DE3884019T2 - Verfahren zum Herstellen einer Modul-Halbleiter-Leistungsanordnung und hergestellte Anordnung. - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer Modul-Halbleiter-Leistungsanordnung und hergestellte Anordnung.Info
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Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer modularen Halbleiter-Leistungsanordnung und die durch ein solches Verfahren erhaltene Anordnung.
- Beim Herstellen modularer Halbleiter-Leistungsanordnungen wie bei der Herstellung zahlreicher anderer Bauteile, ist es ein wichtiges Ziel, daß die Produktion äußerst zuverlässiger Erzeugnisse unter Anwendung einfacher und billiger Verfahren gelingt.
- Die bekannten Halbleiter-Leistungsanordnungen erfordern komplizierte und teure Verfahren, sowohl im Hinblick auf die zu ihrem Bau notwendigen einzelnen Komponenten als auch hinsichtlich ihres Zusammenfügens und ihrer gegenseitigen Isolierung.
- Einige dieser bekannten Anordnungen sind im US-Patent 4 518 982 beschrieben. Dieses Patent gibt eine ausführliche Beschreibung einer modularen Leistungsanordnung, deren Herstellungsverfahren darin besteht, einen oder mehrere Halbleiterchips auf einen ebenen Teil einer ersten Elektrode zu löten (die auch als Wärmesenke dient), weitere Elektroden (die möglicherweise andere Chips enthalten) mittels eines dielektrischen Klebstoffes auf den erwähnten flachen Teil zu löten, die verschiedenen Chips und Elektroden elektrisch miteinander zu verbinden, die Anordnung in Harz zu einzukapseln und die wärmeableitende Oberfläche mit Hilfe einer weiteren Schicht aus Isoliermaterial elektrisch zu isolieren.
- Eine andere bekannte Anordnung, die besonders geeignet ist, um bei verschiedenen Stufen während der Herstellung geprüft zu werden, ist in dem Dokument GB-A-1255073 beschrieben. Sie wird hergestellt durch Befestigen einer Halbleiteranordnung an einem vorgeformten Leiternetzwerk flacher Gestalt, das einen aus einem Metallblech hergestellten Zuleitungsrahmen aufweist. Nach Einkapselung der Teile des Aufbaus in mehreren diskreten Schritten werden die Leiter von dem Zuleitungsrahmen abgetrennt.
- Eine weitere bekannte Anordnung, die sich besonders zur Verminderung der Verdrahtungsinduktivität eignet, ist im Dokument DE-A-33-6979 beschrieben. Ihre Herstellungsschritte umfassen das Anlöten innerer plattenförmiger Teile getrennter Anschlußleiter an eine Schicht aus Aluminiumoxid und das darauffolgende Anlöten von Halbleiteranordnungen und Verbindungsdrähten an die erwähnten plattenförmigen Teile.
- Der Zweck der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine besonders zuverlässige modulare Leistungsanordnung gemäß dem Patentanspruch 1 zu schaffen, die durch ein äußerst einfaches und nicht sehr teures Montageverfahren entsprechend einer sehr flexiblen Herstellungsmethode und mit Bauteilen erhalten wird, die, obwohl in ihrer Zahl äußerst begrenzt, dazu verwendet werden können, verschiedene Schaltungsanordnungen und Layouts zu bilden und dabei immer dieselben Werkzeuge zu benutzen und immer eine gleiche äußere geometrische Konfiguration der erhaltenen Anordnungen einzuhalten.
- Gemäß einem besonderen Merkmal des Herstellungsverfahrens werden die gegenseitige Isolierung der Elektroden und ihre Einkapselung in einem einzigen Schritt durchgeführt.
- Das erfindungsgemäße Herstellungsverfahren betrifft eine modulare Halbleiter-Leistungsanordnung, bestehend aus einem oder mehreren Halbleiterchips, einer Metallplatte (11) zum Ableiten der durch den Joule-Effekt erzeugten Wärme, einer Vielzahl von Elektroden, welche die Signal- und Versorgungsanschlüsse der Anordnung bilden, und einer Harzeinkapselung, und ist gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
- - jeder Chip wird auf eine Platte (33) einer Mehrzahl von Platten (33, 34, 35, 36) elektrisch leitenden Materials gelötet;
- - die Platten (33, 34, 35, 36) werden auf einer ebenen Fläche angeordnet, die im wesentlichen parallel zu der oben erwähnten wärmeableitenden Platte (II) und dicht an dieser Platte liegt;
- - aus einer einzigen Platte leitenden Materials wird ein einstückiger Rahmen (51) ausgeschnitten, der zur Bildung der Versorgungs und Signalanschlüsse bestimmt ist, wobei dieses Ausschneiden ermöglicht, daß zwischen den Teilen der Anschlußleiter, die außerhalb der Harzkapselung bleiben sollen, vorläufige mechanische Verbindungen (61) bleiben;
- - die inneren Enden der Anschlüsse werden an Anschlußpunkte der Chips oder der elekrisch mit den Chips verbundenen Exemplare der erwähnten Anzahl der Platten gelötet;
- - alle aktiven Teile der Anordnung werden mit isolierendem Harz verkapselt, wobei die äußere Oberfläche der Platte (11) und die zu den vorgenannten vorläufigen Verbindungen (61) gehörenden Teile der Anschlüsse unbedeckt gelassen werden;
- - die vorübergehenen Verbindungen (61) werden abgeschnitten.
- Andere, sich auf bevorzugte Ausführungsformen beziehende Lösungen sind des weiteren in den Ansprüchen dargestellt.
- Die Merkmale der vorliegenden Erfindung gehen deutlicher aus der nachfolgenden Beschreibung und den beigefügten Zeichnungen hervor, die sich auf eine nicht als Einschränkung anzusehende Ausführungsform beziehen und worin:
- Fig. 1 eine auseinandergezogene Darstellung der Grundplatte und der die Chips tragenden Substrate ist;
- Figuren 2a und 2b die Grundplatte der Fig. 1 von der Seite und im Querschnitt zeigen;
- Figuren 3a, 3b und 3c ein Substrat der Fig. 1 in einer Unteransicht, einer Draufsicht und einer Schnittansicht zeigen;
- Fig. 4 eine Ansicht der Grundplatte der Fig. 1 zeigt, nachdem die Substrate und die Chips mit ihr verbunden worden sind und nachdem die elektrischen Verbindungen zwischen Chips und Metallbelag der Substrate hergestellt worden sind;
- Fig. 5 den einstückigen Rahmen zum Erhalten der äußeren Anschlüsse und deren Verbindungen mit dem Metallbelag der Substrate zeigt;
- Fig. 6 eine Draufsicht auf den geebneten Rahmen ist, aus dem der Rahmen nach Fig. 6 erhalten wurde;
- Fig. 7 eine Ansicht der modularen Anordnung zeigt, nachdem die Harzkapselung durch Giepen durchgeführt worden ist;
- Figuren 8a, 8b und 8c die fertige Anordnung in einer perspektivischen Darstellung von oben und von unten und in einer Draufsicht zeigen.
- In der Figur 1 bezeichnet die Eezugszahl 11 die Grundplatte der Anordnung, die, weil sie als Wärmesenke sowie als Träger und Befestigungsmittel für die Anordnung selbst dienen muß, aus einem wärmeleitenden Metall von hoher mechanischer Festigkeit ist. Die in ihr enthaltenen Löcher A dienen dazu, sie mit Hilfe von Schrauben am äußeren Wärmestreuer zu befestigen, während die Nuten V dazu dienen, jede mögliche Verformung der Grundplatte, die sich durch das hohe Festziehmoment ergeben kann, zu absorbieren und dadurch ihre Ubertragung zum mittleren Teil der Platte zu verhindern. Die S-förmigen Ausfassungen M an den Seiten (siehe die in den Figuren 2a und 2b gezeigten Seiten- und Querschnittsansichten der Platte) dienen dazu, einen besseren Widerhalt der späteren Harzkapselung zu gewährleisten, wie es deutlicher in Verbindung mit der Figur 8b erläutert wird. Die Figur 1 zeigt außerdem die Bestandteile 12 und 13, die zwei chiptragende Substrate sind und die mit Hilfe der Lagen aus Lötmittel 14 auf die Grundplatte 11 gelötet werden.
- Wie in den Figuren 3a, 3b und 3c gezeigt (Unteransicht, Draufsicht und Querschnittsansicht eines Substrats), setzt sich jedes Substrat zusammen aus einer rechteckförmigen dünnen mittleren Schicht 31 aus Aluminiumoxid (weniger als 1mm dick) und dünnen Kupferplatten, die direkt auf ihre beiden Seitenflächen gelötet sind. Genauer gesagt ist auf die Fläche, die der oberen Fläche der Grundplatte 11 zugewandt sein soll, eine einzelne Kupferplatte 32 gelötet, die ebenfalls rechteckige Form, aber etwas kleinere Abmessungen als die Schicht aus Aluminiumoxid hat, während die andere Fläche mit einer rechteckigen Platte 33 zum Tragen der Chips und für die Verbindungen zu einer äußeren Elektrode versehen ist, sowie, beidseitig dieser Platte 33 mit schmäleren Platten (Seitenstreifen) 34, 35 und 36, die sowohl zum Anlöten des Leiters für die Verbindung mit den Chips als auch zum Anlöten anderer äußerer Elektroden bestimmt sind. Die Figur 4 zeigt die Anordnung (41) so, wie sie aussieht, nachdem die beiden Substrate auf die Grundplatte gelötet sind, die Chips auf die größeren oberen Kupferplatten b und f gelötet sind und die elektrischen Verbindungen zwischen den Chips und den Seitenstreifen a, c, d, e, g, h realisiert sind. Die letztgenannten Verbindungen werden durch Ultraschall-Lötung von Aluminiumdraht erhalten. Die Figur 5 zeigt einen Kupferrahmen 51, der dazu bestimmt ist, die äußeren Anschlüsse und die Verbindungen dieser Anschlüsse mit den Seitenstreifen und den Platten f und b der Figur 4 zu bilden. Der Rahmen nach Figur 5 wird erhalten durch Ausstanzen aus einer Kupferplatte und durch anschließendes Biegen der Anschlußteile nach unten, wobei diese Anschlußteile später an die Seitenstreifen und die Platten f und b gelötet werden. Die Figur 6 zeigt eine Draufsicht auf den Rahmen nach Figur 5, wie er nach dem Ausstanzen aus der Kupferplatte und vor dem Umbiegen der Anschlußteile aussieht, die mit h, g, e, d, c, a, f, b bezeichnet sind. Nach dem Umbiegen nach unten werden die Anschlußteile an die betreffenden Streifen h, g, e, d, c, a und an die Platten f und b von 41 gelötet. Nachdem der Rahmen 51 mit der Anordnung 41 verlötet ist, wird die Anordnung eingekapselt durch einen Giepprozeß mit isolierendem Harz (z.B. duroplastischem Epoxyharz), vorzugsweise des beanspruchungsarmen Typs.
- Nach dem Vergießen sieht die Anordnung so aus, wie es in Figur 7 dargestellt ist. An diesem Punkt ist es zur Fertigstellung der Anordnung notwendig, die äußeren vorläufigen Verbindungen zwischen den Anschlussen, entsprechend den in Figur 6 strichliert dargestellten Teilen (61), abzuschneiden und dann die Signalanschlüsse nach oben in eine Vertikalposition und die Versorgungsanschlüsse einwärts zu biegen. Die fertiggestellte Anordnung hat dann das Aussehen gemäß Figur 8a (perspektivische Ansicht von oben) und gemäß Figur 8b (perspektivische Ansicht von unten), wo 81, 82, 83 und 84 die Signalanschlüsse anzeigen und 85, 86 und 87 die Versorgungsanschlüsse anzeigen.
- Wie in Figur 8b gezeigt, endet die Harzkapselung von unten gesehen bündig mit der unteren Oberfläche der Grundplatte 11, die somit in direkter Berührung mit der tragenden Metallstruktur befestigt werden kann, auf der sie angeordnet werden soll, so daß eine wirksame Ableitung der Wärme sichergestellt wird. Die gleiche Figur zeigt deutlich die Funktion der S-förmigen Ausfassungen an der Grundplatte (siehe Figuren 1 und 2b). In der Tat sind sie nach Fertigstellung der Anordnung vollständig im Harzkörper eingebettet und bilden so zwei Bereiche zur Verankerung und Gewährleistung eines sicheren Widerhaltes des Harzes.
- Wie in der Figur 8c gezeigt (Draufsicht auf die Anordnung), kommen nach dem Umbiegen die Anschlußlöcher der drei Versorgungsanschlüsse 85, 86 und 87 genau über den drei im Harz eingebetteten Sechskantmuttern zu liegen, so daß die elektrische Verbindung mit den äußeren Verbindungsstangen ermöglicht Wird.
- Die vorangehende Beschreibung gibt eine deutliche Vorstellung von der Vielseitigkeit des erfundenen Verfahrens und von der Einfachheit des Montageverfahrens in der Tat ist deutlich, daß:
- - es mit den Substraten nach Figur 1 und Figur 3 möglich ist, Chips unterschiedlicher Anzahl und Größen zu verwenden, verschiedene Verbindungen der Chips mit den Seitenstreifen zu schaffen und Lötstreifen mit verschiedenen geometrischen Layouts zu erhalten;
- - der einstückige Rahmen nach Figur 5 und Figur 6 auch in unterschiedlichen geometrischen Layouts hergestellt werden kann, um ihn an verschiedene geometrische Layouts der vorgenannten Lötstreifen und an die verschiedenen elektrischen Funktionen der Anordnung anpassen zu können;
- - die Prozeduren zum Verlöten der Leiter, welche die Chips mit den Metallstreifen und die äußeren Elektroden mit den chiptragenden Streifen oder Platten verbinden, vereinfacht werden infolge der ebenen Verteilung der Lötpunkte und wegen der Tatsache, daß die inneren Enden der Elektroden verlötet werden, während sie durch die vorgenannten vorläufigen Verbindungen noch fest miteinander verbunden sind;
- - infolge der Tatsache, daß die Chips auf koplanare Platten gelötet werden, und infolge des Vorhandenseins der vorläufigen Verbindungen zwischen den Elektroden es außerdem möglich ist, die Einkapselung und gegenseitige Isolierung der Elektroden in einem einzigen Schritt durchzuführen.
- Zusätzlich zu den vorstehend erwähnten Vorteilen besteht ein weiterer Vorteil im Zusammenhang mit der besonderen Struktur des gewählten Substrats zum Anlöten der Chips, sowie im Zusammenhang mit dem Typ des für die Einkapselung benutzten Harzes. In der Tat sind die Substrate, die aus einer Aluminiumoxidschicht mit beidseitig direkt aufgelöteten Kupferplatten bestehen, durch Wärmedehnungskoeffizient gekennzeichnet, die sehr ähnlich denjenigen des Siliziums sind. Dies reduziert die thermomechanische Belastung auf ein Minimum, die ansonsten infolge der Unterschiedlichen Ausdehnungen von Silizium und Kupfer auf die Chips übertragen würden (andere Ausführungsformen ziehen in Betracht, zwischen die Chips und die tragenden Kupferplatten Schichten aus einem Material, wie z.B. Molybdän einzufügen, das einen Dehnungskoeffizienten in der Mitte zwischen denjenigen von Silizium und Kupfer hat, was jedoch die Montage komplizierter macht und die thermischen Kenndaten niedriger macht).
- Die Verwendung eines Harzes vom beanspruchungsarmen Typ trägt dazu bei, die auf die Chips übertragene mechanische Spannung zu begrenzen, selbst im Falle von Chips sehr großer Abmessungen.
- Es ist auch klar, daß sich die vorstehend beschriebenen Ausführungsformen in der nachstehenden Weise modifizieren lassen. Beispielsweise können die Drähte, welche die Chips mit den Metallstreifen der Substrate verbinden, durch direkte Lötverbindung zwischen den inneren Anschlußteilen des einstückigen Rahmens und den Chips ersetzt werden, wenn letztere mit benetzbaren Metallbelägen versehen sind. Diese inneren Teile können dann an Verbindungspunkte mit den Chips getötet werden, die sich auf den vorgenannten Platten 33 und Streifen 34, 35, 36 befinden (wie im Fall, der in den Figuren 4 und 5 dargestellt ist) oder die sich auf den gleichen Platten und auf benetzbaren Metallbelägen der Oberfläche der Chips befinden.
- In ähnlicher Weise können die chiptragenden Substrate Strukturen haben, die sich von den vorstehend beschriebenen Strukturen unterscheiden, und die Isolierung zwischen den Chips und dem Wärmeableiter kann, anstatt durch eine Schicht aus Aluminiumoxid, durch eine Schicht des Verkapselungsharzes selbst erreicht werden, das in diesem Fall hohe Wärmeleitfähigkeit haben sollte.
Claims (5)
1. Verfahren zum Herstellen einer modularen
Halbleiter-Leistungsanordnung, die einen oder mehrere Halbleiterchips,
eine Metallplatte (11) zum Ableiten von durch den Joule-Effekt
erzeugter Wärme, eine Vielzahl die Signal- und
Versorgungsanschlüsse der Anordnung bildender Elektroden und eine Harz
kapselung aufweist, mit folgenden Schritten:
- jeder Chip wird auf eine Platte (33) einer Mehrzahl von
Platten (33, 34, 35, 36) aus elektrisch leitendem Material
geschweißt;
- die Platten (33, 34, 35, 36) werden auf einer ebenen Fläche
angeordnet, die im wesentlichen parallel zu der oben
genannten Wärmeableitungsplatte (11) und dicht an dieser liegt;
- aus einer einzigen Platte aus leitendem Material wird ein
einstückiger Rahmen (51) ausgeschnitten, der zum Bilden der
Versorgungs- und Signalanschlüsse bestimmt ist, wobei es
dieses Ausschneiden gestattet, zwischen denjenigen Teilen
der Anschlußleiter, die außerhalb der Harzvkapselung bleiben
sollen, vorläufige mechanische Verbindungen (61) bleiben;
- alle aktiven Teile der Anordnung werden mit isolierendem
Harz verkapselt, wobei die äußere Oberfläche der Platte (11)
und die mit den oben genannten vorläufigen Verbindungen (61)
versehenen Teile der Anschlüsse unbedeckt bleiben;
- die vorläufigen Verbindungen (61) werden abgeschnitten,
dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Schritt der Einkapselung
die inneren Enden der Anschlüsse in einer Richtung senkrecht
zur Ebene des Rahmens umgebogen werden und an Anschlußpunkte
der Chips oder an Platten der besagten Mehrzahl der Platten,
die elektrisch mit den Chips verbunden sind, gelötet werden.
2. Herstellungsverfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Platten (33, 34, 35, 36) aus Kupfer
bestehen, daß die keinen Chip tragenden Exemplare von ihnen (34,
35, 36) streifenförmig sind und daß sie zu einer Platte (12,
13) gehören, die aus drei Schichten besteht, deren erste aus
diesen Platten (33, 34, 35, 36) besteht und deren mittlere aus
einer Aluminiumoxid-Platte (31) besteht, auf welche jede der
Platten direkt aufgelötet ist, und deren dritte aus einer
weiteren Platte aus Kupfer (32) besteht, die im wesentlichen
gleiche Größe hat oder etwas kleiner ist als die mittlere
Schicht und direkt auf sie gelötet ist, und daß das Anlöten
der inneren Enden der Anschlüsse an die genannten Verbindungs
Punkte vor dem Anlöten von Drähten erfolgt, welche jeden Chip
mit den genannten streifenförmigen Platten (34, 35, 36)
vebinden.
3. Herstellungsverfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die dritte Schicht (32) auf die innere
Oberfläche der Platte (11) gelötet wird und daß die Verbindungen
zwischen den Chips und den streifenförmigen Platten (34, 35,
36) durch Ultraschall-Lötung von Aluminiumdrähten hergestellt
werden.
4. Herstellungsverfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die genannten Verbindungspunkte an den die
Chips tragenden Platten (33) und an Metallbelägen an der
Oberfläche der Chips befinden, die benetzbar sind durch das
Lot, das zum Anlöten der inneren Enden der Anschlüsse benutzt
wird.
5. Herstellungsverfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß nach der Kapselung und dem Abschneiden der
vorläufigen Verbindungen (6l) des einstückigen Rahmens (51)
die Anschlüsse, die zum Erfüllen der Funktion der
Signalanschlüsse bestimmt sind, in einer Richtung senkrecht zur
Grundplatte umgebogen werden, während die Anschlüsse, die zur
Durchführung der Funktion der Versorgungsanschlüsse bestimmt
sind, über der Kapsel in einer Richtung parallel zur
Grundplatte selbst gebogen werden.
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US5736432A (en) * | 1996-09-20 | 1998-04-07 | National Semiconductor Corporation | Lead frame with lead finger locking feature and method for making same |
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US4106052A (en) * | 1975-04-19 | 1978-08-08 | Semikron Gesellschaft Fur Gleichrichterbau Und Elektronik M.B.H. | Semiconductor rectifier unit having a base plate with means for maintaining insulating wafers in a desired position |
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FR2495376A1 (fr) * | 1980-12-02 | 1982-06-04 | Thomson Csf | Boitiers pour composants semiconducteurs de puissance a cosses de type faston |
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GB2099742B (en) * | 1981-06-05 | 1985-07-31 | Philips Electronic Associated | Bonding metals to non-metals |
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