ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/625,361 US5107201A (en) | 1990-12-11 | 1990-12-11 | High voltage oscilloscope probe with wide frequency response |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4140506A1 DE4140506A1 (de) | 1992-06-17 |
DE4140506C2 true DE4140506C2 (de) | 1998-06-18 |
Family
ID=24505718
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4140506A Expired - Fee Related DE4140506C2 (de) | 1990-12-11 | 1991-12-09 | Hochspannungsabtastkopf mit großem Frequenzbereich |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5107201A (de) |
DE (1) | DE4140506C2 (de) |
Families Citing this family (67)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4211944A1 (de) * | 1992-04-09 | 1993-10-14 | Philips Patentverwaltung | Hochspannungseinheit mit einer Meßteiler-Widerstandsanordnung |
JP3565893B2 (ja) * | 1994-02-04 | 2004-09-15 | アジレント・テクノロジーズ・インク | プローブ装置及び電気回路素子計測装置 |
DE9420949U1 (de) * | 1994-12-30 | 1995-05-18 | Conrad Electronic GmbH, 92242 Hirschau | Handmeßinstrument |
US5796296A (en) * | 1996-10-07 | 1998-08-18 | Texas Instruments Incorporated | Combined resistance-capacitance ladder voltage divider circuit |
DE29715774U1 (de) * | 1997-09-03 | 1998-03-19 | General Elektronik GmbH bei Magdeburg, 39167 Hohendodeleben | Elektronisches Gerät |
US6307363B1 (en) | 1998-06-22 | 2001-10-23 | Bruce Michael Anderson | Ultrahigh-frequency high-impedance passive voltage probe |
DE19923211C2 (de) * | 1998-07-23 | 2001-05-10 | Karlsruhe Forschzent | Kapazitiver Spannungsteiler zur Messung von Hochspannungsimpulsen mit Millisekunden-Impulsdauer |
US6175228B1 (en) * | 1998-10-30 | 2001-01-16 | Agilent Technologies | Electronic probe for measuring high impedance tri-state logic circuits |
US6418874B1 (en) | 2000-05-25 | 2002-07-16 | Applied Materials, Inc. | Toroidal plasma source for plasma processing |
US6893907B2 (en) | 2002-06-05 | 2005-05-17 | Applied Materials, Inc. | Fabrication of silicon-on-insulator structure using plasma immersion ion implantation |
US7166524B2 (en) * | 2000-08-11 | 2007-01-23 | Applied Materials, Inc. | Method for ion implanting insulator material to reduce dielectric constant |
US20070042580A1 (en) * | 2000-08-10 | 2007-02-22 | Amir Al-Bayati | Ion implanted insulator material with reduced dielectric constant |
US7223676B2 (en) * | 2002-06-05 | 2007-05-29 | Applied Materials, Inc. | Very low temperature CVD process with independently variable conformality, stress and composition of the CVD layer |
US7294563B2 (en) * | 2000-08-10 | 2007-11-13 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor on insulator vertical transistor fabrication and doping process |
US6939434B2 (en) * | 2000-08-11 | 2005-09-06 | Applied Materials, Inc. | Externally excited torroidal plasma source with magnetic control of ion distribution |
US20050230047A1 (en) * | 2000-08-11 | 2005-10-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation apparatus |
US6410449B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-06-25 | Applied Materials, Inc. | Method of processing a workpiece using an externally excited torroidal plasma source |
US7479456B2 (en) * | 2004-08-26 | 2009-01-20 | Applied Materials, Inc. | Gasless high voltage high contact force wafer contact-cooling electrostatic chuck |
US7094316B1 (en) | 2000-08-11 | 2006-08-22 | Applied Materials, Inc. | Externally excited torroidal plasma source |
US7037813B2 (en) * | 2000-08-11 | 2006-05-02 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process using a capacitively coupled plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
US7094670B2 (en) | 2000-08-11 | 2006-08-22 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US7320734B2 (en) * | 2000-08-11 | 2008-01-22 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation system including a plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
US6468388B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-10-22 | Applied Materials, Inc. | Reactor chamber for an externally excited torroidal plasma source with a gas distribution plate |
US7303982B2 (en) * | 2000-08-11 | 2007-12-04 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process using an inductively coupled plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
US7430984B2 (en) * | 2000-08-11 | 2008-10-07 | Applied Materials, Inc. | Method to drive spatially separate resonant structure with spatially distinct plasma secondaries using a single generator and switching elements |
US7137354B2 (en) * | 2000-08-11 | 2006-11-21 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation apparatus including a plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
US7288491B2 (en) * | 2000-08-11 | 2007-10-30 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US6494986B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-12-17 | Applied Materials, Inc. | Externally excited multiple torroidal plasma source |
US7465478B2 (en) * | 2000-08-11 | 2008-12-16 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US7183177B2 (en) * | 2000-08-11 | 2007-02-27 | Applied Materials, Inc. | Silicon-on-insulator wafer transfer method using surface activation plasma immersion ion implantation for wafer-to-wafer adhesion enhancement |
US6453842B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-09-24 | Applied Materials Inc. | Externally excited torroidal plasma source using a gas distribution plate |
US6348126B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-02-19 | Applied Materials, Inc. | Externally excited torroidal plasma source |
US6551446B1 (en) | 2000-08-11 | 2003-04-22 | Applied Materials Inc. | Externally excited torroidal plasma source with a gas distribution plate |
US6970001B2 (en) * | 2003-02-20 | 2005-11-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Variable impedance test probe |
US7355687B2 (en) * | 2003-02-20 | 2008-04-08 | Hunter Engineering Company | Method and apparatus for vehicle service system with imaging components |
US20050211546A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Applied Materials, Inc. | Reactive sputter deposition plasma process using an ion shower grid |
US20050211547A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Applied Materials, Inc. | Reactive sputter deposition plasma reactor and process using plural ion shower grids |
US20050211171A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition plasma reactor having an ion shower grid |
US7244474B2 (en) * | 2004-03-26 | 2007-07-17 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition plasma process using an ion shower grid |
US7695590B2 (en) * | 2004-03-26 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition plasma reactor having plural ion shower grids |
US7291360B2 (en) * | 2004-03-26 | 2007-11-06 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition plasma process using plural ion shower grids |
US7358192B2 (en) * | 2004-04-08 | 2008-04-15 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for in-situ film stack processing |
US7501884B2 (en) * | 2004-06-11 | 2009-03-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Capacitive circuit employing low voltage MOSFETs and method of manufacturing same |
CA2571140C (en) * | 2004-06-21 | 2011-04-26 | Abb Technology Ag | A method and an apparatus for measuring voltage at a power switching device |
US8058156B2 (en) * | 2004-07-20 | 2011-11-15 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation reactor having multiple ion shower grids |
US7767561B2 (en) * | 2004-07-20 | 2010-08-03 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation reactor having an ion shower grid |
DE102004050469A1 (de) * | 2004-10-16 | 2006-04-20 | Duromer Kunststoffverarbeitungs-Gmbh | Spannungsteiler |
US7666464B2 (en) * | 2004-10-23 | 2010-02-23 | Applied Materials, Inc. | RF measurement feedback control and diagnostics for a plasma immersion ion implantation reactor |
US7428915B2 (en) * | 2005-04-26 | 2008-09-30 | Applied Materials, Inc. | O-ringless tandem throttle valve for a plasma reactor chamber |
US7422775B2 (en) * | 2005-05-17 | 2008-09-09 | Applied Materials, Inc. | Process for low temperature plasma deposition of an optical absorption layer and high speed optical annealing |
US7312162B2 (en) * | 2005-05-17 | 2007-12-25 | Applied Materials, Inc. | Low temperature plasma deposition process for carbon layer deposition |
US20060260545A1 (en) * | 2005-05-17 | 2006-11-23 | Kartik Ramaswamy | Low temperature absorption layer deposition and high speed optical annealing system |
US7109098B1 (en) | 2005-05-17 | 2006-09-19 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor junction formation process including low temperature plasma deposition of an optical absorption layer and high speed optical annealing |
US7335611B2 (en) * | 2005-08-08 | 2008-02-26 | Applied Materials, Inc. | Copper conductor annealing process employing high speed optical annealing with a low temperature-deposited optical absorber layer |
US7323401B2 (en) * | 2005-08-08 | 2008-01-29 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor substrate process using a low temperature deposited carbon-containing hard mask |
US7429532B2 (en) * | 2005-08-08 | 2008-09-30 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor substrate process using an optically writable carbon-containing mask |
US7312148B2 (en) * | 2005-08-08 | 2007-12-25 | Applied Materials, Inc. | Copper barrier reflow process employing high speed optical annealing |
DE102005047483A1 (de) * | 2005-10-04 | 2007-04-05 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Tastkopf mit Wechseleinrichtung |
KR20090106617A (ko) * | 2007-01-19 | 2009-10-09 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 플라스마 함침 챔버 |
EP2068156B1 (de) * | 2007-12-04 | 2018-05-30 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Tastkopf mit Wellenleiter mit konzentrierter Dämpfung |
US8063649B2 (en) * | 2009-04-03 | 2011-11-22 | Ut-Battelle, Llc | Broadband high impedance pickoff circuit |
DE102011077635A1 (de) * | 2011-06-16 | 2012-12-20 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Hochspannungsversorgungseinheit für ein Teilchenstrahlgerät |
CN103185818B (zh) * | 2011-12-29 | 2017-03-29 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种具有超低输入电容的有源差分探头 |
CN103185817B (zh) * | 2011-12-29 | 2016-09-07 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种具有小输入电容的有源差分探头 |
ES2707358T3 (es) | 2016-03-23 | 2019-04-03 | 3M Innovative Properties Co | Manguito elástico para un conductor de electricidad |
US11287447B2 (en) | 2017-06-26 | 2022-03-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement input circuit and measurement device |
DE102022201490A1 (de) * | 2022-02-14 | 2023-08-17 | Siemens Energy Global GmbH & Co. KG | Spannungsmesssystem für eine Hochspannungsanlage |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3015080A (en) * | 1957-06-21 | 1961-12-26 | Research Corp | Signal transmission line |
US3532982A (en) * | 1967-01-03 | 1970-10-06 | Tektronix Inc | Transmission line termination circuit |
DE2354978B2 (de) * | 1973-11-02 | 1976-06-16 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur erfassung der zuendspannung |
US4051432A (en) * | 1976-08-02 | 1977-09-27 | Canadian Patents & Development Limited | Attenuator for measuring high voltage fast rise time pulses |
DD139958A3 (de) * | 1978-02-15 | 1980-01-30 | Eberhard Lemke | Schaltungsanordnung zum messen von teilentladungen in der isolierung von elektrischen leitern |
US4418314A (en) * | 1980-10-20 | 1983-11-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | High impedance fast voltage probe |
US4473857A (en) * | 1982-06-10 | 1984-09-25 | Sencore, Inc. | Input protection circuit for electronic instrument |
-
1990
- 1990-12-11 US US07/625,361 patent/US5107201A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-12-09 DE DE4140506A patent/DE4140506C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3015080A (en) * | 1957-06-21 | 1961-12-26 | Research Corp | Signal transmission line |
US3532982A (en) * | 1967-01-03 | 1970-10-06 | Tektronix Inc | Transmission line termination circuit |
DE2354978B2 (de) * | 1973-11-02 | 1976-06-16 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur erfassung der zuendspannung |
US4051432A (en) * | 1976-08-02 | 1977-09-27 | Canadian Patents & Development Limited | Attenuator for measuring high voltage fast rise time pulses |
DD139958A3 (de) * | 1978-02-15 | 1980-01-30 | Eberhard Lemke | Schaltungsanordnung zum messen von teilentladungen in der isolierung von elektrischen leitern |
US4418314A (en) * | 1980-10-20 | 1983-11-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | High impedance fast voltage probe |
US4473857A (en) * | 1982-06-10 | 1984-09-25 | Sencore, Inc. | Input protection circuit for electronic instrument |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
UTESCH, Ch.: Der Einfluß von Störungen in der elektrischen Meßtechnik und ihre Berück- sichtigung bei der Konzipierung elektrischer Meßgeräte, Teil I. In: Archiv für technisches Messen, Blatt V30-11, 1974, S 61-65 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5107201A (en) | 1992-04-21 |
DE4140506A1 (de) | 1992-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4140506C2 (de) | Hochspannungsabtastkopf mit großem Frequenzbereich | |
DE4017412C2 (de) | Prüfeinrichtung und deren Verwendung in einer Vorrichtung zum Messen von s-Parametern eines Prüflings | |
DE69915816T2 (de) | Strommessvorrichtung | |
DE19943366A1 (de) | Sondenanordnung | |
DE10393724T5 (de) | Prüfkopf für kombinierte Signale | |
EP3658925B1 (de) | Verfahren und prüfvorrichtung zur messung von teilentladungsimpulsen eines geschirmten kabels | |
DE69113968T2 (de) | Messbrücke für Referenzspannung für Gerät zur Überwachung und Messung der Isolation eines elektrischen Gleichspannungsnetzes. | |
EP0464021B1 (de) | Messeinrichtung mit einer hilfselektrode für eine gasisolierte gekapselte hochspannungsanlage | |
DE19722471A1 (de) | Impedanz- und Strommeßeinrichtung | |
DE2227076C3 (de) | Sondenanordnung zur Impedanzmessung | |
DE19838586C2 (de) | Sondenspitze für ein elektronisches Gerät und Verfahren zum Kompensieren von Kabelverlusten | |
DE3445898C2 (de) | ||
DE3815567A1 (de) | Automatische impedanzeinstelleinheit fuer ein magnetresonanz-abbildungssystem | |
DE69102811T2 (de) | Verfahren zum Testen der Zweckmässigkeit der elektromagnetischen Abschirmung eines Leiters und Anordnung dafür. | |
EP0342445A1 (de) | Anordnung zum Messen von Transferimpedanzen | |
DE102018106493A1 (de) | Schutzschaltung für oszilloskopmesskanal | |
DE69019891T2 (de) | Optischer Transformator. | |
DE2045813C3 (de) | Dielektrisches Meßgerät | |
DE1541791C3 (de) | Verfahren zur Eingrenzung des Fehlerortes bei Teilentladungsprüfungen von Transformatoren oder Kabeln | |
AT215172B (de) | Verfahren und Einrichtung zur elektrischen Widerstandsmessung in Bohrlöchern | |
DE102021213125A1 (de) | Eingangsschaltung und messvorrichtung | |
DE1516128B2 (de) | Anordnung zur Messung von hohen und höchsten Hochspannungsimpulsen, Stoßspannungen und sonstigen hohen Wechselspannungen | |
DE881387C (de) | Anordnung zur Pruefung des Scheinwiderstandes von Antennen und anderen Einzelteilen | |
DE19627730B4 (de) | Testeinrichtung zur Überprüfung der Funktionsweise eines Hochfrequenz-Erdungsmeßgerätes | |
DE708300C (de) | Einrichtung zur betriebsmaessigen UEberwachung des Isolationszustandes von elektrischen Maschinen und Apparaten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BLUMBACH, KRAMER & PARTNER, 65193 WIESBADEN |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |