DE3626061A1 - Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines musters auf einer gedruckten schaltungsplatte - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines musters auf einer gedruckten schaltungsplatteInfo
- Publication number
- DE3626061A1 DE3626061A1 DE19863626061 DE3626061A DE3626061A1 DE 3626061 A1 DE3626061 A1 DE 3626061A1 DE 19863626061 DE19863626061 DE 19863626061 DE 3626061 A DE3626061 A DE 3626061A DE 3626061 A1 DE3626061 A1 DE 3626061A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pattern
- light
- circuit board
- printed circuit
- video signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
- G01R31/309—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Character Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung
zur schnellen Prüfung des Verdrahtungsmusters einer gedruck
ten Schaltungsplatte mit Hilfe eines durch eine Fernseh
kamera erhaltenen Negativmusters, in den das Bild eines
schwachen, von einem Substrat (glasverstärktes Epoxyharz,
glasverstärktes Polyimid usw.) der gedruckten Schaltungs
platte emittierten Fluoreszenzlichts aufgenommen wird;
Es sind schon, beispielsweise aus der US-Patentanmeldung,
Serial-Nr; 6 19 918, der DE-OS 34 22 395 und den im "General
Meeting of Electronic Communication Society", 1985, über
reichten Schriftstücken Nr. 1682 und 1683 Geräte zur Prüfung
von Fehlern des Musters auf einer gedruckten Schaltungs
platte mittels einer Fernsehkamera bekannt. Die Fernseh
kamera dient dabei als Musterdetektor, der von einem Sub
strat der gedruckten Schaltungsplatte emittiertes Fluores
zenzlicht erfaßt und ein Negativmuster der Verdrahtungs
muster aufnimmt.
Bei diesen bekannten, ein zweidimensionales Bild mittels
einer Fernsehkamera erzeugenden Geräten ist jedoch die
Aufnahme, während die gedruckte Schaltungsplatte unter
kontinuierlicher Belichtung in Bewegung ist, nicht möglich.
Deshalb wird in einem Fall, wo eine X-Y-Stufe, die die ge
druckte Schaltungsplatte haltert, wiederholt in einer
Schrittfolgebetriebsart um eine vorgegebene Distanz versetzt
wird, ein Stehbild von der Fernsehkamera bei stillstehender
X-Y-Stufe erfaßt.
Bei einer solchen Mustererfassung bräuchte die X-Y-Stufe,
falls eine stroboskopische Belichtung verwendet würde, nicht
angehalten werden. Da jedoch in diesem Fall die Lichtstärke
verhältnismäßig gering ist, kann man ein Stroboskop nicht
als Lichtquelle verwenden. Man könnte, um die obige Aufgabe
zu lösen, eine besonders hoch empfindliche Fernsehkamera mit
einer SIT-(silicon intensifer target)-Bildröhre als Muster
detektor verwenden. Dabei gibt es jedoch die Schwierigkeit,
daß ein nachleuchtendes Bild beim nächsten Abtastvorgang bei
der SIT-Bildröhre bestehen bleibt (30% Nachleuchten bleibt
beim nächsten Abtastschritt).
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vor
richtung zu ermöglichen, die eine schnelle Prüfung des Ver
drahtungsmusters einer gedruckten Schaltungsplatte bei
stroboskopischer Belichtung ohne die Notwendigkeit, die
X-Y-Stufe, wo die gedruckte Schaltungsplatte gehaltert ist,
anzuhalten, durch den Einsatz einer sehr hoch empfindlichen
Fernsehkamera erlauben, die das Bild eines Negativmusters
des Verdrahtungsmusters durch die Erfassung des vom Substrat
der Platte emittierten Fluoreszenzlicht ohne schädlichen
Einfluß des nachleuchtenden Bildes erfaßt.
Zur Lösung dieser Aufgabe weist die Erfindung auf:
ein Stroboskop, das intermittierend und synchron mit der
Vorschubgeschwindigkeit der gedruckten Schaltungsplatte
Licht aussendet;
eine Kondensorlinse, die das vom Stroboskop ausgesendete
intermittierende Licht sammelt und das Licht auf die ge
druckte Schaltungsplatte richtet;
ein Filter, das das Stroboskoplicht in Anregungslicht
umsetzt;
einen halbdurchlässigen Spiegel, der das von dem Filter
umgesetzte Anregungslicht reflektiert und dann auf die
gedruckte Platte senkrecht dazu projiziert sowie das auf dem
Substrat der gedruckten Platte angeregte Fluoreszenzlicht
durchläßt;
eine Abbildungslinse, die ein Bild des vom halbdurchlässigen
Spiegel durchgelassenen Fluoreszenzlichts erzeugt;
ein Filter, das anderes als das vom halbdurchlässigen Spie
gel durchgelassene Fluoreszenzlicht eliminiert;
eine Fernsehkamera, die das von der Abbildungslinse erzeugte
Bild des Fluoreszenzlichts aufnimmt;
einen Speicher, der das vom vorangehenden Rahmen stammende
Mustervideosignal, das um einen dem Nachleuchtbild entspre
chenden Betrag gedämpft ist, beim Einschalten des Strobo
skops speichert;
eine Einrichtung, die das gespeicherte, gedämpfte Muster
videosignal von dem durch die Fernsehkamera bei eingeschal
tetem Stroboskop erfaßten Mustervideosignals des gegenwärti
gen Rahmens subtrahiert;
eine Einrichtung, die ein vom Ausgangssignal der Subtrahier
einrichtung erhaltenes Negativmuster des Verdrahtungsmusters
mit einem von einer Bezugsmustererzeugungseinrichtung er
zeugten Bezugsmuster vergleicht, wobei das Bild der gedruck
ten Schaltungsplatte, die auf dem Tisch gehaltert ist, von
der Fernsehkamera während der kontinuierlichen Versetzung
des Tischs aufgenommen und das gedruckte Verdrahtungsmuster
der Schaltungsplatte unbeeinflußt durch das nachleuchtende
Bild geprüft werden kann, ob es Fehler aufweist oder normal
ist.
Die Erfindung wird im folgenden in Ausführungsbeispielen an
hand der Zeichnung näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch ein Blockdiagramm des Aufbaus eines
erfindungsgemäßen Musterdetektors;
Fig. 2 graphisch wie ein Mustererfassungssignal in der
vorliegenden Erfindung verarbeitet wird,
und
die Fig. 3(a), (b) und 4
graphisch den theoretischen Hintergrund der Er
findung.
In Fig. 1 zeigt 1 eine gedruckte Schaltungsplatte, die aus
einem Substrat 1 a und einem Verdrahtungsmuster 1 b besteht.
Das Substrat 1 a besteht aus glasverstärktem Epoxyharz, glas
verstärktem Polyimid oder ein vergleichbares Material und
emittiert bei geeigneter Belichtung Fluoreszenzlicht. Ein
X-Y-Tisch 2 ist in X- und Y-Richtung beweglich und haltert
die gedruckte Schaltungsplatte 1. Ein Stroboskop 3 erzeugt
Lichtblitze synchron zur Bewegung
des X-Y-Tisches 2 und wird durch ein Signal von einer
Steuereinrichtung 15 aktiviert, die die Bewegung des X-Y-
Tisches 2 steuert. Ein halbdurchlässiger Spiegel 4 besteht
bevorzugt aus einem dichroitischen Spiegel, der das von dem
Stroboskop 3 ausgesendete Anregungslicht reflektiert und das
im Substrat 1 a der gedruckten Schaltungsplatte 1 angeregte
Fluoreszenzlicht durchläßt.
Allgemein hat der dichroitische Spiegel 4 die Eigenschaft,
daß er bei unter einem Winkel von 45° einfallendem Licht bei
jeder Wellenlänge unter 460 nm eine Durchlässigkeit von 0%
hat und damit im wesentlichen total reflektiert und bei
irgendeiner Wellenlänge über 510 nm eine Durchlässigkeit von
über 90% besitzt und damit das Licht teilweise reflektiert.
So gesehen ist der dichroitische Spiegel dem halbdurchlässi
gen Spiegel sowohl bezüglich des Reflektionsvermögens für
Anregungslicht als auch bezüglich der Durchlässigkeit für
Fluoreszenzlicht überlegen.
Eine Kondensorlinse 6 sammelt das vom Stroboskop 3 emittier
te Licht und setzt es in einen parallelen Lichtstrahl um.
Ein Blaufilter 13, das zwischen dem Stroboskop 3 und dem di
chroitischen Spiegel 4 bevorzugt zwischen Stroboskop 3 und
der Kondensorlinse 6 angeordnet ist, läßt Licht durch, des
sen Wellenlängen von 300 bis 460 nm reichen. Eine Abbil
dungslinse 5 erzeugt ein Bild des Fluoreszenzlichtmusters,
das vom Substrat 1 a der gedruckten Schaltungsplatte 1 ausge
sendet und durch den dichroitischen Spiegel 4 gegangen ist.
Eine sehr hoch empfindliche Fernsehkamera 7 mit SIT-Bild
röhre nimmt das von der Abbildungslinse 5 erzeugte Fluores
zenzlichtmusterbild auf. Schließlich läßt ein zwischen der
Fernsehkamera 7 und dem dichroitischen Spiegel 4 bevorzugt
zwischen Abbildungslinse 5 und Fernsehkamera 7 angeordnetes
Gelbfilter 14 Fluoreszenzlicht durch, dessen Wellenlängen
über 500 nm liegen und reflektiert Licht bei Wellenlängen
unter 500 nm.
In Fig. 3a ist dargestellt, wie eine gedruckte Schaltungs
platte mit einem Verdrahtungsmuster von der X-Y-Stufe 2
gescannt wird, während das Blitzlicht vom Stroboskop 3 durch
die Kondensorlinse 6, nachdem es durch das Blaufilter 13
gegangen ist, in einen parallelen Lichtstrahl umgesetzt
wird, der schließlich das Anregungslicht mit einer Wellen
länge unter 460 nm bildet und auf die gedruckte Schaltungs
platte 1 vom dichroitischen Spiegel 4 gerichtet wird. Das
durch das Substrat 1 a der gedruckten Schaltungsplatte 1
angeregte Fluoreszenzlicht geht durch den dichroitischen
Spiegel 4, die Abbildungslinse 5 und das Gelbfilter 14. Das
von der Abbildungslinse 5 erzeugte Negativbild des Verdrah
tungsmusters wird von der Fernsehkamera 7 aufgenommen. Das
durch den Scannvorgang in einem Bildrahmen erzeugte Muster
erfassungssignal S N ist in Fig. 3(b) dargestellt. Der durch
angedeutete Musterpositionszustand des vorangehenden
Abtastrahmens ändert sich in einen durch Schraffur
dargestellten Musterpositionszustand des gegenwärtigen
Abtastrahmens bei Versetzung der gedruckten Schaltungsplatte
1. Dadurch wird das Signal in der Hauptabtastlinie L bei
dem momentanen Abtastrahmen, nämlich das Mustererfas
sungssignal erzeugt. In Fig. 3(b) gibt V N ein Erfassungs
signal an, das im wesentlichen im momentanen Abtastrahmen
erfaßt werden soll und V N-1 ein im vorangehenden Abtastrah
men erfaßtes Signal, das als Nachleuchtbildkomponente im
Mustererfassungssignal S N enthalten ist.
Auf diese Weise enthält das Mustererfassungssignal die Nach
leuchtbildkomponente des vorangehenden Abtastrahmens. Dieser
Sachverhalt ist in Fig. 4 für eine allgemeine Erläuterung
graphisch dargestellt. In dem längs einer bestimmten Abtast
zeile während der Abtastung eines bestimmten Rahmens erfaß
ten Mustererfassungssignal S N sind, wie Fig. 4 zeigt,
Mustererfassungssignale V N-1, und V N-2 enthalten, die den
Nachleuchtbildkomponenten entsprechen, die von den voran
gehenden Abtastrahmen stammen. Auch das beim folgenden Ab
tastrahmen erzeugte Musterfassungssignal S N+1 enthält das
Mustererfassungssignal V N , das der Nachleuchtbildkomponente
vom vorangehenden Abtastrahmen entspricht.
Die Mustererfassungssignale S N und S N+1 können bei einer
Nachleuchtbilddämpfung mit dem Faktor k (0 k 1) wie folgt
angegeben werden:
S N = V N + LV N-1 + k²V N-2 . . . (1)
S N+1 = V N+1 + kV N + k²V N-1 + . . . (2)
S N+1 = V N+1 + kV N + k²V N-1 + . . . (2)
Gleichung 2 läßt sich wie folgt umwandeln:
S N+1 = V N+1 + k (VN + KV N-1 + . . . )
= V N+1 + kS N (3)
= V N+1 + kS N (3)
Somit ist deutlich, daß sich das Signal V N+1 aus der nachfolgenden
Gleichung (4) ausrechnen läßt:
V N+1 = S N+1 - kS N (4)
Das echte Mustererfassungssignal läßt sich somit bei der
Abtastung eines bestimmten Rahmens durch die Substraktion
eines Signalpegels, der sich durch Multiplikation des
Mustererfassungssignals im vorangehenden Abtastrahmen mit
dem Dämpfungsfaktor k ergibt, von den im vorliegenden Ab
tastrahmen tatsächlich erfaßten Signal berechnen.
Zur genaueren Erläuterung der Erfindung stellt Fig. 1 ein
schematisches Blockdiagramm eines erfindungsgemäßen Ausfüh
rungsbeispiels dar, das den erfindungsgemäßen Nachleucht
bildlösch-Musterdetektor enthält.
Der bis zur Erzeugung eines Mustererfassungssignals von der
Fernsehkamera 7 ausgeführte Betrieb ist bei dem in Fig. 1
dargestellten Ausführungsbeispiel derselbe wie er anhand der
Fig. 3(a) beschrieben wurde. Danach wird das Mustererfas
sungssignal in folgender Weise verarbeitet.
Das beim N + l ten Abtastvorgang von der Fernsehkamera 7
erzeugte Mustererfassungssignal S N+1 wird von einem Analog/
Digitalwandler 8 in ein mehrwertiges Digitalsignal umgesetzt
und dann mit dem Nachleuchtbilddämpfungsfaktor k (das zuvor
in ein Register 9 gesetzt wurde) durch einen Multiplizierer
10 multipliziert. Danach wird das Digitalsignal über ein
Register 11 aufeinanderfolgend in einer durch die Adressen
vorgegebenen Reihenfolge in einen mehrstufigen Videopuffer
speicher 12 abgespeichert. Inzwischen ist bereits ein Wert
kS N , der als Ergebnis des Multipliziervorgangs mit dem
Dämpfungsfaktor k beim N-ten Abtastvorgang durch die Fern
sehkamera 7 erzeugt wurde, im Pufferspeicher 12 abgespei
chert. Deshalb wird das echte Mustererfassungssignal V N+1
(gemäß Gleichung 4:S N+1-kS N ) beim N + l ten Abtastvorgang
unbeeinflußt vom Nachleuchten durch Auslesen des Wertes kS N
aus dem Pufferspeicher 12 synchron mit dem Mustererfassungs
signal S N + 1 vor dessen Abspeichern und daraufhin durch Be
rechnen von deren Differenz in einem Differenzglied 16
erzeugt.
Fig. 2 zeigt graphisch die obengenannten Verarbeitungs
schritte, die somit nicht mehr erläutert werden müssen.
Das echte Mustererfassungssignal V N + 1 wird weiterhin durch
eine Binärschaltung 17 in ein Binärsignal umgesetzt und dann
nacheinander einer Gruppe von Schieberegistern 18 ein
gegeben, die jeweils das Signal einer Abtastzeile speichern.
Die Ausgänge dieser Schieberegister sind beispielsweise in
Form von 5 x 5 Bildpunkten (pixels) angeordnet und werden in
einer aus Schieberegistern bestehenden Feldschaltung 19 ge
speichert.
Außerdem ist ein weiterer genau gleicher Aufbau aus den
Gliedern 1 bis 19 separat dazu vorgesehen, der einen Bezugs
mustergenerator darstellt.
Damit wird mittels einer auf dem X-Y-Tisch befestigten ge
druckten Referenzschaltungsplatte ein Bezugsmuster von der
Feldschaltung des separaten Aufbaus erzeugt. Die von der
Schaltung 19 ausgehend von der zu prüfenden gedruckten
Platte erzeugten Bildpunkte (pixels) werden von einem Ver
gleicher 20 mit den von der Feldschaltung des separaten Auf
baus erzeugten Bildpunkten entsprechend dem Bezugsmuster
verglichen. Damit läßt sich dann die gewünschte Prüfung
durchführen, die jede nicht übereinstimmende Stelle unter
Einbeziehung von deren Positionsabweichung erfaßt. Falls man
die zu prüfende gedruckte Schaltungsplatte und die Referenz
platte nebeneinander unter genauer anfänglicher Ausrichtung
auf demselben X-Y-Tisch 2 anordnet, können die Bilder der
jeweils korrespondierenden Bereiche von den einzelnen Fern
sehkameras so aufgenommen werden, daß der Vergleicher 20 die
gegenseitig korrespondierenden Bildpunkte (innerhalb tole
rierbarer Positionsabweichungen) vergleichen kann. Die Be
schreibung einer solchen Anordnung und eines solchen Ver
gleichs ist hier weggelassen, da sie insbesondere durch die
US-PS 41 48 065 beschrieben werden.
Die vorliegende Erfindung leistet eine Eliminierung schäd
licher Einflüsse von Nachleuchtbildern bei solchen Muster
erfassungs- und -Prüfeinrichtungen, die eine hoch empfind
liche Fernsehkamera mit Nachleuchtbildeffekt verwenden. Ins
besondere eignet sich somit die vorliegende Erfindung für
eine schnelle Verdrahtungsmustererfassung. Das von der Fern
sehkamera erfaßte Abtasterfassungssignal kann zu jeder Zeit
für die Mustererfassung verwendet werden, da der Nachleucht
bildeinfluß bei der vorliegenden Erfindung vermieden ist.
Wenn Fluoreszenzlicht oder eine Stroboskopbelichtung zur
Mustererfassung, wie oben geschildert, eingesetzt werden,
muß unbedingt eine hoch empfindliche Fernsehkamera zur Er
fassung des schwachen Fluoreszenzlichts verwendet werden.
Eine solche Fernsehkamera konnte bislang im Stand der Tech
nik wegen der nachteiligen Einflüsse des Nachleuchtbildes
nicht verwendet werden. Erfindungsgemäß ist jedoch das Fern
sehabtastsignal, das durch die Kombination der hochempfind
lichen Fernsehkamera mit der Stroboskoplichtquelle entsteht,
in jedem Zeitpunkt verwendbar. Dadurch wird eine schnelle
Mustererfassung und ein schneller Test der gedruckten Schal
tungsplatte erreicht.
Claims (5)
1. Verfahren zur Prüfung eines Musters auf einer gedruckten
Schaltungsplatte,
gekennzeichnet durch
folgende Schritte:
- - Ausstrahlen eines intermittierenden Lichtstrahls von einem Stroboskop synchron mit der Vorschubgeschwindig keit der gedruckten Schaltungsplatte;
- - Sammeln des intermittierenden Lichts mittels einer Kondensorlinse;
- - Umsetzen des Lichts in Anregungslicht mittels eines Filters;
- - Reflektieren des Anregungslichts an einem halbdurch lässigen Spiegel, und Projizieren des Anregungslichts auf die gedruckte Schaltungsplatte senkrecht zu dieser, wonach das vom Substrat der gedruckten Schal tungsplatte ausgesendete Fluoreszenzlicht durch den halbdurchlässigen Spiegel geht;
- - Abbilden des durch den halbdurchlässigen Spiegel ge gangenen Fluoreszenzlichts mittels einer Abbildungs linse, und dann Durchlassen nur des Fluoreszenzlichts durch ein weiteres Filter, das jedes andere Licht eliminiert;
- - Aufnehmen des Fluoreszenzbildes durch eine Fernseh kamera;
- - Dämpfen eines innerhalb des vorangehenden Muster videosignalrahmens erzeugtes Mustervideosignal von der Fernsehkamera bei eingeschaltetem Stroboskop um einen der Nachleuchtbildkomponente entsprechenden Betrag, und Speichern des gedämpften Mustervideosignals in einem Speicher;
- - Substrahieren des gedämpften, abgespeicherten Muster
videosignals von dem gegenwärtigen Mustervideosignal
von der Fernsehkamera bei eingeschaltetem Stroboskop,
wodurch ein negatives Musterbild des Verdrahtungs
musters erzeugt wird;
und - - Vergleichen des Negativmusters mit einem Bezugsmuster, um zu prüfen, ob das Verdrahtungsmuster der gedruckten Schaltungsplatte normal ist oder nicht.
2. Vorrichtung zur Prüfung des Verdrahtungsmusters einer
gedruckten Schaltungsplatte,
gekennzeichnet durch
- - ein Stroboskop (3) zum Ausstrahlen intermittierenden Lichts synchron mit der Vorschubgeschwindigkeit der gedruckten Schaltungsplatte (1);
- - eine Kondensorlinse (6), die das von dem Stroboskop (3) ausgesendete intermittierende Licht sammelt und das gesammelte Licht auf die gedruckte Schaltungs platte (1) strahlt;
- - ein Filter (13), das das Stroboskoplicht in Anregungs licht umsetzt;
- - einen halbdurchlässigen Spiegel (4), der das vom Kon densor (6) gesammelte und vom Filter umgeformte Anre gungslicht reflektiert und das reflektiert Licht auf die gedruckte Schaltungsplatte senkrecht dazu proji ziert und das von dem Substrat der gedruckten Schal tungsplatte angeregte Fluoreszenzlicht durchläßt;
- - eine Abbildungslinse (5), die ein Bild des durch den halbdurchlässigen Spiegel (4) gegangenen Fluoreszenz lichts erzeugt;
- - ein weiteres Filter (14), das alles Licht außer dem Fluoreszenzlicht, das durch den halbdurchlässigen Spiegel gegangen ist, eliminiert;
- - eine Fernsehkamera (7), die das von der Abbildungs linse (5) erzeugte Fluoreszenzbild aufnimmt;
- - eine Speichervorrichtung (12) zum Speichern des vor angehenden Mustervideosignalrahmens, das die Fernseh kamera bei eingeschaltetem Stroboskop erzeugt und das um einen der Nachleuchtbildkomponente entsprechenden Betrag gedämpft ist;
- - eine Substrahiereinrichtung (16) zum Subtrahieren des gedämpften, gespeicherten Mustervideosignals von dem momentan vorhandenen Mustervideosignal, das von der Fernsehkamera bei eingeschaltetem Stroboskop erzeugt wird;
- - eine Referenzmustererzeugungseinrichtung;
- und
- - eine Einrichtung (17, 18, 19 und 20), die aus dem Ausgangssignal der Subtrahiereinrichtung (16) ein Negativmuster erzeugt und das Negativmuster mit dem Referenzmuster vergleicht.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß der halbdurchlässige Spiegel (4) aus einem dichroi
tischen Spiegel besteht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2,
weiterhin gekennzeichnet durch
einen Analog/Digital-Wandler (8), der das Ausgangssignal
der Fernsehkamera in ein digitales Videosignal umsetzt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4,
weiterhin dadurch gekennzeichnet,
daß ein Multiplizierer (10) das digitale Videosignal vom
Analog/Digital-Umsetzer mit einem Dämpfungsfaktor multi
pliziert, wonach das Ausgangssignal des Multiplizierers
(10) in die Speichereinrichtung (12) eingespeichert
wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60218112A JPH0762868B2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | プリント基板の配線パターン欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3626061A1 true DE3626061A1 (de) | 1987-05-27 |
DE3626061C2 DE3626061C2 (de) | 1989-09-14 |
Family
ID=16714815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863626061 Granted DE3626061A1 (de) | 1985-10-02 | 1986-08-01 | Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines musters auf einer gedruckten schaltungsplatte |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4700225A (de) |
JP (1) | JPH0762868B2 (de) |
KR (1) | KR900002578B1 (de) |
DE (1) | DE3626061A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0632689A1 (de) * | 1993-06-14 | 1995-01-04 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH & Co. KG | Verfahren und Anordnung zur Überprüfung von Leiterplatten |
US5750997A (en) * | 1995-02-14 | 1998-05-12 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for observing wiring patterns of printed circuit board |
DE20004332U1 (de) | 2000-03-08 | 2000-07-06 | modus high-tech electronics GmbH, 47877 Willich | Vorrichtung zur optischen Qualitätskontrolle |
DE102011114874A1 (de) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Auswerteschaltung für einen optoelektronischen Detektor und Verfahren zum Aufzeichnen von Fluoreszenzereignissen |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3422395A1 (de) * | 1983-06-16 | 1985-01-17 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln von verdrahtungsmustern |
JPH0623999B2 (ja) * | 1986-07-28 | 1994-03-30 | 株式会社日立製作所 | パタ−ン欠陥検出方法 |
DE3750285T2 (de) * | 1986-10-03 | 1995-03-30 | Omron Tateisi Electronics Co | Gerät zur Untersuchung einer elektronischen Vorrichtung in fester Baugruppe. |
US4872052A (en) * | 1986-12-03 | 1989-10-03 | View Engineering, Inc. | Semiconductor device inspection system |
US4998207A (en) * | 1988-02-01 | 1991-03-05 | Cooper Industries, Inc. | Method of manufacture of circuit boards |
US4854039A (en) * | 1988-05-04 | 1989-08-08 | The Technology Congress, Ltd. | Prototype circuit board and method of testing |
US4975972A (en) * | 1988-10-18 | 1990-12-04 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for surface inspection |
US5040228A (en) * | 1989-08-28 | 1991-08-13 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for automatically focusing an image-acquisition device |
IL99823A0 (en) * | 1990-11-16 | 1992-08-18 | Orbot Instr Ltd | Optical inspection method and apparatus |
JPH10260190A (ja) * | 1997-03-17 | 1998-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型蛍光プローブ顕微鏡 |
US6304680B1 (en) | 1997-10-27 | 2001-10-16 | Assembly Guidance Systems, Inc. | High resolution, high accuracy process monitoring system |
JP4143206B2 (ja) * | 1998-03-09 | 2008-09-03 | 明晃化成工業株式会社 | 記録媒体用ディスクの収納ケース |
US6700658B2 (en) | 2001-10-05 | 2004-03-02 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and apparatus for circuit pattern inspection |
DE102005028427B3 (de) * | 2005-06-17 | 2007-01-11 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Verfahren zur optischen Aufnahme und Inspektion eines Wafers im Rahmen der Randentlackung |
US11255898B2 (en) * | 2020-05-08 | 2022-02-22 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | System and method for testing a device-under-test |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4148065A (en) * | 1976-12-08 | 1979-04-03 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for automatically inspecting and correcting masks |
DE3422395A1 (de) * | 1983-06-16 | 1985-01-17 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln von verdrahtungsmustern |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5369538A (en) * | 1976-12-02 | 1978-06-21 | Fuji Electric Co Ltd | Pattern recognizing equipment |
US4152723A (en) * | 1977-12-19 | 1979-05-01 | Sperry Rand Corporation | Method of inspecting circuit boards and apparatus therefor |
US4556903A (en) * | 1983-12-20 | 1985-12-03 | At&T Technologies, Inc. | Inspection scanning system |
JPS60152189A (ja) * | 1984-01-19 | 1985-08-10 | Shimadzu Corp | デジタルサブトラクシヨンシステム |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP60218112A patent/JPH0762868B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-08-01 DE DE19863626061 patent/DE3626061A1/de active Granted
- 1986-09-13 KR KR1019860007707A patent/KR900002578B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1986-09-30 US US06/913,242 patent/US4700225A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4148065A (en) * | 1976-12-08 | 1979-04-03 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for automatically inspecting and correcting masks |
DE3422395A1 (de) * | 1983-06-16 | 1985-01-17 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln von verdrahtungsmustern |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
"The Institute of Electronic Information and Communication Engineers, National Convention Record 1985" Nr.1682 u. 1683 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0632689A1 (de) * | 1993-06-14 | 1995-01-04 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH & Co. KG | Verfahren und Anordnung zur Überprüfung von Leiterplatten |
US5750997A (en) * | 1995-02-14 | 1998-05-12 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for observing wiring patterns of printed circuit board |
DE20004332U1 (de) | 2000-03-08 | 2000-07-06 | modus high-tech electronics GmbH, 47877 Willich | Vorrichtung zur optischen Qualitätskontrolle |
DE102011114874A1 (de) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Auswerteschaltung für einen optoelektronischen Detektor und Verfahren zum Aufzeichnen von Fluoreszenzereignissen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0762868B2 (ja) | 1995-07-05 |
KR870004389A (ko) | 1987-05-09 |
US4700225A (en) | 1987-10-13 |
KR900002578B1 (ko) | 1990-04-20 |
JPS6278687A (ja) | 1987-04-10 |
DE3626061C2 (de) | 1989-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3626061C2 (de) | ||
DE69232279T2 (de) | Verfahren zur Verbesserung von zweidimensionalen Bildern | |
DE2230650C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung einer Oberfläche | |
DE69600881T2 (de) | Verfahren und system zur aufnahme digitaler kamerabilder | |
DE3123703A1 (de) | Optisches messsystem mit einer fotodetektoranordnung | |
DE3532068A1 (de) | Pruefvorrichtung | |
DE2738804A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur automatischen belichtungssteuerung in einer kamera | |
CH656466A5 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oberflaechenkontrolle eines werkstoffes. | |
DE19605255B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Betrachten von Beschaltungs- bzw. Verdrahtungsmustern in einer gedruckten Schaltungsplatte | |
DE4416314C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme einer Bildszene und Verwendung der Vorrichtung in einem Kopiergerät | |
DE2830871A1 (de) | Vorrichtung zum ermitteln von fehlern in flaechenhaften mustern, insbesondere in photomasken | |
DE2508992A1 (de) | Verfahren zur ueberpruefung des einwandfreien zustands von bauteilen | |
EP0085868A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen optischen Beschaffenheitsprüfung | |
WO1989008836A1 (en) | Process for detecting faulty areas on pressed parts or other workpieces, and device for implementing the process | |
DE4139189A1 (de) | Verfahren zur pruefung der aeusseren beschaffenheit von objekten | |
DE3006379C2 (de) | ||
DE3030140A1 (de) | Verfahren zur optischen ueberpruefung von stabfoermigen gegenstaenden und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE3050691C2 (de) | Fokussierungsermittlungseinrichtung einer Kamera mit einer Vorrichtung zur Ermittlung der Durchschnittsbeleuchtung eines zu fotografierenden Objektes | |
DE69008579T2 (de) | Vorrichtung zum Feststellen der Richtung des Energiezentrums eines Licht strahlenden Gegenstandes. | |
EP1443352A1 (de) | Optischer Aufbau zum Aufsetzen auf ein Mikroskop für die Vermessung von periodischen Bewegungen einer Mikrostruktur | |
DE3501571C2 (de) | Verfahren zum Einstellen eines fotografischen Kopiergeräts | |
DE69021650T2 (de) | Vorrichtung zur Bildverarbeitung. | |
DE102016106374A1 (de) | Messgerät und Verfahren zur Beleuchtungssteuerung für ein Messgerät | |
EP0632689B1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Überprüfung von Leiterplatten | |
DE19837483C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme optischer Eigenschaften einer relativbewegten Szene |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |